JPS6031684A - 座標入力装置の座標検出面 - Google Patents
座標入力装置の座標検出面Info
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- JPS6031684A JPS6031684A JP13943983A JP13943983A JPS6031684A JP S6031684 A JPS6031684 A JP S6031684A JP 13943983 A JP13943983 A JP 13943983A JP 13943983 A JP13943983 A JP 13943983A JP S6031684 A JPS6031684 A JP S6031684A
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の利用分野〕
本発明は、座標入力装置の座標検出面に関し特に、電子
計算機システムの入力装置などに使用され、例えばペン
状の指示器により平面上に指示される文字又は図形など
を、リアルタイムで読取って信号を与える座標入力装置
の座標検出面に関する。
計算機システムの入力装置などに使用され、例えばペン
状の指示器により平面上に指示される文字又は図形など
を、リアルタイムで読取って信号を与える座標入力装置
の座標検出面に関する。
従来の座標入力装置には、電磁誘電方式音響方式など種
々の動作原理によるものがあり、これに応じて、座標検
出面を構成するデバイスには、磁歪デバイス、表面弾性
波デバイスなどが使用されていた。
々の動作原理によるものがあり、これに応じて、座標検
出面を構成するデバイスには、磁歪デバイス、表面弾性
波デバイスなどが使用されていた。
しかし、上記したよつなデバイスは、構成が複雑であり
、それと共に、非常に高価であるという欠点があった。
、それと共に、非常に高価であるという欠点があった。
そこで、近時、低価格で座標検出面を構成できる面抵抗
体方式が考案され、これに使用されるデバイスは、オー
ミックデバイスとよけれる。
体方式が考案され、これに使用されるデバイスは、オー
ミックデバイスとよけれる。
このオルミックデバイスは、列えば、X座標検出面だけ
を見ると、第1図に示すように、可撓性を有する電気絶
縁シート1上に、座標検出用抵抗2が形成され、その両
端に信号検出用端子3が設けられている。
を見ると、第1図に示すように、可撓性を有する電気絶
縁シート1上に、座標検出用抵抗2が形成され、その両
端に信号検出用端子3が設けられている。
このような座標検出面を利用して座標値を検出する方法
としては、以下の2方法がある。
としては、以下の2方法がある。
■ 例えば、X座標検出面だけを考えて、第1の方法を
模式的に示すと、第2図のようになる。
模式的に示すと、第2図のようになる。
すなわち、入力点Pから各端子までの抵抗値をR,、R
1とし、端子間距離をxoとするとこの時の入力点Pの
座標値Xは、端子間電圧=<E、入力点Pにおける出力
電圧fVとすると、(1)式にエリ得られる。
1とし、端子間距離をxoとするとこの時の入力点Pの
座標値Xは、端子間電圧=<E、入力点Pにおける出力
電圧fVとすると、(1)式にエリ得られる。
■ 前記■と同様に、例えば、X座標検出面だけを考え
て、第20方法を模式的に示すと、第3図のようになる
。
て、第20方法を模式的に示すと、第3図のようになる
。
すなわち、入力点P工り検出面(具体的には、座標検出
用抵抗)に、定電流Iを流し込むようにすると、各端子
に現われる電流11゜I、より、入力点Pの座標値Xは
、(2)式で得らなお、前記入力点Pとは、具体的には
、入力ペンや指などの押し付げにより、上下のX及びY
座標検出用抵抗が接触する接触点を意味する。
用抵抗)に、定電流Iを流し込むようにすると、各端子
に現われる電流11゜I、より、入力点Pの座標値Xは
、(2)式で得らなお、前記入力点Pとは、具体的には
、入力ペンや指などの押し付げにより、上下のX及びY
座標検出用抵抗が接触する接触点を意味する。
前記いずれの方法においても、オーミックデバイスの座
標検出面の構成は、断面図で示すと第4図(α)、、(
h)のようになる。
標検出面の構成は、断面図で示すと第4図(α)、、(
h)のようになる。
すなわち、第4図(α)は、絶縁シート6.7、したが
って、x、ym標検出用抵抗2を、スペーサ4などで僅
かな間隙5をもって対向させている。
って、x、ym標検出用抵抗2を、スペーサ4などで僅
かな間隙5をもって対向させている。
この結果、入力ペンや指々どの押し付けにより前記検出
用抵抗2相互は接触して、座標値を得ることができる。
用抵抗2相互は接触して、座標値を得ることができる。
又、第4図(h)は、感圧導電性ゴムシート8をはさん
で、X、Y座標検出用抵抗2を対向させている。この結
果、入力ペンや指などの加圧により、前記検出用抵抗2
相互は、感圧導電性ゴムシート8を介して、電気的に接
触し、座標値を得ることができる。
で、X、Y座標検出用抵抗2を対向させている。この結
果、入力ペンや指などの加圧により、前記検出用抵抗2
相互は、感圧導電性ゴムシート8を介して、電気的に接
触し、座標値を得ることができる。
このように、上記(α>、<b>いずれの構成において
も、X、Y座標検出用抵抗2の接触を利用している。換
言すれば、オーミンクデバイス利用の\1 : 面抵抗体方式の座標入力装置においては、座標′
値を検出する為には、座標検出用抵抗2が、対向する座
標検出用抵抗2、あるいは感圧導電性ゴムシート8と機
械的に接触する必要がある。
も、X、Y座標検出用抵抗2の接触を利用している。換
言すれば、オーミンクデバイス利用の\1 : 面抵抗体方式の座標入力装置においては、座標′
値を検出する為には、座標検出用抵抗2が、対向する座
標検出用抵抗2、あるいは感圧導電性ゴムシート8と機
械的に接触する必要がある。
そこで、この為に、本方式では、前記接触や接触に必要
となる押圧に工り、電気絶縁シート上に形成された抵抗
2の層が潰れないしは摩耗したり、あるいは亀裂が生じ
たりするという現象が発生した。すなわち、第5図(α
) 、 (A)に示すように、座標検出用抵抗2に摩耗
部9が生じたり、あるいは亀裂部1oが生じたりした。
となる押圧に工り、電気絶縁シート上に形成された抵抗
2の層が潰れないしは摩耗したり、あるいは亀裂が生じ
たりするという現象が発生した。すなわち、第5図(α
) 、 (A)に示すように、座標検出用抵抗2に摩耗
部9が生じたり、あるいは亀裂部1oが生じたりした。
なお、第5図(α’) 、 (b)において、符号1は
、第1図と同様に、電気絶縁シートを示す。
、第1図と同様に、電気絶縁シートを示す。
一般に、面抵抗は、抵抗層の厚さが減少すると、その抵
抗値は増加する。従って、上記のような摩耗部9や亀裂
部1oが生じると、これKよって座標検出面、すなわち
座標検出用抵抗2の面には、抵抗値の不均一な部分が生
じる。
抗値は増加する。従って、上記のような摩耗部9や亀裂
部1oが生じると、これKよって座標検出面、すなわち
座標検出用抵抗2の面には、抵抗値の不均一な部分が生
じる。
これを、例えばX座標検出面だけを考えて具体的に説明
する。
する。
第6図(α)は、第1図に示す検出面の平面図である。
斜線部分13の抵抗2の層に、摩耗あるいは亀裂が生じ
、これによりこの部分13の抵抗値が増加すると、この
増加前と増加後での入力点Pの座標値を得る為の抵抗2
の等何回路は、第6図(A) j (c>に示す様にな
る。すなわち、入力点Pから一方の端子3までの抵抗値
が、前記増加後では、R′だけ増加していることが判る
。
、これによりこの部分13の抵抗値が増加すると、この
増加前と増加後での入力点Pの座標値を得る為の抵抗2
の等何回路は、第6図(A) j (c>に示す様にな
る。すなわち、入力点Pから一方の端子3までの抵抗値
が、前記増加後では、R′だけ増加していることが判る
。
したがって、第2図及び第3図に示す方法と同様の方法
によって、座標値を検出するようにすると、第7図(α
) 、 (h)から明らかなように、抵抗値λ′の増加
分を考慮するから、前記(1)式及び(2)式に対応す
る入力点Pの座標@、r’は、(3)式のようになる。
によって、座標値を検出するようにすると、第7図(α
) 、 (h)から明らかなように、抵抗値λ′の増加
分を考慮するから、前記(1)式及び(2)式に対応す
る入力点Pの座標@、r’は、(3)式のようになる。
すなわち、(1)式及び(2)式で示した値とは、異ガ
る座標値が得られることになる。
る座標値が得られることになる。
工うにするために、まず考えられるのは、検出面の抵抗
層を摩耗や亀裂の生じない材料で構成することである。
層を摩耗や亀裂の生じない材料で構成することである。
かつ又、可撓性を有する絶縁シート上に抵抗層を形成す
る必要から、この抵抗層には、硬い材料であることが要
求される。
る必要から、この抵抗層には、硬い材料であることが要
求される。
これらの点を考慮して、従来から使用されているのは、
主にカーボン抵抗である。
主にカーボン抵抗である。
しかしながら、前記摩耗などに比較的強いカーボン抵抗
ではあっても、なお前記摩耗や亀裂が生じるという欠点
があった。
ではあっても、なお前記摩耗や亀裂が生じるという欠点
があった。
又、このカーボン抵抗は、抵抗値が大きすぎるので目的
に合った値にする必要があり、この為に、カーボンの中
に金属などの導電性材料を混入しガければならないが、
これにより耐久性が低下するという問題もあった。
に合った値にする必要があり、この為に、カーボンの中
に金属などの導電性材料を混入しガければならないが、
これにより耐久性が低下するという問題もあった。
さらに又、前記絶縁シート上にカーボンを塗布し、カー
ボン抵抗を形成する場合に、一様な厚さに形成すること
が困難であり、この為に、前記摩耗や亀裂が生じなくて
も、抵抗値にむらが生じるという欠点もあった。
ボン抵抗を形成する場合に、一様な厚さに形成すること
が困難であり、この為に、前記摩耗や亀裂が生じなくて
も、抵抗値にむらが生じるという欠点もあった。
以上述べたように、従来のオーミックデバイス利用の面
抵抗体方式の座標入力装置では、座標検出面を構成する
抵抗層の抵抗値変化が、直接に座標値に影響を与える一
方で、該抵抗値を常に一様としておくことが難しい為に
、信頼性を著しく低下させ、実用化への大きな障害とな
っていた。
抵抗体方式の座標入力装置では、座標検出面を構成する
抵抗層の抵抗値変化が、直接に座標値に影響を与える一
方で、該抵抗値を常に一様としておくことが難しい為に
、信頼性を著しく低下させ、実用化への大きな障害とな
っていた。
本発明の目的は、前記した従来技術の欠点をなくし、た
とえ、従来のカーボン抵抗層に相当する層に抵抗値変化
が生じても、これにより座標値に影響を与えることのな
い座標入力装置の座標検出面を提供することにある。
とえ、従来のカーボン抵抗層に相当する層に抵抗値変化
が生じても、これにより座標値に影響を与えることのな
い座標入力装置の座標検出面を提供することにある。
本発明の特徴は、可撓性を有する電気絶縁シート上に座
標値を検出する為に配設された抵抗層を二層とし、前記
電気絶縁シート側の層を均−件に優れ、かつ低抵抗値を
有する抵抗層で形成し、その上に形成される層を機械的
強度が大きく、かつ前記低抵抗値よりも大きな抵抗値を
有する抵抗層で形成するようにした点にある。
標値を検出する為に配設された抵抗層を二層とし、前記
電気絶縁シート側の層を均−件に優れ、かつ低抵抗値を
有する抵抗層で形成し、その上に形成される層を機械的
強度が大きく、かつ前記低抵抗値よりも大きな抵抗値を
有する抵抗層で形成するようにした点にある。
以下、本発明を図面を用いて説明する。
第8図は、本発明の例えばX座標検出面の一実施例を示
す断面図である。
す断面図である。
本実施例の検出面は、可撓性を有する電気絶縁シート1
上に、まず低抵抗値を有し、蒸着などにより形成される
ために均一性に優れた金属抵抗11が配設され、この抵
抗11の両端には、信号検出用端子3が形成されている
。さらに又、本実施例では、前記抵抗11及び端子6の
上に、高抵抗値を有し、摩耗などに比較的強いカーボン
抵抗12が配設されている。
上に、まず低抵抗値を有し、蒸着などにより形成される
ために均一性に優れた金属抵抗11が配設され、この抵
抗11の両端には、信号検出用端子3が形成されている
。さらに又、本実施例では、前記抵抗11及び端子6の
上に、高抵抗値を有し、摩耗などに比較的強いカーボン
抵抗12が配設されている。
この様な座標検出面では、端子3間における抵抗値は、
はぼ金属抵抗11と、カーボン抵抗12とを並列に接続
した場合の抵抗値と等しくなる。
はぼ金属抵抗11と、カーボン抵抗12とを並列に接続
した場合の抵抗値と等しくなる。
したがって、カーボン抵抗12の抵抗値が、金属抵抗1
1の抵抗値に比べて大きい場合には、この端子3間の抵
抗値はほぼ金属抵抗11の抵抗値だけ忙依存する。
1の抵抗値に比べて大きい場合には、この端子3間の抵
抗値はほぼ金属抵抗11の抵抗値だけ忙依存する。
すなわち、本実施例の様な座標検出面の場合には、座標
値の決定が、はぼ金属抵抗11の特性のみにより決まり
、カーボン抵抗値には、はとんど影響されない。
値の決定が、はぼ金属抵抗11の特性のみにより決まり
、カーボン抵抗値には、はとんど影響されない。
詳述すれば、本実施例の検出面を用いる座標入力装置に
おいても、従来例の第4図(α) 、 (b)において
説明したのと同様に、カーボン抵抗12が対向するX座
標検出面を構成するカーボン抵抗あるいは感圧導電性ゴ
ムシートと機械的に接触する為に、カーボン抵抗12が
摩耗したり、亀裂を生じ、第9図(α) 、 (h)に
示すように、摩耗部9あるいは亀裂部1oが生じる。
おいても、従来例の第4図(α) 、 (b)において
説明したのと同様に、カーボン抵抗12が対向するX座
標検出面を構成するカーボン抵抗あるいは感圧導電性ゴ
ムシートと機械的に接触する為に、カーボン抵抗12が
摩耗したり、亀裂を生じ、第9図(α) 、 (h)に
示すように、摩耗部9あるいは亀裂部1oが生じる。
しかし、本実施例では、前述したj5に、金属抵抗11
とカーボン抵抗12とを並列接続した場合に相当するの
で、前記摩耗部9、あるいは亀裂部10による抵抗値変
化には、はとんど影響されずに、座標値を決定すること
ができる。すなわち、前記(1)式及び(2)式におけ
る抵抗値R3およびR2は、前記摩耗部?、あるいは亀
裂部101Cよっては、はとんど変化しないことになる
。
とカーボン抵抗12とを並列接続した場合に相当するの
で、前記摩耗部9、あるいは亀裂部10による抵抗値変
化には、はとんど影響されずに、座標値を決定すること
ができる。すなわち、前記(1)式及び(2)式におけ
る抵抗値R3およびR2は、前記摩耗部?、あるいは亀
裂部101Cよっては、はとんど変化しないことになる
。
なお、第9図(α) 、 (h)の矢印は、第5図(α
) 、 (b)と同様に、入力ペンや指などによる押し
付けの方向を示す。
) 、 (b)と同様に、入力ペンや指などによる押し
付けの方向を示す。
次に、本実施例の座標検出面の等価回路を示すと、第1
0図(α)のように表わすことができる。
0図(α)のように表わすことができる。
すなわち、高抵抗値を有するカーボン抵抗12は入力点
Pと座標値検出用の金属抵抗11間の抵抗として表わす
ことができる。なお、同図(5)は、(a) Thさら
に簡略化した等価回路図であり、又、符号6は、第8図
と同様に信号検出用端子を示す。
Pと座標値検出用の金属抵抗11間の抵抗として表わす
ことができる。なお、同図(5)は、(a) Thさら
に簡略化した等価回路図であり、又、符号6は、第8図
と同様に信号検出用端子を示す。
従って、ここで、本実施例を用いて座標値を検出する方
法を従来例の第2図及び第3図に対応させて模式的に示
すと、第11図(α) 、 Cb)のようになる。
法を従来例の第2図及び第3図に対応させて模式的に示
すと、第11図(α) 、 Cb)のようになる。
この第11図(α) 、 (h>から明らかな工5に、
本実施例では、前記カーボン抵抗12の抵抗値が変化し
、その結果、信号源インピーダンスが変化することKな
っても、座標値は、前述したように(1)式及び(2)
式で与えられるので、前記カーボン抵抗12の抵抗値変
化には、影響されることはな1、)。
本実施例では、前記カーボン抵抗12の抵抗値が変化し
、その結果、信号源インピーダンスが変化することKな
っても、座標値は、前述したように(1)式及び(2)
式で与えられるので、前記カーボン抵抗12の抵抗値変
化には、影響されることはな1、)。
すなわち、カーボン抵抗12の抵抗値変化は、座標値を
決める(1)式及び(2)式には、影響を与えス、シた
がって、カーボン抵抗12に摩耗あるいは亀裂が生じて
抵抗値が変化しても、座標値に変化を与えることはなく
々る。
決める(1)式及び(2)式には、影響を与えス、シた
がって、カーボン抵抗12に摩耗あるいは亀裂が生じて
抵抗値が変化しても、座標値に変化を与えることはなく
々る。
第12図は、本発明の例えばX座標検出面の他の実施例
を示す断面図である。
を示す断面図である。
この検出面は、可撓性を有する電気絶縁シート1上に、
まず信号検出用端子3が形成され、この上に金属抵抗1
1、さらにその上にカーボン抵抗12が形成された構造
となっている。このような検出面においても、第8図の
実施列において述べた事項は、そっくりそのまま当ては
まることは勿論である。
まず信号検出用端子3が形成され、この上に金属抵抗1
1、さらにその上にカーボン抵抗12が形成された構造
となっている。このような検出面においても、第8図の
実施列において述べた事項は、そっくりそのまま当ては
まることは勿論である。
又、以上述べた実施例では、いずれも、力〜ボン抵抗と
金属抵抗との組合せを用いた場合であった。しかし、本
発明は、これらに限定されることはなく、前記カーボン
抵抗に相当するものとしては、高抵抗値を有し、かつ機
械的強度の大きい材料であればよく、又、前記金属抵抗
に相当するものとしては、低抵抗値を有し、かつ均一性
に優れた材料であればよいことは明らかであろう。すな
わち、この工5な材料であれば、上述したのと同様の効
果が得られることになる。
金属抵抗との組合せを用いた場合であった。しかし、本
発明は、これらに限定されることはなく、前記カーボン
抵抗に相当するものとしては、高抵抗値を有し、かつ機
械的強度の大きい材料であればよく、又、前記金属抵抗
に相当するものとしては、低抵抗値を有し、かつ均一性
に優れた材料であればよいことは明らかであろう。すな
わち、この工5な材料であれば、上述したのと同様の効
果が得られることになる。
以上の説明から明らかなように、本発明では面抵抗体方
式の座標入力装置に使用されるオーミックデバイスの座
標検出面を、対向する他の検出面と機械的、又は電気的
に直接に接触する比較的抵抗値の大きな抵抗層と、現実
に座標値を決める比較的抵抗値の小さな抵抗層との2層
で形成することとした。
式の座標入力装置に使用されるオーミックデバイスの座
標検出面を、対向する他の検出面と機械的、又は電気的
に直接に接触する比較的抵抗値の大きな抵抗層と、現実
に座標値を決める比較的抵抗値の小さな抵抗層との2層
で形成することとした。
この結果、本発明によれば、前記抵抗値の大ヘ ブト
劇(才k R30市(十晶“右u 4トイk η−は8
右& ブト ビ 貞り田P負手赤々値の小さな抵抗層に
おいて、正確な座標値が検出できると共に、検出面の耐
久性も向上させることができる効果がある。
劇(才k R30市(十晶“右u 4トイk η−は8
右& ブト ビ 貞り田P負手赤々値の小さな抵抗層に
おいて、正確な座標値が検出できると共に、検出面の耐
久性も向上させることができる効果がある。
したがって、本発明を用いることで、安価でかつ高い信
頼性を有する面抵抗体方式の座標入力装置を実現するこ
とが可能となった。
頼性を有する面抵抗体方式の座標入力装置を実現するこ
とが可能となった。
第1図はオーミックデバイスを構成する従来の座標検出
面の一例を示す斜視図、第2図及び第3図は従来の座標
検出面を用いて座標値を検出する方法を説明する為の模
式図、第4図(α)。 (b)は従来の座標検出面からなるオーミックデバイス
の一例を示す断面図、第5図(α> 、 <h>は従来
の座標検出面を構成する座標検出用抵抗に摩耗部及び亀
裂部が生じた場合の一例を示す断面図第6図(α)は第
1図の座標検出面の平面図であり同図(h) 、 (C
)は(α)の座標検出用抵抗に抵抗値変化が生じる前後
の状態を示す等価回路図、第7図(α) 、 (b)は
第6図(α)の座標検出面の座標検出用抵抗に抵抗値変
化が生じた後、前記第2,3図と同様の方法で座標値を
検出する場合の模式図である。 又、第8図はオーミックデバイスを構成する本発明の座
標検出面の一実施飼ヲ示す断面図、第9図(α) 、
(A)は本発明の座標検出面を構成するカーボン抵抗に
摩耗部及び亀裂部が生じた場合の一例を示す断面図、第
10図(α)は第8図の座標検出面の等価回路図であり
、同図<b>はこれを簡略化した等価回路図、第11図
(α) 、 (b)は第8図の座標検出面を用いて前記
第2,3図と同様の方法で座標値を検出する場合の模式
図、第12図(iオーミックデバイスを構成する本発明
の座標検出面の他の実施例を示す断面図である。 1・・・・・・・・・・・・電気絶縁シート6・・・・
・・・・・・・・信号検出用端子11 ・・・・・・・
・金属抵抗 12・・・・・−・・カーガン抵抗 代理人弁理士 高 橋 明 夫 第1図 第2図 第3図 I −) 一ノ 第47 牟S図 □ 第6図 13 ゜。、L↓−コ」−ん同。 第9図 弔1011ffi □l \【ノ 第11図 第12図 /2
面の一例を示す斜視図、第2図及び第3図は従来の座標
検出面を用いて座標値を検出する方法を説明する為の模
式図、第4図(α)。 (b)は従来の座標検出面からなるオーミックデバイス
の一例を示す断面図、第5図(α> 、 <h>は従来
の座標検出面を構成する座標検出用抵抗に摩耗部及び亀
裂部が生じた場合の一例を示す断面図第6図(α)は第
1図の座標検出面の平面図であり同図(h) 、 (C
)は(α)の座標検出用抵抗に抵抗値変化が生じる前後
の状態を示す等価回路図、第7図(α) 、 (b)は
第6図(α)の座標検出面の座標検出用抵抗に抵抗値変
化が生じた後、前記第2,3図と同様の方法で座標値を
検出する場合の模式図である。 又、第8図はオーミックデバイスを構成する本発明の座
標検出面の一実施飼ヲ示す断面図、第9図(α) 、
(A)は本発明の座標検出面を構成するカーボン抵抗に
摩耗部及び亀裂部が生じた場合の一例を示す断面図、第
10図(α)は第8図の座標検出面の等価回路図であり
、同図<b>はこれを簡略化した等価回路図、第11図
(α) 、 (b)は第8図の座標検出面を用いて前記
第2,3図と同様の方法で座標値を検出する場合の模式
図、第12図(iオーミックデバイスを構成する本発明
の座標検出面の他の実施例を示す断面図である。 1・・・・・・・・・・・・電気絶縁シート6・・・・
・・・・・・・・信号検出用端子11 ・・・・・・・
・金属抵抗 12・・・・・−・・カーガン抵抗 代理人弁理士 高 橋 明 夫 第1図 第2図 第3図 I −) 一ノ 第47 牟S図 □ 第6図 13 ゜。、L↓−コ」−ん同。 第9図 弔1011ffi □l \【ノ 第11図 第12図 /2
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 fil 可撓性を有する電気絶縁シート上に、座標値を
検出するためにほぼ一様に配設された抵抗層と、前記電
気絶縁シート上であって前記抵抗層の両端部に配設され
た信号検出用端子とを有する座標入力装置の座標検出面
において、前記抵抗層を二層とし、前記電気絶縁シート
側の層を均一性に優れ、かつ低抵抗値を有する抵抗層で
形成し、その上に形成される層を機械的強度が大きく、
で)つ前記低抵抗値よりも大きな抵抗値(以下、高抵抗
値という)を有する抵抗層で形成したことを特徴とする
座標入力装置の座標検出面。 (2) 前記低抵抗値を有する抵抗層が金属抵抗層であ
り、前記高抵抗値を有する抵抗層がカーボン抵抗層であ
ることを特徴とする特許請求の範囲第1項記載の座標入
力装置の座標検出面O
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP13943983A JPS6031684A (ja) | 1983-08-01 | 1983-08-01 | 座標入力装置の座標検出面 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP13943983A JPS6031684A (ja) | 1983-08-01 | 1983-08-01 | 座標入力装置の座標検出面 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS6031684A true JPS6031684A (ja) | 1985-02-18 |
Family
ID=15245219
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP13943983A Pending JPS6031684A (ja) | 1983-08-01 | 1983-08-01 | 座標入力装置の座標検出面 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS6031684A (ja) |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6113586A (en) * | 1998-01-16 | 2000-09-05 | Asahi Kogaku Kabushiki Kaisha | Joint mechanism for endoscopic treatment instrument, and endoscopic treatment system using that mechanism |
US6423054B1 (en) | 1999-08-04 | 2002-07-23 | Asahi Kogaku Kogyo Kabushiki Kaisha | Operation wire connecting part in endoscopic treating instrument |
US6423060B1 (en) | 1999-01-07 | 2002-07-23 | Asahi Kogaku Kogyo Kabushiki Kaisha | High-frequency instrument for endoscope |
US6471690B1 (en) | 1999-08-04 | 2002-10-29 | Asahi Kogaku Kogyo Kabushiki Kaisha | Connecting part in endoscopic treating instrument |
-
1983
- 1983-08-01 JP JP13943983A patent/JPS6031684A/ja active Pending
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6113586A (en) * | 1998-01-16 | 2000-09-05 | Asahi Kogaku Kabushiki Kaisha | Joint mechanism for endoscopic treatment instrument, and endoscopic treatment system using that mechanism |
US6423060B1 (en) | 1999-01-07 | 2002-07-23 | Asahi Kogaku Kogyo Kabushiki Kaisha | High-frequency instrument for endoscope |
US6423054B1 (en) | 1999-08-04 | 2002-07-23 | Asahi Kogaku Kogyo Kabushiki Kaisha | Operation wire connecting part in endoscopic treating instrument |
US6471690B1 (en) | 1999-08-04 | 2002-10-29 | Asahi Kogaku Kogyo Kabushiki Kaisha | Connecting part in endoscopic treating instrument |
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