JPS5857780A - プリント基板の検査方法とその装置 - Google Patents
プリント基板の検査方法とその装置Info
- Publication number
- JPS5857780A JPS5857780A JP56154827A JP15482781A JPS5857780A JP S5857780 A JPS5857780 A JP S5857780A JP 56154827 A JP56154827 A JP 56154827A JP 15482781 A JP15482781 A JP 15482781A JP S5857780 A JPS5857780 A JP S5857780A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- circuit board
- printed circuit
- data
- product name
- inspection
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
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- Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、集積回路等を搭載したプリント基板を検査す
る検査方法とその装置に関する。
る検査方法とその装置に関する。
従来のブロービング装置を第１図にて説明する。
ＬＳＩ４を載蓋したブリ７ト基板３は、プリント基３１
板固定金具６に取着されている。このプリント基板３の
上方側には、ブリ、ント基板３の面と平行方向（示矢で
示すｘｙ方向）に移動自在のｘｙＹテーブルが配設され
ている。このＸＹテーブル１には検査用プローブ２（以
下グローブと略称する）が取着さね、このプローブ２は
プリント基板３の面の直角方向（示矢の２方向）に移動
しうるようにされている。
上方側には、ブリ、ント基板３の面と平行方向（示矢で
示すｘｙ方向）に移動自在のｘｙＹテーブルが配設され
ている。このＸＹテーブル１には検査用プローブ２（以
下グローブと略称する）が取着さね、このプローブ２は
プリント基板３の面の直角方向（示矢の２方向）に移動
しうるようにされている。
まず、プロービング用ＮＣデータによりＸＹテーブル１
を所定の位置に位置決めしたのち、グローブ２を下降さ
せる。次にプリント基板３に載置された被検査物ＬＳＩ
４のリード５にプローブ２の先端を接触させ、ＬＳＩ４
の信号解析および故障解析を行うようになっている。な
お、ＸＹテーブルｌおよびプローブ２をｘ、ｙ、ｚ方向
に移動するのは、第２図に示す処理装置１０によって行
なわわる。すなわち、プリント基板３のグローブ検査前
に、まず端末装置９からプリント基板３の品名を処理装
置ｊｌｉｌＯに入力させる。処理装置１０は入力された
プリント基板３の品名を基に、メモリファイル１１開０
３５８−５７７８０（２） に格納されているプロービングＮＣデータを取出し、こ
のプロービングＮＣデータにより前記プロービング装置
のＸＹテーブル１の位置決めを行ない、グローブ２を下
降させて、プロービングするように構成されている。
を所定の位置に位置決めしたのち、グローブ２を下降さ
せる。次にプリント基板３に載置された被検査物ＬＳＩ
４のリード５にプローブ２の先端を接触させ、ＬＳＩ４
の信号解析および故障解析を行うようになっている。な
お、ＸＹテーブルｌおよびプローブ２をｘ、ｙ、ｚ方向
に移動するのは、第２図に示す処理装置１０によって行
なわわる。すなわち、プリント基板３のグローブ検査前
に、まず端末装置９からプリント基板３の品名を処理装
置ｊｌｉｌＯに入力させる。処理装置１０は入力された
プリント基板３の品名を基に、メモリファイル１１開０
３５８−５７７８０（２） に格納されているプロービングＮＣデータを取出し、こ
のプロービングＮＣデータにより前記プロービング装置
のＸＹテーブル１の位置決めを行ない、グローブ２を下
降させて、プロービングするように構成されている。
以上の構成を有するブロービング装置において、ＬＳＩ
４の放熱や雰囲気条件により、プリント基板３が目標精
度見上に熱伸縮を生ずることがある。
４の放熱や雰囲気条件により、プリント基板３が目標精
度見上に熱伸縮を生ずることがある。
この場合、プローブ２がプロービング用ＮＣデータに基
づいて正しく移動したとしても、ＬＳＩ４の所定のリー
ド５にプローブ２が接触しないことが生ずる。又、ＬＳ
Ｉ４のリード５と隣接するＬＳＩ４’のリード５′（図
示していない）とをプローブ２により短絡する場合も生
じ、ＬＳＩ４を破損してしまう欠点を有していた。
づいて正しく移動したとしても、ＬＳＩ４の所定のリー
ド５にプローブ２が接触しないことが生ずる。又、ＬＳ
Ｉ４のリード５と隣接するＬＳＩ４’のリード５′（図
示していない）とをプローブ２により短絡する場合も生
じ、ＬＳＩ４を破損してしまう欠点を有していた。
さらに、ブロービング装置にセットされたプリント基板
３の品名も相違する品名のものが誤って端末装置９から
処理装置１０に入力されると、全く異なる個所をプロー
ビングすることになり、正しい検査ができないのみなら
ず、載置したＬＳＩ４を５ ｉ＋ 短絡し、破損してしまう欠点を有していた。
３の品名も相違する品名のものが誤って端末装置９から
処理装置１０に入力されると、全く異なる個所をプロー
ビングすることになり、正しい検査ができないのみなら
ず、載置したＬＳＩ４を５ ｉ＋ 短絡し、破損してしまう欠点を有していた。
さらに、従来では、あらかじめ同品名のプリント基板ご
とにプロービングＮＣデータを区分けをし、プローブ検
査を合理的に行うための段取作業を必要とする欠点も有
していた。
とにプロービングＮＣデータを区分けをし、プローブ検
査を合理的に行うための段取作業を必要とする欠点も有
していた。
本発明は、以上の欠点を解消するもので、その目的は、
プリント基板の熱伸縮が生じてもプローブを適正位置に
位置決めできると共に、自動的にプリント基板の品名を
読取り、誤ったプロービングＮＣデータが入力されるこ
とを防止し、かつ、予め、品名毎にプロービングＮＣデ
ータを区分する段取作ｔを必要としないプリント基板の
検査方法とその装置を提供するにある。
プリント基板の熱伸縮が生じてもプローブを適正位置に
位置決めできると共に、自動的にプリント基板の品名を
読取り、誤ったプロービングＮＣデータが入力されるこ
とを防止し、かつ、予め、品名毎にプロービングＮＣデ
ータを区分する段取作ｔを必要としないプリント基板の
検査方法とその装置を提供するにある。
本発明は、以上の目的を達成するために、プリント基板
の端縁部に表示される品名パターンおよびプリント基板
位置決め用マークを読取り、これによってプロービング
ＮＣデータをメモリファイルから選択、取出なし、所定
のプロービングＮＣデータエリアに配設すると共に、プ
リント基板位置決め用マークによってプリント基板の熱
伸縮なＣ 求め、この変化量だけ前記プロービングＮＣデータを補
正したのちプリント基板をプローブする検査方法と、プ
ローブを取着したＸＹテーブルにテレビカメラを取着し
、このテレビカメラによって品名パターンおよびプリン
ト基板位置決め用マークを読取り、この読取信号を制御
手段に送って？ｊＩ記プロービングＮＣデータを補正す
るように構成されたプリント基板の検査装置とを特徴と
したものである。
の端縁部に表示される品名パターンおよびプリント基板
位置決め用マークを読取り、これによってプロービング
ＮＣデータをメモリファイルから選択、取出なし、所定
のプロービングＮＣデータエリアに配設すると共に、プ
リント基板位置決め用マークによってプリント基板の熱
伸縮なＣ 求め、この変化量だけ前記プロービングＮＣデータを補
正したのちプリント基板をプローブする検査方法と、プ
ローブを取着したＸＹテーブルにテレビカメラを取着し
、このテレビカメラによって品名パターンおよびプリン
ト基板位置決め用マークを読取り、この読取信号を制御
手段に送って？ｊＩ記プロービングＮＣデータを補正す
るように構成されたプリント基板の検査装置とを特徴と
したものである。
以下、本発明の実施例を図面に基づいて説明するＯ
第３図は、検査対象物であるプリント基板３を示す。プ
リント基板３には、端縁部四隅に、熱伸縮長を測定する
に必要な位置決め用マーク７が４ケ所印刷されると共に
、プリント基板３の品名読取のための品名パターン８が
それぞれ印刷さねでいる。
リント基板３には、端縁部四隅に、熱伸縮長を測定する
に必要な位置決め用マーク７が４ケ所印刷されると共に
、プリント基板３の品名読取のための品名パターン８が
それぞれ印刷さねでいる。
第４図において、ＬＳＩＪを載置したプリント基板３は
プリント基板固定金具６に設置されている。
プリント基板固定金具６に設置されている。
プリント基板３の上方には、プリント基板３の面と平行
のＸおよびＹ方向に移動自在のＸＹテーブル１が配置さ
れている。そ−して、ＸＹテーブル１にはグローブ２と
テレビカメラ１１とがそれぞれ設置され、プリント基板
３に対し２方向に移動できるようにされている。プロー
ブ２は、上昇位置より下降操作されＬＳＩ４の検査位置
に接触しうるようになっている。又、テレビカメラ１】
は、プリント基板３の画像を取り込み、位置決め用マー
ク７および品名パターン８を映し出すようになっている
。そして、プローブ２およびテレビカメラ１１の操作は
、図示していない制御手段および、ブロービング用ＮＣ
データによってコントロールされる。
のＸおよびＹ方向に移動自在のＸＹテーブル１が配置さ
れている。そ−して、ＸＹテーブル１にはグローブ２と
テレビカメラ１１とがそれぞれ設置され、プリント基板
３に対し２方向に移動できるようにされている。プロー
ブ２は、上昇位置より下降操作されＬＳＩ４の検査位置
に接触しうるようになっている。又、テレビカメラ１】
は、プリント基板３の画像を取り込み、位置決め用マー
ク７および品名パターン８を映し出すようになっている
。そして、プローブ２およびテレビカメラ１１の操作は
、図示していない制御手段および、ブロービング用ＮＣ
データによってコントロールされる。
第５図において、制御手段である処理装置メモリエリヤ
１６には、ブロービングを実施するためのシーケンスプ
ログラム、位置決め用マーク７を読取るための位置決め
用マーク認識プログラム、品名パターン８を読取る品名
読取りプログラムおよびプロービングＮＣデータ乞配設
するブロービングＮＣデータエリア等が組込まれている
。
１６には、ブロービングを実施するためのシーケンスプ
ログラム、位置決め用マーク７を読取るための位置決め
用マーク認識プログラム、品名パターン８を読取る品名
読取りプログラムおよびプロービングＮＣデータ乞配設
するブロービングＮＣデータエリア等が組込まれている
。
まず、処理装置メモリエリヤ１６に格納されている品名
パターンの位置データにより、ＸＹテーブル１を移動し
、テレビカメラ１１によってプリント基板３の品名パタ
ーン８を読取る。この品名データにより、そねに応じた
ブロービングＮＣデータを第５図に示すブロービングＮ
Ｃデータフロッピィ１７から処理装置メモリエリヤ１６
のブロービングＮＣｆ−タエリャに選択、移送する。こ
ねにより、予め、品、名毎にブロービングＮＣデータを
区分する段取作業は必要とされなくなる。
パターンの位置データにより、ＸＹテーブル１を移動し
、テレビカメラ１１によってプリント基板３の品名パタ
ーン８を読取る。この品名データにより、そねに応じた
ブロービングＮＣデータを第５図に示すブロービングＮ
Ｃデータフロッピィ１７から処理装置メモリエリヤ１６
のブロービングＮＣｆ−タエリャに選択、移送する。こ
ねにより、予め、品、名毎にブロービングＮＣデータを
区分する段取作業は必要とされなくなる。
次に、やはり予め処理装置メモリエリヤの位置決め用マ
ーク認識プログラムにより、ＸＹテーブルＩｌ’に移動
させ位置決め用マーク７の位＃にテレビカメラｌｌンｆ
ツトする。
ーク認識プログラムにより、ＸＹテーブルＩｌ’に移動
させ位置決め用マーク７の位＃にテレビカメラｌｌンｆ
ツトする。
テレビカメラ１１により位置決め用マーク７の中心座標
値？求め、ブロービングＮＣデータトノ差を計算する。
値？求め、ブロービングＮＣデータトノ差を計算する。
同様のことを位置決め用マーク７の４ケ所について行な
う。
う。
第６図において、点Ａ、Ｂ、Ｃ，Ｄはプリント基板３の
４ケ所の位置決め用マーク７ｙ／′示す。Ｘ。
４ケ所の位置決め用マーク７ｙ／′示す。Ｘ。
ｙは、点Ａを原点（０，０）としたときの点Ｂ。
ＣＩ
Ｃ，Ｄの座標を表示する。点Ｐは、プリント基板３が点
Ａ、Ｂ、Ｃ，Ｄにあるときのブロービングポイント１４
を示す。ｘＰ 、 ｙＰはその座標を示す。・さて、プ
リント基板３が熱伸縮により変化すると、点Ａ、Ｂ、Ｃ
，Ｄはその熱伸縮長１８ないし２１にしたがって、点Ａ
／ 、 Ｂ／ 、 Ｃ／ 、 Ｄ／まで変化し、プリン
ト基板３は３ａの位置に変化する。従って、ブロービン
グポイント１４は点ＰからＰ’ （ｘＰ’ 、 ｙＰ’
）に変化することになる。
Ａ、Ｂ、Ｃ，Ｄにあるときのブロービングポイント１４
を示す。ｘＰ 、 ｙＰはその座標を示す。・さて、プ
リント基板３が熱伸縮により変化すると、点Ａ、Ｂ、Ｃ
，Ｄはその熱伸縮長１８ないし２１にしたがって、点Ａ
／ 、 Ｂ／ 、 Ｃ／ 、 Ｄ／まで変化し、プリン
ト基板３は３ａの位置に変化する。従って、ブロービン
グポイント１４は点ＰからＰ’ （ｘＰ’ 、 ｙＰ’
）に変化することになる。
以上の計算がブロービングＮＣデータに入力され、ブロ
ービングＮＣデータをその分だけ補正する０ 従って、ＸＹテーブルｌは補正された位置に移動し、プ
ローブ２を位置決めすることになる。
ービングＮＣデータをその分だけ補正する０ 従って、ＸＹテーブルｌは補正された位置に移動し、プ
ローブ２を位置決めすることになる。
プローブ２を適正位置に位置決めしたのち、グローブ２
を下降させれば、ＬＳＩ４の所定の検査位置にプローブ
は接触することになる。従って、正しい信号解析および
故障解析を行５ことができる・同様のことを、処理装置
メモリエリヤ１６のシーケンスプログラムに従って行う
ことにより、プリン１（ｌ ｌ：１ ト基板の検査を完了することができる。
を下降させれば、ＬＳＩ４の所定の検査位置にプローブ
は接触することになる。従って、正しい信号解析および
故障解析を行５ことができる・同様のことを、処理装置
メモリエリヤ１６のシーケンスプログラムに従って行う
ことにより、プリン１（ｌ ｌ：１ ト基板の検査を完了することができる。
第７図は以上のことを表示したフローチャートである。
図において、信号抽出信号判定とは、グローブによる信
号解析における信号の抽出と、その判定を表示するもの
である。
号解析における信号の抽出と、その判定を表示するもの
である。
以上の説明によって明らかなごとく、本発明によれば、
プリント基板が熱伸縮しても、その熱伸縮長に対応しプ
ローブを適正位置に位置決めすることができる。また、
自動的にプリント基板の品名を読取ることにより誤った
グローピングＮＣデータが入力されることが予防される
と共に品名毎にブロービングＮＣデータを予め区分する
段取作業を不要としうる効果を上げることができる。
プリント基板が熱伸縮しても、その熱伸縮長に対応しプ
ローブを適正位置に位置決めすることができる。また、
自動的にプリント基板の品名を読取ることにより誤った
グローピングＮＣデータが入力されることが予防される
と共に品名毎にブロービングＮＣデータを予め区分する
段取作業を不要としうる効果を上げることができる。
第１図は従来使用されているブロービング装置を示す側
面図、第２図はそのシステム説明図、第３図は本発明に
用いられるプリント基板を表示する平面図、第４図は本
発明の一実施例を示す側面図、第５図は処理装置メモリ
エリヤの構成と、グローピングＮＣデータの移動を説明
する説明図、１１ ζ・ 第６図はプリント基板の熱伸縮前後の状態を示す説明図
、第７図は本発明の方法を示すフローチャートである。 ｌ・・・ＸＹテーブル、２・・・プローブ、３．３ｍ・
・・プリント基板、４・・・ＬＳＩ、５・・・ＬＳＩの
リード、６・・・プリント基板固定金具、７・・・位置
決め用マーク、８・・・品名パターン、１１・・・テレ
ビカメラ、１６・・・処理装置メモリエリヤ、１７・・
・ブロービングＮＣデータフロッピィ。 代理人弁理士 秋 本 正 実 １、’ｒｉ６１’３５ト５？７８０（４）第１図 第２図 ０ 第３図 第５図 第６図 ／−
面図、第２図はそのシステム説明図、第３図は本発明に
用いられるプリント基板を表示する平面図、第４図は本
発明の一実施例を示す側面図、第５図は処理装置メモリ
エリヤの構成と、グローピングＮＣデータの移動を説明
する説明図、１１ ζ・ 第６図はプリント基板の熱伸縮前後の状態を示す説明図
、第７図は本発明の方法を示すフローチャートである。 ｌ・・・ＸＹテーブル、２・・・プローブ、３．３ｍ・
・・プリント基板、４・・・ＬＳＩ、５・・・ＬＳＩの
リード、６・・・プリント基板固定金具、７・・・位置
決め用マーク、８・・・品名パターン、１１・・・テレ
ビカメラ、１６・・・処理装置メモリエリヤ、１７・・
・ブロービングＮＣデータフロッピィ。 代理人弁理士 秋 本 正 実 １、’ｒｉ６１’３５ト５？７８０（４）第１図 第２図 ０ 第３図 第５図 第６図 ／−
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 ■、 プリント基板を検査用グローブにより検査する検
査方法において、プリント基板の端縁部に表示される品
名パターンおよびプリント基板位置決め用マークを読取
り、前記品名パターンをパターン認識することによって
、ブロービングＮＣデータを選択し、該ブロービングＮ
Ｃデータによって前記検査用プローブを所定位置に移動
させると共に、前記位置決め用マークによって前記プリ
ント基板の熱伸縮長を求め、該熱伸縮長相当分だけ前記
ブロービングＮＣデータを補正し、前記検査用グローブ
を適正位置に位置決めしながら検査することを特徴とす
るプリント基板の検査方法。 ２、前記ブロービングＮＣデータの選択が、前記品名パ
ターンの読取りにより、パターン認識で品名を判定した
のち、該品名に応じたブロービング用ＮＣデータをメモ
リファイルから取出し、こ２ （＋ れを所定のプローピングＮＣデータエリアに配設するも
のであることを特徴とする特許請求の範囲第１項の記載
のプリント基板の検査方法。 ３、 プリント基板を検査用プローブにより検査する検
査装置において、所定位置に設置されたプリント基板を
検査する検査用グローブと、この検査用プローブを取着
し、ブロービングＮＣデータの指示に従ってＸＹ方向（
プリント基板面と平行する面上の座標）に移動自在のＸ
Ｙテーブルと、該ＸＹテーブルに取着され、前記プリン
ト基板の端縁部に表示された品名パターンおよび位置決
め用ケークを読取るテレビカメラと、このテレビカメラ
の読取信号により、前記ＸＹテーブルの移動を制御する
制御手段とを備えることを特徴とするプリント基板の検
査装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP56154827A JPS5857780A (ja) | 1981-10-01 | 1981-10-01 | プリント基板の検査方法とその装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP56154827A JPS5857780A (ja) | 1981-10-01 | 1981-10-01 | プリント基板の検査方法とその装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5857780A true JPS5857780A (ja) | 1983-04-06 |
Family
ID=15592741
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP56154827A Pending JPS5857780A (ja) | 1981-10-01 | 1981-10-01 | プリント基板の検査方法とその装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5857780A (ja) |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS601900A (ja) * | 1983-06-17 | 1985-01-08 | 松下電器産業株式会社 | 認識付電子部品実装装置 |
| JPS62155600A (ja) * | 1985-12-27 | 1987-07-10 | 松下電器産業株式会社 | 電子部品実装方法 |
| JPS6374530A (ja) * | 1986-09-17 | 1988-04-05 | Sony Corp | 部品の自動マウント方法 |
| JP2005241491A (ja) * | 2004-02-27 | 2005-09-08 | Nidec-Read Corp | 基板検査装置、位置調整方法 |
| JP2009276096A (ja) * | 2008-05-12 | 2009-11-26 | Seiko Precision Inc | 基板変形認識方法及び基板変形認識装置及び基板変形認識プログラム |
-
1981
- 1981-10-01 JP JP56154827A patent/JPS5857780A/ja active Pending
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS601900A (ja) * | 1983-06-17 | 1985-01-08 | 松下電器産業株式会社 | 認識付電子部品実装装置 |
| JPH0322720B2 (ja) * | 1983-06-17 | 1991-03-27 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | |
| JPS62155600A (ja) * | 1985-12-27 | 1987-07-10 | 松下電器産業株式会社 | 電子部品実装方法 |
| JPS6374530A (ja) * | 1986-09-17 | 1988-04-05 | Sony Corp | 部品の自動マウント方法 |
| JP2005241491A (ja) * | 2004-02-27 | 2005-09-08 | Nidec-Read Corp | 基板検査装置、位置調整方法 |
| JP2009276096A (ja) * | 2008-05-12 | 2009-11-26 | Seiko Precision Inc | 基板変形認識方法及び基板変形認識装置及び基板変形認識プログラム |
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