JPS5851522A - 異物除去装置 - Google Patents
異物除去装置Info
- Publication number
- JPS5851522A JPS5851522A JP14947081A JP14947081A JPS5851522A JP S5851522 A JPS5851522 A JP S5851522A JP 14947081 A JP14947081 A JP 14947081A JP 14947081 A JP14947081 A JP 14947081A JP S5851522 A JPS5851522 A JP S5851522A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- article
- foreign matter
- foreign matters
- conveyor
- electrifying
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 230000005611 electricity Effects 0.000 claims abstract description 5
- 230000003068 static effect Effects 0.000 claims abstract description 5
- 239000000126 substance Substances 0.000 abstract description 8
- 238000000034 method Methods 0.000 description 4
- 235000012431 wafers Nutrition 0.000 description 3
- 238000013459 approach Methods 0.000 description 2
- 238000007664 blowing Methods 0.000 description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 241000272525 Anas platyrhynchos Species 0.000 description 1
- 235000015278 beef Nutrition 0.000 description 1
- 239000004020 conductor Substances 0.000 description 1
- 238000011109 contamination Methods 0.000 description 1
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 1
- 230000002950 deficient Effects 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000010894 electron beam technology Methods 0.000 description 1
- 238000009434 installation Methods 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 1
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/02—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
- H01L21/04—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having potential barriers, e.g. a PN junction, depletion layer or carrier concentration layer
- H01L21/18—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having potential barriers, e.g. a PN junction, depletion layer or carrier concentration layer the devices having semiconductor bodies comprising elements of Group IV of the Periodic Table or AIIIBV compounds with or without impurities, e.g. doping materials
- H01L21/30—Treatment of semiconductor bodies using processes or apparatus not provided for in groups H01L21/20 - H01L21/26
- H01L21/302—Treatment of semiconductor bodies using processes or apparatus not provided for in groups H01L21/20 - H01L21/26 to change their surface-physical characteristics or shape, e.g. etching, polishing, cutting
- H01L21/304—Mechanical treatment, e.g. grinding, polishing, cutting
- H01L21/3046—Mechanical treatment, e.g. grinding, polishing, cutting using blasting, e.g. sand-blasting
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Cleaning Or Drying Semiconductors (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発胸は物品に付層した異物上帯電により除去する異物
除去装置に関する。
除去装置に関する。
例えば牛導体鯛造工程では、Ill[ll111パター
ンを党。
ンを党。
電子−X@尋によりレジスト上に感光δゼて形成する。
こf1際、レジスト上に付層した輿智か存在すると、異
物下のレジストは感光されず、欠陥個所となる。従来は
、エアーブローによる除去法食用いていたが、これは1
011鴨以下の異物のような微細な異物の除去には有効
ではない。t7ts電子iI1等の真空中で行なわれる
描画においては、上記除去法は使用できず、真空装置内
での異物除去は様々な困難のために行なわれていなh0
本発明の目的は、上記エアーブローにより除去できない
異物の如き異物や、真空装置内の異物等で[実に除去で
きる異物除去装置倉提供することにある。
物下のレジストは感光されず、欠陥個所となる。従来は
、エアーブローによる除去法食用いていたが、これは1
011鴨以下の異物のような微細な異物の除去には有効
ではない。t7ts電子iI1等の真空中で行なわれる
描画においては、上記除去法は使用できず、真空装置内
での異物除去は様々な困難のために行なわれていなh0
本発明の目的は、上記エアーブローにより除去できない
異物の如き異物や、真空装置内の異物等で[実に除去で
きる異物除去装置倉提供することにある。
この目的′ki1成するため、本発明による異物除去W
&直は、帯電による静電気t8用し、帯電物質を異物の
付層した物品に誉近葛ゼて異物を除去するもので6る。
&直は、帯電による静電気t8用し、帯電物質を異物の
付層した物品に誉近葛ゼて異物を除去するもので6る。
以下、本発明紫図面(示す′4施例にしたかつてaらに
詳gJK績明する。
詳gJK績明する。
11!1図は本@明による異物除去W&置の一実施カを
示す斜視図である。
示す斜視図である。
本実施f%lにおいて、符号lけハウジングでめp、該
ハウジング1の中には、異物を除去される物品3(7t
とえばマスクまたはウェハ)t−載せて移動する無端コ
ンベヤ状のコンベヤ2か設けられている。
ハウジング1の中には、異物を除去される物品3(7t
とえばマスクまたはウェハ)t−載せて移動する無端コ
ンベヤ状のコンベヤ2か設けられている。
また、IIII記ハウジング1の内部には、帯電による
静電気で物品3上に付着した異物を除去するための帯電
物4がコンベヤ2の上方の一部分tトンネル状に覆うよ
う該コンベヤ2の上t−またぐよう圧して設置もれてい
る。
静電気で物品3上に付着した異物を除去するための帯電
物4がコンベヤ2の上方の一部分tトンネル状に覆うよ
う該コンベヤ2の上t−またぐよう圧して設置もれてい
る。
したがって、本実施例においては、異物の付着した一品
3【コンベヤ2の上に叔ゼて該コンベヤ2¥1:移動δ
ゼると、物品3は帯電物4に接近して咳帝電物4の下a
’を通過するので、この通過中に物品3上の異物は帯電
物4の帯電による静電気で該帯電物4に吸着され、物品
3上から除去される。
3【コンベヤ2の上に叔ゼて該コンベヤ2¥1:移動δ
ゼると、物品3は帯電物4に接近して咳帝電物4の下a
’を通過するので、この通過中に物品3上の異物は帯電
物4の帯電による静電気で該帯電物4に吸着され、物品
3上から除去される。
なお、第1図の実施例とけ逆に、帯電物4を物品3に対
して相対移動場ぜてもよい。第2図はこのような場合の
一笑施f11t−示すものであり、帯電t#1J4t−
可動保持部材5により保持して物品3上で誉近移動δぜ
て異物の除去上行うものである。
して相対移動場ぜてもよい。第2図はこのような場合の
一笑施f11t−示すものであり、帯電t#1J4t−
可動保持部材5により保持して物品3上で誉近移動δぜ
て異物の除去上行うものである。
また、帯電物4#′i第1図および第2図のもの以外に
も様々な形状のものを使用できる、第3図((転)〜(
至)は帯電物40例をそれぞれ示している。すなわち、
第゛3図(4)の帯電物4ムけ角棒状、同図に)の帯電
物4Bは丸棒状でるる。また、第3図(0)は平板状の
帯電物40、同図中)は網目状の帯電物4Dの例を示す
。さらに、ts3図(Jli)は球状の帯電物411、
同図ff)は半球状の帯電物4νの例である。
も様々な形状のものを使用できる、第3図((転)〜(
至)は帯電物40例をそれぞれ示している。すなわち、
第゛3図(4)の帯電物4ムけ角棒状、同図に)の帯電
物4Bは丸棒状でるる。また、第3図(0)は平板状の
帯電物40、同図中)は網目状の帯電物4Dの例を示す
。さらに、ts3図(Jli)は球状の帯電物411、
同図ff)は半球状の帯電物4νの例である。
勿論、帯電物4ri前記以外にも様々表形勝のものとす
ることかできる。
ることかできる。
前記実施力の異物除去装置金用込ることにより、たとえ
ばマスクプレート、ウェハの如き物品に付着したamな
異物を確実に除去できるので、レジスト塗布時のJl!
!物混入や、レジスト塗布後の表面に付着した異#!J
Vcよるレジスト未感光に起因する欠陥の低減等の効果
t−得ることかできる。また、真空装置等の密画aれた
空間内での異物除去も容易に行うことか可能でるる。
ばマスクプレート、ウェハの如き物品に付着したamな
異物を確実に除去できるので、レジスト塗布時のJl!
!物混入や、レジスト塗布後の表面に付着した異#!J
Vcよるレジスト未感光に起因する欠陥の低減等の効果
t−得ることかできる。また、真空装置等の密画aれた
空間内での異物除去も容易に行うことか可能でるる。
なお、本発明は半導体製品の製造以外にも広く通用でき
、たとえば精密模#llKおける値小異物の除去+1[
41!効である。
、たとえば精密模#llKおける値小異物の除去+1[
41!効である。
以上説明したように、本発明によれば、異物の除去を容
易かつ確実に行うことができる。
易かつ確実に行うことができる。
第1図は本発明による異物除去装置の一実施例の斜視図
、第2図は本発明の他の1つの実施f1を示す部分図、
第3図(4)〜(7)は本発明に用いる帯電物の各種実
施例を示す図でおる。 1・・・ハウジング、2・・・コンベヤ、3・・・物品
、4、番ム、4B% 40.4p% 4M、4ν・・・
帯電物、5・・・可動保持部材。 代理人 弁理士 薄 1)利 幸 ′・+1ニー 第1図 第 3M
、第2図は本発明の他の1つの実施f1を示す部分図、
第3図(4)〜(7)は本発明に用いる帯電物の各種実
施例を示す図でおる。 1・・・ハウジング、2・・・コンベヤ、3・・・物品
、4、番ム、4B% 40.4p% 4M、4ν・・・
帯電物、5・・・可動保持部材。 代理人 弁理士 薄 1)利 幸 ′・+1ニー 第1図 第 3M
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1、付着した異物を除去される物品と、異物を該物品か
ら静電気で除去する帯電物と、11I配物品tたは前記
帯電物のいずれか一方を他方に対して互−KI#近させ
るよう相対移動さゼる手段とt−有する異物除去装置。 2、帥紀相附移動手段は、前記物品t−叡ゼて移動する
コンベヤであることを%愼とする特許請求の範囲第1項
記載の異物除去装置tつ 3、前記相対移動手段は、PIJ配帝電物を倚持して移
動する可動保持手段であること1**とする特許請求の
範囲第1項記載のJll線除去装置
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP14947081A JPS5851522A (ja) | 1981-09-24 | 1981-09-24 | 異物除去装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP14947081A JPS5851522A (ja) | 1981-09-24 | 1981-09-24 | 異物除去装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS5851522A true JPS5851522A (ja) | 1983-03-26 |
Family
ID=15475835
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP14947081A Pending JPS5851522A (ja) | 1981-09-24 | 1981-09-24 | 異物除去装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS5851522A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS59179507A (ja) * | 1983-03-29 | 1984-10-12 | Toa Nenryo Kogyo Kk | エチレン共重合体の製造方法 |
JP2013157382A (ja) * | 2012-01-27 | 2013-08-15 | Mitsubishi Electric Corp | 異物除去装置、異物除去方法 |
Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5610116A (en) * | 1979-07-05 | 1981-02-02 | Mizuo Ikeda | Drug for athlete's foot (dermatophytosis) |
-
1981
- 1981-09-24 JP JP14947081A patent/JPS5851522A/ja active Pending
Patent Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5610116A (en) * | 1979-07-05 | 1981-02-02 | Mizuo Ikeda | Drug for athlete's foot (dermatophytosis) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS59179507A (ja) * | 1983-03-29 | 1984-10-12 | Toa Nenryo Kogyo Kk | エチレン共重合体の製造方法 |
JP2013157382A (ja) * | 2012-01-27 | 2013-08-15 | Mitsubishi Electric Corp | 異物除去装置、異物除去方法 |
US9659795B2 (en) | 2012-01-27 | 2017-05-23 | Mitsubishi Electric Corporation | Foreign matter removal device and foreign matter removal method |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
KR100485024B1 (ko) | 포토마스크를세척하기위한장치및방법 | |
GB1572510A (en) | Microdevice substrate and method for making micropattern devices | |
EP0973069A3 (en) | Monitoring apparatus and method particularly useful in photolithographically processing substrates | |
DE3486187D1 (de) | Verfahren und vorrichtung zur herstellung von schutzlackbildern. | |
US20100320631A1 (en) | Method of processing substrate and imprint device | |
MX170378B (es) | Procedimiento para revestir granulos de detergente | |
JP7261000B2 (ja) | 容器、処理装置、異物除去方法、および物品の製造方法 | |
JPS5851522A (ja) | 異物除去装置 | |
WO1998034092A3 (en) | Object inspection and/or modification system and method | |
US6451117B1 (en) | Paint mask and a method for utilizing the same | |
TWI680050B (zh) | 壓印裝置及其動作方法以及物品製造方法 | |
US4499162A (en) | Photomask and method of using same | |
KR950021515A (ko) | 전자빔으로 직접 묘화하는 방법 및 장치 | |
JPH02298031A (ja) | 異物除去方法 | |
JPH0878182A (ja) | パターン露光方法 | |
EP0454169A2 (en) | Photomask and method of treating the same | |
JPS5799739A (en) | Charged beam exposure method | |
JP2004063545A (ja) | マスク検査方法、マスク検査装置、荷電粒子線露光方法及び荷電粒子線露光装置 | |
JP2555783B2 (ja) | レチクル・マスクの防塵方法 | |
JPH05243200A (ja) | ガラス基板洗浄方法 | |
JPS599230B2 (ja) | 絶縁体表面の清浄化方法 | |
JP2000049081A (ja) | 荷電粒子線投影露光装置 | |
JPS63182654A (ja) | ホトマスク製造方法 | |
JP2674289B2 (ja) | 電子ビーム露光装置及び露光方法 | |
JPS58200551A (ja) | ウエハ搬送装置 |