JPH10268055A - 放射性廃棄物計測装置及び計測方法 - Google Patents
放射性廃棄物計測装置及び計測方法Info
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- JPH10268055A JPH10268055A JP7416097A JP7416097A JPH10268055A JP H10268055 A JPH10268055 A JP H10268055A JP 7416097 A JP7416097 A JP 7416097A JP 7416097 A JP7416097 A JP 7416097A JP H10268055 A JPH10268055 A JP H10268055A
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Abstract
(57)【要約】
【課題】放射性廃棄物中に存在する超ウラン元素の密度
分布を計測する放射性廃棄物計測装置及び計測方法を提
供する。 【解決手段】ペンシルビーム状γ線を被検査体16に照
射するγ線照射部と、被検査体16を透過したペンシル
ビーム状γ線を計測するγ線検出器4と、被検査体16
から(γ、n)反応により発生する中性子を計測する中
性子検出器6と、被検査体16をペンシルビーム状γ線
の入射方向に対して移動させる移動装置9と、被検査体
16のγ線線吸収係数分布を算出し、γ線線吸収係数分
布と中性子検出器6からの計測データとに基づき被検査
体16中の(γ、n)反応を起こす物質の密度分布を算
出する演算装置11と、γ線線吸収係数分布と密度分布
とを重ねて表示する表示装置12とで構成される放射性
廃棄物計測装置により解決される。
分布を計測する放射性廃棄物計測装置及び計測方法を提
供する。 【解決手段】ペンシルビーム状γ線を被検査体16に照
射するγ線照射部と、被検査体16を透過したペンシル
ビーム状γ線を計測するγ線検出器4と、被検査体16
から(γ、n)反応により発生する中性子を計測する中
性子検出器6と、被検査体16をペンシルビーム状γ線
の入射方向に対して移動させる移動装置9と、被検査体
16のγ線線吸収係数分布を算出し、γ線線吸収係数分
布と中性子検出器6からの計測データとに基づき被検査
体16中の(γ、n)反応を起こす物質の密度分布を算
出する演算装置11と、γ線線吸収係数分布と密度分布
とを重ねて表示する表示装置12とで構成される放射性
廃棄物計測装置により解決される。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、放射性廃棄物に含
まれる超ウラン元素の密度分布を計測する放射性廃棄物
計測装置及び計測方法に関するものである。
まれる超ウラン元素の密度分布を計測する放射性廃棄物
計測装置及び計測方法に関するものである。
【0002】
【従来の技術】原子番号92以上の超ウラン元素(以
下、TRUと略す)を含む放射性廃棄物中のTRUの総
量を分析する技術として、特開平6―167569号公
報に記載の技術が知られている。この技術は、廃棄物中
のTRU、特に質量数244のキュリウムと質量数24
1のアメリシウムのそれぞれの量を測定するものであ
る。
下、TRUと略す)を含む放射性廃棄物中のTRUの総
量を分析する技術として、特開平6―167569号公
報に記載の技術が知られている。この技術は、廃棄物中
のTRU、特に質量数244のキュリウムと質量数24
1のアメリシウムのそれぞれの量を測定するものであ
る。
【0003】また、文献「超ウラン元素の非破壊分析
法:RADIOISOTOPS、37、687〜696
(1988)」に記載されている種々の技術もある。す
なわち、パッシブガンマ法、パッシブ中性子法、アクテ
ィブ中性子法、等である。
法:RADIOISOTOPS、37、687〜696
(1988)」に記載されている種々の技術もある。す
なわち、パッシブガンマ法、パッシブ中性子法、アクテ
ィブ中性子法、等である。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、従来技
術の問題点は、廃棄物中のTRUの総量を測定すること
はできるが、廃棄物中のどこに、どの程度のTRUが存
在するかは判らない。すなわち、TRUの密度分布を知
ることはできない。
術の問題点は、廃棄物中のTRUの総量を測定すること
はできるが、廃棄物中のどこに、どの程度のTRUが存
在するかは判らない。すなわち、TRUの密度分布を知
ることはできない。
【0005】本発明の目的は、放射性廃棄物中のTRU
の密度分布を計測する放射性廃棄物計測装置及び計測方
法を提供することにある。
の密度分布を計測する放射性廃棄物計測装置及び計測方
法を提供することにある。
【0006】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、本発明は、放射性廃棄物中に含まれ(γ、n)反応
を起す物質を計測する放射性廃棄物計測装置において、
ペンシルビーム状γ線を用いて、前記(γ、n)反応を
起す物質の前記放射性廃棄物中における密度分布を計測
するように構成されていることを特徴とする。
に、本発明は、放射性廃棄物中に含まれ(γ、n)反応
を起す物質を計測する放射性廃棄物計測装置において、
ペンシルビーム状γ線を用いて、前記(γ、n)反応を
起す物質の前記放射性廃棄物中における密度分布を計測
するように構成されていることを特徴とする。
【0007】また、本発明の他の特徴は、放射性廃棄物
中に含まれ(γ、n)反応を起す物質を計測する放射性
廃棄物計測装置において、ペンシルビーム状γ線を用い
て、前記(γ、n)反応を起しかつ原子番号92以上の
物質の前記放射性廃棄物中における密度分布を計測する
ように構成されていることにある。
中に含まれ(γ、n)反応を起す物質を計測する放射性
廃棄物計測装置において、ペンシルビーム状γ線を用い
て、前記(γ、n)反応を起しかつ原子番号92以上の
物質の前記放射性廃棄物中における密度分布を計測する
ように構成されていることにある。
【0008】また、本発明の他の特徴は、放射性廃棄物
等の被検査体中に含まれ(γ、n)反応を起す物質を計
測する放射性廃棄物計測装置において、ペンシルビーム
状γ線を生成し前記被検査体に照射するγ線照射部と、
前記被検査体を透過してくる前記ペンシルビーム状γ線
を計測するγ線検出器と、前記被検査体から前記(γ、
n)反応により発生する中性子を計測する中性子検出器
と、前記被検査体を前記ペンシルビーム状γ線の入射方
向に対して並進移動、回転移動及び上下移動させる移動
装置と、前記γ線検出器からの計測データに基づき前記
被検査体のγ線線吸収係数分布を算出し、前記γ線線吸
収係数分布と前記中性子検出器からの計測データとに基
づき前記被検査体中の前記(γ、n)反応を起こす物質
の密度分布を算出する演算装置と、前記γ線線吸収係数
分布と前記密度分布とを重ねて表示する表示装置とを有
することにある。
等の被検査体中に含まれ(γ、n)反応を起す物質を計
測する放射性廃棄物計測装置において、ペンシルビーム
状γ線を生成し前記被検査体に照射するγ線照射部と、
前記被検査体を透過してくる前記ペンシルビーム状γ線
を計測するγ線検出器と、前記被検査体から前記(γ、
n)反応により発生する中性子を計測する中性子検出器
と、前記被検査体を前記ペンシルビーム状γ線の入射方
向に対して並進移動、回転移動及び上下移動させる移動
装置と、前記γ線検出器からの計測データに基づき前記
被検査体のγ線線吸収係数分布を算出し、前記γ線線吸
収係数分布と前記中性子検出器からの計測データとに基
づき前記被検査体中の前記(γ、n)反応を起こす物質
の密度分布を算出する演算装置と、前記γ線線吸収係数
分布と前記密度分布とを重ねて表示する表示装置とを有
することにある。
【0009】また、本発明の他の特徴は、放射性廃棄物
等の被検査体中に含まれ(γ、n)反応を起す物質を計
測する放射性廃棄物計測装置において、ペンシルビーム
状γ線を前記被検査体に照射することによって起る前記
(γ、n)反応により前記被検査体から発生する中性子
を計測する中性子計測装置と、前記被検査体を透過して
くる前記ペンシルビーム状γ線を計測し、該計測した計
測データに基づき前記被検査体のγ線線吸収係数分布を
算出するγ線CT装置と、前記γ線線吸収係数分布と前
記中性子計測装置からの計測データに基づき前記被検査
体中の前記(γ、n)反応を起こす物質の密度分布を求
める演算装置と、前記γ線線吸収係数分布と前記密度分
布を重ねて表示する表示装置とを有することにある。
等の被検査体中に含まれ(γ、n)反応を起す物質を計
測する放射性廃棄物計測装置において、ペンシルビーム
状γ線を前記被検査体に照射することによって起る前記
(γ、n)反応により前記被検査体から発生する中性子
を計測する中性子計測装置と、前記被検査体を透過して
くる前記ペンシルビーム状γ線を計測し、該計測した計
測データに基づき前記被検査体のγ線線吸収係数分布を
算出するγ線CT装置と、前記γ線線吸収係数分布と前
記中性子計測装置からの計測データに基づき前記被検査
体中の前記(γ、n)反応を起こす物質の密度分布を求
める演算装置と、前記γ線線吸収係数分布と前記密度分
布を重ねて表示する表示装置とを有することにある。
【0010】また、本発明の他の特徴として、前記
(γ、n)反応を起す物質は、原子番号92以上の物質
であることにある。
(γ、n)反応を起す物質は、原子番号92以上の物質
であることにある。
【0011】また、本発明の他の特徴は、放射性廃棄物
中に含まれ(γ、n)反応を起す物質を計測する放射性
廃棄物計測方法において、ペンシルビーム状γ線を用い
て、前記(γ、n)反応を起す物質の前記放射性廃棄物
中における密度分布を計測することにある。
中に含まれ(γ、n)反応を起す物質を計測する放射性
廃棄物計測方法において、ペンシルビーム状γ線を用い
て、前記(γ、n)反応を起す物質の前記放射性廃棄物
中における密度分布を計測することにある。
【0012】また、本発明の他の特徴は、放射性廃棄物
中に含まれ(γ、n)反応を起こす物質を計測する放射
性廃棄物計測方法において、ペンシルビーム状γ線を用
いて、前記(γ、n)反応を起こしかつ原子番号92以
上の物質の前記放射性廃棄物中における密度分布を計測
することにある。
中に含まれ(γ、n)反応を起こす物質を計測する放射
性廃棄物計測方法において、ペンシルビーム状γ線を用
いて、前記(γ、n)反応を起こしかつ原子番号92以
上の物質の前記放射性廃棄物中における密度分布を計測
することにある。
【0013】また、本発明の他の特徴は、被検査体中に
含まれ(γ、n)反応を起こす物質を計測する放射性物
質計測装置において、ペンシルビーム状γ線を用いて、
前記(γ、n)反応を起こす物質の前記被検査体中にお
ける密度分布を計測するように構成されていることにあ
る。
含まれ(γ、n)反応を起こす物質を計測する放射性物
質計測装置において、ペンシルビーム状γ線を用いて、
前記(γ、n)反応を起こす物質の前記被検査体中にお
ける密度分布を計測するように構成されていることにあ
る。
【0014】また、本発明の他の特徴は、被検査体中に
含まれ(γ、n)反応を起こす物質を計測する放射性物
質計測方法において、ペンシルビーム状γ線を用いて、
前記(γ、n)反応を起こす物質の前記被検査体中にお
ける密度分布を計測することにある。
含まれ(γ、n)反応を起こす物質を計測する放射性物
質計測方法において、ペンシルビーム状γ線を用いて、
前記(γ、n)反応を起こす物質の前記被検査体中にお
ける密度分布を計測することにある。
【0015】本発明によれば、γ線照射部は、ペンシル
ビーム状γ線を生成し被検査体に照射する。γ線検出器
は、被検査体を透過してくるペンシルビーム状γ線を計
測する。中性子検出器は、被検査体から(γ、n)反応
により発生する中性子を計測する。移動装置は、被検査
体をペンシルビーム状γ線の入射方向に対して並進移
動、回転移動及び上下移動させる。演算装置は、γ線検
出器からの計測データに基づき被検査体のγ線線吸収係
数分布を算出し、γ線線吸収係数分布と中性子検出器か
らの計測データとに基づき被検査体中の(γ、n)反応
を起こす物質の密度分布を算出する。表示装置は、γ線
線吸収係数分布と密度分布とを重ねて表示する。
ビーム状γ線を生成し被検査体に照射する。γ線検出器
は、被検査体を透過してくるペンシルビーム状γ線を計
測する。中性子検出器は、被検査体から(γ、n)反応
により発生する中性子を計測する。移動装置は、被検査
体をペンシルビーム状γ線の入射方向に対して並進移
動、回転移動及び上下移動させる。演算装置は、γ線検
出器からの計測データに基づき被検査体のγ線線吸収係
数分布を算出し、γ線線吸収係数分布と中性子検出器か
らの計測データとに基づき被検査体中の(γ、n)反応
を起こす物質の密度分布を算出する。表示装置は、γ線
線吸収係数分布と密度分布とを重ねて表示する。
【0016】これにより、放射性廃棄物中の(γ、n)
反応を起こす物質、例えば原子番号92以上の超ウラン
元素の密度分布を計測することができる。
反応を起こす物質、例えば原子番号92以上の超ウラン
元素の密度分布を計測することができる。
【0017】
【発明の実施の形態】以下、本発明の一実施例に係る放
射性廃棄物計測装置及び計測方法を、図を用いて説明す
る。以下の記述では、「γ線」という言葉を「X線」と
換えることができる。
射性廃棄物計測装置及び計測方法を、図を用いて説明す
る。以下の記述では、「γ線」という言葉を「X線」と
換えることができる。
【0018】まず、本発明の原理を、図と式を用いて説
明する。図4に、TRUを含む廃棄物の、ある断面の様
子を示す。この断面には廃棄物を構成する構造材とTR
Uがある。このような断面に、細くコリメートしたγ線
(以下、ペンシルビーム状γ線と称す)を入射させる。
入射したペンシルビーム状γ線の経路上にTRUが存在
すると(γ線1の場合)、γ線光子とTRUが核反応で
ある(γ、n)反応を起こし、中性子が発生する。入射
したペンシルビーム状γ線の経路上にTRUがなければ
(γ線2の場合)、中性子は発生しない。
明する。図4に、TRUを含む廃棄物の、ある断面の様
子を示す。この断面には廃棄物を構成する構造材とTR
Uがある。このような断面に、細くコリメートしたγ線
(以下、ペンシルビーム状γ線と称す)を入射させる。
入射したペンシルビーム状γ線の経路上にTRUが存在
すると(γ線1の場合)、γ線光子とTRUが核反応で
ある(γ、n)反応を起こし、中性子が発生する。入射
したペンシルビーム状γ線の経路上にTRUがなければ
(γ線2の場合)、中性子は発生しない。
【0019】したがって、中性子の発生の有無を、廃棄
物の外側に設置した中性子検出器で検出することによ
り、廃棄物中のどの線上にTRUが存在するかを知るこ
とができる。(γ、n)反応とは、原子核がγ線光子の
エネルギーを吸収し不安定化し、中性子を放出すること
で安定な状態になる核反応である。
物の外側に設置した中性子検出器で検出することによ
り、廃棄物中のどの線上にTRUが存在するかを知るこ
とができる。(γ、n)反応とは、原子核がγ線光子の
エネルギーを吸収し不安定化し、中性子を放出すること
で安定な状態になる核反応である。
【0020】図5は、(γ、n)反応が起こるγ線エネ
ルギーのしきい値を原子番号で整理した図を示す。この
反応では、物質毎に(γ、n)反応が起こるγ線光子の
最低エネルギーが決まっている。また(γ、n)反応の
反応断面積も物質毎に決まっている。
ルギーのしきい値を原子番号で整理した図を示す。この
反応では、物質毎に(γ、n)反応が起こるγ線光子の
最低エネルギーが決まっている。また(γ、n)反応の
反応断面積も物質毎に決まっている。
【0021】TRUの密度分布を計測するには、構造材
では(γ、n)反応が起こらないで、TRUでは(γ、
n)反応が起こるようなγ線エネルギーを選ぶ必要があ
る。図5から判かるように、γ線エネルギーとして5メ
ガエレクトロンボルト(MeV)以上7メガエレクトロ
ンボルト(MeV)以下のエネルギーを選択すれば良
い。
では(γ、n)反応が起こらないで、TRUでは(γ、
n)反応が起こるようなγ線エネルギーを選ぶ必要があ
る。図5から判かるように、γ線エネルギーとして5メ
ガエレクトロンボルト(MeV)以上7メガエレクトロ
ンボルト(MeV)以下のエネルギーを選択すれば良
い。
【0022】TRUの密度分布を決定するためには、ペ
ンシルビーム状γ線を、あらゆる方向、あらゆる位置か
ら廃棄物に入射させ、それぞれのペンシルビーム状γ線
に対して発生中性子量を測定することが必要である。こ
のような測定からどのようにTRUの密度分布を求める
かを、次に説明する。
ンシルビーム状γ線を、あらゆる方向、あらゆる位置か
ら廃棄物に入射させ、それぞれのペンシルビーム状γ線
に対して発生中性子量を測定することが必要である。こ
のような測定からどのようにTRUの密度分布を求める
かを、次に説明する。
【0023】図6に示すように、座標系を設定し、この
座標系での構造材のγ線線吸収係数分布をμ(x、y)
で、TRUの密度分布をσ(x、y)で表わす。ある点
(x1、y1)において発生する中性子の量N(x1、
y1:r、θ)は、その点におけるペンシルビーム状γ
線の強度Γ(x1、y1:r、θ)と、その点(x1、
y1)におけるTRU密度σ(x1、y1)の積に比例
する。
座標系での構造材のγ線線吸収係数分布をμ(x、y)
で、TRUの密度分布をσ(x、y)で表わす。ある点
(x1、y1)において発生する中性子の量N(x1、
y1:r、θ)は、その点におけるペンシルビーム状γ
線の強度Γ(x1、y1:r、θ)と、その点(x1、
y1)におけるTRU密度σ(x1、y1)の積に比例
する。
【0024】点(x1、y1)におけるペンシルビーム
状γ線の強度Γ(x1、y1:r、θ)は、ペンシルビ
ーム状γ線の入射方向と位置により(数1)式を用いて
計算できる。
状γ線の強度Γ(x1、y1:r、θ)は、ペンシルビ
ーム状γ線の入射方向と位置により(数1)式を用いて
計算できる。
【0025】
【数1】
【0026】ここで、ペンシルビーム状γ線の入射方向
と位置は、それぞれ図6に示したθとrであり、(数
1)式中のΓ0は入射ペンシルビーム状γ線の初期強度
である。したがって、点(x1、y1)において発生す
る中性子の量N(x1、y1:r、θ)は(式2)で表
わせる。
と位置は、それぞれ図6に示したθとrであり、(数
1)式中のΓ0は入射ペンシルビーム状γ線の初期強度
である。したがって、点(x1、y1)において発生す
る中性子の量N(x1、y1:r、θ)は(式2)で表
わせる。
【0027】ここで(数2)式中のCは比例定数であ
る。
る。
【0028】
【数2】
【0029】入射ペンシルビーム状γ線の経路に沿って
発生する中性子量N(r、θ)は、(数2)式をペンシ
ルビーム状γ線経路で線積分したもので(数3)式およ
び(数4)式で表わせる。
発生する中性子量N(r、θ)は、(数2)式をペンシ
ルビーム状γ線経路で線積分したもので(数3)式およ
び(数4)式で表わせる。
【0030】
【数3】
【0031】
【数4】
【0032】ここで(数4)式中のδ(・)は、Dir
acのデルタ関数である。(数3)式では、左辺のN
(r、θ)は測定値であり、右辺の積分中の関数K
(x、y:r、θ)は、構造材のγ線線吸収係数分布μ
(x、y)とペンシルビーム状γ線の入射方向と位置が
わかれば計算できる。したがって、(数3)式をσ
(x、y)について解くことができる。
acのデルタ関数である。(数3)式では、左辺のN
(r、θ)は測定値であり、右辺の積分中の関数K
(x、y:r、θ)は、構造材のγ線線吸収係数分布μ
(x、y)とペンシルビーム状γ線の入射方向と位置が
わかれば計算できる。したがって、(数3)式をσ
(x、y)について解くことができる。
【0033】実際に(数3)式を解く方法のひとつに、
代数的再構成法(Algebraic Reconst
ruction Techniques)と呼ばれる手
法がある。この代数的再構成法は、あらゆる方向あらゆ
る位置から入射したペンシルビーム状γ線による発生中
性子量を測定し、その測定量からTRU密度分布σ
(x、y)を求めるものである。
代数的再構成法(Algebraic Reconst
ruction Techniques)と呼ばれる手
法がある。この代数的再構成法は、あらゆる方向あらゆ
る位置から入射したペンシルビーム状γ線による発生中
性子量を測定し、その測定量からTRU密度分布σ
(x、y)を求めるものである。
【0034】ここで、あらゆる方向、あらゆる位置と
は、次の条件を満足することを言う。すなわち、θに関
しては0≦θ<2π、rに関しては―∞<r<∞であ
る。実際には検査体の大きさは有限であるので、検査体
を覆う半径Rの円を見い出すことができて、rの条件は
―R<r<Rとなる。
は、次の条件を満足することを言う。すなわち、θに関
しては0≦θ<2π、rに関しては―∞<r<∞であ
る。実際には検査体の大きさは有限であるので、検査体
を覆う半径Rの円を見い出すことができて、rの条件は
―R<r<Rとなる。
【0035】なお、(数3)式を解くには、構造材のγ
線線吸収係数分布μ(x、y)を知る必要がある。この
目的のためにはγ線CTを使う。γ線CTを使うと、ま
さに構造材のγ線線吸収係数分布μ(x、y)を知るこ
とができる。
線線吸収係数分布μ(x、y)を知る必要がある。この
目的のためにはγ線CTを使う。γ線CTを使うと、ま
さに構造材のγ線線吸収係数分布μ(x、y)を知るこ
とができる。
【0036】本発明を達成する実施例を、図を用いて説
明する。図1は、本発明を達成する第一の実施例に係る
放射性廃棄物計測装置の平面構成を示す。本実施例で示
す放射性廃棄物計測装置を、γ線CT/中性子計測装置
と呼ぶ。
明する。図1は、本発明を達成する第一の実施例に係る
放射性廃棄物計測装置の平面構成を示す。本実施例で示
す放射性廃棄物計測装置を、γ線CT/中性子計測装置
と呼ぶ。
【0037】図1に示すように、γ線CT/中性子計測
装置は、γ線源1とプリコリメータ2を有するγ線照射
部、ポストコリメータ3、γ線検出器4、γ線用信号処
理装置5、中性子検出器6、中性子減速材7、中性子用
信号処理装置8、スキャナー装置9、制御装置10、演
算装置11、表示装置12、記憶装置13、入力装置1
4、出力装置15から構成されている。
装置は、γ線源1とプリコリメータ2を有するγ線照射
部、ポストコリメータ3、γ線検出器4、γ線用信号処
理装置5、中性子検出器6、中性子減速材7、中性子用
信号処理装置8、スキャナー装置9、制御装置10、演
算装置11、表示装置12、記憶装置13、入力装置1
4、出力装置15から構成されている。
【0038】次に、図1に示した第一の実施例を構成す
る機器の働きを詳細に説明する。γ線照射部のγ線源1
は、γ線を発生する装置であり、本実施例では電子線形
加速器を使用し、発生するγ線のエネルギーは6メガエ
レクトロンボルト(MeV)とする。プリコリメータ2
は、γ線源1から発生したγ線をペンシルビーム状に整
形するものである。
る機器の働きを詳細に説明する。γ線照射部のγ線源1
は、γ線を発生する装置であり、本実施例では電子線形
加速器を使用し、発生するγ線のエネルギーは6メガエ
レクトロンボルト(MeV)とする。プリコリメータ2
は、γ線源1から発生したγ線をペンシルビーム状に整
形するものである。
【0039】ペンシルビーム状γ線とは、線源から発生
したγ線であって、線源から離れてもビームの幅が広が
らないようなものである。ペンシルビーム状γ線は、被
検査体16、例えば放射性廃棄物に入射し、被検査体1
6の内容物よる減衰を受けると共にTRUが存在すれば
(γ、n)反応を起こす。
したγ線であって、線源から離れてもビームの幅が広が
らないようなものである。ペンシルビーム状γ線は、被
検査体16、例えば放射性廃棄物に入射し、被検査体1
6の内容物よる減衰を受けると共にTRUが存在すれば
(γ、n)反応を起こす。
【0040】γ線検出器4は、被検査体16を透過して
きたペンシルビーム状γ線の強度を計測するものであ
る。なお、本実施例では、γ線検出器4には、被検査体
16による散乱γ線を除去するためにポストコリメータ
3が設けられている。
きたペンシルビーム状γ線の強度を計測するものであ
る。なお、本実施例では、γ線検出器4には、被検査体
16による散乱γ線を除去するためにポストコリメータ
3が設けられている。
【0041】γ線用信号処理装置5は、γ線検出器4で
計測したペンシルビーム状γ線強度をディジタル化し、
演算装置11に転送するものである。(γ、n)反応に
より発生する中性子は、等方的であり、そのエネルギー
は1ミリエレクトロンボルト(meV)から1メガエレ
クトロンボルト(MeV)の範囲である。
計測したペンシルビーム状γ線強度をディジタル化し、
演算装置11に転送するものである。(γ、n)反応に
より発生する中性子は、等方的であり、そのエネルギー
は1ミリエレクトロンボルト(meV)から1メガエレ
クトロンボルト(MeV)の範囲である。
【0042】中性子減速材7は、上記エネルギー範囲に
ある中性子エネルギーを1ミリエレクトロンボルト(m
eV)から1エレクトロンボルト(eV)の範囲にする
ものである。また中性子減速材7は、中性子検出器6の
周りを取り囲むように配置する。
ある中性子エネルギーを1ミリエレクトロンボルト(m
eV)から1エレクトロンボルト(eV)の範囲にする
ものである。また中性子減速材7は、中性子検出器6の
周りを取り囲むように配置する。
【0043】中性子検出器6は、中性子減速材7により
減速された中性子の強度を検出するものである。(γ、
n)反応により発生する中性子は等方的であるので、中
性子検出器6は被検査体16の周りを囲むように配置す
る。
減速された中性子の強度を検出するものである。(γ、
n)反応により発生する中性子は等方的であるので、中
性子検出器6は被検査体16の周りを囲むように配置す
る。
【0044】中性子用信号処理装置8は、中性子検出器
6で計測した中性子強度をディジタル化し、演算装置1
1に転送するものである。被検査体16中のTRU密度
分布を計測するためには、あらゆる方向、あらゆる位置
からペンシルビーム状γ線を被検査体16に入射する必
要があるので、移動装置9により被検査体16を並進移
動、回転移動、上下移動する(これらの移動に関しては
後述する)。
6で計測した中性子強度をディジタル化し、演算装置1
1に転送するものである。被検査体16中のTRU密度
分布を計測するためには、あらゆる方向、あらゆる位置
からペンシルビーム状γ線を被検査体16に入射する必
要があるので、移動装置9により被検査体16を並進移
動、回転移動、上下移動する(これらの移動に関しては
後述する)。
【0045】この移動制御をするものが制御装置10で
ある。特に制御装置10はペンシルビーム状γ線の入射
方向と位置を演算装置11に転送する。
ある。特に制御装置10はペンシルビーム状γ線の入射
方向と位置を演算装置11に転送する。
【0046】演算装置11の働きは、以下の通りであ
る。 (1).制御装置10からの入射ペンシルビーム状γ線の
方向と位置、γ線用信号処理装置5からの計測データ、
さらに中性子用信号処理装置8からの計測データを記憶
装置13に格納する。
る。 (1).制御装置10からの入射ペンシルビーム状γ線の
方向と位置、γ線用信号処理装置5からの計測データ、
さらに中性子用信号処理装置8からの計測データを記憶
装置13に格納する。
【0047】(2).ある方向と位置をもつ入射ペンシル
ビーム状γ線の経路状で発生した中性子量を、中性子用
信号処理装置8の計測データに基づき計算し、記憶装置
13に格納する。
ビーム状γ線の経路状で発生した中性子量を、中性子用
信号処理装置8の計測データに基づき計算し、記憶装置
13に格納する。
【0048】(3).γ線用信号処理装置5からの計測デ
ータに基づき、検査体16のγ線線吸収係数分布を計算
し、記憶装置13に格納する。
ータに基づき、検査体16のγ線線吸収係数分布を計算
し、記憶装置13に格納する。
【0049】(4).(2)と(3)の計算結果に基づき、T
RU密度分布を計算し、記憶装置13に格納する。
RU密度分布を計算し、記憶装置13に格納する。
【0050】(5).(3)の計算結果と(4)の計算結果に
基づき、表示用の画像を作成する。
基づき、表示用の画像を作成する。
【0051】表示装置12は、演算装置11により作成
された表示用画像を表示する装置である。出力装置15
は、表示装置12に表示されている画像を出力するため
の装置である。
された表示用画像を表示する装置である。出力装置15
は、表示装置12に表示されている画像を出力するため
の装置である。
【0052】TRU密度分布を計測するための被検査体
16の移動について、次に、詳細に説明する。移動は、
並進移動、回転移動および上下移動である。並進移動の
方向は図1では紙面内で上下方向でγ線源1とγ線検出
器4とを結ぶ線に垂直である。また、上下移動は紙面に
垂直な方向である。被検査体16の形を直径100m
m、高さ100mmの円柱とする。
16の移動について、次に、詳細に説明する。移動は、
並進移動、回転移動および上下移動である。並進移動の
方向は図1では紙面内で上下方向でγ線源1とγ線検出
器4とを結ぶ線に垂直である。また、上下移動は紙面に
垂直な方向である。被検査体16の形を直径100m
m、高さ100mmの円柱とする。
【0053】また、被検査体16の移動を説明するため
の座標系を図2のように設定する。図2の位置にある被
検査体16を初期位置とする。すなわち、並進位置ー5
5mm、回転位置0°、上下位置0mmである。
の座標系を図2のように設定する。図2の位置にある被
検査体16を初期位置とする。すなわち、並進位置ー5
5mm、回転位置0°、上下位置0mmである。
【0054】並進移動間隔(Δx)は1mm、回転移動
間隔(Δθ)は1°、上下移動間隔(Δz)は1mmと
する。これらの移動間隔は、TRU密度分布測定の精度
により決定されるが、ここでは上記数値で説明する。
間隔(Δθ)は1°、上下移動間隔(Δz)は1mmと
する。これらの移動間隔は、TRU密度分布測定の精度
により決定されるが、ここでは上記数値で説明する。
【0055】以上の条件の下で、被検査体16の移動フ
ローチャートを、図3に示す。始めに、ステップ101
で、被検査体16の初期位置が制御装置10に設定され
る。この設定は操作者が入力装置14を用いて実施す
る。その後γ線源1からγ線が照射され(102)、γ
線計測と中性子計測が実施される(103)。
ローチャートを、図3に示す。始めに、ステップ101
で、被検査体16の初期位置が制御装置10に設定され
る。この設定は操作者が入力装置14を用いて実施す
る。その後γ線源1からγ線が照射され(102)、γ
線計測と中性子計測が実施される(103)。
【0056】被検査体16は、γ線照射が終わると並進
移動をする(104)。この並進移動により検査体16
の並進位置は(並進初期位置―Δx*i)となる。すな
わち並進位置は―54mmである。この並進位置は55
mm以下であるので(105)、ステップ102に戻
る。
移動をする(104)。この並進移動により検査体16
の並進位置は(並進初期位置―Δx*i)となる。すな
わち並進位置は―54mmである。この並進位置は55
mm以下であるので(105)、ステップ102に戻
る。
【0057】ステップ105の判定でNOの判定となる
と、回転移動となる(106)。この回転により回転位
置は(回転初期位置+Δθ*j)になる。すなわち1°
である。この回転移動後、並進位置は並進初期位置に戻
る(107)。回転位置が360°より小さいか判定し
(108)、小さければステップ102に戻り、360
°以上であればステップ109に進む。
と、回転移動となる(106)。この回転により回転位
置は(回転初期位置+Δθ*j)になる。すなわち1°
である。この回転移動後、並進位置は並進初期位置に戻
る(107)。回転位置が360°より小さいか判定し
(108)、小さければステップ102に戻り、360
°以上であればステップ109に進む。
【0058】ステップ109では、被検査体16を上下
移動する。この上下移動で被検査体16の上下位置は
(上下初期位置+Δz*k)となる。すなわち1mmで
ある。上下移動後、回転位置は回転初期位置に戻る(1
10)。上下移動が実施される度に、検査体16のγ線
線吸収係数分布が演算装置11により計算される(11
1)。
移動する。この上下移動で被検査体16の上下位置は
(上下初期位置+Δz*k)となる。すなわち1mmで
ある。上下移動後、回転位置は回転初期位置に戻る(1
10)。上下移動が実施される度に、検査体16のγ線
線吸収係数分布が演算装置11により計算される(11
1)。
【0059】その後、TRU密度分布の計算が演算装置
11により実施される(112)。上下位置が、検査体
16の高さ100mmより大きいか判定し(113)、
小さければステップ102に戻り、大きければ検査は終
了となる。
11により実施される(112)。上下位置が、検査体
16の高さ100mmより大きいか判定し(113)、
小さければステップ102に戻り、大きければ検査は終
了となる。
【0060】上述した第一の実施例は、TRU密度分布
を計測するためのγ線CT/中性子計測装置であるが、
同じ構成でγ線のエネルギーを換えることで、(γ、
n)反応を起こす物質の密度分布を計測することができ
る。また、上述した第1の実施例(TRU密度分布を計
測するためのγ線CT/中性子計測装置)は、γ線CT
の機能と中性子計測の機能を合わせ持った装置である。
を計測するためのγ線CT/中性子計測装置であるが、
同じ構成でγ線のエネルギーを換えることで、(γ、
n)反応を起こす物質の密度分布を計測することができ
る。また、上述した第1の実施例(TRU密度分布を計
測するためのγ線CT/中性子計測装置)は、γ線CT
の機能と中性子計測の機能を合わせ持った装置である。
【0061】次に示す実施例は、γ線CT装置と中性子
計測装置をそれぞれ独立した装置としてもったものであ
る。
計測装置をそれぞれ独立した装置としてもったものであ
る。
【0062】図7は、本発明を達成する第二の実施例に
係る放射性廃棄物計測装置の平面構成を示す。本実施例
では、中性子計測装置とγ線計測装置が独立した装置と
して設置されている。図7に示すように、コンベア1
7、コンベア制御装置18、中性子計測装置19、γ線
CT装置20、演算装置11、表示装置12、記憶装置
13、入力装置14、出力装置15から構成されてい
る。
係る放射性廃棄物計測装置の平面構成を示す。本実施例
では、中性子計測装置とγ線計測装置が独立した装置と
して設置されている。図7に示すように、コンベア1
7、コンベア制御装置18、中性子計測装置19、γ線
CT装置20、演算装置11、表示装置12、記憶装置
13、入力装置14、出力装置15から構成されてい
る。
【0063】被検査体16はコンベア17上にあり、中
性子計測装置19からγ線CT装置20へと移動する。
コンベア17の制御はコンベア制御装置18が行い、こ
のコンベア制御装置18は演算装置11の指示により検
査体16の移動を制御する。
性子計測装置19からγ線CT装置20へと移動する。
コンベア17の制御はコンベア制御装置18が行い、こ
のコンベア制御装置18は演算装置11の指示により検
査体16の移動を制御する。
【0064】本実施例では、中性子計測装置19におい
て中性子発生が起こった断面についてγ線CT20を実
施する。これを実現するために、記憶装置13には中性
子発生が起こった検査体断面が記憶される。
て中性子発生が起こった断面についてγ線CT20を実
施する。これを実現するために、記憶装置13には中性
子発生が起こった検査体断面が記憶される。
【0065】中性子計測装置19の平面構成を、図8に
示す。図8に示すように、中性子計測装置19は、中性
子用γ線源21、プリコリメータ2、中性子検出器6、
中性子減速材7、移動装置9、中性子計測制御装置2
2、中性子用信号処理装置8から構成されている。
示す。図8に示すように、中性子計測装置19は、中性
子用γ線源21、プリコリメータ2、中性子検出器6、
中性子減速材7、移動装置9、中性子計測制御装置2
2、中性子用信号処理装置8から構成されている。
【0066】次に、中性子計測装置19を構成する機器
の働きを、詳細に説明する。中性子用γ線源21は、γ
線を発生する装置であり、この実施例では電子線形加速
器を使用し、発生するγ線のエネルギーは6メガエレク
トロンボルト(MeV)とする。
の働きを、詳細に説明する。中性子用γ線源21は、γ
線を発生する装置であり、この実施例では電子線形加速
器を使用し、発生するγ線のエネルギーは6メガエレク
トロンボルト(MeV)とする。
【0067】プリコリメータ2は、中性子用γ線源21
からから発生したγ線をペンシルビーム状に整形するも
のである。ペンシルビーム状γ線とは、線源から発生し
たγ線であって、線源から離れてもビームの幅が広がら
ないようなものである。
からから発生したγ線をペンシルビーム状に整形するも
のである。ペンシルビーム状γ線とは、線源から発生し
たγ線であって、線源から離れてもビームの幅が広がら
ないようなものである。
【0068】ペンシルビーム状γ線は、被検査体16に
入射し、TRUが存在すれば(γ、n)反応を起こす。
(γ、n)反応により発生する中性子は、等方的であ
り、そのエネルギーは1ミリエレクトロンボルト(me
V)から1メガエレクトロンボルト(MeV)の範囲で
ある。
入射し、TRUが存在すれば(γ、n)反応を起こす。
(γ、n)反応により発生する中性子は、等方的であ
り、そのエネルギーは1ミリエレクトロンボルト(me
V)から1メガエレクトロンボルト(MeV)の範囲で
ある。
【0069】中性子減速材7は、上記エネルギー範囲に
ある中性子エネルギーを1ミリエレクトロンボルト(m
eV)から1エレクトロンボルト(eV)の範囲にする
ものである。また中性子減速材7は、中性子検出器6の
周りを取り囲むように配置する。
ある中性子エネルギーを1ミリエレクトロンボルト(m
eV)から1エレクトロンボルト(eV)の範囲にする
ものである。また中性子減速材7は、中性子検出器6の
周りを取り囲むように配置する。
【0070】中性子検出器6は、中性子減速材7により
減速された中性子の強度を検出するものである。(γ、
n)反応により発生する中性子は等方的であるので、中
性子検出器6は検査体16の周りを囲むように配置す
る。
減速された中性子の強度を検出するものである。(γ、
n)反応により発生する中性子は等方的であるので、中
性子検出器6は検査体16の周りを囲むように配置す
る。
【0071】中性子用信号処理装置8は、中性子検出器
6で計測した中性子強度をディジタル化し、演算装置1
1に転送するものである。中性子発生があった場合に
は、中性子用信号処理装置8から演算装置11を介して
記憶装置13に中性子発生断面の位置が記憶される。
6で計測した中性子強度をディジタル化し、演算装置1
1に転送するものである。中性子発生があった場合に
は、中性子用信号処理装置8から演算装置11を介して
記憶装置13に中性子発生断面の位置が記憶される。
【0072】被検査体16中のTRU密度分布を計測す
るためには、あらゆる方向、あらゆる位置からペンシル
ビーム状γ線を被検査体16に入射する必要があるの
で、移動装置9により、被検査体16を並進移動、回転
移動、上下移動する(これらの移動に関しては後述す
る)。
るためには、あらゆる方向、あらゆる位置からペンシル
ビーム状γ線を被検査体16に入射する必要があるの
で、移動装置9により、被検査体16を並進移動、回転
移動、上下移動する(これらの移動に関しては後述す
る)。
【0073】この移動制御をするものが中性子計測制御
装置22である。特に中性子計測制御装置22はペンシ
ルビーム状γ線の入射方向と位置を演算装置11に転送
もする。
装置22である。特に中性子計測制御装置22はペンシ
ルビーム状γ線の入射方向と位置を演算装置11に転送
もする。
【0074】γ線CT装置20の平面構成を、図9に示
す。図9に示すように、γ線CT装置20は、CT用γ
線源23、プリコリメータ2、γ線検出器4、ポストコ
リメータ3、移動装置9、CT制御装置24、CT用信
号処理装置25から構成されている。
す。図9に示すように、γ線CT装置20は、CT用γ
線源23、プリコリメータ2、γ線検出器4、ポストコ
リメータ3、移動装置9、CT制御装置24、CT用信
号処理装置25から構成されている。
【0075】本実施例では、医療用第二世代方式と呼ば
れるスキャン方式を採用している。γ線CT装置による
γ線線吸収係数の測定は従来技術として確立しているの
でここでは詳細は説明しない。
れるスキャン方式を採用している。γ線CT装置による
γ線線吸収係数の測定は従来技術として確立しているの
でここでは詳細は説明しない。
【0076】演算装置11の働きは、以下の通りであ
る。 (1).中性子計測制御装置22からの入射ペンシルビー
ム状γ線の方向と位置、中性子用信号処理装置8からの
計測データを記憶装置13に格納する。中性子発生があ
った場合には、被検査体16の上下位置を記憶装置13
に格納する。
る。 (1).中性子計測制御装置22からの入射ペンシルビー
ム状γ線の方向と位置、中性子用信号処理装置8からの
計測データを記憶装置13に格納する。中性子発生があ
った場合には、被検査体16の上下位置を記憶装置13
に格納する。
【0077】(2).ある方向と位置をもつ入射ペンシル
ビーム状γ線の経路状で発生した中性子量を、中性子用
信号処理装置8の計測データに基づき計算し、記憶装置
13に格納する。
ビーム状γ線の経路状で発生した中性子量を、中性子用
信号処理装置8の計測データに基づき計算し、記憶装置
13に格納する。
【0078】(3).被検査体16を、中性子計測装置1
9からγ線CT装置20に移動する旨、コンベア制御装
置18に指示する。 (4).中性子発生のあった検査体断面の位置をγ線CT
装置20に指示する。
9からγ線CT装置20に移動する旨、コンベア制御装
置18に指示する。 (4).中性子発生のあった検査体断面の位置をγ線CT
装置20に指示する。
【0079】(5).CT制御装置24からの入射γ線の
方向と位置、CT用信号処理装置25からの計測データ
を記憶装置13に格納する。 (6).CT用信号処理装置25からの計測データに基づ
き、被検査体16のγ線線吸収係数分布を計算し、記憶
装置13に格納する。
方向と位置、CT用信号処理装置25からの計測データ
を記憶装置13に格納する。 (6).CT用信号処理装置25からの計測データに基づ
き、被検査体16のγ線線吸収係数分布を計算し、記憶
装置13に格納する。
【0080】(7).(2)と(6)の計算結果に基づき、T
RU密度分布を計算し、記憶装置13に格納する。 (8).(6)の計算結果と(7)の計算結果に基づき、表示
用の画像の作成。
RU密度分布を計算し、記憶装置13に格納する。 (8).(6)の計算結果と(7)の計算結果に基づき、表示
用の画像の作成。
【0081】表示装置12は、演算装置11により作成
された表示用画像を表示する装置である。出力装置15
は、表示装置12に表示されている画像を出力するため
の装置である。
された表示用画像を表示する装置である。出力装置15
は、表示装置12に表示されている画像を出力するため
の装置である。
【0082】本発明を達成する第二の実施例における被
検査体16の移動について、次に、詳細に説明する。
検査体16の移動について、次に、詳細に説明する。
【0083】被検査体16の移動は、コンベア17によ
る中性子計測装置19への移動、中性子計測装置19か
らγ線CT装置20への移動、γ線CT装置20からの
搬出の他に、中性子計測装置19での計測にかかる移動
とγ線CT装置20での計測にかかる移動がある。
る中性子計測装置19への移動、中性子計測装置19か
らγ線CT装置20への移動、γ線CT装置20からの
搬出の他に、中性子計測装置19での計測にかかる移動
とγ線CT装置20での計測にかかる移動がある。
【0084】コンベア17による移動は、非常に単純
で、中性子計測装置19での計測が終了すると被検査体
16をγ線CT装置20に送出すものである。また、γ
線CT装置20による被検査体16の移動は従来技術と
して確立しているのでここでは述べない。
で、中性子計測装置19での計測が終了すると被検査体
16をγ線CT装置20に送出すものである。また、γ
線CT装置20による被検査体16の移動は従来技術と
して確立しているのでここでは述べない。
【0085】中性子計測装置19での計測にかかる被検
査体16の移動は、並進移動、回転移動と上下移動であ
る。並進移動の方向は図8では紙面内で上下方向で中性
子用γ線源21から放射されるペンシルビームγ線に垂
直である。また上下移動は紙面に垂直な方向である。
査体16の移動は、並進移動、回転移動と上下移動であ
る。並進移動の方向は図8では紙面内で上下方向で中性
子用γ線源21から放射されるペンシルビームγ線に垂
直である。また上下移動は紙面に垂直な方向である。
【0086】被検査体16の形を直径100mm、高さ
100mmの円柱とする。また、被検査体16の移動を
説明するための座標系を図10のように設定する。図1
0の位置にある被検査体16を初期位置とする。
100mmの円柱とする。また、被検査体16の移動を
説明するための座標系を図10のように設定する。図1
0の位置にある被検査体16を初期位置とする。
【0087】すなわち、並進位置ー55mm、回転位置
0°、上下位置0mmである。並進移動間隔(Δx)は
1mm、回転移動間隔(Δθ)は1°、上下移動間隔
(Δz)は1mmとする。これらの移動間隔は、TRU
密度分布測定の精度により決定されるが、ここでは上記
数値で説明する。
0°、上下位置0mmである。並進移動間隔(Δx)は
1mm、回転移動間隔(Δθ)は1°、上下移動間隔
(Δz)は1mmとする。これらの移動間隔は、TRU
密度分布測定の精度により決定されるが、ここでは上記
数値で説明する。
【0088】以上の条件の下で、被検査体16の移動フ
ローチャートを、図11に示す。始めに、ステップ20
1で、被検査体16の初期位置が中性子計測制御装置2
2に設定される。この設定は操作者が入力装置14を用
いて実施する。その後中性子用γ線源21からγ線が照
射され(202)、中性子計測が実施される(20
3)。
ローチャートを、図11に示す。始めに、ステップ20
1で、被検査体16の初期位置が中性子計測制御装置2
2に設定される。この設定は操作者が入力装置14を用
いて実施する。その後中性子用γ線源21からγ線が照
射され(202)、中性子計測が実施される(20
3)。
【0089】被検査体16は、γ線照射が終わると並進
移動をする(204)。この並進移動により被検査体1
6の並進位置は(並進初期位置―Δx*i)となる。す
なわち並進位置は―54mmである。この並進位置は5
5mm以下であるので(205)、ステップ202に戻
る。
移動をする(204)。この並進移動により被検査体1
6の並進位置は(並進初期位置―Δx*i)となる。す
なわち並進位置は―54mmである。この並進位置は5
5mm以下であるので(205)、ステップ202に戻
る。
【0090】ステップ205の判定でNOの判定となる
と、回転移動となる(206)。この回転により回転位
置は(回転初期位置+Δθ*j)になる。すなわち1°
である。この回転移動後、並進位置は並進初期位置に戻
る(207)。回転位置が360°より小さいか判定し
(208)、小さければステップ202に戻り、360
°以上であればステップ209に進む。
と、回転移動となる(206)。この回転により回転位
置は(回転初期位置+Δθ*j)になる。すなわち1°
である。この回転移動後、並進位置は並進初期位置に戻
る(207)。回転位置が360°より小さいか判定し
(208)、小さければステップ202に戻り、360
°以上であればステップ209に進む。
【0091】ステップ209では、被検査体16を上下
移動する。この上下移動で被検査体16の上下位置は
(上下初期位置+Δz*k)となる。すなわち1mmで
ある。上下移動後、回転位置は回転初期位置に戻る(2
10)。上下移動が実施される度に、上下位置が、被検
査体16の高さ100mmより大きいか判定し(21
1)、小さければステップ202に戻り、大きければ検
査は終了となる。
移動する。この上下移動で被検査体16の上下位置は
(上下初期位置+Δz*k)となる。すなわち1mmで
ある。上下移動後、回転位置は回転初期位置に戻る(2
10)。上下移動が実施される度に、上下位置が、被検
査体16の高さ100mmより大きいか判定し(21
1)、小さければステップ202に戻り、大きければ検
査は終了となる。
【0092】
【発明の効果】本発明によれば、放射性廃棄物中にある
TRUの密度分布を計測することができるので、廃棄物
の処理及び処分管理を合理的に行うことができる。
TRUの密度分布を計測することができるので、廃棄物
の処理及び処分管理を合理的に行うことができる。
【図1】本発明を達成する第一の実施例に係る放射性廃
棄物計測装置の平面構成図である
棄物計測装置の平面構成図である
【図2】第一の実施例における被検査体の移動を説明す
るのに用いる座標系を示した図である。
るのに用いる座標系を示した図である。
【図3】第一の実施例における被検査体の移動のフロー
チャートを示す図である。
チャートを示す図である。
【図4】TRUの存在とペンシルビーム状γ線による中
性子発生の様子を模式的に表わした図である。
性子発生の様子を模式的に表わした図である。
【図5】(γ、n)反応が起こるγ線エネルギーのしき
い値を原始番号で整理した図である。
い値を原始番号で整理した図である。
【図6】TRU密度分布計測を説明するための座標系を
示した図である。
示した図である。
【図7】本発明を達成する第二の実施例に係る放射性廃
棄物計測装置の平面構成図である。
棄物計測装置の平面構成図である。
【図8】図7の中性子計測装置の平面構成図である。
【図9】図7のγ線CT装置の平面構成図である。
【図10】第二の実施例における被検査体の移動を説明
するのに用いる座標系を示した図である。
するのに用いる座標系を示した図である。
【図11】第二の実施例における検査体の移動のフロー
チャートを示す図である。
チャートを示す図である。
1…γ線源、2…プリコリメータ、3…ポストコリメー
タ、4…γ線検出器、5…γ線用信号処理装置、6…中
性子検出器、7…中性子減速材、8…中性子用信号処理
装置、9…移動装置、10…制御装置、11…演算装
置、12…表示装置、13…記憶装置、14…入力装
置、15…出力装置、16…被検査体、17…コンベ
ア、18…コンベア制御装置、19…中性子計測装置、
20…γ線CT装置、21…中性子用γ線源、22…中
性子計測制御装置、23…CT用γ線源、24…CT制
御装置、25…CT用信号処理装置
タ、4…γ線検出器、5…γ線用信号処理装置、6…中
性子検出器、7…中性子減速材、8…中性子用信号処理
装置、9…移動装置、10…制御装置、11…演算装
置、12…表示装置、13…記憶装置、14…入力装
置、15…出力装置、16…被検査体、17…コンベ
ア、18…コンベア制御装置、19…中性子計測装置、
20…γ線CT装置、21…中性子用γ線源、22…中
性子計測制御装置、23…CT用γ線源、24…CT制
御装置、25…CT用信号処理装置
Claims (9)
- 【請求項1】放射性廃棄物中に含まれ(γ、n)反応を
起す物質を計測する放射性廃棄物計測装置において、 ペンシルビーム状γ線を用いて、前記(γ、n)反応を
起す物質の前記放射性廃棄物中における密度分布を計測
するように構成されていることを特徴とする放射性廃棄
物計測装置。 - 【請求項2】放射性廃棄物中に含まれ(γ、n)反応を
起す物質を計測する放射性廃棄物計測装置において、 ペンシルビーム状γ線を用いて、前記(γ、n)反応を
起しかつ原子番号92以上の物質の前記放射性廃棄物中
における密度分布を計測するように構成されていること
を特徴とする放射性廃棄物計測装置。 - 【請求項3】放射性廃棄物等の被検査体中に含まれ
(γ、n)反応を起す物質を計測する放射性廃棄物計測
装置において、 ペンシルビーム状γ線を生成し前記被検査体に照射する
γ線照射部と、前記被検査体を透過してくる前記ペンシ
ルビーム状γ線を計測するγ線検出器と、前記被検査体
から前記(γ、n)反応により発生する中性子を計測す
る中性子検出器と、前記被検査体を前記ペンシルビーム
状γ線の入射方向に対して並進移動、回転移動及び上下
移動させる移動装置と、前記γ線検出器からの計測デー
タに基づき前記被検査体のγ線線吸収係数分布を算出
し、前記γ線線吸収係数分布と前記中性子検出器からの
計測データとに基づき前記被検査体中の前記(γ、n)
反応を起こす物質の密度分布を算出する演算装置と、前
記γ線線吸収係数分布と前記密度分布とを重ねて表示す
る表示装置とを有することを特徴とする放射性廃棄物計
測装置。 - 【請求項4】放射性廃棄物等の被検査体中に含まれ
(γ、n)反応を起す物質を計測する放射性廃棄物計測
装置において、 ペンシルビーム状γ線を前記被検査体に照射することに
よって起る前記(γ、n)反応により前記被検査体から
発生する中性子を計測する中性子計測装置と、前記被検
査体を透過してくる前記ペンシルビーム状γ線を計測
し、該計測した計測データに基づき前記被検査体のγ線
線吸収係数分布を算出するγ線CT装置と、前記γ線線
吸収係数分布と前記中性子計測装置からの計測データに
基づき前記被検査体中の前記(γ、n)反応を起こす物
質の密度分布を求める演算装置と、前記γ線線吸収係数
分布と前記密度分布を重ねて表示する表示装置とを有す
ることを特徴とする放射性廃棄物計測装置。 - 【請求項5】請求項3または請求項4において、前記
(γ、n)反応を起す物質は、原子番号92以上の物質
であることを特徴とする放射性廃棄物計測装置。 - 【請求項6】放射性廃棄物中に含まれ(γ、n)反応を
起す物質を計測する放射性廃棄物計測方法において、 ペンシルビーム状γ線を用いて、前記(γ、n)反応を
起す物質の前記放射性廃棄物中における密度分布を計測
することを特徴とする放射性廃棄物計測方法。 - 【請求項7】放射性廃棄物中に含まれ(γ、n)反応を
起こす物質を計測する放射性廃棄物計測方法において、 ペンシルビーム状γ線を用いて、前記(γ、n)反応を
起こしかつ原子番号92以上の物質の前記放射性廃棄物
中における密度分布を計測することを特徴とする放射性
廃棄物計測方法。 - 【請求項8】被検査体中に含まれ(γ、n)反応を起こ
す物質を計測する放射性物質計測装置において、 ペンシルビーム状γ線を用いて、前記(γ、n)反応を
起こす物質の前記被検査体中における密度分布を計測す
るように構成されていることを特徴とする放射性物質計
測装置。 - 【請求項9】被検査体中に含まれ(γ、n)反応を起こ
す物質を計測する放射性物質計測方法において、 ペンシルビーム状γ線を用いて、前記(γ、n)反応を
起こす物質の前記被検査体中における密度分布を計測す
ることを特徴とする放射性物質計測方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP7416097A JPH10268055A (ja) | 1997-03-26 | 1997-03-26 | 放射性廃棄物計測装置及び計測方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP7416097A JPH10268055A (ja) | 1997-03-26 | 1997-03-26 | 放射性廃棄物計測装置及び計測方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH10268055A true JPH10268055A (ja) | 1998-10-09 |
Family
ID=13539135
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP7416097A Pending JPH10268055A (ja) | 1997-03-26 | 1997-03-26 | 放射性廃棄物計測装置及び計測方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH10268055A (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2004195235A (ja) * | 2002-12-19 | 2004-07-15 | Ge Medical Systems Global Technology Co Llc | Ct検出器用の鋳造コリメータ及びその製作方法 |
JP2007218663A (ja) * | 2006-02-15 | 2007-08-30 | Japan Atomic Energy Agency | 放射性廃棄物中の核***性物質の存在位置を探査する装置及び方法 |
JP2015197433A (ja) * | 2014-04-01 | 2015-11-09 | ロス アラモス ナショナル セキュリティ,エルエルシー | 原子炉内部の非侵襲的原位置イメージング |
-
1997
- 1997-03-26 JP JP7416097A patent/JPH10268055A/ja active Pending
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
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US7609804B2 (en) | 2002-12-19 | 2009-10-27 | General Electric Company | Cast collimators for CT detectors and methods of making same |
US7769127B2 (en) | 2002-12-19 | 2010-08-03 | General Electric Company | Pre-subject filters for CT detectors and methods of making same |
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US10614922B2 (en) | 2014-04-01 | 2020-04-07 | Decision Sciences International Corporation | Non-invasive in-situ imaging of interior of nuclear reactors |
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