JPH0962587A - 消去した測定データの復元機能つき測定装置 - Google Patents
消去した測定データの復元機能つき測定装置Info
- Publication number
- JPH0962587A JPH0962587A JP7245385A JP24538595A JPH0962587A JP H0962587 A JPH0962587 A JP H0962587A JP 7245385 A JP7245385 A JP 7245385A JP 24538595 A JP24538595 A JP 24538595A JP H0962587 A JPH0962587 A JP H0962587A
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- Japan
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- ram
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- measured data
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-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01D—MEASURING NOT SPECIALLY ADAPTED FOR A SPECIFIC VARIABLE; ARRANGEMENTS FOR MEASURING TWO OR MORE VARIABLES NOT COVERED IN A SINGLE OTHER SUBCLASS; TARIFF METERING APPARATUS; MEASURING OR TESTING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G01D9/00—Recording measured values
- G01D9/005—Solid-state data loggers
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- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Spectrometry And Color Measurement (AREA)
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
- Techniques For Improving Reliability Of Storages (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 測定データや測定条件などを記憶するエリア
を2つ設け、1つには現在の状態を、もう1つには1回
前の状態を記憶しておくことにより、キー操作ミス等に
よりデータや測定条件を喪失しても、簡単な手順により
誤操作前の状態に復元することを可能とする。 【解決手段】 現在の測定データ/測定条件記憶用とし
てRAM8は最新の測定データおよび測定条件を保存す
る。また、1回前の測定データ/測定条件記憶用として
RAM9は1回前に測定したデータおよび測定条件を保
存する。操作ミス等により現在の測定データや測定条件
を喪失した場合は、RAM8とRAM9の内容を入れ替
えることにより誤操作前の状態を復元することができ
る。
を2つ設け、1つには現在の状態を、もう1つには1回
前の状態を記憶しておくことにより、キー操作ミス等に
よりデータや測定条件を喪失しても、簡単な手順により
誤操作前の状態に復元することを可能とする。 【解決手段】 現在の測定データ/測定条件記憶用とし
てRAM8は最新の測定データおよび測定条件を保存す
る。また、1回前の測定データ/測定条件記憶用として
RAM9は1回前に測定したデータおよび測定条件を保
存する。操作ミス等により現在の測定データや測定条件
を喪失した場合は、RAM8とRAM9の内容を入れ替
えることにより誤操作前の状態を復元することができ
る。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】この発明は、消去した測定デ
ータを復元する機能をもつ測定装置についてのものであ
る。
ータを復元する機能をもつ測定装置についてのものであ
る。
【0002】
【従来の技術】光の測定装置は、測定条件とともに測定
波形を測定データとして記憶する場合が多い。このよう
な光測定装置には、例えば、光スペクトル測定装置があ
る。図8は従来技術による光スペクトル測定装置の構成
図である。
波形を測定データとして記憶する場合が多い。このよう
な光測定装置には、例えば、光スペクトル測定装置があ
る。図8は従来技術による光スペクトル測定装置の構成
図である。
【0003】図8の1は光源、1Aは光ファイバ、2は
測定部、3はCPU、4は入力手段、5は補助メモリ、
6は外部記憶装置、7は表示部、8は記憶手段となるR
AM(ランダム・アクセス・メモリ)である。
測定部、3はCPU、4は入力手段、5は補助メモリ、
6は外部記憶装置、7は表示部、8は記憶手段となるR
AM(ランダム・アクセス・メモリ)である。
【0004】図8で、光源1の光は光ファイバ1Aを通
過し、測定部2で測定され、得られた波長特性を測定デ
ータとして測定条件とともにRAM8に格納する。RA
M8の測定データは表示部7に波形として表示する。C
PU3は、測定部2に光源1の測定を指令するととも
に、得られた結果およびそのときの測定条件をRAM8
に格納し、表示部7に表示させる。
過し、測定部2で測定され、得られた波長特性を測定デ
ータとして測定条件とともにRAM8に格納する。RA
M8の測定データは表示部7に波形として表示する。C
PU3は、測定部2に光源1の測定を指令するととも
に、得られた結果およびそのときの測定条件をRAM8
に格納し、表示部7に表示させる。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】図8において、測定装
置を使用中にキー操作ミス等により測定済みのデータを
消してしまったり、測定条件を変えてしまった場合に操
作前の状態に戻す方法を説明する。測定終了後、作業者
がキーボード4を操作して測定データを外部記憶装置6
に書き込もうとして、誤って、データ消去機能を実行し
てしまった場合、あるいは、測定条件を変更してしまっ
た場合には、いずれも、RAM8内のデータや測定条件
が直接消去または変更され、誤操作前のデータや測定条
件は消えてしまう。このため、測定データや測定条件を
誤操作前の状態に戻すためには、誤操作をする前に意識
的にデータおよび測定条件を補助メモリ5や外部記憶装
置6(フロッピディスク装置)に保存しておいて、誤操
作をした際には、保存しておいたデータを読み出す等の
手段をとらない限り誤操作前の状態に戻すことは困難で
あった。
置を使用中にキー操作ミス等により測定済みのデータを
消してしまったり、測定条件を変えてしまった場合に操
作前の状態に戻す方法を説明する。測定終了後、作業者
がキーボード4を操作して測定データを外部記憶装置6
に書き込もうとして、誤って、データ消去機能を実行し
てしまった場合、あるいは、測定条件を変更してしまっ
た場合には、いずれも、RAM8内のデータや測定条件
が直接消去または変更され、誤操作前のデータや測定条
件は消えてしまう。このため、測定データや測定条件を
誤操作前の状態に戻すためには、誤操作をする前に意識
的にデータおよび測定条件を補助メモリ5や外部記憶装
置6(フロッピディスク装置)に保存しておいて、誤操
作をした際には、保存しておいたデータを読み出す等の
手段をとらない限り誤操作前の状態に戻すことは困難で
あった。
【0006】従来技術では、測定データや測定条件など
を格納するメモリを1つしか持たないために、キー操作
ミス等により測定データや測定条件を喪失した場合に誤
操作前の状態に戻すことが困難であった。
を格納するメモリを1つしか持たないために、キー操作
ミス等により測定データや測定条件を喪失した場合に誤
操作前の状態に戻すことが困難であった。
【0007】この発明は、測定データや測定条件などを
格納するメモリを2つ設け、第1のメモリには現在の状
態を、第2のメモリには1回前の状態を格納しておくこ
とにより、キー操作ミス等によりデータや測定条件を喪
失しても、簡単な手順により誤操作前の状態を復元する
測定装置の提供を目的とする。
格納するメモリを2つ設け、第1のメモリには現在の状
態を、第2のメモリには1回前の状態を格納しておくこ
とにより、キー操作ミス等によりデータや測定条件を喪
失しても、簡単な手順により誤操作前の状態を復元する
測定装置の提供を目的とする。
【0008】
【課題を解決するための手段】この目的を達成するた
め、この発明は、少なくとも、第1の記憶手段と第2の
記憶手段をもつ測定装置であって、 第1の測定による
第1の測定データを前記第1の記憶手段に格納して、前
記第1の測定データを表示し、第2の測定により第2の
測定データを前記第1の記憶手段に格納すると、前記第
1の測定データは前記第2の記憶手段に移動し、前記第
1の測定データを読込むときは、前記第1の測定データ
は前記第2の記憶手段から前記第1の記憶手段に移動す
る。
め、この発明は、少なくとも、第1の記憶手段と第2の
記憶手段をもつ測定装置であって、 第1の測定による
第1の測定データを前記第1の記憶手段に格納して、前
記第1の測定データを表示し、第2の測定により第2の
測定データを前記第1の記憶手段に格納すると、前記第
1の測定データは前記第2の記憶手段に移動し、前記第
1の測定データを読込むときは、前記第1の測定データ
は前記第2の記憶手段から前記第1の記憶手段に移動す
る。
【0009】
【発明の実施の形態】次に、この発明による測定装置の
構成を図1により説明する。図1の9はRAMであり、
その他は図8と同じものである。すなわち図1は図8に
RAM9を追加したものである。図1では、第1の記憶
手段となるRAM8は直近の測定データおよび測定条件
を格納する。第2の記憶手段となるRAM9は1回前に
測定したデータおよび測定条件を格納する。
構成を図1により説明する。図1の9はRAMであり、
その他は図8と同じものである。すなわち図1は図8に
RAM9を追加したものである。図1では、第1の記憶
手段となるRAM8は直近の測定データおよび測定条件
を格納する。第2の記憶手段となるRAM9は1回前に
測定したデータおよび測定条件を格納する。
【0010】次に、この発明による測定装置の復元機能
の手順を実施画面を援用しながら、説明する。図2は、
図1の光スペクトル測定装置によりデータの測定を終了
した時点での表示画面である。図3は、図1の光スペク
トル測定装置により測定したデータを消去した時点での
表示画面である。図4は、図1の光スペクトル測定装置
により測定したデータを消去したものを元の状態に復元
した時点での表示画面である。図2から図4の表示部7
の下部画面には、キーボード4の機能が表示され、装置
の状態によりスイッチの機能を変更することができる。
の手順を実施画面を援用しながら、説明する。図2は、
図1の光スペクトル測定装置によりデータの測定を終了
した時点での表示画面である。図3は、図1の光スペク
トル測定装置により測定したデータを消去した時点での
表示画面である。図4は、図1の光スペクトル測定装置
により測定したデータを消去したものを元の状態に復元
した時点での表示画面である。図2から図4の表示部7
の下部画面には、キーボード4の機能が表示され、装置
の状態によりスイッチの機能を変更することができる。
【0011】図2の状態は、光源1の波長特性を測定し
た直後である。表示部7には測定したデータが波形とし
て表示され、下部にはキーボード4のSW1の機能とし
て「消去」が表示されている。RAM8には表示中の波
形データが格納され、RAM9には何も格納されていな
い。
た直後である。表示部7には測定したデータが波形とし
て表示され、下部にはキーボード4のSW1の機能とし
て「消去」が表示されている。RAM8には表示中の波
形データが格納され、RAM9には何も格納されていな
い。
【0012】以上の手順を図5のフローチャートにより
説明する。図5のステップ101では、光源1の波長特
性を測定部2で測定する。ステップ102では、測定デ
ータ(以下、測定条件も測定データとする。)をRAM
8に格納する。ステップ103では、RAM8に格納さ
れる測定データを表示部7に表示する。
説明する。図5のステップ101では、光源1の波長特
性を測定部2で測定する。ステップ102では、測定デ
ータ(以下、測定条件も測定データとする。)をRAM
8に格納する。ステップ103では、RAM8に格納さ
れる測定データを表示部7に表示する。
【0013】図3は、キーボード4のSW1を押してデ
ータを消去した直後の状態である。表示部7にはデータ
(波形)が表示されず、表示部7の画面下部にはキーボ
ード4のSW1の機能として「消去」が表示され、SW
5の機能として「復元」が表示されている。図3の状態
では、RAM8に格納されていた波形データはRAM9
に複写され、RAM8の内容は消去される。
ータを消去した直後の状態である。表示部7にはデータ
(波形)が表示されず、表示部7の画面下部にはキーボ
ード4のSW1の機能として「消去」が表示され、SW
5の機能として「復元」が表示されている。図3の状態
では、RAM8に格納されていた波形データはRAM9
に複写され、RAM8の内容は消去される。
【0014】以上の手順を図6のフローチャートにより
説明する。図6のステップ201では、キーボード4の
「消去」スイッチ(SW1)を押下する。ステップ20
2ではRAM8の格納データはRAM9に複写される。
ステップ203では、RAM8の格納データは消去され
る。ステップ204では、RAM8の格納データを表示
部7に表示する。ステップ205では、表示部7の下部
画面に「復元」を表示する。ステップ206では、表示
部7の表示波形が消去する。
説明する。図6のステップ201では、キーボード4の
「消去」スイッチ(SW1)を押下する。ステップ20
2ではRAM8の格納データはRAM9に複写される。
ステップ203では、RAM8の格納データは消去され
る。ステップ204では、RAM8の格納データを表示
部7に表示する。ステップ205では、表示部7の下部
画面に「復元」を表示する。ステップ206では、表示
部7の表示波形が消去する。
【0015】図4は、キーボード4のSW5を押して測
定データを復元した直後の状態である。表示部7には、
図2で表示されていた測定波形が表示されており、画面
下部にはキーボード4のSW1の機能として「消去」が
表示され、SW5の機能として「復元」が表示されてい
る。RAM8に格納されていた内容とRAM9に格納さ
れていた内容が入れ替わり、RAM8には波形データが
格納され、RAM9にはなにも格納されていない。
定データを復元した直後の状態である。表示部7には、
図2で表示されていた測定波形が表示されており、画面
下部にはキーボード4のSW1の機能として「消去」が
表示され、SW5の機能として「復元」が表示されてい
る。RAM8に格納されていた内容とRAM9に格納さ
れていた内容が入れ替わり、RAM8には波形データが
格納され、RAM9にはなにも格納されていない。
【0016】以上の手順を図7のフローチャートにより
説明する。図7のステップ301では、キーボード4の
「復元」スイッチ(SW5)を押下する。ステップ30
2では、RAM8の格納データとRAM9の格納データ
が入れ替わる。ステップ303では、RAM8の格納デ
ータを表示部7に表示する。ステップ304では、表示
部7にデータ消去前の波形を表示する。
説明する。図7のステップ301では、キーボード4の
「復元」スイッチ(SW5)を押下する。ステップ30
2では、RAM8の格納データとRAM9の格納データ
が入れ替わる。ステップ303では、RAM8の格納デ
ータを表示部7に表示する。ステップ304では、表示
部7にデータ消去前の波形を表示する。
【0017】図4の状態で再び、キーボード4のSW5
(復元)を押した場合には、図3の状態となる。すなわ
ち、RAM8に格納されていた内容とRAM9に格納さ
れていた内容が入れ替わり、結果として表示部7の波形
が消える。この明細書では、測定装置として、光スペク
トル測定装置を実施例に説明したが、測定波形を表示す
る他の測定装置でもよい。
(復元)を押した場合には、図3の状態となる。すなわ
ち、RAM8に格納されていた内容とRAM9に格納さ
れていた内容が入れ替わり、結果として表示部7の波形
が消える。この明細書では、測定装置として、光スペク
トル測定装置を実施例に説明したが、測定波形を表示す
る他の測定装置でもよい。
【0018】
【発明の効果】この発明は、直近の測定データを格納す
る第1の記憶手段と、前回の測定データを格納す第2の
記憶手段を備え、入力手段により前回の測定データが復
元できるので、人為的な操作誤りや、注意力を喚起する
ことなく、少なくとも前回の測定条件を含む測定データ
を復元し、画面に表示できる。
る第1の記憶手段と、前回の測定データを格納す第2の
記憶手段を備え、入力手段により前回の測定データが復
元できるので、人為的な操作誤りや、注意力を喚起する
ことなく、少なくとも前回の測定条件を含む測定データ
を復元し、画面に表示できる。
【図1】この発明による測定装置の構成図である。
【図2】データの測定を終了した時点での表示画面の図
である。
である。
【図3】測定したデータを消去した時点での表示画面の
図である。
図である。
【図4】データを消去したものを元の状態に復元した時
点での表示画面の図である。
点での表示画面の図である。
【図5】図2の状態に到る手順を示すフローチャートで
ある。
ある。
【図6】図3の状態に到る手順を示すフローチャートで
ある。
ある。
【図7】図4の状態に到る手順を示すフローチャートで
ある。
ある。
【図8】従来技術による測定装置の構成図である。
1 光源 1A 光ファイバ 2 測定部 3 CPU 4 入力手段(キーボード) 5 補助メモリ 6 外部記憶装置 7 表示部 8 第1の記憶手段(RAM) 9 第2の記憶手段(RAM)
Claims (1)
- 【請求項1】 少なくとも、第1の記憶手段と第2の記
憶手段をもつ測定装置であって、 第1の測定による第1の測定データを前記第1の記憶手
段に格納して、前記第1の測定データを表示し、 第2の測定により第2の測定データを前記第1の記憶手
段に格納すると、前記第1の測定データは前記第2の記
憶手段に移動し、 前記第1の測定データを読込むときは、前記第1の測定
データは前記第2の記憶手段から前記第1の記憶手段に
移動することを特徴とする消去した測定データの復元機
能つき測定装置。
Priority Applications (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP7245385A JPH0962587A (ja) | 1995-08-30 | 1995-08-30 | 消去した測定データの復元機能つき測定装置 |
DE19634337A DE19634337A1 (de) | 1995-08-30 | 1996-08-24 | Meßinstrument |
US08/704,076 US5740063A (en) | 1995-08-30 | 1996-08-28 | Measuring instrument |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP7245385A JPH0962587A (ja) | 1995-08-30 | 1995-08-30 | 消去した測定データの復元機能つき測定装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0962587A true JPH0962587A (ja) | 1997-03-07 |
Family
ID=17132879
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP7245385A Pending JPH0962587A (ja) | 1995-08-30 | 1995-08-30 | 消去した測定データの復元機能つき測定装置 |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US5740063A (ja) |
JP (1) | JPH0962587A (ja) |
DE (1) | DE19634337A1 (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2017038839A1 (ja) * | 2015-09-03 | 2017-03-09 | コニカミノルタ株式会社 | 測色計、情報処理システム、およびデータ制御方法 |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6941393B2 (en) * | 2002-03-05 | 2005-09-06 | Agilent Technologies, Inc. | Pushback FIFO |
Family Cites Families (11)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
NL165859C (nl) * | 1975-04-25 | 1981-05-15 | Philips Nv | Station voor informatie-overdracht. |
DE3341471A1 (de) * | 1983-11-17 | 1985-05-30 | SWF Auto-Electric GmbH, 7120 Bietigheim-Bissingen | Instrument fuer kraftfahrzeuge |
JPS60158484A (ja) * | 1984-01-28 | 1985-08-19 | 株式会社リコー | 表示メモリ制御方式 |
DE3522815A1 (de) * | 1985-06-26 | 1987-01-08 | Mak Maschinenbau Krupp | Mess- und registriervorrichtung |
JP2627501B2 (ja) * | 1987-03-06 | 1997-07-09 | アンリツ株式会社 | スペクトラムアナライザ |
JPH01118956A (ja) * | 1987-10-31 | 1989-05-11 | Sharp Corp | データ処理装置 |
GB9208190D0 (en) * | 1992-04-11 | 1992-05-27 | Elcometer Instr Ltd | Measuring instrument |
DE4222422A1 (de) * | 1992-07-08 | 1994-01-13 | Siemens Ag | Meßwertschreiber |
JPH06165239A (ja) * | 1992-11-18 | 1994-06-10 | Toshiba Corp | ボタン電話装置 |
DE4320036C2 (de) * | 1993-06-17 | 1997-02-13 | Fraunhofer Ges Forschung | Verfahren und Anordnung zur Driftkorrektur zeitdiskreter Meßsignale bezogen auf ein Referenzsignal, insbesondere in der absorptionsspektroskopischen Spurengasanalytik |
DE4411244A1 (de) * | 1994-03-31 | 1995-10-05 | Psi Elektronik Service Christi | Verfahren und Vorrichtung zum Aufzeichnen von Meßdaten |
-
1995
- 1995-08-30 JP JP7245385A patent/JPH0962587A/ja active Pending
-
1996
- 1996-08-24 DE DE19634337A patent/DE19634337A1/de not_active Ceased
- 1996-08-28 US US08/704,076 patent/US5740063A/en not_active Expired - Lifetime
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2017038839A1 (ja) * | 2015-09-03 | 2017-03-09 | コニカミノルタ株式会社 | 測色計、情報処理システム、およびデータ制御方法 |
JPWO2017038839A1 (ja) * | 2015-09-03 | 2018-06-21 | コニカミノルタ株式会社 | 測色計、情報処理システム、およびデータ制御方法 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US5740063A (en) | 1998-04-14 |
DE19634337A1 (de) | 1997-03-06 |
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