JPH087103A - Signal processor - Google Patents
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- JPH087103A JPH087103A JP6137239A JP13723994A JPH087103A JP H087103 A JPH087103 A JP H087103A JP 6137239 A JP6137239 A JP 6137239A JP 13723994 A JP13723994 A JP 13723994A JP H087103 A JPH087103 A JP H087103A
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- signal
- inspection
- image
- partial image
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- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
- Image Processing (AREA)
- Image Analysis (AREA)
Abstract
Description
【0001】[0001]
【産業上の利用分野】この発明は、画像信号、音声信号
等の信号を検査する信号検査装置に関するものである。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a signal inspection device for inspecting signals such as image signals and audio signals.
【0002】[0002]
【従来の技術】図6は例えば第43回システム制御情報
講習会「多次元画像計測と物体認識」における高速画像
処理装置に示された従来の画像検査装置であり、図にお
いて1は画像(信号)入力装置、2、3、4、5はそれ
ぞれパイプライン処理を行う画像プロセッサ、6は出力
データ、7は各画像プロセッサの典型的な内部構造であ
る。2. Description of the Related Art FIG. 6 shows a conventional image inspection apparatus shown in, for example, a high-speed image processing apparatus in the 43rd system control information workshop "Multidimensional image measurement and object recognition". ) Input devices 2, 3, 4, 5 are image processors that perform pipeline processing, 6 is output data, and 7 is a typical internal structure of each image processor.
【0003】次に動作について説明する。画像入力装置
1からの入力画像信号を受け取った画像プロセッサ2お
よびそれに引き続く画像プロセッサ3、4、5はそれを
記憶し、7に示されるような特徴抽出やパターンマッチ
ングをすべてのデータに同等に行い、その結果を次段の
画像プロセッサに順次出力し、あらたな画像信号の処理
に移るという繰り返し処理を行っていた。Next, the operation will be described. The image processor 2 that receives the input image signal from the image input device 1 and the subsequent image processors 3, 4, and 5 store it, and perform feature extraction and pattern matching as shown in 7 on all data. Then, the result is sequentially output to the image processor of the next stage, and the process is repeated for the process of a new image signal.
【0004】[0004]
【発明が解決しようとする課題】画像処理装置等、従来
の信号処理装置は概ね以上のように構成されているの
で、すべての入力に対して同様の処理を行わなくてはな
らず、とくに実時間処理を行うためにはすべての処理部
分が実時間で完了しなくてはならず、高速処理が困難で
あるという問題点があった。Since a conventional signal processing apparatus such as an image processing apparatus is generally constructed as described above, the same processing must be carried out for all inputs, and especially the actual processing is performed. In order to perform the time processing, all processing parts must be completed in real time, and there is a problem that high speed processing is difficult.
【0005】この発明は上記のような問題点を解消する
ためになされたもので、高速処理が実行可能な信号処理
装置を得ることを目的としている。The present invention has been made to solve the above problems, and an object thereof is to obtain a signal processing device capable of executing high-speed processing.
【0006】[0006]
【課題を解決するための手段】この発明にかかる請求項
1記載の信号処理装置は、入力信号を受け、該入力信号
に対し比較的時間を要する詳細検査を行う装置であっ
て、前記入力信号に対し比較的時間を要さない簡易検査
を行い、前記入力信号のうち前記詳細検査を行う必要性
がある要検査信号を抽出する簡易検査手段と、前記要検
査信号に対して前記詳細検査を行う詳細検査手段とを備
えて構成される。A signal processing apparatus according to a first aspect of the present invention is an apparatus for receiving an input signal and performing a detailed inspection for the input signal, which requires a relatively long time. A simple inspection means for performing a simple inspection requiring relatively little time, and extracting a required inspection signal out of the input signals for which the detailed inspection needs to be performed, and the detailed inspection for the required inspection signal. And detailed inspection means for performing the inspection.
【0007】また、請求項2記載の信号処理装置のよう
に、前記入力信号は、所定の画像に対応する画像信号で
あり、前記簡易検査手段は、前記画像信号を受け、前記
画像信号を複数の部分画像信号に分割する画像分割手段
を備え、前記複数の部分画像信号は前記所定の画像が複
数の矩形領域に分割された部分画像それぞれに対応し、
前記部分画像信号を二値化して二値化部分画像信号を出
力する画像二値化手段と、前記二値化部分画像信号それ
ぞれの水平方向射影及び垂直方向射影に基づく信号検査
情報を求める信号検査情報生成手段と、前記信号検査情
報を検証することにより前記簡易検査を行い、前記詳細
検査を行う必要性があると判定した前記二値化部分画像
信号に対応する前記部分画像信号を前記要検査信号とす
る部分画像信号検査手段とをさらに備えて構成してもよ
い。According to a second aspect of the present invention, the input signal is an image signal corresponding to a predetermined image, and the simple inspection means receives the image signal and outputs a plurality of the image signals. Image division means for dividing into a plurality of partial image signals, wherein the plurality of partial image signals correspond to respective partial images obtained by dividing the predetermined image into a plurality of rectangular areas,
Image binarizing means for binarizing the partial image signal and outputting a binarized partial image signal, and a signal inspection for obtaining signal inspection information based on the horizontal projection and the vertical projection of each of the binarized partial image signals. The partial image signal corresponding to the binarized partial image signal which is determined to be necessary to perform the simple inspection by verifying the information inspection means and the signal inspection information It may be configured to further include a partial image signal inspecting unit that uses a signal.
【0008】また、請求項3記載の信号処理装置のよう
に、前記入力信号は、所定の画像に対応する画像信号で
あり、前記簡易検査手段は、前記画像信号を受け、前記
画像信号を複数の部分画像信号に分割する画像分割手段
を備え、前記複数の部分画像信号は前記所定の画像が複
数の矩形領域に分割された部分画像それぞれに対応し、
前記部分画像信号を二値化して二値化部分画像信号を出
力する画像二値化手段と、前記二値化部分画像信号と所
定の二値化基準信号とを比較することにより前記簡易検
査を行い、前記詳細検査を行う必要性があると判定した
前記二値化部分画像信号に対応する部分画像信号を前記
要検査信号とする部分画像信号検査手段とをさらに備え
て構成してもよい。According to a third aspect of the present invention, the input signal is an image signal corresponding to a predetermined image, and the simple inspection means receives the image signal and outputs a plurality of the image signals. Image division means for dividing into a plurality of partial image signals, wherein the plurality of partial image signals correspond to respective partial images obtained by dividing the predetermined image into a plurality of rectangular areas,
An image binarization unit that binarizes the partial image signal to output a binarized partial image signal, and the simple inspection by comparing the binarized partial image signal and a predetermined binarized reference signal A partial image signal inspecting unit may be further provided, which uses the partial image signal corresponding to the binarized partial image signal determined to require the detailed inspection as the inspection required signal.
【0009】また、請求項4記載の信号処理装置のよう
に、前記入力信号は、所定の画像に対応する画像信号で
あり、前記簡易検査手段は、前記画像信号を受け、前記
画像信号を複数の部分画像信号に分割する画像分割手段
を備え、前記複数の部分画像信号は前記所定の画像が複
数の矩形領域に分割された部分画像それぞれに対応し、
前記部分画像信号に対し畳み込みフィルタリング処理を
施してフィルタリング済み部分画像信号を出力するフィ
ルタリング手段と、前記フィルタリング済み部分画像信
号を検証材料として前記簡易検査を行い、前記詳細検査
を行う必要性があると判定した前記フィルタリング済み
部分画像信号に対応する部分画像信号を前記要検査信号
とする部分画像信号検査手段とをさらに備えて構成して
もよい。According to a fourth aspect of the present invention, the input signal is an image signal corresponding to a predetermined image, and the simple inspection means receives the image signal and outputs a plurality of the image signals. Image division means for dividing into a plurality of partial image signals, wherein the plurality of partial image signals correspond to respective partial images obtained by dividing the predetermined image into a plurality of rectangular areas,
It is necessary to perform convolution filtering processing on the partial image signal to output a filtered partial image signal, and the simple inspection using the filtered partial image signal as verification material, and the detailed inspection. It may be configured to further include a partial image signal inspecting unit that uses the partial image signal corresponding to the determined filtered partial image signal as the inspection required signal.
【0010】また、請求項5記載の信号処理装置のよう
に、前記入力信号は音声信号であり、前記簡易検査手段
は、前記音声信号を受け、前記音声信号を時間軸及びス
ペクトル軸のうち少なくとも一方の軸上で分割して得ら
れる部分音声信号に分割する音声分割手段と、前記部分
音声信号に対し音韻の始まりを検出し、前記部分音声信
号の音韻の始まりから所定長の信号を前記要検査信号と
する音声検査手段とを備えて構成してもよい。According to a fifth aspect of the present invention, the input signal is a voice signal, the simple inspection means receives the voice signal, and the voice signal is at least one of a time axis and a spectrum axis. A voice division means for dividing into partial voice signals obtained by dividing on one axis, a start of phoneme for the partial voice signal is detected, and a signal of a predetermined length from the start of phoneme of the partial voice signal is obtained as the essential point. It may be configured by including an audio inspection unit that uses an inspection signal.
【0011】さらに、請求項6記載の信号処理装置のよ
うに、前記要検査信号の読み書きが可能な記憶手段をさ
らに備え、前記簡易検査手段は前記簡易検査を行った
後、前記要検査信号を前記記憶手段に順次書き込み、前
記詳細検査手段は前記記憶手段から前記要検査信号を順
次読み出し前記詳細検査を行うように構成してもよい。Further, as in the signal processing device according to the sixth aspect of the present invention, it further comprises a storage means capable of reading and writing the required inspection signal, and the simple inspection means performs the simple inspection and then outputs the required inspection signal. The detailed inspection means may be configured to sequentially write to the storage means, and the detailed inspection means to sequentially read out the inspection required signals from the storage means to perform the detailed inspection.
【0012】[0012]
【作用】この発明にかかる請求項1記載の信号処理装置
は、入力信号に対し比較的時間の要さない簡易検査を行
い、入力信号のうち詳細検査を行う必要性がある要検査
信号を抽出する簡易検査手段と、要検査信号に対して比
較的時間を要する詳細検査を行う詳細検査手段とを備え
ている。The signal processing apparatus according to the first aspect of the present invention performs a simple inspection for an input signal, which requires relatively little time, and extracts a required inspection signal out of the input signals for which a detailed inspection needs to be performed. And a detailed inspection means for performing a detailed inspection that requires a relatively long time for a required inspection signal.
【0013】したがって、入力信号のうち簡易検査手段
により詳細検査を行う必要性があるとみなされた要検査
信号に対してのみ詳細検査手段による詳細検査が行われ
る。Therefore, the detailed inspection is performed by the detailed inspection means only on the required inspection signal which is considered to be required to be inspected by the simple inspection means among the input signals.
【0014】また、請求項2記載の信号処理装置は、簡
易検査手段として、画像分割手段、画像二値化手段、信
号検査情報作成手段及び信号検査情報を検証することに
より簡易検査を行い、詳細検査を行う必要性があると判
定した二値化部分画像信号に対応する部分画像信号を要
検査信号とする部分画像信号検査手段とを備えている。The signal processing apparatus according to the second aspect of the present invention, as the simple inspection means, performs the simple inspection by verifying the image dividing means, the image binarizing means, the signal inspection information creating means and the signal inspection information. And a partial image signal inspecting unit that uses a partial image signal corresponding to the binarized partial image signal determined to require inspection as a required inspection signal.
【0015】また、請求項3記載の信号処理装置は、簡
易検査手段として、画像分割手段、画像二値化手段及び
二値化部分画像信号と所定の二値化基準信号とを比較す
ることにより簡易検査を行い、詳細検査を行う必要性が
あると判定した二値化部分画像信号に対応する部分画像
信号を要検査信号とする部分画像信号検査手段とを備え
ている。Further, the signal processing apparatus according to the third aspect of the present invention comprises, as the simple inspection means, by comparing the image dividing means, the image binarizing means and the binarized partial image signal with a predetermined binarizing reference signal. And a partial image signal inspecting unit that uses a partial image signal corresponding to the binarized partial image signal determined to require the simple inspection and the detailed inspection as a required inspection signal.
【0016】また、請求項4記載の信号処理装置は、簡
易検査手段として、画像分割手段、フィルタリング手段
及びフィルタリング済み部分画像信号を検証材料として
簡易検査を行い、詳細検査を行う必要性があると判定し
たフィルタリング済み部分画像信号に対応する部分画像
信号を要検査信号とする部分画像信号検査手段とを備え
ている。Further, the signal processing device according to claim 4 is required to perform a detailed inspection as a simple inspection means using the image dividing means, the filtering means, and the filtered partial image signal as verification material to perform a detailed inspection. And a partial image signal inspecting unit that uses a partial image signal corresponding to the determined filtered partial image signal as a required inspection signal.
【0017】したがって、請求項2ないし請求項4記載
の信号処理装置において、比較的容量の大きい画像信号
の信号処理に対して、部分画像信号のうち、簡易検査手
段により詳細検査を行う必要性があるとみなされた信号
である要検査信号に対してのみ詳細検査手段による詳細
検査が行われる。Therefore, in the signal processing device according to any one of claims 2 to 4, it is necessary to perform a detailed inspection by the simple inspection means among the partial image signals for the signal processing of the image signal having a relatively large capacity. The detailed inspection by the detailed inspection means is performed only on the inspection-required signal which is a signal considered to be present.
【0018】また、請求項5記載の信号処理装置は、簡
易検査手段として、音声分割手段及び部分音声信号に対
し音韻の始まりを検出し、部分音声信号の音韻の始まり
から所定長の信号を要検査信号とする音声検査手段とを
備える。Further, the signal processing apparatus according to the fifth aspect of the present invention, as the simple inspection means, detects the beginning of the phoneme for the voice dividing means and the partial voice signal, and requires a signal of a predetermined length from the beginning of the phoneme of the partial voice signal. And an audio inspecting means for producing an inspection signal.
【0019】したがって、音声信号の信号処理におい
て、音声信号のうち簡易検査手段により詳細検査を行う
必要性があるとみなされた信号である要検査信号に対し
てのみ詳細検査手段による詳細検査が行われる。Therefore, in the signal processing of the audio signal, the detailed inspection by the detailed inspection means is performed only on the required inspection signal, which is the signal deemed necessary to be inspected by the simple inspection means in the audio signal. Be seen.
【0020】また、請求項6記載の信号処理装置は、要
検査信号の読み書きが可能な記憶手段をさらに備え、簡
易検査手段は簡易検査を行った後、要検査信号を記憶手
段に順次書き込み、詳細検査手段は記憶手段から要検査
信号を順次読み出し詳細検査を行うように構成している
ため、簡易検査手段は詳細検査手段とはほとんど独立し
て簡易検査を行うことができる。Further, the signal processing device according to claim 6 further comprises a storage means capable of reading and writing the required inspection signal, and the simple inspection means performs the simple inspection and then sequentially writes the required inspection signal in the storage means. Since the detailed inspection means is configured to sequentially read out inspection-required signals from the storage means and perform the detailed inspection, the simple inspection means can perform the simple inspection almost independently of the detailed inspection means.
【0021】[0021]
<第1の実施例>図1はこの発明の第1の実施例である
画像処理装置の構成を示すブロック図である。なお、第
1の実施例の画像処理装置は検査対象物の画像情報に基
づき、その表面傷を検証するために利用される。<First Embodiment> FIG. 1 is a block diagram showing the arrangement of an image processing apparatus according to the first embodiment of the present invention. The image processing apparatus of the first embodiment is used for verifying the surface flaw of the inspection object based on the image information.
【0022】図1に示すように、画像入力手段1が検査
対象物の画像情報である画像信号を入力して画像分割手
段8に次々と出力する。画像分割手段8は、傷検出手段
9の制御信号が転送許可を指示するとき、画像信号に基
づき上記濃淡画像を適当な大きさの矩形領域に分割して
それらの位置情報を添えて部分画像信号を傷検出手段9
に転送する。As shown in FIG. 1, the image input means 1 inputs the image signal which is the image information of the inspection object and outputs it to the image dividing means 8 one after another. When the control signal of the flaw detection unit 9 indicates the transfer permission, the image division unit 8 divides the grayscale image into rectangular regions of appropriate size based on the image signal and adds the positional information thereof to the partial image signal. Flaw detection means 9
Transfer to.
【0023】傷検出手段9は、濃淡画像記憶部10、閾
値処理部11、二値画像記憶部12、水平方向射影部1
3、垂直方向射影部14、選別部15及び高次傷検出部
16から構成される。The flaw detecting means 9 includes a grayscale image storage unit 10, a threshold value processing unit 11, a binary image storage unit 12, and a horizontal projection unit 1.
3, a vertical projection unit 14, a selection unit 15, and a high-order scratch detection unit 16.
【0024】濃淡画像記憶部10は部分画像信号を記憶
する。閾値処理部11は濃淡画像記憶部10から部分画
像信号を順次取り込み、その各画素値と定められた閾値
とを比較することによって二値化して二値化部分画像信
号を二値画像記憶部12に出力し記憶させる。二値画像
記憶部12に記憶された二値化部分画像信号は水平方向
射影部13及び垂直方向射影部14にそれぞれ読み込ま
れる。The grayscale image storage unit 10 stores the partial image signal. The threshold processing unit 11 sequentially takes in the partial image signals from the grayscale image storage unit 10, binarizes the partial image signals by comparing each pixel value with a predetermined threshold value, and outputs the binarized partial image signals as the binary image storage unit 12. To output and store. The binarized partial image signals stored in the binary image storage unit 12 are read into the horizontal projection unit 13 and the vertical projection unit 14, respectively.
【0025】水平方向射影部13は、二値画像記憶部1
2に記憶された二値化部分画像信号で表現される矩形画
像の各水平位置にあるすべての画素値の和を計算し、さ
らにその値に閾値処理を行いその結果得られるベクトル
を水平射影ベクトルとして選別部15に出力する。The horizontal projection unit 13 is a binary image storage unit 1.
The sum of all pixel values at each horizontal position of the rectangular image represented by the binarized partial image signal stored in 2 is calculated, and the value is thresholded, and the resulting vector is the horizontal projection vector. Is output to the selection unit 15.
【0026】垂直方向射影部14は、二値画像記憶部1
2に記憶された二値化部分画像信号で表現される矩形画
像の各垂直位置にあるすべての画素値の和を計算し、さ
らにその値に閾値処理を行いその結果得られるベクトル
を垂直射影ベクトルとして選別部15に出力する。The vertical projection unit 14 is a binary image storage unit 1.
The sum of all pixel values at each vertical position of the rectangular image represented by the binarized partial image signal stored in 2 is calculated, and the value is thresholded, and the resulting vector is the vertical projection vector. Is output to the selection unit 15.
【0027】選別部15は、検査対象物の傷の形に基づ
き決定され、判断基準となる基準ベクトルを予め有して
いる。選別部15は、基準ベクトルと水平射影ベクトル
及び垂直射影ベクトルとの大きさ、内積等の量を比較す
ることによって、二値化部分画像信号の表現する画像中
に検査対象とする傷がある可能性を高速に判断する。The selection unit 15 has a reference vector which is determined based on the shape of the scratch on the inspection object and serves as a determination reference in advance. The selection unit 15 compares the reference vector with the horizontal projection vector and the vertical projection vector in terms of size, inner product, and the like, so that the image represented by the binarized partial image signal may have a flaw to be inspected. Judge the sex at high speed.
【0028】そして、傷が明らかに存在しないと判断し
た場合には詳細検査を行う必要がないと判断し、傷検出
手段9の制御信号として、画像分割手段8に次の部分画
像信号の転送指示を与える。一方、傷が存在するかもし
れず詳細検査を行う必要があると判断した場合には、高
次傷検出部16に対し、詳細検査を行う必要があると判
断した二値化部分画像信号に対応する部分画像信号を要
検査信号と指示する制御信号を与える。When it is determined that the scratch is not clearly present, it is determined that the detailed inspection is not necessary, and the image dividing means 8 is instructed to transfer the next partial image signal as a control signal of the scratch detecting means 9. give. On the other hand, when it is determined that a flaw may exist and detailed inspection needs to be performed, the higher-order flaw detection unit 16 corresponds to the binarized partial image signal determined to need detailed inspection. A control signal for instructing the partial image signal as a signal requiring inspection is given.
【0029】高次傷検出部16は、濃淡画像記憶部10
から、選別部15の制御信号が要検査信号と指示する部
分画像信号を読み込み、その部分画像信号に対しパター
ンマッチング法やガボアフィルタなどの畳み込みフィル
タなどによる特徴抽出を行い、これらの特徴抽出された
量について線形判別法やニューラルネットワークによる
判別法などを適用することにより傷の有無を性格に判定
し、傷があると判断した場合にはその位置情報を出力手
段17に出力する。The high-order scratch detection section 16 is a grayscale image storage section 10.
From this, a partial image signal indicated by the control signal of the selection unit 15 as a signal requiring inspection is read, feature extraction is performed on the partial image signal by a pattern matching method or a convolution filter such as a Gabor filter, and the amount of these feature extractions is performed. By applying a linear discriminant method, a discriminant method using a neural network, or the like, the presence / absence of a flaw is determined, and when it is determined that there is a flaw, the position information is output to the output means 17.
【0030】出力手段17は高次傷検出部16より得た
位置情報に基づき、視覚的認識が可能な傷検出情報を出
力する。The output means 17 outputs the scratch detection information which can be visually recognized based on the position information obtained from the higher order scratch detection section 16.
【0031】このような構成の第1の実施例の画像処理
装置において、画像分割手段8により分割された各部分
画像信号は、それぞれ閾値処理部11、二値画像記憶部
12、水平方向射影部13、垂直方向射影部14及び選
別部15よりなる簡易検査手段により、まず詳細検査の
必要性の有無が検査される。この処理は比較的高速に行
える。In the image processing apparatus of the first embodiment having such a configuration, each partial image signal divided by the image dividing means 8 is divided into a threshold processing unit 11, a binary image storage unit 12, and a horizontal projection unit. First, the simple inspection unit including the vertical projection unit 14, the vertical projection unit 14, and the selection unit 15 first inspects the necessity of detailed inspection. This process can be performed relatively quickly.
【0032】そして、簡易検査手段により詳細検査を行
う必要があると判定された要検査信号である部分画像信
号に対してのみ、高次傷検出部16からなる詳細検査手
段により比較的時間を要するが正確に傷を検出すること
ができる詳細検査が行われる。Then, it takes a relatively long time by the detailed inspection means composed of the high-order scratch detection section 16 only for the partial image signal which is the inspection-required signal determined to be required to be inspected by the simple inspection means. A detailed inspection is performed that can accurately detect the scratches.
【0033】したがって、検査画像中に傷が存在する確
率が小さいという性質があるような検査対象物に対し
て、実時間では終了しない詳細検査を高次傷検出部16
に置くことによって、それが処理を終了するのに許され
る時間の期限を、複数の部分画像信号の簡易検査の処理
時間に渡って引き延ばすことが可能となる。Therefore, the high-order scratch detection unit 16 performs a detailed inspection that does not end in real time on an inspection object having a property that the existence of scratches in the inspection image is small.
The time limit allowed for it to finish processing can be extended over the processing time of the simple inspection of a plurality of partial image signals.
【0034】その結果、高速あるいは実時間処理が必要
な画像処理装置内に、高精度の検査が必要となる多くの
計算時間を要する処理と低減或いは実時間性のない処理
とを組み込むことができる。As a result, it is possible to incorporate, in an image processing apparatus that requires high-speed or real-time processing, processing that requires a large amount of calculation time that requires highly accurate inspection and processing that does not require reduction or real-time processing. .
【0035】つまり、比較的時間を要する詳細検査手段
による詳細検査を行う対象の信号量を必要最小限に抑え
ることにより、処理全体の高速化を図ることができる。In other words, by suppressing the amount of signals to be subjected to the detailed inspection by the detailed inspection means, which requires a relatively long time, to the necessary minimum, it is possible to speed up the whole process.
【0036】<第2の実施例>図2はこの発明の第2の
実施例である画像処理装置の構成を示すブロック図であ
る。なお、第2の実施例の画像処理装置は、第1の実施
例同様、検査対象物の画像情報に基づき、その表面傷を
検証するために利用される。<Second Embodiment> FIG. 2 is a block diagram showing the arrangement of an image processing apparatus according to the second embodiment of the present invention. The image processing apparatus according to the second embodiment is used for verifying the surface flaw of the inspection object based on the image information of the inspection object, as in the first embodiment.
【0037】図2に示すように、傷検出手段9の外部に
高次傷検出部16が設けられ、傷検出手段9と高次傷検
出部16との間に濃淡画像記憶手段18が介挿される 傷検出手段9の選別部15は、第1の実施例同様、基準
ベクトルと水平射影ベクトル及び垂直射影ベクトルとの
大きさ、内積等の量を比較することによって、二値化部
分画像信号の表現する画像中に検査対象とする傷がある
可能性、すなわち、詳細検査を行う必要性を高速に判断
する。As shown in FIG. 2, a high-order scratch detection unit 16 is provided outside the scratch detection unit 9, and a grayscale image storage unit 18 is interposed between the scratch detection unit 9 and the high-order scratch detection unit 16. Similar to the first embodiment, the selection unit 15 of the flaw detection unit 9 compares the magnitudes of the reference vector and the horizontal projection vector and the vertical projection vector, the amount of inner product, and the like to determine the binarized partial image signal. The possibility that there is a scratch to be inspected in the image to be expressed, that is, the necessity of performing a detailed inspection, is quickly determined.
【0038】そして、傷が明らかに存在せず詳細検査を
行う必要性がないと判断した場合には、傷検出手段9の
制御信号として、画像分割手段8に次の部分画像信号の
転送指示を与える。一方、傷が存在するかもしれず詳細
検査を行う必要性があると判断した場合には、詳細検査
を行う必要性があると判断した二値化部分画像信号に対
応する部分画像信号を要検査信号として、この要検査信
号の書き込みを指示する制御信号を濃淡画像記憶手段1
8に与える。When it is determined that the scratch is not clearly present and the detailed inspection is not necessary, the image splitting means 8 is instructed to transfer the next partial image signal as a control signal of the scratch detecting means 9. give. On the other hand, if it is determined that there may be a scratch and it is necessary to perform a detailed inspection, a partial image signal corresponding to the binarized partial image signal determined to require a detailed inspection is used as a required inspection signal. As a control signal, the grayscale image storage means 1 is instructed to write the inspection required signal.
Give to eight.
【0039】濃淡画像記憶手段18は選別部15が要検
査信号と指示する部分画像信号のみ順次記憶する。The grayscale image storage means 18 sequentially stores only the partial image signals designated by the selection section 15 as the inspection required signals.
【0040】高次傷検出部16は、濃淡画像記憶手段1
8から順次、要検査信号である部分画像信号を読み込
み、その部分画像信号に対しパターンマッチング法やガ
ボアフィルタなどの畳み込みフィルタなどによる特徴抽
出を行い、これらの特徴抽出された量について線形判別
法やニューラルネットワークによる判別法などを適用す
ることにより傷の有無を性格に判定し、傷があると判断
した場合にはその位置情報を出力手段17に出力する。The high-order flaw detection section 16 is a grayscale image storage means 1.
The partial image signal that is the inspection-required signal is sequentially read from 8, and the feature extraction is performed on the partial image signal by a pattern matching method or a convolution filter such as a Gabor filter. The presence or absence of a flaw is determined by applying a discrimination method using a network, and if it is determined that there is a flaw, the position information is output to the output means 17.
【0041】なお、他の構成及びその動作は第1の実施
例の画像処理装置と同様であるため、説明は省略する。The rest of the configuration and the operation thereof are the same as those of the image processing apparatus of the first embodiment, so the explanation will be omitted.
【0042】このような構成の第2の実施例の画像処理
装置において、画像分割手段8により分割された各部分
画像信号は、それぞれ閾値処理部11、二値画像記憶部
12、水平方向射影部13、垂直方向射影部14及び選
別部15よりなる簡易検査手段により、詳細検査を行う
必要性の有無が検査される。この処理は比較的高速に行
える。In the image processing apparatus of the second embodiment having such a configuration, each partial image signal divided by the image dividing means 8 has a threshold processing unit 11, a binary image storage unit 12, and a horizontal projection unit. Whether or not there is a need for detailed inspection is inspected by a simple inspecting unit including the vertical projection unit 13, the vertical projection unit 14, and the selection unit 15. This process can be performed relatively quickly.
【0043】そして、簡易検査手段により詳細検査を行
う必要性があると判定された要検査信号である部分画像
信号のみが濃淡画像記憶手段18に書き込まれる。Then, only the partial image signal, which is the required inspection signal determined by the simple inspection means to be required to perform the detailed inspection, is written in the grayscale image storage means 18.
【0044】一方、高次傷検出部16からなる詳細検査
手段により比較的時間を要するが正確に傷を検出するこ
とができる詳細検査が濃淡画像記憶手段18から読み出
された部分画像信号に対して順次行われる。On the other hand, the detailed inspection means including the high-order scratch detection section 16 requires a relatively long time, but a detailed inspection capable of accurately detecting the scratch is applied to the partial image signal read from the grayscale image storage means 18. It is carried out sequentially.
【0045】その結果、第1の実施例同様、比較的時間
を要する詳細検査手段による詳細検査を行う対象の信号
量を必要最小限に抑えることにより、処理全体の高速化
を図ることができる。As a result, as in the first embodiment, the speed of the entire process can be increased by suppressing the signal amount of the object of detailed inspection by the detailed inspection means, which requires a relatively long time, to the necessary minimum.
【0046】また、第1の実施例の場合には高次傷検出
部16が必要とされるような傷の存在確率が低い場合に
およそ正しく動作するが、傷が画像中に固まって存在す
るような性質を持つ場合には高次傷検出部16が連続し
て起動されるために実時間性が保証されない。Further, in the case of the first embodiment, the high-order scratch detection section 16 operates almost correctly when the probability of existence of a scratch that is required is low, but the scratch exists in the image solidly. In the case of such a property, the higher-order flaw detection unit 16 is continuously activated, so that the real-time property is not guaranteed.
【0047】これに対し、第2の実施例においては、高
次傷検出部16による処理が必要な画像は濃淡画像記憶
手段18に順次蓄えられるので、高次傷検出部16によ
る詳細検査が必要な画像が連続して入力された場合にお
いても傷検出手段9内の簡易検査手段は実時間で簡易検
査を続けることができる。On the other hand, in the second embodiment, since the images that need to be processed by the high-order scratch detection section 16 are sequentially stored in the grayscale image storage means 18, a detailed inspection by the high-order scratch detection section 16 is required. Even when various images are continuously input, the simple inspection means in the flaw detection means 9 can continue the simple inspection in real time.
【0048】その結果、簡易検査が詳細検査の進行状況
により遅れることが回避されるため、より一層の高速処
理を実行可能にする効果を奏する。As a result, it is possible to prevent the simple inspection from being delayed due to the progress of the detailed inspection, so that it is possible to perform higher speed processing.
【0049】<第3の実施例>図3はこの発明の第3の
実施例である画像処理装置の構成を示すブロック図であ
る。なお、第3の実施例の画像処理装置は、第1及び第
2の実施例同様、検査対象物の画像情報に基づき、その
表面傷を検証するために利用される。<Third Embodiment> FIG. 3 is a block diagram showing the arrangement of an image processing apparatus according to the third embodiment of the present invention. The image processing apparatus according to the third embodiment is used for verifying the surface scratches on the basis of the image information of the inspection object, as in the first and second embodiments.
【0050】図3に示すように、テンプレート照合部2
9は二値画像記憶部12から二値化部分画像信号を受け
るとともに、テンプレートデータ記憶部30に格納され
た基準二値化データであるテンプレート信号を受ける。As shown in FIG. 3, the template matching unit 2
9 receives the binarized partial image signal from the binary image storage unit 12 and the template signal which is the reference binarized data stored in the template data storage unit 30.
【0051】そして、テンプレート照合部29は、基準
二値化データとテンプレートデータとを比較して、その
比較結果に基づき、二値化部分画像信号の表現する画像
中に検査対象とする傷がある可能性、すなわち、詳細検
査を行う必要性を高速に判断する。そして、詳細検査を
行う必要性がないと判断した場合には、傷検出手段9の
制御信号として、画像分割手段8に次の部分画像信号の
転送指示を与える。一方、詳細検査を行う必要性がある
と判断した場合には、その二値化部分画像信号に対応す
る部分画像信号を要検査信号として、書き込みを指示す
る制御信号を濃淡画像記憶手段18に与える。Then, the template matching unit 29 compares the reference binarized data and the template data, and based on the comparison result, the image represented by the binarized partial image signal has a flaw to be inspected. Quickly determine the feasibility, ie the need for detailed inspection. When it is determined that it is not necessary to perform the detailed inspection, the image division unit 8 is instructed to transfer the next partial image signal as a control signal for the flaw detection unit 9. On the other hand, when it is determined that the detailed inspection needs to be performed, a partial image signal corresponding to the binarized partial image signal is set as a required inspection signal, and a control signal for instructing writing is given to the grayscale image storage unit 18. .
【0052】なお、他の構成及びその動作は第2の実施
例の画像処理装置と同様であるため、説明は省略する。The other structure and operation are the same as those of the image processing apparatus of the second embodiment, and the explanation thereof is omitted.
【0053】このような構成の第3の実施例の画像処理
装置において、画像分割手段8により分割された各部分
画像信号は、それぞれ閾値処理部11、二値画像記憶部
12、テンプレート照合部29及びテンプレートデータ
記憶部30よりなる簡易検査手段により、詳細検査を行
う必要性の有無が検査される。この処理は比較的高速に
行える。In the image processing apparatus of the third embodiment having such a configuration, each partial image signal divided by the image dividing means 8 has a threshold processing unit 11, a binary image storage unit 12, and a template matching unit 29, respectively. Also, the simple inspection unit including the template data storage unit 30 inspects whether or not it is necessary to perform a detailed inspection. This process can be performed relatively quickly.
【0054】そして、簡易検査手段により詳細検査を行
う必要性があると判定された要検査信号である部分画像
信号のみが濃淡画像記憶手段18に書き込まれる。Then, only the partial image signal, which is the inspection required signal determined by the simple inspection means to be necessary for the detailed inspection, is written in the grayscale image storage means 18.
【0055】一方、高次傷検出部16からなる詳細検査
手段により比較的時間を要するが正確に傷を検出するこ
とができる詳細検査が濃淡画像記憶手段18から読み出
された部分画像信号に対して順次行われる。On the other hand, the detailed inspection means including the high-order flaw detection section 16 requires a relatively long time, but a detailed inspection capable of accurately detecting the flaws is performed on the partial image signal read from the grayscale image storage means 18. It is carried out sequentially.
【0056】その結果、第1及び第2の実施例同様、比
較的時間を要する詳細検査手段による詳細検査を行う対
象の信号量を必要最小限に抑えることにより、処理全体
の高速化を図ることができる。As a result, as in the first and second embodiments, the amount of signals to be subjected to the detailed inspection by the detailed inspection means, which requires a relatively long time, is suppressed to the necessary minimum, and the speed of the whole process is increased. You can
【0057】さらに、傷検出手段9と高次傷検出部16
との間に濃淡画像記憶手段18を介挿することにより、
第2の実施例同様、簡易検査が詳細検査の進行状況によ
り遅れることが回避されるため、より一層の高速処理を
実行可能にする効果を奏する。Further, the flaw detecting means 9 and the high-order flaw detecting section 16
By inserting the grayscale image storage means 18 between
As in the second embodiment, since the simple inspection is prevented from being delayed due to the progress of the detailed inspection, it is possible to perform higher speed processing.
【0058】<第4の実施例>図4はこの発明の第4の
実施例である画像処理装置の構成を示すブロック図であ
る。なお、第4の実施例の画像処理装置は、第1〜第3
の実施例同様、検査対象物の画像情報に基づき、その表
面傷を検証するために利用される。<Fourth Embodiment> FIG. 4 is a block diagram showing the arrangement of an image processing apparatus according to the fourth embodiment of the present invention. The image processing apparatus according to the fourth embodiment includes the first to third
Similar to the above embodiment, it is used for verifying the surface flaw of the inspection object based on the image information.
【0059】図4に示すように、畳み込みフィルタ群3
1は濃淡画像記憶部10から部分画像信号を順次取り込
み、部分画像信号で表現される各画素に対する重み付け
を行う等の畳み込みフィルタリング処理を施してフィル
タリング済み部分画像信号を一次識別部32に出力す
る。As shown in FIG. 4, the convolution filter group 3
Reference numeral 1 sequentially fetches partial image signals from the grayscale image storage unit 10, performs convolution filtering processing such as weighting each pixel represented by the partial image signals, and outputs the filtered partial image signals to the primary identification unit 32.
【0060】一次識別部32は、フィルタリング済み部
分画像信号に対し比較的簡単な識別処理を行い、フィル
タリング済み部分画像信号の表現する画像中に検査対象
とする傷がある可能性、すなわち、詳細検査を行う必要
性を高速に判断する。そして、傷が明らかに存在せず詳
細検査を行う必要性がないと判断した場合には、傷検出
手段9の制御信号として、画像分割手段8に次の部分画
像信号の転送指示を与える。一方、傷が存在するかもし
れず詳細検査を行う必要性があると判断した場合には、
そのフィルタリング済み部分画像信号に対応する部分画
像信号を要検査信号として、書き込みを指示する制御信
号を濃淡画像記憶手段18に与える。The primary identifying section 32 performs a relatively simple identifying process on the filtered partial image signal so that the image represented by the filtered partial image signal may have a flaw to be inspected, that is, a detailed inspection. Determine the need to do fast. When it is determined that the scratch is not clearly present and the detailed inspection is not necessary, the image dividing unit 8 is instructed to transfer the next partial image signal as a control signal of the scratch detecting unit 9. On the other hand, if it is determined that there may be a scratch and it is necessary to perform a detailed inspection,
A partial image signal corresponding to the filtered partial image signal is used as a required inspection signal, and a control signal for instructing writing is given to the grayscale image storage means 18.
【0061】なお、他の構成及びその動作は第2の実施
例の画像処理装置と同様であるため、説明は省略する。The rest of the configuration and the operation thereof are the same as those of the image processing apparatus of the second embodiment, so the explanation will be omitted.
【0062】このような構成の第4の実施例の画像処理
装置において、画像分割手段8により分割された各部分
画像信号は、それぞれ畳み込みフィルタ群31及び一次
識別部32よりなる簡易検査手段により、詳細検査を行
う必要性の有無が検査される。この処理は比較的高速に
行える。In the image processing apparatus of the fourth embodiment having such a configuration, each partial image signal divided by the image dividing means 8 is subjected to a simple inspection means consisting of a convolution filter group 31 and a primary discriminator 32, respectively. It is inspected whether it is necessary to perform a detailed inspection. This process can be performed relatively quickly.
【0063】そして、簡易検査手段により詳細検査を行
う必要性があると判定された要検査信号である部分画像
信号のみが濃淡画像記憶手段18に書き込まれる。Then, only the partial image signal, which is the inspection-required signal determined to require the detailed inspection by the simple inspection means, is written in the grayscale image storage means 18.
【0064】一方、高次傷検出部16からなる詳細検査
手段により比較的時間を要するが正確に傷を検出するこ
とができる詳細検査が濃淡画像記憶手段18から読み出
された部分画像信号に対して順次行われる。On the other hand, the detailed inspection means including the high-order scratch detection section 16 requires a relatively long time, but a detailed inspection capable of accurately detecting the scratch is applied to the partial image signal read from the grayscale image storage means 18. It is carried out sequentially.
【0065】その結果、第1〜第3の実施例同様、比較
的時間を要する詳細検査手段による詳細検査を行う対象
の信号量を必要最小限に抑えることにより、処理全体の
高速化を図ることができる。As a result, as in the first to third embodiments, the speed of the entire process can be increased by minimizing the amount of signals to be subjected to the detailed inspection by the detailed inspection means, which requires a relatively long time. You can
【0066】さらに、傷検出手段9と高次傷検出部16
との間に濃淡画像記憶手段18を介挿することにより、
第2及び第3の実施例同様、簡易検査が詳細検査の進行
状況により遅れることが回避されるため、より一層の高
速処理を実行可能にする効果を奏する。Further, the flaw detecting means 9 and the high-order flaw detecting section 16
By inserting the grayscale image storage means 18 between
Similar to the second and third embodiments, it is possible to prevent the simple inspection from being delayed due to the progress of the detailed inspection. Therefore, it is possible to perform a further high speed processing.
【0067】<第5の実施例>図5はこの発明の第5の
実施例である音声処理装置の構成を示すブロック図であ
る。なお、第5の実施例の音声処理装置は検査対象物の
音声を判別するために利用される。<Fifth Embodiment> FIG. 5 is a block diagram showing the arrangement of a speech processing apparatus according to the fifth embodiment of the present invention. The voice processing device of the fifth embodiment is used to determine the voice of the inspection object.
【0068】図5に示すように、音声入力手段19が検
査対象物からの音声信号を入力してA/D変換手段20
に出力する。A/D変換手段20は音声信号をA/D変
換してディジタル音声信号を周波数分析手段21に出力
する。As shown in FIG. 5, the voice input means 19 inputs the voice signal from the inspection object and receives the A / D conversion means 20.
Output to. The A / D conversion means 20 A / D converts the audio signal and outputs a digital audio signal to the frequency analysis means 21.
【0069】周波数分析手段21は、ディジタル音声信
号を周波数分析してその周波数成分を抽出して周波数成
分音声信号S21を音声信号分割手段22及び音声検査
手段23に出力する。The frequency analyzing means 21 frequency-analyzes the digital audio signal, extracts the frequency component thereof, and outputs the frequency component audio signal S21 to the audio signal dividing means 22 and the audio inspecting means 23.
【0070】音声信号分割手段22は周波数成分音声信
号S21を適当な時間間隔に分割して部分周波数成分音
声信号S22を音声信号記憶部24に出力する。The audio signal dividing means 22 divides the frequency component audio signal S21 into appropriate time intervals and outputs the partial frequency component audio signal S22 to the audio signal storage section 24.
【0071】音声検査手段23内の音声信号記憶部24
は、周波数成分音声信号S21及び部分周波数成分音声
信号S22を格納し、音韻検出部25に部分周波数成分
音声信号S22を出力する。Audio signal storage unit 24 in the audio inspection means 23
Stores the frequency component audio signal S21 and the partial frequency component audio signal S22, and outputs the partial frequency component audio signal S22 to the phoneme detection unit 25.
【0072】音声検査手段23内の音韻検出部25は、
部分周波数成分音声信号S22を受け、部分周波数成分
音声信号S22から音韻の始まりを認識すれば、音声判
別処理(詳細検査)を行う信号箇所であると判断し、音
韻の始まりから所定長の周波数成分音声信号S21及び
部分周波数成分音声信号S22を要検査信号として、こ
れら要検査信号の書き込みを指示する制御信号を音声信
号記憶手段26に与え、一方、音韻の始まりを認識しな
い場合は、詳細検査を行う必要がないと判断して音声信
号記憶手段26に書き込み禁止を指示する制御信号を与
える。The phoneme detecting section 25 in the voice inspecting means 23 is
If the beginning of the phoneme is received from the partial frequency component voice signal S22 upon reception of the partial frequency component voice signal S22, it is determined that it is a signal portion for performing the voice discrimination processing (detailed inspection), and a frequency component of a predetermined length from the beginning of the phoneme. The voice signal S21 and the partial frequency component voice signal S22 are used as inspection-required signals, and a control signal for instructing the writing of these inspection-required signals is given to the voice signal storage means 26. When it is judged that it is not necessary to carry out, a control signal for instructing the write inhibition is given to the audio signal storage means 26.
【0073】したがって、音声信号記憶手段26は音韻
検出部25が要検査信号と指示する周波数成分音声信号
S21及び部分周波数成分音声信号S22のみ順次記憶
する。Therefore, the voice signal storage means 26 sequentially stores only the frequency component voice signal S21 and the partial frequency component voice signal S22 which the phoneme detecting section 25 indicates as the inspection required signal.
【0074】音声判別手段27は、音声信号記憶手段2
6から順次、要検査信号である周波数成分音声信号S2
1及び部分周波数成分音声信号S22を取り込み、要検
査信号を詳細解析しその種類や性質を出力手段28に出
力する。The voice discriminating means 27 is the voice signal storing means 2
Frequency component audio signal S2, which is a required inspection signal, from 6 onwards
The 1 and partial frequency component audio signals S22 are fetched, the inspection-required signal is analyzed in detail, and its type and property are output to the output means 28.
【0075】このような構成の第5の実施例の音声処理
装置において、画像入力手段1により取り込まれる音声
信号は、それぞれ音声信号記憶部24及び音韻検出部2
5よりなる簡易検査手段(音声検査手段23)により、
音声判別の必要の有無が検査される。この処理は比較的
高速に行える。In the speech processing apparatus of the fifth embodiment having such a configuration, the speech signals fetched by the image input means 1 are the speech signal storage section 24 and the phoneme detection section 2, respectively.
By the simple inspection means (voice inspection means 23) consisting of 5,
It is checked whether or not voice discrimination is necessary. This process can be performed relatively quickly.
【0076】そして、簡易検査手段により詳細検査(音
声判別処理)を行う必要が有ると判定された要検査信号
のみが音声信号記憶手段26に書き込まれる。Then, only the inspection-required signal, which is determined by the simple inspection means to be required to perform the detailed inspection (voice discrimination processing), is written in the voice signal storage means 26.
【0077】一方、音声判別手段27からなる詳細検査
手段により比較的時間を要するが正確に音声判別を行う
ことができる詳細検査が音声信号記憶手段26から読み
出された要検査信号に対して順次行われる。On the other hand, the detailed inspection, which requires a relatively long time by the detailed inspection means composed of the voice discrimination means 27, enables the accurate voice discrimination to be sequentially performed on the required inspection signals read from the voice signal storage means 26. Done.
【0078】その結果、比較的時間を要する詳細検査手
段による詳細検査を行う対象の信号量を必要最小限に抑
えることにより、処理全体の高速化を図ることができ
る。As a result, the speed of the entire process can be increased by suppressing the amount of signals to be subjected to the detailed inspection by the detailed inspection means, which requires a relatively long time, to the necessary minimum.
【0079】つまり、音声信号に含まれる音声判別(音
韻検査)に必要な部分が確率的に大きくない場合に、音
声判別に必要な信号のみを選択しそれに詳細な解析処理
を行うことが高速あるいは実時間において可能となる。That is, when the portion included in the voice signal necessary for voice discrimination (phoneme inspection) is not stochastically large, it is fast to select only the signal required for voice discrimination and perform detailed analysis processing on it. It will be possible in real time.
【0080】また、音声判別手段27による処理が必要
な要検査信号は音声信号記憶手段26に順次蓄えられる
ので、連続して高次傷検出部16の処理が必要な音声信
号が入力された場合においても簡易検査手段は実時間で
簡易検査を続けることができる。Further, since the inspection-required signals which need to be processed by the voice discriminating means 27 are sequentially stored in the voice signal storing means 26, when the voice signals which need the processing of the higher order flaw detecting section 16 are continuously input. Also, in the simple inspection means, the simple inspection can be continued in real time.
【0081】その結果、簡易検査が詳細検査の進行状況
により遅れることが回避されるため、より一層の高速処
理を実行可能にする効果を奏する。As a result, it is possible to prevent the simple inspection from being delayed due to the progress of the detailed inspection, so that it is possible to perform higher speed processing.
【0082】なお、第5の実施例では、音韻検出部25
は音韻の始まりから所定長の周波数成分音声信号S21
及び部分周波数成分音声信号S22を要検査信号とした
が、音声判別部27から要検査信号に対する判別処理の
終了を指示する判別終了信号を受けるようにし、音韻の
始まりから判別終了信号を受けるまでの周波数成分音声
信号S21及び部分周波数成分音声信号S22を要検査
信号とするよう構成してもよい。In the fifth embodiment, the phoneme detecting section 25
Is a frequency component speech signal S21 of a predetermined length from the beginning of the phoneme.
Although the partial frequency component voice signal S22 is used as the inspection required signal, the determination end signal for instructing the end of the determination process for the inspection required signal is received from the voice determination unit 27, and from the beginning of the phoneme until the determination end signal is received. The frequency component audio signal S21 and the partial frequency component audio signal S22 may be configured to be required inspection signals.
【0083】<その他>なお、上記した第1〜第5の実
施例は画像信号あるいは音声信号に対する信号処理装置
について説明したが、これらの信号に限らず他の一般の
信号であってもよく、検査対象となる信号に含まれる一
部の信号のパターンあるいはそのほかの性質を検査する
すべての信号処理装置に本発明を適用できることは勿論
である。<Others> The above-described first to fifth embodiments have been described with respect to the signal processing device for the image signal or the audio signal, but not limited to these signals, other general signals may be used. It goes without saying that the present invention can be applied to all signal processing devices that inspect patterns of some signals included in signals to be inspected or other properties.
【0084】[0084]
【発明の効果】以上説明したように、この発明にかかる
請求項1記載の信号処理装置は、入力信号に対し比較的
時間の要さない簡易検査を行い、入力信号のうち詳細検
査を行う必要性がある要検査信号を抽出する簡易検査手
段と、要検査信号に対して比較的時間を要する詳細検査
を行う詳細検査手段とを備えている。As described above, the signal processing device according to the first aspect of the present invention needs to perform a simple inspection that takes relatively little time on an input signal and perform a detailed inspection of the input signal. A simple inspection means for extracting a required inspection signal and a detailed inspection means for performing a detailed inspection which requires a relatively long time for the inspection required signal are provided.
【0085】したがって、入力信号のうち簡易検査手段
により詳細検査を行う必要性があるとみなされた要検査
信号に対してのみ詳細検査手段による詳細検査が行われ
る。Therefore, the detailed inspection by the detailed inspection means is carried out only on the required inspection signal of the input signals which is deemed necessary to be subjected to the detailed inspection by the simple inspection means.
【0086】その結果、比較的時間を要する詳細検査を
行う対象の信号量を必要最小限に抑えることができるた
め、高速処理を実行可能にする効果を奏する。As a result, the amount of signals to be subjected to the detailed inspection, which requires a relatively long time, can be suppressed to the necessary minimum, so that the high-speed processing can be executed.
【0087】また、請求項2記載の信号処理装置は、簡
易検査手段として、画像分割手段、画像二値化手段、信
号検査情報作成手段及び信号検査情報を検証することに
より簡易検査を行い、詳細検査を行う必要性があると判
定した二値化部分画像信号に対応する部分画像信号を要
検査信号とする部分画像信号検査手段とを備えている。Further, the signal processing apparatus according to the second aspect performs, as the simple inspection means, the image division means, the image binarization means, the signal inspection information creating means and the simple inspection by verifying the signal inspection information. And a partial image signal inspecting unit that uses a partial image signal corresponding to the binarized partial image signal determined to require inspection as a required inspection signal.
【0088】また、請求項3記載の信号処理装置は、簡
易検査手段として、画像分割手段、画像二値化手段及び
二値化部分画像信号と所定の二値化基準信号とを比較す
ることにより簡易検査を行い、詳細検査を行う必要性が
あると判定した二値化部分画像信号に対応する部分画像
信号を要検査信号とする部分画像信号検査手段とを備え
ている。Further, the signal processing apparatus according to the third aspect of the present invention comprises, as the simple inspection means, by comparing the image dividing means, the image binarizing means and the binarized partial image signal with a predetermined binarized reference signal. And a partial image signal inspecting unit that uses a partial image signal corresponding to the binarized partial image signal determined to require the simple inspection and the detailed inspection as a required inspection signal.
【0089】また、請求項4記載の信号処理装置は、簡
易検査手段として、画像分割手段、フィルタリング手段
及びフィルタリング済み部分画像信号を検証材料として
簡易検査を行い、詳細検査を行う必要性があると判定し
たフィルタリング済み部分画像信号に対応する部分画像
信号を要検査信号とする部分画像信号検査手段とを備え
ている。Further, the signal processing device according to claim 4 needs to perform a simple inspection as a simple inspection means using the image dividing means, the filtering means and the filtered partial image signal as a verification material to perform a detailed inspection. And a partial image signal inspecting unit that uses a partial image signal corresponding to the determined filtered partial image signal as a required inspection signal.
【0090】したがって、請求項2ないし請求項4記載
の信号処理装置において、比較的容量の大きい画像信号
の信号処理に対して、部分画像信号のうち、簡易検査手
段により詳細検査を行う必要性があるとみなされた信号
である要検査信号に対してのみ詳細検査手段による詳細
検査が行われる。Therefore, in the signal processing device according to any one of claims 2 to 4, it is necessary to perform a detailed inspection of the partial image signal by the simple inspection means for the signal processing of the image signal having a relatively large capacity. The detailed inspection by the detailed inspection means is performed only on the inspection-required signal which is a signal considered to be present.
【0091】また、請求項5記載の信号処理装置は、簡
易検査手段として、音声分割手段及び部分音声信号に対
し音韻の始まりを検出し、部分音声信号の音韻の始まり
から所定長の信号を要検査信号とする音声検査手段とを
備える。Further, the signal processing apparatus according to the fifth aspect detects, as a simple inspection means, a phoneme start of the voice division means and the partial voice signal, and requires a signal of a predetermined length from the start of the phoneme of the partial voice signal. And an audio inspecting means for producing an inspection signal.
【0092】したがって、音声信号の信号処理におい
て、音声信号のうち簡易検査手段により詳細検査を行う
必要性があるとみなされた信号である要検査信号に対し
てのみ詳細検査手段による詳細検査が行われる。Therefore, in the signal processing of the audio signal, the detailed inspection by the detailed inspection means is performed only on the required inspection signal which is the signal of the audio signals which is considered necessary to be inspected by the simple inspection means. Be seen.
【0093】また、請求項6記載の信号処理装置は、要
検査信号の読み書きが可能な記憶手段をさらに備え、簡
易検査手段は簡易検査を行った後、要検査信号を記憶手
段に順次書き込み、詳細検査手段は記憶手段から要検査
信号を順次読み出し詳細検査を行うように構成している
ため、簡易検査手段は詳細検査手段とはほとんど独立し
て簡易検査を行うことができる。Further, the signal processing apparatus according to the present invention further comprises a storage means capable of reading and writing the required inspection signal, and the simple inspection means performs the simple inspection and then sequentially writes the required inspection signal into the storage means. Since the detailed inspection means is configured to sequentially read out inspection-required signals from the storage means and perform the detailed inspection, the simple inspection means can perform the simple inspection almost independently of the detailed inspection means.
【0094】その結果、簡易検査が詳細検査の進行状況
により遅れることが回避されるため、より一層の高速処
理を実行可能にする効果を奏する。As a result, it is possible to prevent the simple inspection from being delayed due to the progress of the detailed inspection, so that it is possible to perform higher speed processing.
【図1】 この発明の第1の実施例である画像処理装置
の構成を示すブロック図である。FIG. 1 is a block diagram showing a configuration of an image processing apparatus according to a first embodiment of the present invention.
【図2】 この発明の第2の実施例である画像処理装置
の構成を示すブロック図である。FIG. 2 is a block diagram showing a configuration of an image processing apparatus which is a second embodiment of the present invention.
【図3】 この発明の第3の実施例である画像処理装置
の構成を示すブロック図である。FIG. 3 is a block diagram showing a configuration of an image processing apparatus that is a third embodiment of the present invention.
【図4】 この発明の第4の実施例である画像処理装置
の構成を示すブロック図である。FIG. 4 is a block diagram showing a configuration of an image processing apparatus which is a fourth embodiment of the present invention.
【図5】 この発明の第5の実施例である音声処理装置
の構成を示すブロック図である。FIG. 5 is a block diagram showing a configuration of a voice processing device according to a fifth embodiment of the present invention.
【図6】 従来の画像処理装置の構成を示すブロック図
である。FIG. 6 is a block diagram showing a configuration of a conventional image processing apparatus.
8 画像分割手段、9 傷検出手段、10 濃淡画像記
憶部、11 閾値処理部、12 二値画像記憶部、13
水平方向射影部、14 垂直方向射影部、15 選別
部、16 高次傷検出部、17 出力手段、18 濃淡
画像記憶手段、19 音声入力手段、20 A/D変換
手段、21 周波数分析手段、22 音声信号分割手
段、23 音声検査手段、24 音声信号記憶部、25
音韻検出器、26 音声信号記憶手段、27 音声判
別手段、28 出力手段。8 image division means, 9 flaw detection means, 10 grayscale image storage section, 11 threshold processing section, 12 binary image storage section, 13
Horizontal projection unit, 14 Vertical projection unit, 15 Screening unit, 16 High-order flaw detection unit, 17 Output means, 18 Grayscale image storage means, 19 Voice input means, 20 A / D conversion means, 21 Frequency analysis means, 22 Audio signal dividing means, 23 audio inspection means, 24 audio signal storage section, 25
Phoneme detector, 26 voice signal storage means, 27 voice discrimination means, 28 output means.
Claims (6)
的時間を要する詳細検査を行う信号処理装置であって、 前記入力信号に対し比較的時間を要さない簡易検査を行
い、前記入力信号のうち前記詳細検査を行う必要性があ
る要検査信号を抽出する簡易検査手段と、 前記要検査信号に対して前記詳細検査を行う詳細検査手
段とを備える、信号処理装置。1. A signal processing device for receiving an input signal and performing a detailed inspection for the input signal, which requires a relatively long time. A signal processing device comprising: a simple inspection unit that extracts a required inspection signal from which a detailed inspection needs to be performed; and a detailed inspection unit that performs the detailed inspection on the required inspection signal.
画像信号であり、 前記簡易検査手段は、 前記画像信号を受け、前記画像信号を複数の部分画像信
号に分割する画像分割手段を備え、前記複数の部分画像
信号は前記所定の画像が複数の矩形領域に分割された部
分画像それぞれに対応し、 前記部分画像信号を二値化して二値化部分画像信号を出
力する画像二値化手段と、 前記二値化部分画像信号それぞれの水平方向射影及び垂
直方向射影に基づく信号検査情報を求める信号検査情報
生成手段と、 前記信号検査情報を検証することにより前記簡易検査を
行い、前記詳細検査を行う必要性があると判定した前記
二値化部分画像信号に対応する前記部分画像信号を前記
要検査信号とする部分画像信号検査手段とをさらに備え
る、請求項1記載の信号処理装置。2. The input signal is an image signal corresponding to a predetermined image, and the simple inspection means includes image division means for receiving the image signal and dividing the image signal into a plurality of partial image signals. , The plurality of partial image signals correspond to respective partial images in which the predetermined image is divided into a plurality of rectangular areas, and image binarization for binarizing the partial image signals and outputting a binarized partial image signal Means, signal inspection information generating means for obtaining signal inspection information based on horizontal projection and vertical projection of each of the binarized partial image signals, and the simple inspection by verifying the signal inspection information, The partial image signal inspecting means, which uses the partial image signal corresponding to the binarized partial image signal determined to require inspection as the inspection required signal, further comprising: No. processing apparatus.
画像信号であり、 前記簡易検査手段は、 前記画像信号を受け、前記画像信号を複数の部分画像信
号に分割する画像分割手段を備え、前記複数の部分画像
信号は前記所定の画像が複数の矩形領域に分割された部
分画像それぞれに対応し、 前記部分画像信号を二値化して二値化部分画像信号を出
力する画像二値化手段と、 前記二値化部分画像信号と所定の二値化基準信号とを比
較することにより前記簡易検査を行い、前記詳細検査を
行う必要性があると判定した前記二値化部分画像信号に
対応する部分画像信号を前記要検査信号とする部分画像
信号検査手段とをさらに備える、請求項1記載の信号処
理装置。3. The input signal is an image signal corresponding to a predetermined image, and the simple inspection means includes image division means for receiving the image signal and dividing the image signal into a plurality of partial image signals. , The plurality of partial image signals correspond to respective partial images in which the predetermined image is divided into a plurality of rectangular areas, and image binarization for binarizing the partial image signals and outputting a binarized partial image signal Means, the binarized partial image signal determined to need to perform the detailed inspection, by performing the simple inspection by comparing the binarized partial image signal and a predetermined binarized reference signal The signal processing device according to claim 1, further comprising a partial image signal inspection unit that uses a corresponding partial image signal as the inspection required signal.
画像信号であり、 前記簡易検査手段は、 前記画像信号を受け、前記画像信号を複数の部分画像信
号に分割する画像分割手段を備え、前記複数の部分画像
信号は前記所定の画像が複数の矩形領域に分割された部
分画像それぞれに対応し、 前記部分画像信号に対し畳み込みフィルタリング処理を
施してフィルタリング済み部分画像信号を出力するフィ
ルタリング手段と、 前記フィルタリング済み部分画像信号を検証材料として
前記簡易検査を行い、前記詳細検査を行う必要性がある
と判定した前記フィルタリング済み部分画像信号に対応
する部分画像信号を前記要検査信号とする部分画像信号
検査手段とをさらに備える、請求項1記載の信号処理装
置。4. The input signal is an image signal corresponding to a predetermined image, and the simple inspection means includes an image division means for receiving the image signal and dividing the image signal into a plurality of partial image signals. The plurality of partial image signals correspond to each of the partial images obtained by dividing the predetermined image into a plurality of rectangular regions, and a convolution filtering process is performed on the partial image signals to output a filtered partial image signal. And a portion in which the partial image signal corresponding to the filtered partial image signal determined to be necessary to perform the detailed inspection using the filtered partial image signal as the verification material is the required inspection signal The signal processing device according to claim 1, further comprising image signal inspection means.
トル軸のうち少なくとも一方の軸上で分割して得られる
部分音声信号に分割する音声分割手段と、 前記部分音声信号に対し音韻の始まりを検出し、前記部
分音声信号の音韻の始まりから所定長の信号を前記要検
査信号とする音声検査手段とを備える、請求項1記載の
信号処理装置。5. The partial audio obtained by receiving the audio signal and dividing the audio signal on at least one of a time axis and a spectrum axis, the input signal being an audio signal. A voice splitting unit for splitting the signal into a signal; and a voice checking unit for detecting a phoneme start of the partial voice signal, and a signal having a predetermined length from the start of the phoneme of the partial voice signal as the test-needed signal. Item 1. The signal processing device according to item 1.
手段をさらに備え、 前記簡易検査手段は前記簡易検査を行った後、前記要検
査信号を前記記憶手段に順次書き込み、前記詳細検査手
段は前記記憶手段から前記要検査信号を順次読み出し前
記詳細検査を行うことを特徴とする請求項1ないし請求
項5のいずれか1項に記載の信号処理装置。6. The storage device capable of reading and writing the inspection-required signal is further provided, wherein the simple inspection device writes the inspection-required signal in sequence in the storage device after performing the simple inspection, and the detailed inspection device includes: 6. The signal processing device according to claim 1, wherein the inspection-required signals are sequentially read out from the storage unit to perform the detailed inspection.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP6137239A JPH087103A (en) | 1994-06-20 | 1994-06-20 | Signal processor |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP6137239A JPH087103A (en) | 1994-06-20 | 1994-06-20 | Signal processor |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH087103A true JPH087103A (en) | 1996-01-12 |
Family
ID=15194032
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP6137239A Pending JPH087103A (en) | 1994-06-20 | 1994-06-20 | Signal processor |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH087103A (en) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2000002037A1 (en) * | 1998-07-07 | 2000-01-13 | Applied Materials, Inc. | A pixel-based method and apparatus for defect detection on patterned wafers |
-
1994
- 1994-06-20 JP JP6137239A patent/JPH087103A/en active Pending
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2000002037A1 (en) * | 1998-07-07 | 2000-01-13 | Applied Materials, Inc. | A pixel-based method and apparatus for defect detection on patterned wafers |
US6366690B1 (en) | 1998-07-07 | 2002-04-02 | Applied Materials, Inc. | Pixel based machine for patterned wafers |
US6810139B2 (en) | 1998-07-07 | 2004-10-26 | Applied Materials, Inc. | Pixel based machine for patterned wafers |
US7016526B2 (en) | 1998-07-07 | 2006-03-21 | Applied Materials, Inc. | Pixel based machine for patterned wafers |
US7454052B2 (en) | 1998-07-07 | 2008-11-18 | Applied Materials, Inc. | Pixel based machine for patterned wafers |
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