JPH07211011A - ディスク記憶装置のフォーマッティング方法 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【目的】量産されるディスク記憶装置の歩留まりを向上
しあるいはその記憶容量を増加させる。 【構成】ディスク記憶装置60のディスク１内に設定され
たトラックにフォーマッティングを所定のデータ転送レ
ートで施し、これらトラックに試験データを書き込んで
その読み取り試験を行ない、この試験中の読み取りエラ
ーの発生状態からヘッド３ごとに良否を判定して永久記
憶しておき、この判定結果により良とされたヘッドのみ
を用いてデータを読み書きすることによりディスク記憶
装置の不良品発生を防止する。さらには、良好なヘッド
のみを用いて転送レートを順次切り換えながら再度フォ
ーマッティングと試験データの書込読取試験を行ない、
最高転送レートでフォーマッティングを施して記憶容量
を増加させる。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は固定ディスク装置等のデ
ィスク記憶装置に対してその性能に適合したフォーマッ
ティングを施す方法に関する。

【０００２】

【従来の技術】周知のように、ディスク記憶装置にデー
タを読み書きするにはあらかじめそのディスクにフォー
マッティングを施しておく必要があるので、例えばフロ
ッピーディスク装置のようにディスクが交換可能な場合
を除いて、ディスク記憶装置の製造者側で完成試験の際
にそのディスク内にトラックをまず設定した後、装置の
仕様や用途に合わせてこのフォーマッティングを施した
上で客先に出荷ないしは納入するのが通例である。

【０００３】フォーマッティングを施す前の各ディスク
面にはいわゆるサーボ情報等を書き込むことにより多数
のトラックが設定されており、フォーマッティングの際
にはこれらトラックにデータの単位記録領域であるセク
タを設定するためにトラック番号やセクタ番号等の照合
データや同期化用のデータを含むフォーマッティングデ
ータが書き込まれる。フォーマッティングされたディス
ク記憶装置にはホスト計算機からデータを読み書きすべ
きセクタのいわゆる論理アドレスが指定され、ディスク
記憶装置側ではこれをその内部のトラック番号やセクタ
番号である物理アドレスに自動的に換算するので、計算
機側からはかかる装置内アドレスを全く意識することな
くデータを読み書きすることができる。

【０００４】ディスクへのデータの読み書き速度である
読取信号や書込信号の転送レートはふつうはディスク記
憶装置の機種ごとにあらかじめ選定されており、ディス
クをフォーマッティングする際はこれと同じ転送レート
で上述のフォーマッティングデータを各トラック内に書
き込んでそれに応じた個数のセクタを設定する。この転
送レートはディスクの記録媒体の性能に応じてディスク
記憶装置の記憶容量を最大にするように設定される。い
わゆるＣＤＲ方式のディスク記憶装置ではこの転送レー
トをディスク面を径方向に分割した複数のゾーンごとに
切り換えるが、各ゾーンに対し転送レートがあらかじめ
設定される点は同じである。

【０００５】なお、最近ではディスク記憶装置のアクセ
スタイムを短縮するため各ディスク面に対して複数個の
ヘッドを設け、これらヘッドを順次切り換えながらデー
タを読み書きし、あるいは複数ヘッドを介し対応する複
数トラックにデータを同時に並行して読み書きする等の
種々の試みがなされている。

【０００６】

【発明が解決しようとする課題】しかし、上述のような
従来のフォーマッティング方法ではディスク記憶装置の
量産工程の完成試験時に不良品が若干とも発生するのを
避け得ない問題があり、あるいは各装置ごとにその実際
の性能に合わせて最大記憶容量を必ずしも賦与し切れな
いうらみがある。容易にわかるように不良発生率を減少
させるには上述の転送レートの設定値を下げるのが最も
簡単ではあるがもちろん装置の記憶容量の減少との兼ね
合いになり、不良発生をほぼ完全に防止できるほとに転
送レートを下げると記憶容量の方が著しく減少してしま
う矛盾がある。

【０００７】また、量産されるディスク記憶装置のディ
スクの記録媒体やヘッドの性能には必ずばらつきがあ
り、転送レートは装置不良の発生率が許容限度内になる
ように設定されるから、従来のフォーマッティング方法
ではかなり多数のディスク記憶装置を記録媒体やヘッド
が実際に備えている性能からみて実力以下の記憶容量で
使用しなければならなくなる。

【０００８】かかる現状に鑑み、本発明の第１の目的は
量産されるディスク記憶装置の製造歩留まりを向上する
ことにあり、第２の目的は各ディスク記憶装置に対して
許容可能な最大限の記憶容量をもたせることにある。

【０００９】

【課題を解決するための手段】本発明によれば上記の第
１の目的は、ディスク記憶装置のディスク面内に設定さ
れたトラックに対しまず所定のデータ転送レートでフォ
ーマッティングを施すステップと、これらのトラックに
試験データを書き込んでその読取試験を行なうステップ
と、この試験による読取エラーの発生状態からヘッドご
とに良否を判定するステップと、この試験の結果から良
とされたヘッドのみを用いるよう所定の永久記憶領域に
試験結果を記録するステップとを含むフォーマッティン
グ方法によって達成される。なお、この場合には各ディ
スク面ごとに複数，例えば２個のヘッドを設けておき、
上述のディスクをフォーマッティングするステップと試
験データの書込読取試験ステップをこれらのヘッドを用
いて施すのが、試験結果が不良な場合の記憶容量の減少
を防止する上で、さらには試験結果が良の場合には複数
のヘッドを用いてデータを同時に並行して読み書きする
ことによりアクセスタイムを短縮できる点で有利であ
る。

【００１０】また上記の第２の目的は、上述のフォーマ
ッティング方法に引き続いてそれによる試験結果が良好
なヘッドを用いて転送レートを順次に切り換えながらさ
らにフォーマッティングと試験データの書込読取試験を
進めて行き、試験結果が良な限度内でデータ転送レート
が最高になるようにディスクにフォーマッティングを施
すことによって達成される。なお、この場合のフォーマ
ッティングを施す転送レートは第１の目的のためのフォ
ーマッティングステップ時の転送レートよりももちろん
高いめに選定し、さらに試験データの書込読取ステップ
における試験の精度もより高く設定するのが望ましい。

【００１１】

【作用】本発明は量産されるディスク記憶装置では同構
造の装置でも種々な記憶容量の装置に対する需要があ
り，かつ装置ごとにフォーマッティング内容が異なって
も計算機から同じ要領でデータを読み書きできる点に着
目したもので、装置ごとにその性能に適したフォーマッ
ティングを施すことにより所期の目的の達成に成功した
ものである。

【００１２】すなわち、装置の製造歩留まりを向上する
第１の目的に対しては前項の構成にいうように、所定の
データ転送レートでディスクにフォーマッティングを施
した上で試験データを書き込んで読取試験を行ない、こ
の際の読取エラーの発生状態からヘッドごとに良否を判
定してその結果を永久記憶領域に記録しておき、あるヘ
ッドの試験結果が例え不良であっても良なヘッドのみを
用いて記憶容量が小なディスク記憶装置として活用する
ことにより目的を達成する。また、装置の記憶容量を向
上させる第２の目的に対しては、試験結果が良好なヘッ
ドを用いて転送レートを順次切り換えながらフォーマッ
ティングと試験データの書込読取試験をさらに進め、試
験結果が良な限度内でデータ転送レートが最高になるよ
うフォーマッティングを施すことによって目的を達成す
る。

【００１３】

【実施例】以下、図を参照しながら本発明の実施例を具
体的に説明する。図１は本発明のフォーマッティング方
法の実施に適するディスク記憶装置の構成を例示するそ
の構成回路図であり、図２は本発明方法によるフォーマ
ッティングの要領例を示す流れ図である。なお、両図に
は上述の製造歩留まりを向上する第１の目的と記憶容量
を向上させる第２の目的を同時に達成する実施例をディ
スク面ごとに複数のヘッドを設ける場合について示す
が、本発明は第１の目的だけを達成する場合やディスク
面ごとに単一のヘッドを設ける場合にも適用できる。

【００１４】図１の上部に示すディスク記憶装置60の機
構部にはディスク１と，それを定速回転させるスピンド
ルモータ２と，図示の例ではディスク面ごとに２個ずつ
設けられたヘッド３と，それを支承する揺動アーム４
と，アクチュエータ５を含み、アクチュエータ５をその
駆動回路６を介し駆動することにより、ディスク１内の
ヘッド３の径方向位置を操作するようになっている。

【００１５】通例のようにすべてのヘッド３は可撓性リ
ードを介してリードライト回路７と接続され、ヘッド選
択指令HSにより指定されたヘッド３がリードライト指令
RWに応じて読み取りないし書き込み状態に置かれるが、
この実施例では３〜数ビット構成のヘッド選択指令HSに
より同じディスク面に対応する２個のヘッド３の同時選
択が可能なものとする。これに対応して２個設けられた
信号処理回路８はそれぞれ通例のようにリードライト回
路７からアナログ読取信号RSａを受けて所定の変調方式
の読取信号RSに変換してそれからいわゆる同期化信号を
分離する役目を果たす。エンコーダ・デコーダ回路９も
２個設けられ、それぞれ信号処理回路８から読取信号RS
を受けまたは同じ変調方式の書込信号WSをリードライト
回路７に与える動作を行なう。

【００１６】同様に２個設けられた変換回路10はこのエ
ンコーダ・デコーダ回路９から読取信号RSをデコードし
たパルス列信号を受けてデータに変換し、あるいはデー
タをパルス列信号に変換してエンコーダ・デコーダ回路
９に与えて書込信号WSにエンコードさせる。２個の変換
回路10とデータを交換する転送制御回路11はアドレスバ
ス12とデータバス13を介しＲＡＭ14と接続される。その
右側に示すデータプロセッサ20は計算機とのコマンド交
換やデータ転送の制御用で、システムバス21とインタフ
ェース回路22と外部バス23を介して図示しない計算機と
接続され、かつ転送制御回路11とも制御バス24を介して
接続される。転送制御回路11はこの制御バス24を介する
指令に応じて、データの読み取り時にはデータを変換回
路10から交互にＲＡＭ14に転送して記憶させ、書き込み
時にはデータをＲＡＭ14から変換回路10に振り分けて転
送し、計算機とデータを交換ないし転送する際にはデー
タバス13を介してＲＡＭ14をシステムバス21に接続す
る。

【００１７】図の右側に示された制御プロセッサ30はヘ
ッド３の移動および位置制御を含むディスク記憶装置60
内の機構部および読み書き関連回路に対する制御用であ
り、上述のデータプロセッサ20と連絡バス25を介する連
系下で動作するようになっており、前述の駆動回路６に
対してそのＤＡ変換部6aに制御データCDを与えてそのア
ナログ出力部6bにアクチュエータ５をそれに応じて駆動
する動作をさせ、かつリードライト回路７等に対して前
述のヘッド選択指令HSとリードライト指令RWを出力する
等の役目を果たす。

【００１８】以上のように構成されたディスク記憶装置
60に本発明方法を実施させるため、そのデータプロセッ
サ20にフォーマッティング手段40をそのソフトウエアと
して装荷し、かつこれに関連してこの実施例ではクロッ
ク回路41を設けてこれに指定データSDを与えてエンコー
ダ・デコーダ回路９と変換回路10に対しデータの転送レ
ートを指定するクロックパルスCPを出力させるととも
に、フォーマッティング手段40から信号処理回路８に対
して試験データの読み取り試験時に後述のシフト時間τ
を指定できるようにする。

【００１９】なお、このフォーマッティング手段40に関
連してヘッド位置制御手段50が制御プロセッサ30内にそ
のソフトウエアとして装荷されている。このヘッド位置
制御手段50はディスク記憶装置60に通常組み込まれてい
る参照情報検出回路51と関連して動作し、ディスク１の
面内に書き込まれているヘッド３が現在あるトラック番
号やその中心からのずれを表すサーボ情報を前述のアナ
ログ読取信号RSａからそれにより読み取った検出データ
DDを受け、ヘッド３を所望のトラックまで移動させかつ
その中心に正確に位置決めするようにアクチュエータ５
の駆動回路６に前述の制御データCDを出力する動作を行
なう。

【００２０】次に、本発明方法によりディスク記憶装置
60に対しフォーマッティングを施す要領の例をフォーマ
ッティング手段40の動作を示す図２の流れ図を参照しな
がら説明する。図２の上半分が前述の製造歩留まりを向
上する第１の目的に関連し、下半分が記憶容量を向上さ
せる第２の目的に関連する。図は煩雑を避けるためにデ
ィスクの１面についての動作を示し、図示の流れはディ
スク記憶装置60の完成試験の際にそのディスク１に上述
のトラック番号やサーボ情報を含む参照情報を書き込ん
で各面内に多数のトラックを設定した後に起動される。

【００２１】最初のステップＳ11では転送レートを指定
するクロックパルスCPの周波数ｆをクロック回路41に与
える指定データSDによって高いめの周波数faに設定し、
かつヘッド位置制御手段50に２個のヘッド３の一方をデ
ィスク１内の先頭トラックTsまで移動させるいわゆるシ
ーク動作を行なわせる。次のステップＳ12ではフォーマ
ッティングデータFDを書き込むことによってまずフォー
マッティングを施し、かつこれに試験データTDを書き込
んだ上で、直ちにこの試験データTDを読み取る読取試験
を引き続いて行なう。

【００２２】フォーマッティングの際に書き込まれるフ
ォーマッティングデータFDは通例のようにトラック番号
やヘッド番号等の照合データとデータの読み書き用の同
期化データを含み、制御バス24を介する制御下でシステ
ムバス21と転送制御回路11とデータバス12を介してＲＡ
Ｍ14に一旦記憶させた後、これから転送制御回路11と変
換回路10とエンコーダ・デコーダ回路９を介し書込信号
WSの形でリードライト回路７に与えられる。試験データ
TDは読み書き上のいわゆるワーストパターンをもつデー
タ, 例えば16進法のF1B6を含む種々なデータを組み合わ
せ編集した後、同様にＲＡＭ14内に一旦記憶させた上で
書込信号WSとしてリードライト回路７に与える。読取試
験時には試験データTDを読み取ってＲＡＭ14に記憶さ
せ、これをシステムバス21を介してデータプロセッサ20
に読み込む。なお、ステップＳ12における以上の動作は
この実施例では２個のヘッド３に対応する２個のトラッ
クに対し同時に並行して進められる。

【００２３】次のステップＳ13では読み込んだ試験デー
タTDがその編集時と比較することによりエラーがあるか
否かを判定し、否の場合は直ちに, エラーありの場合は
続くステップＳ14でエラー内容を記憶した上でそれぞれ
動作をステップＳ15に移す。ステップＳ14ではエラーの
内容として例えばヘッド番号, トラック番号，セクタ番
号，エラーデータ数，エラーの種別等を記憶しておくの
がよい。ステップＳ15ではヘッドが最終トラックTeにあ
るか否かを調べ、否である限りステップＳ16でヘッド３
を次のトラック, 例えば２トラックピッチ分移動させた
上で流れを前のステップＳ12に戻して同じ動作を繰り返
す。

【００２４】ヘッド３を移動させながら上記動作を繰り
返して最終トラックTeに達したとき流れはステップＳ15
からループを出てステップＳ17に入り、前のステップＳ
14で記憶したエラー内容をヘッドごとに整理しかつヘッ
ド番号変数ｉに０に入れる。次のステップＳ18ではｉ番
目のヘッドに対するエラー回数等を規定値と比較してｉ
番目のヘッドに関する良否を判定し、良の場合はステッ
プＳ19でｉ番目の試験結果Giを１とし、否の場合はステ
ップＳ20でこれを０とする。いずれの場合でもステップ
Ｓ21でこの試験結果Giを所定の記憶領域に記録した上で
ステップＳ23で変数ｉがその最大値imに達したか否かを
判定して、否である限りステップＳ23で変数ｉの値を歩
進させて動作をステップＳ18に戻す。

【００２５】なお、上述のステップＳ21においては試験
結果Giをもちろん永久記憶するのが望ましく、このため
ＰＲＯＭも利用できるがディスク記憶装置の場合はいわ
ゆるシステム記憶領域であるディスク１内の例えば最外
径トラックにこれを書き込むことにより永久記憶してお
くのがよい。本発明方法ではこのように永久記録した試
験結果Giが０ないし不良であるヘッドを以後は一切使用
せず、それが１ないし良であるヘッドのみをデータの読
み書きに使用する。試験結果Giの記録完了後に動作はス
テップＳ22から図２の下半分に示す流れに移る。

【００２６】ステップＳ31以降のこの流れではディスク
記憶装置60の記憶容量をできるだけ増加させるため、デ
ータの転送レートを指定するクロックパルスCPの周波数
ｆを切り換えながらフォーマッティングと試験データの
書込読取試験を進める。この実施例では周波数ｆを例え
ば40ＭHz程度の最高周波数faからその85％のfbおよび70
％のfcの３段に切り換える。もちろん、これら周波数は
各トラック内に整数のセクタをちょうど設定できるよう
に選定するのがよい。最初のステップＳ31では上述の周
波数ｆとしてfaを指定し、かつ試験データの読み取り時
に用いるシフト時間τにこのfaに応じたτａを入れて信
号処理回路８内の同期分離部に与える。なお、このシフ
ト時間τは例えば 1.5〜３nSの範囲内に設定するのがよ
い。次のステップＳ32では制御プロセッサ30内のヘッド
位置制御手段50にヘッド３を先頭トラックTsまで移動さ
せるシーク動作を行なわせる。

【００２７】ステップＳ33では前の試験結果が良であっ
たヘッド３のみを介してフォーマッティングデータFDを
周波数ｆのクロックパルスCPに同期して書き込むことに
よりトラックにフォーマッティングを施すとともにそれ
に試験データTDを書き込み、次のステップＳ34ですぐこ
の試験データTDを読み取る。前述の信号処理回路８に指
定されているシフト時間τは、試験データTDを読み取っ
た読取信号RSの波形に生じ得る時間的なゆらぎであるい
わゆるジッターに対するマージンないし余裕をもたせる
ため、ディスク記憶装置60の実際の運転状態よりデータ
を読み難くするためのものである。続くステップＳ35で
はこの状態で読み取った試験データTDにエラーがあるか
否かを判定する。この判定の際には試験データTDに通例
のようにエラーコードが付いているので、それによって
もエラーの修正が不可能な場合に限ってエラーありと判
定するのがよい。

【００２８】エラーありの場合はステップＳ40以降の動
作に移るが、エラーなしの限り次のステップＳ36でシフ
ト時間τが正か否かを判定し、然りの場合はステップＳ
37でシフト時間τを負にし, つまり逆方向にシフトさせ
た上で動作をステップＳ34に戻して同じ動作を繰り返
す。この状態でもエラーなしの場合はステップＳ36から
ステップＳ38に動作が移り、ヘッド３が最終トラックTe
に到達しているか否かを判定し、否である限りステップ
Ｓ39でヘッド３を次のトラックに移動させ、かつシフト
時間τを元の正の値に戻した上で流れをステップＳ33に
戻して同じ動作を繰り返す。このステップＳ39ではヘッ
ド３をディスク面ごとの良好なヘッド数に対応するトラ
ックピッチ分ずつ移動させる。

【００２９】かかる動作をディスク１の各面のすべての
トラックにつき繰り返し、かつ試験データTDの読み取り
がすべてエラーなしであった場合、流れはステップＳ38
からループを抜けて終了し、かつ同時にディスク１に対
する周波数faに対応する転送レートによるフォーマッテ
ィングもこれで完了になる。しかし、試験データTDの読
み取りにエラーがこの実施例では１回でも発生すると流
れはステップＳ35からステップＳ40に入り、周波数ｆが
前述のfbより大か否かを調べる。いまは判定は然りであ
るから、動作はステップＳ41に移って周波数ｆにfbを入
れ、かつシフト時間τにτｂを入れた上で流れをステッ
プＳ32に戻し、前よりも低い周波数fbに対応する転送レ
ートで同じ動作を繰り返す。

【００３０】これでもまだエラー発生があると動作はス
テップＳ35からステップＳ40を経由してステップＳ42に
移り、周波数ｆがfcより大か否かを調べかつステップＳ
43で周波数ｆにfc, シフト時間τにτｃをそれぞれ入れ
た上で流れをステップＳ32に戻して同じ動作を繰り返
す。この最低周波数fcでもなおエラーの発生があると、
ステップＳ42から図では破線で示すようになんらかの表
示ないし報告をした後に流れを終結させる。かかる最悪
の場合を除いて、以上説明したステップＳ31からステッ
プＳ43までの流れによってふつうは周波数fa, fbまたは
fcに対応する転送レートでディスク１がフォーマッティ
ングされ、そのままの状態でディスク記憶装置60を直ち
に使用に供することができる。また、最高周波数faの値
を合理的に設定することによりディスク１の記録媒体や
ヘッド３の性能に合わせてディスク記憶装置60に最大限
の記憶容量を賦与することができる。

【００３１】以上説明した本発明のフォーマッティング
方法を実施した結果では、ディスク記憶装置60のヘッド
３の不良が２個以上発生する確率はほぼ皆無である。ふ
つうディスク１の枚数は２〜３で最低でも４個のディス
ク面があるから、各面ごとのヘッド数が１の場合でも１
個のヘッドの不良による記憶容量の減少は25％以下であ
る。ディスク枚数が１で各面のヘッド数が１の場合は記
憶容量が50％減少することになるが、それでも 3.5イン
チのディスク径では数十〜100 MBの記憶容量があるので
小容量の用途向きに充分利用できる。また、実施例のよ
うにディスク面ごとに複数のヘッド３を設ければ不良ヘ
ッドによる記憶容量の減少は実質上なくなり、かつ複数
ヘッドを介してデータを同時並行的に読み書きするよう
にすればデータの実効アクセスタイムをほぼヘッド数分
の１に短縮できる。

【００３２】以上説明した実施例に限らず本発明は種々
の態様で実施をすることができる。図１に示したディス
ク記憶装置の構成や図２に示したフォーマッティング手
段の動作はあくまで例示であって、実際には本発明の要
旨内で必要ないし場合に応じ種々変形された態様で実施
が可能である。例えば、図１のように各ディスク面に複
数のヘッドを設ける場合でも、実施例のようにそれらを
介して同時に並行してデータを読み書きできるようにす
る必要はない。また、図２の下半分の流れでは読み取り
エラーが１回でも発生すれば転送レートを指定する周波
数を切り換えるようにしたが、図の上半分のようにエラ
ー発生のつどその内容を記憶しておいてディスク面全体
の試験を終了した後にこれを整理した上で周波数の適否
を改めて判定するようにしてもよい。

【００３３】また、図２の流れ図ではディスク面全体に
亘って同じ転送レートでフォーマッティングを施すよう
にしたが、前述の転送レートをゾーンごとに切り換えて
行くＣＤＲ方式のディスク記憶装置にも本発明方法をも
ちろん適用できる。さらに、実施例では同じトラックに
対しフォーマッティングデータと試験データを順次に書
き込むようにしたが、実際には両データを同時に書き込
んでしまう方が有利である。もちろん、両データの書き
込みステップを完全に分離して各ディスク面の全トラッ
クに対してフォーマッティングをまず施しておいた上
で、試験データの書き込みステップとその読み取り試験
のステップを各トラックごとに引き続いて行なうように
してもよい。

【００３４】

【発明の効果】以上のとおり本発明方法では、同じ構造
のディスク記憶装置であっても種々な記憶容量に対する
需要があり，装置ごとにフォーマッティング内容が異な
っても計算機からは同じ要領でデータを読み書きできる
点に着目して、各ディスク面に設定されたトラックに所
定の転送レートでフォーマッティングを施し、かつ試験
データをトラックに書き込んでその読み取り試験を行な
い、この試験による読取エラーの発生状態からヘッドご
とに良否を判定し、この判定結果を所定の領域に記録し
ておいて良とされたヘッドのみを用いて実際のデータの
読み書きを行なうようにし、さらには良なヘッドのみを
用いてデータ転送レートを切り換えながらフォーマッテ
ィングと試験データの書込読取試験を行なった上で、最
高のデータ転送レートによるフォーマッティングをディ
スクに施すことにより、次の効果を上げることができ
る。

【００３５】(a) ディスク記憶装置にヘッド不良が発生
しても装置を不良品とすることなく良なヘッドのみを用
いて小記憶容量の装置として使用することにより量産装
置の製造歩留まりを向上できる。本発明方法の実施結果
では２個以上のヘッド不良が発生する確率はほぼ皆無で
あり、１個のヘッドが不良でもディスクが２〜３枚のふ
つうの装置では記憶容量の減少は25％以下で済み、１枚
ディスクで各面ごとのヘッドが１個の場合でも記憶容量
が数十〜100 MBの装置として使用できる。

【００３６】(b) ディスク記憶装置ごとにディスクの記
録媒体やヘッドがもつ性能から許容される最高の転送レ
ートでフォーマッティングを個別に施すことにより、装
置の機種ごとにあらかじめ設定した転送レートでフォー
マッティングを施す従来方法よりも記憶容量を平均して
20％程度増加させることができる。さらに、各ディスク
面ごとに複数個のヘッドを設け、ヘッドごと本発明方法
を実施することによって、次の効果が得られる。

【００３７】(c) 各ディスク面に対応するヘッドがすべ
て不良になる確率がほぼ皆無なのでディスク記憶装置の
記憶容量を減少させることなく歩留まりを向上できる。 (d) 実施例のように複数個のヘッドを介してデータを同
時に並行して読み書きするように構成すれば、ディスク
記憶装置の実効アクセスタイムをほぼヘッドの個数分の
１に短縮することができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明のフォーマッティング方法の実施に関連
するディスク記憶装置の構成を例示する構成回路図であ
る。

【図２】本発明方法によるフォーマッティングの要領例
を示す流れ図である。

【符号の説明】

１ ディスク ３ ヘッド ７ リードライト回路 ８ 読取信号用信号処理回路 ９ エンコーダ・デコーダ回路 10 信号とデータ用の変換回路 11 データの転送制御回路 14 データを一時記憶するＲＡＭ 20 ディスク記憶装置のデータプロセッサ 30 ディスク記憶装置の制御プロセッサ 40 フォーマッティング手段 50 ヘッド位置制御手段 60 ディスク記憶装置 CP 転送レート指定用クロックパルス ｆ クロックパルスの周波数 FD フォーマッティングデータ Gi ｉ番目のヘッドの良否を示す試験結果 ｉ ヘッド番号の変数 RS データの読取信号 τ 試験データ読み取り用シフト時間 TD 試験データ WS データの書込信号

Claims (3)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】ディスク記憶装置のディスク内に設定され
   たトラックにフォーマッティングを所定のデータ転送レ
   ートで施すステップと、これらのトラックに試験データ
   を書き込んでその読取試験を行なうステップと、この試
   験による読取エラーの発生状態からヘッドごとに良否を
   判定するステップと、これにより良とされたヘッドのみ
   を用いるように所定の領域に試験結果を記録するステッ
   プとを含むことを特徴とするディスク記憶装置のフォー
   マッティング方法。
2. 【請求項２】請求項１に記載の方法において、試験結果
   が良なヘッドのみを用いてデータ転送レートを切り換え
   ながらさらにフォーマッティングおよび試験データの書
   込読取試験を行ない、試験結果が良な最高のデータ転送
   レートによるフォーマッティングがディスクに施される
   ようにしたことを特徴とするディスク記憶装置のフォー
   マッティング方法。
3. 【請求項３】請求項１に記載の方法において、各ディス
   ク面ごとに複数個のヘッドを設け、ヘッドごとにディス
   クをフォーマッティングするステップおよび試験データ
   の書込読取試験ステップを施すようにしたことを特徴と
   するディスク記憶装置のフォーマッティング方法。