JPH07204195A - Ctスキャナ装置、その使用方法およびctスキャン方法 - Google Patents
Ctスキャナ装置、その使用方法およびctスキャン方法Info
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- JPH07204195A JPH07204195A JP6336908A JP33690894A JPH07204195A JP H07204195 A JPH07204195 A JP H07204195A JP 6336908 A JP6336908 A JP 6336908A JP 33690894 A JP33690894 A JP 33690894A JP H07204195 A JPH07204195 A JP H07204195A
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 再構成データとその結果生じた画像の分解能
を最高利用するCTスキャナ装置を提供する。 【構成】 CTスキャナ装置(10)はX線源(12)
を備え、ここから複数のX線ファンが試験領域を通って
複数の放射線検知器リングに送られる。ファン・ビーム
間のギャップはコリメータ(18)の可変セプタムによ
り調節され、ファン・ビーム幅は外側のコリメータ要素
により調節される。X線源(12)は、被験者台(3
0)が縦方向に試験領域を通っていく間、試験領域の回
りを回転し、それによりX線ファンはインターリーブさ
れたスパイラル軌道に沿って移動する。各X線ファンか
らの放射減衰データは、結合された後、縦軸と直交する
平行なスライスに沿って複数の画像に再構成される。X
線ビーム間の間隔はスパイラルの有効ピッチとの関連で
調節され、それによりX線ファンの先導エッジが縦軸の
回りにおいて、180°/Nの角度間隔で共通の横行平
面に交差する。
を最高利用するCTスキャナ装置を提供する。 【構成】 CTスキャナ装置(10)はX線源(12)
を備え、ここから複数のX線ファンが試験領域を通って
複数の放射線検知器リングに送られる。ファン・ビーム
間のギャップはコリメータ(18)の可変セプタムによ
り調節され、ファン・ビーム幅は外側のコリメータ要素
により調節される。X線源(12)は、被験者台(3
0)が縦方向に試験領域を通っていく間、試験領域の回
りを回転し、それによりX線ファンはインターリーブさ
れたスパイラル軌道に沿って移動する。各X線ファンか
らの放射減衰データは、結合された後、縦軸と直交する
平行なスライスに沿って複数の画像に再構成される。X
線ビーム間の間隔はスパイラルの有効ピッチとの関連で
調節され、それによりX線ファンの先導エッジが縦軸の
回りにおいて、180°/Nの角度間隔で共通の横行平
面に交差する。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、CT(X線断層撮影)
スキャナ装置、その使用方法およびCTスキャン方法に
関するものである。医療診断目的のスパイラル容量画像
式CTスキャナ装置とその方法に関連した特殊応用であ
り、詳細な参照を用いて説明される。しかし、本発明
は、例えば、内部構造や欠陥を検知する画像表示製品
等、他の種類のCTスキャナ装置と方法とも関連した出
願であるということも認識されたい。
スキャナ装置、その使用方法およびCTスキャン方法に
関するものである。医療診断目的のスパイラル容量画像
式CTスキャナ装置とその方法に関連した特殊応用であ
り、詳細な参照を用いて説明される。しかし、本発明
は、例えば、内部構造や欠陥を検知する画像表示製品
等、他の種類のCTスキャナ装置と方法とも関連した出
願であるということも認識されたい。
【0002】
【従来の技術】従来のスパイラルやらせんCTスキャン
では、X線管は、被験者台が一定の線速度で移動する
間、連続的に回転する。この方法においては、収集され
たデータが、被験者を通る一定ピッチのらせん経路を効
果的に示す。スパイラルCTスキャナ装置の中には、第
二のスパイラルスキャンが、リトレース後に同方向に収
集されるか、あるいはリトレース中に反対方向に収集さ
れるかのどちらかとなるものもある。リトレースとは、
被験者台が最初の始動位置に戻ることである。
では、X線管は、被験者台が一定の線速度で移動する
間、連続的に回転する。この方法においては、収集され
たデータが、被験者を通る一定ピッチのらせん経路を効
果的に示す。スパイラルCTスキャナ装置の中には、第
二のスパイラルスキャンが、リトレース後に同方向に収
集されるか、あるいはリトレース中に反対方向に収集さ
れるかのどちらかとなるものもある。リトレースとは、
被験者台が最初の始動位置に戻ることである。
【0003】リトレース後にデータの第二のらせん経路
を収集するのではなく、第二、またはそれ以上の複数の
らせん経路に沿ったデータが第一のらせんと同時に収集
できる。多数の検知器リングにより、二つ、またはそれ
以上のらせん経路に沿ったデータが同時に収集できるの
である。
を収集するのではなく、第二、またはそれ以上の複数の
らせん経路に沿ったデータが第一のらせんと同時に収集
できる。多数の検知器リングにより、二つ、またはそれ
以上のらせん経路に沿ったデータが同時に収集できるの
である。
【0004】通常、画像データは、被験者の縦軸を横行
する一連の平行平面画像、あるいはスライスとして保管
されたり、扱われたりする。もっと明確に言えば、収集
された平面スライスは、まさに、画像情報の立体長方形
マトリクスとして扱われている。つまり、らせん経路に
沿って収集されたデータは、一連の平面スライスに再構
成されるのである。
する一連の平行平面画像、あるいはスライスとして保管
されたり、扱われたりする。もっと明確に言えば、収集
された平面スライスは、まさに、画像情報の立体長方形
マトリクスとして扱われている。つまり、らせん経路に
沿って収集されたデータは、一連の平面スライスに再構
成されるのである。
【0005】スパイラルデータから画像スライスを再構
成する技術の一つとしては、スパイラルデータを平面デ
ータに転換する場合に補間や加重を利用するものがあ
る。例えば、各平面において、平面のどちらの側にも最
も近い二つのスパイラルの中の対応する放射線を補間し
て、平面データ・セットの一つの放射線を生成するので
ある。これと同様の補間処理が、例えば、180°プラ
スのファン・ビーム・データ・セット等の完全なデータ
・セットの各放射線に対して繰り返されるのである。そ
の後このデータは、従来の再構成技術を利用して平面画
像表示に再構成することができる。
成する技術の一つとしては、スパイラルデータを平面デ
ータに転換する場合に補間や加重を利用するものがあ
る。例えば、各平面において、平面のどちらの側にも最
も近い二つのスパイラルの中の対応する放射線を補間し
て、平面データ・セットの一つの放射線を生成するので
ある。これと同様の補間処理が、例えば、180°プラ
スのファン・ビーム・データ・セット等の完全なデータ
・セットの各放射線に対して繰り返されるのである。そ
の後このデータは、従来の再構成技術を利用して平面画
像表示に再構成することができる。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】再構成データと、その
結果生じた画像の分解能を最高利用するには、らせんの
ピッチを最小限にすること、つまり、回転毎の被験者台
の縦方向の移動を最小限にすることが有効である。しか
し、ピッチはしばしば選択された画像容量の大きさ、及
び選択されたデータの収集期間から抑制を受ける。被検
体が人間の場合は、特に器官が動いている場所において
は、器官移動による画像低下が最小限となるよう、ボリ
ューム・スキャンは十分かつ早急に行われなければなら
ない。ひとたび画像スキャン時間と容量が設定される
と、ピッチは抑制される。
結果生じた画像の分解能を最高利用するには、らせんの
ピッチを最小限にすること、つまり、回転毎の被験者台
の縦方向の移動を最小限にすることが有効である。しか
し、ピッチはしばしば選択された画像容量の大きさ、及
び選択されたデータの収集期間から抑制を受ける。被検
体が人間の場合は、特に器官が動いている場所において
は、器官移動による画像低下が最小限となるよう、ボリ
ューム・スキャンは十分かつ早急に行われなければなら
ない。ひとたび画像スキャン時間と容量が設定される
と、ピッチは抑制される。
【0007】もう一つ、分解能を最高利用するための要
因として、隣接する検知器リングの間隔がある。一見、
検知器間隔を最小限にすれば分解能が最高利用できると
思われがちだ。しかし、ここにおける発明者は、検知器
間隔を最小限にすることは、ほとんどの場合において分
解能を最高利用することにはならないという結論を下し
ている。
因として、隣接する検知器リングの間隔がある。一見、
検知器間隔を最小限にすれば分解能が最高利用できると
思われがちだ。しかし、ここにおける発明者は、検知器
間隔を最小限にすることは、ほとんどの場合において分
解能を最高利用することにはならないという結論を下し
ている。
【0008】これまで、二重スライス・スパイラルCT
スキャンは、X線フォトン利用においてのみ役立つと考
えられていた。インターリーブされたスパイラルを二つ
使用することが、必ずしもより高い分解能データを生成
することにはならない。データの多くは余分か、部分的
に余分なのである。つまり、データは完全に、あるいは
部分的に重複した放射線に沿って取られているのであ
る。余分な放射線は結合され、X線フォトン利用を倍加
するが、一般にサンプリングを倍加することはない。
スキャンは、X線フォトン利用においてのみ役立つと考
えられていた。インターリーブされたスパイラルを二つ
使用することが、必ずしもより高い分解能データを生成
することにはならない。データの多くは余分か、部分的
に余分なのである。つまり、データは完全に、あるいは
部分的に重複した放射線に沿って取られているのであ
る。余分な放射線は結合され、X線フォトン利用を倍加
するが、一般にサンプリングを倍加することはない。
【0009】本出願は、上記の問題を克服するCTスキ
ャナ装置、その使用方法及びCTスキャン方法を提供す
るものである。
ャナ装置、その使用方法及びCTスキャン方法を提供す
るものである。
【0010】
【課題を解決するための手段】本発明の一つの態様によ
れば、被験者台、X線源、X線源を台の回りで回転させ
る手段、被験者を横行したX線源からの放射を受け取る
ための複数の検知器アーク、そして、X線が少なくとも
二つの、ソースと検知器アーク間のおおむね平行なファ
ン形状の経路(ここでX線ファンは、検知器アークから
の出力データを容量画像表示に最構成するための手段の
回りを同時にらせん状に進む)に沿って被験者を横行す
るよう、X線源の回転運動、及びそれと関連する被験者
台とX線源・検知器アーク間の縦方向の運動を調節する
手段、さらには、X線ファンの有効間隔と幅を調節する
手段を有するスパイラルCTスキャナ装置が提供され
る。
れば、被験者台、X線源、X線源を台の回りで回転させ
る手段、被験者を横行したX線源からの放射を受け取る
ための複数の検知器アーク、そして、X線が少なくとも
二つの、ソースと検知器アーク間のおおむね平行なファ
ン形状の経路(ここでX線ファンは、検知器アークから
の出力データを容量画像表示に最構成するための手段の
回りを同時にらせん状に進む)に沿って被験者を横行す
るよう、X線源の回転運動、及びそれと関連する被験者
台とX線源・検知器アーク間の縦方向の運動を調節する
手段、さらには、X線ファンの有効間隔と幅を調節する
手段を有するスパイラルCTスキャナ装置が提供され
る。
【0011】本発明の第2の態様によれば、被験者台、
X線源、X線源を台の回りで回転させる手段、被験者を
横行したX線源からの放射を受け取るための複数の検知
器アーク、そして、X線が少なくとも二つの、ソースと
検知器アーク間のおおむね平行なファン形状の経路(こ
こでX線ファンは、被験者の回りを縦オフセット関係に
おいて同時にらせん状に進む)に沿って被験者を横行す
るよう、X線源の回転運動、及びそれと関連する被験者
台と縦軸上のX線源・検知アーク間の縦方向の運動を調
節する手段を有するスパイラルCTスキャナ装置の使用
方法が提供され、その使用方法には、分解能を最高利用
するためにX線ファン間の間隔を選択的に調節する、フ
ァン間隔調節後、同時にファンを被験者台の回りで回転
させ、検知器アークで放射減衰データを収集する、及
び、減衰データを容量画像表示に再構成することが含ま
れる。
X線源、X線源を台の回りで回転させる手段、被験者を
横行したX線源からの放射を受け取るための複数の検知
器アーク、そして、X線が少なくとも二つの、ソースと
検知器アーク間のおおむね平行なファン形状の経路(こ
こでX線ファンは、被験者の回りを縦オフセット関係に
おいて同時にらせん状に進む)に沿って被験者を横行す
るよう、X線源の回転運動、及びそれと関連する被験者
台と縦軸上のX線源・検知アーク間の縦方向の運動を調
節する手段を有するスパイラルCTスキャナ装置の使用
方法が提供され、その使用方法には、分解能を最高利用
するためにX線ファン間の間隔を選択的に調節する、フ
ァン間隔調節後、同時にファンを被験者台の回りで回転
させ、検知器アークで放射減衰データを収集する、及
び、減衰データを容量画像表示に再構成することが含ま
れる。
【0012】本発明の第3の態様によれば、試験領域を
透過性放射線で照射するX線源、X線源を試験領域の回
りで回転させる手段、試験領域の回りでX線源が回転す
ると同時に患者を試験領域内を移動させる患者台、及
び、試験領域の反対側に、X線源からの放射線を受け取
るために配置された放射線検出器、さらに、X線源から
の放射線を少なくとも患者の移動方向に間隔をもって置
かれる二つの平行なファン・ビームに分割するコリメー
タからなるCTスキャナが提供され、このコリメータ
は、X線ファン・ビーム間の間隔を調節する手段を有す
る。
透過性放射線で照射するX線源、X線源を試験領域の回
りで回転させる手段、試験領域の回りでX線源が回転す
ると同時に患者を試験領域内を移動させる患者台、及
び、試験領域の反対側に、X線源からの放射線を受け取
るために配置された放射線検出器、さらに、X線源から
の放射線を少なくとも患者の移動方向に間隔をもって置
かれる二つの平行なファン・ビームに分割するコリメー
タからなるCTスキャナが提供され、このコリメータ
は、X線ファン・ビーム間の間隔を調節する手段を有す
る。
【0013】本発明はまた、放射線源からの少なくとも
二つの平行な放射ファン・ビーム間の間隔を調節するセ
プタム、各ファン・ビーム厚を調節するためにセプタム
と相互に作用するコリメータ要素、複数の予選択試験手
順の各々に対応する複数のセプタムとコリメータ要素位
置を保管するための参照用テーブル、及び、選択された
試験手順の一つに従って自動的にセプタムとコリメータ
要素を配置するための、参照用テーブル、セプタム及び
コリメータ要素と接続されたコリメータ制御手段からな
るCTスキャナ装置のコリメータ配列を提供する。
二つの平行な放射ファン・ビーム間の間隔を調節するセ
プタム、各ファン・ビーム厚を調節するためにセプタム
と相互に作用するコリメータ要素、複数の予選択試験手
順の各々に対応する複数のセプタムとコリメータ要素位
置を保管するための参照用テーブル、及び、選択された
試験手順の一つに従って自動的にセプタムとコリメータ
要素を配置するための、参照用テーブル、セプタム及び
コリメータ要素と接続されたコリメータ制御手段からな
るCTスキャナ装置のコリメータ配列を提供する。
【0014】
【実施例】添付図面を参照しながら、本発明のCTスキ
ャナ装置とその使用方法を例に基づき説明する。
ャナ装置とその使用方法を例に基づき説明する。
【0015】図1において、CTスキャナ装置10は、
放射ファン・ビームを試験領域やスキャン・サークル1
4に投影するX線管等の放射線源12を有する。X線管
は回転式ガントリー16に取り付けられており、試験領
域の回りで放射ファン・ビームを回転させる。コリメー
タとシャッター手段18は、対またはそれ以上の細い平
面ビームになるよう放射線の照準を正し、選択的にビー
ムをオンにしたり、オフにしたりする。ビームはまた、
X線管での電気によるオン・オフも可能である。モータ
ー20は、試験領域の回りでガントリー16を連続的に
回転させるための原動力を提供する。回転位置エンコー
ダ22は、モーターとガントリーに接続されており、ガ
ントリーの回転位置を測定する。図の第4世代CTスキ
ャナ装置においては、放射線検知器リング24は試験領
域の周囲に取り付けられている。
放射ファン・ビームを試験領域やスキャン・サークル1
4に投影するX線管等の放射線源12を有する。X線管
は回転式ガントリー16に取り付けられており、試験領
域の回りで放射ファン・ビームを回転させる。コリメー
タとシャッター手段18は、対またはそれ以上の細い平
面ビームになるよう放射線の照準を正し、選択的にビー
ムをオンにしたり、オフにしたりする。ビームはまた、
X線管での電気によるオン・オフも可能である。モータ
ー20は、試験領域の回りでガントリー16を連続的に
回転させるための原動力を提供する。回転位置エンコー
ダ22は、モーターとガントリーに接続されており、ガ
ントリーの回転位置を測定する。図の第4世代CTスキ
ャナ装置においては、放射線検知器リング24は試験領
域の周囲に取り付けられている。
【0016】ソースのファン形状においては、放射線源
12がビューまたはファンのデータ・セットを生成する
ために試験領域14の後方で回転する間、ソースから発
せられる放射線を測る検知器アークが同時に短い間隔に
おいてサンプリングされる。X線源と各検知器間の経路
は「放射線」として表される。各ファンの先端は、スラ
イスの中でΦで鋭く角立っている。各ファンの中で、各
放射線の相対角度は角度θにより表される。放射線角度
θは、スキャンの中心からの各放射線の半径r、すなわ
ち、スキャンの中心線を決定する。X線源が被験者の周
囲を回転する間、例えば、最も右端にあるソース・ファ
ンの放射線は360°で回転する。しかし、放射減衰の
方向は独立しているため、360°の回転毎に放射線は
それぞれ2回ずつ収集される。
12がビューまたはファンのデータ・セットを生成する
ために試験領域14の後方で回転する間、ソースから発
せられる放射線を測る検知器アークが同時に短い間隔に
おいてサンプリングされる。X線源と各検知器間の経路
は「放射線」として表される。各ファンの先端は、スラ
イスの中でΦで鋭く角立っている。各ファンの中で、各
放射線の相対角度は角度θにより表される。放射線角度
θは、スキャンの中心からの各放射線の半径r、すなわ
ち、スキャンの中心線を決定する。X線源が被験者の周
囲を回転する間、例えば、最も右端にあるソース・ファ
ンの放射線は360°で回転する。しかし、放射減衰の
方向は独立しているため、360°の回転毎に放射線は
それぞれ2回ずつ収集される。
【0017】患者台30は、人間である被験者を横にな
った姿勢で支える。モーター32等の手段は、選択され
た速度で患者台を試験領域の中へ前進させていく。エン
コーダ34はモーター32、可動患者台30、及びその
間の駆動機構と接続されており、患者台が患者をスキャ
ン・サークル14の中へ移動する間、患者台の位置をモ
ニターする。
った姿勢で支える。モーター32等の手段は、選択され
た速度で患者台を試験領域の中へ前進させていく。エン
コーダ34はモーター32、可動患者台30、及びその
間の駆動機構と接続されており、患者台が患者をスキャ
ン・サークル14の中へ移動する間、患者台の位置をモ
ニターする。
【0018】サンプリング手段40は、多数のらせんス
キャンそれぞれに対して、試験領域14周囲の各角度位
置に対応するファン・ビューやデータ・セットのサンプ
リングを行う。ビュー処理器42は、各らせんスキャン
のスパイラル・サンプリングされたビューをデータ・セ
ットに転換し、制限時間内にサンプリングされる複数の
平行な画像平面に再構成する準備をする。ビュー処理器
は、スキャン番号(または時間)、回転番号、ビュー角
度、及びビュー中の放射線角度の組み合わせによって保
管されるビュー・データを呼び出すことのできるビュー
・メモリ44を有する。ビュー処理器42はさらに、ス
パイラル・ビュー・メモリ44の中の各らせんスキャン
のデータを平行なスライス・データに補間するためのフ
ィルター、または補間手段46を有する。補間手段46
は、フィルター機能メモリ48により提供されるフィル
ター、または補間機能と共に、複数の対応するビュー角
度のビューに基づいて運転される。
キャンそれぞれに対して、試験領域14周囲の各角度位
置に対応するファン・ビューやデータ・セットのサンプ
リングを行う。ビュー処理器42は、各らせんスキャン
のスパイラル・サンプリングされたビューをデータ・セ
ットに転換し、制限時間内にサンプリングされる複数の
平行な画像平面に再構成する準備をする。ビュー処理器
は、スキャン番号(または時間)、回転番号、ビュー角
度、及びビュー中の放射線角度の組み合わせによって保
管されるビュー・データを呼び出すことのできるビュー
・メモリ44を有する。ビュー処理器42はさらに、ス
パイラル・ビュー・メモリ44の中の各らせんスキャン
のデータを平行なスライス・データに補間するためのフ
ィルター、または補間手段46を有する。補間手段46
は、フィルター機能メモリ48により提供されるフィル
ター、または補間機能と共に、複数の対応するビュー角
度のビューに基づいて運転される。
【0019】フィルター機能メモリ手段48は、線加重
機能、立方加重機能、あるいは他の適切ならせん加重機
能等、複数のフィルター、または補間機能を備えてい
る。
機能、立方加重機能、あるいは他の適切ならせん加重機
能等、複数のフィルター、または補間機能を備えてい
る。
【0020】制御手段50は、例えば、試験領域周囲に
標準増分で配置されたビュー等、完全ならせんスキャン
における各々のビュー角度に対してビュー角度の角度の
割り出しを行う。各ビューは、各々の補間スライスに対
応する補間ビューが生成されるまで、補間ビュー・メモ
リ手段52に保管される。画像再構成手段54は、従来
のフィルター投影や他の再構成アルゴリズムを利用し
て、複数あるデータ・スライスのそれぞれを再構成し、
その結果生じる画像スライスを立体容量画像メモリ56
に保管する。制御手段60はモーター20を制御し、例
えば、毎秒一回転等、X線源を一定の速度で回転させ
る。制御手段60はまた、被験者台30の動きを制御す
るモーター32の制御も行う。軸上15cm、またはz
方向10秒の容量をカバーするには、患者台は毎秒約1
5mmの速度で運転される。制御手段60はまた、リタ
ーンやリトレース期間中に患者が照射を受けないよう、
X線管をオフにしたり、シャッター18を閉じたりす
る。
標準増分で配置されたビュー等、完全ならせんスキャン
における各々のビュー角度に対してビュー角度の角度の
割り出しを行う。各ビューは、各々の補間スライスに対
応する補間ビューが生成されるまで、補間ビュー・メモ
リ手段52に保管される。画像再構成手段54は、従来
のフィルター投影や他の再構成アルゴリズムを利用し
て、複数あるデータ・スライスのそれぞれを再構成し、
その結果生じる画像スライスを立体容量画像メモリ56
に保管する。制御手段60はモーター20を制御し、例
えば、毎秒一回転等、X線源を一定の速度で回転させ
る。制御手段60はまた、被験者台30の動きを制御す
るモーター32の制御も行う。軸上15cm、またはz
方向10秒の容量をカバーするには、患者台は毎秒約1
5mmの速度で運転される。制御手段60はまた、リタ
ーンやリトレース期間中に患者が照射を受けないよう、
X線管をオフにしたり、シャッター18を閉じたりす
る。
【0021】画像/ビデオ・プロセッサー70は操作卓
72により制御され、表示のため立体画像データ・セッ
トから二次元画像を選択する。プロセッサー手段は、容
量により平面スライス等の様々な二次元画像表示を様々
な角度と時間において選択し、また、時間中に展開して
いくスライスにより一連の画像を、投影画像を、または
区分画像やカット画像等を選択する。プロセッサーはま
た、対照エイジェント画像と周囲の組織画像を積層する
等、複数のデータを積層することもできる。ビデオ・プ
ロセッサーは、選択された画像表示をビデオ・モニター
74上に表示するため、適切なフォーマットに転換す
る。選択的に、付加的な画像処理手段、画像メモリ保管
/記録手段等も提供されている。
72により制御され、表示のため立体画像データ・セッ
トから二次元画像を選択する。プロセッサー手段は、容
量により平面スライス等の様々な二次元画像表示を様々
な角度と時間において選択し、また、時間中に展開して
いくスライスにより一連の画像を、投影画像を、または
区分画像やカット画像等を選択する。プロセッサーはま
た、対照エイジェント画像と周囲の組織画像を積層する
等、複数のデータを積層することもできる。ビデオ・プ
ロセッサーは、選択された画像表示をビデオ・モニター
74上に表示するため、適切なフォーマットに転換す
る。選択的に、付加的な画像処理手段、画像メモリ保管
/記録手段等も提供されている。
【0022】図2を特に参照すると、検知器リング28
aと28b等の複数の検知器リングが提供されている。
コリメータ18は可変セプタム80を有する。セプタム
はX線ビーム幅を調節し、故に有効スライス幅SWが調
節される。コリメータ中、またはX線検知器列上のどち
らかに位置する可変外側コリメータ板82a、82bが
ビーム幅を調節する。視準制御器84は、参照用テーブ
ル86でのセッティングに従ってセプタム80と外側コ
リメータ82a、82bを調節し、スライス幅SWと有
効検知器間隔SPの両方を調節する。参照用テーブル
は、下記の表と式に従って事前にプログラムされる。
aと28b等の複数の検知器リングが提供されている。
コリメータ18は可変セプタム80を有する。セプタム
はX線ビーム幅を調節し、故に有効スライス幅SWが調
節される。コリメータ中、またはX線検知器列上のどち
らかに位置する可変外側コリメータ板82a、82bが
ビーム幅を調節する。視準制御器84は、参照用テーブ
ル86でのセッティングに従ってセプタム80と外側コ
リメータ82a、82bを調節し、スライス幅SWと有
効検知器間隔SPの両方を調節する。参照用テーブル
は、下記の表と式に従って事前にプログラムされる。
【0023】ファン間のギャップ88は、検知器間隔と
スライス幅間の距離、すなわち、2スライス・システム
ではSP−SW、に等しい。ギャップ率、すなわち、ギ
ャップをスライス幅で割ったものは、数学上(SP−S
W)/SWと表示される。
スライス幅間の距離、すなわち、2スライス・システム
ではSP−SW、に等しい。ギャップ率、すなわち、ギ
ャップをスライス幅で割ったものは、数学上(SP−S
W)/SWと表示される。
【0024】図3で示すように、二つのらせんが接する
ようセプタム80が除去された場合、どの放射線方向
(θ、Φ)についてもサンプルはスライス幅につき一つ
しかないことになる。これは、過剰物の取り除かれた状
態である図4において、より明確に示されている。
ようセプタム80が除去された場合、どの放射線方向
(θ、Φ)についてもサンプルはスライス幅につき一つ
しかないことになる。これは、過剰物の取り除かれた状
態である図4において、より明確に示されている。
【0025】図5、図6を参照すると、ピッチはスライ
ス幅の二倍、すなわち、ピッチ率2である。有効ピッチ
率1を得て好画質化するには、スライス間のギャップを
スライス幅のちょうど1/2に設定する。この方法だ
と、過剰物の取り除かれた状態である図7で明らかなよ
うに、ギャップをスライス幅の1/2に設定することに
より、どの放射線方向(θ、Φ)についても、サンプル
はスライス幅ごとに同じものが2つずつ生成されること
になる。X線ファン間で完全可変のギャップを用いるこ
とにより、同じピッチの検知器リング一つに対して適切
なピッチ率2によりスパイラル・ピッチの選択は完全に
自由になり、また「有効ピッチ率」を改善することが可
能である。
ス幅の二倍、すなわち、ピッチ率2である。有効ピッチ
率1を得て好画質化するには、スライス間のギャップを
スライス幅のちょうど1/2に設定する。この方法だ
と、過剰物の取り除かれた状態である図7で明らかなよ
うに、ギャップをスライス幅の1/2に設定することに
より、どの放射線方向(θ、Φ)についても、サンプル
はスライス幅ごとに同じものが2つずつ生成されること
になる。X線ファン間で完全可変のギャップを用いるこ
とにより、同じピッチの検知器リング一つに対して適切
なピッチ率2によりスパイラル・ピッチの選択は完全に
自由になり、また「有効ピッチ率」を改善することが可
能である。
【0026】図5で示すように、二つのらせんの軌道
は、先導らせん90のファンの中心放射線が、従動らせ
ん92の対応するファンの中心放射線の90°前で各ス
ライスの中心平面をクロスすることとする。図6、図7
を参照して別な言い方をすれば、二つのらせんシステム
において、第二のらせんの軌道は、一つのファン・ビー
ムの先導エッジ90lがもう一つのファンの先導エッジ
92lと同じ角度においてz軸に垂直な任意の平面をク
ロスするよう、選択されることとする。もっと明確に言
えば、第二のらせんは、2リング・システムでは90
°、3リング・システムでは60°、また、Nリング・
システムでは180°/Nで先導らせんに従動すること
とする。
は、先導らせん90のファンの中心放射線が、従動らせ
ん92の対応するファンの中心放射線の90°前で各ス
ライスの中心平面をクロスすることとする。図6、図7
を参照して別な言い方をすれば、二つのらせんシステム
において、第二のらせんの軌道は、一つのファン・ビー
ムの先導エッジ90lがもう一つのファンの先導エッジ
92lと同じ角度においてz軸に垂直な任意の平面をク
ロスするよう、選択されることとする。もっと明確に言
えば、第二のらせんは、2リング・システムでは90
°、3リング・システムでは60°、また、Nリング・
システムでは180°/Nで先導らせんに従動すること
とする。
【0027】図8を参照すると、ギャップの選択方法
は、CTプロトコルの選択工程/手段100で開始され
る。これには、制御卓における操作者の強度、持続時
間、ろ過等のX線要因の選択に対して、対応する電子選
択信号で応答することが含まれる。次の工程/手段10
2では、希望のz軸のX線分解能、すなわちミリ表示に
おけるスライス厚と有効ピッチ率を選択する。スライス
厚と有効ピッチ率がピッチを、好ましくはミリ表示にお
いて、決定する。ピッチとは、X線源の各分解能のX線
ファン・ビームと比較して被験者が前進している距離の
ことである。zに等間隔で置かれた複数のX線ファンの
各々に対するX線ビーム厚は、通常、非スパイラルCT
用語ではスライス幅と呼ばれる。本多リング・スパイラ
ルCTと同様の軸サンプリングを提供する、単リングC
Tスキャナ装置におけるピッチのスライス幅に対する比
率は、有効ピッチ率(EPF)と呼ばれる。
は、CTプロトコルの選択工程/手段100で開始され
る。これには、制御卓における操作者の強度、持続時
間、ろ過等のX線要因の選択に対して、対応する電子選
択信号で応答することが含まれる。次の工程/手段10
2では、希望のz軸のX線分解能、すなわちミリ表示に
おけるスライス厚と有効ピッチ率を選択する。スライス
厚と有効ピッチ率がピッチを、好ましくはミリ表示にお
いて、決定する。ピッチとは、X線源の各分解能のX線
ファン・ビームと比較して被験者が前進している距離の
ことである。zに等間隔で置かれた複数のX線ファンの
各々に対するX線ビーム厚は、通常、非スパイラルCT
用語ではスライス幅と呼ばれる。本多リング・スパイラ
ルCTと同様の軸サンプリングを提供する、単リングC
Tスキャナ装置におけるピッチのスライス幅に対する比
率は、有効ピッチ率(EPF)と呼ばれる。
【0028】z軸サンプリング間隔Δはピッチを2Nで
割ったものと等しく、ここでのNはリング数である。有
効ピッチ率EPFは、ピッチをNで割り、それにスライ
ス幅を乗じたもの、すなわち、 PITCH=N・EPF・SW (1) Δ=PITCH/2N=EPF・SW/2 (2) である。2リング・スパイラルでは、N=2である。二
つの離れたX線ファン・ビーム間の中心から中心の間隔
SPは、Δ、3Δ、5Δ・・・、つまり、k=0、1、
2...、で(2k+1)>2/EPFにおいて、 SP=(2k+1)Δ (3) の中から選択できる。2k+1は2を有効ピッチ率で割
った値か、それ以上になるという必要条件により、物理
的抑制SPは、SW以上の値となる。別な言い方をすれ
ば、X線ファン間のギャップは、 GAP=SP−SW (4) となる。ギャップのスライス幅に対するギャップ率は、
割ったものと等しく、ここでのNはリング数である。有
効ピッチ率EPFは、ピッチをNで割り、それにスライ
ス幅を乗じたもの、すなわち、 PITCH=N・EPF・SW (1) Δ=PITCH/2N=EPF・SW/2 (2) である。2リング・スパイラルでは、N=2である。二
つの離れたX線ファン・ビーム間の中心から中心の間隔
SPは、Δ、3Δ、5Δ・・・、つまり、k=0、1、
2...、で(2k+1)>2/EPFにおいて、 SP=(2k+1)Δ (3) の中から選択できる。2k+1は2を有効ピッチ率で割
った値か、それ以上になるという必要条件により、物理
的抑制SPは、SW以上の値となる。別な言い方をすれ
ば、X線ファン間のギャップは、 GAP=SP−SW (4) となる。ギャップのスライス幅に対するギャップ率は、
【0029】 GAP RATIO=GAP/SW=(2k+1)・EPF/2−1 (5) となる。kの値は、実際的な理由に基づいて選択され
る。しかし、一般には、最小のk値が望ましい。なぜな
ら、この値によりスパイラル・データの最初と最後は最
適利用され、また、ファンの歪み角度も最小限に抑えら
れるからである。表1は、N=2とEPF<2における
適当な選択値を示している。
る。しかし、一般には、最小のk値が望ましい。なぜな
ら、この値によりスパイラル・データの最初と最後は最
適利用され、また、ファンの歪み角度も最小限に抑えら
れるからである。表1は、N=2とEPF<2における
適当な選択値を示している。
【0030】
【表1】
【0031】N=2とEPF<2については、最小限の
ギャップ率は次のように定義される。 MIN.GAP RATIO=0.5+1.5・(EPF−1) (6)
ギャップ率は次のように定義される。 MIN.GAP RATIO=0.5+1.5・(EPF−1) (6)
【0032】表2で示すように、有効ピッチ率は2以上
となることも可能である。EPF>2については、k=
0も可能で、隣接のX線ファン、GAP=0が受け入れ
られる。
となることも可能である。EPF>2については、k=
0も可能で、隣接のX線ファン、GAP=0が受け入れ
られる。
【0033】
【表2】
【0034】表3は、偶数N>2に一般化した上記式を
示している。
示している。
【0035】
【表3】
【0036】表4では、ギャップ0と有効ピッチ率2の
表示がつづく。EPF>2については、k=0も可能
で、
表示がつづく。EPF>2については、k=0も可能
で、
【0037】
【表4】
【0038】EPF>2に限った偶数Nに対して、隣接
のX線ファン(GAP=0)が受け入れられる。
のX線ファン(GAP=0)が受け入れられる。
【0039】N>3で、Nが奇数の場合でも、PITC
H=N・EPF・SWとΔ=EPF・SW/2が成立す
るが、SP=k・Δ {k=1、2、...; k>2
/EPF; k≠jN(j=1、2、...)}とな
る。第二のk状態により、再び物理的抑制SP>SWが
強要される。第三のk状態は、Nが奇数の場合において
独特なもので、z軸のサンプリングを改善するにあた
り、放射線方向の過剰物の完全利用を確実にするために
必要とされる。
H=N・EPF・SWとΔ=EPF・SW/2が成立す
るが、SP=k・Δ {k=1、2、...; k>2
/EPF; k≠jN(j=1、2、...)}とな
る。第二のk状態により、再び物理的抑制SP>SWが
強要される。第三のk状態は、Nが奇数の場合において
独特なもので、z軸のサンプリングを改善するにあた
り、放射線方向の過剰物の完全利用を確実にするために
必要とされる。
【0040】表5では、奇数Nにおけるいくつかの例、
及び、1以上2未満の有効ピッチ率を示す。
及び、1以上2未満の有効ピッチ率を示す。
【0041】
【表5】
【0042】概して、PITCH=N・EPF・SWで
ある。上記のN、SW、EPFを選択したのは、Nが偶
数の場合と違って、Nが奇数のときは、X線ファンの隣
接(GAP=0)はEPF=1.00において常に可能
であることを示すためである。従って、ギャップはN=
2の場合と同じである。
ある。上記のN、SW、EPFを選択したのは、Nが偶
数の場合と違って、Nが奇数のときは、X線ファンの隣
接(GAP=0)はEPF=1.00において常に可能
であることを示すためである。従って、ギャップはN=
2の場合と同じである。
【0043】この状態における間隔SPは、k=1、
2、...、k>2/EPF、k≠jN、(j=1、
2、...)については、 SP=k・Δ (7) と、定義される。このようなkの状態により、再び、間
隔はスライス幅の値か、それ以上であるという物理的抑
制が強要されることとなる。kはjNと等しくない、と
いう必要条件は、Nが奇数の場合において独特なもの
で、z軸のサンプリングを改善するにあたり、放射線方
向の過剰物の完全利用を確実にするために利用される。
2、...、k>2/EPF、k≠jN、(j=1、
2、...)については、 SP=k・Δ (7) と、定義される。このようなkの状態により、再び、間
隔はスライス幅の値か、それ以上であるという物理的抑
制が強要されることとなる。kはjNと等しくない、と
いう必要条件は、Nが奇数の場合において独特なもの
で、z軸のサンプリングを改善するにあたり、放射線方
向の過剰物の完全利用を確実にするために利用される。
【0044】さて、最小限のギャップ率は、偶数Nの場
合と違って簡単にまとめることはできない。表6では、
奇数Nで有効ピッチ率2におけるいくつかの例を示す。
EPF>2では、k=1も可能である。
合と違って簡単にまとめることはできない。表6では、
奇数Nで有効ピッチ率2におけるいくつかの例を示す。
EPF>2では、k=1も可能である。
【0045】
【表6】
【0046】図9を参照すると、スライスが4つある場
合、つまり、N=4のとき、ピッチ率4は半ギャップで
利用できる。図10の放射線過剰物が取り除かれた状態
では、スライス幅毎にサンプルは2つずつ得られる。
合、つまり、N=4のとき、ピッチ率4は半ギャップで
利用できる。図10の放射線過剰物が取り除かれた状態
では、スライス幅毎にサンプルは2つずつ得られる。
【0047】工程/手段104で有効ピッチ率が選択さ
れる。工程/手段106では操作者が選択した希望の適
用範囲、すなわち、対応する電子選択信号を提供するた
めのz軸上の画像容量の長さ、に応答する。工程/手段
108では、電子選択信号からの選択済スキャン特質の
ために、上記式と表に従って最適のX線ビーム・ギャッ
プが計算される。計算手段/段階108では、システム
位置、コリメータ位置、及び、モーター32の速度が設
定される。z軸のスライス位置は、工程/手段110に
おいて選択、または指定される。もっと具体的には、選
択された容量の中の等間隔のスライス数が、あるいは逆
に、隣接する画像スライス間の厚さか分析能が指定され
る。工程/手段112では、スライスのどちら側にも最
も近接する対応放射線からのデータを利用することで、
いくつかのリングからのデータが結合され、希望のスラ
イス位置において画像が再構成される。
れる。工程/手段106では操作者が選択した希望の適
用範囲、すなわち、対応する電子選択信号を提供するた
めのz軸上の画像容量の長さ、に応答する。工程/手段
108では、電子選択信号からの選択済スキャン特質の
ために、上記式と表に従って最適のX線ビーム・ギャッ
プが計算される。計算手段/段階108では、システム
位置、コリメータ位置、及び、モーター32の速度が設
定される。z軸のスライス位置は、工程/手段110に
おいて選択、または指定される。もっと具体的には、選
択された容量の中の等間隔のスライス数が、あるいは逆
に、隣接する画像スライス間の厚さか分析能が指定され
る。工程/手段112では、スライスのどちら側にも最
も近接する対応放射線からのデータを利用することで、
いくつかのリングからのデータが結合され、希望のスラ
イス位置において画像が再構成される。
【0048】検知器リング2つにおいては、2つのスパ
イラルの内の一つがもう一方を90°で遅れてついてい
く。各検知器リングからのデータは、単リングの普通加
重機能の半分の幅の機能により加重される。これらのデ
ータは、その後、クロス・セクションを再構成するため
に結合される。
イラルの内の一つがもう一方を90°で遅れてついてい
く。各検知器リングからのデータは、単リングの普通加
重機能の半分の幅の機能により加重される。これらのデ
ータは、その後、クロス・セクションを再構成するため
に結合される。
【0049】検知器リング3つにおいては、3つのデー
タ・セットが隣接し、スライスの平面上に中心放射線を
もつよう、スパイラルは60°のオフセット状態とな
る。検知器リングをN個と一般化すると、スパイラルは
データ・セットが隣接し、スライスの平面上で中心に置
かれるよう、180°/Nのオフセットとなる。
タ・セットが隣接し、スライスの平面上に中心放射線を
もつよう、スパイラルは60°のオフセット状態とな
る。検知器リングをN個と一般化すると、スパイラルは
データ・セットが隣接し、スライスの平面上で中心に置
かれるよう、180°/Nのオフセットとなる。
【0050】本発明は、実施態様と共に説明されてき
た。明白なのは、前記の詳細な説明を読んで理解するに
あたり、他に修正や変更が生じてくるだろうということ
である。そのような修正や変更が特許請求の範囲、また
はその均等内にある限りは、本発明はそれら全てを含
む。
た。明白なのは、前記の詳細な説明を読んで理解するに
あたり、他に修正や変更が生じてくるだろうということ
である。そのような修正や変更が特許請求の範囲、また
はその均等内にある限りは、本発明はそれら全てを含
む。
【0051】
【発明の効果】本発明によれば、余分なデータを除き、
再構成データとその結果生じた画像の分解能を最高利用
することができる。
再構成データとその結果生じた画像の分解能を最高利用
することができる。
【図1】CTスキャナ装置の概略図である。
【図2】側面図で、X線源、区分した検知器列、可変セ
プタム、及び、有効スライス幅と有効検知器リング間隔
を調節する可変外側コリメータの一部を示している。
プタム、及び、有効スライス幅と有効検知器リング間隔
を調節する可変外側コリメータの一部を示している。
【図3】隣接リングで、ピッチ率2のスパイラル軌道を
示している。
示している。
【図4】放射線方向の過剰物を除去した図3のスパイラ
ル軌道を示している。
ル軌道を示している。
【図5】患者の平面図で、ピッチ率2で半リング・ギャ
ップのスパイラル軌道を示している。
ップのスパイラル軌道を示している。
【図6】ピッチ率2で半リング・ギャップのスパイラル
軌道を図解したものである。
軌道を図解したものである。
【図7】ピッチ率2、半ギャップの検知器リング間隔
で、放射線方向の過剰物が除去されている。
で、放射線方向の過剰物が除去されている。
【図8】多スパイラル・リング・スキャンにおけるフロ
ー図である。
ー図である。
【図9】ピッチ率4で、有効検知器間隔半ギャップの4
リングのスパイラル軌道を示している。
リングのスパイラル軌道を示している。
【図10】ピッチ率4、半ギャップで4リングだが、放
射線過剰物が除去されたスパイラル軌道を示している。
射線過剰物が除去されたスパイラル軌道を示している。
10 CTスキャナ装置 12 X線源 14 スキャン・サークル 16 X線源回転手段 18 コリメータ・シャッター 20 モーター 22 エンコーダ 24 放射線検知器リング 28a,b 放射線検知器 30 被験者台 32 モーター 34 エンコーダ 40 サンプリング手段 42 ビュー処理器 44 ビュー・メモリ 46 補間器 48 フィルター・機能・メモリ 50 制御手段 52 補間ビュー・メモリ手段 54 再構成手段 60 制御手段 70 ビデオ・プロセッサー 72 操作卓 74 ビデオ・モニター 80 可変セプタム 82a,b コリメータ要素 84 視準制御器 86 参照用テーブル 88 ギャップ 90 先導らせん 92 従動らせん 90l,92l 先導エッジ 100 プロトコル選択工程 102 スライス厚選択工程 104 有効ピッチ率選択工程 106 適用範囲選択工程 108 X線ビーム・ギャップ計算工程 110 z軸スライス位置選択工程 112 画像再構成工程
フロントページの続き (72)発明者 ウォーター ダブリュ.リンドストロム アメリカ合衆国 オハイオ州 44122,シ ェイカー ハイツ,サシックス ロード 20019 (72)発明者 ヒーング ケイ.ツ−イ アメリカ合衆国 オハイオ州 44026,チ ェスターランド,ディアヘイヴン ドライ ヴ 8305
Claims (25)
- 【請求項1】 被験者台(30)、X線源(12)、X
線源(12)を台(30)の回りで回転させる手段(1
6)、被験者を横行したX線源(12)からの放射を受
け取るための複数の検知器アーク(28a、b)、そし
て、X線が少なくとも二つの、ソース(12)と検知器
アーク(28a、b)間のおおむね平行なファン形状の
経路(ここでX線ファンは、被験者の回りを縦オフセッ
ト関係において同時にらせん状に進む)に沿って被験者
を横行するよう、X線源(12)の回転運動、及びそれ
と関連する被験者台(30)とX線源(12)・検知器
アーク(28a、b)間の縦方向の運動を調節する手段
(60)、及び、検知器アーク(28a、b)からの出
力データを容量画像表示に再構成する手段(54)、さ
らには、X線ファンの有効間隔と幅を調節する手段(8
0、82a、b)を有するスパイラルCTスキャナ装置
(10)。 - 【請求項2】 さらに、スライス厚、有効ピッチ率、画
像容量の縦範囲を選択する手段(84)と、選択された
スライス厚とピッチ率に従って、X線ファンの有効間隔
と幅を決定する手段(86)を有する請求項1記載のC
Tスキャナ装置(10)。 - 【請求項3】 有効間隔と幅を決定する手段(86)が
複数の参照用テーブルを有する請求項2記載のCTスキ
ャナ装置。 - 【請求項4】 被験者台(30)、X線源(12)、X
線源(12)を台(30)の回りで回転させる手段(1
6)、被験者を横行したX線源(12)からの放射を受
け取るための複数の検知器アーク(28a、b)、そし
て、X線が少なくとも二つの、ソース(12)と検知器
アーク(28a、b)間のおおむね平行なファン形状の
経路(ここでX線ファンは、被験者の回りを縦オフセッ
ト関係において同時にらせん状に進む)に沿って被験者
を横行するよう、X線源(12)の回転運動、及びそれ
と関連する被験者台(30)と縦軸上のX線源(12)
・検知器アーク(28a、b)間の縦方向の運動を調節
する手段(60)を有するスパイラルCTスキャナ装置
(10)の使用方法において、該方法は、分解能を最高
利用するためにX線ファン間の間隔(SP)を選択的に
調節する工程と、ファン間隔調節後、同時にファンを同
時に被験者台(30)の回りで回転させ、検知器アーク
(28a、b)で放射減衰データを収集する工程と、減
衰データを容量画像表示に再構成する工程が含まれるC
Tスキャナ装置の使用方法。 - 【請求項5】 さらに、X線ファン幅(SW)の選択を
含む請求項4記載のCTスキャナ装置の使用方法。 - 【請求項6】 請求項5記載の方法において、CTスキ
ャナ装置(10)がさらに、画像スライス厚、有効ピッ
チ率、画像容量の縦範囲を選択する手段(84)を有
し、前記方法は、さらにスライス厚と分解能の最高利用
のために選択された有効ピッチ率からX線ファン間隔を
決定する工程も含まれるCTスキャナ装置の使用方法。 - 【請求項7】 前記決定する工程が、参照用テーブル
(86)からの間隔の復活を含む請求項6記載のCTス
キャナ装置の使用方法。 - 【請求項8】 請求項4から7のいずれかに記載の方法
において、該方法は、それぞれが先導エッジと従動エッ
ジを有する二つのX線ファンを有し、前記方法はさら
に、二つのX線間の間隔を調節して、両ファンの先導エ
ッジを、縦軸の周囲90°のオフセット角度で縦軸を横
切る共通の平面に交差させる工程も含まれるCTスキャ
ナ装置の使用方法。 - 【請求項9】 前記再構成工程が複数の平行なスライス
画像表示の再構成を含み、さらに、前記再構成工程に先
立って、二つのX線ファンからの加重減衰データにおい
て選択された部分からの減衰データを結合して、両ファ
ンからの減衰データを共通のスライス画像表示に貢献さ
せることを含む請求項8記載のCTスキャナ装置の使用
方法。 - 【請求項10】 前記再構成工程が複数の平行なスライ
ス画像表示の再構成を含み、さらに、二つのX線ファン
からの減衰データのいくつかを画像に再構成し、その画
像を結合して画像表示にすることを含む請求項8記載の
CTスキャナ装置の使用方法。 - 【請求項11】 請求項4から7のいずれかに記載の方
法において、該方法は、N個のX線ファンを有し、その
場合、Nが2よりも大きい正の整数で、各々のX線ファ
ンは先導エッジと従動エッジを有し、前記方法はさら
に、二つのX線間の間隔を調節して、各ファンの先導エ
ッジを、縦軸の周囲で相関な180°/Nのオフセット
角度で縦軸を横切る共通の平面に交差させる工程も含ま
れるCTスキャナ装置の使用方法。 - 【請求項12】 前記再構成工程が複数の平行なスライ
ス画像表示の再構成を含み、さらに、前記再構成工程に
先立って、N個のX線ファンの各々からの減衰データを
結合し、共通のスライス画像表示に再構成することを含
む請求項11記載のCTスキャナ装置の使用方法。 - 【請求項13】 前記再構成工程が複数の平行なスライ
ス画像表示の再構成を含み、さらに、N個のX線ファン
の各々からの減衰データを再構成し、その再構成データ
を共通のスライス画像表示に結合することを含む請求項
11記載のCTスキャナ装置の使用方法。 - 【請求項14】 N個のX線ファン・ビームが縦軸の回
りを同心スパイラル上に回転し、その場合、Nは1より
も大きい整数で、各X線ファンの先導放射線エッジが互
いに180°/Nオフセットの状態で、縦軸に横行する
共通の平面を交差するよう、X線ファン間の中心から中
心の間隔を調節する工程を含むスパイラルCTスキャン
方法。 - 【請求項15】 さらに、縦軸方向上のX線ファン幅の
調節を含む請求項14記載のCTスキャン方法。 - 【請求項16】 さらに、複数の平行なスライス画像表
示を再構成する工程、及び、前記再構成工程に先立っ
て、多数のファンからの減衰データを結合して多くのフ
ァンを各々のスライス画像表示に貢献させる工程を含む
請求項14または15記載のCTスキャン方法。 - 【請求項17】 さらに、複数の平行なスライス画像表
示を再構成する工程、及び、多数のファンからの減衰デ
ータを再構成し、その再構成データを結合して多くのフ
ァンを各々のスライス画像表示に貢献させる工程を含む
請求項14または15記載のCTスキャン方法。 - 【請求項18】 透過放射により試験領域を照射するX
線源(12)、X線源(12)を試験領域の回りで回転
させる手段(16)、X線源(12)が試験領域の周囲
を回転すると同時に患者を試験領域の中へ移動させる患
者台(30)、X線源(12)からの放射を受け取るた
めに、試験領域をはさんでその向こう側に配置された放
射検知器(28a、b)、さらに、X線源からの放射線
を、患者の移動方向に間隔をもって置かれる少なくとも
二つの平行なファン・ビームに分割するコリメータ(1
8)からなり、コリメータ(18)はX線ファン・ビー
ム間の間隔を調節する手段(80、82a、b)を有す
るCTスキャナ装置(10)。 - 【請求項19】 調節手段(80、82a、b)がファ
ン・ビーム間のギャップと各ビーム厚の両方を制御する
可変セプタム(80)を有する請求項18記載のCTス
キャナ装置(10)。 - 【請求項20】 コリメータ(18)がファン・ビーム
厚をさらに選択して調節する可変外側コリメータ要素
(82a、b)を有する請求項19記載のCTスキャナ
装置(10)。 - 【請求項21】 さらに、ファン・ビーム間のギャップ
とファン・ビーム厚を調整して設定するためのセプタム
(80)とコリメータ要素(82a、b)を制御するコ
リメータ制御手段(84)を有する請求項20記載のC
Tスキャナ装置(10)。 - 【請求項22】 さらに、複数の予め選択された診断試
験それぞれに対応するギャップとファン・ビーム厚特質
を保管するコリメータ制御手段(84)と接続された参
照用テーブル(86)を有する請求項21記載のCTス
キャナ装置(10)。 - 【請求項23】 さらに、セプタム(80)とコリメー
タ要素(82a、b)が選択された診断試験に対応する
ギャップとファン・ビーム厚を限定する配置になるよ
う、参照用テーブル(86)とコリメータ制御手段(8
4)に接続されている、予め選択された診断試験の一つ
を指定するための操作者制御卓(72)を有する請求項
22記載のCTスキャナ装置(10)。 - 【請求項24】 さらに、放射線検知器(28a、b)
からの放射減衰データをサンプリングするサンプリング
手段(40)、少なくとも二つの平行なX線ファン・ビ
ームからのサンプル放射データを共通のデータ・セット
に結合するビュー処理器手段(42)、及び、共通のデ
ータ・セットを複数の平行なスライス画像表示に再構成
する再構成手段(54)を有する請求項18から23の
いずれかに記載のCTスキャナ装置(10)。 - 【請求項25】 放射線源(12)からの少なくとも二
つの平行な放射線ファン・ビーム間の間隔を調節するセ
プタム(80)、セプタム(80)と相互作用して各フ
ァン・ビーム厚を調節するコリメータ要素(82a、
b)、複数の予め選択された試験手順の各々に対応する
複数のセプタムとコリメータ要素位置を保管する参照用
テーブル(86)、及び、予選択試験手順の内から選択
された一つの手順に従って、セプタム(80)とコリメ
ータ要素(82a、b)を自動的に配置する、参照用テ
ーブル(86)、セプタム(80)、コリメータ要素
(82a、b)とに接続されたコリメータ制御手段(8
4)からなる、CTスキャナ装置(10)。
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