JPH0640118B2 - コンデンサの漏洩電流測定方法 - Google Patents
コンデンサの漏洩電流測定方法Info
- Publication number
- JPH0640118B2 JPH0640118B2 JP25098487A JP25098487A JPH0640118B2 JP H0640118 B2 JPH0640118 B2 JP H0640118B2 JP 25098487 A JP25098487 A JP 25098487A JP 25098487 A JP25098487 A JP 25098487A JP H0640118 B2 JPH0640118 B2 JP H0640118B2
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- Japan
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- probe
- capacitor
- leakage current
- current
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- Measurement Of Resistance Or Impedance (AREA)
- Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】 〔概 要〕 コンデンサの試験において漏洩電流を測定する方法に関
し、 測定装置を簡略化し作業効率を向上させることを目的と
し、 漏洩電流を測定するに際して被測定コンデンサ4を、プ
ローブ7と切換えスイッチ8を介して試験用電源1と電
流検出回路2に接続し、電流検出回路2により被測定コ
ンデンサ4の漏洩電流を測定した後、漏洩電流測定時に
被測定コンデンサ4に蓄積された電気を、プローブ7と
切換えスイッチ8を介して放電せしめてその電流値を検
出し、漏洩電流を測定した時の被測定コンデンサ4とプ
ローブ7との接触状態を、放電電流値から検知するよう
に構成する。
し、 測定装置を簡略化し作業効率を向上させることを目的と
し、 漏洩電流を測定するに際して被測定コンデンサ4を、プ
ローブ7と切換えスイッチ8を介して試験用電源1と電
流検出回路2に接続し、電流検出回路2により被測定コ
ンデンサ4の漏洩電流を測定した後、漏洩電流測定時に
被測定コンデンサ4に蓄積された電気を、プローブ7と
切換えスイッチ8を介して放電せしめてその電流値を検
出し、漏洩電流を測定した時の被測定コンデンサ4とプ
ローブ7との接触状態を、放電電流値から検知するよう
に構成する。
本発明はコンデンサの試験において漏洩電流を測定する
方法に係り、特に測定装置を簡略化し作業効率を向上さ
せる漏洩電流の測定方法に関する。
方法に係り、特に測定装置を簡略化し作業効率を向上さ
せる漏洩電流の測定方法に関する。
半導体集積回路等と組合せて使用されるコンデンサで
は、漏洩電流が大きいと半導体集積回路が破壊される場
合があり、その製造工程における漏洩電流の測定は極め
て重要視されている。しかしかかる漏洩電流の測定にお
いて被測定コンデンサのリード端子と、試験電源や電流
検出回路との接続はプローブを介して行われ、例えば電
流検出回路において漏洩電流が検出されなくても、被測
定コンデンサの特性が優れていて検出できないのか、或
いはリード端子とプローブとの接触が悪くて検出できな
いのか判別できない。そこで漏洩電流と共にプローブの
接触状態を検出できる測定方法の確立が望まれている。
は、漏洩電流が大きいと半導体集積回路が破壊される場
合があり、その製造工程における漏洩電流の測定は極め
て重要視されている。しかしかかる漏洩電流の測定にお
いて被測定コンデンサのリード端子と、試験電源や電流
検出回路との接続はプローブを介して行われ、例えば電
流検出回路において漏洩電流が検出されなくても、被測
定コンデンサの特性が優れていて検出できないのか、或
いはリード端子とプローブとの接触が悪くて検出できな
いのか判別できない。そこで漏洩電流と共にプローブの
接触状態を検出できる測定方法の確立が望まれている。
第3図は従来の漏洩電流測定方法を示す回路図である。
従来の漏洩電流の測定には図示の如く試験電源1と電流
検出回路2と導通判定回路3が用いられ、電流検出回路
2は例えば増幅回路21と電流計22とで構成されている。
試験電源1および電流検出回路2或いは導通判定回路3
と被測定コンデンサ4とは、プローブ5とプローブの接
続先を切り換える切換えスイッチ6を介して接続されて
おり、プローブ5として2本の電極がそれぞれ同一リー
ド端子と接触する多極プローブが、また切換えスイッチ
6として他極プローブの各電極の接続先を、それぞれ同
時に切り換えられる多回路スイッチが用いられている。
検出回路2と導通判定回路3が用いられ、電流検出回路
2は例えば増幅回路21と電流計22とで構成されている。
試験電源1および電流検出回路2或いは導通判定回路3
と被測定コンデンサ4とは、プローブ5とプローブの接
続先を切り換える切換えスイッチ6を介して接続されて
おり、プローブ5として2本の電極がそれぞれ同一リー
ド端子と接触する多極プローブが、また切換えスイッチ
6として他極プローブの各電極の接続先を、それぞれ同
時に切り換えられる多回路スイッチが用いられている。
図において多極プローブ5の電極はいずれも電流検出側
に接続されており、被測定コンデンサ4の一方のリード
端子には試験電源1が、また被測定コンデンサ4の他方
のリード端子には電流検出回路2が、それぞれ切換えス
イッチ6と多極プローブ5の2本の電極を介して接続さ
れている。この状態では被測定コンデンサ4に試験電圧
が印加されその時の漏洩電流を測定することができる。
に接続されており、被測定コンデンサ4の一方のリード
端子には試験電源1が、また被測定コンデンサ4の他方
のリード端子には電流検出回路2が、それぞれ切換えス
イッチ6と多極プローブ5の2本の電極を介して接続さ
れている。この状態では被測定コンデンサ4に試験電圧
が印加されその時の漏洩電流を測定することができる。
被測定コンデンサ4の漏洩電流を測定した後切換えスイ
ッチ6を切り換えると、多極プローブ5の全ての電極が
導通判定回路3に接続される。導通判定回路3はそれぞ
れの多極プローブ5に対応する導通チェック回路を具え
ており、同一多極プローブ5のそれぞれの電極が確実に
リード端子に接触していると、導通チェック回路は多極
プローブの電極とリード端子を介して接地される。しか
るにいずれか一本の電極がリード端子に接触していない
と、その電極に関連する導通チェック回路が接地されず
接触不良を容易に検出することができる。
ッチ6を切り換えると、多極プローブ5の全ての電極が
導通判定回路3に接続される。導通判定回路3はそれぞ
れの多極プローブ5に対応する導通チェック回路を具え
ており、同一多極プローブ5のそれぞれの電極が確実に
リード端子に接触していると、導通チェック回路は多極
プローブの電極とリード端子を介して接地される。しか
るにいずれか一本の電極がリード端子に接触していない
と、その電極に関連する導通チェック回路が接地されず
接触不良を容易に検出することができる。
例えば前述の漏洩電流検出において漏洩電流が検出でき
ず、しかも導通判定においてプローブとリード端子との
接触に異常が無ければ、この被測定コンデンサは良品と
判定しても支障は無いが、導通判定においてプローブと
リード端子との接触に異常が発見された場合は、被測定
コンデンサと多極プローブの接触状態がチェックされ漏
洩電流の再測定が行われる。
ず、しかも導通判定においてプローブとリード端子との
接触に異常が無ければ、この被測定コンデンサは良品と
判定しても支障は無いが、導通判定においてプローブと
リード端子との接触に異常が発見された場合は、被測定
コンデンサと多極プローブの接触状態がチェックされ漏
洩電流の再測定が行われる。
しかし従来の試験方法では多極プローブが用いられてお
り、多回路を同時に切り換えられる切換えスイッチを必
要とするなど回路構成が複雑で、しかも2本の電極のい
ずれか一方が接触していないと、漏洩電流の再測定が行
われ作動効率が極めて悪いという問題があった。
り、多回路を同時に切り換えられる切換えスイッチを必
要とするなど回路構成が複雑で、しかも2本の電極のい
ずれか一方が接触していないと、漏洩電流の再測定が行
われ作動効率が極めて悪いという問題があった。
第1図は本発明になる漏洩電流測定方法の原理を示す回
路図である。なお全図を通し同じ対象物は同一記号で表
している。
路図である。なお全図を通し同じ対象物は同一記号で表
している。
漏洩電流の測定時に被測定コンデンサに蓄積された電気
を放電するときの電流値から、プローブの接触状態を検
知できることに着目し上記問題点の解決を図ったもので
ある。即ち上記問題点は漏洩電流を測定するに際して被
測定コンデンサ4を、プローブ7と切換えスイッチ8を
介して試験用電源1と電流検出回路2に接続し、電流検
出回路2により被測定コンデンサ4の漏洩電流を測定し
た後、漏洩電流測定時に被測定コンデンサ4に蓄積され
た電気を、プローブ7と切換えスイッチ8を介して放電
せしめてその電流値を検出し、漏洩電流を測定した時の
被測定コンデンサ4とプローブ7との接触状態を、放電
電流値から検知する本発明になるコンデンサの漏洩電流
測定方法によって解決される。
を放電するときの電流値から、プローブの接触状態を検
知できることに着目し上記問題点の解決を図ったもので
ある。即ち上記問題点は漏洩電流を測定するに際して被
測定コンデンサ4を、プローブ7と切換えスイッチ8を
介して試験用電源1と電流検出回路2に接続し、電流検
出回路2により被測定コンデンサ4の漏洩電流を測定し
た後、漏洩電流測定時に被測定コンデンサ4に蓄積され
た電気を、プローブ7と切換えスイッチ8を介して放電
せしめてその電流値を検出し、漏洩電流を測定した時の
被測定コンデンサ4とプローブ7との接触状態を、放電
電流値から検知する本発明になるコンデンサの漏洩電流
測定方法によって解決される。
第1図において電流検出回路によって被測定コンデンサ
の漏洩電流を測定した後、被測定コンデンサに蓄積され
た電気を放電せしめて放電電流を検出し、放電電流値か
ら被測定コンデンサとプローブとの接触状態を検知する
ことによって、被測定コンデンサに接触させるプローブ
が単極のプローブになり、切換えスイッチの回路数が減
少して回路構成が簡略化されると共に、被測定コンデン
サのリード端子とプローブの接触が確実になり、漏洩電
流を再測定する回数が減って作業効率を向上させること
ができる。
の漏洩電流を測定した後、被測定コンデンサに蓄積され
た電気を放電せしめて放電電流を検出し、放電電流値か
ら被測定コンデンサとプローブとの接触状態を検知する
ことによって、被測定コンデンサに接触させるプローブ
が単極のプローブになり、切換えスイッチの回路数が減
少して回路構成が簡略化されると共に、被測定コンデン
サのリード端子とプローブの接触が確実になり、漏洩電
流を再測定する回数が減って作業効率を向上させること
ができる。
以下添付図により本発明の漏洩電流測定方法について詳
細に説明する。なお第2図は本発明の一実施例を示す回
路図である。
細に説明する。なお第2図は本発明の一実施例を示す回
路図である。
本発明になる漏洩電流の測定方法では第1図に示す如く
試験電源1と電流検出回路2が用いられ、被測定コンデ
ンサ4の一方のリード端子はプローブ7と切換えスイッ
チ8を介して試験電源1に、また他方のリード端子はプ
ローブ7を介して電流検出回路2に接続される。図にお
いて切換えスイッチ8は試験電源1側に接続されてお
り、かかる場合は被測定コンデンサ4に試験電圧が印加
されて、その時の漏洩電流を電流検出回路2において測
定することができる。
試験電源1と電流検出回路2が用いられ、被測定コンデ
ンサ4の一方のリード端子はプローブ7と切換えスイッ
チ8を介して試験電源1に、また他方のリード端子はプ
ローブ7を介して電流検出回路2に接続される。図にお
いて切換えスイッチ8は試験電源1側に接続されてお
り、かかる場合は被測定コンデンサ4に試験電圧が印加
されて、その時の漏洩電流を電流検出回路2において測
定することができる。
漏洩電流を測定した後切換えスイッチ8を切り換える
と、それまで試験電源1に接続されていたプローブ7が
抵抗Rを介して接地され、被測定コンデンサ4に蓄積さ
れていた電気が抵抗Rを介して放電されて、電流検出回
路2によってその時の放電電流が検出される。
と、それまで試験電源1に接続されていたプローブ7が
抵抗Rを介して接地され、被測定コンデンサ4に蓄積さ
れていた電気が抵抗Rを介して放電されて、電流検出回
路2によってその時の放電電流が検出される。
切換えスイッチ8を切り換えることにより放電される電
気は、漏洩電流を測定する際にプローブ7とリード端子
の接触点を介して、被測定コンデンサ4に印加され蓄積
された電気であり、プローブ7とリード端子が確実に接
触していれば必ず放電電流が検出される。一方プローブ
7がリード端子に接触していない場合は、漏洩電流を測
定する際に被測定コンデンサ4に電気が蓄積されず、ま
た漏洩電流を測定する前に被測定コンデンサ4に電気が
蓄積されていても放電電流は流れない。接触不良の場合
は放電電流が流れてもその値が極めて微弱なため容易に
識別することができる。
気は、漏洩電流を測定する際にプローブ7とリード端子
の接触点を介して、被測定コンデンサ4に印加され蓄積
された電気であり、プローブ7とリード端子が確実に接
触していれば必ず放電電流が検出される。一方プローブ
7がリード端子に接触していない場合は、漏洩電流を測
定する際に被測定コンデンサ4に電気が蓄積されず、ま
た漏洩電流を測定する前に被測定コンデンサ4に電気が
蓄積されていても放電電流は流れない。接触不良の場合
は放電電流が流れてもその値が極めて微弱なため容易に
識別することができる。
第2図に示す実施例では漏洩電流の測定と接触状態の検
出を一層安定化するために、試験電源1と電流検出回路
2の他に放電電流検知回路9を設けている。即ち被測定
コンデンサ4の一方のリード端子はプローブ7と切換え
スイッチ8を介して試験電源1に、また他方のリード端
子はプローブ7と切換えスイッチ8を介して電流検出回
路2に接続される。電流検出回路2は例えば増幅回路21
と電流形22とで構成されている。図において切換えスイ
ッチ8は試験電源1側と電流検出回路2側に接続されて
おり、かかる場合は被測定コンデンサ4に試験電圧が印
加されて、その時の漏洩電流を電流検出回路2において
測定することができる。
出を一層安定化するために、試験電源1と電流検出回路
2の他に放電電流検知回路9を設けている。即ち被測定
コンデンサ4の一方のリード端子はプローブ7と切換え
スイッチ8を介して試験電源1に、また他方のリード端
子はプローブ7と切換えスイッチ8を介して電流検出回
路2に接続される。電流検出回路2は例えば増幅回路21
と電流形22とで構成されている。図において切換えスイ
ッチ8は試験電源1側と電流検出回路2側に接続されて
おり、かかる場合は被測定コンデンサ4に試験電圧が印
加されて、その時の漏洩電流を電流検出回路2において
測定することができる。
漏洩電流を測定した後切換えスイッチ8を切り換える
と、それまで試験電源1に接続されていたプローブと電
流検出回路2に接続されていたプローブが、放電電流検
知回路9のホトカップラ91を介して短絡され、被測定コ
ンデンサ4に蓄積されていた電気がホトカップラ91を介
して放電される。放電電流検知回路9はホトカップラ91
と判定回路92とで構成されており、このホトカップラ91
の出力電流に基づいて判定回路92において、被測定コン
デンサ4とプローブ7の接触状態の良否が判定される。
と、それまで試験電源1に接続されていたプローブと電
流検出回路2に接続されていたプローブが、放電電流検
知回路9のホトカップラ91を介して短絡され、被測定コ
ンデンサ4に蓄積されていた電気がホトカップラ91を介
して放電される。放電電流検知回路9はホトカップラ91
と判定回路92とで構成されており、このホトカップラ91
の出力電流に基づいて判定回路92において、被測定コン
デンサ4とプローブ7の接触状態の良否が判定される。
このように電流検出回路によって被測定コンデンサの漏
洩電流を測定した後、被測定コンデンサに蓄積された電
気を放電せしめて放電電流を検出し、放電電流値から被
測定コンデンサとプローブとの接触状態を検知すること
によって、被測定コンデンサに接触させるプローブが単
極のプローブになり、切換えスイッチの回路数が減少し
て回路構成が簡略化されると共に、被測定コンデンサの
リード端子とプローブの接触が確実になり、漏洩電流を
再測定する回数が減って作業効率を向上させることがで
きる。
洩電流を測定した後、被測定コンデンサに蓄積された電
気を放電せしめて放電電流を検出し、放電電流値から被
測定コンデンサとプローブとの接触状態を検知すること
によって、被測定コンデンサに接触させるプローブが単
極のプローブになり、切換えスイッチの回路数が減少し
て回路構成が簡略化されると共に、被測定コンデンサの
リード端子とプローブの接触が確実になり、漏洩電流を
再測定する回数が減って作業効率を向上させることがで
きる。
上述の如く本発明によれば測定装置を簡略化し作業効率
を向上させる漏洩電流の測定方法を提供することができ
る。
を向上させる漏洩電流の測定方法を提供することができ
る。
第1図は本発明になる漏洩電流測定方法の原理を示す回
路図、 第2図は本発明の一実施例を示す回路図、 第3図は従来の漏洩電流測定方法を示す回路図、 である。図において 1は試験用電源、2は電流検出回路、 4は被測定コンデンサ、7はプローブ、 8は切換えスイッチ、9は放電電流検知回路、 21は増幅回路、22は電流計、 91はホトカップラ、92は判定回路、 をそれぞれ表す。
路図、 第2図は本発明の一実施例を示す回路図、 第3図は従来の漏洩電流測定方法を示す回路図、 である。図において 1は試験用電源、2は電流検出回路、 4は被測定コンデンサ、7はプローブ、 8は切換えスイッチ、9は放電電流検知回路、 21は増幅回路、22は電流計、 91はホトカップラ、92は判定回路、 をそれぞれ表す。
Claims (1)
- 【請求項1】漏洩電流を測定するに際して被測定コンデ
ンサ(4) を、プローブ(7) と切換えスイッチ(8) を介し
て試験用電源(1) と電流検出回路(2) に接続し、電流検
出回路(2) により該被測定コンデンサ(4) の漏洩電流を
測定した後、 漏洩電流測定時に該被測定コンデンサ(4) に蓄積された
電気を、該プローブ(7) と該切換えスイッチ(8) を介し
て放電せしめてその電流値を検出し、漏洩電流を測定し
た時の該被測定コンデンサ(4) と該プローブ(7) との接
触状態を、該放電電流値から検知することを特徴とした
コンデンサの漏洩電流測定方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP25098487A JPH0640118B2 (ja) | 1987-10-05 | 1987-10-05 | コンデンサの漏洩電流測定方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP25098487A JPH0640118B2 (ja) | 1987-10-05 | 1987-10-05 | コンデンサの漏洩電流測定方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0192668A JPH0192668A (ja) | 1989-04-11 |
JPH0640118B2 true JPH0640118B2 (ja) | 1994-05-25 |
Family
ID=17215944
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP25098487A Expired - Lifetime JPH0640118B2 (ja) | 1987-10-05 | 1987-10-05 | コンデンサの漏洩電流測定方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0640118B2 (ja) |
Families Citing this family (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0333663A (ja) * | 1989-06-30 | 1991-02-13 | Hioki Ee Corp | 回路基板検査装置 |
JP2016114612A (ja) * | 2016-01-26 | 2016-06-23 | 日置電機株式会社 | コンデンサの検査方法 |
-
1987
- 1987-10-05 JP JP25098487A patent/JPH0640118B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH0192668A (ja) | 1989-04-11 |
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