JPH05289083A - 液晶配向方法および液晶配向装置 - Google Patents
液晶配向方法および液晶配向装置Info
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- JPH05289083A JPH05289083A JP8521992A JP8521992A JPH05289083A JP H05289083 A JPH05289083 A JP H05289083A JP 8521992 A JP8521992 A JP 8521992A JP 8521992 A JP8521992 A JP 8521992A JP H05289083 A JPH05289083 A JP H05289083A
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 本発明は液晶配向方法ならびに液晶配向装置
に関するもので、ラビング布の摩耗などでラビング条件
が初期設定値からかわっても常に一定条件で配向処理す
ることができるようにすることを目的とする。 【構成】 液晶表示素子の、基板上の液晶と接する面の
一部あるいは全面に形成された薄膜の表面を有機高分子
の布でこするラビング工程において、ラビング時に摩擦
力を計測し摩擦力が所定の値になり、なおかつ薄膜上の
一点を通過する有機高分子の布の延べ長さが一定になる
ようにラビング処理条件を変更しながらラビングするこ
とを特徴とする液晶配向方法。
に関するもので、ラビング布の摩耗などでラビング条件
が初期設定値からかわっても常に一定条件で配向処理す
ることができるようにすることを目的とする。 【構成】 液晶表示素子の、基板上の液晶と接する面の
一部あるいは全面に形成された薄膜の表面を有機高分子
の布でこするラビング工程において、ラビング時に摩擦
力を計測し摩擦力が所定の値になり、なおかつ薄膜上の
一点を通過する有機高分子の布の延べ長さが一定になる
ようにラビング処理条件を変更しながらラビングするこ
とを特徴とする液晶配向方法。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は液晶ディスプレイにおい
て液晶を配列させる方法に関する。また液晶を配列させ
る液晶配向装置に関する。
て液晶を配列させる方法に関する。また液晶を配列させ
る液晶配向装置に関する。
【0002】
【従来の技術】液晶表示素子では液晶分子の平行配向を
実現するために、基板上に薄膜(配向膜)を設けさらに
この薄膜を紙や布などで一方向にこすることを一般にお
こなっている。この薄膜を紙や布で一方向にこする方法
を一般にラビングとよんでいる。基板上の薄膜としては
ポリビニルアルコールやポリイミドがよく用いられてい
る。
実現するために、基板上に薄膜(配向膜)を設けさらに
この薄膜を紙や布などで一方向にこすることを一般にお
こなっている。この薄膜を紙や布で一方向にこする方法
を一般にラビングとよんでいる。基板上の薄膜としては
ポリビニルアルコールやポリイミドがよく用いられてい
る。
【0003】また基板上の薄膜をこする部材(ラビング
布)としてはナイロンやレーヨン、コットンなどの不織
布がよく用いられている。一般によく用いられているラ
ビング装置はラビングクロスが表面に張り付けられた回
転するローラに、基板を一定速度で移動させながら接触
させるものである。ラビングにより基板上の薄膜をこす
る強さの程度は経験則に基づくところが多い。
布)としてはナイロンやレーヨン、コットンなどの不織
布がよく用いられている。一般によく用いられているラ
ビング装置はラビングクロスが表面に張り付けられた回
転するローラに、基板を一定速度で移動させながら接触
させるものである。ラビングにより基板上の薄膜をこす
る強さの程度は経験則に基づくところが多い。
【0004】そこで内田氏らは、リキッドクリスタル誌
第5巻第4号P.1127−P.1137(1989
年)において、数多いラビング処理条件をまとめたラビ
ング密度パラメータを提案した。ラビング密度パラメー
タLとは配向膜上の一点を通過するラビング布の延べ長
さをあらわすもので、ラビング回数N・ラビングクロス
と基板が接する部分の長さl・ローラ半径r・ローラの
回転数n・基板を保持しているステージの移動速度vを
もちいて(数1)で計算されるものである。
第5巻第4号P.1127−P.1137(1989
年)において、数多いラビング処理条件をまとめたラビ
ング密度パラメータを提案した。ラビング密度パラメー
タLとは配向膜上の一点を通過するラビング布の延べ長
さをあらわすもので、ラビング回数N・ラビングクロス
と基板が接する部分の長さl・ローラ半径r・ローラの
回転数n・基板を保持しているステージの移動速度vを
もちいて(数1)で計算されるものである。
【0005】
【数1】
【0006】さらに内田氏らはラビング密度パラメータ
と表面アンカリングエネルギーの間には比例関係がある
ことを見いだしている。そこで最も液晶配向性のよいラ
ビング条件をみつけだし、ここでのべたラビング密度パ
ラメータが一定になるようにラビング処理条件を種々か
えて検討することが可能になった。したがってラビング
密度パラメータをもちいることで液晶配向性がよく量産
性が高いラビング条件を見つけることはある程度可能に
なった。
と表面アンカリングエネルギーの間には比例関係がある
ことを見いだしている。そこで最も液晶配向性のよいラ
ビング条件をみつけだし、ここでのべたラビング密度パ
ラメータが一定になるようにラビング処理条件を種々か
えて検討することが可能になった。したがってラビング
密度パラメータをもちいることで液晶配向性がよく量産
性が高いラビング条件を見つけることはある程度可能に
なった。
【0007】しかしながら先に述べた種々のラビング処
理条件を常に一定に保つことは困難である。なぜならラ
ビングロール表面に張り付けられたラビング布はラビン
グにより摩耗してくる。そのためラビング布と基板の接
触程度が変化する、すなわち(数1)におけるlが変化
してしまい結果的に液晶配向性が変化してしまうのであ
る。
理条件を常に一定に保つことは困難である。なぜならラ
ビングロール表面に張り付けられたラビング布はラビン
グにより摩耗してくる。そのためラビング布と基板の接
触程度が変化する、すなわち(数1)におけるlが変化
してしまい結果的に液晶配向性が変化してしまうのであ
る。
【0008】
【発明が解決しようとする課題】ラビング布の摩耗など
でラビング条件が初期設定値からかわっても常に一定条
件で配向処理することができるようにする液晶配向方
法、またそのような液晶配向装置を提供することが本発
明の課題である。
でラビング条件が初期設定値からかわっても常に一定条
件で配向処理することができるようにする液晶配向方
法、またそのような液晶配向装置を提供することが本発
明の課題である。
【0009】
【課題を解決するための手段】液晶表示素子の、基板上
の液晶と接する面の一部あるいは全面に形成された薄膜
の表面を有機高分子の布でこするラビング工程におい
て、ラビング時に摩擦力を計測して摩擦力を所定の値に
制御し、なおかつ薄膜上の一点を通過する有機高分子の
布の延べ長さが一定になるようにラビング処理条件を変
更しながらラビングする液晶配向方法をもちいる。
の液晶と接する面の一部あるいは全面に形成された薄膜
の表面を有機高分子の布でこするラビング工程におい
て、ラビング時に摩擦力を計測して摩擦力を所定の値に
制御し、なおかつ薄膜上の一点を通過する有機高分子の
布の延べ長さが一定になるようにラビング処理条件を変
更しながらラビングする液晶配向方法をもちいる。
【0010】また、液晶と接する面の一部あるいは全面
に薄膜が形成された基板を保持する支持台と、前記基板
の前記薄膜形成面の表面に接触して相対的に移動する手
段と前記薄膜形成面に接触して移動する際の摩擦力およ
び相対的な移動速度を測定する手段と、前記基板の測定
した摩擦力の値、および薄膜上の一点を通過する有機高
分子の布の延べ長さの値が変化しないようにラビング処
理条件を変更する手段を少なくとも備えた液晶配向装
置。
に薄膜が形成された基板を保持する支持台と、前記基板
の前記薄膜形成面の表面に接触して相対的に移動する手
段と前記薄膜形成面に接触して移動する際の摩擦力およ
び相対的な移動速度を測定する手段と、前記基板の測定
した摩擦力の値、および薄膜上の一点を通過する有機高
分子の布の延べ長さの値が変化しないようにラビング処
理条件を変更する手段を少なくとも備えた液晶配向装
置。
【0011】
【作用】ラビングとは配向膜に対してずり応力をかけて
配向膜を延伸する作用であるといえる。従ってラビング
時の仕事量が一定になるようにラビング処理条件を変更
することで常に一定の仕事を配向膜に与えることができ
るようになる。
配向膜を延伸する作用であるといえる。従ってラビング
時の仕事量が一定になるようにラビング処理条件を変更
することで常に一定の仕事を配向膜に与えることができ
るようになる。
【0012】より具体的にはラビングクロスが摩耗して
変化するとクロスと配向膜の摩擦係数が初期値から変化
する。そのため摩擦力が初期値と同じになるようにラビ
ング処理条件を変更し、また配向膜上の一点にラビング
クロスの接触する延べ長さを一定にしながらラビングす
ることで常に配向膜に与える仕事量を一定にすることが
可能となり、一定条件でラビング処理することが可能と
なる。
変化するとクロスと配向膜の摩擦係数が初期値から変化
する。そのため摩擦力が初期値と同じになるようにラビ
ング処理条件を変更し、また配向膜上の一点にラビング
クロスの接触する延べ長さを一定にしながらラビングす
ることで常に配向膜に与える仕事量を一定にすることが
可能となり、一定条件でラビング処理することが可能と
なる。
【0013】
【実施例】(図1)は本発明の液晶配向装置の一実施例
の斜視図である。以下(図1)をもとに実施例の説明を
する。(図1)において支持台1の上に透明基板2が配
置され、構造体3上に配置されている。支持台1には、
構造体3に対しx方向の移動およびz方向に移動できる
ように、支持台x方向移動装置4と支持台z方向移動装
置5が設置されている。ここでx方向とz方向は(図
1)中に示してある。支持台1のx方向への移動はどの
ような機構でおこなってもよいが、ラビング時には支持
台1に大きな荷重が加わるため、耐荷重の大きな移動機
構を用いるのが好ましい。
の斜視図である。以下(図1)をもとに実施例の説明を
する。(図1)において支持台1の上に透明基板2が配
置され、構造体3上に配置されている。支持台1には、
構造体3に対しx方向の移動およびz方向に移動できる
ように、支持台x方向移動装置4と支持台z方向移動装
置5が設置されている。ここでx方向とz方向は(図
1)中に示してある。支持台1のx方向への移動はどの
ような機構でおこなってもよいが、ラビング時には支持
台1に大きな荷重が加わるため、耐荷重の大きな移動機
構を用いるのが好ましい。
【0014】また移動速度ならびに移動方向は外部から
コントロールできるようにしておくべきである。x方向
移動装置4には移動速度検出および移動方向検出装置を
備えている必要がある。移動速度は最大100mm/s程度
であるのが好ましい。また支持台1のz方向の移動もど
のような機構でおこなっても構わないが、精密な0.0
1mm以下の位置決め精度が必要なのでクロスローラガイ
ド方式で案内し、ボールネジとウォームギアをステッピ
ングモータで駆動するのが、最も好ましい。z方向移動
装置5は移動速度検出および移動方向検出装置を備えて
いる必要がある。
コントロールできるようにしておくべきである。x方向
移動装置4には移動速度検出および移動方向検出装置を
備えている必要がある。移動速度は最大100mm/s程度
であるのが好ましい。また支持台1のz方向の移動もど
のような機構でおこなっても構わないが、精密な0.0
1mm以下の位置決め精度が必要なのでクロスローラガイ
ド方式で案内し、ボールネジとウォームギアをステッピ
ングモータで駆動するのが、最も好ましい。z方向移動
装置5は移動速度検出および移動方向検出装置を備えて
いる必要がある。
【0015】支持体1上の透明基板2はガラスやポリカ
ーボネートなどの公知の可視光を透過する材料を用いる
ことができる。透明基板2上には液晶の配向制御を容易
にするために有機高分子薄膜を配置しておくのが好まし
い。有機高分子薄膜としてより好ましくはポリビニルア
ルコール、ポリアミド、ポリイミド、ポリウレタン、ポ
リエチレンテレフタレート等の結晶性高分子を用いるべ
きである。また液晶駆動用に透明電極や薄膜トランジス
タ、カラー表示を実現するためにカラーフィルタを透明
基板2と有機高分子薄膜間に配置することが可能なこと
はいうまでもない。
ーボネートなどの公知の可視光を透過する材料を用いる
ことができる。透明基板2上には液晶の配向制御を容易
にするために有機高分子薄膜を配置しておくのが好まし
い。有機高分子薄膜としてより好ましくはポリビニルア
ルコール、ポリアミド、ポリイミド、ポリウレタン、ポ
リエチレンテレフタレート等の結晶性高分子を用いるべ
きである。また液晶駆動用に透明電極や薄膜トランジス
タ、カラー表示を実現するためにカラーフィルタを透明
基板2と有機高分子薄膜間に配置することが可能なこと
はいうまでもない。
【0016】支持台1をx方向に移動させると透明基板
2の表面に接するようにラビングロール6が構造体3上
に配置されている。ラビングロール6は回転機7により
回転運動できるようになっている。ラビングロール6の
材質は、アルミニウムやステンレスなどをもちいること
ができるが、その表面の全面に有機高分子を配置するほ
うがラビング効果を大きくできて有利である。ラビング
ロール6表面に配置する有機高分子としてはナイロン、
レーヨン、コットンの不織布が最適である。またラビン
グロール6の回転軸がx方向(支持体1の移動方向)に
対してなす角は、(図1)では90度になっているが、
ラビング効果が得られる角度であれば何度であってもか
まわない。
2の表面に接するようにラビングロール6が構造体3上
に配置されている。ラビングロール6は回転機7により
回転運動できるようになっている。ラビングロール6の
材質は、アルミニウムやステンレスなどをもちいること
ができるが、その表面の全面に有機高分子を配置するほ
うがラビング効果を大きくできて有利である。ラビング
ロール6表面に配置する有機高分子としてはナイロン、
レーヨン、コットンの不織布が最適である。またラビン
グロール6の回転軸がx方向(支持体1の移動方向)に
対してなす角は、(図1)では90度になっているが、
ラビング効果が得られる角度であれば何度であってもか
まわない。
【0017】また回転機7はどの様な種類のものであっ
ても構わないが、回転精度が高いほうがラビング効果の
均一性が得やすく有利である。さらにラビング時のトル
クは回転機5の入力電流から測定するのが簡便でよく、
DCブラシレスモータが入力電流とトルクに比例関係が
あり、回転機7としては最適である。
ても構わないが、回転精度が高いほうがラビング効果の
均一性が得やすく有利である。さらにラビング時のトル
クは回転機5の入力電流から測定するのが簡便でよく、
DCブラシレスモータが入力電流とトルクに比例関係が
あり、回転機7としては最適である。
【0018】(図2)は、本発明の配向制御装置のブロ
ックダイヤグラムである。回転機7と支持台x方向移動
装置4ならびに支持台z方向移動装置5がコントローラ
で制御されている。回転機7にはトルク計測機構が設置
されており、計測したトルクのデータはコントローラへ
送られるようになっている。
ックダイヤグラムである。回転機7と支持台x方向移動
装置4ならびに支持台z方向移動装置5がコントローラ
で制御されている。回転機7にはトルク計測機構が設置
されており、計測したトルクのデータはコントローラへ
送られるようになっている。
【0019】コントローラは回転機には回転数を指示
し、支持台x方向移動装置には移動速度と向きを指示
し、支持台z方向移動装置には上下移動の指示をする。
コントローラは計測したトルクの計測値と基準値を比較
し計測値が基準値より小さい場合は支持台z方向移動装
置に支持台を+z方向へ移動する指令をだし、計測値が
基準値より大きい場合は逆に支持台を−z方向へ移動す
る指令をだすようになっている。トルクの計測は回転機
7への入力電流を用いるのが簡便である。たとえば回転
機7としてDCブラシレスモータを使えば、トルクとモ
ータへの入力電流値が比例するので最も管理し易い。
し、支持台x方向移動装置には移動速度と向きを指示
し、支持台z方向移動装置には上下移動の指示をする。
コントローラは計測したトルクの計測値と基準値を比較
し計測値が基準値より小さい場合は支持台z方向移動装
置に支持台を+z方向へ移動する指令をだし、計測値が
基準値より大きい場合は逆に支持台を−z方向へ移動す
る指令をだすようになっている。トルクの計測は回転機
7への入力電流を用いるのが簡便である。たとえば回転
機7としてDCブラシレスモータを使えば、トルクとモ
ータへの入力電流値が比例するので最も管理し易い。
【0020】また、トルクが一定になるように支持台を
移動するとラビングロール表面に配置した有機高分子と
基板が接する部分の長さが変化するので、配向膜上の一
点を通過するラビング布の延べ長さがかわってくる。そ
のため配向膜に与えられる仕事量が変化するため配向膜
の延伸程度が変わってしまう。従っていま述べてきたよ
うな回転するラビングローラをもちいた配向制御装置で
はトルクが一定になるように支持台をz方向に移動さ
せ、その移動量を検出し配向膜上の一点を通過するラビ
ング布の延べ長さが一定になるように支持台のx方向移
動速度を変化させる必要がある。
移動するとラビングロール表面に配置した有機高分子と
基板が接する部分の長さが変化するので、配向膜上の一
点を通過するラビング布の延べ長さがかわってくる。そ
のため配向膜に与えられる仕事量が変化するため配向膜
の延伸程度が変わってしまう。従っていま述べてきたよ
うな回転するラビングローラをもちいた配向制御装置で
はトルクが一定になるように支持台をz方向に移動さ
せ、その移動量を検出し配向膜上の一点を通過するラビ
ング布の延べ長さが一定になるように支持台のx方向移
動速度を変化させる必要がある。
【0021】なお配向膜上の一点を通過するラビング布
の延べ長さは、内田らのラビング密度パラメータをその
まま使用すればよく、ラビング回数N・ラビングクロス
と基板が接する部分の長さl・ローラ半径r・ローラの
回転数n・基板を保持しているステージの移動速度vを
もちいて(数1)で計算できる。よって本発明の配向制
御装置のコントローラとしてはパーソナルコンピュータ
がプログラムを作成しやすく使いやすい。
の延べ長さは、内田らのラビング密度パラメータをその
まま使用すればよく、ラビング回数N・ラビングクロス
と基板が接する部分の長さl・ローラ半径r・ローラの
回転数n・基板を保持しているステージの移動速度vを
もちいて(数1)で計算できる。よって本発明の配向制
御装置のコントローラとしてはパーソナルコンピュータ
がプログラムを作成しやすく使いやすい。
【0022】以下に具体的な実施例を述べる。 (実施例1〜5)配向制御装置は以下のようにして作成
した。ステンレスの匡体上に光学用自動x軸ステージを
取り付けそのx軸ステージ上に光学用自動z軸ステージ
を取り付けた。この光学用自動z軸ステージ上に基板を
のせるための平面ステージを接続した。この平面ステー
ジの基板取り付け部に穴をあけ、真空ポンプに接続し、
取り付けた基板がラビング時に移動しないように真空チ
ャックできるようにした。
した。ステンレスの匡体上に光学用自動x軸ステージを
取り付けそのx軸ステージ上に光学用自動z軸ステージ
を取り付けた。この光学用自動z軸ステージ上に基板を
のせるための平面ステージを接続した。この平面ステー
ジの基板取り付け部に穴をあけ、真空ポンプに接続し、
取り付けた基板がラビング時に移動しないように真空チ
ャックできるようにした。
【0023】さらにステンレスの匡体上に基板と線接触
できるように直径44mmのラビングロールを配置し
た。このラビングロールはDCスピードコントロールモ
ータに接続し、その回転数をコントロールできるように
した。またDCスピードコントロールモータの入力電流
値をデジタルマルチメータで測定できるようにした。
できるように直径44mmのラビングロールを配置し
た。このラビングロールはDCスピードコントロールモ
ータに接続し、その回転数をコントロールできるように
した。またDCスピードコントロールモータの入力電流
値をデジタルマルチメータで測定できるようにした。
【0024】パーソナルコンピュータを用意し、x軸ス
テージ移動速度と移動距離、z軸ステージ移動速度と移
動距離、ラビングロール回転数とラビングロール用モー
タ入力電流値を測定できるようにした。トルクと電流値
の関係は(図3)に示すようにほぼ比例関係にあった。
したがって電流値を測定することでトルクに換算するこ
とが可能である。
テージ移動速度と移動距離、z軸ステージ移動速度と移
動距離、ラビングロール回転数とラビングロール用モー
タ入力電流値を測定できるようにした。トルクと電流値
の関係は(図3)に示すようにほぼ比例関係にあった。
したがって電流値を測定することでトルクに換算するこ
とが可能である。
【0025】このようにして作成した配向制御装置を用
いて以下のサンプルを用いて実施例の液晶配向膜を作成
した。基板として片面に電極面積2cm2 のITO透明
電極を作成した縦4cm、横3cm、厚さ1.1mmのガラ
ス基板上の透明電極形成面に配向膜材料(日産化学製S
E150)を80nm形成した。
いて以下のサンプルを用いて実施例の液晶配向膜を作成
した。基板として片面に電極面積2cm2 のITO透明
電極を作成した縦4cm、横3cm、厚さ1.1mmのガラ
ス基板上の透明電極形成面に配向膜材料(日産化学製S
E150)を80nm形成した。
【0026】ラビングロール表面に(表1)に示すラビ
ング布を接着しラビングロールの回転数600min-1
でガラス基板上の配向膜形成面をラビング布と接触させ
ながらラビングした。
ング布を接着しラビングロールの回転数600min-1
でガラス基板上の配向膜形成面をラビング布と接触させ
ながらラビングした。
【0027】
【表1】
【0028】各実施例とも200枚の基板をラビングし
た。この際1枚目の基板のx方向移動速度を9mm/sとし
た。ラビング布の配向膜への押し込み量はラビング布と
配向膜が接触した時を0として計測した。1枚目のラビ
ング時の押し込み量を表1に示した。ここでラビングは
1枚目のラビング時のトルクの値と、配向膜上の一点を
通過する配向膜の延べ長さを一定に保ちながらおこなっ
た。
た。この際1枚目の基板のx方向移動速度を9mm/sとし
た。ラビング布の配向膜への押し込み量はラビング布と
配向膜が接触した時を0として計測した。1枚目のラビ
ング時の押し込み量を表1に示した。ここでラビングは
1枚目のラビング時のトルクの値と、配向膜上の一点を
通過する配向膜の延べ長さを一定に保ちながらおこなっ
た。
【0029】(比較例)実施例で用いたのと同様なサン
プルを用いて実施例の1枚目のラビング時の押し込み
量、X方向移動速度に固定して200枚ラビングした。
その他のラビング条件は実施例と同様にした。
プルを用いて実施例の1枚目のラビング時の押し込み
量、X方向移動速度に固定して200枚ラビングした。
その他のラビング条件は実施例と同様にした。
【0030】(配向性検討)このようにして同条件でラ
ビングした基板2枚をラビング方向が直交するように配
向膜を相対して配置し、接着剤を用いて2枚のガラス基
板の周囲を一箇所を除いて5μmの間隔をあけて接合し
た。その間隙へネマティック液晶(メルク社製PCH
5)を真空注入法により導入した。さらに液晶注入部を
接着剤により封じ、液晶表示素子を作成した。実施例、
比較例の全てのサンプルに対して、液晶表示素子を2枚
の互いに偏光軸を直交させた偏光板中に保持し外部から
30Hz、5Vの矩形波を印加したところ電界印加部のみ
光量の変化がみられた。
ビングした基板2枚をラビング方向が直交するように配
向膜を相対して配置し、接着剤を用いて2枚のガラス基
板の周囲を一箇所を除いて5μmの間隔をあけて接合し
た。その間隙へネマティック液晶(メルク社製PCH
5)を真空注入法により導入した。さらに液晶注入部を
接着剤により封じ、液晶表示素子を作成した。実施例、
比較例の全てのサンプルに対して、液晶表示素子を2枚
の互いに偏光軸を直交させた偏光板中に保持し外部から
30Hz、5Vの矩形波を印加したところ電界印加部のみ
光量の変化がみられた。
【0031】さらに実施例及び比較例の同条件の2枚の
基板でラビング方向が反平行になるように組み合わせて
作成した液晶パネルについてクリスタルローテーション
法を用いてプレチルト角を測定した。結果を(表2)に
示す。
基板でラビング方向が反平行になるように組み合わせて
作成した液晶パネルについてクリスタルローテーション
法を用いてプレチルト角を測定した。結果を(表2)に
示す。
【0032】
【表2】
【0033】この(表2)に明らかなように、実施例で
はラビング回数によるプレチルト変化がほとんどみられ
ないのに対し、比較例ではラビング回数が増えるにつれ
てプレチルト角の著しい低下が起こっている。
はラビング回数によるプレチルト変化がほとんどみられ
ないのに対し、比較例ではラビング回数が増えるにつれ
てプレチルト角の著しい低下が起こっている。
【0034】
【発明の効果】以上のように本発明は液晶表示素子の、
基板上の液晶と接する面の一部あるいは全面に形成され
た薄膜の表面を有機高分子の布でこするラビング工程に
おいて、ラビング時に摩擦力を計測して摩擦力を所定の
値に制御し、なおかつ薄膜上の一点を通過する有機高分
子の布の延べ長さが一定になるようにラビング処理条件
を変更しながらラビングする液晶配向方法をもちいるこ
とでラビング布の摩耗などでラビング条件が初期設定値
からかわっても常に一定条件で配向処理することができ
るようになった。
基板上の液晶と接する面の一部あるいは全面に形成され
た薄膜の表面を有機高分子の布でこするラビング工程に
おいて、ラビング時に摩擦力を計測して摩擦力を所定の
値に制御し、なおかつ薄膜上の一点を通過する有機高分
子の布の延べ長さが一定になるようにラビング処理条件
を変更しながらラビングする液晶配向方法をもちいるこ
とでラビング布の摩耗などでラビング条件が初期設定値
からかわっても常に一定条件で配向処理することができ
るようになった。
【0035】また液晶と接する面の一部あるいは全面に
薄膜が形成された基板を保持する支持台と、前記基板の
前記薄膜形成面の表面に接触して相対的に移動する手段
と前記薄膜形成面に接触して移動する際の摩擦力および
相対的な移動速度を測定する手段と、前記基板の測定し
た摩擦力の値、および薄膜上の一点を通過する有機高分
子の布の延べ長さの値が変化しないようにラビング処理
条件を変更する手段を少なくとも備えた液晶配向装置を
もちいて常に一定条件でラビングできる液晶配向装置を
提供することができるようになった。
薄膜が形成された基板を保持する支持台と、前記基板の
前記薄膜形成面の表面に接触して相対的に移動する手段
と前記薄膜形成面に接触して移動する際の摩擦力および
相対的な移動速度を測定する手段と、前記基板の測定し
た摩擦力の値、および薄膜上の一点を通過する有機高分
子の布の延べ長さの値が変化しないようにラビング処理
条件を変更する手段を少なくとも備えた液晶配向装置を
もちいて常に一定条件でラビングできる液晶配向装置を
提供することができるようになった。
【0036】なお、本発明ではツイスティッドネマティ
ック型の液晶表示素子を例にとって説明したが、その他
の液晶表示素子、例えばスーパーツイスティッドネマテ
ィック(STN)型、SBE型、強誘電性液晶型、スー
パーホメオトロピック(SH)型等の液晶表示素子の製
造方法に用いることができるのはいうまでもない。また
実施例では基板の支持体がx方向に移動し、z方向に上
下するタイプの液晶配向装置の説明をしたが、ラビング
ロールとの相対運動なので、ラビングロールがx方向ま
たは/とz方向に移動するタイプの液晶配向装置にも本
発明を適応することができる。
ック型の液晶表示素子を例にとって説明したが、その他
の液晶表示素子、例えばスーパーツイスティッドネマテ
ィック(STN)型、SBE型、強誘電性液晶型、スー
パーホメオトロピック(SH)型等の液晶表示素子の製
造方法に用いることができるのはいうまでもない。また
実施例では基板の支持体がx方向に移動し、z方向に上
下するタイプの液晶配向装置の説明をしたが、ラビング
ロールとの相対運動なので、ラビングロールがx方向ま
たは/とz方向に移動するタイプの液晶配向装置にも本
発明を適応することができる。
【図1】本発明の実施例の液晶配向装置の斜視図
【図2】本発明の実施例の液晶配向装置のブロックダイ
ヤグラム
ヤグラム
【図3】本発明の実施例のトルクと電流値の関係を示す
グラフ
グラフ
1 支持体 2 透明基板 3 構造体 4 支持体x方向移動装置 5 支持体z方向移動装置 6 ラビングロール 7 回転機
Claims (6)
- 【請求項1】液晶表示素子の、基板上の液晶と接する面
の一部あるいは全面に形成された薄膜の表面を有機高分
子の布でこするラビング工程において、ラビング時に摩
擦力を計測して摩擦力を所定の値に制御し、なおかつ薄
膜上の一点を通過する有機高分子の布の延べ長さが一定
になるようにラビング処理条件を変更しながらラビング
することを特徴とする液晶配向方法。 - 【請求項2】ラビング方法が、中心を回転軸として回転
する円柱を薄膜上で接触させながら移動させるものであ
って、摩擦力を円柱回転時のトルクを測定することによ
り求めることを特徴とする請求項1記載の液晶配向方
法。 - 【請求項3】円柱を回転させる駆動力がDCモータの回
転により与えられるものであって、トルクをDCモータ
の入力電流を測定することにより求めることを特徴とす
る請求項2記載の液晶配向方法。 - 【請求項4】薄膜の表面をラビングする際に、摩擦力が
所定の値になるように有機高分子を薄膜表面に押しつけ
る圧力を変更することを特徴とする請求項1記載の液晶
配向方法。 - 【請求項5】薄膜が有機高分子材料であることを特徴と
する請求項1記載の液晶配向方法。 - 【請求項6】液晶と接する面の一部あるいは全面に薄膜
が形成された基板を保持する支持台と、前記基板の前記
薄膜形成面の表面に接触して相対的に移動する手段と、
前記薄膜形成面に接触して移動する際の摩擦力および相
対的な移動速度を測定する手段と、前記基板の測定した
摩擦力の値および薄膜上の一点を通過する有機高分子の
布の延べ長さの値が変化しないようにラビング処理条件
を変更する手段とを少なくとも備えたことを特徴とする
液晶配向装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP8521992A JPH05289083A (ja) | 1992-04-07 | 1992-04-07 | 液晶配向方法および液晶配向装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP8521992A JPH05289083A (ja) | 1992-04-07 | 1992-04-07 | 液晶配向方法および液晶配向装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH05289083A true JPH05289083A (ja) | 1993-11-05 |
Family
ID=13852464
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP8521992A Pending JPH05289083A (ja) | 1992-04-07 | 1992-04-07 | 液晶配向方法および液晶配向装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH05289083A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2007071225A (ja) * | 2005-09-02 | 2007-03-22 | Kochi Univ Of Technology | 液晶欠陥を利用した液晶流動形成機構および液晶流動形成方法、並びに、液晶流動を利用した物体移動機構および物体移動方法 |
JP2010151971A (ja) * | 2008-12-24 | 2010-07-08 | Fujifilm Corp | 光学補償フィルムの製造方法 |
-
1992
- 1992-04-07 JP JP8521992A patent/JPH05289083A/ja active Pending
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2007071225A (ja) * | 2005-09-02 | 2007-03-22 | Kochi Univ Of Technology | 液晶欠陥を利用した液晶流動形成機構および液晶流動形成方法、並びに、液晶流動を利用した物体移動機構および物体移動方法 |
JP2010151971A (ja) * | 2008-12-24 | 2010-07-08 | Fujifilm Corp | 光学補償フィルムの製造方法 |
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