JPH0444101A - オートスライス装置 - Google Patents
オートスライス装置Info
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- JPH0444101A JPH0444101A JP2152216A JP15221690A JPH0444101A JP H0444101 A JPH0444101 A JP H0444101A JP 2152216 A JP2152216 A JP 2152216A JP 15221690 A JP15221690 A JP 15221690A JP H0444101 A JPH0444101 A JP H0444101A
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- output voltage
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- 230000003321 amplification Effects 0.000 claims abstract description 36
- 238000003199 nucleic acid amplification method Methods 0.000 claims abstract description 36
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 abstract 1
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 12
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 10
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 5
- 230000007704 transition Effects 0.000 description 4
- 238000000034 method Methods 0.000 description 3
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 2
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000012544 monitoring process Methods 0.000 description 1
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- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
- Indication And Recording Devices For Special Purposes And Tariff Metering Devices (AREA)
- Geophysics And Detection Of Objects (AREA)
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔概 要〕
信号の増幅レベルおよびスライスレベルの設定を行うオ
ートスライス装置に関し、 適正なスライスレベルを自動的に設定することを目的と
し、 信号の増幅を行う増幅手段と、所定の電圧を発生させる
電圧発生手段と、該増幅手段および該電圧発生手段の出
力電圧の大小を比較する比較手段と、該比較手段の比較
結果に基づいて該増幅手段の出力電圧および該電圧発生
手段の出力電圧を変化させる制御手段を有し、該増幅手
段の出力電圧が該電圧発生手段の出力電圧より大きくな
ったときの該増幅手段の増幅率および該電圧発生手段の
出力電圧を各々該信号の増幅レベルおよびスライスレベ
ルとするように構成する。
ートスライス装置に関し、 適正なスライスレベルを自動的に設定することを目的と
し、 信号の増幅を行う増幅手段と、所定の電圧を発生させる
電圧発生手段と、該増幅手段および該電圧発生手段の出
力電圧の大小を比較する比較手段と、該比較手段の比較
結果に基づいて該増幅手段の出力電圧および該電圧発生
手段の出力電圧を変化させる制御手段を有し、該増幅手
段の出力電圧が該電圧発生手段の出力電圧より大きくな
ったときの該増幅手段の増幅率および該電圧発生手段の
出力電圧を各々該信号の増幅レベルおよびスライスレベ
ルとするように構成する。
本発明は信号の増幅レベルおよびスライスレベルの設定
を行うオートスライス装置に関する。
を行うオートスライス装置に関する。
自動預金支払機やファクシミリ装置では通帳や原稿の位
置を検出するために、従来から光センサが用いられてい
る。光センサは発光素子と受光素子を対向して配置した
ものから成り、発光素子から照射された光を受光素子で
検出し、その出力が発光素子と受光素子間の物体の有無
によって変化することを利用するものである。物体の有
無は、あらかじめ設定されたスライスレベルと受光素子
の出力の大小を検出することによって判断される。
置を検出するために、従来から光センサが用いられてい
る。光センサは発光素子と受光素子を対向して配置した
ものから成り、発光素子から照射された光を受光素子で
検出し、その出力が発光素子と受光素子間の物体の有無
によって変化することを利用するものである。物体の有
無は、あらかじめ設定されたスライスレベルと受光素子
の出力の大小を検出することによって判断される。
従って物体の検出精度を保持するためには、受光素子の
出力レベルおよびそのスライスレベルを適正に調整する
ことが要求される。
出力レベルおよびそのスライスレベルを適正に調整する
ことが要求される。
第３図（ａ）、（ｂ）は光センサを用いて物体の有無の
検出を行う方法を説明するための図であり、たとえば、
通帳や原稿の頁の検出、位置の検出に用いられる。
検出を行う方法を説明するための図であり、たとえば、
通帳や原稿の頁の検出、位置の検出に用いられる。
同図（ａ）に示したように、光センサはＬＥＤＩＩＩと
フォトトランジスタ１１２を対向して配置さセたものか
ら成り、ＬＥＤＩＩＩの照射光はフォトトランジスタ１
１２により受光され抵抗器１２２で信号電圧Ｖｐに変換
される。そして比較部１１７において上記信号電圧Ｖｐ
と電圧源１２３によって発生させたスライス電圧Ｖｓと
の大小を比較検出する。
フォトトランジスタ１１２を対向して配置さセたものか
ら成り、ＬＥＤＩＩＩの照射光はフォトトランジスタ１
１２により受光され抵抗器１２２で信号電圧Ｖｐに変換
される。そして比較部１１７において上記信号電圧Ｖｐ
と電圧源１２３によって発生させたスライス電圧Ｖｓと
の大小を比較検出する。
Ｌ Ｅ Ｄｌｌｌ とフォトトランジスタ１１２の間に
原稿１２１が挿入されていない場合にはＬＥＤｌｌｌの
照射光の大部分はフォトトランジスタ１１２に入射し信
号電圧Ｖｐは最大値をとるが、原稿１２１が同図（ａ）
に示した方向に沿って移動しＬＥＤＩＩＩとフォトトラ
ンジスタ１１２の間に挿入されると、ＬＥＤｌｌｌの照
射光は原稿１２１によって遮光されるため信号電圧Ｖｐ
は低下する。同図（ｂ）に示したように従来は、電圧源
１２３を手動で調整することによってスライス電圧Ｖｓ
を信号電圧Ｖｐの最大値より低い適当な値に設定し、比
較部１１７の出力を監視することによって原稿１２１の
有無を検出するようにしていた。
原稿１２１が挿入されていない場合にはＬＥＤｌｌｌの
照射光の大部分はフォトトランジスタ１１２に入射し信
号電圧Ｖｐは最大値をとるが、原稿１２１が同図（ａ）
に示した方向に沿って移動しＬＥＤＩＩＩとフォトトラ
ンジスタ１１２の間に挿入されると、ＬＥＤｌｌｌの照
射光は原稿１２１によって遮光されるため信号電圧Ｖｐ
は低下する。同図（ｂ）に示したように従来は、電圧源
１２３を手動で調整することによってスライス電圧Ｖｓ
を信号電圧Ｖｐの最大値より低い適当な値に設定し、比
較部１１７の出力を監視することによって原稿１２１の
有無を検出するようにしていた。
一般に、ファクシミリ装置や自動預金支払機等の機器で
は、機器内の様々な場所で原稿や通帳の有無を検出する
ため同一機器内に上記のような光センサを多数配置して
いるが、ＬＥＤとフォトトランジスタの相対的な位置関
係は機器の形状等によって制限され、各光センサによっ
て異なっているのが普通である。ところがフォトトラン
ジスタの出力はＬＥＤとの位置関係によって影響される
ため、各光センサごとにフォトトランジスタの出力レベ
ルが異なることになる。従って、個々の光センサ毎にフ
ォトトランジスタの出力レベル及びスライスレベルの調
整を行う必要がある。このような調整作業を多数の光セ
ンサを有する装置において手動で行う場合には、設定に
時間を要して機器製造コスト上昇の原因となるばかりで
な（、個々の光センサによって物体検出精度にバラツキ
が生じ機器の動作の信転性を低下させるという問題があ
った。
は、機器内の様々な場所で原稿や通帳の有無を検出する
ため同一機器内に上記のような光センサを多数配置して
いるが、ＬＥＤとフォトトランジスタの相対的な位置関
係は機器の形状等によって制限され、各光センサによっ
て異なっているのが普通である。ところがフォトトラン
ジスタの出力はＬＥＤとの位置関係によって影響される
ため、各光センサごとにフォトトランジスタの出力レベ
ルが異なることになる。従って、個々の光センサ毎にフ
ォトトランジスタの出力レベル及びスライスレベルの調
整を行う必要がある。このような調整作業を多数の光セ
ンサを有する装置において手動で行う場合には、設定に
時間を要して機器製造コスト上昇の原因となるばかりで
な（、個々の光センサによって物体検出精度にバラツキ
が生じ機器の動作の信転性を低下させるという問題があ
った。
そこで本発明は、適正なスライスレベルを自動的に設定
することを目的とする。
することを目的とする。
上記課題の解決は、信号の増幅を行う増幅手段と、所定
の電圧を発生させる電圧発生手段と、該増幅手段および
該電圧発生手段の出力電圧の大小を比較する比較手段と
、該比較手段の比較結果に基づいて該増幅手段の出力電
圧および該電圧発生手段の出力電圧を変化させる制御手
段を有し、該増幅手段の出力電圧が該電圧発生手段の出
力電圧より大きくなったときの該増幅手段の増幅率およ
び該電圧発生手段の出力電圧を各々該信号の増幅レベル
およびスライスレベルとするようにしたことを特徴とす
るオートスライス装置によって達成される。
の電圧を発生させる電圧発生手段と、該増幅手段および
該電圧発生手段の出力電圧の大小を比較する比較手段と
、該比較手段の比較結果に基づいて該増幅手段の出力電
圧および該電圧発生手段の出力電圧を変化させる制御手
段を有し、該増幅手段の出力電圧が該電圧発生手段の出
力電圧より大きくなったときの該増幅手段の増幅率およ
び該電圧発生手段の出力電圧を各々該信号の増幅レベル
およびスライスレベルとするようにしたことを特徴とす
るオートスライス装置によって達成される。
第１図は本発明の原理ブロック図を示したものであり、
１１は増幅手段、１２は電圧発生手段、１３は比較手段
、１４は制御手段である。
１１は増幅手段、１２は電圧発生手段、１３は比較手段
、１４は制御手段である。
同図に示したように、信号出力を増幅手段１１によって
増幅して得た電圧ｖｈと電圧発生手段１２の出力電圧Ｖ
ｓを比較手段１３に入力する。比較手段１３ではｖｈと
Ｖｓの大小を比較しその結果を制御手段１４に通知する
。制御手段１４では、ｖｈがＶｓより小さい場合には制
御信号を増幅手段１１および電圧発生手段１２に送って
ｖｈを増加させるとともにＶｓを減少させ、ｖｈがＶｓ
より大きくなったときに上記制御信号の送出を停止し、
この時点でｖｈとＶｓを固定する。以上の方法により、
Ｖｓはｖｈに対しわずかに低いレベルに自動的に設定さ
れることになり、このときの増幅手段１１の増幅率を信
号の増幅レベルとして用い、電圧発生手段１２の出力電
圧をスライスレベルとして用いることができる。
増幅して得た電圧ｖｈと電圧発生手段１２の出力電圧Ｖ
ｓを比較手段１３に入力する。比較手段１３ではｖｈと
Ｖｓの大小を比較しその結果を制御手段１４に通知する
。制御手段１４では、ｖｈがＶｓより小さい場合には制
御信号を増幅手段１１および電圧発生手段１２に送って
ｖｈを増加させるとともにＶｓを減少させ、ｖｈがＶｓ
より大きくなったときに上記制御信号の送出を停止し、
この時点でｖｈとＶｓを固定する。以上の方法により、
Ｖｓはｖｈに対しわずかに低いレベルに自動的に設定さ
れることになり、このときの増幅手段１１の増幅率を信
号の増幅レベルとして用い、電圧発生手段１２の出力電
圧をスライスレベルとして用いることができる。
Ｃ実施例〕
第２図（ａ）、（ｂ）は本発明の詳細な説明するための
図である。この実施例は、同図（ａ）に示したＬＥＤｌ
ｌｌ とフォトトランジスタ１１２から成る光センサを
物体検出に用いる際に、フォトトランジスタ１１２の出
力に対しあらかじめ適正な増幅レベルおよびスライスレ
ベルを設定する方法について述べるものであり、上記増
幅レベルおよびスライスレベルの設定は、ＬＥＤＩＩＩ
とフォトトランジスタ１１２の間に物体を挿入する前
に行う。
図である。この実施例は、同図（ａ）に示したＬＥＤｌ
ｌｌ とフォトトランジスタ１１２から成る光センサを
物体検出に用いる際に、フォトトランジスタ１１２の出
力に対しあらかじめ適正な増幅レベルおよびスライスレ
ベルを設定する方法について述べるものであり、上記増
幅レベルおよびスライスレベルの設定は、ＬＥＤＩＩＩ
とフォトトランジスタ１１２の間に物体を挿入する前
に行う。
まず、ＬＥＤＩＩＩからの光を受けたフォトトランジス
タ１１２の出力を増幅器１１３ａ、 １１３ｂ・・・１
１３ｄのいずれかによって増幅し電圧ｖｈに変換した後
、比較部１１７に入力する。増幅器１１３ａ、１１３ｂ
・・・１１３ｄは、増幅率の大きい順に並べられており
、ＭＰＸ （アナログマルチプレクサ）１１４によって
いずれか一つが選択される。また、分割抵抗１１５ａ、
１１５ｂ・・・１１５ｈのいずれかによって発生した電
圧ＶｓがＭＰＸ１１６によって選択され比較部１１７に
入力される。Ｖｓは分割抵抗１１５ａが選択されたとき
に最も大きく、分割抵抗１１５ｂ・・・１１５ｈが選択
される順に小さくなる。比較部１１７は、たとえばコン
パレータの機能を有するものであり、ｖｈとＶｓの大き
さを比較し、ｖｈがＶｓより小さいときに０、大きいと
きに１を出力する。
タ１１２の出力を増幅器１１３ａ、 １１３ｂ・・・１
１３ｄのいずれかによって増幅し電圧ｖｈに変換した後
、比較部１１７に入力する。増幅器１１３ａ、１１３ｂ
・・・１１３ｄは、増幅率の大きい順に並べられており
、ＭＰＸ （アナログマルチプレクサ）１１４によって
いずれか一つが選択される。また、分割抵抗１１５ａ、
１１５ｂ・・・１１５ｈのいずれかによって発生した電
圧ＶｓがＭＰＸ１１６によって選択され比較部１１７に
入力される。Ｖｓは分割抵抗１１５ａが選択されたとき
に最も大きく、分割抵抗１１５ｂ・・・１１５ｈが選択
される順に小さくなる。比較部１１７は、たとえばコン
パレータの機能を有するものであり、ｖｈとＶｓの大き
さを比較し、ｖｈがＶｓより小さいときに０、大きいと
きに１を出力する。
一方、利得調整レジスタ１１８には増幅器１１３ａ、１
１３ｂ・・・１１３ｄに対応する数値１１３ａ、 １１
３ｂ ・−−１１３ｄがセットされ、ＣＰＵ１１９から
の指示によって一定の時間間隔ＴＩで１１３ａ→１１３
ｂ→・・→１１３ｄの順に遷移する。そしてセットされ
た数値が利得調整レジスタ１１８からＭＰＸ１１４へ送
られ、ＭＰＸ１１４ではこの数値に対応する増幅器を選
択する。
１３ｂ・・・１１３ｄに対応する数値１１３ａ、 １１
３ｂ ・−−１１３ｄがセットされ、ＣＰＵ１１９から
の指示によって一定の時間間隔ＴＩで１１３ａ→１１３
ｂ→・・→１１３ｄの順に遷移する。そしてセットされ
た数値が利得調整レジスタ１１８からＭＰＸ１１４へ送
られ、ＭＰＸ１１４ではこの数値に対応する増幅器を選
択する。
従って、比較部１１７には第１図ｂ）に示したように階
段状に上昇する電圧ｖｈが印加されることになる。同様
にして、スライス調整レジスタ１２０には分割抵抗器１
１５ａ、１１５ｂ・・・１１５ｈに対応した数値がセッ
トされており、この数値はＣＰＵからの指示によって一
定の時間間隔Ｔ２で１１５ｈ→・・・→１１５ｂ→１１
５ａの順に遷移する。そしてスライス調整レジスタ１２
０内の数値がＭＰＸ１１６へ送られ、ＭＰＸ１１６では
この数値に対応する電圧Ｖｓを選択する。従って、比較
部１１７には第１図（ｂ）に示したように階段状に下降
する電圧ＶＳが入力されることになる。
段状に上昇する電圧ｖｈが印加されることになる。同様
にして、スライス調整レジスタ１２０には分割抵抗器１
１５ａ、１１５ｂ・・・１１５ｈに対応した数値がセッ
トされており、この数値はＣＰＵからの指示によって一
定の時間間隔Ｔ２で１１５ｈ→・・・→１１５ｂ→１１
５ａの順に遷移する。そしてスライス調整レジスタ１２
０内の数値がＭＰＸ１１６へ送られ、ＭＰＸ１１６では
この数値に対応する電圧Ｖｓを選択する。従って、比較
部１１７には第１図（ｂ）に示したように階段状に下降
する電圧ＶＳが入力されることになる。
比較部１１７の出力がＯである間は、ＣＰ Ｕ１１９は
利得調整レジスタ１１８およびスライス調整レジスタ１
２０に対し、数値遷移の指示を続行し、ｖｈとＶｓが逆
転して比較部１１７の出力が１となったときに数値遷移
の指示を停止すれば、ｖｈとＶｓは第２図（ハ）中点線
で示した値に固定される。このときＶｓはｖｈに対して
Ｖｓの増加分ΔＶｓの範囲内で相対的に低いレベルにそ
の位置関係が自動的に設定されることになり、このよう
にして選択された増幅器の増幅率を信号の増幅レベルと
し、Ｖｓをスライスレベルとして用いることができる。
利得調整レジスタ１１８およびスライス調整レジスタ１
２０に対し、数値遷移の指示を続行し、ｖｈとＶｓが逆
転して比較部１１７の出力が１となったときに数値遷移
の指示を停止すれば、ｖｈとＶｓは第２図（ハ）中点線
で示した値に固定される。このときＶｓはｖｈに対して
Ｖｓの増加分ΔＶｓの範囲内で相対的に低いレベルにそ
の位置関係が自動的に設定されることになり、このよう
にして選択された増幅器の増幅率を信号の増幅レベルと
し、Ｖｓをスライスレベルとして用いることができる。
以上のようにして、個々の光センサにおけるフォトトラ
ンジスタの出力の絶対値が異なる場合においても、その
出力レベルに応じたスライスレベルを自動的に設定する
ことができ、また、上記ΔＶｓをあらかじめ小さな値に
定めることによって物体の検出精度のバラツキを抑える
ことができる。
ンジスタの出力の絶対値が異なる場合においても、その
出力レベルに応じたスライスレベルを自動的に設定する
ことができ、また、上記ΔＶｓをあらかじめ小さな値に
定めることによって物体の検出精度のバラツキを抑える
ことができる。
以上のように本発明によれば、信号の増幅レヘルおよび
スライスレベルの設定を自動的に行うことができるため
、多数の光センサについての物体検出特性の均一化およ
び調整時間の短縮を図る上で有効である。
スライスレベルの設定を自動的に行うことができるため
、多数の光センサについての物体検出特性の均一化およ
び調整時間の短縮を図る上で有効である。
第１図は本発明の原理を示すブロック図、第２図（ａ）
は本発明の実施例を示すブロック図、第２図（ｂ）は比
較部における入出力電圧の関係を示す図、 第３図（ａ）は従来例の問題点を示すブロック図、第３
図（ｂ）は信号電圧とスライスレベルとの関係を示す図
、 である。 同図において、 １１は増幅手段、 １２は電圧発生手段、 １３は比較手段、 １４は制御手段、 １１１はＬＥＤ。 １１２はフォトトランジスタ、 １１３ａ、１１３ｂ −−−１１３６は増幅器、１１４
．１１６はＭＰＸ （７すｔ：ｌグア／ｌｚ−］−７”
ｔ、’７す）、１１７は比較部、 １１８は利得調整レジスタ、 １１９はＣＰＵ。 １２０はスライス８周整レジスタ、 １２１は原稿、 １２２は抵抗器、 １２３は電圧源、 である。 従来例の問題点を示すブロック図 第３図（ａ） 本発明の実施例を示すブロック図 第２図（ａ） 信号電圧とスライスレベルとの関係を示す図第３図（ｂ
） −〉 時刻
は本発明の実施例を示すブロック図、第２図（ｂ）は比
較部における入出力電圧の関係を示す図、 第３図（ａ）は従来例の問題点を示すブロック図、第３
図（ｂ）は信号電圧とスライスレベルとの関係を示す図
、 である。 同図において、 １１は増幅手段、 １２は電圧発生手段、 １３は比較手段、 １４は制御手段、 １１１はＬＥＤ。 １１２はフォトトランジスタ、 １１３ａ、１１３ｂ −−−１１３６は増幅器、１１４
．１１６はＭＰＸ （７すｔ：ｌグア／ｌｚ−］−７”
ｔ、’７す）、１１７は比較部、 １１８は利得調整レジスタ、 １１９はＣＰＵ。 １２０はスライス８周整レジスタ、 １２１は原稿、 １２２は抵抗器、 １２３は電圧源、 である。 従来例の問題点を示すブロック図 第３図（ａ） 本発明の実施例を示すブロック図 第２図（ａ） 信号電圧とスライスレベルとの関係を示す図第３図（ｂ
） −〉 時刻
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 信号の増幅を行う増幅手段（１１）と、 所定の電圧を発生させる電圧発生手段（１２）と、該増
幅手段（１１）および該電圧発生手段（１２）の出力電
圧の大小を比較する比較手段（１３）と、 該比較手段（１３）の比較結果に基づいて該増幅手段（
１１）の出力電圧および該電圧発生手段（１２）の出力
電圧を変化させる制御手段（１４）を有し、 該増幅手段（１１）の出力電圧が該電圧発生手段（１２
）の出力電圧より大きくなったときの該増幅手段（１１
）の増幅率および該電圧発生手段（１２）の出力電圧を
各々該信号の増幅レベルおよびスライスレベルとするよ
うにしたことを特徴とするオートスライス装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2152216A JPH0444101A (ja) | 1990-06-11 | 1990-06-11 | オートスライス装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2152216A JPH0444101A (ja) | 1990-06-11 | 1990-06-11 | オートスライス装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0444101A true JPH0444101A (ja) | 1992-02-13 |
Family
ID=15535617
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2152216A Pending JPH0444101A (ja) | 1990-06-11 | 1990-06-11 | オートスライス装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0444101A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US8138881B2 (en) | 2007-09-28 | 2012-03-20 | Heraeus Sensor Technology Gmbh | Coated wire and film resistor |
| US8373535B2 (en) | 2001-01-26 | 2013-02-12 | Quality Thermistor, Inc. | Thermistor and method of manufacture |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0255346A (ja) * | 1988-08-19 | 1990-02-23 | Mita Ind Co Ltd | 原稿サイズ検知装置 |
-
1990
- 1990-06-11 JP JP2152216A patent/JPH0444101A/ja active Pending
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0255346A (ja) * | 1988-08-19 | 1990-02-23 | Mita Ind Co Ltd | 原稿サイズ検知装置 |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US8373535B2 (en) | 2001-01-26 | 2013-02-12 | Quality Thermistor, Inc. | Thermistor and method of manufacture |
| US8138881B2 (en) | 2007-09-28 | 2012-03-20 | Heraeus Sensor Technology Gmbh | Coated wire and film resistor |
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