JPH03266810A - ２ビーム走査形光学装置 - Google Patents
２ビーム走査形光学装置Info
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- JPH03266810A JPH03266810A JP2067872A JP6787290A JPH03266810A JP H03266810 A JPH03266810 A JP H03266810A JP 2067872 A JP2067872 A JP 2067872A JP 6787290 A JP6787290 A JP 6787290A JP H03266810 A JPH03266810 A JP H03266810A
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- 230000003287 optical effect Effects 0.000 title claims abstract description 41
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims abstract description 8
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 abstract description 21
- 238000000034 method Methods 0.000 abstract description 11
- 230000005856 abnormality Effects 0.000 abstract description 7
- 230000006866 deterioration Effects 0.000 abstract description 2
- 238000011109 contamination Methods 0.000 abstract 2
- 230000002542 deteriorative effect Effects 0.000 abstract 1
- 230000002159 abnormal effect Effects 0.000 description 8
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 6
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 5
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
- 239000000872 buffer Substances 0.000 description 3
- 238000012937 correction Methods 0.000 description 3
- 230000008878 coupling Effects 0.000 description 3
- 238000010168 coupling process Methods 0.000 description 3
- 238000005859 coupling reaction Methods 0.000 description 3
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 3
- 230000006378 damage Effects 0.000 description 2
- 238000012544 monitoring process Methods 0.000 description 2
- 229920006395 saturated elastomer Polymers 0.000 description 2
- 230000015556 catabolic process Effects 0.000 description 1
- 230000008859 change Effects 0.000 description 1
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 1
- 230000003247 decreasing effect Effects 0.000 description 1
- 238000006731 degradation reaction Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000005693 optoelectronics Effects 0.000 description 1
- 230000008569 process Effects 0.000 description 1
- 230000006903 response to temperature Effects 0.000 description 1
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- H04N1/00—Scanning, transmission or reproduction of documents or the like, e.g. facsimile transmission; Details thereof
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- H04N1/19—Scanning arrangements, i.e. arrangements for the displacement of active reading or reproducing elements relative to the original or reproducing medium, or vice versa using multi-element arrays
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- H04N1/113—Scanning arrangements, i.e. arrangements for the displacement of active reading or reproducing elements relative to the original or reproducing medium, or vice versa using oscillating or rotating mirrors
- H04N1/1135—Scanning arrangements, i.e. arrangements for the displacement of active reading or reproducing elements relative to the original or reproducing medium, or vice versa using oscillating or rotating mirrors for the main-scan only
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- H04N1/00—Scanning, transmission or reproduction of documents or the like, e.g. facsimile transmission; Details thereof
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- H04N2201/047—Detection, control or error compensation of scanning velocity or position
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の利用分野〕
本発明は、２ビーム走査形光学装置の信頼性向上に関す
るものである。
るものである。
光を走査するレーザプリンタ等の装置においては、高速
、高精細するに従って、走査回数を増加する必要がある
ため、複数光源を用い、複数光ビームを同時に走査させ
る方法がある。これは、複数光源の相互位置を常に正確
に保つための光位置検出器を使ったサーボコントロール
によるビーム位置制御方法である。第９図〜第１２図に
２つの光源を用いた例を示す。第９図は「応用光エレク
トロニクスハンドブック（１９８９，４発行）」の例で
ある。第９図において２個の光発生源１ａ、１ｂから出
射されるビームｌｌａ、ｌｌｂはカップリングレンズ２
ａ、２ｂによってコリメートされ、可動反射器３ａ、３
ｂで反射され光分割器４に入射して、光偏向器５側と光
位置検出器１０側に分離される６光偏向器５側に分離さ
れたビームはＦθレンズ６等によりドラム面７上に焦点
を結び、光偏向器５の回転により２本の走査線１８ａ、
１８ｂが形成される。ここで２本の走査４！１８ａ、１
８ｂを形成するビームｌｌａ、１１ｂは主走査方向に距
離Ｐをもって走査し、光走査検出器８によってビームｌ
ｌａ、ｌｌｂの通過信号１９が検出される。この通過信
号１９をコントロール装置が基準信号として受けとり、
印刷信号を変調信号１２ａ、１２ｂとして、光発生源１
ａ、１ｂに送り、光発生源１ａ、１ｂを変調する。これ
によりドラム面７に印刷情報が与えられる。−力先位置
検出器１０側に分離されたビーム１１ａ、ｌｌｂも絞り
込みレンズ９により光位置検出器１０面上に焦点を結ぶ
。光位置検出器１０は２個のビームｌｌａ、ｌｌｂの相
対位置を一定に保つための位置検出用センサである。ド
ラム面７、光位置検出器ともレンズ系の焦点面上に置か
れているため、両者におけるビーム径とビーム間隔は比
例関係にある。従ってドラム面７上走査線１８ａ、１８
ｂの副走査方向の間隔Ｑを一定に保つために、光位置検
出器１０上でのビーム間隔を一定に保てば良い。そのた
めに光位置検出器１゜はそれぞれのビーム位置を示すビ
ーム位置信号１４ａ、１４ｂをサーボ制御回路１７に送
る。サーボ制御回路１７はビーム位置信号１４ａ、１４
ｂを処理し、ビーム補正信号１５ａ、１５ｂとして可動
反射器３ａ、３ｂを動がし、光位置検出器１０上のビー
ム位置を一制御する。
、高精細するに従って、走査回数を増加する必要がある
ため、複数光源を用い、複数光ビームを同時に走査させ
る方法がある。これは、複数光源の相互位置を常に正確
に保つための光位置検出器を使ったサーボコントロール
によるビーム位置制御方法である。第９図〜第１２図に
２つの光源を用いた例を示す。第９図は「応用光エレク
トロニクスハンドブック（１９８９，４発行）」の例で
ある。第９図において２個の光発生源１ａ、１ｂから出
射されるビームｌｌａ、ｌｌｂはカップリングレンズ２
ａ、２ｂによってコリメートされ、可動反射器３ａ、３
ｂで反射され光分割器４に入射して、光偏向器５側と光
位置検出器１０側に分離される６光偏向器５側に分離さ
れたビームはＦθレンズ６等によりドラム面７上に焦点
を結び、光偏向器５の回転により２本の走査線１８ａ、
１８ｂが形成される。ここで２本の走査４！１８ａ、１
８ｂを形成するビームｌｌａ、１１ｂは主走査方向に距
離Ｐをもって走査し、光走査検出器８によってビームｌ
ｌａ、ｌｌｂの通過信号１９が検出される。この通過信
号１９をコントロール装置が基準信号として受けとり、
印刷信号を変調信号１２ａ、１２ｂとして、光発生源１
ａ、１ｂに送り、光発生源１ａ、１ｂを変調する。これ
によりドラム面７に印刷情報が与えられる。−力先位置
検出器１０側に分離されたビーム１１ａ、ｌｌｂも絞り
込みレンズ９により光位置検出器１０面上に焦点を結ぶ
。光位置検出器１０は２個のビームｌｌａ、ｌｌｂの相
対位置を一定に保つための位置検出用センサである。ド
ラム面７、光位置検出器ともレンズ系の焦点面上に置か
れているため、両者におけるビーム径とビーム間隔は比
例関係にある。従ってドラム面７上走査線１８ａ、１８
ｂの副走査方向の間隔Ｑを一定に保つために、光位置検
出器１０上でのビーム間隔を一定に保てば良い。そのた
めに光位置検出器１゜はそれぞれのビーム位置を示すビ
ーム位置信号１４ａ、１４ｂをサーボ制御回路１７に送
る。サーボ制御回路１７はビーム位置信号１４ａ、１４
ｂを処理し、ビーム補正信号１５ａ、１５ｂとして可動
反射器３ａ、３ｂを動がし、光位置検出器１０上のビー
ム位置を一制御する。
第１０図は第９図の光位置検出器１ｏ、第１１図は第９
図のサーボ制御回路１７の構成図である６第１０図にお
いて、ビームｌｌａが光検出器２０．２１に入射し光検
出器２０．２１からの出力は、ビーム位置信号Ｖａ工、
Ｖａ２となる。同様にビームｌｌｂについてもビーム位
置信号Ｖａ□、ｖｂ２が発生する。そして第１１図にお
いて、ビーム位置信号Ｖａ工、Ｖ ａ 、は、差分呂カ
器２４を通り、差分信号３０となる。ここで、差分信号
３０はＶ ａ １− Ｖ ａ 、である０次に差分信号
３ｏを増幅器２６により増幅し、ドライバ２８にて、ビ
ーム補正信号１５ａを可動反射器３ａに送る。このとき
、可動反射器３ａが差分信号３ｏを小さくする方向動く
ようビーム補正信号１５ａを送る。
図のサーボ制御回路１７の構成図である６第１０図にお
いて、ビームｌｌａが光検出器２０．２１に入射し光検
出器２０．２１からの出力は、ビーム位置信号Ｖａ工、
Ｖａ２となる。同様にビームｌｌｂについてもビーム位
置信号Ｖａ□、ｖｂ２が発生する。そして第１１図にお
いて、ビーム位置信号Ｖａ工、Ｖ ａ 、は、差分呂カ
器２４を通り、差分信号３０となる。ここで、差分信号
３０はＶ ａ １− Ｖ ａ 、である０次に差分信号
３ｏを増幅器２６により増幅し、ドライバ２８にて、ビ
ーム補正信号１５ａを可動反射器３ａに送る。このとき
、可動反射器３ａが差分信号３ｏを小さくする方向動く
ようビーム補正信号１５ａを送る。
これにより、差分信号３０がＶ ａ ｔ −Ｖ ａ ２
＝ Ｏの関係になるようビームｌｌａは光検出器２０．
２１の中間に位置する。一方ビームｌｌｂも同様にｖｂ
□−ｖｂ２＝ｏとなる光検出器２２．２３の中間に位置
し、ビームｌｌａ、ｌｌｂをサーボコントロールするこ
とでビーム間隔Ｑ′を一定に保つ。
＝ Ｏの関係になるようビームｌｌａは光検出器２０．
２１の中間に位置する。一方ビームｌｌｂも同様にｖｂ
□−ｖｂ２＝ｏとなる光検出器２２．２３の中間に位置
し、ビームｌｌａ、ｌｌｂをサーボコントロールするこ
とでビーム間隔Ｑ′を一定に保つ。
第１２図は第９図の光発生源１ａ、１ｂに半導体レーザ
を使用したときの光発生源１ａ、１ｂ、光走査検出器８
及びコントロール装置！１６の構成図である。第１２図
において、光走査検出器８は前検呂器３１、後検出器３
２から構成され、これらの検出器にビームｌｌａ、ｌｌ
ｂが順次入射される。この入射により前記検出器３１か
らは前通過信号１９ａ、後検出器３２からは後通過信号
１９ｂが出力され、差分出力器３３に入る。差分出力器
３３からは差分アナログ出力３４が出方され次のスライ
サ３５でＯｖ近辺でスライスされる。これにより差分ア
ナログ出力３４はゼロクロス近辺でスライスされること
になり、ビーム１ｌａ１１ｂの中心が前検出器３１．後
検出器３２の境点に達した時を検出することになり、ビ
ーム１１ａ、ｌｌｂのビーム径の違いが補償される。
を使用したときの光発生源１ａ、１ｂ、光走査検出器８
及びコントロール装置！１６の構成図である。第１２図
において、光走査検出器８は前検呂器３１、後検出器３
２から構成され、これらの検出器にビームｌｌａ、ｌｌ
ｂが順次入射される。この入射により前記検出器３１か
らは前通過信号１９ａ、後検出器３２からは後通過信号
１９ｂが出力され、差分出力器３３に入る。差分出力器
３３からは差分アナログ出力３４が出方され次のスライ
サ３５でＯｖ近辺でスライスされる。これにより差分ア
ナログ出力３４はゼロクロス近辺でスライスされること
になり、ビーム１ｌａ１１ｂの中心が前検出器３１．後
検出器３２の境点に達した時を検出することになり、ビ
ーム１１ａ、ｌｌｂのビーム径の違いが補償される。
スライスされた信号は、パルス信号３７となり、このパ
ルス信号３７の後エツジ３８で起動されるタイマ３６の
タイマ出力３９と次の反転ゲート４０、ＡＮＤゲート４
１により分配後信号４２となり、２つに分配される。分
配された信号Ａ４３、信号Ｂ４４は印刷タイマ４５ａ、
４５ｂによりビーム１ｌａ−１１ｂがそれぞれ印刷開始
位置に到達したことを示す印刷スタート信号となり、印
刷データが入っているラインバッファ４６ａ、４６ｂを
アクセスする。ラインバッファ４６ａ、４６ｂは印刷信
号を電圧電流交換器４７ａ。
ルス信号３７の後エツジ３８で起動されるタイマ３６の
タイマ出力３９と次の反転ゲート４０、ＡＮＤゲート４
１により分配後信号４２となり、２つに分配される。分
配された信号Ａ４３、信号Ｂ４４は印刷タイマ４５ａ、
４５ｂによりビーム１ｌａ−１１ｂがそれぞれ印刷開始
位置に到達したことを示す印刷スタート信号となり、印
刷データが入っているラインバッファ４６ａ、４６ｂを
アクセスする。ラインバッファ４６ａ、４６ｂは印刷信
号を電圧電流交換器４７ａ。
４７ｂに送り光発電源１ａ、１ｂの変調信号となる。こ
こで電圧電流変換器４７ａの出力は電流加算器４８ａに
入力される。−力先発生源は１ａ、１ｂは、半導体レー
ザ４９ａ、４９ｂを有し、同時にレーザパワモニタセン
サ５０ａ、５０ｂを内蔵している。半導体レーザ４９ａ
、４９ｂは電流によりビームｌｌａ、ｌｌｂを出力する
が同時にレーザパワモニタセンサ５０ａ、５０ｂへもビ
ームｌｌａ、ｌｌｂに比例した光を出力する。ここでレ
ーザパワモニタセンサ５０ａ、５０ｂはビームパワ信号
１３ａ、１．３ ｂを出力し、ビームパワ信号１３ａ、
１３ｂはパワ差分出力器５１ａ、５１ｂに入力される。
こで電圧電流変換器４７ａの出力は電流加算器４８ａに
入力される。−力先発生源は１ａ、１ｂは、半導体レー
ザ４９ａ、４９ｂを有し、同時にレーザパワモニタセン
サ５０ａ、５０ｂを内蔵している。半導体レーザ４９ａ
、４９ｂは電流によりビームｌｌａ、ｌｌｂを出力する
が同時にレーザパワモニタセンサ５０ａ、５０ｂへもビ
ームｌｌａ、ｌｌｂに比例した光を出力する。ここでレ
ーザパワモニタセンサ５０ａ、５０ｂはビームパワ信号
１３ａ、１．３ ｂを出力し、ビームパワ信号１３ａ、
１３ｂはパワ差分出力器５１ａ、５１ｂに入力される。
パワ差分出力器５１ａ、５１ｂは基準パワ電圧、５２ａ
、５２ｂとビームパワ信号１３ａ、１３ｂの差を出力し
、次のモニタ電圧電流変換器５３ａ、５３ｂに入力する
。
、５２ｂとビームパワ信号１３ａ、１３ｂの差を出力し
、次のモニタ電圧電流変換器５３ａ、５３ｂに入力する
。
モニタ電圧電流交換器５３ａ、５３ｂは基準パワ電圧５
２ａ、５２ｂとビームパワ信号１３ａ、１３ｂとの差が
なくなるよう電流を出力し、電流加算器４８ａ、４８ｂ
に電流信号を送る。電流加算器４８ａ、４８ｂより半導
体レーザ４９ａ。
２ａ、５２ｂとビームパワ信号１３ａ、１３ｂとの差が
なくなるよう電流を出力し、電流加算器４８ａ、４８ｂ
に電流信号を送る。電流加算器４８ａ、４８ｂより半導
体レーザ４９ａ。
４９ｂに電流信号が与えられ、半導体レーザ４９ａ、４
９ｂは基準パワ電圧５２ａ、５２ｂに定められた、パワ
ーでビームｌｌａ、ｌｌｂを出力する。基準パワ電圧５
２ａ、５２ｂを調節することにより２つのビームｌｌａ
、ｌｌｂのパワーをいつも同じにする。
９ｂは基準パワ電圧５２ａ、５２ｂに定められた、パワ
ーでビームｌｌａ、ｌｌｂを出力する。基準パワ電圧５
２ａ、５２ｂを調節することにより２つのビームｌｌａ
、ｌｌｂのパワーをいつも同じにする。
このように２つのビームの位置を常に一定に保ち、ビー
ム径の違いを補償し、かつ、ビームパワを一定に保つ高
性能な２ビーム走査技術も次のような解決すべき問題点
がある。
ム径の違いを補償し、かつ、ビームパワを一定に保つ高
性能な２ビーム走査技術も次のような解決すべき問題点
がある。
■２つのビームが常に正常であるかどうかをチエツクし
なければならない問題点６ ■異常の時どの部分が異常であるかを見つけなければな
らない問題点。
なければならない問題点６ ■異常の時どの部分が異常であるかを見つけなければな
らない問題点。
これらは信頼性に関する問題点である。
そこで上記■■を解決する従来の技術を示す。
■を解決できそうな技術に、時開５７−６７３７４があ
る。これは光検出器の前部に工夫をし、光検出器からの
出力信号を基準電圧でスライスし、スライス後の信号を
カウント手段と、ゲート手段で複数ビームを各ラインに
分配し、最初と最後のライン信号間の時間をタイマで見
張るものである。２ビーム走査技術にこの技術を採用す
る場合、ビーム径の違いを補償するために使用した、ゼ
ロクロス検出が問題となる。すなわち、ビームパワーが
落ちてもスライス点は常にＯｖ近辺であるため、第１２
図における差分アナログ出力３４は小さいながらも出力
し、パルス信号は正常に出力してしまう。更に信号チエ
ツクについては、カウント手段のアクセス信号がスライ
ス後の信号であるため、カウント手段の時間遅れによる
ヒゲがゲート手段から出力し、制御の信頼性低下を招く
可能性がある。又最初と最後のビーム信号を見張る方法
は、ビーム走査スピードが速い走査技術に対しては時間
的余裕が少なく、同じく信頼性の低下を招く恐れがある
。上記理由で時開５７−６７３７４の技術以外の方法が
必要となる。
る。これは光検出器の前部に工夫をし、光検出器からの
出力信号を基準電圧でスライスし、スライス後の信号を
カウント手段と、ゲート手段で複数ビームを各ラインに
分配し、最初と最後のライン信号間の時間をタイマで見
張るものである。２ビーム走査技術にこの技術を採用す
る場合、ビーム径の違いを補償するために使用した、ゼ
ロクロス検出が問題となる。すなわち、ビームパワーが
落ちてもスライス点は常にＯｖ近辺であるため、第１２
図における差分アナログ出力３４は小さいながらも出力
し、パルス信号は正常に出力してしまう。更に信号チエ
ツクについては、カウント手段のアクセス信号がスライ
ス後の信号であるため、カウント手段の時間遅れによる
ヒゲがゲート手段から出力し、制御の信頼性低下を招く
可能性がある。又最初と最後のビーム信号を見張る方法
は、ビーム走査スピードが速い走査技術に対しては時間
的余裕が少なく、同じく信頼性の低下を招く恐れがある
。上記理由で時開５７−６７３７４の技術以外の方法が
必要となる。
■については、２ビーム走査技術を構成する各部品の異
常モードがそれぞれ異なる１例えば、第９図においてレ
ンズ系については汚れ、可動反射器３ａ、３ｂについて
はビームＩＬａ、ｌｌｂのはずれ、光発生源１ａ、１ｂ
については半導体レーザを使用した時の寿命の問題があ
る。これらをそれぞれ切り分けて、検出する従来技術は
見つからない。
常モードがそれぞれ異なる１例えば、第９図においてレ
ンズ系については汚れ、可動反射器３ａ、３ｂについて
はビームＩＬａ、ｌｌｂのはずれ、光発生源１ａ、１ｂ
については半導体レーザを使用した時の寿命の問題があ
る。これらをそれぞれ切り分けて、検出する従来技術は
見つからない。
本発明の目的は、上記した従来技術の欠点をなくし、２
ビーム走査技術の信頼性を向上させることである。
ビーム走査技術の信頼性を向上させることである。
本発明は、従来技術における各検出器をそのまま利用し
、その出力信号処理を工夫することで、異常状態をチエ
ツクするようにしたものである。
、その出力信号処理を工夫することで、異常状態をチエ
ツクするようにしたものである。
すなわち、光走査検出器からの前通過信号と後通過信号
を加えた信号をつくり、その信号により、２つのビーム
それぞれのパワーをチエツクする。
を加えた信号をつくり、その信号により、２つのビーム
それぞれのパワーをチエツクする。
同様に光位置検出器からのビーム位置信号をそれぞれ加
えた信号をつくり、その信号によって。
えた信号をつくり、その信号によって。
２つのビームをチエツクする。更に半導体レーザの寿命
については、電流、温度、劣化モードの特性を利用し、
電流リミッタを設はリミット後のビームパワ信号をチエ
ツクする。この３つの検出により、光発生源の異常、カ
ップリングレンズがら光分割器、絞り込みレンズまでの
レンズ系の汚れ、及び可動反射器のビームはずれ、そし
て光偏向器と、Ｆθレンズの汚れ、という３つのブロッ
クの異常切分けを行なう。
については、電流、温度、劣化モードの特性を利用し、
電流リミッタを設はリミット後のビームパワ信号をチエ
ツクする。この３つの検出により、光発生源の異常、カ
ップリングレンズがら光分割器、絞り込みレンズまでの
レンズ系の汚れ、及び可動反射器のビームはずれ、そし
て光偏向器と、Ｆθレンズの汚れ、という３つのブロッ
クの異常切分けを行なう。
更に従来のタイマを利用した分配回路が２つのビームの
うちどちらかが異常となったとき、従来の後３のビーム
信号が異常となることを利用して、比較的時間の余裕が
ある光偏向器の走査周期以上のタイマで後３のビーム信
号を見張ることで信頼性の低下を防ぐものである。
うちどちらかが異常となったとき、従来の後３のビーム
信号が異常となることを利用して、比較的時間の余裕が
ある光偏向器の走査周期以上のタイマで後３のビーム信
号を見張ることで信頼性の低下を防ぐものである。
すなわち、コントロール装置とサーボ制御回路のみに工
夫をし、信頼性の向上をはかったものである。
夫をし、信頼性の向上をはかったものである。
以下本発明の一実施例を第１ｒｊ！１〜第８図を用いて
、詳細に説明する。
、詳細に説明する。
第１図は光走査検出器からの信号を処理する実施例であ
る。第１図において、光走査検出器８にビーム１ｌａ−
１１ｂが入射すると、前検出器３１、後検出器３２より
前通過信号１９ａ、後通過信号１９ｂがそれぞれアナロ
グ出力として出力される。この前通過信号１９ａ、後通
過信号１９ｂを加算器５４に入力すると、信号が加算さ
れパワー通過信号５５として出力される。パワー通過信
号５５は次のスライサ５６にてパワースライス電圧５７
でスライスされ、パルス信号５８となる。パルス信号５
８は２つに分かれ、１つはＡＮＤゲート５９に、他方は
パルスの後エツジで起動するタイマ６０に入力する。タ
イマ６０で設定時間は２つのビームｌｌａ、ｌｌｂが光
走査検出器８に到達する時間差よりも若干長く、又第９
図における光偏向器５による走査周期よりも十分短く設
定されている。再び第１図にてタイマ６０のタイマ出力
６１は前出のＡＮＤゲート５９に入力する。パルス信号
５８とタイマ出力６１のＡＮＤ論理処理されたＡＮＤゲ
ート５９の出力はパワーチエツク信号６２となり、２つ
に分かれる一つはパルスの前エツジで起動するエラータ
イマ６３に入力し、他方はパルス信号に応じて１あるい
はＯを出力するＲＳラッチ６４のＳ入力部に入力する。
る。第１図において、光走査検出器８にビーム１ｌａ−
１１ｂが入射すると、前検出器３１、後検出器３２より
前通過信号１９ａ、後通過信号１９ｂがそれぞれアナロ
グ出力として出力される。この前通過信号１９ａ、後通
過信号１９ｂを加算器５４に入力すると、信号が加算さ
れパワー通過信号５５として出力される。パワー通過信
号５５は次のスライサ５６にてパワースライス電圧５７
でスライスされ、パルス信号５８となる。パルス信号５
８は２つに分かれ、１つはＡＮＤゲート５９に、他方は
パルスの後エツジで起動するタイマ６０に入力する。タ
イマ６０で設定時間は２つのビームｌｌａ、ｌｌｂが光
走査検出器８に到達する時間差よりも若干長く、又第９
図における光偏向器５による走査周期よりも十分短く設
定されている。再び第１図にてタイマ６０のタイマ出力
６１は前出のＡＮＤゲート５９に入力する。パルス信号
５８とタイマ出力６１のＡＮＤ論理処理されたＡＮＤゲ
ート５９の出力はパワーチエツク信号６２となり、２つ
に分かれる一つはパルスの前エツジで起動するエラータ
イマ６３に入力し、他方はパルス信号に応じて１あるい
はＯを出力するＲＳラッチ６４のＳ入力部に入力する。
エラータイマ６３の設定時間は、第９図における光偏向
器５による走査周期よりも若干長く、又走査周期の２倍
よりは十分短く設定されている。再び第１図にて、エラ
ータイマ６３は、入力パルスの前エツジで起動し、設定
時間軽適時にパルスを出力する。エラータイマ６３の出
力はＲＳラッチ６４のＲ入力部に入力される。
器５による走査周期よりも若干長く、又走査周期の２倍
よりは十分短く設定されている。再び第１図にて、エラ
ータイマ６３は、入力パルスの前エツジで起動し、設定
時間軽適時にパルスを出力する。エラータイマ６３の出
力はＲＳラッチ６４のＲ入力部に入力される。
ＲＳラッチ６４はＳ入力にパルスが入ると、１を出力と
Ｒ入力にパルスが入るとＯを出力する。
Ｒ入力にパルスが入るとＯを出力する。
ＲＳラッチ６４の出力がＶＡ６５となる。
次に前通過信号１９ａと後通過信号１９ｂの差分出力信
号をＯｖ近辺でスライスし、２つの信号に分配する１構
成要素であるＡＮＤゲート４１の出力をパルスチエツク
信号６６として取り出す、パルスチエツク信号６６はエ
ラータイマ６７、ＲＳラッチ６８を経由して、ＶＢ６９
となる、ここでエラータイマ６７の特性はエラータイマ
６３と同じで、ＲＳラッチ６８の特性はＲＳラッチ６４
と同じである。
号をＯｖ近辺でスライスし、２つの信号に分配する１構
成要素であるＡＮＤゲート４１の出力をパルスチエツク
信号６６として取り出す、パルスチエツク信号６６はエ
ラータイマ６７、ＲＳラッチ６８を経由して、ＶＢ６９
となる、ここでエラータイマ６７の特性はエラータイマ
６３と同じで、ＲＳラッチ６８の特性はＲＳラッチ６４
と同じである。
第２図にＶＡ及びＶＢの１．０に対する４つの状態、ス
テート１１〜ステートＯＯを示す。状態の意味するとこ
ろは、１が正常、０が異常でＶＡが前通過信号１９ａと
後通過信号１９ｂの和出力、ＶＢが前通過信号１９ａと
後通過信号１９のゼロクロス信号を示している。すなわ
ち、ステート１１は正常、ステート１０はビームパワー
が不足しているがゼロクロス信号は正常を示している。
テート１１〜ステートＯＯを示す。状態の意味するとこ
ろは、１が正常、０が異常でＶＡが前通過信号１９ａと
後通過信号１９ｂの和出力、ＶＢが前通過信号１９ａと
後通過信号１９のゼロクロス信号を示している。すなわ
ち、ステート１１は正常、ステート１０はビームパワー
が不足しているがゼロクロス信号は正常を示している。
ステート０１はビームパワーは正常であるがゼロクロス
信号に異常がある。ステートｏＯは共に異常を示す。
信号に異常がある。ステートｏＯは共に異常を示す。
第３図にステート１１→ステート１０→ステートＯｏの
状態変化をタイミングチャートで示す。
状態変化をタイミングチャートで示す。
第３図のタイミングは図の上から前通過信号１９ａ、後
通過信号１９ｂ、パワー通過信号５５、パルス信号５８
．タイヤ出力６１、パワーチエツク信号６２、エラータ
イマ出カフ０．ＶＡ６５、差分アナログ出力３４、パル
ス信号３７、タイマ出力３９、パルスチエツク信号６６
、エラータイマ出カフ２、ＶＢ６９、状態７３となって
いる、又、前通過信号１９ａ上のＴ７４は第９図におけ
る光偏向器５の走査周期である。再び第３図にて、前通
過信号１９ａ、後通過信号１９ｂにはビームｌｌａの信
号７５とビームｌｌｂの信号７６が周期Ｔ７４で正常時
には繰り返し現われる。
通過信号１９ｂ、パワー通過信号５５、パルス信号５８
．タイヤ出力６１、パワーチエツク信号６２、エラータ
イマ出カフ０．ＶＡ６５、差分アナログ出力３４、パル
ス信号３７、タイマ出力３９、パルスチエツク信号６６
、エラータイマ出カフ２、ＶＢ６９、状態７３となって
いる、又、前通過信号１９ａ上のＴ７４は第９図におけ
る光偏向器５の走査周期である。再び第３図にて、前通
過信号１９ａ、後通過信号１９ｂにはビームｌｌａの信
号７５とビームｌｌｂの信号７６が周期Ｔ７４で正常時
には繰り返し現われる。
２つの信号は加算され、パワー通過信号５５となる。そ
して、パルススライス電圧５７でスライスされ、パルス
信号５８となる。パルス信号５８の後エツジ７７でアク
セスされた。タイマ出力６１はパルス信号５８の後３の
パルス７８を通過させ、パワーチエツク信号６２となる
。パワー信号６２の前エツジ７９でエラータイマ出カフ
０は動き出し、次の前エツジが設定時間内に来なければ
パルス８０を出力する。パルス８０によってＶＡ６５は
Ｏとなる。次のＶＢ６９がＯになるのも動作過程は同じ
である。異なるものは、前通過信号１９ａ、後通過信号
１９ｂのビームｌｌａの信号７５あるいはビームｌｌｂ
の信号７６が小さくなったとき検出するかしないかの違
いである。
して、パルススライス電圧５７でスライスされ、パルス
信号５８となる。パルス信号５８の後エツジ７７でアク
セスされた。タイマ出力６１はパルス信号５８の後３の
パルス７８を通過させ、パワーチエツク信号６２となる
。パワー信号６２の前エツジ７９でエラータイマ出カフ
０は動き出し、次の前エツジが設定時間内に来なければ
パルス８０を出力する。パルス８０によってＶＡ６５は
Ｏとなる。次のＶＢ６９がＯになるのも動作過程は同じ
である。異なるものは、前通過信号１９ａ、後通過信号
１９ｂのビームｌｌａの信号７５あるいはビームｌｌｂ
の信号７６が小さくなったとき検出するかしないかの違
いである。
この例ではビームｌｌａの信号７５が小さくなった時を
示しているがビームｌｌｂの信号７ｂが小さくなっても
タイマ出力６１の機能によりＶＡ６５＝Ｏの状態となる
。
示しているがビームｌｌｂの信号７ｂが小さくなっても
タイマ出力６１の機能によりＶＡ６５＝Ｏの状態となる
。
第４図に光位置検出器からの信号を処理する実施例を示
す。第４図において、光位置検出器１０はビームｌｌａ
用の光検出器２０．２１とビーム１１ｂ用の光検出器２
２．２３から成っている。
す。第４図において、光位置検出器１０はビームｌｌａ
用の光検出器２０．２１とビーム１１ｂ用の光検出器２
２．２３から成っている。
ビームｌｌａ用とビーム１ ｌ ｂ用の制御方法は同じ
であるので、ビームｌｌａ用にて動作を記述する。光検
出器２０．２１からのビーム位置信号８０．８１は差分
出力器２４に入力し、その後の増幅器２６、ドライバ２
８を経由し、可動反射器３ａを駆動し、ビームｌｌａの
位置を制御している。このとき制御はビーム位置信号８
０．８１の出力差がなくなるよう制御されるので、ビー
ム１１ａが検出器２０．２１からはずれてしまっても、
それをチエツクできない、これを防ぐためビーム位置信
号８０．８１に対して加算器８２を設け、ビーム位置信
号８０．８１の和信号８３をつくる。この和信号８３は
基準電圧８４にてスライサ８５にてスライスして、その
出力ＶＣ８６とする。ビームｌｌａが光検出器２０．２
１に入射していれば、ビーム位置信号８０．８１の和信
号８３は基準電圧８４より大となり、ＶＣ８６を１とす
る。ビームｌｌｂについても同様でビーム１１ｂが光検
出器２２．２３に入射していれば、ビーム位置信号８７
．８８の和信号８９が基準電圧９０より大となり、ＶＤ
９０を１とする。ここでビームｌｌａのパワーが小さく
なると、和信号８３も小さくなり、基準電圧８４以下に
なりＶＣ８６をＯとする。又、ビームｌｌａが光検出器
２０．２１からはずれてもＶＣ８６をＯとする。この動
作により、ＶＣ８６、ＶＤ９０をチエツクすることで、
ビームｌｌａ、ｌｌｂが正常か異常かを見ることができ
る。
であるので、ビームｌｌａ用にて動作を記述する。光検
出器２０．２１からのビーム位置信号８０．８１は差分
出力器２４に入力し、その後の増幅器２６、ドライバ２
８を経由し、可動反射器３ａを駆動し、ビームｌｌａの
位置を制御している。このとき制御はビーム位置信号８
０．８１の出力差がなくなるよう制御されるので、ビー
ム１１ａが検出器２０．２１からはずれてしまっても、
それをチエツクできない、これを防ぐためビーム位置信
号８０．８１に対して加算器８２を設け、ビーム位置信
号８０．８１の和信号８３をつくる。この和信号８３は
基準電圧８４にてスライサ８５にてスライスして、その
出力ＶＣ８６とする。ビームｌｌａが光検出器２０．２
１に入射していれば、ビーム位置信号８０．８１の和信
号８３は基準電圧８４より大となり、ＶＣ８６を１とす
る。ビームｌｌｂについても同様でビーム１１ｂが光検
出器２２．２３に入射していれば、ビーム位置信号８７
．８８の和信号８９が基準電圧９０より大となり、ＶＤ
９０を１とする。ここでビームｌｌａのパワーが小さく
なると、和信号８３も小さくなり、基準電圧８４以下に
なりＶＣ８６をＯとする。又、ビームｌｌａが光検出器
２０．２１からはずれてもＶＣ８６をＯとする。この動
作により、ＶＣ８６、ＶＤ９０をチエツクすることで、
ビームｌｌａ、ｌｌｂが正常か異常かを見ることができ
る。
第５図はレーザパワセンサからの出力を処理する実施例
を示す。第５図において、ビームｌｌａとビームｌｌｂ
のチエツク動作は同じであるのでビームｌｌａについて
記述する。光発生源１ａに内蔵された半導体レーザ４９
ａは電流加算器４８ａからの駆動電流９１によりビーム
ｌｌａを出力し、同時にビームｌｌａに比例した光をレ
ーザパワモニタセンサ５０ａにも出力している。レーザ
パワモニタ５０ａはビームパワ信号１３ａを出力し、パ
ワ差分出力器５１ａに入力する。又、ビームパワ信号１
３ａは新たに設けたスライサ９２に入力し、基準電圧９
３でスライサ９２にてスライスされる。ここでビームパ
ワ信号１３ａが基準電圧９３より大きければ半導体レー
ザ４９ａの出力であるビームｌｌａのパワーは正常であ
り、ＶＥ９４は１である。一方、パワ差分出力器５１ａ
は基準パワ電圧５２ａとビームパワ信号１３ａの差をモ
ニタ電圧電流変換器５３ａに入力する、モニタ電圧電流
変換器５３ａは、入力された差分をＯにするよう制御電
流９５を出力する。
を示す。第５図において、ビームｌｌａとビームｌｌｂ
のチエツク動作は同じであるのでビームｌｌａについて
記述する。光発生源１ａに内蔵された半導体レーザ４９
ａは電流加算器４８ａからの駆動電流９１によりビーム
ｌｌａを出力し、同時にビームｌｌａに比例した光をレ
ーザパワモニタセンサ５０ａにも出力している。レーザ
パワモニタ５０ａはビームパワ信号１３ａを出力し、パ
ワ差分出力器５１ａに入力する。又、ビームパワ信号１
３ａは新たに設けたスライサ９２に入力し、基準電圧９
３でスライサ９２にてスライスされる。ここでビームパ
ワ信号１３ａが基準電圧９３より大きければ半導体レー
ザ４９ａの出力であるビームｌｌａのパワーは正常であ
り、ＶＥ９４は１である。一方、パワ差分出力器５１ａ
は基準パワ電圧５２ａとビームパワ信号１３ａの差をモ
ニタ電圧電流変換器５３ａに入力する、モニタ電圧電流
変換器５３ａは、入力された差分をＯにするよう制御電
流９５を出力する。
制御電流９５は電流リミッタ９６を経由して電流加算器
４８ａに入力される。電流加算器４８ａはラインバッフ
ァ４６ａからの印刷信号９７を電圧電流変換器４７ａに
て、変換された変調電流９８と制御電流９５を加算し、
駆動電流９１として半導体レーザ４９ａに供給する。こ
こで半導体レーザ４９ａの特性を第６図に示す。第６に
おいて、横軸Ｉは駆動電流９１である。縦軸は半導体レ
ーザ４９ａの出力Ｐ９９である。半導体レーザ４９ａの
特性は、温度に依存し、温度が高い時は特性Ｔｌ−１１
００、温度が低い時は特性ＴｗｌＯ１となる。ここで駆
動電流■。１０２が供給されると、特性Ｔ＝１０１のと
きは出力Ｐ＋１０３が出力され、これによって第５図に
おけるビームパワ信号１３ａから制御電流９５までフィ
ードバックされ、駆動電流９１はＩＬ１０４となり、出
力はＰ、１０５となる。
４８ａに入力される。電流加算器４８ａはラインバッフ
ァ４６ａからの印刷信号９７を電圧電流変換器４７ａに
て、変換された変調電流９８と制御電流９５を加算し、
駆動電流９１として半導体レーザ４９ａに供給する。こ
こで半導体レーザ４９ａの特性を第６図に示す。第６に
おいて、横軸Ｉは駆動電流９１である。縦軸は半導体レ
ーザ４９ａの出力Ｐ９９である。半導体レーザ４９ａの
特性は、温度に依存し、温度が高い時は特性Ｔｌ−１１
００、温度が低い時は特性ＴｗｌＯ１となる。ここで駆
動電流■。１０２が供給されると、特性Ｔ＝１０１のと
きは出力Ｐ＋１０３が出力され、これによって第５図に
おけるビームパワ信号１３ａから制御電流９５までフィ
ードバックされ、駆動電流９１はＩＬ１０４となり、出
力はＰ、１０５となる。
一方再び第６図にて特性Ｔ＋１００ときは、出力ＰＬ１
０６が出力され、これによって、第５図における駆動電
流９１はＩ＋１０７となり出力はやはりＰｏ１０５とな
る。
０６が出力され、これによって、第５図における駆動電
流９１はＩ＋１０７となり出力はやはりＰｏ１０５とな
る。
このようにして、温度変化に対し、第５図構成により出
力を常にＰｏ１０５に制御する。ここで、半導体レーザ
４９ａは少しずつ劣化し、その特性がｌ１０８になるこ
とがわかっている。この時、第５図における電流リミッ
タ９６がリミット電流ＩＱ１１１を設定している。もし
、リミット電流Ｉρ１１１が設定されていなければ、前
述した制御により、出力ＰＯ１０５を保つために駆動電
流Ｉ９１が増加し、駆動電流Ｉ９１の増加により半導体
レーザ内の内部温度上昇により、特性は高温特性となり
、更にＰｏ１０５を保つために、ｌ９１が増加。半導体
レーザは加速的に劣化し急激に特性Ｌｄ１０９となり、
破壊に到る。しかし、リミット電流１１２１１１を設定
することにより特性ＬＱ１１０となり、出力ＰＱ１１３
を出力する。
力を常にＰｏ１０５に制御する。ここで、半導体レーザ
４９ａは少しずつ劣化し、その特性がｌ１０８になるこ
とがわかっている。この時、第５図における電流リミッ
タ９６がリミット電流ＩＱ１１１を設定している。もし
、リミット電流Ｉρ１１１が設定されていなければ、前
述した制御により、出力ＰＯ１０５を保つために駆動電
流Ｉ９１が増加し、駆動電流Ｉ９１の増加により半導体
レーザ内の内部温度上昇により、特性は高温特性となり
、更にＰｏ１０５を保つために、ｌ９１が増加。半導体
レーザは加速的に劣化し急激に特性Ｌｄ１０９となり、
破壊に到る。しかし、リミット電流１１２１１１を設定
することにより特性ＬＱ１１０となり、出力ＰＱ１１３
を出力する。
第５図において、前記出力ＰＩ２１１３に比例したビー
ムパワ信号１３ａは、基準電圧９３でスライサ９２にて
チエツクされ、ｖε９４をＯとし、破壊の前に半導体レ
ーザ４９ａの劣化を検出できる。同様のことが半導体レ
ーザ４９ｂについても成り立ち、破壊の前に劣化をＶＩ
：ｌ１４をＯとすることで検出できる。
ムパワ信号１３ａは、基準電圧９３でスライサ９２にて
チエツクされ、ｖε９４をＯとし、破壊の前に半導体レ
ーザ４９ａの劣化を検出できる。同様のことが半導体レ
ーザ４９ｂについても成り立ち、破壊の前に劣化をＶＩ
：ｌ１４をＯとすることで検出できる。
第７図は第５図における電圧電流変換器４７ａ、モニタ
電圧電流変換器５３ａ、電流加算器４８ａ、電流リミッ
タ９６を構成した電気回路例である第７図において、電
圧電流変換器４７ａはトランジスタ４７ａにて、モニタ
電圧電流変換器５３ａはトランジスタ５３ａ、電流加算
器４８ａは電流ラインを接続することで実現している。
電圧電流変換器５３ａ、電流加算器４８ａ、電流リミッ
タ９６を構成した電気回路例である第７図において、電
圧電流変換器４７ａはトランジスタ４７ａにて、モニタ
電圧電流変換器５３ａはトランジスタ５３ａ、電流加算
器４８ａは電流ラインを接続することで実現している。
又、電流リミッタ９６は、抵抗Ｒ２９６を設定すること
で実現できる。
で実現できる。
そして、第７図において、駆動電流Ｉ９１はＲ１１１５
にて定まる変調電流■工９８と制御電流工２９５の和と
なる。トランジスタ４７ａは、オンオフ制御であり、ト
ランジスタ５３ａは非飽和制御となる。但し、パワ差分
出力器５１ａの出力差が制御電流１つをリミットまで増
加させるような場合、トランジスタ５３ａは飽和状態と
なり、制御電流Ｉ２９５は飽和し、駆動電流工、□はり
ミツト電流ＩΩ１１１となる。
にて定まる変調電流■工９８と制御電流工２９５の和と
なる。トランジスタ４７ａは、オンオフ制御であり、ト
ランジスタ５３ａは非飽和制御となる。但し、パワ差分
出力器５１ａの出力差が制御電流１つをリミットまで増
加させるような場合、トランジスタ５３ａは飽和状態と
なり、制御電流Ｉ２９５は飽和し、駆動電流工、□はり
ミツト電流ＩΩ１１１となる。
第８図にｖＡ−ｖ、までの出力に応じて、どのようなエ
ラーが生じているかの例を示す、ステートＳａはＶａ〜
■【＝１であり正常であることを示す。
ラーが生じているかの例を示す、ステートＳａはＶａ〜
■【＝１であり正常であることを示す。
ステートＳｂはＶａ＝Ｖｃ＝Ｏであり他は１であるので
次のことが言える。
次のことが言える。
すなわち、Ｖ＝＝Ｖρ＝１より半導体レーザ４９ａ、４
９ｂはビームｌｌａ、ｌｌｂ共に正常、Ｖρ＝１、Ｖ
ｃ ＝ Ｏよりビーム１１ａの光位置検出器１０への入
力不足、ＶＡ＝Ｏ１■８＝１よりビームｌｌａの光走査
検出器８への入力不足、これより、第９図におけるカッ
プリングレンズ２ａから光分割器４までの間のレンズ系
に汚れがある可能性が高い。
９ｂはビームｌｌａ、ｌｌｂ共に正常、Ｖρ＝１、Ｖ
ｃ ＝ Ｏよりビーム１１ａの光位置検出器１０への入
力不足、ＶＡ＝Ｏ１■８＝１よりビームｌｌａの光走査
検出器８への入力不足、これより、第９図におけるカッ
プリングレンズ２ａから光分割器４までの間のレンズ系
に汚れがある可能性が高い。
ステートＳｃはＶｏ ：ＶＦ ：１でその他は０より半
導体レーザ４９ａのビームｌｌａが劣化している可能性
が高い。更に状態を正確に把握するには、正常状態、Ｓ
ａからの状態変化にて考察すれば良い。
導体レーザ４９ａのビームｌｌａが劣化している可能性
が高い。更に状態を正確に把握するには、正常状態、Ｓ
ａからの状態変化にて考察すれば良い。
本発明によれば、各検出器をそのまま利用し、その出力
信号処理を工夫することで、容易に各部の異常検出がで
きるので、異常部位の把握及び異常状態の把握が可能と
なり、２ビーム走査レーザプリンタの信頼性を著しく向
上することができる
信号処理を工夫することで、容易に各部の異常検出がで
きるので、異常部位の把握及び異常状態の把握が可能と
なり、２ビーム走査レーザプリンタの信頼性を著しく向
上することができる
第１図、は第４図、第５図、第７図は本発明の一実施例
を示す回路ブロック図、第３図はタイミングチャート図
である。図において１ａｌｂは光発生源、８は光走査検
出器、１０は光位置検出器１１ａｌｌｂはビームである
。
を示す回路ブロック図、第３図はタイミングチャート図
である。図において１ａｌｂは光発生源、８は光走査検
出器、１０は光位置検出器１１ａｌｌｂはビームである
。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １、２コの光源と、該光源のビームを走査面上で並行走
査するための走査手段と、該走査ビームの間隔を制御す
るビーム間隔手段を有するものにおいて、該光源のビー
ム強度検出手段と、該走査ビームのビーム強度検出手段
と、該ビーム間隔制御部のビーム強度検出手段とを有す
ることを特徴とする２ビーム走査形光学装置。 ２、上記光源２ビーム強度検出手段を電流制限手段と電
圧比較手段とで構成したことを特徴とする請求項１記載
の２ビーム走査形光学装置。 ３、上記走査ビームのビーム強度検出手段において、光
走査検出器からの信号を加算することを特徴とする請求
項１記載の２ビーム走査形光学装置。 ４、上記ビーム間隔制御部のビーム強度検出手段におい
て、光位置検出器からの信号を加算することを特徴とす
る請求項１記載の２ビーム走査形光学装置。
Priority Applications (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2067872A JPH03266810A (ja) | 1990-03-16 | 1990-03-16 | ２ビーム走査形光学装置 |
| US07/668,903 US5140157A (en) | 1990-03-16 | 1991-03-13 | Double beam scan type optical apparatus |
| DE4108470A DE4108470C2 (de) | 1990-03-16 | 1991-03-15 | Verfahren und Vorrichtung zum optischen Zweistrahlabtasten |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2067872A JPH03266810A (ja) | 1990-03-16 | 1990-03-16 | ２ビーム走査形光学装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH03266810A true JPH03266810A (ja) | 1991-11-27 |
Family
ID=13357448
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2067872A Pending JPH03266810A (ja) | 1990-03-16 | 1990-03-16 | ２ビーム走査形光学装置 |
Country Status (3)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US5140157A (ja) |
| JP (1) | JPH03266810A (ja) |
| DE (1) | DE4108470C2 (ja) |
Families Citing this family (12)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH05308599A (ja) * | 1991-12-30 | 1993-11-19 | Samsung Electron Co Ltd | プリンティング方法及びこれに適合したプリンティング装置 |
| US5519432A (en) * | 1994-01-04 | 1996-05-21 | Xerox Corporation | Dual laser source for use in a raster output scanner |
| JPH0876039A (ja) * | 1994-09-08 | 1996-03-22 | Fuji Xerox Co Ltd | マルチビームレーザ記録装置 |
| US5774165A (en) * | 1994-09-22 | 1998-06-30 | Oki Electric Industry Co., Ltd. | Light emission intensity width compensating method of LED print head and apparatus thereof |
| JPH0996771A (ja) * | 1995-09-29 | 1997-04-08 | Asahi Optical Co Ltd | 光走査装置の同期信号生成回路 |
| US5943086A (en) * | 1996-03-11 | 1999-08-24 | Ricoh Company, Ltd. | Multiple beam independent activation system and method for simultaneous image formation |
| US5864418A (en) * | 1996-08-30 | 1999-01-26 | Bayer Corporation Agfa Division | Multi-beam scanner with mechanically moving element for scanning imaging surfaces |
| JP3535686B2 (ja) * | 1997-03-03 | 2004-06-07 | 株式会社リコー | マルチビームレーザ走査装置 |
| US6268876B1 (en) * | 1997-06-25 | 2001-07-31 | Ricoh Company, Ltd. | Method of evaluating characteristics of a light beam apparatus for evaluating the characteristics and apparatus for adjusting a write unit by employing the evaluation method |
| US8634349B1 (en) | 2010-01-11 | 2014-01-21 | Google Inc. | Merging for wireless access points |
| JP2012121667A (ja) * | 2010-12-07 | 2012-06-28 | Fuji Xerox Co Ltd | 画像形成装置及び長さ測定装置 |
| JP5386569B2 (ja) * | 2011-11-29 | 2014-01-15 | 京セラドキュメントソリューションズ株式会社 | 光走査装置、及び画像形成装置 |
Family Cites Families (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5767374A (en) * | 1980-10-14 | 1982-04-23 | Canon Inc | Multibeam recorder |
| JPH0694215B2 (ja) * | 1985-04-24 | 1994-11-24 | 株式会社日立製作所 | レーザプリンタ装置及びその走査方法 |
| JPH0782156B2 (ja) * | 1986-05-23 | 1995-09-06 | 株式会社日立製作所 | 記録光学系 |
| JPS6341821A (ja) * | 1986-08-08 | 1988-02-23 | Hitachi Ltd | 光ビ−ム合成装置 |
| JPH01202774A (ja) * | 1988-02-09 | 1989-08-15 | Hitachi Ltd | レーザプリンタ装置 |
| KR910009142B1 (ko) * | 1988-08-12 | 1991-10-31 | 가부시기가이샤 히다찌세이사꾸쇼 | 복수 광빔의 주사빔 주사간격을 가변으로 하는 제어수단을 구비한 광빔주사장치 |
| US5053619A (en) * | 1988-08-12 | 1991-10-01 | Hitachi, Ltd. | Variable density scanning apparatus |
-
1990
- 1990-03-16 JP JP2067872A patent/JPH03266810A/ja active Pending
-
1991
- 1991-03-13 US US07/668,903 patent/US5140157A/en not_active Expired - Lifetime
- 1991-03-15 DE DE4108470A patent/DE4108470C2/de not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| DE4108470C2 (de) | 1993-10-28 |
| US5140157A (en) | 1992-08-18 |
| DE4108470A1 (de) | 1991-09-19 |
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