JPH032576A - 接触子の接触不良判定方法 - Google Patents
接触子の接触不良判定方法Info
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- JPH032576A JPH032576A JP1136527A JP13652789A JPH032576A JP H032576 A JPH032576 A JP H032576A JP 1136527 A JP1136527 A JP 1136527A JP 13652789 A JP13652789 A JP 13652789A JP H032576 A JPH032576 A JP H032576A
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- 230000002950 deficient Effects 0.000 title abstract description 7
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 5
- 239000000523 sample Substances 0.000 abstract description 23
- 230000005856 abnormality Effects 0.000 abstract description 4
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 6
- 230000002159 abnormal effect Effects 0.000 description 3
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 230000002238 attenuated effect Effects 0.000 description 1
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 description 1
- 238000010998 test method Methods 0.000 description 1
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- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔概要〕
ロジック出力を測定する際に接触不良が発生したことを
判定する方法に関し、 ロジック出力測定時において、異常状態の要因がどこに
あるのが、つまり、接触子の接触不良による低レベル表
示であるのが否かを容易に判別できるようにすることを
目的とし、 被試験物が正常であるか否かを該被試験物の出力端子に
接触子を接触させて測定する際、該接触子の接触子の接
触不良を判定する方法に於いて、前記接触子側から前記
出力端子に常時一定の電圧を供給して、前記接触子の接
触不良時には特異の電圧レベルを出力しうるようにして
判定するよう構成する。
判定する方法に関し、 ロジック出力測定時において、異常状態の要因がどこに
あるのが、つまり、接触子の接触不良による低レベル表
示であるのが否かを容易に判別できるようにすることを
目的とし、 被試験物が正常であるか否かを該被試験物の出力端子に
接触子を接触させて測定する際、該接触子の接触子の接
触不良を判定する方法に於いて、前記接触子側から前記
出力端子に常時一定の電圧を供給して、前記接触子の接
触不良時には特異の電圧レベルを出力しうるようにして
判定するよう構成する。
本発明は、ロジック出力を測定する際に接触不良が発生
したことを判定する方法に関するものである。
したことを判定する方法に関するものである。
従来から被試験物例えばロジック等が正常か否かである
ことを判断する方法として、ロジ・7りの出力電圧の電
圧レベル番こよりその判断を行っていた。つまり、プロ
ーブ等の接触子を出力端子に接触させ、その出力電圧を
オシロスコープ上に表示させて判断を行っていた。
ことを判断する方法として、ロジ・7りの出力電圧の電
圧レベル番こよりその判断を行っていた。つまり、プロ
ーブ等の接触子を出力端子に接触させ、その出力電圧を
オシロスコープ上に表示させて判断を行っていた。
この時、ロジック内部で故障等が発生しておらず且つ接
触子であるプローブの接触不良が発生していなければ、
本来のロジックの出力がそのまま出力される。しかし、
プローブによる接触不良が発生していれば、オシロスコ
ープ上にはOVの波形が表示される(測定不可の状態)
。この時従来はそのOv表示がロジック側の原因である
のか、またはプローブの接触不良によるOv表示なのか
を判別することができなかった。
触子であるプローブの接触不良が発生していなければ、
本来のロジックの出力がそのまま出力される。しかし、
プローブによる接触不良が発生していれば、オシロスコ
ープ上にはOVの波形が表示される(測定不可の状態)
。この時従来はそのOv表示がロジック側の原因である
のか、またはプローブの接触不良によるOv表示なのか
を判別することができなかった。
本発明はロジック出力測定時において、異常状態の要因
がどこにあるのか、つまり、接触子の接触不良による低
レベル表示であるのか否かを容易に判別できるようにす
ることを目的とするものである。
がどこにあるのか、つまり、接触子の接触不良による低
レベル表示であるのか否かを容易に判別できるようにす
ることを目的とするものである。
〔課題を解決するための手段]
かかる目的は、被試験物1が正常であるか否かを該被試
験物工の出力端子に接触子2を接触さ−lて測定する際
、該接触子2の接触不良を判定する方法に於いて、 前記接触子2側から前記出力端子に常時一定の電圧を供
給して、前記接触子2の接触不良時には特異の電圧レベ
ルを出力しうるようにして判定することを特徴とする接
触子の接触不良判定方法、により達成される。
験物工の出力端子に接触子2を接触さ−lて測定する際
、該接触子2の接触不良を判定する方法に於いて、 前記接触子2側から前記出力端子に常時一定の電圧を供
給して、前記接触子2の接触不良時には特異の電圧レベ
ルを出力しうるようにして判定することを特徴とする接
触子の接触不良判定方法、により達成される。
かかる構成とすることにより本発明では、接触不良時に
おいては特異なる電圧レベルを出力させることにより、
容易にその状態を判別することができる。
おいては特異なる電圧レベルを出力させることにより、
容易にその状態を判別することができる。
以下、本発明の一実施例を第1図および第1図(a)お
よび第2図を用いて詳細に説明する。
よび第2図を用いて詳細に説明する。
第1図および第1図(a)において、1はロジック2ば
プローブ 3はオシロスコープ Voはロジック出力電
圧、Zoはロジック出力インピーダンス1 ■Lはプロ
ーブ側から供給する電圧、■jはオシロスコープ入力電
圧、R1−R3は抵抗、Cl−C2はコンデンサをそれ
ぞれ示す。
プローブ 3はオシロスコープ Voはロジック出力電
圧、Zoはロジック出力インピーダンス1 ■Lはプロ
ーブ側から供給する電圧、■jはオシロスコープ入力電
圧、R1−R3は抵抗、Cl−C2はコンデンサをそれ
ぞれ示す。
ここで、本発明の特徴を明確にするために従来の構成と
比較してその説明を行う。
比較してその説明を行う。
第3図(a)は従来の試験方法に用いられる回路を構成
を示し、同図(b)はその等価回路を示す。
を示し、同図(b)はその等価回路を示す。
第3図(b)に示すようにその等価回路における各電圧
はVi、vは以下の式により表される。
はVi、vは以下の式により表される。
イ)正常時
プローブの接触不良が発生していなければ、上記0式は
以下のとおり変形する。
以下のとおり変形する。
R1,R2との抵抗値を比較すると、
出力インピーダンスZo < 抵抗R1+R2の関
係にあるためである。
係にあるためである。
つまり、正常時にはオシロスコープ上には出力電圧Vo
をある一定の割合で減衰した値が波形として表示される
。
をある一定の割合で減衰した値が波形として表示される
。
口)接触不良時
ロジックとプローブの接触点のP点で接触不良が発生ず
ると、その接触不良による接触抵抗が大となることから
(換言すれば出力インピーダンスZoが開放状態戊とな
るため)、出力インピーダンスZoが他の抵抗と比較し
て無視できない程度の抵抗になることから、 出力インピーダンスZo > 抵抗R]、+R2が
成り立ち、この開放状態による■である出力インピーダ
ンスで上記0式の分子を除するため、出力電圧ViがO
Vとして表示されこれがロジックの不良によるQVなの
か、接触不良による0■なのか判別できない。
ると、その接触不良による接触抵抗が大となることから
(換言すれば出力インピーダンスZoが開放状態戊とな
るため)、出力インピーダンスZoが他の抵抗と比較し
て無視できない程度の抵抗になることから、 出力インピーダンスZo > 抵抗R]、+R2が
成り立ち、この開放状態による■である出力インピーダ
ンスで上記0式の分子を除するため、出力電圧ViがO
Vとして表示されこれがロジックの不良によるQVなの
か、接触不良による0■なのか判別できない。
本発明では、かかる点を解決する手段として、ロジック
1の出力端にプローブ2(このP点の電圧はVで以降表
している)を接触させ、その接触点をP点としている。
1の出力端にプローブ2(このP点の電圧はVで以降表
している)を接触させ、その接触点をP点としている。
そして、P点に対して抵抗R3を介し一定の電圧である
Vtを常時供給し続けている。
Vtを常時供給し続けている。
尚、この抵抗R3はその電圧降下にて接触不良時のオシ
ロスコープの入力端子Viを正常時と異なる電圧値に設
定するためのものである。また、その電圧降下にて測定
時の誤差を少なくする目的でも接続されている。
ロスコープの入力端子Viを正常時と異なる電圧値に設
定するためのものである。また、その電圧降下にて測定
時の誤差を少なくする目的でも接続されている。
次に第1図(a)の本発明の一実施例における等価回路
(第1図(b))を用いてそれぞれの状態について説明
する。
(第1図(b))を用いてそれぞれの状態について説明
する。
いま、第1図(b)における各電圧Vi、vは以下の式
により表される。
により表される。
Vo −R2
なぜならば、ロジック内部で断線等が発生していない時
の出力インピーダンスZoと各抵抗R1゜R2との抵抗
値を比較すると、 出力インピーダンスZo < 抵抗R1+R2の関
係で出力インピーダンスZoは無視できる値となるため
である。
の出力インピーダンスZoと各抵抗R1゜R2との抵抗
値を比較すると、 出力インピーダンスZo < 抵抗R1+R2の関
係で出力インピーダンスZoは無視できる値となるため
である。
つまり、正常時はオシロスコープ上にはロジックの出力
電圧Voをある一定の割合で減衰した値が従来同様に波
形として表示される(第2図(a))。
電圧Voをある一定の割合で減衰した値が従来同様に波
形として表示される(第2図(a))。
二)接触不良時
ロジック1とプローブ2の接触点のP点で接触不良が発
生ずると、上記0式は以下の通り変形する。
生ずると、上記0式は以下の通り変形する。
ハ)正常時
プローブの接触不良が発生していなければ、」−記■式
は以下の式へと変形される。
は以下の式へと変形される。
R1+R2+R3
なぜならば、接触不良が発生すると、その接触不良によ
る接触抵抗が犬となることから出力インピーダンスZo
が他の抵抗と比較しても無視できない程度の抵抗値とな
る(換言すれば、開放となる)ことから、以下の関係が
成り立ち、出力インピーダンスZo>抵抗RI+R2+
R3且つ電圧■Lは常時一定電圧を供給し続けているた
めである。
る接触抵抗が犬となることから出力インピーダンスZo
が他の抵抗と比較しても無視できない程度の抵抗値とな
る(換言すれば、開放となる)ことから、以下の関係が
成り立ち、出力インピーダンスZo>抵抗RI+R2+
R3且つ電圧■Lは常時一定電圧を供給し続けているた
めである。
つまり、接触不良時には正常時と異なる電圧レベルをオ
シロスコープ」二に表示することができる。
シロスコープ」二に表示することができる。
(第2図(C))。
以上詳細に説明したように本発明においては、ロジック
出力測定時に何らかの異常が検出されたその異常がプロ
ーブの接触不良によるものなのか否かオシロスコープ上
で容易に判別することができ、信頼度の向上に寄与する
ことができる。
出力測定時に何らかの異常が検出されたその異常がプロ
ーブの接触不良によるものなのか否かオシロスコープ上
で容易に判別することができ、信頼度の向上に寄与する
ことができる。
具体例を上げて説明すると、いま第2図(a)で示され
るような出力値(破線)であるロジックにプローブを接
触させてその状態を試験する時に、本来であれば第2図
(a)の実線で表す波形がオシロスコープ上に表示され
るものであるが、接触不良またはロジック内で異常が発
生ずると、オシロスコープ上にはOVとして表示される
。しかし本発明のような構成とすることで、接触不良時
においては第2図(C)で示すようなOVと異なる特異
なる出力波形をオシロスコープ上に表示させることによ
り、容易にその状態を判別することができるのである。
るような出力値(破線)であるロジックにプローブを接
触させてその状態を試験する時に、本来であれば第2図
(a)の実線で表す波形がオシロスコープ上に表示され
るものであるが、接触不良またはロジック内で異常が発
生ずると、オシロスコープ上にはOVとして表示される
。しかし本発明のような構成とすることで、接触不良時
においては第2図(C)で示すようなOVと異なる特異
なる出力波形をオシロスコープ上に表示させることによ
り、容易にその状態を判別することができるのである。
第1図(a)は本発明の実施例を示す図、第1図(b)
は第1図の等価回路を示す図であり、第2図はオシロス
コープでの電圧表示状態を示す図であり、 同図(a)は正常時を示し、 同図(b)は断線時を示し、 同図(C)はプローブ接触不良時をそれぞれ示す。 第3図(a)は従来の回路構成を示す図であり、第3図
(b)は第3図の等価回路を示す図である。 図において、 1はロジック。 2はプローブ。 3はオシロスコープ5 Voはロジック出力電圧 Zoはロジック出力インピーダンス Vtはプローブ側から供給する電圧 Viはオシロスコープ入力電圧 R1−R3は抵抗 をそれぞれ示す。
は第1図の等価回路を示す図であり、第2図はオシロス
コープでの電圧表示状態を示す図であり、 同図(a)は正常時を示し、 同図(b)は断線時を示し、 同図(C)はプローブ接触不良時をそれぞれ示す。 第3図(a)は従来の回路構成を示す図であり、第3図
(b)は第3図の等価回路を示す図である。 図において、 1はロジック。 2はプローブ。 3はオシロスコープ5 Voはロジック出力電圧 Zoはロジック出力インピーダンス Vtはプローブ側から供給する電圧 Viはオシロスコープ入力電圧 R1−R3は抵抗 をそれぞれ示す。
Claims (1)
- 被試験物(1)が正常であるか否かを該被試験物(1)
の出力端子に接触子(2)を接触させて測定する際、該
接触子(2)の接触不良を判定する方法に於いて、前記
接触子(2)側から前記出力端子に常時一定の電圧を供
給して、前記接触子(2)の接触不良時には特異の電圧
レベルを出力しうるようにして判定することを特徴とす
る接触子の接触不良判定方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1136527A JPH032576A (ja) | 1989-05-30 | 1989-05-30 | 接触子の接触不良判定方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1136527A JPH032576A (ja) | 1989-05-30 | 1989-05-30 | 接触子の接触不良判定方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH032576A true JPH032576A (ja) | 1991-01-08 |
Family
ID=15177269
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP1136527A Pending JPH032576A (ja) | 1989-05-30 | 1989-05-30 | 接触子の接触不良判定方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH032576A (ja) |
-
1989
- 1989-05-30 JP JP1136527A patent/JPH032576A/ja active Pending
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