JPH03218536A - データ処理装置の診断方式 - Google Patents
データ処理装置の診断方式Info
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- JPH03218536A JPH03218536A JP2013992A JP1399290A JPH03218536A JP H03218536 A JPH03218536 A JP H03218536A JP 2013992 A JP2013992 A JP 2013992A JP 1399290 A JP1399290 A JP 1399290A JP H03218536 A JPH03218536 A JP H03218536A
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- 230000005856 abnormality Effects 0.000 claims abstract description 12
- 238000002405 diagnostic procedure Methods 0.000 claims description 8
- 238000000034 method Methods 0.000 description 8
- 230000002159 abnormal effect Effects 0.000 description 4
- 238000003745 diagnosis Methods 0.000 description 4
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 3
- 230000007257 malfunction Effects 0.000 description 3
- 230000007246 mechanism Effects 0.000 description 3
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 1
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- Test And Diagnosis Of Digital Computers (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[産業上の利用分野]
この発明はデータ処理装置の診断方式に係わり、特に複
数の命令語を組合せたテスト命令列による診断方式に関
するものである。
数の命令語を組合せたテスト命令列による診断方式に関
するものである。
[従来の技術]
従来からデータ処理装置の動作を保証する手段として,
単体命令語による診断h式や複数命令語による診断方式
が採用されているが、特に、先行制御機構を備えたデー
タ処理装置やキャッシュ制御機構を備えたデータ処理装
置において、複数命令語の組合せ診断が前記制御機構の
診断に効果があることが一般に知られている。
単体命令語による診断h式や複数命令語による診断方式
が採用されているが、特に、先行制御機構を備えたデー
タ処理装置やキャッシュ制御機構を備えたデータ処理装
置において、複数命令語の組合せ診断が前記制御機構の
診断に効果があることが一般に知られている。
第3図は、従来の複数命令語による診断方式を説明する
ためのデータ処理装置の構成を示すブロック図である。
ためのデータ処理装置の構成を示すブロック図である。
図において,1はデータ処理装置、2はデータ処理装置
1に備えられた主記憶装置、3はデータ処理装置1に備
えられた基本処理装置、4は主記憶装M2上で動作する
テスト・プログラム2aの実行を制御する実行制御部,
5はテスト・プログラム2aのテスト内容を規定したテ
スト命令列,7はテスト命令列5を実行した結果が正し
いかどうかを判定する実行結果判定部、8はデータ処理
装置1に接続される補助記憶装置である。
1に備えられた主記憶装置、3はデータ処理装置1に備
えられた基本処理装置、4は主記憶装M2上で動作する
テスト・プログラム2aの実行を制御する実行制御部,
5はテスト・プログラム2aのテスト内容を規定したテ
スト命令列,7はテスト命令列5を実行した結果が正し
いかどうかを判定する実行結果判定部、8はデータ処理
装置1に接続される補助記憶装置である。
次に,第4図のフローチャートを参照しながら、第3図
に示した従来技術の動作について説明する。
に示した従来技術の動作について説明する。
まず,テスト・プログラム2aの実行を開始(ステップ
SL)すると,実行制御部4は実行可能状態にある複数
のテスト命令列5の中から一つを選択し実行する(ステ
ップS2、S3)。この実行結果が正しいかどうかを,
実行制御部4は実行結果判定部7を起動して判定する(
ステップS4)。ここで異常を検出した場合には異常終
了し,正常な結果であれば、次のテスト命令列の実行に
移り(ステップS5,S6).全てのテスト命令列5が
実行されるまで、上記ステップS3,S4,S5,S6
を繰り返す。
SL)すると,実行制御部4は実行可能状態にある複数
のテスト命令列5の中から一つを選択し実行する(ステ
ップS2、S3)。この実行結果が正しいかどうかを,
実行制御部4は実行結果判定部7を起動して判定する(
ステップS4)。ここで異常を検出した場合には異常終
了し,正常な結果であれば、次のテスト命令列の実行に
移り(ステップS5,S6).全てのテスト命令列5が
実行されるまで、上記ステップS3,S4,S5,S6
を繰り返す。
[発明が解決しようとする課題]
従来のこの種の診断方式は上述したようになされていた
ので、テスト命令列内のどの命令語で不具合が発生した
のかが判別できず、原因追求が困難であり,また、同一
原因に対して複数のテスト命令列で不具合が発生するこ
とが一般的であり、不具合の存在は認識できても、不具
合の発生する条件(命令語の組合せ)を整理することが
困難であるなどの問題点があった。
ので、テスト命令列内のどの命令語で不具合が発生した
のかが判別できず、原因追求が困難であり,また、同一
原因に対して複数のテスト命令列で不具合が発生するこ
とが一般的であり、不具合の存在は認識できても、不具
合の発生する条件(命令語の組合せ)を整理することが
困難であるなどの問題点があった。
この発明は上記のような問題点を解消するためになされ
たもので、異常が検出されたテスト命令列に着目し,こ
の命令列を徐々に小さく(縮退)しながら実行と結果判
定を繰り返し、不具合の発生する最小の命令列を自動検
索できるデータ処理装置の誇断方式を提供することを目
的とする。
たもので、異常が検出されたテスト命令列に着目し,こ
の命令列を徐々に小さく(縮退)しながら実行と結果判
定を繰り返し、不具合の発生する最小の命令列を自動検
索できるデータ処理装置の誇断方式を提供することを目
的とする。
[課題を解決するための手段]
この発明に係るデータ処理装置の診断方式は,テスト命
令列5から1命令語ずつ削除した縮退命令列を生成する
とともに、生成した縮退命令列が正しく実行された場合
の実行結果を生成する縮退命令列生成部6を備え,前記
テスト命令列5を実行した結果,異常と判定された場合
には、当該テスト命令列5から縮退命令列を生成して実
行し、その実行結果が正常と判定されるか、又は縮退命
令列が1命令語となるまで,縮退命令列の生成,実行,
判定を繰り返すようにしたものである。
令列5から1命令語ずつ削除した縮退命令列を生成する
とともに、生成した縮退命令列が正しく実行された場合
の実行結果を生成する縮退命令列生成部6を備え,前記
テスト命令列5を実行した結果,異常と判定された場合
には、当該テスト命令列5から縮退命令列を生成して実
行し、その実行結果が正常と判定されるか、又は縮退命
令列が1命令語となるまで,縮退命令列の生成,実行,
判定を繰り返すようにしたものである。
[作用]
この発明における縮退命令列生成部6は、実行制御部4
により実行され,実行結果判定部7により異常が検出さ
九たテスト命令列5から1命令語を削除した縮退命令列
を生成して、この縮退命令列を実行制御部4で実行させ
るようにするとともに,当該縮退命令列が正しく実行さ
れた場合の実行結果を生成して,上記縮退命令列の実行
結果を実行結果判定部7で比較判定できるようにする。
により実行され,実行結果判定部7により異常が検出さ
九たテスト命令列5から1命令語を削除した縮退命令列
を生成して、この縮退命令列を実行制御部4で実行させ
るようにするとともに,当該縮退命令列が正しく実行さ
れた場合の実行結果を生成して,上記縮退命令列の実行
結果を実行結果判定部7で比較判定できるようにする。
また、一度縮退生成した縮退命令列の実行結果が異常と
判定された場合には,当該縮退命令列から更に縮退した
命令列を生成する。
判定された場合には,当該縮退命令列から更に縮退した
命令列を生成する。
[実施例]
以下、この発明の一実施例を図について説明する.
第1図は、この発明の一実施例による診断方式を説明す
るためのデータ処理装置の構成を示すブロック図であり
、前記第3図に示した構成要素に対応するものには同一
の符号を付して、その説明は省略する。図において、6
はテスト・プログラム2aの一部分として備えられ,実
行制御部4により起動される縮退命令列生成部であり、
実行制御部4で実行され,実行結果判定部7で異常と判
定されたテスト命令列5又は既に縮退生成されて実行,
異常判定された縮退命令列からその最終命令語を取り除
いた縮退命令列を生成して,実行制御部4にテスト命令
列として与えるとともに、当該縮退命令列が正しく実行
された場合の実行結果,すなわち予測される正解値を生
成して実行結果判定部7に与えるものである。
るためのデータ処理装置の構成を示すブロック図であり
、前記第3図に示した構成要素に対応するものには同一
の符号を付して、その説明は省略する。図において、6
はテスト・プログラム2aの一部分として備えられ,実
行制御部4により起動される縮退命令列生成部であり、
実行制御部4で実行され,実行結果判定部7で異常と判
定されたテスト命令列5又は既に縮退生成されて実行,
異常判定された縮退命令列からその最終命令語を取り除
いた縮退命令列を生成して,実行制御部4にテスト命令
列として与えるとともに、当該縮退命令列が正しく実行
された場合の実行結果,すなわち予測される正解値を生
成して実行結果判定部7に与えるものである。
次に,第2図のフローチャートを参照しながら、第1図
に示した本発明の実施例の動作について説明する。
に示した本発明の実施例の動作について説明する。
まず、実行を開始(ステップSl)すると、従来同様、
実行制御部4は複数のテスト命令列5の中から1命令列
を選択し実行する(ステップS2,S3)。実行制御部
4は当該テスト命令列の実行結果に関して実行結果判定
部7を起動して正しいかどうかを判定する(ステップS
4)。実行結果が正しければ、最後のテスト命令列にな
るまで順次選択し、実行と結果判定を繰り返す(ステッ
プS5,S6,S3.S4)。
実行制御部4は複数のテスト命令列5の中から1命令列
を選択し実行する(ステップS2,S3)。実行制御部
4は当該テスト命令列の実行結果に関して実行結果判定
部7を起動して正しいかどうかを判定する(ステップS
4)。実行結果が正しければ、最後のテスト命令列にな
るまで順次選択し、実行と結果判定を繰り返す(ステッ
プS5,S6,S3.S4)。
一方、ステップS4の実行結果判定にて異常が検出され
たならば、実行制御部4は縮退命令列生成部6を起動し
て、当該テスト命令列から最後の1命令語を取り除いた
縮退命令列を生成し(ステップS7)、この縮退命令列
が正しく実行された場合の正解値を予測生成する(ステ
ップS8)。実行制御部4は、前記縮退命令列を実行し
(ステップS9)、その実行結果を実行結果判定部7を
起動して比較判定し(ステップS10)、判定結果が正
しければ直前に縮退された最終命令語が異常の主要因と
して異常終了処理(2)を行なう。また、判定結果が異
常を示したならば、ステップSllで命令列が1命令語
になるまで更に命令列を縮退して実行,判定を繰り返す
(ステップS7,S8,S9,SIO)。縮退命令列生
成部6の生成した縮退命令列が1命令語から成る単一命
令テストの場合に実行結果判定部7が異常を示したなら
ば、当該命令語を誤りの主要因として異常終Y処理(1
)を行なう(ステップS11)。
たならば、実行制御部4は縮退命令列生成部6を起動し
て、当該テスト命令列から最後の1命令語を取り除いた
縮退命令列を生成し(ステップS7)、この縮退命令列
が正しく実行された場合の正解値を予測生成する(ステ
ップS8)。実行制御部4は、前記縮退命令列を実行し
(ステップS9)、その実行結果を実行結果判定部7を
起動して比較判定し(ステップS10)、判定結果が正
しければ直前に縮退された最終命令語が異常の主要因と
して異常終了処理(2)を行なう。また、判定結果が異
常を示したならば、ステップSllで命令列が1命令語
になるまで更に命令列を縮退して実行,判定を繰り返す
(ステップS7,S8,S9,SIO)。縮退命令列生
成部6の生成した縮退命令列が1命令語から成る単一命
令テストの場合に実行結果判定部7が異常を示したなら
ば、当該命令語を誤りの主要因として異常終Y処理(1
)を行なう(ステップS11)。
なお、上記実施例では、縮退命令列生成部6をテスト・
プログラム2aの一部分として構成したが、全く独立の
別プログラムとして構成しても良い。また、縮退命令列
生成部6や実行結果判定部7を独立させて実行制御部4
から起動するようにしたが、これらを実行制御部4に含
ませるようにしても良い。
プログラム2aの一部分として構成したが、全く独立の
別プログラムとして構成しても良い。また、縮退命令列
生成部6や実行結果判定部7を独立させて実行制御部4
から起動するようにしたが、これらを実行制御部4に含
ませるようにしても良い。
また、縮退の方法として、命令列の最後の命令語を取り
除く方法を示したが、命令語を取り除く代わりにNo−
0ρeration命令語と置き換え、実質的に削除し
たのと同様の結果を得るようにしても良い。
除く方法を示したが、命令語を取り除く代わりにNo−
0ρeration命令語と置き換え、実質的に削除し
たのと同様の結果を得るようにしても良い。
[発明の効果]
以上のように、本発明によれば、異常を検出したテスト
命令列から不具合を発生させた要因に無関係と思われる
命令語を徐々に削除するように構成したので,不具合を
発生させた条件の整理がし易くなり、不具合の原因追求
が容易となって短時間で行なえるという効果がある。
命令列から不具合を発生させた要因に無関係と思われる
命令語を徐々に削除するように構成したので,不具合を
発生させた条件の整理がし易くなり、不具合の原因追求
が容易となって短時間で行なえるという効果がある。
第1図はこの発明の一実施例による診断方式を説明する
ためのデータ処理装置の構成を示すブロック図、第2図
はこの実施例の動作を示すフローチャート、第3図は従
来の診断方式を説明するためのデータ処理装置の構成を
示すブロック図、第4図はこの従来例の動作を示すフロ
ーチャ−1−である。 1はデータ処理装置、2は主記憶装置、2aはテスト・
プログラム,3は基本処理装置、4は実行制御部、5は
テスト命令列、6は縮退命令列生成部,7は実行結果判
定部、8は補助記憶装置。 なお,図中、同一符号は同一,又は相当部分を示す。
ためのデータ処理装置の構成を示すブロック図、第2図
はこの実施例の動作を示すフローチャート、第3図は従
来の診断方式を説明するためのデータ処理装置の構成を
示すブロック図、第4図はこの従来例の動作を示すフロ
ーチャ−1−である。 1はデータ処理装置、2は主記憶装置、2aはテスト・
プログラム,3は基本処理装置、4は実行制御部、5は
テスト命令列、6は縮退命令列生成部,7は実行結果判
定部、8は補助記憶装置。 なお,図中、同一符号は同一,又は相当部分を示す。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 複数の命令語を組合せて成るテスト命令列を用い、この
命令列を実行制御部で実行し、その実行結果が正しいか
否かを実行結果判定部で判定するデータ処理装置の診断
方式において、 前記テスト命令列から1命令語ずつ削除した縮退命令列
を生成するとともに、生成した縮退命令列が正しく実行
された場合の実行結果を生成する縮退命令列生成部を備
え、前記テスト命令列を実行した結果、異常と判定され
た場合には、当該テスト命令列から縮退命令列を生成し
て実行し、その実行結果が正常と判定されるか、又は縮
退命令列が1命令語となるまで、縮退命令列の生成、実
行、判定を繰り返すようにしたことを特徴とするデータ
処理装置の診断方式。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2013992A JPH03218536A (ja) | 1990-01-24 | 1990-01-24 | データ処理装置の診断方式 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2013992A JPH03218536A (ja) | 1990-01-24 | 1990-01-24 | データ処理装置の診断方式 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH03218536A true JPH03218536A (ja) | 1991-09-26 |
Family
ID=11848730
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2013992A Pending JPH03218536A (ja) | 1990-01-24 | 1990-01-24 | データ処理装置の診断方式 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH03218536A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2009181370A (ja) * | 2008-01-31 | 2009-08-13 | Fujitsu Ltd | コンピュータ試験方法,プログラムおよび情報処理装置 |
Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS62100844A (ja) * | 1985-10-29 | 1987-05-11 | Nec Corp | 情報処理装置の試験方式 |
JPS6488750A (en) * | 1987-09-30 | 1989-04-03 | Nippon Telegraph & Telephone | Test method for information processor |
-
1990
- 1990-01-24 JP JP2013992A patent/JPH03218536A/ja active Pending
Patent Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS62100844A (ja) * | 1985-10-29 | 1987-05-11 | Nec Corp | 情報処理装置の試験方式 |
JPS6488750A (en) * | 1987-09-30 | 1989-04-03 | Nippon Telegraph & Telephone | Test method for information processor |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2009181370A (ja) * | 2008-01-31 | 2009-08-13 | Fujitsu Ltd | コンピュータ試験方法,プログラムおよび情報処理装置 |
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