JP6341295B2 - 多次元質量分析データ処理装置 - Google Patents
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Description
このようにして包括的2次元GCでは、1次カラムで分離されずにピークが重なり合っている複数の成分を2次カラムにおいて分離することができ、通常のGCに比べて分離性能が大幅に向上する。
a)N次元空間上の各微小領域におけるMSnスペクトルデータから、微小領域毎に、質量電荷比と信号強度との関係を示すピーク情報を収集するピーク情報収集部と、
b)前記ピーク情報収集部により収集されたN次元空間上のピーク情報に対する所定の統計解析処理を行って質量電荷比毎に統計的な特徴量を求め、該質量電荷比毎に求まった統計的な特徴量と各微小領域のピーク情報との相関を示す情報を取得する統計解析部と、
c)該統計解析部により得られた微小領域毎の相関を示す情報に基づいてN次元空間における強度分布を示すグラフを作成するグラフ作成部と、
を備えることを特徴としている。
図1は本実施例による包括的2次元LC−MS/MSシステムの概略構成図である。
なお、データ処理部3は、パーソナルコンピュータをハードウエア資源とし、そのパーソナルコンピュータに予めインストールされた専用の処理ソフトウエアを該コンピュータで実行することによりそれぞれの機能が実現されるものとすることができる。
上述したように、試料に含まれる各種成分は包括的2次元LC部1において時間方向に高い分離能で分離され、MS/MS部2ではスキャン測定が繰り返し実施される。また、スキャン測定で得られたマススペクトル上に有意のピークが観測される場合には、スキャン測定の合間にMS2分析(プロダクトイオンスキャン測定)が実施される。それによって、データ記憶部31には図2に示すように、1次カラムの保持時間RT1と2次カラムの保持時間RT2という二つの時間軸を有する仮想的な空間上の各微小領域(図2(a)中で斜線で示した矩形状の範囲であるピクセル)に対応するマススペクトルデータが格納される。また、全て又は一部の微小領域に対応するMS2スペクトルデータも格納される。
即ち、ピーク情報抽出部32はデータ記憶部31から各微小領域のMS2スペクトルデータを読み出す。そして、MS2スペクトル毎に所定のアルゴリズムに従ってピーク検出を行い、検出された各ピークのピークトップの質量電荷比値と信号強度値とを取得する。これがプロダクトイオンの質量電荷比値と信号強度値である。さらに、MS2分析の際のプリカーサイオンの質量電荷比値と各プロダクトイオンの質量電荷比値との差を、解離の際にイオンから脱離するニュートラルロスとして計算し、例えばそのニュートラルロスを求める際に用いたプロダクトイオンのピークの信号強度値をニュートラルロスの信号強度値とみなすことで、ニュートラルロスの質量値と信号強度値も求める。
2…MS/MS部
3…データ処理部
31…データ記憶部
32…ピーク情報抽出部
33…規格化処理部
34…主成分分析処理部
35…因子負荷量算出部
36…相関情報算出部
37…2次元表示情報作成部
4…表示部
Claims (6)
- MSn分析(nは2以上の整数)が可能である質量分析装置により一つの試料に対して取得された、実空間又は仮想的な空間であるN次元空間(Nは2以上の整数)上の各微小領域におけるMSnスペクトルデータからなる多次元質量分析データを処理して表示する多次元質量分析データ処理装置であって、
a)N次元空間上の各微小領域におけるMSnスペクトルデータから、微小領域毎に、質量電荷比と信号強度との関係を示すピーク情報を収集するピーク情報収集部と、
b)前記ピーク情報収集部により収集されたN次元空間上のピーク情報に対する所定の統計解析処理を行って質量電荷比毎に統計的な特徴量を求め、該質量電荷比毎に求まった統計的な特徴量と各微小領域のピーク情報との相関を示す情報を取得する統計解析部と、
c)該統計解析部により得られた微小領域毎の相関を示す情報に基づいてN次元空間における強度分布を示すグラフを作成するグラフ作成部と、
を備えることを特徴とする多次元質量分析データ処理装置。
- 請求項1に記載の多次元質量分析データ処理装置であって、
各微小領域におけるMSnスペクトルデータは、MSn分析が可能である質量分析装置を検出器として用いた包括的2次元ガスクロマトグラフ又は包括的2次元液体クロマトグラフにより得られたデータであり、Nが2である2次元空間の二つの軸はいずれも保持時間であることを特徴とする多次元質量分析データ処理装置。 - 請求項1に記載の多次元質量分析データ処理装置であって、
各微小領域におけるMSnスペクトルデータは、MSn分析が可能であるイメージング質量分析装置により得られたデータであり、Nが2である2次元空間の二つの軸は試料上の異なる方向の位置情報であることを特徴とする多次元質量分析データ処理装置。 - 請求項1〜3のいずれか1項に記載の多次元質量分析データ処理装置であって、
前記統計解析処理は主成分分析であり、前記特徴量は主成分分析により得られる因子負荷量であることを特徴とする多次元質量分析データ処理装置。 - 請求項1〜3のいずれか1項に記載の多次元質量分析データ処理装置であって、
前記質量分析装置はフラグメンテーションが起こり易いイオン源を搭載した装置又はインソース分解を利用した装置であり、MSnスペクトルデータはイオン源でのフラグメンテーション又はインソース分解によって生じたフラグメントイオンを質量分析することで得られた擬似的なMS2スペクトルデータであることを特徴とする多次元質量分析データ処理装置。 - 請求項1〜3のいずれか1項に記載の多次元質量分析データ処理装置であって、
前記質量分析装置は試料由来のイオンの中で特定の質量電荷比を持つイオンをプリカーサイオンとして選択し、該プリカーサイオンを解離させてそれにより生成されたイオンを質量分析する装置であり、前記統計解析部は、質量電荷比が同じプリカーサイオン由来のMSnスペクトルデータから収集されたN次元空間上のピーク情報に対する所定の統計解析処理を行うことを特徴とする多次元質量分析データ処理装置。
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