JP6118442B2 - 細隙灯顕微鏡 - Google Patents

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Description

この発明は細隙灯顕微鏡に関する。
細隙灯顕微鏡は、被検眼をスリット光で照明し、この照射野を拡大観察するための眼科装置である(たとえば特許文献1を参照)。なお、「観察」には、肉眼での観察と撮像素子による撮影の少なくとも一方が含まれるものとする。
細隙灯顕微鏡は、被検眼の様々な部位の観察に用いられる。観察部位としては、前眼部全体、角膜、強膜、虹彩、水晶体、結膜、眼房、隅角、硝子体、網膜などがある。
また、細隙灯顕微鏡を用いた観察手法には様々なものがある。一例として、拡散照明法、直接照明法、背景照明法、蛍光染色撮影、接線照明法、徹照法、隅角鏡による撮影、補助レンズによる撮影、などがある。拡散照明法は、拡散レンズや拡散板を用いて得られる拡散光で被検眼を照明して行う観察手法である。直接照明法は、光源からの光を拡散等させずに被検眼に照射して行う観察手法である。背景照明法は、観察部位の近傍に照明光を照射し、その反射光で観察部位を照明して行う観察手法である。蛍光染色撮影は、蛍光造影剤(フルオレセイン)で被検眼を染色し、ブルーフィルタを介して照明光を照明して行う観察手法である。接線照明法は、観察部位に対して側方から照明光を照射して行う観察手法である。徹照法は、瞳孔の縁からスリット光を照射し、眼底からの反射が最大になるようにして行う観察手法である。隅角鏡による撮影は、被検眼の角膜上に隅角鏡を配置することで隅角を照明して行う観察法である。補助レンズによる撮影は、三面鏡や非球面レンズ等を用いることで眼底を照明して行う観察手法である。なお、細隙灯顕微鏡による検査では、観察部位と観察手法が任意に組み合わされて適用される。
特開2009−178459号公報
細隙灯顕微鏡による検査では、観察部位や観察手法の選択に応じて、光学系の設定、たとえば照射角度、照明光量、観察倍率、スリット幅、フィルタ、露出(受光感度、シャッタスピード、絞り値等)など、を適切に切り替える必要がある。
このような光学系の設定が適切に行われないと好適な画像が得られず、撮り直しの必要が生じたり、検査時間が長引いたりするなど、検者にとっても被検者にとっても負担が増すこととなる。
また、観察部位や観察手法の多用な組み合わせに応じて光学系の設定を適切に行うことは困難であり、観察部位や観察手法を変更する度に設定の切り替えを行うことは煩雑である。特に、検者が細隙灯顕微鏡を用いた検査に熟練していない場合、このような問題は顕著となる。
この発明は、上記の問題を解決するためになされたものであり、その目的は、光学系の設定を適切かつ容易に行うことが可能な細隙灯顕微鏡を提供することにある。
実施形態の細隙灯顕微鏡において、照明系は、照明光を出力する光源と、スリット幅が変更可能なスリットを形成するスリット形成部とを含み、スリットを通過した照明光を被検眼に照射し、かつ照明光の光量及び照射角度を変更可能である。観察系は、観察倍率を変更するための変倍光学系を含み、被検眼を観察するために用いられる。記憶部は、被検眼の複数の部位のそれぞれに対し、1以上の観察手法のそれぞれにおける照明系及び/又は観察系の基準設定条件が対応付けられた対応情報をあらかじめ記憶する。指定部は、被検眼の部位を指定するために用いられる。取得部は、照明系及び/又は観察系の現在の設定状態を取得する。検索部は、指定部位と現在の設定状態に対応する観察手法とに対応する基準設定条件を対応情報から検索する。
実施形態によれば、光学系の設定を適切かつ容易に行うことが可能である。
この発明に係る細隙灯顕微鏡の実施形態の外観構成の一例を表す概略側面図である。 この発明に係る細隙灯顕微鏡の実施形態の光学系の構成の一例を表す概略側面図である。 この発明に係る細隙灯顕微鏡の実施形態の制御系の構成の一例を表す概略ブロック図である。 この発明に係る細隙灯顕微鏡の実施形態の基準設定条件情報の一例を表す概略図である。 この発明に係る細隙灯顕微鏡の実施形態の動作の一例を表すフローチャートである。 この発明に係る細隙灯顕微鏡の実施形態における情報の表示態様の一例を表す概略図である。
この発明に係る細隙灯顕微鏡の実施形態の一例について、図面を参照しながら詳細に説明する。
まず方向を定義しておく。装置光学系において最も被検者側に位置するレンズ(対物レンズ)から被検者に向かう方向を前方向とし、その逆方向を後方向とする。また、前方向に直交する水平方向を左右方向とする。更に、前後方向と左右方向の双方に直交する方向を上下方向とする。
[外観構成]
この実施形態に係る細隙灯顕微鏡の外観構成について、図1を参照しながら説明する。細隙灯顕微鏡1には、コンピュータ100が接続されている。コンピュータ100は、各種の制御処理や演算処理を行う。なお、顕微鏡本体(光学系等を格納する筐体)とは別にコンピュータ100を設ける代わりに、顕微鏡本体に同様のコンピュータを搭載した構成を適用することも可能である。
細隙灯顕微鏡1はテーブル2上に載置される。なお、コンピュータ100は他のテーブル上又はその他の場所に設置されていてもよい。基台4は、移動機構部3を介して水平方向に移動可能に構成されている。基台4は、操作ハンドル5を傾倒操作することにより移動される。
基台4の上面には、観察系6及び照明系8を支持する支持部15が設けられている。支持部15には、観察系6を支持する支持アーム16が左右方向に回動可能に取り付けられている。支持アーム16の上部には、照明系8を支持する支持アーム17が左右方向に回動可能に取り付けられている。支持アーム16、17は、それぞれ独立に同軸で回動可能とされている。支持アーム16を回動させることにより観察系6の光軸を偏向することができる(つまり観察方向を変更することができる)。また、支持アーム17を回動させることにより照明系8の光軸を偏向することができる(つまり照明方向を変更することができる)。
各支持アーム16、17は、電気的な機構によって回動されるように構成されていてもよいし、手動で回動されるように構成されていてもよい。前者の場合、支持アーム16(又は支持アーム17)を回動させるための駆動力を発生するアクチュエータと、この駆動力を伝達して支持アーム16(又は支持アーム17)を回動させる伝達機構とが設けられる。アクチュエータは、たとえばステッピングモータ(パルスモータ)により構成される。伝達機構は、たとえば歯車の組み合わせやラック・アンド・ピニオンなどによって構成される。
照明系8は上下方向にも振れるように構成されていてもよい。つまり、照明光の仰角や俯角を変更できるように構成されていてもよい。照明系8を回動させる機構は、観察系6のそれと同様に、電気的に又は手動で駆動される。観察系6についても同様である。
観察系6は、被検眼Eによる照明光の反射光を案内する左右一対の光学系を有する。この光学系は鏡筒本体9内に収納されている。鏡筒本体9の終端は接眼部9aである。検者は接眼部9aをのぞき込むことで被検眼Eを肉眼で観察する。
なお、照明光の反射光には、たとえば散乱光のように被検眼Eを経由した各種の光が含まれるが、これら各種の光を含めて「反射光」と呼ぶことにする。また、観察系6の周辺位置には、背景光を出力する光源(図2に示す背景光源70)が設けられている。
鏡筒本体9に対峙する位置には顎受け台10が配置されている。顎受け台10には、被検者の顔を安定配置させるための顎受部10aと額当て10bが設けられている。
鏡筒本体9の側面には、観察倍率を変更するための観察倍率操作ノブ11が配置されている。観察倍率は、電気的な機構によって変更することもできる。更に、鏡筒本体9には、被検眼Eを撮影するための撮像装置13が接続されている。撮像装置13は撮像素子を含んで構成されている。撮像素子は、光を検出して電気信号(画像信号)を出力する光電変換素子である。画像信号はコンピュータ100に入力される。撮像素子としては、たとえばCCD(Charge Coupled Device)イメージセンサや、CMOS(Complementary Metal Oxide Semiconductor)イメージセンサが用いられる。照明系8の下方位置には、照明系8から出力される照明光束を被検眼Eに向けて反射するミラー12が配置されている。
また、図1では省略されているが、ミラー12の前方位置には、図2に示す拡散板60が挿脱される。拡散板60は、照明光を拡散することにより被検眼Eに対して照明光を一様に照射させる。拡散板60は拡散機能のみを有する光学部材であってもよいし、拡散機構とレンズ機能とを有する光学部材であってもよい。拡散板60は「拡散部材」の一例である。
[光学系の構成]
細隙灯顕微鏡1の光学系の構成について、図2を参照しながら説明する。細隙灯顕微鏡1は観察系6と照明系8を有する。
〔観察系〕
観察系6は左右一対の光学系を備えている。左右の光学系は、ほぼ同様の構成を有する。検者は、この左右の光学系により被検眼Eを双眼で観察することができる。なお、図2には、観察系6の左右の光学系の一方のみが示されている。符号O1は観察系6の光軸(観察光軸)である。前述した被検眼Eに対する観察方向の変更は、観察光軸O1の所定の基準位置に対する角度(観察角度)を変更することに相当する。
観察系6の左右の各光学系は、対物レンズ31、変倍光学系32、絞り33、リレーレンズ35、プリズム36及び接眼レンズ37を有する。ビームスプリッタ34は、左右の光学系の一方のみに又は双方に設けられる。接眼レンズ37は接眼部9a内に設けられている。符号Pは、接眼レンズ37に導かれる光の結像位置を示している。符号Ecは被検眼Eの角膜を、符号Epは虹彩を、符号Erは眼底をそれぞれ示している。符号Eoは検者眼を示している。
変倍光学系32は、複数(たとえば2枚)の変倍レンズ32a、32bを含んで構成される。各変倍レンズ32a、32bは観察光軸O1に沿って移動可能とされている。それにより、被検眼Eの肉眼観察像や撮影画像の倍率(画角)を変更できる。倍率の変更は、観察倍率操作ノブ11を操作することにより行われる。また、図示しないスイッチ等を用いて電動で倍率を変更するように構成してもよい。
ビームスプリッタ34は、観察光軸O1に沿って進む光を二分割する。ビームスプリッタ34を透過した光は、リレーレンズ35、プリズム36及び接眼レンズ37を介して検者眼Eoに導かれる。プリズム36は、2つの光学素子36a、36bを含み、光の進行方向を上方に平行移動させる。
他方、ビームスプリッタ34により反射された光は、リレーレンズ41及びミラー42を介して、撮像装置13の撮像素子43に導かれる。撮像素子43は、この反射光を検出して画像信号を生成する。
〔照明系〕
照明系8は、光源51、リレーレンズ52、照明絞り56、集光レンズ53、スリット形成部54、フィルタ57、集光レンズ55及び拡散板60を有する。符号O2は、照明系8の光軸(照明光軸)を示す。前述した被検眼Eに対する照明方向の変更は、照明光軸O2の所定の基準位置に対する角度(照明角度)を変更することに相当する。照明角度は「照射角度」に相当する。
光源51は照明光を出力する。なお、照明系8に複数の光源を設けてもよい。たとえば、定常光を出力する光源(ハロゲンランプ、LED等)と、フラッシュ光を出力する光源(キセノンランプ、LED等)の双方を光源51として設けることができる。また、角膜観察用の光源と眼底観察用の光源とを別々に設けてもよい。
スリット形成部54は、スリット光(細隙光)を生成するためのスリットを形成する。スリット形成部54は、一対のスリット刃を有する。これらスリット刃の間隔を変更することによりスリット幅が変更される。スリット刃の間隔を最大にしたときのスリット幅は、照明光のビーム径以上であってもよい。この場合の照明光についても便宜上スリット光と呼ぶことがある。
照明絞り56は、照明光の周縁部を遮蔽し、中央部分のみを透過させる。照明絞り56の透光部のサイズは変更可能に構成されていてもよい(つまり絞り値を変更できるように構成されていてもよい)。照明絞り56には、角膜Ecや水晶体による照明光の反射を低減させたり、照明光の明るさを調整したりといった作用がある。
フィルタ57は、一般に、照明光の特定の成分を除去又は弱める作用を持つ光学素子である。フィルタ57は、たとえば、被検眼Eの蛍光観察において用いられるブルーフィルタ(青色に対応する波長成分を特に透過させるフィルタ)である。フィルタ57は、照明光の光路に対して挿脱可能とされている。
拡散板60は、前述のように照明光を拡散する。拡散板60は、照明光の光路に対して挿脱可能とされている。
[制御系の構成]
細隙灯顕微鏡1の制御系について、図3を参照しながら説明する。細隙灯顕微鏡1の制御系は、制御部101を中心に構成されている。なお、図3には、この実施形態で特に注目する構成部位のみが記載されており、それ以外の構成部位は省略されている。
〔制御部〕
制御部101は、細隙灯顕微鏡1の各部を制御する。たとえば、制御部101は、観察系6の制御や照明系8の制御などを行う。
観察系6の制御としては、絞り33の制御、撮像素子43の制御などがある。撮像素子43の制御には、電荷蓄積時間の制御、受光感度の制御、フレームレートの制御などがある。制御部101は、変倍機構132を制御して、変倍光学系32による倍率を変更する。制御部101は、観察系回動機構106を制御し、支持アーム16を軸として観察系6を左右方向に回動させる。なお、観察系回動機構106は、制御部101の制御を受けて観察系6を上下方向に回動させるように構成されていてもよい。変倍機構、及び観察系回動機構106は、それぞれ、アクチュエータと伝達機構とを含んで構成される。
照明系8の制御としては、光源51の制御、スリット形成部54の制御などがある。制御部101は、絞り駆動機構156を制御して、照明絞り56の絞り値を変更する。制御部101は、フィルタ駆動機構157を制御し、フィルタ57を光路に対して挿脱させる。制御部101は、拡散板駆動機構160を制御して、拡散板60を光路に対して挿脱させる。制御部101は、照明系回動機構108を制御し、支持アーム17を軸として照明系8を左右方向に回動させる。照明系回動機構108は、制御部101の制御を受けて照明系8を上下方向に移動させるように構成されていてもよい。スリット形成部54、絞り駆動機構156、フィルタ駆動機構157、拡散板駆動機構160、及び照明系回動機構108は、それぞれ、アクチュエータと伝達機構とを含んで構成される。
制御部101は、移動機構部3を制御して、観察系6及び照明系8を左右方向に移動させる。移動機構部3は「移動機構」の一例である。
制御部101は、背景光源70を制御して背景光を出力させる。
制御部101は、記憶部102に記憶されたデータの読み出し処理や、記憶部102に対するデータの書き込み処理を行う。
制御部101は、マイクロプロセッサ、RAM、ROM、ハードディスクドライブ等を含んで構成される。このハードディスクドライブには、制御プログラムが予め記憶されている。制御部101の動作は、この制御プログラムと上記ハードウェアとが協働することによって実現される。
制御部101は、細隙灯顕微鏡1の装置本体(たとえば基台4内)やコンピュータ100に配置される。
〔記憶部〕
記憶部102は各種のデータやコンピュータプログラムを記憶する。記憶部102は、たとえばRAM、ROM、ハードディスクドライブ等の記憶装置を含んで構成される。
記憶部102には基準設定条件情報110が記憶されている。基準設定条件情報110は、被検眼の複数の部位のそれぞれに対して観察系6や照明系8の基準設定条件が対応付けている。基準設定条件とは、被検眼の或る部位を観察するときの光学系の設定条件、換言すると、被検眼の或る部位を観察するときに適用される、観察系6や照明系8に含まれる部材の動作状態を示す。基準設定条件情報110は「対応情報」の一例である。
基準設定条件情報110は検査前に記憶部102に記憶される。なお、基準設定条件情報110は、たとえば装置の出荷時や納品時に記憶されたデフォルト情報であってもよいし、ユーザ毎に作成されたものであってもよい。また、ユーザ等は、基準設定条件情報110を適宜に変更することも可能である。
基準設定条件情報110の一例を図4に示す。図4に示す基準設定条件情報110には、項目として「部位」、「観察手法」、「倍率」、「スリット幅」、「光量」、「照明角度」、「背景照明」、「拡散板」及び「フィルタ」が設けられている。部位の項目には、観察対象となる被検眼の部位として、「前眼部」、「結膜」、「角膜」、「虹彩」、「水晶体」、「隅角」、「硝子体」及び「網膜」が列挙されている。
前眼部の欄には、基準設定条件として、観察手法「拡散照明」、倍率「16」、スリット幅「全開」、光量「3〜4」、照明角度「10〜30°」、背景照明「無」、拡散板「有」、フィルタ「無」が対応付けられている。なお、光量は5段階(1〜5:数字が大きい方が光量が大きい)で表現される。照明角度は、撮影光軸O1を含む鉛直面(上下方向及び前後方向に広がる平面)に対する、照明光軸O2の左右方向の角度として表現される。なお、当該鉛直面に対する照明角度の方向(左方への角度か、又は右方への角度か)は、被検眼Eが左眼であるか右眼であるかに依存するので、基準設定条件情報110においては考慮されていない。
その他の部位の欄についても、前眼部の欄と同様である。なお、角膜の欄や水晶体の欄には2つ以上の観察手法が対応付けられている。そして、部位と観察手法との組み合わせのそれぞれに対して、倍率等の基準設定条件が対応付けられている。
虹彩の欄の拡散板の項目は「有/無」となっているが、これは広域観察時には拡散板60を用い、それ以外には用いないことを意味している。なお、観察範囲が広域か否かは、たとえば観察倍率に応じて決定される。具体的には、観察倍率が所定の閾値以下の場合には広域観察とされ、それ以外の場合には狭域観察とされる。
〔表示部〕
表示部103は、制御部101の制御を受けて各種の情報を表示する。表示部103は、LCD等のフラットパネルディスプレイ、CRTディスプレイなどの任意の表示デバイスを含んで構成される。表示部103は、細隙灯顕微鏡1の装置本体に設けられていてもよいし、コンピュータ100に設けられていてもよい。
〔操作部〕
操作部104は、操作デバイスや入力デバイスを含んで構成される。操作部104には、装置本体に設けられたボタンやスイッチ(たとえば操作ハンドル5等)や、コンピュータ100のマウス、キーボードなどが含まれる。また、トラックボール、専用の操作パネル、スイッチ、ボタン、ダイアルなど、任意の操作デバイスや入力デバイスを用いることも可能である。
図3では、表示部103と操作部104とを別々に表しているが、これらを一体的に構成することも可能である。その具体例として、タッチパネル式のLCDを用いることができる。
〔データ処理部〕
データ処理部120は各種のデータ処理を行う。データ処理部120には、検索部121と、設定状態取得部122と、設定状態特定部123とが設けられている。
(検索部)
検索部121は、ユーザにより指定された被検眼Eの部位に対応する基準設定条件を、基準設定条件情報110から検索する。たとえばユーザにより「角膜」が指定された場合、基準設定条件情報110から角膜に対応する4組の基準設定条件が検索されることとなる。
(設定状態取得部)
設定状態取得部122は、照明系8や観察系6の現在の設定状態を取得する。設定状態特定部123は「取得部」の一例である。
この実施形態では、光学系の各部は制御部101により制御されるので、制御部101は各部に対する制御内容を把握し記憶している。したがって、設定状態取得部122は、各部の現在の設定状態を制御部101から取得する。なお、設定状態取得部122が制御部101に問い合わせる制御項目は、基準設定条件情報110に含まれる項目(この実施形態では、倍率の値、スリット幅の値、光量の値、照明角度の値、背景照明の使用の有無(及び光量)、拡散板50の使用の有無、フィルタ57の使用の有無)のみでよい。
設定状態取得部122の他の例を説明する。上記の例では現在の設定状態の全てを制御部101から取得しているが、これらのうちの少なくとも1つをセンサによって検知することによって取得するように構成することが可能である。この構成は、設定状態を手動で変更する場合に特に有効である。たとえば、観察倍率操作ノブ11を用いて手動で倍率を変更する場合、観察倍率操作ノブ11の回転位置又は変倍レンズ32a、32bの位置を検出するセンサ(ポテンショメータ等)を設け、このセンサからの出力に基づいて現在の倍率の値を取得することができる。スリット幅の値、光量の値、照明角度の値、背景照明の使用の有無、拡散板60の使用の有無、フィルタ57の使用の有無についても、それぞれ適当なセンサ(ポテンショメータ、フォトダイオード、赤外線センサ等)を用いることによって取得することが可能である。
(設定状態特定部)
設定状態特定部123は、設定状態取得部122により取得された現在の設定状態のうち、検索部121により検索された基準設定条件と異なるものを特定する。設定状態特定部123は「特定部」の一例である。
なお、複数組の基準設定条件が検索された場合、つまりユーザが指定した観察対象部位に対応する観察手法が複数ある場合、たとえば次の2つの処理のいずれかを設定状態特定部123は実行する。第1の処理として、設定状態特定部123は、検索部121により検索された複数の観察手法の基準設定条件に対して、それぞれ当該処理を実行する。第2の処理として、設定状態特定部123は、観察手法の指定がなされた後に、この指定された観察手法に対してのみ当該処理を実行する。
設定状態特定部123が実行する処理の例を説明する。観察対象部位として「角膜」が指定された場合、検索部121は、項目「部位」が「角膜」である4組の基準設定条件、つまり項目「観察手法」が「拡散照明」、「直接照明」、「背景照明」、「蛍光染色」に対応する4組の基準設定条件を検索結果として得る。また、設定状態取得部122は、項目「倍率」、「スリット幅」、「光量」、「照明角度」、「背景照明」、「拡散板」及び「フィルタ」のそれぞれについて、現在の設定状態を取得する。
上記第1の処理が適用される場合、設定状態特定部123は、検索された4組の基準設定条件のそれぞれについて、各項目に記録された値(状態を含む)と、当該項目について取得された現在の設定状態とを比較し、双方が一致するか否か判断する。なお、前者が範囲を示す場合(たとえば光量「3〜4」等)には、後者が前者に含まれるか否か判断する。それにより、設定状態特定部123は、各組の基準設定条件において、各項目について基準設定条件情報110に記録された値と現在の設定状態とが異なるものを特定する。
上記第2の処理が適用される場合、ユーザは所望の観察手法を操作部104を用いて指定する。また、当該被検者の電子カルテから観察手法を特定し、これを指定するように構成することも可能である。また、設定状態取得部122により取得された現在の設定状態に基づいて観察手法を特定し、これを指定するように構成することも可能である(たとえば現在の設定状態に最も合致する観察手法を選択するように構成できる)。また、複数の検査を所定の順序で行う場合には、この順序に基づいて次の検査に対応する観察手法を特定して指定するように構成することが可能である。
観察手法が指定されたら、設定状態特定部123は、この指定された観察手法に対応する各項目の基準設定条件について、各項目に記録された値(状態を含む)と、当該項目について取得された現在の設定状態とを比較し、双方が一致するか否か判断する。それにより、指定された観察手法の各項目について、基準設定条件情報110に記録された値と現在の設定状態とが異なるものが特定される。
[動作]
細隙灯顕微鏡1の動作について説明する。
(第1の動作例)
細隙灯顕微鏡1の第1の動作例を図5に示す。
(ステップ1)
検者は、被検眼Eの観察対象部位を指定する。この操作は、たとえば、表示画面に呈示された観察対象部位のリストのうちから所望のものを、操作部104を用いて選択することにより行われる。
(ステップ2)
検索部121は、ステップ1で指定された観察対象部位に対応する基準設定条件を、基準設定条件情報110から検索する。
(ステップ3)
設定状態取得部122は、観察倍率の値、スリット幅の値、照明光の光量の値、照明光の照射角度の値、背景照明光の照射の有無、照明光路における拡散板60の有無、及び照明光路におけるフィルタ57の有無のそれぞれについて、現在の設定状態を取得する。
(ステップ4)
設定状態特定部123は、ステップ3で取得された現在の設定状態のうち、ステップ2で検索された基準設定条件と異なるものを特定する。
(ステップ5)
制御部101は、ステップ4での特定結果に基づく情報を表示部103に表示させる。この表示情報は、たとえば、ステップ4で特定された現在の設定状態を、基準設定条件と一致する現在の設定状態とは異なる態様で呈示するものである。観察対象部位として角膜が指定された場合における表示例を図6に示す。
制御部101は、図6に示す設定操作画面170を表示部103に表示させる。設定操作画面170には、観察対象部位表示部171と、設定内容表示部172と、設定変更ボタン173とが設けられている。
観察対象部位表示部171には、ステップ1で指定された観察対象部位が表示される。この例では文字列「角膜」が表示される。
設定内容表示部172には、ステップ4での特定結果に基づく情報が表示される。この例では、角膜の4つの観察手法のそれぞれの基準設定条件のうち、ステップ4で現在の設定状態と異なると判断されたものが表示される。つまり、現在の設定状態と異なる基準設定条件のみが表示され、現在の設定状態と一致する基準設定条件は表示されない。また、設定内容表示部172には、現在の設定状態も表示されている。
検者は、設定内容表示部172に呈示されている観察手法のうち所望のものを、操作部104を用いて指定できる。この操作はたとえばマウスによるクリック操作である。観察手法が指定されたことに対応する処理の例として、制御部101は、指定されなかった観察手法に関する情報の表示を消去する。それにより、指定された観察手法についての情報のみが表示される。また、指定された観察手法についての情報を、それ以外の情報とは異なる態様(色、網掛け、枠等)で呈示するように構成することも可能である。また、観察手法が一旦指定された後であっても、他の観察手法を改めて指定できるように構成することが望ましい。その一例としてプルダウンメニューがある。
設定内容表示部172に表示された内容を変更できるように構成することが可能である。その一例として、操作部104を操作して所望の設定を入力できるように構成することが可能である。この入力操作は、たとえばキーボードを用いて行うことができる。また、情報入力用のソフトウェアキーを表示部103に表示させ、操作部103(マウス等)を用いてこれを操作することで当該入力操作を行うように構成してもよい。また、各基準設定条件の表示領域をプルダウンメニューとして構成してもよい。
設定操作画面170において、観察対象部位の変更操作が行えると便利である。そのための構成例として、観察対象部位表示部171をプルダウンメニューとすることができる。新たな観察対象部位が指定されると、制御部101は、上記の処理を再度実行させて設定内容表示部172の表示内容を更新する。
設定変更ボタン173は、ステップ4で特定された現在の設定状態の変更指示を入力するための操作キーの一例である。複数の観察手法が呈示された場合、検者は所望の観察手法を指定する。更に、検者は、必要に応じ、呈示された基準設定条件を適宜に変更する。
(ステップ6)
上記操作の後、検者は、操作部104により設定操作ボタン173を操作する(たとえばマウスによるクリック操作を行う。
(ステップ7)
この操作を受けた制御部101は、当該基準設定条件(変更された場合には変更後の設定条件)に基づいて装置各部を制御することにより、装置各部の設定状態を変更して当該基準設定条件に一致させる。
具体例として、図6の設定操作画面170において「拡散照明」が選択された場合、制御部101は、変倍機構132を制御して倍率を「25倍」から「16倍」に変更するとともに、光源51を制御して照明光量を「1」からたとえば「3」に変更する。なお、照明光量の自動設定においては、被検者が眩しさを感じるおそれを低減するために、基準設定条件に示す範囲のうち最低の光量値を選択することが望ましい。
(ステップ8)
以上の準備の後、検者は、操作部104を操作して、被検眼Eの観察(撮影を含む)を開始する。
(第2の動作例)
被検眼Eが左右いずれの眼であるかを考慮して実行される細隙灯顕微鏡1の動作について説明する。
前述のように、移動機構部3は装置光学系を左右方向に移動させる。被検眼Eが左眼である場合には装置光学系は右側に、右眼である場合には左側にそれぞれ移動される。したがって、移動機構部3の設定状態に基づいて、被検眼Eが左眼であるか右眼であるか判別することが可能である。
なお、制御部101が移動機構部3を制御する構成が適用される場合、制御部101は移動機構部3の現在の設定状態を認識可能である。一方、ユーザが手動で移動機構部3を動作させる構成が適用される場合には、移動機構部3の現在の設定状態を検出するセンサ(位置センサ等)が用いられる。
以下、第1動作例のフローチャート(図5)を参照しつつ、被検眼Eが左眼であるか右眼であるかに応じて照明角度を制御する動作例について説明する。なお、照明角度以外の制御対象についても、同様の制御を適宜に行うことが可能である。
検者により被検眼Eの観察対象部位が指定されると(S1)、検索部121は、この指定部位に対応する基準設定条件を検索する(S2)。
設定状態取得部122は、装置各部の現在の設定状態を取得する(S3)。このとき、移動機構部3の現在の設定状態、つまり左右方向における装置光学系の現在位置に相当する情報が取得される。この情報の例として、観察系6及び照明系8の回動軸(支持アーム16、17)の左右方向における位置がある。
続いて、設定状態特定部123は、基準設定条件と異なる現在の設定状態を特定する(S4)。ここで、移動機構部3の現在の設定状態について基準設定条件との比較処理を行う必要は特にない。制御部101は、S4での特定結果に基づく情報(たとえば設定操作画面170)を表示部103に表示させる(S5)。
設定状態の変更指示を検者が入力すると(S6)、制御部101は、装置各部の設定状態を変更する(S7)。
S7で照明角度の変更がなされる場合、S3で取得された移動機構部3の現在の設定状態が考慮される。その一例として、制御部101は、被検眼Eが左眼であるか右眼であるか、つまり装置光学系が右側にあるか左側にあるか、に対応して、照明角度を目的の設定状態まで徐々に変更していく。
このとき、観察光軸O1に対する照明光軸O2の角度が増加する方向に照明角度を変更することが望ましい。そのためには、S3において観察系回動機構106の現在の設定状態を取得し、観察光軸O1の現在の方向を認識しておく。そして、S7において、制御部101は、移動機構部3の現在の設定状態と、観察光軸O1の現在の方向と、現在の照明角度と、基準設定条件に示す照明角度とに基づいて、観察光軸O1に対して照明角度を徐々に大きくしていくことにより、基準設定条件に示す照明角度を実現する。
なお、観察光軸O1に対する現在の照明角度が基準設定条件に示す角度よりも大きい場合の動作例として、まず照明角度を観察光軸O1(の近傍)に合わせ、それから徐々に目的の角度まで変更していくように構成することが可能である。照明角度を観察光軸O1に合わせる段階において、光源51は点灯されていてもよいし消灯されていてもよい。
(第3の動作例)
照明絞り56の設定状態の変更を行う場合における細隙灯顕微鏡1の動作について説明する。
照明絞り56の現在の設定状態は、制御部101による絞り駆動機構156の制御内容に基づいて取得できる。一方、照明絞り56の絞り値を手動で変更する場合などには、この絞り値に相当する情報を検出するセンサが設けられる。このセンサとしては、この絞り値を変更するための操作内容を検出する位置センサ(たとえばノブの回転状態を検出するポテンショメータ)を用いることができる。また、照明絞り56を通過した照明光のビーム径を検出することにより絞り値を求めるように構成することも可能である。
以下、第1動作例のフローチャート(図5)を参照しつつ、照明絞り56の絞り値を制御する動作例について説明する。
検者により被検眼Eの観察対象部位が指定されると(S1)、検索部121は、この指定部位に対応する基準設定条件を検索する(S2)。ここで、基準設定条件情報110に照明絞り56の絞り値の基準設定条件が含まれている場合には、これも検索される。なお、この絞り値は照明光の光量と関係している。つまり、光量が大きい(小さい)場合には絞り値も大きい(小さい)。基準設定条件情報110は、光量の1つの値と絞り値の1つの値とを記録したものでもよいし、光量の値の範囲と絞り値の値の範囲とを対応付けて記録したものでもよい。
設定状態取得部122は、装置各部の現在の設定状態を取得する(S3)。このとき、照明絞り56の現在の設定状態、つまり照明絞り56の現在の絞り値に相当する情報が取得される。
続いて、設定状態特定部123は、基準設定条件と異なる現在の設定状態を特定する(S4)。なお、S2で照明絞り56の絞り値の基準設定条件が検索された場合には、この基準設定条件と現在の絞り値との比較処理が実行される。一方、S2で照明絞り56の絞り値の基準設定条件が検索されなかった場合には、絞り値に関する比較処理を行う必要はない。制御部101は、S4での特定結果に基づく情報(たとえば設定操作画面170)を表示部103に表示させる(S5)。
設定状態の変更指示を検者が入力すると(S6)、制御部101は、装置各部の設定状態を変更する(S7)。このとき、制御部101は、照明絞り56の絞り値の変更を行う。この制御は、たとえば、光量を一定とした状態で、絞り値が大きい状態(照明絞り56が閉じた状態を含む)から、徐々に絞り値を減少させていくものとされる。また、絞り値を一定とした状態で、光量が小さい状態(消灯された状態を含む)から、徐々に光量を増大させていくように制御してもよい。また、光量と絞り値とを同期制御して、被検眼Eに照射される光量(つまり照明絞り56を通過する照明光の光量)が徐々に大きくなるように制御することも可能である。
(第4の動作例)
撮像素子43の受光感度の設定状態の変更を行う場合における細隙灯顕微鏡1の動作について説明する。
撮像素子43は制御部101により制御される。よって、制御部101は、撮像素子43の受光感度の現在の設定状態を認識している。なお、撮像素子43の受光感度をユーザが手動で設定する場合には、その設定状態を示す信号を撮像素子43から制御部101に送信するように構成することができる。
以下、第1動作例のフローチャート(図5)を参照しつつ、撮像素子43の受光感度を制御する動作例について説明する。
検者により被検眼Eの観察対象部位が指定されると(S1)、検索部121は、この指定部位に対応する基準設定条件を検索する(S2)。ここで、基準設定条件情報110に撮像素子43の受光感度の基準設定条件が含まれている場合には、これも検索される。なお、この受光感度は照明光の光量と関係している。つまり、安全性の見地から被検眼に照射される照明光の光量の最大値が定められており、受光感度はこの最大光量に基づいて設定される。また、ノイズの低減を図るために、出来るだけ低い受光感度が用いられることが望ましい。基準設定条件情報110に記録される受光感度の基準設定条件は、これら条件を考慮して決定されたものである。基準設定条件情報110は、光量の1つの値と受光感度の1つの値とを記録したものでもよいし、光量の値の範囲と受光感度の値の範囲とを対応付けて記録したものでもよい。
設定状態取得部122は、装置各部の現在の設定状態を取得する(S3)。このとき、撮像素子43の受光感度の現在の設定状態が取得される。
続いて、設定状態特定部123は、基準設定条件と異なる現在の設定状態を特定する(S4)。なお、S2で撮像素子43の受光感度の基準設定条件が検索された場合には、この基準設定条件と現在の受光感度との比較処理が実行される。一方、S2で撮像素子43の受光感度の基準設定条件が検索されなかった場合には、受光感度に関する比較処理を行う必要はない。制御部101は、S4での特定結果に基づく情報(たとえば設定操作画面170)を表示部103に表示させる(S5)。
設定状態の変更指示を検者が入力すると(S6)、制御部101は、装置各部の設定状態を変更する(S7)。このとき、制御部101は、撮像素子43の受光感度の変更を行う。
(第5の動作例)
撮像素子43の電荷蓄積時間の設定状態の変更を行う場合における細隙灯顕微鏡1の動作について説明する。
撮像素子43は制御部101により制御される。よって、制御部101は、撮像素子43の電荷蓄積時間の現在の設定状態を認識している。なお、撮像素子43の電荷蓄積時間をユーザが手動で設定する場合には、その設定状態を示す信号を撮像素子43から制御部101に送信するように構成することができる。
以下、第1動作例のフローチャート(図5)を参照しつつ、撮像素子43の電荷蓄積時間を制御する動作例について説明する。
検者により被検眼Eの観察対象部位が指定されると(S1)、検索部121は、この指定部位に対応する基準設定条件を検索する(S2)。ここで、基準設定条件情報110に撮像素子43の電荷蓄積時間の基準設定条件が含まれている場合には、これも検索される。なお、この電荷蓄積時間は、照明光の光量、照明光の発光時間(フラッシュ光での撮影時)、受光感度などと関係している。つまり、電荷蓄積時間は、これら条件とともに露出を決定するファクタである。基準設定条件情報110に記録される電荷蓄積時間の基準設定条件は、これら条件を考慮して決定されたものである。
設定状態取得部122は、装置各部の現在の設定状態を取得する(S3)。このとき、撮像素子43の電荷蓄積時間の現在の設定状態が取得される。
続いて、設定状態特定部123は、基準設定条件と異なる現在の設定状態を特定する(S4)。なお、S2で撮像素子43の電荷蓄積時間の基準設定条件が検索された場合には、この基準設定条件と現在の電荷蓄積時間との比較処理が実行される。一方、S2で撮像素子43の電荷蓄積時間の基準設定条件が検索されなかった場合には、電荷蓄積時間に関する比較処理を行う必要はない。制御部101は、S4での特定結果に基づく情報(たとえば設定操作画面170)を表示部103に表示させる(S5)。
設定状態の変更指示を検者が入力すると(S6)、制御部101は、装置各部の設定状態を変更する(S7)。このとき、制御部101は、撮像素子43の電荷蓄積時間の変更を行う。
なお、電荷蓄積時間を制御する電子シャッタに代えて、撮像素子43に導かれる光路に機械式のシャッタを配置する場合についても、上記と同様の処理を実行することが可能である。
(第6の動作例)
観察光軸O1の方向の設定状態を用いて実行される細隙灯顕微鏡1の動作について説明する。なお、観察光軸O1の方向を変更するように構成してもよいし、他の構成部位の制御のためにその設定状態を利用するものであってもよい。後者の例として、上記の第2の動作例がある。
観察光軸O1の方向は、制御部101が観察系回動機構106を制御することにより変更される。よって、制御部101は、観察光軸O1の方向の現在の設定状態を認識している。なお、観察光軸O1の方向をユーザが手動で設定する場合には、その設定状態をセンサで検知する。
以下、第1動作例のフローチャート(図5)を参照しつつ、観察光軸O1の方向を制御する動作例について説明する。
検者により被検眼Eの観察対象部位が指定されると(S1)、検索部121は、この指定部位に対応する基準設定条件を検索する(S2)。ここで、基準設定条件情報110に観察光軸O1の方向の基準設定条件が含まれている場合には、これも検索される。
設定状態取得部122は、装置各部の現在の設定状態を取得する(S3)。このとき、観察光軸O1の方向の現在の設定状態が取得される。
続いて、設定状態特定部123は、基準設定条件と異なる現在の設定状態を特定する(S4)。なお、S2で観察光軸O1の方向の基準設定条件が検索された場合には、この基準設定条件と観察光軸O1の現在の方向との比較処理が実行される。一方、S2で観察光軸O1の方向の基準設定条件が検索されなかった場合には、観察光軸O1の方向に関する比較処理を行う必要はない。制御部101は、S4での特定結果に基づく情報(たとえば設定操作画面170)を表示部103に表示させる(S5)。
設定状態の変更指示を検者が入力すると(S6)、制御部101は、装置各部の設定状態を変更する(S7)。このとき、制御部101は、観察光軸O1の方向の変更を行う。
[効果]
細隙灯顕微鏡1の効果について説明する。
細隙灯顕微鏡1は、照明系8と、観察系6と、表示部103と、記憶部102と、操作部104と、データ処理部120と、制御部101とを備える。照明系8は、照明光を出力する光源51と、スリット幅が変更可能なスリットを形成するスリット形成部54とを含む。照明系8は、スリットを通過した照明光を被検眼Eに照射する。更に、照明系8は、照明光の光量及び照射角度を変更可能である。観察系6は、観察倍率を変更するための変倍光学系32を含み、被検眼Eによる照明光の反射光を撮像素子43及び接眼レンズ37のそれぞれに導く。記憶部102は、基準設定条件情報110をあらかじめ記憶している。基準設定条件情報110には、被検眼Eの複数の部位のそれぞれに対して、照明系8や観察系6の基準設定条件が対応付けられている。なお、基準設定条件は、照明系8に関するものだけでもよいし、観察系6に関するものだけでもよいし、双方に関するものを含んでいてもよい。操作部104は、被検眼Eの部位を指定するための「指定部」の一例である。データ処理部120は、検索部121と、設定状態取得部122と、設定状態特定部123とを備えている。検索部121は、操作部104により指定された部位に対応する基準設定条件を基準設定条件情報110から検索する。設定状態取得部122は、照明系8や観察系8の現在の設定状態を取得する。設定状態特定部123は、設定状態取得部122により取得された現在の設定状態のうち、検索部121により検索された基準設定条件と異なるものを特定する。制御部101は、この特定結果に基づく情報を表示部103に表示させる。
このような細隙灯顕微鏡1によれば、指定された部位に対応する基準設定条件(当該部位の観察において推奨される装置各部の設定状態を示す)に対して、どの装置部位の現在の設定状態が異なっているか特定し、これを表示できる。したがって、装置光学系の設定を適切かつ容易に行うことが可能である。
また、制御部101は、設定状態特定部123による特定結果に基づく情報として、この特定された現在の設定状態を、当該基準設定条件と一致する現在の設定状態と異なる態様で表示させるように構成されている。
それにより、推奨される基準設定条件と異なる設定状態になっている装置部位を容易に把握できる。また、図6の基準設定条件情報110のように、このような基準設定条件自体を呈示することにより、これをユーザに知らせることができる。
また、制御部101は、検索部121により検索された基準設定条件に基づき照明系8や観察系6を制御することで、設定状態特定部123により特定された現在の設定状態を変更するように構成されている。
このような構成によれば、装置各部の設定状態を自動で変更することができる。したがって、装置光学系の設定の容易化を促進することが可能である。また、設定ミスの防止を図ることもできる。
また、細隙灯顕微鏡1は、照明系8及び観察系6を左右方向に移動させる移動機構部3を備える。更に、設定状態取得部122は、装置光学系の現在の設定状態として、左右方向における照明系8及び観察系6の位置を取得する。そして、制御部101は、この取得された位置に基づいて、設定状態取得部122により特定された現在の設定状態の変更を行うようになっている。
このような構成によれば、被検眼Eが左眼であるか右眼であるかに応じて、好適に制御を行うことが可能である。
また、制御部101は、設定状態特定部123による特定結果に基づく情報とともに、特定された現在の設定状態の変更指示を入力するための設定変更ボタン173を表示部103に表示させる。更に、制御部101は、設定変更ボタン173が操作されたことに対応して、特定された現在の設定状態の変更を行うようになっている。
このような構成によれば、ユーザは、表示された基準設定条件を確認した後に、装置各部の設定状態を基準設定条件に変更するよう指示することが可能である。また、表示された基準設定条件を任意に変更した後に、設定状態の変更を指示することが可能である。したがって、ユーザが所望する設定状態を容易に、また確実に実現することが可能となる。
また、基準設定条件情報110には、被検眼Eの複数の部位のそれぞれに対し、少なくとも1つの観察手法についての基準設定条件が対応付けられている。そして、制御部101は、ユーザにより指定された部位に対応付けられた観察手法のそれぞれについて、設定状態特定部123による特定結果に基づく情報を表示させるようになっている。
このような構成によれば、被検眼Eの部位だけでなく、様々な観察手法のそれぞれに応じて、装置光学系の設定を適切かつ容易に行うことが可能である。これは、医療現場における細隙灯顕微鏡1の使用形態を鑑みると非常に便利である。
[変形例]
以上において説明した実施形態は、この発明を実施するための一例に過ぎない。この発明を実施しようとする者は、この発明の要旨の範囲内における任意の変形を適宜に施すことが可能である。以下、このような変形の例をいくつか説明する。なお、以上の実施形態で説明した任意の構成や以下で説明する任意の構成を適宜に組み合わせて適用することが可能である。
〔変形例1〕
上記の実施形態では、ユーザによる設定状態の変更指示を受けて当該変更処理を実行しているが、これに限定されるものではない。たとえば、設定状態特定部123による特定結果に基づく情報の表示とともに、基準設定条件への変更処理を行うように構成することが可能である。
〔変形例2〕
図6に示す基準設定条件情報110のように現在の設定状態も表示させる場合において、設定状態を変更しなくてもよい場合(その設定状態が基準設定条件と異なる場合も含む)、その設定状態を指定してから設定状態の変更指示を行うように構成することができる。それにより、ユーザの要望に応じた設定状態での観察が可能となる。
〔変形例3〕
観察倍率の制御に関する変形例を説明する。被検眼Eに照射できる照明光の光量には制限がある。また、被検者が余計な眩しさを感じないように検査を行うことが望ましい。これらの事情を鑑み、次のような制御を行うことができる。
設定目的の倍率に設定を変更する場合、まず、光量が小さくてよい低い倍率(設定目的よりも低い倍率)に設定する。このとき、光量についても設定目的未満の値が設定される。そして、この低い倍率で被検眼Eを観察しつつ、観察対象部位に対する装置光学系の位置合わせとピント合わせとが実行される。この作業の終了後、所定のトリガに対応して、倍率及び光量の双方を設定目的の値に変更して観察を行う。なお、この観察の前に、観察対象部位に対する装置光学系の位置合わせとピント合わせを精密に行うことも可能である。また、上記トリガとしては、操作部104を用いた指示の入力や、位置合わせ完了やピント合わせ完了の検出などがある。
〔変形例4〕
スリット幅の制御に関する変形例を説明する。変形例3でも説明したように、被検眼Eに対する照明光量は出来るだけ抑えることが望ましい。これを考慮し、スリット幅を変更するときに、スリット幅が小さい状態(スリットが閉じた状態を含む)から徐々に設定目的のスリット幅まで変更していくことが可能である。このとき、スリット幅の増大に応じて照明光量を徐々に小さくしていくことができる。すなわち、照明野の明るさは照明光量とスリット幅とに影響を受けるので、上記のようなスリット幅と照明光量との連動制御を行うことにより、照明野が適正な明るさに保つことができ、更には照明野の明るさをほぼ一定に保つことができる。スリット幅をユーザが微調整するときにも、同様の連動制御を行うことが可能である。
〔変形例5〕
拡散板60の制御に関する変形例を説明する。拡散板60が光路に配置されている場合、被検眼Eに照射される照明光はスリット光ではない。したがって、拡散板60が使用されるときにはスリット光を使用しないように(つまりスリットを全開にするように)制御を行うことができる。逆に、スリット光が使用されるときには拡散板60を光路から待避させるように制御を行うことができる。
また、スリット幅を検知するセンサが設けられている場合において、拡散板60を使用するときにはスリット幅と照明光量との連動も不要であるから、このセンサを動作させる必要はない。
〔変形例6〕
フィルタ57の制御に関する変形例を説明する。一般にフィルタ57が光路に配置されると、被検眼Eに照射される照明光の光量は小さくなる。よって、フィルタ57が光路に配置されるときに、照明光量を増加させるように連動制御を行うことができる。逆に、フィルタ57を光路から待避させるときに、照明光量を減少させるように連動制御を行うことができる。
複数のフィルタが選択的に光路に配置させる場合、各フィルタの光透過率等に基づいて、そのフィルタが光路に配置される場合における照明光量の変更量をあらかじめ設定することができる。また、そのフィルタが光路に配置されたときの光量の変化をフォトディテクタ等により検出し、この検出結果に基づいて照明光量を変更するように構成することも可能である。
〔変形例7〕
基準設定条件情報110の変形例を説明する。基準設定条件情報110は、装置にあらかじめ記憶されているもの(デフォルト)であってもよいし、たとえば医療機関ごと、検者ごと、被検者ごと、被検眼ごとのように、デフォルト以外のものであってもよい。
また、複数の基準設定条件情報110を記憶しておき、これらを選択的に使用することも可能である。たとえば検者ごとに基準設定条件情報110が記憶されている場合、つまり検者IDと基準設定条件情報110とが関連付けられて記憶されている場合、検者は自身のIDを装置に入力する。制御部101は、入力された検者IDに関連付けられた基準設定条件情報110を記憶部102から検索し、以降の処理に供させる。また、被検眼Eごとに基準設定条件情報110を選択適用する場合には、基準設定条件情報110は患者ID及び左右眼情報に関連付けられて記憶されている。患者IDは、たとえば操作部104からの入力や、電子カルテからの自動取得により得られる。左右眼情報は、操作部104からの入力、電子カルテからの自動取得、移動機構部3の位置の自動取得などにより得られる。
〔変形例8〕
設定操作画面170の表示態様に関する変形例を説明する。装置各部の設定が変更されているときに、制御部101は、変更が完了した設定に関する表示内容の表示態様を変更することができる。たとえば図6に示す基準設定条件情報110において、光量とスリット幅と照明角度を変更する場合、光量の設定変更が完了したら光量に関する表示内容(設定内容表示部172に示す光量の基準設定条件)を削除し、スリット幅の設定変更が完了したらスリット幅に関する表示内容(スリット幅の基準設定条件)を削除し、照明角度の設定変更が完了したら照明角度に関する表示内容(照明角度の基準設定条件)を削除する。このような構成によれば、変更対象の設定状態のうち、どの設定状態の変更が終了したかを、また全ての設定状態の変更が終了したかを、容易に把握することができる。
〔変形例9〕
細隙灯顕微鏡による検査では各種の補助レンズが使用される。たとえば隅角の観察では隅角鏡が、網膜の観察では三面鏡が、それぞれ角膜に当接される。また、網膜の観察において被検眼Eに非接触で配置される前置レンズが用いられることがある。前置レンズは被検眼Eとミラー12との間に配置される。
観察対象部位を指定するときに、又は観察対象部位の指定に代えて、補助レンズの使用の有無やその種類を入力する。制御部101は、この入力内容に応じて観察対象部位及び/又は観察手法を特定することができる。補助レンズが使用されているか否かを検知することも可能である。この検知処理は、補助レンズ(の位置)を検知するセンサや、補助レンズが光路に配置されたときの画像の変化を検知する画像処理などによって行うことができる。
1 細隙灯顕微鏡
3 移動機構部
6 観察系
8 照明系
32 変倍光学系
43 撮像素子
51 光源
54 スリット形成部
56 照明絞り
57 フィルタ
60 拡散板
70 背景光源
100 コンピュータ
101 制御部
102 記憶部
103 表示部
104 操作部
110 基準設定条件情報
120 データ処理部
121 検索部
122 設定状態取得部
123 設定状態特定部
132 変倍機構
156 絞り駆動機構
157 フィルタ駆動機構
160 拡散板駆動機構
170 設定操作画面
171 観察対象部位表示部
172 設定内容表示部
173 設定変更ボタン
O1 観察光軸
O2 照明光軸
E 被検眼

Claims (3)

  1. 照明光を出力する光源と、スリット幅が変更可能なスリットを形成するスリット形成部とを含み、前記スリットを通過した前記照明光を被検眼に照射し、かつ前記照明光の光量及び照射角度を変更可能な照明系と、
    観察倍率を変更するための変倍光学系を含み、前記被検眼を観察するための観察系と、
    表示部と、
    前記被検眼の複数の部位のそれぞれに対し、1以上の観察手法のそれぞれにおける前記照明系及び/又は前記観察系の基準設定条件が対応付けられた対応情報をあらかじめ記憶する記憶部と、
    前記被検眼の部位を指定する指定部と、
    前記照明系及び/又は前記観察系の現在の設定状態を取得する取得部と、
    前記指定された部位と前記取得された現在の設定状態に対応する観察手法とに対応する基準設定条件を前記対応情報から検索する検索部と、
    を備えることを特徴とする細隙灯顕微鏡。
  2. 前記取得部により取得された現在の設定状態のうち、前記検索部により検索された基準設定条件と異なるものを特定する特定部と、
    前記特定部による特定結果に基づく情報を前記表示部に表示させる制御部と、
    を備えることを特徴とする請求項1に記載の細隙灯顕微鏡。
  3. 前記対応情報は、前記照明系及び/又は前記観察系の設定条件の範囲を示す基準設定条件を含み、
    前記特定部は、前記取得部により取得された現在の設定状態のうち、当該基準設定条件に示す範囲に含まれないものを特定する
    ことを特徴とする請求項2に記載の細隙灯顕微鏡。
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Families Citing this family (19)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2014033733A (ja) * 2012-08-07 2014-02-24 Topcon Corp 細隙灯顕微鏡
JP6180767B2 (ja) 2013-03-28 2017-08-16 株式会社トプコン スリットランプ顕微鏡
JP2017526507A (ja) * 2014-08-31 2017-09-14 ベレシュトカ,ジョン 目を解析するためのシステム及び方法
JP2016179004A (ja) * 2015-03-24 2016-10-13 株式会社トプコン スリットランプ顕微鏡及びその制御方法
US9962079B2 (en) 2015-06-02 2018-05-08 Lumenis Ltd. Slit lamp structure for an ophthalmoscope
JP6505527B2 (ja) * 2015-06-30 2019-04-24 株式会社トプコン 眼科用顕微鏡
DE102015008922B4 (de) * 2015-07-10 2019-03-07 Carl Zeiss Meditec Ag Vorrichtung zur Bestimmung einer Ametropie eines Auges
JP2017099719A (ja) * 2015-12-02 2017-06-08 株式会社ニデック 細隙鏡顕微鏡
JP6822875B2 (ja) * 2017-03-06 2021-01-27 株式会社トプコン 眼科検査システム及び眼科検査管理装置
JP6431562B2 (ja) * 2017-04-12 2018-11-28 株式会社トプコン スリットランプ顕微鏡
JP6904776B2 (ja) * 2017-05-02 2021-07-21 株式会社トプコン スリットランプ顕微鏡
JP2019058786A (ja) * 2019-01-24 2019-04-18 株式会社トプコン スリットランプ顕微鏡
JP2019155147A (ja) * 2019-06-19 2019-09-19 株式会社トプコン スリットランプ顕微鏡を含む眼科システム
CN114173638A (zh) 2019-06-24 2022-03-11 海克-斯特莱特股份公司 具有至少一个受控的手动自由度的眼科显微镜
US11503222B2 (en) * 2019-08-22 2022-11-15 United States of Americas as represented by the Administrator of NASA Compact imaging system using a co-linear, high-intensity LED illumination unit to minimize window reflections for background-oriented schlieren, shadowgraph, photogrammetry and machine vision measurements
JP7431000B2 (ja) * 2019-09-10 2024-02-14 株式会社トプコン 眼科装置
CN110742576A (zh) * 2019-12-03 2020-02-04 苏州帮桥医疗器械有限公司 一种裂隙灯显微镜光源自动调节***及自动调节方法
JP2021159165A (ja) * 2020-03-30 2021-10-11 ソニーグループ株式会社 情報処理装置、情報処理方法、プログラム、及び眼科顕微鏡システム
DE102020209379A1 (de) 2020-07-24 2022-01-27 Carl Zeiss Meditec Ag Verfahren und Vorrichtung zur Einstellung und Kontrolle von Parametern des Beleuchtungsfeldes ophthalmologischer Geräte

Family Cites Families (16)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5672841A (en) * 1979-11-20 1981-06-17 Kowa Co Correct exposing apparatus of photoslit lamp
JP3118862B2 (ja) 1991-05-10 2000-12-18 株式会社ニコン スリットランプマイクロスコープ
JPH0531078A (ja) * 1991-07-30 1993-02-09 Nikon Corp スリツトランプマイクロスコープ
JPH08112257A (ja) 1994-10-18 1996-05-07 Nikon Corp 眼科用撮影装置
JPH1085189A (ja) 1996-09-11 1998-04-07 Nikon Corp 眼科用撮影装置
JP2001037726A (ja) * 1999-07-30 2001-02-13 Nidek Co Ltd 細隙灯顕微鏡
JP3649957B2 (ja) * 1999-07-30 2005-05-18 株式会社ニデック 細隙灯顕微鏡
DE10036965B4 (de) 1999-07-30 2014-09-04 Nidek Co., Ltd. Spaltlampen-Biomikroskop
JP3756127B2 (ja) 2002-04-19 2006-03-15 株式会社トプコン 眼科撮影装置
JP2004101826A (ja) 2002-09-09 2004-04-02 Fuji Photo Optical Co Ltd プロジェクタ用光学系およびこれを用いたプロジェクタ装置
JP4168251B2 (ja) * 2002-12-16 2008-10-22 株式会社コーナン・メディカル スリットランプ
JP4183581B2 (ja) 2003-08-21 2008-11-19 株式会社コーナン・メディカル スリットランプ
JP2006330040A (ja) * 2005-05-23 2006-12-07 Topcon Corp 観察装置
JP4969925B2 (ja) * 2006-06-28 2012-07-04 株式会社トプコン 眼底観察装置
JP2009178459A (ja) 2008-01-31 2009-08-13 Nidek Co Ltd 細隙灯顕微鏡
JP2009207590A (ja) * 2008-03-03 2009-09-17 Topcon Corp 実体顕微鏡

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