JP5593526B2 - Disk inspection apparatus and adjustment method of inspection apparatus - Google Patents
Disk inspection apparatus and adjustment method of inspection apparatus Download PDFInfo
- Publication number
- JP5593526B2 JP5593526B2 JP2010171207A JP2010171207A JP5593526B2 JP 5593526 B2 JP5593526 B2 JP 5593526B2 JP 2010171207 A JP2010171207 A JP 2010171207A JP 2010171207 A JP2010171207 A JP 2010171207A JP 5593526 B2 JP5593526 B2 JP 5593526B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- disk
- inspection apparatus
- error rate
- error
- decoding
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
Images
Landscapes
- Optical Recording Or Reproduction (AREA)
Description
本発明は、ディスクを検査するディスク検査装置に関する。 The present invention relates to a disk inspection apparatus for inspecting a disk.
従来から、レーザ光を照射することによりデータの記録再生が可能な光ディスクなどの記録媒体ディスクが広く知られている。かかるディスクにおいては、経年劣化などにより、データの記録品質が劣化し、場合によっては、データの再生が困難になり、情報が損失する場合がある。ディスクで各種情報を記録保管しているディスクアーカイブにおいては、こうしたディスクの劣化による情報損失は、大きな問題となる。そのため、ディスクアーカイブにおいては、定期的に保管されている大量のディスクの品質を検査することが求められる。また、ディスクの貸し出しや販売を行うディスクのレンタルショップや中古販売店においても、当該光ディスクの貸し出し・販売に先立って、当該ディスクの品質を検査することが求められる。 2. Description of the Related Art Conventionally, a recording medium disk such as an optical disk capable of recording / reproducing data by irradiating a laser beam is widely known. In such a disc, data recording quality deteriorates due to deterioration over time, and in some cases, data reproduction becomes difficult and information may be lost. In a disk archive in which various types of information are recorded and stored on a disk, such information loss due to deterioration of the disk becomes a serious problem. Therefore, in the disk archive, it is required to inspect the quality of a large number of disks stored regularly. In addition, disc rental shops and second-hand stores that rent and sell discs are also required to inspect the quality of the disc prior to renting and selling the optical disc.
こうした問題を受け、ディスクの良否を高速に検査するための装置が従来から多数提案されている。こうした検査装置の多くは、通常のディスク再生装置と同様のディスクドライブを備えている。そして、検査装置の多くは、このディスクドライブでディスクを再生した際の再生品質、例えば、エラーレートなどに基づいてディスクの品質を検査している。 In response to these problems, many devices have been proposed for inspecting the quality of disks at high speed. Many of such inspection apparatuses have a disk drive similar to a normal disk reproducing apparatus. Many inspection apparatuses inspect the quality of a disk based on the reproduction quality when the disk is reproduced by the disk drive, for example, an error rate.
しかし、このエラー検出量は、各検査装置に搭載されているオプティカルパワーユニットや、データ処理のハードウェアに依存しており、同一ディスクを検査した場合であっても、検査装置によって、結果が異なることがあった。その結果、検査装置ごとに、検査結果のばらつきが生じてしまい、正確に品質を検査できないという問題があった。もちろん、OPUやデータ処理のハードウェアの特性を揃えるように、これら部品を交換したり、微調整したりすることで、こうした問題は低減できる。しかし、各種ハードウェアの交換や微調整は、コスト増加や手間増加といった新たな問題を生じる。 However, this error detection amount depends on the optical power unit and data processing hardware installed in each inspection device, and even if the same disk is inspected, the result varies depending on the inspection device. was there. As a result, there is a problem that the inspection results vary from inspection device to inspection device, and the quality cannot be accurately inspected. Of course, these problems can be reduced by exchanging or fine-tuning these components so that the characteristics of the OPU and data processing hardware are uniform. However, the replacement and fine adjustment of various hardware causes new problems such as an increase in cost and labor.
なお、特許文献1には、ビタビ復号処理で用いるパスメモリ長を変更することで、エラーレートを向上させる技術が開示されているが、かかる技術では、エラー感度が過度に低い検査装置のエラー感度を適正値に修正することはできなかった。
そこで、本発明では、ハードウェアの微調整等を行うことなく、装置間での検査結果のばらつきを抑え得るディスク検査装置を提供することを目的とする。 Accordingly, an object of the present invention is to provide a disk inspection apparatus that can suppress variations in inspection results between apparatuses without performing fine adjustment of hardware.
本発明のディスク検査装置は、ディスクを検査するディスク検査装置であって、ディスクに再生用レーザ光を照射した際に得られる反射光の強度に基づいて、RF信号を取得するRF信号取得手段と、入力されたRF信号をエラー訂正しつつ復号し、訂正後の復号データおよびエラーレートを出力する復号手段と、前記RF信号取得手段により取得されるとともに復号手段に入力される前のRF信号のS/N比を、品質が既知の基準ディスクを検査した際に前記復号手段から出力される特定のジッター値におけるエラーレートが規定の範囲内に収まるような値に劣化可能なS/N比調整手段と、前記復号手段から出力されたエラーレートに対して係数を乗算し、当該係数乗算後のエラーレートを当該ディスク検査装置での検査結果として出力する係数乗算手段と、を備え、前記係数は、前記基準ディスクを検査した際に特定のジッター値において得られるエラーレートが予め規定された基準値になるような値に調整可能であることを特徴とする。 The disk inspection apparatus of the present invention is a disk inspection apparatus for inspecting a disk, and an RF signal acquisition means for acquiring an RF signal based on the intensity of reflected light obtained when the reproduction laser beam is irradiated onto the disk. A decoding unit that decodes the input RF signal while correcting the error, and outputs the corrected decoded data and error rate; and the RF signal that is acquired by the RF signal acquisition unit and before being input to the decoding unit S / N ratio adjustment capable of degrading the S / N ratio to such a value that an error rate at a specific jitter value output from the decoding means falls within a specified range when a reference disk having a known quality is inspected. means and multiplies the coefficients for any error rate from said decoding means, an error rate after multiplication the coefficients as a test result in the disk inspection device Comprising a coefficient multiplying means that the said coefficient, the adjustable der Rukoto to a value such error rate obtained is predefined reference value in a particular jitter value upon inspecting the reference disk Features.
好適な態様では、前記S/N比調整手段は、前記復号手段に入力される前のRF信号に対して、ホワイトノイズを付加することで、S/N比を劣化させる。他の好適な態様では、前記S/N比調整手段は、前記復号手段に入力される前のRF信号を、前記基準ディスクを検査した際に前記復号手段から出力される特定のジッター値におけるエラーレートと、予め規定された基準値と、の差が最小になるような値に劣化させる。 In a preferred aspect, the S / N ratio adjusting means degrades the S / N ratio by adding white noise to the RF signal before being input to the decoding means. In another preferred aspect, the S / N ratio adjusting unit is configured to detect an error in a specific jitter value output from the decoding unit when an RF signal before being input to the decoding unit is inspected by the reference disk. Degradation to a value that minimizes the difference between the rate and a predefined reference value.
他の好適な態様では、前記復号手段は、前記ノイズ付加後の信号に対してビタビ復号を行うビタビ復号手段と、前記ビタビ復号手段から出力されたデータをエラー訂正しつつ復号し、訂正後の復号データおよびエラーレートを出力する主復号手段と、を含み、さらに、前記基準ディスクを検査した際に前記復号手段から出力される特定のジッター値におけるエラーレートが前記規定の範囲内に収まる値になるように、前記ビタビ復号手段のエラー訂正能力を調整可能なビタビ調整手段を備える。この場合、前記ビタビ調整手段は、ビタビ訂正処理で用いるパスメモリのメモリ長を変化させることで訂正能力を調整する、ことが望ましい。 In another preferred aspect, the decoding means performs Viterbi decoding means for performing Viterbi decoding on the noise-added signal, and decodes the data output from the Viterbi decoding means while correcting the error, A main decoding means for outputting decoded data and an error rate, and further, an error rate at a specific jitter value output from the decoding means when the reference disk is inspected is set to a value that falls within the specified range. The Viterbi decoding means can adjust the error correction capability of the Viterbi decoding means. In this case, it is desirable that the Viterbi adjusting means adjusts the correction capability by changing the memory length of the path memory used in the Viterbi correction process.
他の本発明であるディスク検査装置の調整方法は、ディスクを再生した際に得られるRF信号をエラーを訂正しつつ復号し、訂正後の復号データおよびエラーレートを出力する復号手段を備えたディスク検査装置の調整方法であって、前記復号手段に入力されるRF信号のS/N比を、品質が既知の基準ディスクを検査した際に前記復号手段から出力される特定のジッター値におけるエラーレートが規定の範囲内に収まる値に劣化させるS/N比調整ステップと、前記復号手段から出力されたエラーレートに対して乗算される係数を、前記基準ディスクを検査した際に特定のジッター値において得られるエラーレートが予め規定された基準値になるような値に調整する係数調整ステップと、を含む、ことを特徴とする。 Another method for adjusting a disc inspection apparatus according to the present invention is a disc comprising decoding means for decoding an RF signal obtained when a disc is reproduced while correcting an error, and outputting the decoded data and error rate after correction. A method of adjusting an inspection apparatus, wherein an S / N ratio of an RF signal input to the decoding unit is determined based on an error rate at a specific jitter value output from the decoding unit when a reference disk having a known quality is inspected. The S / N ratio adjustment step for degrading to a value that falls within a specified range, and a coefficient that is multiplied by the error rate output from the decoding means, at a specific jitter value when the reference disk is inspected And a coefficient adjustment step of adjusting to a value such that the obtained error rate becomes a predetermined reference value .
本発明によれば、RF信号のS/N比が一定範囲内に劣化可能であるため、エラー感度が過度に低い検査装置であっても、基準検査装置に近いエラー感度に調整することが可能となる。その結果、ハードウェアの微調整等を行うことなく、装置間での検査結果のばらつきを抑えることができる。 According to the present invention, since the S / N ratio of the RF signal can be degraded within a certain range, it is possible to adjust the error sensitivity close to that of the reference inspection device even if the inspection device has an excessively low error sensitivity. It becomes. As a result, it is possible to suppress variations in inspection results between apparatuses without performing fine adjustment of hardware or the like.
以下、本発明の実施形態について図面を参照して説明する。図1は、本発明の実施形態であるディスク検査装置10の構成ブロック図である。このディスク検査装置10は、ディスク100(例えば、DVDやCD、ブルーレイディスクなど)の再生を困難にする不具合(欠陥)の有無を検査する装置である。以下、このディスク検査装置10について詳説する。
Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings. FIG. 1 is a block diagram showing the configuration of a
検査対象であるCDやDVD等のディスク100はスピンドルモータ(SP)12により回転駆動される。スピンドルモータ12は、SPドライバ14で駆動され、SPドライバ14はサーボプロセッサ30により所望の回転速度となるようにサーボ制御される。
A
光ピックアップ16は、レーザ光をディスク100に照射するためのレーザダイオード(LD)やディスク100からの反射光を受光して電気信号に変換するフォトディテクタを含み、ディスク100に対向配置される。光ピックアップ16はスレッドモータ(SLD)18によりディスク100の半径方向に駆動され、スレッドモータ18はSLDドライバ20で駆動される。SLDドライバ20は、SPドライバ14と同様にサーボプロセッサ30によりサーボ制御される。また、光ピックアップ16のレーザダイオードはLDドライバ22により駆動され、LDドライバ22は、オートパワーコントロール回路(APC)24により、駆動電流が所望の値となるように制御される。APC24及びLDドライバ22は、システムコントローラ32からの指令によりレーザダイオードの発光量を制御する。なお、図ではLDドライバ22は光ピックアップ16と別個に設けられているが、LDドライバ22を光ピックアップ16に搭載してもよい。また、光ピックアップ16には、対物レンズを駆動するアクチュエータ(ACT)が設けられており、当該アクチュエータは、ACTドライバ25で駆動される。このACTドライバ25は、サーボプロセッサ30により所望の駆動量となるようにサーボ制御される。
The
ディスク100の検査に当たっては、ディスク100に記録されたデータを再生するが、当該再生を実行する際には、光ピックアップ16のレーザダイオードから再生パワーのレーザ光が照射され、その反射光がフォトディテクタで電気信号に変換されてRF信号として出力される。
In the inspection of the
光ピックアップ16からのRF信号はRF回路26に供給される。RF回路26は、RF信号からフォーカスエラー信号やトラッキングエラー信号を生成し、サーボプロセッサ30に供給する。サーボプロセッサ30は、これらのエラー信号に基づいて光ピックアップ16をサーボ制御し、光ピックアップ16をオンフォーカス状態及びオントラック状態に維持する。また、RF回路26は、RF信号に含まれるアドレス信号を2値化回路34を介してアドレスデコード回路28に供給する。アドレスデコード回路28は2値化されたアドレス信号からディスク100のアドレスデータを復調し、サーボプロセッサ30やシステムコントローラ32に供給する。
The RF signal from the
また、RF回路26は、RF信号を2値化回路34を介して復号ユニット36にも供給する。復号ユニット36では、2値化されたRF信号を復号するとともに、当該ディスク100のエラーレートを出力する。ディスク検査装置10では、この復号ユニット36で算出されるエラーレートに基づいて、ディスク100の良否を判定するが、この復号ユニット36の詳細については、後に詳説する。
The
システムコントローラ32は、システム全体の動作を制御する部位である。本実施形態のシステムコントローラ32は、ディスク100の装填が検出された場合には、当該ディスク100の良否、具体的には、再生を困難にし得る程度のディスク100の不具合、すなわち、欠陥の有無を判定するディスク100検査処理を実行するべく、各部位の動作を制御する。そして、最終的には、復号ユニット36から出力されたエラーレートに基づいて、ディスク100の良否を判定し、その判定結果をインターフェース回路(I/F)42を介してユーザに提示する。また、このシステムコントローラ32は、ユーザからの指示に応じて、適宜、復号ユニット36のエラー感度の調整動作も実行するが、これについては、後に詳説する。
The
ところで、こうしたディスク検査装置10での検査結果は、すべての検査装置で同等であることが望まれる。すなわち、ある基準ディスクを検査した場合に得られるエラーレートは、いずれの検査装置でも同等であることが望まれる。しかしながら、エラーレート、ひいては、エラー検出量は、光ピックアップ16などからなるオプティカルパワーユニット(OPU)や、データ検出のハードウェアに依存し、同一種類の検査装置であっても、ばらつきが多く発生していた。その結果、同じディスク100を検査した場合であっても、ある検査装置では、良品と判定され、他の検査装置では不良品と判定されることもあり、ユーザがディスク100の品質を正確に判断できないという問題があった。
By the way, it is desired that the inspection results obtained by the
こうした問題を避けるために、基準の検査装置と同等の感度になるように、各検査装置ごとに得られたエラーレートを補正することも考えられる。すなわち、一つの基準ディスクを基準検査装置および補正が必要な検査装置の両方で検査し、基準検査装置で得られるエラーレートと同じ値になるように、検査装置で得られるエラーレートを補正するなどの手法が考えられる。しかし、S/N比とエラーレートとの関係は指数関数的であるため、装置間の検出エラーの差異が大きい場合には、上述した手法では補正しきれない場合があった。これについて、図3を参照して説明する。 In order to avoid such a problem, it is conceivable to correct the error rate obtained for each inspection apparatus so that the sensitivity is equivalent to that of the reference inspection apparatus. That is, one reference disk is inspected by both the reference inspection apparatus and the inspection apparatus that requires correction, and the error rate obtained by the inspection apparatus is corrected so as to be the same value as the error rate obtained by the reference inspection apparatus. Can be considered. However, since the relationship between the S / N ratio and the error rate is exponential, if the difference in detection error between apparatuses is large, the above-described method may not be able to be corrected. This will be described with reference to FIG.
図3は、基準検査装置と他の検査装置A,Bで、品質が既知の基準ディスクを検査した結果を示すグラフである。図3において横軸はジッターを、縦軸は検出されたエラーレートを示している。また、図3において、白丸は基準検査装置での検査結果を、黒三角は検査装置Aでの検査結果を、黒四角は検査装置Bでの検査結果をそれぞれ示している。 FIG. 3 is a graph showing a result of inspecting a reference disk having a known quality by the reference inspection apparatus and the other inspection apparatuses A and B. In FIG. 3, the horizontal axis represents jitter, and the vertical axis represents the detected error rate. In FIG. 3, white circles indicate inspection results with the reference inspection apparatus, black triangles indicate inspection results with the inspection apparatus A, and black squares indicate inspection results with the inspection apparatus B.
本来であれば、検査装置A,Bのいずれででも、基準検査装置と同等のエラーレートが検出されることが望ましい。しかし、OPUやデータ検出のハードウェアの差異に起因して、検査装置Aのように、K付近(DVD企画ではPI−SUM8=280Line.280/1664≒0.17付近)のエラーレートが検出されてしかるべきジッター13%付近においても、殆どエラーが検出されず、検出エラー数がほぼゼロになる場合があった。この検査装置Aのように検出エラー数がほぼゼロの場合、如何なる数値を乗算したとしても、当該エラーレートを基準装置と同等の値に補正することは困難となる。 Originally, it is desirable that an error rate equivalent to that of the reference inspection apparatus is detected by either of the inspection apparatuses A and B. However, due to differences in hardware for OPU and data detection, an error rate near K (in the DVD project, PI-SUM8 = 280Line.280 / 1664≈0.17) is detected as in the inspection apparatus A. Even in the vicinity of an appropriate jitter of 13%, almost no errors were detected, and the number of detected errors sometimes became almost zero. When the number of detected errors is almost zero as in the inspection apparatus A, it is difficult to correct the error rate to a value equivalent to that of the reference apparatus regardless of any numerical value.
逆に、検査装置Bのように、エラー感度が高く、ジッター13%付近において、エラー検出の限界値を超えるような場合には、得られた検出エラー数が意味を持たない数値になる。こうした意味のない数値に対して何らかの係数を乗算する補正を行ったとしても、基準検査装置と同等のエラーレートを得ることは無理である。つまり、検査装置A,Bのように、基準検査装置に比べて、エラー感度が大幅に異なる場合には、得られたエラーレートに係数を乗算して補正するだけでは、基準検査装置と同等のエラー感度に調整することは困難であった。 On the other hand, when the error sensitivity is high and the error detection limit value is exceeded in the vicinity of 13% jitter as in the inspection apparatus B, the obtained number of detection errors becomes a meaningless numerical value. Even if such a meaningless numerical value is corrected by multiplying it by some coefficient, it is impossible to obtain an error rate equivalent to that of the reference inspection apparatus. That is, when the error sensitivity is significantly different from that of the reference inspection device as in the inspection devices A and B, it is equivalent to that of the reference inspection device only by correcting the obtained error rate by multiplying the coefficient. It was difficult to adjust the error sensitivity.
そこで、本実施形態では、検査装置のエラー感度を調整可能とするべく、復号ユニット36の構成を特殊なものとしている。以下、復号ユニット36の構成について詳説していく。
Therefore, in the present embodiment, the configuration of the
図2は、復号ユニット36の詳細ブロック図である。復号ユニット36は、既述したとおり、RF信号を復号するとともに、当該ディスク100のエラーレートを出力するもので、復号部40、S/N比調整部42、ビタビ調整部44、および、係数乗算部46を有している。
FIG. 2 is a detailed block diagram of the
復号部40は、RF信号をエラー訂正しつつ復号し、訂正後の復号データおよびエラーレートLnを出力する。この復号部40は、AD変換器48、適応フィルタ50、ビタビ復号器52、エラー訂正器54を備えている。AD変換器48は、入力されたアナログ信号をデジタル信号に変換する。適応フィルタ50は、後段で行う復号処理のために、入力されたRF信号に対して、後段にある復号器に適した周波数特性に波形等価処理を施す。本実施形態では、復号器としてビタビ復号器52を用いているため、適応フィルタは、入力されたRF信号に対して、PR(Partial Response)特性に波形等価処理が施される。
The
ビタビ復号器52は、適応フィルタ50から出力された信号に基づいて、ビタビ復号方法によって復号データを生成する。ビタビ復号方法は、考えられる復号データ値の中から最も確からしい、すなわち、最尤な復号データ値を選択し、復号データ系列を生成する復号方法である。かかるビタビ復号器52を設けることにより、エラーレート限界を改善することができる。すなわち、図3で例示した検査装置Bのように、ジッターが低い段階で、エラー検出限界を超えることを防止できる。ただし、ビタビ復号によるエラー訂正能力が高すぎる場合には、図3で例示した検査装置Aのように、ジッターが高くても、エラーが殆ど検出されない恐れがある。そこで、本実施形態では、ビタビ復号器52のパスメモリ長を調整可能としている。すなわち、ビタビ復号器52は、通常、チャンネルクロックn個分のパスメモリを有している。そして、このパスメモリのメモリ長を長くするほど復号データの確度が増す一方で、ディスク欠陥の影響を受けやすくなったり、復号による遅延が大きくなったりといった問題が生じやすくなることが知られている。本実施形態では、好適なディスク検査を可能とするために、このパスメモリ長をビタビ調整部44により可変可能としているが、これについては、後述する。
The
エラー訂正器54は、ビタビ復号器52から出力されたデータを、エラー訂正しつつ復号し、訂正後の復号データおよびエラーレートを出力する主復号手段として機能するものである。より具体的には、エラー訂正器54は、ビタビ復号器52から出力された復号信号に対し、リードソロモン積符号方式を用いて、16セクタから成る1ECCブロックを単位としてエラー訂正処理を行う。そして、エラー訂正器は、このエラー訂正処理で得られるエラーレートと、エラー訂正後の復号データを出力する。
The
S/N比調整部42は、上述した復号部40に入力されるRF信号のS/N比を劣化させるもので、ノイズを発生するノイズ発生器56と、当該ノイズ発生器56から出力されたノイズを復号部40に入力されるRF信号に加算する加算器58と、から構成される。ここで、付加するノイズとしては、全ての強度で同じ強度を持つホワイトノイズなどを用いることができる。また、劣化度合いは、RF信号の振幅と、加算するノイズの振幅と、の比率を変更することで調整される。したがって、加算するノイズの振幅を変更して劣化度合いを調整してもよいし、逆に、RF信号の振幅を変更して劣化度合いを調整してもよい。
The S / N
いずれにしても、このようにノイズを加算してRF信号のS/N比を劣化させることで、エラーが検出されやすくなり、図3において例示した検査装置Aのように、エラーレートがほぼゼロになるという現象を防止できる。その結果、復号部40から出力されたエラーレートLnに何らかの補正を加え、基準の検査装置とほぼ同等のエラーレートを出力することが可能となる。このS/N比調整部42で調整するS/N比の劣化度合い(加算するノイズ強度)は、検査装置で基準ディスクを検査した際に得られるエラーレートに基づいて設定されるが、これについては後述する。
In any case, by adding noise in this way and degrading the S / N ratio of the RF signal, an error is easily detected, and the error rate is almost zero as in the inspection apparatus A illustrated in FIG. The phenomenon of becoming can be prevented. As a result, it is possible to apply some correction to the error rate Ln output from the
ビタビ調整部44は、ビタビ復号器52のエラー訂正能力を調整するものである。記述したように、ビタビ復号器52は、チャンネルクロックのn個分のパスメモリを有しており、このパスメモリ長を調整することで復号データの確度が変わってくる。ビタビ調整部44は、このパスメモリ長を変更するものである。このビタビ調整部44で、パスメモリ長を長くすることにより、図3で例示した検査装置Bのように、早々にエラー検出限界を超える検査装置のエラー感度を下げることができる。また、逆に、パスメモリ長を短くすることにより、検査装置Aのように、エラーが殆ど検出されないような検査装置のエラー感度を上げることができる。このビタビ調整部44で調整するパスメモリ長の長さは、検査装置で基準ディスクを検査した際に得られるエラーレートに基づいて設定されるが、これについても後述する。
The
係数乗算部46は、エラー訂正器から出力されたエラーレートLnに、所定の係数を乗算して補正する。この補正後のエラーレートLmが、当該検査装置での検査結果として取り扱われる。本実施形態では、一次関数Lm=A×Lnを用いてエラーレートを補正する。ここで、Lnは補正前のエラーレート、すなわちエラー訂正器54から出力されるエラーレートであり、Lmは補正後のエラーレート、すなわち、係数乗算部46から出力され、当該検査装置での検査結果として取り扱われるエラーレートである。この一次関数における係数A,Bの具体的数値も、検査装置で基準ディスクを検査した際に得られるエラーレートに基づいて設定されるが、これについても後述する。
The
次に、このディスク検査装置10のエラー感度を調整する流れについて説明する。図4は、エラー感度調整の流れを示すフローチャートである。エラー感度の調整処理は、ノイズ強度・メモリ長の調整処理(S10)と、補正計数A,Bの算出処理(S12)と、に大別される。図5,6は、この各処理S10,S12の詳細な流れを示すフローチャートである。以下、この図5、図6を参照して、各処理の流れについて詳説する。
Next, a flow for adjusting the error sensitivity of the
はじめに図5を参照してノイズ強度・メモリ長の調整処理について説明する。この処理においては、調整対象の検査装置が、基準の検査装置のエラー閾値付近にエラー検出感度を持つように加算するノイズ強度と、ビタビ復号器52のパスメモリ長を調整する。具体的には、特定のジッター値G1におけるエラーレートL1が規定の範囲に収まるようにする。ここで、特定のジッター値G1は、基準の検査装置で、基準エラーレートK1が測定されたジッター値である。エラー感度を調整する場合には、予め、基準の検査装置で、基準ディスクを測定し、この基準ジッター値G1の値を取得しておく。また、規定の範囲とは、後段に行う係数乗算により、基準検査装置と同等のエラー感度に調整可能な範囲である。すなわち、図3の検査装置Aのように、エラーが殆ど検出されず、基準ジッター値G1におけるエラーレートL1がほぼゼロの状態では、後に如何なる係数を乗算しても、基準検査装置と同等のエラー感度を持たせることは難しい。逆に、図3の検査装置Bのように、基準ジッター値G1の段階で検出エラーが限界値を超えるような場合にも、後に如何なる係数を乗算しても、基準検査装置と同等のエラー感度を持たせることは難しい。そこで、本実施形態では、RF信号に加算するノイズ強度・ビタビ復号器52で用いるパスメモリ長を調整して、復号部40から出力されるエラーレートを後段に行う係数乗算により、基準検査装置と同等のエラー感度に補正可能な範囲にしている。
First, noise intensity / memory length adjustment processing will be described with reference to FIG. In this process, the inspection apparatus to be adjusted adjusts the noise intensity to be added so as to have an error detection sensitivity near the error threshold of the reference inspection apparatus, and the path memory length of the
なお、本実施形態では、より好適な補正を可能にするために、調整対象の検査装置で、基準ディスクを検査した際に得られる基準ジッター値G1におけるエラーレートL1と、予め規定された基準エラーレートK1と、の差が最小になるように、ノイズ強度・パスメモリ長を設定している。以下、この処理の流れについて詳説する。 In the present embodiment, in order to enable more suitable correction, the error rate L1 in the reference jitter value G1 obtained when the reference disk is inspected by the inspection apparatus to be adjusted, and the reference error specified in advance. The noise intensity and path memory length are set so that the difference from the rate K1 is minimized. Hereinafter, the flow of this process will be described in detail.
ノイズ強度・メモリ長を調整する場合には、まず、パラメータi,jを初期化し、i=0、j=0に設定する(S16)。続いて、ビタビ復号器52で用いるパスメモリ長をPiに、また、ノイズ発生器56で発生させるノイズの強度をNjに設定する(S18,S20)。この状態で、調整対象の検査装置で、基準ディスクの検査を行い、基準ジッター値G1におけるエラーレートLnjを取得し、得られたエラーレートLnjをメモリに格納する(S22,S24)。一つのエラーレートが得られれば、パラメータjが最大値J以下か否かを確認する(S26)。j≦Jの場合には、パラメータjをインクリメントしたうえで、ノイズ強度を新たな値Njに設定する(S28,S20)。そして、再度、基準ディスクを検査し、基準ジッター値G1におけるエラーレートLnjを取得・記憶する(S22,S24)。この処理を、j>Jになるまで繰り返せば、続いて、パラメータiが最大値I以下か否かを確認する(S30)。i≦Iの場合には、パラメータiをインクリメントしたうえで、パスメモリ長を新たな値Piに設定する(S32,S18)。そして、i>Iになるまで、上述の処理を繰り返す。
When adjusting the noise intensity and the memory length, first, the parameters i and j are initialized, and i = 0 and j = 0 are set (S16). Subsequently, the path memory length used in the
全ての処理が完了すれば、(I+1)×(J+1)個のエラーレートLnjが得られることになる。システムコントローラ32は、メモリに格納されている、これらエラーレートLnjのうち、基準エラーレートK1との誤差が最小のエラーレートLnjを特定する(S34)。そして、この特定されたエラーレートLnjを取得した際のノイズ強度Nj、パスメモリ長Piを、それぞれ、当該検査装置で用いるノイズ強度およびパスメモリ長として、S/N比調整部42およびビタビ調整部44に設定する(S34)。
When all the processes are completed, (I + 1) × (J + 1) error rates Lnj are obtained. The
このようにノイズ強度・パスメモリ長を調整することで、検査装置で得られるエラーレートを、基準の検査装置のエラーレートに近づけることができる。その結果、OPUやデータ検出のハードウェアの交換や微調整を行わなくても、後に行う係数乗算での補正が可能になる。 By adjusting the noise intensity and the path memory length in this way, the error rate obtained by the inspection apparatus can be brought close to the error rate of the reference inspection apparatus. As a result, correction by subsequent coefficient multiplication can be performed without replacing or finely adjusting the OPU or data detection hardware.
図7は、このノイズ強度・メモリ長調整処理を検査装置A,Bに施した結果を示すグラフである。図7において、白丸は、基準検査装置のエラーレートを、黒三角は検査装置Aの調整前のエラーレートを、白三角は検査装置Aの調整後のエラーレートを、黒四角は検査装置Bの調整前のエラーレートを、白四角は検査装置Bの調整後のエラーレートを、それぞれ示している。 FIG. 7 is a graph showing the results of applying the noise intensity / memory length adjustment processing to the inspection apparatuses A and B. In FIG. 7, the white circle indicates the error rate of the reference inspection device, the black triangle indicates the error rate before adjustment of the inspection device A, the white triangle indicates the error rate after adjustment of the inspection device A, and the black square indicates the error rate of the inspection device B. The error rate before adjustment and the white square indicate the error rate after adjustment of the inspection apparatus B, respectively.
この図7から明らかなように、ノイズ強度・メモリ長を調整することにより、調整前には、ほぼゼロであった検査装置Aのエラーレートが、基準検査装置のエラーレートに近づいていることが分かる。また、同様に、調整前には、限界値を超えていた検査装置Bのエラーレートも、ノイズ強度・メモリ長を調整することで基準検査装置のエラーレートに近づいていることが分かる。 As is apparent from FIG. 7, by adjusting the noise intensity and the memory length, the error rate of the inspection apparatus A, which was almost zero before the adjustment, is approaching the error rate of the reference inspection apparatus. I understand. Similarly, it can be seen that the error rate of the inspection apparatus B that has exceeded the limit value before the adjustment approaches the error rate of the reference inspection apparatus by adjusting the noise intensity and the memory length.
なお、図5に示す処理を実行することにより、検査装置Aのように、エラー感度が過度に低い検査装置の場合は、加算するノイズ強度は強くし、かつ、ビタビ復号器52で用いるパスメモリ長は短く設定される。また、検査装置Bのように、エラー感度が過度に高い検査装置では、加算するノイズ強度はゼロに、かつ、ビタビ復号器52で用いるパスメモリ長は長く設定される。
By executing the processing shown in FIG. 5, in the case of an inspection device having an extremely low error sensitivity, such as the inspection device A, the noise intensity to be added is increased and the path memory used by the
こうしたノイズ強度・メモリ長の調整処理が終了すれば、続いて、補正係数の算出・設定(S12)が実行される。図6は、この補正係数算出・設定処理の詳細な流れを示すフローチャートである。係数乗算部46で用いる補正係数A,Bを算出する場合には、まず、調整対象の検査装置で、基準ディスクを検査し、基準ジッター値G1,G2におけるエラーレートL1,L2を取得する(S40)。ここで、基準ジッター値G1,G2は、基準検査装置で基準ディスクを検査した際に、基準エラーレートK1,K2が測定されたジッター値である。
When such noise intensity / memory length adjustment processing is completed, correction coefficient calculation / setting (S12) is subsequently executed. FIG. 6 is a flowchart showing a detailed flow of the correction coefficient calculation / setting process. When calculating the correction coefficients A and B used in the
基準ジッター値G1,G2におけるエラーレートL1,L2が取得できれば、続いて、基準エラーレートK1,K2と、得られたエラーレートL1,L2を以下の式1,2に代入し、係数乗算部46で用いる一次関数Lm=A×Ln+Bの補正係数A,Bを算出する(S42)。
If the error rates L1 and L2 at the reference jitter values G1 and G2 can be obtained, then the reference error rates K1 and K2 and the obtained error rates L1 and L2 are substituted into the following
なお、この式1、式2は、次の連立方程式の解である。この式1,2により求めた補正係数A,Bで測定エラーレートを補正することにより、基準ジッター値G1,G2における補正後のエラーレートが、基準エラーレートK1,K2と等しくなることになる。
補正係数A,Bの値が求まれば、システムコントローラ32は、この得られた補正係数A,Bを係数乗算部46に設定する(S44)。そして、以降は、この補正係数A,Bで補正されたエラーレートが、当該検査装置での検査結果値として取り扱われることになる。
When the values of the correction coefficients A and B are obtained, the
なお、本実施形態では、補正後のエラーレートLmがマイナスになることを防止するために、エラーレートL1以下の測定値については、Lm=(K1/L1)Lnで補正する。また、エラーレートL1以上の測定値であっても、補正値Lmがマイナスになった場合には、補正値をゼロに固定してもよい。 In the present embodiment, in order to prevent the corrected error rate Lm from becoming negative, the measurement value equal to or lower than the error rate L1 is corrected by Lm = (K1 / L1) Ln. Even if the measured value is equal to or higher than the error rate L1, the correction value may be fixed to zero when the correction value Lm becomes negative.
図8は、この係数乗算部46で検査装置Aを補正した結果を示すグラフである。図8において、白丸は基準検査装置でのエラーレートを、白三角は検査装置Aの補正前のエラーレート(ノイズ加算、パスメモリ長調整のみがされた状態のエラーレート)を、実線は上述の一次関数で補正された検査装置Aのエラーレートを、それぞれ示している。
FIG. 8 is a graph showing the result of correcting the inspection apparatus A by the
図8から明らかなとおり、一次関数で補正することにより、基準検査装置に比較的近い値のエラーレートを得られており、エラー感度が基準検査装置に近づいていることが分かる。その結果、本来、エラー感度が非常に低い検査装置Aであっても、基準検査装置と同様のエラーレートを出力することができる。このように、係数乗算により補正を施すことにより、検査装置の出力を、基準検査装置に近づけることができ、装置ごとの検査結果のバラツキを低減できる。 As is apparent from FIG. 8, by correcting with a linear function, an error rate having a value relatively close to that of the reference inspection apparatus can be obtained, and it can be seen that the error sensitivity approaches the reference inspection apparatus. As a result, even if the inspection apparatus A originally has very low error sensitivity, it is possible to output an error rate similar to that of the reference inspection apparatus. Thus, by performing correction by coefficient multiplication, the output of the inspection apparatus can be brought close to the reference inspection apparatus, and variations in inspection results for each apparatus can be reduced.
なお、本実施形態では、一次関数を用いてエラーレートの補正を行っているが、より、多次の関数を用いてエラーレートの補正を行ってもよい。例えば、二次関数Lm=Ax2+Bx+Cを用いてエラーレートの補正を行ってもよい。ここで、x=Ln−L1、B=K1/L1、C=K1とし、二次関数にLm=K2、Ln=L2を代入すると、
K2=A(L2−L1)2+B(L2−L1)+K1
となり、二次関数の係数Aは、
となる。なお、二次関数Lm=Ax2+Bx+Cを用いて補正を行う場合であっても、エラーレートL1以下の測定値は、Lm=(K1/L1)Lnで補正することが望ましい。
In this embodiment, the error rate is corrected using a linear function. However, the error rate may be corrected using a multi-order function. For example, the error rate may be corrected using a quadratic function Lm = Ax 2 + Bx + C. Here, when x = Ln−L1, B = K1 / L1, and C = K1, and substituting Lm = K2 and Ln = L2 into the quadratic function,
K2 = A (L2-L1) 2 + B (L2-L1) + K1
The coefficient A of the quadratic function is
It becomes. Even when correction is performed using the quadratic function Lm = Ax 2 + Bx + C, it is desirable to correct the measurement value equal to or lower than the error rate L1 with Lm = (K1 / L1) Ln.
図8における破線は、検査装置Aを、この二次関数で補正した結果を示している。この図8から明らかなとおり、二次関数を用いてエラーレートを補正することにより、補正後のエラーレートを、基準の検査装置のエラーレートに、より近づけることができる。その結果、装置ごとの検査結果のバラツキをより低減できる。 The broken line in FIG. 8 shows the result of correcting the inspection apparatus A with this quadratic function. As apparent from FIG. 8, by correcting the error rate using a quadratic function, the corrected error rate can be made closer to the error rate of the reference inspection apparatus. As a result, it is possible to further reduce variations in the inspection results for each apparatus.
以上の説明から明らかなとおり、本実施形態では、各検査装置ごとに、エラー感度を調整することができる。その結果、OPUやデータ検出のハードウェアによって微妙に変化するエラー感度の装置ごとの違いを吸収することができる。換言すれば、本実施形態によれば、エラー感度を調整するために、OPUやデータ検出のハードウェア等を交換や微調整する必要がなくなる。その結果、比較的簡易な操作で、検査結果のバラツキを低減できる。 As is apparent from the above description, in this embodiment, the error sensitivity can be adjusted for each inspection apparatus. As a result, it is possible to absorb the difference in error sensitivity of each device that slightly changes depending on the OPU and data detection hardware. In other words, according to this embodiment, it is not necessary to replace or fine-tune OPU, data detection hardware, or the like in order to adjust error sensitivity. As a result, variation in inspection results can be reduced with a relatively simple operation.
10 ディスク検査装置、12 スピンドルモータ、16 光ピックアップ、18 スレッドモータ、18 SPドライバ、20 SLDドライバ、22 LDドライバ、25 ACTドライバ、26 RF回路、28 アドレスデコード回路、30 サーボプロセッサ、32 システムコントローラ、36 復号ユニット、40 復号部、42 S/N比調整部、44 ビタビ調整部、46 係数乗算部、48 AD変換器、50 適応フィルタ、52 ビタビ復号器、54 エラー訂正器、56 ノイズ発生器、58 加算器、100 ディスク。 10 disk inspection device, 12 spindle motor, 16 optical pickup, 18 thread motor, 18 SP driver, 20 SLD driver, 22 LD driver, 25 ACT driver, 26 RF circuit, 28 address decoding circuit, 30 servo processor, 32 system controller, 36 decoding unit, 40 decoding unit, 42 S / N ratio adjusting unit, 44 Viterbi adjusting unit, 46 coefficient multiplying unit, 48 AD converter, 50 adaptive filter, 52 Viterbi decoder, 54 error corrector, 56 noise generator, 58 adders, 100 discs.
Claims (6)
ディスクに再生用レーザ光を照射した際に得られる反射光の強度に基づいて、RF信号を取得するRF信号取得手段と、
入力されたRF信号をエラー訂正しつつ復号し、訂正後の復号データおよびエラーレートを出力する復号手段と、
前記RF信号取得手段により取得されるとともに復号手段に入力される前のRF信号のS/N比を、品質が既知の基準ディスクを検査した際に前記復号手段から出力される特定のジッター値におけるエラーレートが規定の範囲内に収まるような値に劣化可能なS/N比調整手段と、
前記復号手段から出力されたエラーレートに対して係数を乗算し、当該係数乗算後のエラーレートを当該ディスク検査装置での検査結果として出力する係数乗算手段と、
を備え、前記係数は、前記基準ディスクを検査した際に特定のジッター値において得られるエラーレートが予め規定された基準値になるような値に調整可能であることを特徴とするディスク検査装置。 A disk inspection device for inspecting a disk,
RF signal acquisition means for acquiring an RF signal based on the intensity of reflected light obtained when the reproduction laser beam is irradiated onto the disk;
A decoding means for decoding the input RF signal while correcting the error, and outputting the corrected decoded data and error rate;
The S / N ratio of the RF signal acquired by the RF signal acquisition unit and before being input to the decoding unit is determined based on a specific jitter value output from the decoding unit when a reference disk having a known quality is inspected. S / N ratio adjusting means capable of deteriorating to a value such that the error rate falls within a specified range;
Coefficient multiplying means for multiplying the error rate output from the decoding means by a coefficient, and outputting the error rate after the coefficient multiplication as an inspection result in the disk inspection apparatus;
And the coefficient can be adjusted to a value such that an error rate obtained at a specific jitter value when the reference disk is inspected becomes a predetermined reference value.
前記S/N比調整手段は、前記復号手段に入力される前のRF信号に対して、ホワイトノイズを付加することで、S/N比を劣化させる、ことを特徴とするディスク検査装置。 The disk inspection apparatus according to claim 1,
The disk inspection apparatus, wherein the S / N ratio adjusting means degrades the S / N ratio by adding white noise to the RF signal before being input to the decoding means.
前記S/N比調整手段は、前記復号手段に入力される前のRF信号を、前記基準ディスクを検査した際に前記復号手段から出力される特定のジッター値におけるエラーレートと、予め規定された基準値と、の差が最小になるような値に劣化させる、ことを特徴とするディスク検査装置。 The disk inspection apparatus according to claim 1, further comprising:
The S / N ratio adjusting unit is preliminarily defined with an error rate at a specific jitter value output from the decoding unit when the reference disk is inspected for the RF signal before being input to the decoding unit. A disk inspection apparatus characterized by deteriorating to a value that minimizes a difference from a reference value.
前記復号手段は、
前記ノイズ付加後の信号に対してビタビ復号を行うビタビ復号手段と、
前記ビタビ復号手段から出力されたデータをエラー訂正しつつ復号し、訂正後の復号データおよびエラーレートを出力する主復号手段と、
を含み、さらに、
前記基準ディスクを検査した際に前記復号手段から出力される特定のジッター値におけるエラーレートが前記規定の範囲内に収まる値になるように、前記ビタビ復号手段のエラー訂正能力を調整可能なビタビ調整手段を備える、
ことを特徴とするディスク検査装置。 The disk inspection apparatus according to any one of claims 1 to 3,
The decoding means includes
Viterbi decoding means for performing Viterbi decoding on the signal after the addition of noise;
Main decoding means for decoding the data output from the Viterbi decoding means while correcting the error, and outputting the corrected decoded data and error rate;
Including,
Viterbi adjustment capable of adjusting the error correction capability of the Viterbi decoding means so that the error rate at a specific jitter value output from the decoding means when the reference disk is inspected is a value that falls within the specified range. With means,
A disk inspection apparatus characterized by that.
前記ビタビ調整手段は、ビタビ訂正処理で用いるパスメモリのメモリ長を変化させることで訂正能力を調整する、ことを特徴とするディスク検査装置。 The disk inspection apparatus according to claim 4,
The disk inspection apparatus, wherein the Viterbi adjustment means adjusts the correction capability by changing a memory length of a path memory used in Viterbi correction processing.
前記復号手段に入力されるRF信号のS/N比を、品質が既知の基準ディスクを検査した際に前記復号手段から出力される特定のジッター値におけるエラーレートが規定の範囲内に収まる値に劣化させるS/N比調整ステップと、
前記復号手段から出力されたエラーレートに対して乗算される係数を、前記基準ディスクを検査した際に特定のジッター値において得られるエラーレートが予め規定された基準値になるような値に調整する係数調整ステップと、
を含むことを特徴とするディスク検査装置の調整方法。 An adjustment method of a disk inspection apparatus including a decoding unit that decodes an RF signal obtained when a disk is reproduced while correcting an error, and outputs corrected decoded data and an error rate,
The S / N ratio of the RF signal input to the decoding unit is set to a value that allows an error rate in a specific jitter value output from the decoding unit to fall within a specified range when a reference disk having a known quality is inspected. An S / N ratio adjustment step for deteriorating;
The coefficient multiplied by the error rate output from the decoding means is adjusted to a value such that an error rate obtained at a specific jitter value when the reference disk is inspected becomes a predetermined reference value. Coefficient adjustment step;
A method for adjusting a disk inspection apparatus, comprising:
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2010171207A JP5593526B2 (en) | 2010-07-29 | 2010-07-29 | Disk inspection apparatus and adjustment method of inspection apparatus |
CN201010299456.4A CN102347049B (en) | 2010-07-29 | 2010-09-27 | Disk checking device |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2010171207A JP5593526B2 (en) | 2010-07-29 | 2010-07-29 | Disk inspection apparatus and adjustment method of inspection apparatus |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2012033225A JP2012033225A (en) | 2012-02-16 |
JP5593526B2 true JP5593526B2 (en) | 2014-09-24 |
Family
ID=45545657
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2010171207A Expired - Fee Related JP5593526B2 (en) | 2010-07-29 | 2010-07-29 | Disk inspection apparatus and adjustment method of inspection apparatus |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP5593526B2 (en) |
CN (1) | CN102347049B (en) |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPWO2014054258A1 (en) * | 2012-10-01 | 2016-08-25 | パナソニックIpマネジメント株式会社 | Signal quality information correction apparatus, signal quality information correction method, and information reproduction system |
Family Cites Families (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH10125011A (en) * | 1996-10-18 | 1998-05-15 | Toray Ind Inc | Device and method for inspecting recording/producing characteristics |
JPH11185209A (en) * | 1997-12-25 | 1999-07-09 | Nec Ibaraki Ltd | Magnetic disk device |
JP2001351339A (en) * | 2000-06-06 | 2001-12-21 | Fujitsu Ltd | Detector method for medium defect and information storage device |
JP2003085900A (en) * | 2001-09-10 | 2003-03-20 | Sony Corp | Instrument and method for measuring error rate, recording and reproducing device and recording and reproducing method |
TWI234955B (en) * | 2002-05-03 | 2005-06-21 | Faraday Tech Corp | Receiver having baseline offset compensation function |
JP2004127409A (en) * | 2002-10-01 | 2004-04-22 | Toshiba Corp | Disk storage device and method for reproducing data |
-
2010
- 2010-07-29 JP JP2010171207A patent/JP5593526B2/en not_active Expired - Fee Related
- 2010-09-27 CN CN201010299456.4A patent/CN102347049B/en not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2012033225A (en) | 2012-02-16 |
CN102347049B (en) | 2015-04-15 |
CN102347049A (en) | 2012-02-08 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US8351310B2 (en) | Method and apparatus for determining an optimal focus bias and spherical aberration compensating value in an optical disc drive | |
US8305855B2 (en) | Information processing apparatus and information processing method | |
JP5593526B2 (en) | Disk inspection apparatus and adjustment method of inspection apparatus | |
JP3762356B2 (en) | Optical disk device | |
KR100782611B1 (en) | An apparatus and method for detecting the optimal writing power of an optical disc | |
JP5377499B2 (en) | Optical information reproducing apparatus and information reproducing method of optical information reproducing apparatus | |
JP2007172770A (en) | Optical disk drive | |
JP3576137B2 (en) | Optical disc apparatus, servo adjustment method for optical disc apparatus, servo adjustment program for optical disc, and computer-readable recording medium recording servo adjustment program for optical disc | |
US20050195724A1 (en) | Optical disk device | |
JP2009070510A (en) | Reproduction device and reproduction method | |
JP2009043321A (en) | Optical disk reproduction apparatus | |
US7738328B2 (en) | Optical disk apparatus for carrying out a defocus regulation | |
JP2007149240A (en) | Optical disk device and optical disk recording method | |
WO2008001317A2 (en) | Device and method for retrieving information | |
JP5651884B2 (en) | Disk inspection apparatus and disk inspection method | |
JP4969434B2 (en) | Optical disk device | |
JP4823032B2 (en) | Error signal amplitude measuring method and optical disk reproducing apparatus | |
JP4725538B2 (en) | Optical disk device | |
JP2007207294A (en) | Optical disk drive, focus offset adjusting method | |
KR101339437B1 (en) | Method of optical writing/reproducing and device adopting the method | |
US20110188362A1 (en) | Write power setting method and optical disc device | |
JP2013218759A (en) | Optical disk device and optical disk record presence determination method | |
JPH11232663A (en) | Recording/reproducing apparatus | |
JP2011159370A (en) | Optical disk recorder and method of deciding optimum recording power | |
JP2012128893A (en) | Optical disk device and control method for reproduction power |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20130315 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20140204 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20140403 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20140422 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20140603 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20140624 |
|
A711 | Notification of change in applicant |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A711 Effective date: 20140714 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20140714 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A821 Effective date: 20140714 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 5593526 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
S531 | Written request for registration of change of domicile |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313531 |
|
R350 | Written notification of registration of transfer |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |