JP5593526B2 - Disk inspection apparatus and adjustment method of inspection apparatus - Google Patents

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Description

本発明は、ディスクを検査するディスク検査装置に関する。   The present invention relates to a disk inspection apparatus for inspecting a disk.

従来から、レーザ光を照射することによりデータの記録再生が可能な光ディスクなどの記録媒体ディスクが広く知られている。かかるディスクにおいては、経年劣化などにより、データの記録品質が劣化し、場合によっては、データの再生が困難になり、情報が損失する場合がある。ディスクで各種情報を記録保管しているディスクアーカイブにおいては、こうしたディスクの劣化による情報損失は、大きな問題となる。そのため、ディスクアーカイブにおいては、定期的に保管されている大量のディスクの品質を検査することが求められる。また、ディスクの貸し出しや販売を行うディスクのレンタルショップや中古販売店においても、当該光ディスクの貸し出し・販売に先立って、当該ディスクの品質を検査することが求められる。   2. Description of the Related Art Conventionally, a recording medium disk such as an optical disk capable of recording / reproducing data by irradiating a laser beam is widely known. In such a disc, data recording quality deteriorates due to deterioration over time, and in some cases, data reproduction becomes difficult and information may be lost. In a disk archive in which various types of information are recorded and stored on a disk, such information loss due to deterioration of the disk becomes a serious problem. Therefore, in the disk archive, it is required to inspect the quality of a large number of disks stored regularly. In addition, disc rental shops and second-hand stores that rent and sell discs are also required to inspect the quality of the disc prior to renting and selling the optical disc.

こうした問題を受け、ディスクの良否を高速に検査するための装置が従来から多数提案されている。こうした検査装置の多くは、通常のディスク再生装置と同様のディスクドライブを備えている。そして、検査装置の多くは、このディスクドライブでディスクを再生した際の再生品質、例えば、エラーレートなどに基づいてディスクの品質を検査している。   In response to these problems, many devices have been proposed for inspecting the quality of disks at high speed. Many of such inspection apparatuses have a disk drive similar to a normal disk reproducing apparatus. Many inspection apparatuses inspect the quality of a disk based on the reproduction quality when the disk is reproduced by the disk drive, for example, an error rate.

特開平１０−３０２４１２号公報Japanese Patent Laid-Open No. 10-302212

しかし、このエラー検出量は、各検査装置に搭載されているオプティカルパワーユニットや、データ処理のハードウェアに依存しており、同一ディスクを検査した場合であっても、検査装置によって、結果が異なることがあった。その結果、検査装置ごとに、検査結果のばらつきが生じてしまい、正確に品質を検査できないという問題があった。もちろん、ＯＰＵやデータ処理のハードウェアの特性を揃えるように、これら部品を交換したり、微調整したりすることで、こうした問題は低減できる。しかし、各種ハードウェアの交換や微調整は、コスト増加や手間増加といった新たな問題を生じる。   However, this error detection amount depends on the optical power unit and data processing hardware installed in each inspection device, and even if the same disk is inspected, the result varies depending on the inspection device. was there. As a result, there is a problem that the inspection results vary from inspection device to inspection device, and the quality cannot be accurately inspected. Of course, these problems can be reduced by exchanging or fine-tuning these components so that the characteristics of the OPU and data processing hardware are uniform. However, the replacement and fine adjustment of various hardware causes new problems such as an increase in cost and labor.

なお、特許文献１には、ビタビ復号処理で用いるパスメモリ長を変更することで、エラーレートを向上させる技術が開示されているが、かかる技術では、エラー感度が過度に低い検査装置のエラー感度を適正値に修正することはできなかった。   Patent Document 1 discloses a technique for improving the error rate by changing the path memory length used in the Viterbi decoding process. However, in this technique, the error sensitivity of the inspection apparatus having an excessively low error sensitivity is disclosed. Could not be corrected to an appropriate value.

そこで、本発明では、ハードウェアの微調整等を行うことなく、装置間での検査結果のばらつきを抑え得るディスク検査装置を提供することを目的とする。   Accordingly, an object of the present invention is to provide a disk inspection apparatus that can suppress variations in inspection results between apparatuses without performing fine adjustment of hardware.

本発明のディスク検査装置は、ディスクを検査するディスク検査装置であって、ディスクに再生用レーザ光を照射した際に得られる反射光の強度に基づいて、ＲＦ信号を取得するＲＦ信号取得手段と、入力されたＲＦ信号をエラー訂正しつつ復号し、訂正後の復号データおよびエラーレートを出力する復号手段と、前記ＲＦ信号取得手段により取得されるとともに復号手段に入力される前のＲＦ信号のＳ／Ｎ比を、品質が既知の基準ディスクを検査した際に前記復号手段から出力される特定のジッター値におけるエラーレートが規定の範囲内に収まるような値に劣化可能なＳ／Ｎ比調整手段と、前記復号手段から出力されたエラーレートに対して係数を乗算し、当該係数乗算後のエラーレートを当該ディスク検査装置での検査結果として出力する係数乗算手段と、を備え、前記係数は、前記基準ディスクを検査した際に特定のジッター値において得られるエラーレートが予め規定された基準値になるような値に調整可能であることを特徴とする。 The disk inspection apparatus of the present invention is a disk inspection apparatus for inspecting a disk, and an RF signal acquisition means for acquiring an RF signal based on the intensity of reflected light obtained when the reproduction laser beam is irradiated onto the disk. A decoding unit that decodes the input RF signal while correcting the error, and outputs the corrected decoded data and error rate; and the RF signal that is acquired by the RF signal acquisition unit and before being input to the decoding unit S / N ratio adjustment capable of degrading the S / N ratio to such a value that an error rate at a specific jitter value output from the decoding means falls within a specified range when a reference disk having a known quality is inspected. means and multiplies the coefficients for any error rate from said decoding means, an error rate after multiplication the coefficients as a test result in the disk inspection device Comprising a coefficient multiplying means that the said coefficient, the adjustable der Rukoto to a value such error rate obtained is predefined reference value in a particular jitter value upon inspecting the reference disk Features.

好適な態様では、前記Ｓ／Ｎ比調整手段は、前記復号手段に入力される前のＲＦ信号に対して、ホワイトノイズを付加することで、Ｓ／Ｎ比を劣化させる。他の好適な態様では、前記Ｓ／Ｎ比調整手段は、前記復号手段に入力される前のＲＦ信号を、前記基準ディスクを検査した際に前記復号手段から出力される特定のジッター値におけるエラーレートと、予め規定された基準値と、の差が最小になるような値に劣化させる。 In a preferred aspect, the S / N ratio adjusting means degrades the S / N ratio by adding white noise to the RF signal before being input to the decoding means. In another preferred aspect, the S / N ratio adjusting unit is configured to detect an error in a specific jitter value output from the decoding unit when an RF signal before being input to the decoding unit is inspected by the reference disk. Degradation to a value that minimizes the difference between the rate and a predefined reference value.

他の好適な態様では、前記復号手段は、前記ノイズ付加後の信号に対してビタビ復号を行うビタビ復号手段と、前記ビタビ復号手段から出力されたデータをエラー訂正しつつ復号し、訂正後の復号データおよびエラーレートを出力する主復号手段と、を含み、さらに、前記基準ディスクを検査した際に前記復号手段から出力される特定のジッター値におけるエラーレートが前記規定の範囲内に収まる値になるように、前記ビタビ復号手段のエラー訂正能力を調整可能なビタビ調整手段を備える。この場合、前記ビタビ調整手段は、ビタビ訂正処理で用いるパスメモリのメモリ長を変化させることで訂正能力を調整する、ことが望ましい。   In another preferred aspect, the decoding means performs Viterbi decoding means for performing Viterbi decoding on the noise-added signal, and decodes the data output from the Viterbi decoding means while correcting the error, A main decoding means for outputting decoded data and an error rate, and further, an error rate at a specific jitter value output from the decoding means when the reference disk is inspected is set to a value that falls within the specified range. The Viterbi decoding means can adjust the error correction capability of the Viterbi decoding means. In this case, it is desirable that the Viterbi adjusting means adjusts the correction capability by changing the memory length of the path memory used in the Viterbi correction process.

他の本発明であるディスク検査装置の調整方法は、ディスクを再生した際に得られるＲＦ信号をエラーを訂正しつつ復号し、訂正後の復号データおよびエラーレートを出力する復号手段を備えたディスク検査装置の調整方法であって、前記復号手段に入力されるＲＦ信号のＳ／Ｎ比を、品質が既知の基準ディスクを検査した際に前記復号手段から出力される特定のジッター値におけるエラーレートが規定の範囲内に収まる値に劣化させるＳ／Ｎ比調整ステップと、前記復号手段から出力されたエラーレートに対して乗算される係数を、前記基準ディスクを検査した際に特定のジッター値において得られるエラーレートが予め規定された基準値になるような値に調整する係数調整ステップと、を含む、ことを特徴とする。 Another method for adjusting a disc inspection apparatus according to the present invention is a disc comprising decoding means for decoding an RF signal obtained when a disc is reproduced while correcting an error, and outputting the decoded data and error rate after correction. A method of adjusting an inspection apparatus, wherein an S / N ratio of an RF signal input to the decoding unit is determined based on an error rate at a specific jitter value output from the decoding unit when a reference disk having a known quality is inspected. The S / N ratio adjustment step for degrading to a value that falls within a specified range, and a coefficient that is multiplied by the error rate output from the decoding means, at a specific jitter value when the reference disk is inspected And a coefficient adjustment step of adjusting to a value such that the obtained error rate becomes a predetermined reference value .

本発明によれば、ＲＦ信号のＳ／Ｎ比が一定範囲内に劣化可能であるため、エラー感度が過度に低い検査装置であっても、基準検査装置に近いエラー感度に調整することが可能となる。その結果、ハードウェアの微調整等を行うことなく、装置間での検査結果のばらつきを抑えることができる。   According to the present invention, since the S / N ratio of the RF signal can be degraded within a certain range, it is possible to adjust the error sensitivity close to that of the reference inspection device even if the inspection device has an excessively low error sensitivity. It becomes. As a result, it is possible to suppress variations in inspection results between apparatuses without performing fine adjustment of hardware or the like.

本発明の実施形態であるディスク検査装置の構成を示すブロック図である。It is a block diagram which shows the structure of the disc inspection apparatus which is embodiment of this invention. 復号ユニットの詳細構成を示すブロック図である。It is a block diagram which shows the detailed structure of a decoding unit. 装置ごとのエラー感度の違いを示すグラフである。It is a graph which shows the difference in the error sensitivity for every apparatus. エラー感度調整の流れを示すフローチャートである。It is a flowchart which shows the flow of error sensitivity adjustment. ノイズ強度・メモリ長調整の流れを示すフローチャートである。It is a flowchart which shows the flow of noise intensity and memory length adjustment. 補正係数の算出・設定の流れを示すフローチャートである。It is a flowchart which shows the flow of calculation and setting of a correction coefficient. 検査装置Ａ，Ｂにノイズ強度・メモリ長調整を施した結果を示すグラフである。It is a graph which shows the result of having applied noise intensity and memory length adjustment to inspection apparatus A and B. FIG. 検査装置Ａに係数乗算を施した結果を示すグラフである。It is a graph which shows the result of having performed coefficient multiplication to inspection device A.

以下、本発明の実施形態について図面を参照して説明する。図１は、本発明の実施形態であるディスク検査装置１０の構成ブロック図である。このディスク検査装置１０は、ディスク１００（例えば、ＤＶＤやＣＤ、ブルーレイディスクなど）の再生を困難にする不具合（欠陥）の有無を検査する装置である。以下、このディスク検査装置１０について詳説する。   Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings. FIG. 1 is a block diagram showing the configuration of a disk inspection apparatus 10 according to an embodiment of the present invention. The disk inspection apparatus 10 is an apparatus for inspecting the presence or absence of a defect (defect) that makes it difficult to reproduce a disk 100 (for example, a DVD, a CD, or a Blu-ray disk). Hereinafter, the disk inspection apparatus 10 will be described in detail.

検査対象であるＣＤやＤＶＤ等のディスク１００はスピンドルモータ（ＳＰ）１２により回転駆動される。スピンドルモータ１２は、ＳＰドライバ１４で駆動され、ＳＰドライバ１４はサーボプロセッサ３０により所望の回転速度となるようにサーボ制御される。   A disc 100 such as a CD or DVD to be inspected is rotated by a spindle motor (SP) 12. The spindle motor 12 is driven by an SP driver 14, and the SP driver 14 is servo-controlled by a servo processor 30 so that a desired rotation speed is obtained.

光ピックアップ１６は、レーザ光をディスク１００に照射するためのレーザダイオード（ＬＤ）やディスク１００からの反射光を受光して電気信号に変換するフォトディテクタを含み、ディスク１００に対向配置される。光ピックアップ１６はスレッドモータ（ＳＬＤ）１８によりディスク１００の半径方向に駆動され、スレッドモータ１８はＳＬＤドライバ２０で駆動される。ＳＬＤドライバ２０は、ＳＰドライバ１４と同様にサーボプロセッサ３０によりサーボ制御される。また、光ピックアップ１６のレーザダイオードはＬＤドライバ２２により駆動され、ＬＤドライバ２２は、オートパワーコントロール回路（ＡＰＣ）２４により、駆動電流が所望の値となるように制御される。ＡＰＣ２４及びＬＤドライバ２２は、システムコントローラ３２からの指令によりレーザダイオードの発光量を制御する。なお、図ではＬＤドライバ２２は光ピックアップ１６と別個に設けられているが、ＬＤドライバ２２を光ピックアップ１６に搭載してもよい。また、光ピックアップ１６には、対物レンズを駆動するアクチュエータ（ＡＣＴ）が設けられており、当該アクチュエータは、ＡＣＴドライバ２５で駆動される。このＡＣＴドライバ２５は、サーボプロセッサ３０により所望の駆動量となるようにサーボ制御される。   The optical pickup 16 includes a laser diode (LD) for irradiating the disk 100 with laser light and a photodetector that receives reflected light from the disk 100 and converts it into an electrical signal, and is disposed opposite to the disk 100. The optical pickup 16 is driven in the radial direction of the disk 100 by a thread motor (SLD) 18, and the thread motor 18 is driven by an SLD driver 20. The SLD driver 20 is servo-controlled by the servo processor 30 in the same manner as the SP driver 14. The laser diode of the optical pickup 16 is driven by an LD driver 22, and the LD driver 22 is controlled by an auto power control circuit (APC) 24 so that the drive current becomes a desired value. The APC 24 and the LD driver 22 control the light emission amount of the laser diode according to a command from the system controller 32. In the figure, the LD driver 22 is provided separately from the optical pickup 16, but the LD driver 22 may be mounted on the optical pickup 16. The optical pickup 16 is provided with an actuator (ACT) for driving the objective lens, and the actuator is driven by an ACT driver 25. The ACT driver 25 is servo-controlled by the servo processor 30 so that a desired driving amount is obtained.

ディスク１００の検査に当たっては、ディスク１００に記録されたデータを再生するが、当該再生を実行する際には、光ピックアップ１６のレーザダイオードから再生パワーのレーザ光が照射され、その反射光がフォトディテクタで電気信号に変換されてＲＦ信号として出力される。   In the inspection of the disk 100, the data recorded on the disk 100 is reproduced. When the reproduction is performed, a laser beam of reproduction power is irradiated from the laser diode of the optical pickup 16, and the reflected light is reflected by a photodetector. It is converted into an electrical signal and output as an RF signal.

光ピックアップ１６からのＲＦ信号はＲＦ回路２６に供給される。ＲＦ回路２６は、ＲＦ信号からフォーカスエラー信号やトラッキングエラー信号を生成し、サーボプロセッサ３０に供給する。サーボプロセッサ３０は、これらのエラー信号に基づいて光ピックアップ１６をサーボ制御し、光ピックアップ１６をオンフォーカス状態及びオントラック状態に維持する。また、ＲＦ回路２６は、ＲＦ信号に含まれるアドレス信号を２値化回路３４を介してアドレスデコード回路２８に供給する。アドレスデコード回路２８は２値化されたアドレス信号からディスク１００のアドレスデータを復調し、サーボプロセッサ３０やシステムコントローラ３２に供給する。   The RF signal from the optical pickup 16 is supplied to the RF circuit 26. The RF circuit 26 generates a focus error signal and a tracking error signal from the RF signal and supplies them to the servo processor 30. The servo processor 30 servo-controls the optical pickup 16 based on these error signals, and maintains the optical pickup 16 in an on-focus state and an on-track state. In addition, the RF circuit 26 supplies an address signal included in the RF signal to the address decoding circuit 28 via the binarization circuit 34. The address decoding circuit 28 demodulates the address data of the disk 100 from the binarized address signal and supplies it to the servo processor 30 and the system controller 32.

また、ＲＦ回路２６は、ＲＦ信号を２値化回路３４を介して復号ユニット３６にも供給する。復号ユニット３６では、２値化されたＲＦ信号を復号するとともに、当該ディスク１００のエラーレートを出力する。ディスク検査装置１０では、この復号ユニット３６で算出されるエラーレートに基づいて、ディスク１００の良否を判定するが、この復号ユニット３６の詳細については、後に詳説する。   The RF circuit 26 also supplies the RF signal to the decoding unit 36 via the binarization circuit 34. The decoding unit 36 decodes the binarized RF signal and outputs the error rate of the disc 100. In the disk inspection apparatus 10, the quality of the disk 100 is determined based on the error rate calculated by the decoding unit 36. Details of the decoding unit 36 will be described in detail later.

システムコントローラ３２は、システム全体の動作を制御する部位である。本実施形態のシステムコントローラ３２は、ディスク１００の装填が検出された場合には、当該ディスク１００の良否、具体的には、再生を困難にし得る程度のディスク１００の不具合、すなわち、欠陥の有無を判定するディスク１００検査処理を実行するべく、各部位の動作を制御する。そして、最終的には、復号ユニット３６から出力されたエラーレートに基づいて、ディスク１００の良否を判定し、その判定結果をインターフェース回路（Ｉ／Ｆ）４２を介してユーザに提示する。また、このシステムコントローラ３２は、ユーザからの指示に応じて、適宜、復号ユニット３６のエラー感度の調整動作も実行するが、これについては、後に詳説する。   The system controller 32 is a part that controls the operation of the entire system. When the loading of the disk 100 is detected, the system controller 32 according to the present embodiment determines whether the disk 100 is good or not, specifically, a defect of the disk 100 that can make reproduction difficult, that is, whether there is a defect. The operation of each part is controlled to execute the disc 100 inspection process to be determined. Finally, the quality of the disc 100 is determined based on the error rate output from the decoding unit 36, and the determination result is presented to the user via the interface circuit (I / F) 42. In addition, the system controller 32 also appropriately performs an error sensitivity adjustment operation of the decoding unit 36 in accordance with an instruction from the user, which will be described in detail later.

ところで、こうしたディスク検査装置１０での検査結果は、すべての検査装置で同等であることが望まれる。すなわち、ある基準ディスクを検査した場合に得られるエラーレートは、いずれの検査装置でも同等であることが望まれる。しかしながら、エラーレート、ひいては、エラー検出量は、光ピックアップ１６などからなるオプティカルパワーユニット（ＯＰＵ）や、データ検出のハードウェアに依存し、同一種類の検査装置であっても、ばらつきが多く発生していた。その結果、同じディスク１００を検査した場合であっても、ある検査装置では、良品と判定され、他の検査装置では不良品と判定されることもあり、ユーザがディスク１００の品質を正確に判断できないという問題があった。   By the way, it is desired that the inspection results obtained by the disk inspection apparatus 10 are the same for all inspection apparatuses. That is, it is desirable that the error rate obtained when a certain reference disk is inspected is the same in any inspection apparatus. However, the error rate, and hence the error detection amount, depends on the optical power unit (OPU) including the optical pickup 16 and the like and the data detection hardware, and many variations occur even in the same type of inspection apparatus. It was. As a result, even when the same disk 100 is inspected, it may be determined that a certain inspection apparatus is a non-defective product, and another inspection apparatus may be determined as a defective product, so that the user can accurately determine the quality of the disk 100. There was a problem that I could not.

こうした問題を避けるために、基準の検査装置と同等の感度になるように、各検査装置ごとに得られたエラーレートを補正することも考えられる。すなわち、一つの基準ディスクを基準検査装置および補正が必要な検査装置の両方で検査し、基準検査装置で得られるエラーレートと同じ値になるように、検査装置で得られるエラーレートを補正するなどの手法が考えられる。しかし、Ｓ／Ｎ比とエラーレートとの関係は指数関数的であるため、装置間の検出エラーの差異が大きい場合には、上述した手法では補正しきれない場合があった。これについて、図３を参照して説明する。   In order to avoid such a problem, it is conceivable to correct the error rate obtained for each inspection apparatus so that the sensitivity is equivalent to that of the reference inspection apparatus. That is, one reference disk is inspected by both the reference inspection apparatus and the inspection apparatus that requires correction, and the error rate obtained by the inspection apparatus is corrected so as to be the same value as the error rate obtained by the reference inspection apparatus. Can be considered. However, since the relationship between the S / N ratio and the error rate is exponential, if the difference in detection error between apparatuses is large, the above-described method may not be able to be corrected. This will be described with reference to FIG.

図３は、基準検査装置と他の検査装置Ａ，Ｂで、品質が既知の基準ディスクを検査した結果を示すグラフである。図３において横軸はジッターを、縦軸は検出されたエラーレートを示している。また、図３において、白丸は基準検査装置での検査結果を、黒三角は検査装置Ａでの検査結果を、黒四角は検査装置Ｂでの検査結果をそれぞれ示している。   FIG. 3 is a graph showing a result of inspecting a reference disk having a known quality by the reference inspection apparatus and the other inspection apparatuses A and B. In FIG. 3, the horizontal axis represents jitter, and the vertical axis represents the detected error rate. In FIG. 3, white circles indicate inspection results with the reference inspection apparatus, black triangles indicate inspection results with the inspection apparatus A, and black squares indicate inspection results with the inspection apparatus B.

本来であれば、検査装置Ａ，Ｂのいずれででも、基準検査装置と同等のエラーレートが検出されることが望ましい。しかし、ＯＰＵやデータ検出のハードウェアの差異に起因して、検査装置Ａのように、Ｋ付近（ＤＶＤ企画ではＰＩ−ＳＵＭ８＝２８０Ｌｉｎｅ．２８０／１６６４≒０．１７付近）のエラーレートが検出されてしかるべきジッター１３％付近においても、殆どエラーが検出されず、検出エラー数がほぼゼロになる場合があった。この検査装置Ａのように検出エラー数がほぼゼロの場合、如何なる数値を乗算したとしても、当該エラーレートを基準装置と同等の値に補正することは困難となる。   Originally, it is desirable that an error rate equivalent to that of the reference inspection apparatus is detected by either of the inspection apparatuses A and B. However, due to differences in hardware for OPU and data detection, an error rate near K (in the DVD project, PI-SUM8 = 280Line.280 / 1664≈0.17) is detected as in the inspection apparatus A. Even in the vicinity of an appropriate jitter of 13%, almost no errors were detected, and the number of detected errors sometimes became almost zero. When the number of detected errors is almost zero as in the inspection apparatus A, it is difficult to correct the error rate to a value equivalent to that of the reference apparatus regardless of any numerical value.

逆に、検査装置Ｂのように、エラー感度が高く、ジッター１３％付近において、エラー検出の限界値を超えるような場合には、得られた検出エラー数が意味を持たない数値になる。こうした意味のない数値に対して何らかの係数を乗算する補正を行ったとしても、基準検査装置と同等のエラーレートを得ることは無理である。つまり、検査装置Ａ，Ｂのように、基準検査装置に比べて、エラー感度が大幅に異なる場合には、得られたエラーレートに係数を乗算して補正するだけでは、基準検査装置と同等のエラー感度に調整することは困難であった。   On the other hand, when the error sensitivity is high and the error detection limit value is exceeded in the vicinity of 13% jitter as in the inspection apparatus B, the obtained number of detection errors becomes a meaningless numerical value. Even if such a meaningless numerical value is corrected by multiplying it by some coefficient, it is impossible to obtain an error rate equivalent to that of the reference inspection apparatus. That is, when the error sensitivity is significantly different from that of the reference inspection device as in the inspection devices A and B, it is equivalent to that of the reference inspection device only by correcting the obtained error rate by multiplying the coefficient. It was difficult to adjust the error sensitivity.

そこで、本実施形態では、検査装置のエラー感度を調整可能とするべく、復号ユニット３６の構成を特殊なものとしている。以下、復号ユニット３６の構成について詳説していく。   Therefore, in the present embodiment, the configuration of the decoding unit 36 is special so that the error sensitivity of the inspection apparatus can be adjusted. Hereinafter, the configuration of the decoding unit 36 will be described in detail.

図２は、復号ユニット３６の詳細ブロック図である。復号ユニット３６は、既述したとおり、ＲＦ信号を復号するとともに、当該ディスク１００のエラーレートを出力するもので、復号部４０、Ｓ／Ｎ比調整部４２、ビタビ調整部４４、および、係数乗算部４６を有している。   FIG. 2 is a detailed block diagram of the decoding unit 36. As described above, the decoding unit 36 decodes the RF signal and outputs the error rate of the disk 100. The decoding unit 40, the S / N ratio adjustment unit 42, the Viterbi adjustment unit 44, and the coefficient multiplication Part 46 is provided.

復号部４０は、ＲＦ信号をエラー訂正しつつ復号し、訂正後の復号データおよびエラーレートＬｎを出力する。この復号部４０は、ＡＤ変換器４８、適応フィルタ５０、ビタビ復号器５２、エラー訂正器５４を備えている。ＡＤ変換器４８は、入力されたアナログ信号をデジタル信号に変換する。適応フィルタ５０は、後段で行う復号処理のために、入力されたＲＦ信号に対して、後段にある復号器に適した周波数特性に波形等価処理を施す。本実施形態では、復号器としてビタビ復号器５２を用いているため、適応フィルタは、入力されたＲＦ信号に対して、ＰＲ（Ｐａｒｔｉａｌ Ｒｅｓｐｏｎｓｅ）特性に波形等価処理が施される。   The decoding unit 40 decodes the RF signal while correcting the error, and outputs the corrected decoded data and the error rate Ln. The decoding unit 40 includes an AD converter 48, an adaptive filter 50, a Viterbi decoder 52, and an error corrector 54. The AD converter 48 converts the input analog signal into a digital signal. The adaptive filter 50 performs waveform equivalent processing on the frequency characteristic suitable for the decoder at the subsequent stage on the input RF signal for the decoding process performed at the subsequent stage. In this embodiment, since the Viterbi decoder 52 is used as a decoder, the adaptive filter performs waveform equalization processing on PR (Partial Response) characteristics on the input RF signal.

ビタビ復号器５２は、適応フィルタ５０から出力された信号に基づいて、ビタビ復号方法によって復号データを生成する。ビタビ復号方法は、考えられる復号データ値の中から最も確からしい、すなわち、最尤な復号データ値を選択し、復号データ系列を生成する復号方法である。かかるビタビ復号器５２を設けることにより、エラーレート限界を改善することができる。すなわち、図３で例示した検査装置Ｂのように、ジッターが低い段階で、エラー検出限界を超えることを防止できる。ただし、ビタビ復号によるエラー訂正能力が高すぎる場合には、図３で例示した検査装置Ａのように、ジッターが高くても、エラーが殆ど検出されない恐れがある。そこで、本実施形態では、ビタビ復号器５２のパスメモリ長を調整可能としている。すなわち、ビタビ復号器５２は、通常、チャンネルクロックｎ個分のパスメモリを有している。そして、このパスメモリのメモリ長を長くするほど復号データの確度が増す一方で、ディスク欠陥の影響を受けやすくなったり、復号による遅延が大きくなったりといった問題が生じやすくなることが知られている。本実施形態では、好適なディスク検査を可能とするために、このパスメモリ長をビタビ調整部４４により可変可能としているが、これについては、後述する。   The Viterbi decoder 52 generates decoded data by the Viterbi decoding method based on the signal output from the adaptive filter 50. The Viterbi decoding method is a decoding method that selects the most likely decoded data value from the possible decoded data values, that is, generates the decoded data sequence. By providing such a Viterbi decoder 52, the error rate limit can be improved. That is, as in the inspection apparatus B illustrated in FIG. 3, it is possible to prevent the error detection limit from being exceeded when the jitter is low. However, when the error correction capability by Viterbi decoding is too high, there is a possibility that almost no error is detected even if the jitter is high as in the inspection apparatus A illustrated in FIG. Therefore, in this embodiment, the path memory length of the Viterbi decoder 52 can be adjusted. That is, the Viterbi decoder 52 normally has a path memory for n channel clocks. It is known that the longer the memory length of the path memory, the higher the accuracy of the decoded data, but the more likely the problem is that it is more susceptible to disk defects and the delay due to decoding increases. . In the present embodiment, the path memory length can be varied by the Viterbi adjustment unit 44 in order to enable suitable disk inspection, which will be described later.

エラー訂正器５４は、ビタビ復号器５２から出力されたデータを、エラー訂正しつつ復号し、訂正後の復号データおよびエラーレートを出力する主復号手段として機能するものである。より具体的には、エラー訂正器５４は、ビタビ復号器５２から出力された復号信号に対し、リードソロモン積符号方式を用いて、１６セクタから成る１ＥＣＣブロックを単位としてエラー訂正処理を行う。そして、エラー訂正器は、このエラー訂正処理で得られるエラーレートと、エラー訂正後の復号データを出力する。   The error corrector 54 functions as main decoding means for decoding the data output from the Viterbi decoder 52 while correcting the error, and outputting the corrected decoded data and error rate. More specifically, the error corrector 54 performs error correction processing on the decoded signal output from the Viterbi decoder 52 in units of 1 ECC block composed of 16 sectors using the Reed-Solomon product code method. The error corrector outputs the error rate obtained by the error correction process and the decoded data after error correction.

Ｓ／Ｎ比調整部４２は、上述した復号部４０に入力されるＲＦ信号のＳ／Ｎ比を劣化させるもので、ノイズを発生するノイズ発生器５６と、当該ノイズ発生器５６から出力されたノイズを復号部４０に入力されるＲＦ信号に加算する加算器５８と、から構成される。ここで、付加するノイズとしては、全ての強度で同じ強度を持つホワイトノイズなどを用いることができる。また、劣化度合いは、ＲＦ信号の振幅と、加算するノイズの振幅と、の比率を変更することで調整される。したがって、加算するノイズの振幅を変更して劣化度合いを調整してもよいし、逆に、ＲＦ信号の振幅を変更して劣化度合いを調整してもよい。   The S / N ratio adjustment unit 42 degrades the S / N ratio of the RF signal input to the decoding unit 40 described above. The noise generator 56 that generates noise and the noise generator 56 output the noise signal. And an adder 58 for adding noise to the RF signal input to the decoding unit 40. Here, as the noise to be added, white noise having the same intensity at all the intensity can be used. Further, the degree of deterioration is adjusted by changing the ratio between the amplitude of the RF signal and the amplitude of the noise to be added. Therefore, the degree of deterioration may be adjusted by changing the amplitude of noise to be added, and conversely, the degree of deterioration may be adjusted by changing the amplitude of the RF signal.

いずれにしても、このようにノイズを加算してＲＦ信号のＳ／Ｎ比を劣化させることで、エラーが検出されやすくなり、図３において例示した検査装置Ａのように、エラーレートがほぼゼロになるという現象を防止できる。その結果、復号部４０から出力されたエラーレートＬｎに何らかの補正を加え、基準の検査装置とほぼ同等のエラーレートを出力することが可能となる。このＳ／Ｎ比調整部４２で調整するＳ／Ｎ比の劣化度合い（加算するノイズ強度）は、検査装置で基準ディスクを検査した際に得られるエラーレートに基づいて設定されるが、これについては後述する。   In any case, by adding noise in this way and degrading the S / N ratio of the RF signal, an error is easily detected, and the error rate is almost zero as in the inspection apparatus A illustrated in FIG. The phenomenon of becoming can be prevented. As a result, it is possible to apply some correction to the error rate Ln output from the decoding unit 40 and output an error rate substantially equivalent to that of the reference inspection apparatus. The degree of deterioration of the S / N ratio adjusted by the S / N ratio adjustment unit 42 (noise intensity to be added) is set based on the error rate obtained when the reference disk is inspected by the inspection apparatus. Will be described later.

ビタビ調整部４４は、ビタビ復号器５２のエラー訂正能力を調整するものである。記述したように、ビタビ復号器５２は、チャンネルクロックのｎ個分のパスメモリを有しており、このパスメモリ長を調整することで復号データの確度が変わってくる。ビタビ調整部４４は、このパスメモリ長を変更するものである。このビタビ調整部４４で、パスメモリ長を長くすることにより、図３で例示した検査装置Ｂのように、早々にエラー検出限界を超える検査装置のエラー感度を下げることができる。また、逆に、パスメモリ長を短くすることにより、検査装置Ａのように、エラーが殆ど検出されないような検査装置のエラー感度を上げることができる。このビタビ調整部４４で調整するパスメモリ長の長さは、検査装置で基準ディスクを検査した際に得られるエラーレートに基づいて設定されるが、これについても後述する。   The Viterbi adjustment unit 44 adjusts the error correction capability of the Viterbi decoder 52. As described, the Viterbi decoder 52 has path memories for n channel clocks, and the accuracy of decoded data changes by adjusting the path memory length. The Viterbi adjustment unit 44 changes the path memory length. By increasing the path memory length with this Viterbi adjustment unit 44, the error sensitivity of an inspection apparatus that exceeds the error detection limit can be lowered quickly as in the inspection apparatus B illustrated in FIG. Conversely, by shortening the path memory length, it is possible to increase the error sensitivity of an inspection apparatus such as the inspection apparatus A that hardly detects errors. The length of the path memory length adjusted by the Viterbi adjustment unit 44 is set based on an error rate obtained when the reference disk is inspected by the inspection device, which will also be described later.

係数乗算部４６は、エラー訂正器から出力されたエラーレートＬｎに、所定の係数を乗算して補正する。この補正後のエラーレートＬｍが、当該検査装置での検査結果として取り扱われる。本実施形態では、一次関数Ｌｍ＝Ａ×Ｌｎを用いてエラーレートを補正する。ここで、Ｌｎは補正前のエラーレート、すなわちエラー訂正器５４から出力されるエラーレートであり、Ｌｍは補正後のエラーレート、すなわち、係数乗算部４６から出力され、当該検査装置での検査結果として取り扱われるエラーレートである。この一次関数における係数Ａ，Ｂの具体的数値も、検査装置で基準ディスクを検査した際に得られるエラーレートに基づいて設定されるが、これについても後述する。   The coefficient multiplier 46 multiplies the error rate Ln output from the error corrector by a predetermined coefficient to correct it. The corrected error rate Lm is handled as an inspection result in the inspection apparatus. In the present embodiment, the error rate is corrected using a linear function Lm = A × Ln. Here, Ln is the error rate before correction, that is, the error rate output from the error corrector 54, and Lm is the error rate after correction, that is, output from the coefficient multiplier 46, and the inspection result in the inspection apparatus. It is an error rate treated as. Specific numerical values of the coefficients A and B in the linear function are also set based on an error rate obtained when the reference disk is inspected by the inspection apparatus, which will be described later.

次に、このディスク検査装置１０のエラー感度を調整する流れについて説明する。図４は、エラー感度調整の流れを示すフローチャートである。エラー感度の調整処理は、ノイズ強度・メモリ長の調整処理（Ｓ１０）と、補正計数Ａ，Ｂの算出処理（Ｓ１２）と、に大別される。図５，６は、この各処理Ｓ１０，Ｓ１２の詳細な流れを示すフローチャートである。以下、この図５、図６を参照して、各処理の流れについて詳説する。   Next, a flow for adjusting the error sensitivity of the disk inspection apparatus 10 will be described. FIG. 4 is a flowchart showing the flow of error sensitivity adjustment. Error sensitivity adjustment processing is broadly divided into noise intensity / memory length adjustment processing (S10) and correction counts A and B calculation processing (S12). 5 and 6 are flowcharts showing the detailed flow of the processes S10 and S12. Hereinafter, the flow of each process will be described in detail with reference to FIGS.

はじめに図５を参照してノイズ強度・メモリ長の調整処理について説明する。この処理においては、調整対象の検査装置が、基準の検査装置のエラー閾値付近にエラー検出感度を持つように加算するノイズ強度と、ビタビ復号器５２のパスメモリ長を調整する。具体的には、特定のジッター値Ｇ１におけるエラーレートＬ１が規定の範囲に収まるようにする。ここで、特定のジッター値Ｇ１は、基準の検査装置で、基準エラーレートＫ１が測定されたジッター値である。エラー感度を調整する場合には、予め、基準の検査装置で、基準ディスクを測定し、この基準ジッター値Ｇ１の値を取得しておく。また、規定の範囲とは、後段に行う係数乗算により、基準検査装置と同等のエラー感度に調整可能な範囲である。すなわち、図３の検査装置Ａのように、エラーが殆ど検出されず、基準ジッター値Ｇ１におけるエラーレートＬ１がほぼゼロの状態では、後に如何なる係数を乗算しても、基準検査装置と同等のエラー感度を持たせることは難しい。逆に、図３の検査装置Ｂのように、基準ジッター値Ｇ１の段階で検出エラーが限界値を超えるような場合にも、後に如何なる係数を乗算しても、基準検査装置と同等のエラー感度を持たせることは難しい。そこで、本実施形態では、ＲＦ信号に加算するノイズ強度・ビタビ復号器５２で用いるパスメモリ長を調整して、復号部４０から出力されるエラーレートを後段に行う係数乗算により、基準検査装置と同等のエラー感度に補正可能な範囲にしている。   First, noise intensity / memory length adjustment processing will be described with reference to FIG. In this process, the inspection apparatus to be adjusted adjusts the noise intensity to be added so as to have an error detection sensitivity near the error threshold of the reference inspection apparatus, and the path memory length of the Viterbi decoder 52. Specifically, the error rate L1 at a specific jitter value G1 is set within a specified range. Here, the specific jitter value G1 is a jitter value obtained by measuring the reference error rate K1 with the reference inspection apparatus. When adjusting the error sensitivity, a reference disk is measured in advance with a reference inspection device, and the value of this reference jitter value G1 is acquired. The specified range is a range that can be adjusted to an error sensitivity equivalent to that of the reference inspection apparatus by coefficient multiplication performed in the subsequent stage. That is, as in the inspection apparatus A in FIG. 3, in the state where almost no error is detected and the error rate L1 at the reference jitter value G1 is almost zero, an error equivalent to that of the reference inspection apparatus can be obtained no matter what coefficient is multiplied later. It is difficult to give sensitivity. On the other hand, even when the detection error exceeds the limit value at the stage of the reference jitter value G1 as in the inspection apparatus B of FIG. 3, the error sensitivity equivalent to that of the reference inspection apparatus can be obtained by multiplying any coefficient later. It is difficult to have Therefore, in the present embodiment, the noise intensity to be added to the RF signal and the path memory length used in the Viterbi decoder 52 are adjusted, and the error rate output from the decoding unit 40 is multiplied by the coefficient multiplication that is performed in the subsequent stage. The range can be corrected to the same error sensitivity.

なお、本実施形態では、より好適な補正を可能にするために、調整対象の検査装置で、基準ディスクを検査した際に得られる基準ジッター値Ｇ１におけるエラーレートＬ１と、予め規定された基準エラーレートＫ１と、の差が最小になるように、ノイズ強度・パスメモリ長を設定している。以下、この処理の流れについて詳説する。   In the present embodiment, in order to enable more suitable correction, the error rate L1 in the reference jitter value G1 obtained when the reference disk is inspected by the inspection apparatus to be adjusted, and the reference error specified in advance. The noise intensity and path memory length are set so that the difference from the rate K1 is minimized. Hereinafter, the flow of this process will be described in detail.

ノイズ強度・メモリ長を調整する場合には、まず、パラメータｉ，ｊを初期化し、ｉ＝０、ｊ＝０に設定する（Ｓ１６）。続いて、ビタビ復号器５２で用いるパスメモリ長をＰｉに、また、ノイズ発生器５６で発生させるノイズの強度をＮｊに設定する（Ｓ１８，Ｓ２０）。この状態で、調整対象の検査装置で、基準ディスクの検査を行い、基準ジッター値Ｇ１におけるエラーレートＬｎｊを取得し、得られたエラーレートＬｎｊをメモリに格納する（Ｓ２２，Ｓ２４）。一つのエラーレートが得られれば、パラメータｊが最大値Ｊ以下か否かを確認する（Ｓ２６）。ｊ≦Ｊの場合には、パラメータｊをインクリメントしたうえで、ノイズ強度を新たな値Ｎｊに設定する（Ｓ２８，Ｓ２０）。そして、再度、基準ディスクを検査し、基準ジッター値Ｇ１におけるエラーレートＬｎｊを取得・記憶する（Ｓ２２，Ｓ２４）。この処理を、ｊ＞Ｊになるまで繰り返せば、続いて、パラメータｉが最大値Ｉ以下か否かを確認する（Ｓ３０）。ｉ≦Ｉの場合には、パラメータｉをインクリメントしたうえで、パスメモリ長を新たな値Ｐｉに設定する（Ｓ３２，Ｓ１８）。そして、ｉ＞Ｉになるまで、上述の処理を繰り返す。   When adjusting the noise intensity and the memory length, first, the parameters i and j are initialized, and i = 0 and j = 0 are set (S16). Subsequently, the path memory length used in the Viterbi decoder 52 is set to Pi, and the noise intensity generated by the noise generator 56 is set to Nj (S18, S20). In this state, the reference disk is inspected by the inspection apparatus to be adjusted, the error rate Lnj at the reference jitter value G1 is acquired, and the obtained error rate Lnj is stored in the memory (S22, S24). If one error rate is obtained, it is confirmed whether or not the parameter j is equal to or less than the maximum value J (S26). When j ≦ J, the parameter j is incremented and the noise intensity is set to a new value Nj (S28, S20). Then, the reference disk is inspected again, and the error rate Lnj at the reference jitter value G1 is acquired and stored (S22, S24). If this process is repeated until j> J, whether or not the parameter i is equal to or less than the maximum value I is checked (S30). If i ≦ I, the parameter i is incremented and the path memory length is set to a new value Pi (S32, S18). The above process is repeated until i> I.

全ての処理が完了すれば、（Ｉ＋１）×（Ｊ＋１）個のエラーレートＬｎｊが得られることになる。システムコントローラ３２は、メモリに格納されている、これらエラーレートＬｎｊのうち、基準エラーレートＫ１との誤差が最小のエラーレートＬｎｊを特定する（Ｓ３４）。そして、この特定されたエラーレートＬｎｊを取得した際のノイズ強度Ｎｊ、パスメモリ長Ｐｉを、それぞれ、当該検査装置で用いるノイズ強度およびパスメモリ長として、Ｓ／Ｎ比調整部４２およびビタビ調整部４４に設定する（Ｓ３４）。   When all the processes are completed, (I + 1) × (J + 1) error rates Lnj are obtained. The system controller 32 specifies the error rate Lnj having the smallest error from the reference error rate K1 among these error rates Lnj stored in the memory (S34). Then, the noise intensity Nj and the path memory length Pi when the specified error rate Lnj is acquired are set as the noise intensity and the path memory length used in the inspection apparatus, respectively, and the S / N ratio adjustment unit 42 and the Viterbi adjustment unit 44 is set (S34).

このようにノイズ強度・パスメモリ長を調整することで、検査装置で得られるエラーレートを、基準の検査装置のエラーレートに近づけることができる。その結果、ＯＰＵやデータ検出のハードウェアの交換や微調整を行わなくても、後に行う係数乗算での補正が可能になる。   By adjusting the noise intensity and the path memory length in this way, the error rate obtained by the inspection apparatus can be brought close to the error rate of the reference inspection apparatus. As a result, correction by subsequent coefficient multiplication can be performed without replacing or finely adjusting the OPU or data detection hardware.

図７は、このノイズ強度・メモリ長調整処理を検査装置Ａ，Ｂに施した結果を示すグラフである。図７において、白丸は、基準検査装置のエラーレートを、黒三角は検査装置Ａの調整前のエラーレートを、白三角は検査装置Ａの調整後のエラーレートを、黒四角は検査装置Ｂの調整前のエラーレートを、白四角は検査装置Ｂの調整後のエラーレートを、それぞれ示している。   FIG. 7 is a graph showing the results of applying the noise intensity / memory length adjustment processing to the inspection apparatuses A and B. In FIG. 7, the white circle indicates the error rate of the reference inspection device, the black triangle indicates the error rate before adjustment of the inspection device A, the white triangle indicates the error rate after adjustment of the inspection device A, and the black square indicates the error rate of the inspection device B. The error rate before adjustment and the white square indicate the error rate after adjustment of the inspection apparatus B, respectively.

この図７から明らかなように、ノイズ強度・メモリ長を調整することにより、調整前には、ほぼゼロであった検査装置Ａのエラーレートが、基準検査装置のエラーレートに近づいていることが分かる。また、同様に、調整前には、限界値を超えていた検査装置Ｂのエラーレートも、ノイズ強度・メモリ長を調整することで基準検査装置のエラーレートに近づいていることが分かる。   As is apparent from FIG. 7, by adjusting the noise intensity and the memory length, the error rate of the inspection apparatus A, which was almost zero before the adjustment, is approaching the error rate of the reference inspection apparatus. I understand. Similarly, it can be seen that the error rate of the inspection apparatus B that has exceeded the limit value before the adjustment approaches the error rate of the reference inspection apparatus by adjusting the noise intensity and the memory length.

なお、図５に示す処理を実行することにより、検査装置Ａのように、エラー感度が過度に低い検査装置の場合は、加算するノイズ強度は強くし、かつ、ビタビ復号器５２で用いるパスメモリ長は短く設定される。また、検査装置Ｂのように、エラー感度が過度に高い検査装置では、加算するノイズ強度はゼロに、かつ、ビタビ復号器５２で用いるパスメモリ長は長く設定される。   By executing the processing shown in FIG. 5, in the case of an inspection device having an extremely low error sensitivity, such as the inspection device A, the noise intensity to be added is increased and the path memory used by the Viterbi decoder 52 is used. The length is set short. In addition, in an inspection device with an excessively high error sensitivity, such as the inspection device B, the noise intensity to be added is set to zero and the path memory length used in the Viterbi decoder 52 is set to be long.

こうしたノイズ強度・メモリ長の調整処理が終了すれば、続いて、補正係数の算出・設定（Ｓ１２）が実行される。図６は、この補正係数算出・設定処理の詳細な流れを示すフローチャートである。係数乗算部４６で用いる補正係数Ａ，Ｂを算出する場合には、まず、調整対象の検査装置で、基準ディスクを検査し、基準ジッター値Ｇ１，Ｇ２におけるエラーレートＬ１，Ｌ２を取得する（Ｓ４０）。ここで、基準ジッター値Ｇ１，Ｇ２は、基準検査装置で基準ディスクを検査した際に、基準エラーレートＫ１，Ｋ２が測定されたジッター値である。   When such noise intensity / memory length adjustment processing is completed, correction coefficient calculation / setting (S12) is subsequently executed. FIG. 6 is a flowchart showing a detailed flow of the correction coefficient calculation / setting process. When calculating the correction coefficients A and B used in the coefficient multiplication unit 46, first, the reference disk is inspected by the inspection apparatus to be adjusted, and the error rates L1 and L2 in the reference jitter values G1 and G2 are acquired (S40). ). Here, the reference jitter values G1 and G2 are jitter values obtained by measuring the reference error rates K1 and K2 when the reference disk is inspected by the reference inspection device.

基準ジッター値Ｇ１，Ｇ２におけるエラーレートＬ１，Ｌ２が取得できれば、続いて、基準エラーレートＫ１，Ｋ２と、得られたエラーレートＬ１，Ｌ２を以下の式１，２に代入し、係数乗算部４６で用いる一次関数Ｌｍ＝Ａ×Ｌｎ＋Ｂの補正係数Ａ，Ｂを算出する（Ｓ４２）。

Figure 0005593526
If the error rates L1 and L2 at the reference jitter values G1 and G2 can be obtained, then the reference error rates K1 and K2 and the obtained error rates L1 and L2 are substituted into the following equations 1 and 2, and the coefficient multiplier 46 The correction coefficients A and B of the linear function Lm = A × Ln + B used in the above are calculated (S42).
Figure 0005593526

なお、この式１、式２は、次の連立方程式の解である。この式１，２により求めた補正係数Ａ，Ｂで測定エラーレートを補正することにより、基準ジッター値Ｇ１，Ｇ２における補正後のエラーレートが、基準エラーレートＫ１，Ｋ２と等しくなることになる。

Figure 0005593526
Equations 1 and 2 are solutions of the following simultaneous equations. By correcting the measurement error rate with the correction coefficients A and B obtained by the equations 1 and 2, the corrected error rate in the reference jitter values G1 and G2 becomes equal to the reference error rates K1 and K2.
Figure 0005593526

補正係数Ａ，Ｂの値が求まれば、システムコントローラ３２は、この得られた補正係数Ａ，Ｂを係数乗算部４６に設定する（Ｓ４４）。そして、以降は、この補正係数Ａ，Ｂで補正されたエラーレートが、当該検査装置での検査結果値として取り扱われることになる。   When the values of the correction coefficients A and B are obtained, the system controller 32 sets the obtained correction coefficients A and B in the coefficient multiplier 46 (S44). Thereafter, the error rate corrected by the correction coefficients A and B is handled as an inspection result value in the inspection apparatus.

なお、本実施形態では、補正後のエラーレートＬｍがマイナスになることを防止するために、エラーレートＬ１以下の測定値については、Ｌｍ＝（Ｋ１／Ｌ１）Ｌｎで補正する。また、エラーレートＬ１以上の測定値であっても、補正値Ｌｍがマイナスになった場合には、補正値をゼロに固定してもよい。   In the present embodiment, in order to prevent the corrected error rate Lm from becoming negative, the measurement value equal to or lower than the error rate L1 is corrected by Lm = (K1 / L1) Ln. Even if the measured value is equal to or higher than the error rate L1, the correction value may be fixed to zero when the correction value Lm becomes negative.

図８は、この係数乗算部４６で検査装置Ａを補正した結果を示すグラフである。図８において、白丸は基準検査装置でのエラーレートを、白三角は検査装置Ａの補正前のエラーレート（ノイズ加算、パスメモリ長調整のみがされた状態のエラーレート）を、実線は上述の一次関数で補正された検査装置Ａのエラーレートを、それぞれ示している。   FIG. 8 is a graph showing the result of correcting the inspection apparatus A by the coefficient multiplier 46. In FIG. 8, white circles indicate error rates in the reference inspection apparatus, white triangles indicate error rates before correction of the inspection apparatus A (error rates in a state where only noise addition and path memory length adjustment is performed), and solid lines indicate the above-described error rates. The error rates of the inspection apparatus A corrected with the linear function are respectively shown.

図８から明らかなとおり、一次関数で補正することにより、基準検査装置に比較的近い値のエラーレートを得られており、エラー感度が基準検査装置に近づいていることが分かる。その結果、本来、エラー感度が非常に低い検査装置Ａであっても、基準検査装置と同様のエラーレートを出力することができる。このように、係数乗算により補正を施すことにより、検査装置の出力を、基準検査装置に近づけることができ、装置ごとの検査結果のバラツキを低減できる。   As is apparent from FIG. 8, by correcting with a linear function, an error rate having a value relatively close to that of the reference inspection apparatus can be obtained, and it can be seen that the error sensitivity approaches the reference inspection apparatus. As a result, even if the inspection apparatus A originally has very low error sensitivity, it is possible to output an error rate similar to that of the reference inspection apparatus. Thus, by performing correction by coefficient multiplication, the output of the inspection apparatus can be brought close to the reference inspection apparatus, and variations in inspection results for each apparatus can be reduced.

なお、本実施形態では、一次関数を用いてエラーレートの補正を行っているが、より、多次の関数を用いてエラーレートの補正を行ってもよい。例えば、二次関数Ｌｍ＝Ａｘ2＋Ｂｘ＋Ｃを用いてエラーレートの補正を行ってもよい。ここで、ｘ＝Ｌｎ−Ｌ１、Ｂ＝Ｋ１／Ｌ１、Ｃ＝Ｋ１とし、二次関数にＬｍ＝Ｋ２、Ｌｎ＝Ｌ２を代入すると、
Ｋ２＝Ａ（Ｌ２−Ｌ１）2＋Ｂ（Ｌ２−Ｌ１）＋Ｋ１
となり、二次関数の係数Ａは、

Figure 0005593526
となる。なお、二次関数Ｌｍ＝Ａｘ2＋Ｂｘ＋Ｃを用いて補正を行う場合であっても、エラーレートＬ１以下の測定値は、Ｌｍ＝（Ｋ１／Ｌ１）Ｌｎで補正することが望ましい。 In this embodiment, the error rate is corrected using a linear function. However, the error rate may be corrected using a multi-order function. For example, the error rate may be corrected using a quadratic function Lm = Ax 2 + Bx + C. Here, when x = Ln−L1, B = K1 / L1, and C = K1, and substituting Lm = K2 and Ln = L2 into the quadratic function,
K2 = A (L2-L1) 2 + B (L2-L1) + K1
The coefficient A of the quadratic function is
Figure 0005593526
It becomes. Even when correction is performed using the quadratic function Lm = Ax 2 + Bx + C, it is desirable to correct the measurement value equal to or lower than the error rate L1 with Lm = (K1 / L1) Ln.

図８における破線は、検査装置Ａを、この二次関数で補正した結果を示している。この図８から明らかなとおり、二次関数を用いてエラーレートを補正することにより、補正後のエラーレートを、基準の検査装置のエラーレートに、より近づけることができる。その結果、装置ごとの検査結果のバラツキをより低減できる。   The broken line in FIG. 8 shows the result of correcting the inspection apparatus A with this quadratic function. As apparent from FIG. 8, by correcting the error rate using a quadratic function, the corrected error rate can be made closer to the error rate of the reference inspection apparatus. As a result, it is possible to further reduce variations in the inspection results for each apparatus.

以上の説明から明らかなとおり、本実施形態では、各検査装置ごとに、エラー感度を調整することができる。その結果、ＯＰＵやデータ検出のハードウェアによって微妙に変化するエラー感度の装置ごとの違いを吸収することができる。換言すれば、本実施形態によれば、エラー感度を調整するために、ＯＰＵやデータ検出のハードウェア等を交換や微調整する必要がなくなる。その結果、比較的簡易な操作で、検査結果のバラツキを低減できる。   As is apparent from the above description, in this embodiment, the error sensitivity can be adjusted for each inspection apparatus. As a result, it is possible to absorb the difference in error sensitivity of each device that slightly changes depending on the OPU and data detection hardware. In other words, according to this embodiment, it is not necessary to replace or fine-tune OPU, data detection hardware, or the like in order to adjust error sensitivity. As a result, variation in inspection results can be reduced with a relatively simple operation.

１０ ディスク検査装置、１２ スピンドルモータ、１６ 光ピックアップ、１８ スレッドモータ、１８ ＳＰドライバ、２０ ＳＬＤドライバ、２２ ＬＤドライバ、２５ ＡＣＴドライバ、２６ ＲＦ回路、２８ アドレスデコード回路、３０ サーボプロセッサ、３２ システムコントローラ、３６ 復号ユニット、４０ 復号部、４２ Ｓ／Ｎ比調整部、４４ ビタビ調整部、４６ 係数乗算部、４８ ＡＤ変換器、５０ 適応フィルタ、５２ ビタビ復号器、５４ エラー訂正器、５６ ノイズ発生器、５８ 加算器、１００ ディスク。   10 disk inspection device, 12 spindle motor, 16 optical pickup, 18 thread motor, 18 SP driver, 20 SLD driver, 22 LD driver, 25 ACT driver, 26 RF circuit, 28 address decoding circuit, 30 servo processor, 32 system controller, 36 decoding unit, 40 decoding unit, 42 S / N ratio adjusting unit, 44 Viterbi adjusting unit, 46 coefficient multiplying unit, 48 AD converter, 50 adaptive filter, 52 Viterbi decoder, 54 error corrector, 56 noise generator, 58 adders, 100 discs.

Claims (6)

ディスクを検査するディスク検査装置であって、
ディスクに再生用レーザ光を照射した際に得られる反射光の強度に基づいて、ＲＦ信号を取得するＲＦ信号取得手段と、
入力されたＲＦ信号をエラー訂正しつつ復号し、訂正後の復号データおよびエラーレートを出力する復号手段と、
前記ＲＦ信号取得手段により取得されるとともに復号手段に入力される前のＲＦ信号のＳ／Ｎ比を、品質が既知の基準ディスクを検査した際に前記復号手段から出力される特定のジッター値におけるエラーレートが規定の範囲内に収まるような値に劣化可能なＳ／Ｎ比調整手段と、
前記復号手段から出力されたエラーレートに対して係数を乗算し、当該係数乗算後のエラーレートを当該ディスク検査装置での検査結果として出力する係数乗算手段と、
を備え、前記係数は、前記基準ディスクを検査した際に特定のジッター値において得られるエラーレートが予め規定された基準値になるような値に調整可能であることを特徴とするディスク検査装置。 A disk inspection device for inspecting a disk,
RF signal acquisition means for acquiring an RF signal based on the intensity of reflected light obtained when the reproduction laser beam is irradiated onto the disk;
A decoding means for decoding the input RF signal while correcting the error, and outputting the corrected decoded data and error rate;
The S / N ratio of the RF signal acquired by the RF signal acquisition unit and before being input to the decoding unit is determined based on a specific jitter value output from the decoding unit when a reference disk having a known quality is inspected. S / N ratio adjusting means capable of deteriorating to a value such that the error rate falls within a specified range;
Coefficient multiplying means for multiplying the error rate output from the decoding means by a coefficient, and outputting the error rate after the coefficient multiplication as an inspection result in the disk inspection apparatus;
And the coefficient can be adjusted to a value such that an error rate obtained at a specific jitter value when the reference disk is inspected becomes a predetermined reference value. 請求項１に記載のディスク検査装置であって、
前記Ｓ／Ｎ比調整手段は、前記復号手段に入力される前のＲＦ信号に対して、ホワイトノイズを付加することで、Ｓ／Ｎ比を劣化させる、ことを特徴とするディスク検査装置。 The disk inspection apparatus according to claim 1,
The disk inspection apparatus, wherein the S / N ratio adjusting means degrades the S / N ratio by adding white noise to the RF signal before being input to the decoding means. 請求項１または２に記載のディスク検査装置であって、さらに、
前記Ｓ／Ｎ比調整手段は、前記復号手段に入力される前のＲＦ信号を、前記基準ディスクを検査した際に前記復号手段から出力される特定のジッター値におけるエラーレートと、予め規定された基準値と、の差が最小になるような値に劣化させる、ことを特徴とするディスク検査装置。 The disk inspection apparatus according to claim 1, further comprising:
The S / N ratio adjusting unit is preliminarily defined with an error rate at a specific jitter value output from the decoding unit when the reference disk is inspected for the RF signal before being input to the decoding unit. A disk inspection apparatus characterized by deteriorating to a value that minimizes a difference from a reference value. 請求項１から３のいずれか１項に記載のディスク検査装置であって、
前記復号手段は、
前記ノイズ付加後の信号に対してビタビ復号を行うビタビ復号手段と、
前記ビタビ復号手段から出力されたデータをエラー訂正しつつ復号し、訂正後の復号データおよびエラーレートを出力する主復号手段と、
を含み、さらに、
前記基準ディスクを検査した際に前記復号手段から出力される特定のジッター値におけるエラーレートが前記規定の範囲内に収まる値になるように、前記ビタビ復号手段のエラー訂正能力を調整可能なビタビ調整手段を備える、
ことを特徴とするディスク検査装置。 The disk inspection apparatus according to any one of claims 1 to 3,
The decoding means includes
Viterbi decoding means for performing Viterbi decoding on the signal after the addition of noise;
Main decoding means for decoding the data output from the Viterbi decoding means while correcting the error, and outputting the corrected decoded data and error rate;
Including,
Viterbi adjustment capable of adjusting the error correction capability of the Viterbi decoding means so that the error rate at a specific jitter value output from the decoding means when the reference disk is inspected is a value that falls within the specified range. With means,
A disk inspection apparatus characterized by that. 請求項４に記載のディスク検査装置であって、
前記ビタビ調整手段は、ビタビ訂正処理で用いるパスメモリのメモリ長を変化させることで訂正能力を調整する、ことを特徴とするディスク検査装置。 The disk inspection apparatus according to claim 4,
The disk inspection apparatus, wherein the Viterbi adjustment means adjusts the correction capability by changing a memory length of a path memory used in Viterbi correction processing. ディスクを再生した際に得られるＲＦ信号をエラーを訂正しつつ復号し、訂正後の復号データおよびエラーレートを出力する復号手段を備えたディスク検査装置の調整方法であって、
前記復号手段に入力されるＲＦ信号のＳ／Ｎ比を、品質が既知の基準ディスクを検査した際に前記復号手段から出力される特定のジッター値におけるエラーレートが規定の範囲内に収まる値に劣化させるＳ／Ｎ比調整ステップと、
前記復号手段から出力されたエラーレートに対して乗算される係数を、前記基準ディスクを検査した際に特定のジッター値において得られるエラーレートが予め規定された基準値になるような値に調整する係数調整ステップと、
を含むことを特徴とするディスク検査装置の調整方法。 An adjustment method of a disk inspection apparatus including a decoding unit that decodes an RF signal obtained when a disk is reproduced while correcting an error, and outputs corrected decoded data and an error rate,
The S / N ratio of the RF signal input to the decoding unit is set to a value that allows an error rate in a specific jitter value output from the decoding unit to fall within a specified range when a reference disk having a known quality is inspected. An S / N ratio adjustment step for deteriorating;
The coefficient multiplied by the error rate output from the decoding means is adjusted to a value such that an error rate obtained at a specific jitter value when the reference disk is inspected becomes a predetermined reference value. Coefficient adjustment step;
A method for adjusting a disk inspection apparatus, comprising:
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