JP5435895B2 - 画像形成装置及び制御方法 - Google Patents
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Description
図1は本実施例におけるマルチレーザービームを回転多面鏡により偏向し像担持体上に像を形成する場合の、副走査方向の露光量変動による濃度ムラを抑制するプリンタのブロック図である。各ブロックは、互いに情報の読み書きを可能な形態で接続されている。
Sspot=S(SQRT(2))−S(−SQRT(2))
=0.9213−0.0787
=0.8426
と容易に算出できる。
続いて、図2、図3を用いて、ポリゴン面特定手段111によるポリゴン面の特定方法の一例について説明する。図2は、例えば10面を有するポリゴン面のポリゴン面毎のBD周期をグラフ化したものであり、横軸にポリゴン面を、縦軸にBD周期時間をプロットしたものである。このグラフより、ポリゴン面数周期(ここでは10面毎)の周期性が読み取れる。ポリゴン面毎にBD時間がばらつくのは、面の機械的な精度によるもので、モータ制御などに起因する長周期のジッタを有するものの、ポリゴン固有の情報を有する。図22(b)に示す指標なしに、ポリゴン面を特定するには、ポリゴン面数周期のポリゴン面毎の周期時間変動の特徴を利用する。ポリゴン面毎の周期は、長周期のジッタが重畳され、全体にBD周期時間は揺らいでいる。長周期のジッタの原因は、温度変動、電圧変動などがあり、これにより、BD周期は常に長周期の揺らぎを持っている。これに、ポリゴン面精度による、ポリゴン一周周期の揺らぎが重畳される。よって、ポリゴン面毎のBD時間差で評価したほうが、ポリゴン面毎の特徴量を抽出しやすい。本実施例では、前のポリゴン面のBD周期との差分値をとることで、前記長周期のジッタ分は差し引かれ、ポリゴン面周期の特徴を抽出する事ができる。この差分値とともに、ずれ量を記憶してもいいが、ここでは、差分値を積算し積算差分とし、積算差分の平均値を差し引く事で、BD周期の特徴量を抽出した。平均値を差し引く理由は、積算差分の平均値分のオフセットを持っているので、積算差分のオフセットを取り除くためである。(積算差分)−(平均)は、図2のグラフに対応し、図3では、この値が一番小さいものを1面ポリゴン((1))とした。(積算差分)−(平均)の算出結果において、値の小さい候補が複数個ある場合でも、特徴量として、(積算差分)−(平均)をLUTに記憶しているので、参照比較すれば、対応をとることは容易である。このLUTには、BD周期の特徴量である(積算差分)−(平均)とともに、工程等で測定したポリゴン面毎の絶対ずれ量が記憶されている。特徴量を抽出する事により、1面ポリゴン((1))を特定でき、ポリゴン面数カウンタ(10面の場合は、10進カウンタ)を用いる事により、どのポリゴン面であるかを特定できる。ポリゴン面毎の絶対ずれ量がLUT内に記憶されているので、特定されたポリゴン面とそのポリゴン面との絶対ずれ量の対応は容易に可能である。図3において、〇印で示したように、(積算差分)−(平均)とともに絶対ずれ量を記憶する方法を説明したが、△印で示すように、差分とともに1面ポリゴン((1))を基準にした副走査方向のずれ量を記憶しても構わない。ポリゴン面を切り替えて、次々に走査する走査露光系では、絶対位置は特に意味をなさないからである。隣の面との相対的なずれ量として記憶しても何ら差し支え無い。また特徴量をアナログ的な時間として記憶する例を示したが、例えば、差分値がマイナスの時には11、差分値がプラスの時には00、変わらない時には01などとコードで記憶するなどの数々の変形は可能である。すなわち、本実施例では、ポリゴン面毎のBD周期に起因する特徴量とともに、副走査ずれ量を記憶する事により、容易にポリゴン面と副走査ずれ量の対応が可能であることを示した。尚、本実施形態は上述のポリゴン面特定方法に限定されるものではなく、図22(a)に示す指標を用いたポリゴン面特定方法を採用しても良い。
続いて、副走査方向の露光量変動が、注目主走査ラインから連続して露光される複数の主走査ラインの露光影響に基づくものであることを具体的に説明する。ここで注目主走査ラインから連続して露光される複数の主走査ラインとは、現在走査(注目)している主走査ライン(注目主走査ライン)の次に描かれる主走査ライン、更にその次に描かれる主走査ライン等を指す。また、現在走査してい注目主走査ラインの前に描かれた主走査ライン或いはその更に前に描かれた主走査ライン等のことを指しても良い。図5は、例えば1200dpi(副走査ピッチ21.2μm)、スポット径70μmの副走査位置ずれが無い場合の、走査ラインごとの露光量を算出したものである。S0は、現在描画している走査ラインの露光量であり、S1mは一ライン前のライン、S2mは二ライン前のライン、S1pは一ライン後のライン、S2pは二ライン後のラインの露光量を示す。図5(a)は分布図で、図5(b)は算出結果である。露光量の算出には、図4のガウス分布のσ−面積対応表を使用する。
S0=S(0.4276)−S(−0.4276)
=0.3311
と計算でき、同様に
S1m=S(−0.4276)−S(−1.2828)=0.2347
S1p=S(1.2828)−S(0.4276)=0.2347
S2m=S(−1.2828)−S(−2.138)=0.0835
S2p=S(2.138)−S(1.2828)=0.0835
と計算できる。
よって、例えば1200dpi(副走査ピッチ21.2μm)、スポット径70μmの場合、現在描画しているラインの隣のラインに約23%、隣の隣のラインに約8%露光(露光影響)していることが分かる。
σ=2*2*SQRT(2)/70=0.0808に相当するので、
S0=S(0.4276+0.0808)−S(−0.4276+0.0808)
=0.3301
と計算でき、同様に
S1m=S(−0.3468)−S(−1.2020)=0.2497
S1p=S(1.3636)−S(0.5084)=0.2119
S2m=S(−1.2020)−S(−2.057)=0.0949
S2p=S(2.2188)−S(1.3636)=0.0731
と計算できる。副走査位置がマイナス側にずれているので、前のライン側に露光量がシフトしているのが分かる。
ここで、図7にヒトの視覚感度特性を示す。図7(a)において、横軸は視野角あたりの濃淡縞の本数、縦軸は視覚感度の相対値で最大1.0で正規化したグラフである(ここで、濃淡縞のひとつのパターンで1本とカウントする)。つまり、ヒトの視覚感度は、視野1度あたり5〜6本の濃淡縞に対して一番感度が高く、それより空間周波数が低くても感度は鈍り、それより空間周波数が高くても感度が鈍ることが分かる。次に、図7(b)に実際にプリントしたときのラインピッチと視覚感度特性を示す。
図13は、本実施例のフローチャートであり、エンジンコントローラ123のCPU121、或いは外部に設けられた別のCPU、或いはそれらCPUとその他のハードウェアが協働することが実行される。本フローチャートを用いてポリゴン面と複数ビーム毎の副走査ずれ量から、各々のポリゴン面と複数ビーム毎の輝度量(露光量)を算出する方法の一例を説明する。
実施例では、
Sp=50(μm)
P=2400(dpi)
l=4(ビーム)
n=12(面)
N=4(ビーム)*12(面)=48(Line)
Kl=1.3(倍)
Ke=0.02
Ks=2.0
とする。ここで、輝度量補正係数制限値Klは、輝度量補正係数が1.3倍もしくは、1/Kl=0.77を超えると補正輝度量が適正にできないと判断して、例外処理として、処理を打ち切るか、補正量を制限値に張り付ける処理をするためのものである。輝度量誤差適正判断指数Keは、たとえば、副走査ピッチごとの輝度量の変動幅がKe=0.02(2%)以内に算出されれば、補正係数が適正であると判断し処理を終了するための判断指数である。輝度量変動を抑えたい場合は、輝度量誤差適正判断指数Keの値を小さくすれば良い。輝度量考慮指数Ksは、標準偏差σを|σ|≦2.0まで露光量を考慮するというもので、この場合スポット径のSQRT(2)=1.414倍まで考慮することになる。
50*1.414=70.71(μm)であり、副走査ピッチは、25.4/2400*1000=10.6(μm)であるので、
z=roundup(70.71/10.6,0)=roundup(6.67,0)=7(個)で、7個のラインを考慮すればよいことがわかる。つまり、現在描画しているラインと前後のライン、前々後のライン、及び前々々後のラインの露光量を考慮して露光量を算出すればよいことがわかる。
SumS(1)=x(46)*S3m(46)+x(47)*S2m(47)+x(48)*S1m(48)+x(1)*S0(1)+x(2)*S1p(2)+x(3)*S2p(3)+x(4)*S3p(4)・・・・・1ライン目によるSumSの式
SumS(2)=x(47)*S3m(47)+x(48)*S2m(48)+x(1)*S1m(1)+x(2)*S0(2)+x(3)*S1p(3)+x(4)*S2p(4)+x(5)*S3p(5)・・・・・2ライン目によるSumSの式
SumS(3)=x(48)*S3m(48)+x(1)*S2m(1)+x(2)*S1m(2)+x(3)*S0(3)+x(4)*S1p(4)+x(5)*S2p(5)+x(6)*S3p(6)・・・・・3ライン目によるSumSの式
・・・・
SumS(48)=x(45)*S3m(45)+x(46)*S2m(46)+x(47)*S1m(47)+x(48)*S0(48)+x(1)*S1p(1)+x(2)*S2p(2)+x(3)*S3p(3)・・・・・48ライン目によるSumSの式
という四十八元一次方程式ができる。この式の中で、S3m(N)、S2m(N)、S1m(N)、S0(N)、S1p(N)、S2p(N)、S3p(N)の7*48個の露光量に関しては、スポット径と分解能とずれ量の関係から算出可能な既知数である。ここで、SumS(1)〜(48)を線で結ぶ或いは近似することで、例えば、図10(a)に示される総露光量の波を得ることが出来る。実際には、この図10(a)に示される総露光量の波に含まれる、視覚感度において人間に敏感な、低周波成分の総露光量ムラが濃度ムラ(所謂バンディング)となってあらわれる。一方、図中で細かい波として示される高周波成分の波は人間の視覚特性として鈍感な露光量ムラとなってあらわれる。本実施例では副走査方向の露光量変動における高周波成分が抑えられた或いは除かれた低周波成分の露光量変動を抑制するよう露光量を補正する。より具体的には、低周波成分の総露光量ムラを抽出し一定/略一定に露光制御することで、効率よく濃度ムラを抑止/抑制することが出来る。
尚、実施例1では、面毎の輝度量を同一量/略同一量として処理を行う。そこで、
x(1)=x(2)=x(3)=x(4)
x(5)=x(6)=x(7)=x(8)
・・・
x(45)=x(46)=x(47)=x(48)
と置くこととする。なお、マルチレーザービームの輝度量を面毎に同一量/略同一量に必ずしもする必要はなく、各レーザービームの輝度量を個別に調整しても良い。この場合x(1)〜x(48)を異なる値として四十八元一次方程式を扱うことになる。
LPFS(1)=(SumS(46)+SumS(47)+SumS(48)+SumS(1))/4
LPFS(2)=(SumS(47)+SumS(48)+SumS(1)+SumS(2))/4
・・・
LPFS(48)=(SumS(45)+SumS(46)+SumS(47)+SumS(48))/4
という四十八元一次方程式ができる。ここで、LPFS(1)〜(48)を線で結ぶ或いは近似することで、例えば図10(a)に示される総露光量(4ライン平均)の線を得ることが出来る。図10(a)に示される補正後の露光量変動における高周波成分の振幅は、補正後の露光量変動における低周波成分の露光量変動の振幅よりも大きい。場合によっては、n倍(nは2以上の整数)以上大きい。これは、補正前の露光量変動における高周波成分の振幅が、感光ドラム14におけるレーザービームの主走査ライン間隔の変動に起因する濃度ムラを抑制する為の、直接的な制御対象となっていないからである。
さらに、最適解算出終了の判断をするための指標Er=Max(LPFS(1:48))−min(LPFS(1:48))とおき、副走査ピッチごとの露光量(移動平均)の最大値と露光量(移動平均)の最小値の差をErに代入する式を立てる。
一方、図10(b)は、本発明人が特願2006−299387の提案により補正した場合の副走査方向の総露光量を示した図である。図10(b)によれば、4ライン移動平均化処理した副走査総露光量も、4ライン移動平均化処理を施さない副走査総露光量も平坦な一定露光量となり、より確実な補正ができていることがわかる。しかしながら、ひとつひとつのビームの露光補正量を見てみると、ビームDとビームAは輝度量が相対的に大きく、ビームCとビームBは輝度量が相対的に小さい事が分かる。これは、ビームC−D間、及びビームB−A間に較べ、ビームB−C間が狭いために、その副走査ずれ量を忠実に補正したためである。補正方法としては適切であるが、補正のためのコストを考えると適切ではない。つまり、ひとつひとつのビームの輝度量の補正量を大きく変動させなければならなく、また、精度よく補正するためには分解能も高くしなければならず、補正のためのレーザーユニットのコストが増大するという欠点がある。
上述の実施例において、面毎の輝度量を可変(面内の4つのビームの輝度量は同一)として、4ライン移動平均化処理を施した総露光量が略一定/一定となる実施例を示した。本実施例2では、面毎の輝度量、及び4つのビームの輝度量を可変として、これを前提に、4ライン移動平均化処理を施した総露光量が略一定/一定となる実施例を示す。
図14(a)は、実施例2における、輝度量補正値(輝度情報)が、面毎、且つ、マルチレーザービームにおけるビーム毎に記憶されている。図14(b)は本実施例の露光量補正様子を示す図である。図14(a)に示したように、ひとつひとつのビームの分解能は、0.01きざみに落とし、各輝度量は面毎、ビーム毎に変動させる構成とした。輝度量補正方法としては、誤差拡散法などが適用可能である。つまり、輝度量の補正分解能を落としても、前後のビームの輝度量で補正分解能の誤差分を補うという方法である。本実施例2では、輝度量の補正分解能を落としても、4つのビームの輝度量を同一にしない構成とすることで、実施例1と同様に4ライン移動平均化処理を施した低周波成分の総露光量が略一定/一定とすることが出来る。これにより、実施例1と同様、ヒトの視覚感度の敏感な空間周波数の濃淡むらをレーザーユニット61のコスト削減し効率的に補正することが出来る。
上述の各実施例では、単純な複数ライン移動平均で平均化処理を行ったが、本実施例では、FIRディジタルローパスフィルタの特性をヒトの視覚感度に似せて処理する例を示す。
本実施例3では、単純な移動平均ではなく、ヒトの視覚感度に似せたローパスフィルタを適用し、そのローパスフィルタ出力の総露光量が略一定/一定となる補正法を適用した。図16(a)は、6段FIRフィルタの構成例であり、図16(b)は、6段FIRフィルタのフィルタ特性を距離286mm離した時のヒトの視覚感度の特性と重ね、表示したものである。図16(c)は、各ポイントでの比較表である。
本実施例3では、副走査分解能のピッチごとの総露光量を略一定にするのではなく、ヒトの視覚感度に似せたローパスフィルタ後の総露光量が略一定となるようにポリゴン面、各ビームの計30ラインに相当する露光量を補正する。図17は、総露光量とローパスフィルタ後の総露光量を、ポリゴン面一周分、つまり30ライン分プロットしたものである。図17(a)は、本実施例、図17(b)は、本発明人が提案した特願2006−299387号公報を適用した例、図17(c)は何も補正しなかった場合の例である。図17(a)では、補正後の露光量変動における高周波成分の振幅は、補正後の露光量変動における低周波成分の露光量変動の振幅よりも大きい。場合によっては、n倍(nは2以上の整数)以上大きい。これは、補正前の露光量変動における高周波成分の振幅が、感光ドラム14におけるレーザービームの主走査ライン間隔の変動に起因する濃度ムラを抑制する為の、直接的な制御対象となっていないからである。また、図17(c)の場合には、レーザビームの主走査ライン間隔が理想値よりも狭いか、或いは広いかに起因する露光量変動が見られる。そして、この図17(c)に見られる、低周波成分の露光量変動が、バンディング等の濃度ムラ抑制における制御対象となる。
上述の各実施形態では、2400dpi、4ビーム、12面ポリゴン光学系を用いた場合、1200dpi、6ビーム、5面ポリゴンの光学系を用いた場合等を例示してきた。しかしこれに限定されるものものではない。本発明は、レーザービーム数が、5ビーム、6ビーム、8ビームなどの複数レーザービームでも、もちろん適用可能である。また、ポリゴン面数も、6面、8面、10面などの面数でも、もちろん適用可能であり、分解能(解像度)が、4800dpi、2400dpi、1200dpi、600dpiでももちろん適用可能である。実施例4では、4800dpi、2400dpi、1200dpi、600dpiについて、それぞれ1例づつ示す。
図20(a)は、4800dpi、5面、8ビームの場合を示し、図20(b)は、2400dpi、10面、5ビームの場合を示し、図20(c)は、1200dpi、6面、6ビームの場合を示し、図20(d)は、600dpi、8面、4ビームの場合を示す。ポリゴン面一周のライン数は、ポリゴン面数と同時書き込みビーム数の積のライン数に相当し、それぞれ、40ライン、50ライン、36ライン、32ラインとなる。ポリゴン面一周のピッチは、それぞれ、0.212mm、0.529mm、0.762mm、1.355mmとなり、ポリゴン面一周の周波数は前記周期の逆数になる。286mm目から離した時の視覚感度は、それぞれ、0.176、0.838、0.982、0.937となる。表の一番最初の行は以上のように、ポリゴン面一周周期の周波数と視覚感度を算定することができる。次行以降は、ポリゴン面数と同時書き込みビーム数の積の約数を次々に代入して算定した数字である。つまり、ポリゴン面一周周期を基準の周波数として整数倍の周波数を全て表したものである。これは、ポリゴン面の面倒れ、複数レーザービームによる位置ずれがランダムに発生したと仮定した場合、とりうる全ての周波数を列挙したことになる。さて、この表を完成させると全ての視覚感度が算定される。本実施例では、ヒトの視覚感度が鈍くなる6[Line/mm]を超えるものは、視覚感度が0.076以下となり濃淡の弁別が不可能になるので、これ以上の周波数の濃度補正は必要ないとする。図20では、灰色で示した。図20において、それぞれ、40ライン周期、25ライン周期、9ライン周期、4ライン周期まで補正を行なえばよい。補正の算出方法は、上述の実施例で説明した算出方法が適用可能である。
5 ポリゴンミラー
7 ビーム検出器(BD)
8 露光手段
9 副走査ずれ量検出手段
10 転写ベルト
14 感光ドラム
20 濃度変動検出手段
101 副走査ずれ量検出手段
102 露光量設定手段
103 ポリゴン面数カウンタ
104 目標露光量設定手段
110 補正輝度量算出手段
111 ポリゴン面特定手段
112 輝度量算出用LUT
113 低周波成分抽出手段
124 補正輝度量記憶手段
Claims (8)
- レーザービームを出射する発光手段と、複数の反射面を備え、前記発光手段により発光されるレーザービームを偏向する回転多面鏡と、前記回転多面鏡により偏向されるレーザービームにより像を形成する像担持体と、前記レーザービームを回転多面鏡により偏向し像担持体上に像を形成する際の、前記像担持体上におけるレーザービームの走査ライン間隔の変動に起因する副走査方向に関する露光量のばらつきによる濃度ムラを抑制するよう露光量を補正する露光量補正手段と、を有する画像形成装置であって、
前記露光量補正手段は、第1走査ラインに対応する反射面による前記第1走査ラインの露光量と、前記第1走査ラインの隣で前記第1走査ラインの一ライン前の第2走査ラインに対応する反射面による前記第1走査ラインの露光量と、前記第2走査ラインの隣で前記第1走査ラインの二ライン前の第3走査ラインに対応する反射面による前記第1走査ラインの露光量と、前記第3走査ラインの隣で前記第1走査ラインの三ライン前の第4走査ラインに対応する反射面による前記第1走査ラインの露光量と、前記第1走査ラインの隣で前記第1走査ラインの一ライン後の第5走査ラインに対応する反射面による前記第1走査ラインの露光量と、前記第5走査ラインの隣で前記第1走査ラインの二ライン後の第6走査ラインに対応する反射面による前記第1走査ラインの露光量と、前記第6走査ラインの隣で前記第1走査ラインの三ライン後の第7走査ラインに対応する反射面による前記第1走査ラインの露光量と、の和によって算出される注目した前記第1走査ラインの露光量に基づき得られる前記副走査方向に関する露光量のばらつきのうち、高周波成分の露光量のばらつきを抑える或いは除くフィルタ処理を行って得られた低周波成分の露光量のばらつきを抑制するよう露光量を補正することを特徴とする画像形成装置。 - 前記露光量補正手段は、複数の走査ラインの露光量を平均化した露光量のみが一定又は略一定となるように走査ライン毎に発光手段の輝度を補正することで露光量を補正することを特徴とする請求項1に記載の画像形成装置。
- 前記フィルタ処理はローパスフィルタによる処理であり、前記低周波成分の露光量のばらつきは、ローパスフィルタの出力に基づくものであることを特徴とする請求項1又は2に記載の画像形成装置。
- レーザービームを出射する発光手段と、複数の反射面を備え、前記発光手段により発光されるレーザービームを偏向する回転多面鏡と、前記回転多面鏡により偏向されるレーザービームにより像を形成する像担持体と、前記レーザービームを回転多面鏡により偏向し像担持体上に像を形成する際の、前記像担持体上におけるレーザービームの走査ライン間隔の変動に起因する副走査方向に関する露光量のばらつきによる濃度ムラを抑制するよう露光量を補正する露光量補正手段と、を有する画像形成装置であって、
前記露光量補正手段は、第1走査ラインに対応する反射面による前記第1走査ラインの露光量と、前記第1走査ラインの隣で前記第1走査ラインの一ライン前の第2走査ラインに対応する反射面による前記第1走査ラインの露光量と、前記第2走査ラインの隣で前記第1走査ラインの二ライン前の第3走査ラインに対応する反射面による前記第1走査ラインの露光量と、前記第3走査ラインの隣で前記第1走査ラインの三ライン前の第4走査ラインに対応する反射面による前記第1走査ラインの露光量と、前記第1走査ラインの隣で前記第1走査ラインの一ライン後の第5走査ラインに対応する反射面による前記第1走査ラインの露光量と、前記第5走査ラインの隣で前記第1走査ラインの二ライン後の第6走査ラインに対応する反射面による前記第1走査ラインの露光量と、前記第6走査ラインの隣で前記第1走査ラインの三ライン後の第7走査ラインに対応する反射面による前記第1走査ラインの露光量と、の和によって注目した前記第1走査ラインの露光量を算出し、副走査方向に関する露光量のばらつきのうち高周波成分の振幅よりも低周波成分の振幅が小さくなるよう、前記注目した前記第1走査ラインの露光量に基づいて複数の走査ラインの露光量を平均化した露光量を一定又は略一定とするように露光量を補正することを特徴とする画像形成装置。 - 前記低周波成分の露光量のばらつきを抑制するためのレーザービームの輝度情報を記憶する記憶手段を有し、
前記露光量補正手段は、前記記憶手段に記憶された輝度情報に基づいて露光量を補正することを特徴とする請求項1乃至4の何れか一項に記載の画像形成装置。 - 前記発光手段は複数のレーザービームを出射し、前記輝度情報は、前記回転多面鏡の反射面毎、且つ、前記複数のレーザービームにおけるビーム毎に前記記憶手段に記憶されていることを特徴とする請求項5に記載の画像形成装置。
- レーザービームを出射する発光手段と、複数の反射面を備え、前記発光手段により発光されるレーザービームを偏向する回転多面鏡と、前記回転多面鏡により偏向されるレーザービームにより像を形成する像担持体と、を有し、
前記レーザービームを回転多面鏡により偏向し像担持体上に像を形成する際の、前記像担持体上におけるレーザービームの走査ライン間隔の変動に起因する副走査方向に関する露光量のばらつきによる濃度ムラを抑制する画像形成装置の制御方法であって、
第1走査ラインに対応する反射面による前記第1走査ラインの露光量と、前記第1走査ラインの隣で前記第1走査ラインの一ライン前の第2走査ラインに対応する反射面による前記第1走査ラインの露光量と、前記第2走査ラインの隣で前記第1走査ラインの二ライン前の第3走査ラインに対応する反射面による前記第1走査ラインの露光量と、前記第3走査ラインの隣で前記第1走査ラインの三ライン前の第4走査ラインに対応する反射面による前記第1走査ラインの露光量と、前記第1走査ラインの隣で前記第1走査ラインの一ライン後の第5走査ラインに対応する反射面による前記第1走査ラインの露光量と、前記第5走査ラインの隣で前記第1走査ラインの二ライン後の第6走査ラインに対応する反射面による前記第1走査ラインの露光量と、前記第6走査ラインの隣で前記第1走査ラインの三ライン後の第7走査ラインに対応する反射面による前記第1走査ラインの露光量と、の和によって算出される注目した前記第1走査ラインの露光量に基づき得られる前記副走査方向に関する露光量のばらつきのうち、高周波成分の露光量のばらつきを抑える或いは除くフィルタ処理を行う工程と、前記フィルタ処理により得られた低周波成分の露光量のばらつきを抑制するよう露光量を補正する工程と、を有することを特徴とする制御方法。 - レーザービームを出射する発光手段と、複数の反射面を備え、前記発光手段により発光されるレーザービームを偏向する回転多面鏡と、前記回転多面鏡により偏向されるレーザービームにより像を形成する像担持体と、を有し、
前記レーザービームを回転多面鏡により偏向し像担持体上に像を形成する際の、前記像担持体上におけるレーザービームの走査ライン間隔の変動に起因する副走査方向に関する露光量のばらつきによる濃度ムラを抑制する画像形成装置の制御方法であって、
第1走査ラインに対応する反射面による前記第1走査ラインの露光量と、前記第1走査ラインの隣で前記第1走査ラインの一ライン前の第2走査ラインに対応する反射面による前記第1走査ラインの露光量と、前記第2走査ラインの隣で前記第1走査ラインの二ライン前の第3走査ラインに対応する反射面による前記第1走査ラインの露光量と、前記第3走査ラインの隣で前記第1走査ラインの三ライン前の第4走査ラインに対応する反射面による前記第1走査ラインの露光量と、前記第1走査ラインの隣で前記第1走査ラインの一ライン後の第5走査ラインに対応する反射面による前記第1走査ラインの露光量と、前記第5走査ラインの隣で前記第1走査ラインの二ライン後の第6走査ラインに対応する反射面による前記第1走査ラインの露光量と、前記第6走査ラインの隣で前記第1走査ラインの三ライン後の第7走査ラインに対応する反射面による前記第1走査ラインの露光量と、の和によって注目した前記第1走査ラインの露光量を算出する工程と、前記注目した前記第1走査ラインの露光量に基づいて複数の走査ラインの露光量を平均化した露光量のみが一定又は略一定となるように露光量を補正する工程とを有する制御方法。
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