JP5301191B2 - 光断層画像化装置および断層画像取得方法 - Google Patents
光断層画像化装置および断層画像取得方法 Download PDFInfo
- Publication number
- JP5301191B2 JP5301191B2 JP2008093712A JP2008093712A JP5301191B2 JP 5301191 B2 JP5301191 B2 JP 5301191B2 JP 2008093712 A JP2008093712 A JP 2008093712A JP 2008093712 A JP2008093712 A JP 2008093712A JP 5301191 B2 JP5301191 B2 JP 5301191B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- unit
- optical
- reference position
- path length
- tomographic image
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 title claims abstract description 439
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 title claims abstract description 63
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims abstract description 41
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 249
- 239000000523 sample Substances 0.000 claims description 106
- 239000013307 optical fiber Substances 0.000 claims description 90
- 238000012545 processing Methods 0.000 claims description 82
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 23
- 239000002131 composite material Substances 0.000 claims 4
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 claims 1
- 238000003325 tomography Methods 0.000 claims 1
- 230000008859 change Effects 0.000 abstract description 5
- 238000010408 sweeping Methods 0.000 abstract description 2
- 230000004304 visual acuity Effects 0.000 abstract 1
- 238000012014 optical coherence tomography Methods 0.000 description 17
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 12
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 12
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 10
- 238000012937 correction Methods 0.000 description 9
- 230000007246 mechanism Effects 0.000 description 8
- 230000008569 process Effects 0.000 description 7
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 description 5
- 230000003595 spectral effect Effects 0.000 description 3
- 230000002194 synthesizing effect Effects 0.000 description 3
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 2
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 1
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 1
- 238000003745 diagnosis Methods 0.000 description 1
- 210000003238 esophagus Anatomy 0.000 description 1
- 239000000835 fiber Substances 0.000 description 1
- 239000012634 fragment Substances 0.000 description 1
- 230000006870 function Effects 0.000 description 1
- 238000009499 grossing Methods 0.000 description 1
- 238000003702 image correction Methods 0.000 description 1
- 238000005305 interferometry Methods 0.000 description 1
- 238000013507 mapping Methods 0.000 description 1
- 239000000463 material Substances 0.000 description 1
- 238000000691 measurement method Methods 0.000 description 1
- 230000000704 physical effect Effects 0.000 description 1
- 230000004044 response Effects 0.000 description 1
- 210000001525 retina Anatomy 0.000 description 1
- 238000001228 spectrum Methods 0.000 description 1
- 210000002784 stomach Anatomy 0.000 description 1
- 208000024891 symptom Diseases 0.000 description 1
- 238000003786 synthesis reaction Methods 0.000 description 1
- 239000012780 transparent material Substances 0.000 description 1
Images
Landscapes
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
Description
このOCT計測は、光干渉計測の一種であり、光源から射出された光を測定光と参照光との2つに分け、測定光と参照光との光路長が光源のコヒーレンス長以内の範囲で一致したときにのみ光干渉が検出されることを利用した計測方法である。
この技術は、参照光路を段階的に変化させて複数回に分けてOCT画像を収集することで、1回の測定では測定不能な範囲にわたるOCT画像を得ようとするものである。
しかし、1回の測定で測定可能な範囲内であっても、低コヒーレンス光の特徴から、干渉強度はゼロパス位置から遠くなる程、干渉強度が小さくなり、画像が劣化するという課題がある。例えば医療診断画像の場合、診断対象部位やその状況によって、測定関心領域の深度が異なるが、測定関心領域がゼロパス位置から遠かった場合、十分な画質が得られない場合もある。
また、前記断層画像取得処理部は、前記第1基準位置に基づく断層画像と前記第2基準位置に基づく断層画像とをそれらの縮尺を合わせて合成して前記合成断層画像を取得するのが好ましい。
さらに、測定部位毎に予め設定された前記第2基準位置のパラメータを保持するパラメータ記憶部を有し、前記制御部は、入力された測定部位情報に応じて前記パラメータ記憶部から前記第2基準位置のパラメータを読み出して、読み出した前記パラメータに応じて前記光路長切替部を切り替えるのが好ましい。
また、前記光路長切替部は、前記光路長調整部の光路長調整手段を移動させて、複数の光路長に光路を切り替えるのが好ましい。
また、前記断層画像取得処理部が、前記第1基準位置に基づく断層画像と前記第2基準位置に基づく断層画像とをそれらの縮尺を合わせて合成して前記合成断層画像を取得するのが好ましい。
また、本発明の一態様では、ゼロパス位置を測定可能範囲の内側と外側とに切り替えて測定することにより得られた画像を合成することにより、測定可能範囲の全体について高解像な画像を得ることができる。
まず、光学レンズ62の1回転あたりの測定回数は、光学レンズ62の回転速度と、測定光L1の周波数を掃引させる周期とから決定される。光学レンズ62の回転、および、干渉信号の取得回数、すなわち測定光L1の掃引の周期は一定とすると、測定光L1による測定位置は、光学レンズ62の回転軸を中心として所定角度ずつ移動していく。
I(k)=∫0 ∞S(l)[1+cos(kl)]dl
で表される。ここで、kは波数、lは光路長差である。上式は波数k=ω/cを変数とする光周波数領域のインターフェログラムとして与えられていると考えることができる。このため、断層情報生成手段86において、干渉光検出部20で検出したスペクトル干渉縞に高速フーリエ変換を施し、干渉光L4の光強度S(l)を決定することにより、測定対象Sの測定開始位置からの距離情報と反射強度情報とを取得し、断層画像を生成することができる。
光断層画像化装置10では、測定に先立ち、まず、ゼロパス位置の初期設定が行われる。ゼロパス位置の設定は、制御部32が光路長調整部18を制御することにより行う。制御部32は、ミラー移動機構72を駆動して、基台70を矢印A方向に移動させることにより、測定可能領域内に測定対象Sが位置し、かつ、ゼロパス位置が測定対象Sの手前側(内側)となるように、光路長を調整して、ゼロパス位置を設定する。
上述の第1実施形態および第2実施形態では、関心領域に応じて、手前側(内側)にゼロパス位置を設定して取得した断層画像と、奥側(外側)にゼロパス位置を設定して取得した断層画像とが、それぞれ得られた。そして、そのようにして得た画像は、図5(A)および(B)を用いて説明したように、ゼロパス位置に近い領域については高解像で、ゼロパス位置から遠い領域についてはそれよりも低解像な画像となっていた。
本実施形態では、ゼロパス位置を測定領域の内側と外側に切り替え可能な本発明の光断層画像化装置において、光プローブ16が測定対象Sから離れているときは、自動的に内側の第1ゼロパス位置に切り替えて、測定対象Sの表面付近がよく見えるようにする。
接触情報取得手段84は、A/D変換手段82でデジタル信号に変換された干渉信号を用い、光プローブ16の、測定光L1が透過する位置におけるプローブ外筒52の外表面の位置と、プローブ外筒52に最も近い測定対象Sの表面の位置とを検出して、それらの距離から、プローブ外筒52と測定対象Sとの接触状態を検出する。
まず、任意の1ライン分の干渉信号にFFT処理を行って取得した、周波数成分と干渉強度との関係の情報において、その周波数成分を、深さ方向(回転中心から離れる方向)の情報に置き換えることで、深さ方向と強度との関係の情報を取得する。
まず、上述したプローブ外筒52の外周面の位置の検出と同様に、1ライン分の干渉信号にFFT処理を行い、深さ方向と干渉強度の情報を取得する。これにより、図12のようなグラフが得られる。
上述の例では、ゼロパス位置を手前側(内側)に切り替えることとしたが、制御部32は、接触情報取得手段84からの接触情報に基づいて、ゼロパス位置を、最も近い測定対象Sの表面に合わせるように、光路長切替部34を調整してもよい。この場合は、接触情報として、プローブ外筒52と測定対象Sとの接触領域の有無の情報に加え、測定対象Sの位置(深さ)の情報も、接触情報取得手段84から制御部32に出力する。また、光路長切替部34は、第1ゼロパス位置を任意の位置に設定できる構成とする。
12 光源ユニット
14 分岐合波部
16 光プローブ
18 光路長調整部
20 干渉光検出部
22、22A、22B 処理部
24 表示部
26 回転駆動部
28 光ファイバカプラ
30a、30b 検出部
32 制御部
34 光路長切替部
36 操作部
38 パラメータ記憶部
40 半導体光増幅器
42 光分岐器
44 コリメータレンズ
46 回折格子素子
48 光学系
50 回転多面鏡(ポリゴンミラー)
52 プローブ外筒(シース)
54 キャップ
56 光ファイバ
58 フレキシブルシャフト
60 固定部材(スリーブ)
62 光学レンズ
64 第1光学レンズ
66 第2光学レンズ
68 反射ミラー
70 基台
72 ミラー駆動機構
80 干渉信号取得手段
82 A/D変換手段
84 接触状態検出手段
86 断層情報生成手段
87 画像合成手段
88 画質補正手段
S 測定対象
Claims (18)
- 波長掃引光源と、
前記波長掃引光源から射出された光を測定光と参照光に分岐する分岐部と、
前記分岐部からの前記測定光を測定対象に照射するとともに、その測定対象からの反射光を取得する測定部を、外筒に内包する光プローブと、
前記参照光の光路長を調整することにより、測定深度方向の第1基準位置を測定範囲の内縁部に設定する光路長調整部と、
前記第1基準位置に対して測定深度が所定量異なり測定範囲の外縁部となる第2基準位置を与える光路長が予め設定されており、前記光路長調整部によって調整された前記参照光の光路長または前記反射光の光路長を変更して、前記第1基準位置と前記第2基準位置とを切り替える光路長切替部と、
前記光路長調整部および前記光路長切替部を制御する制御部と、
前記光路長調整部および前記光路長切替部の下流側に配置され、前記測定部で取得された反射光と前記参照光とを合波して干渉光を生成する合波部と、
前記合波部で生成された前記干渉光を干渉信号として検出する干渉光検出部と、
前記干渉光検出部で検出された前記干渉信号から断層画像を取得する断層画像取得処理部とを有し、
前記制御部は、前記測定部による測定中に、前記光路長切替部に前記第1基準位置と前記第2基準位置とを切り替えさせ、
前記断層画像取得処理部は、同一の測定対象について、前記光路長切替部によって切り替えられた前記第1基準位置と前記第2基準位置との両方に基づく2つの断層画像をそれぞれ取得し、取得された前記2つの断層画像を合成して合成断層画像を取得する光断層画像化装置。 - 前記制御部は、前記測定部による測定中に、前記測定部の回転走査周期または平面走査周期と同期させて、前記光路長切替部に前記第1基準位置と前記第2基準位置とを切り替えさせ、
前記断層画像取得処理部は、前記第1基準位置に基づく断層画像の全部または前記第1基準位置側の部分と、前記第2基準位置に基づく断層画像の全部または前記第2基準位置側の部分とを合成して前記合成断層画像を取得する請求項1に記載の光断層画像化装置。 - 前記断層画像取得処理部は、前記第1基準位置に基づく断層画像と前記第2基準位置に基づく断層画像とをそれらの縮尺を合わせて合成して前記合成断層画像を取得する請求項1又は2に記載の光断層画像化装置。
- 前記光路長切替部は、前記第2基準位置を与える光路長として、複数の光路長を有する請求項1〜3のいずれか1項に記載の光断層画像化装置。
- さらに、測定部位毎に予め設定された前記第2基準位置のパラメータを保持するパラメータ記憶部を有し、
前記制御部は、入力された測定部位情報に応じて前記パラメータ記憶部から前記第2基準位置のパラメータを読み出して、読み出した前記パラメータに応じて前記光路長切替部を切り替える請求項4に記載の光断層画像化装置。 - 前記パラメータ記憶部は、1の測定部位情報について前記パラメータを複数有し、
前記制御部は、入力された指示情報に応じて、前記第2基準位置のパラメータを読み出して、読み出した前記パラメータに応じて前記光路長切替部を切り替える請求項5に記載の光断層画像化装置。 - 前記断層画像取得処理部は、前記光プローブの先端と測定対象との距離を検出する検出部を有し、
前記制御部は、前記断層画像取得処理部が検出した前記光プローブの先端と測定対象との距離が所定距離以上あるときは、前記光路長切替部を前記第1基準位置に対応する光路に切り替える請求項1〜6のいずれか1項に記載の光断層画像化装置。 - 前記制御部は、前記断層画像取得処理部が検出した前記光プローブの先端と測定対象との距離が所定距離以上あるときに、前記測定範囲の内縁部に最も近い測定対象の表面に前記第1基準位置を合わせるように、前記光路長切替部または光路長調整部を調整する請求項7に記載の光断層画像化装置。
- 前記光プローブは、前記測定部と、前記測定部への前記測定光および前記測定部からの前記反射光を伝達する光ファイバとを回転させる駆動部を有し、
前記断層画像取得処理部は、前記測定部の回転に対応する円形の二次元断層画像を得るものであり、かつ、前記第1基準位置の調整量、および、調整後の前記第1基準位置と調整前の前記第1基準位置について得られる断層画像の中心との距離から、前記調整後の前記第1基準位置に基づいて得られた断層画像を補正する請求項8に記載の光断層画像化装置。 - 前記光路長切替部は、長さの異なる複数の光路と、前記複数の光路を切り替える切替手段とを有する請求項1〜9のいずれか1項に記載の光断層画像化装置。
- 前記光路長切替部は、前記光路長調整部の光路長調整手段を移動させて、複数の光路長に光路を切り替える請求項1〜9のいずれか1項に記載の光断層画像化装置。
- 請求項1に記載の光断層画像化装置における断層画像取得方法であって、
前記制御部が、前記測定部による測定中に、前記光路長切替部に前記第1基準位置と前記第2基準位置とを切り替えさせ、
前記断層画像取得処理部が、同一の測定対象について、前記第1基準位置および前記第2基準位置の両方に基づく2つの断層画像をそれぞれ取得し、取得された前記2つの断層画像を合成して合成断層画像を取得する断層画像取得方法。 - 前記制御部が、前記測定部による測定中に、前記測定部の回転走査周期または平面走査周期と同期させて、前記光路長切替部に前記第1基準位置と前記第2基準位置とを切り替えさせ、
前記断層画像取得処理部が、前記第1基準位置に基づく断層画像の前記第1基準位置側の部分と、前記第2基準位置に基づく断層画像の前記第2基準位置側の部分とを合成して前記合成断層画像を取得する請求項12に記載の断層画像取得方法。 - 前記断層画像取得処理部が、前記第1基準位置に基づく断層画像と前記第2基準位置に基づく断層画像とをそれらの縮尺を合わせて合成して前記合成断層画像を取得する請求項12又は13に記載の断層画像取得方法。
- 請求項5に記載の光断層画像化装置における断層画像取得方法であって、
測定部位情報が入力されることにより、前記制御部が、前記パラメータ記憶部から前記第2基準位置のパラメータを読み出して、読み出した前記パラメータに応じて前記光路長切替部を切り替える断層画像取得方法。 - 請求項7に記載の光断層画像化装置における断層画像取得方法であって、
測定関心領域に応じて前記第1基準位置および前記第2基準位置の一方が選択された場合に、前記光路長切替部が、選択された一方の基準位置に切り替えて、
前記断層画像取得処理部が、切り替えられた前記一方の基準位置に基づく断層画像を取得するに際し、
前記断層画像取得処理部が、前記光プローブの先端と測定対象との距離を検出し、
検出した前記光プローブの先端と測定対象との距離が所定距離以上あるときは、前記制御部が、前記光路長切替部に前記第1基準位置を自動で選択させる断層画像取得方法。 - 検出した前記光プローブの先端と測定対象との距離が所定距離以上あるときは、前記測定範囲の内縁部に最も近い測定対象の表面に前記第1基準位置を合わせるように、前記制御部が、前記光路長調整部を調整する請求項16に記載の断層画像取得方法。
- 前記断層画像取得処理部が、前記測定部の回転に対応する円形の二次元断層画像を得る場合において、前記第1基準位置の調整量、および、調整後の前記第1基準位置と調整前の前記第1基準位置について得られる断層画像の中心との距離から、前記調整後の前記第1基準位置に基づいて得られた断層画像を補正して、調整前の前記第1基準位置について得られる断層画像と同様の画像を生成する請求項17に記載の断層画像取得方法。
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2008093712A JP5301191B2 (ja) | 2008-03-31 | 2008-03-31 | 光断層画像化装置および断層画像取得方法 |
US12/414,371 US8125645B2 (en) | 2008-03-31 | 2009-03-30 | Optical tomographic imaging system, tomographic image acquiring method, and optical tomographic image forming method |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2008093712A JP5301191B2 (ja) | 2008-03-31 | 2008-03-31 | 光断層画像化装置および断層画像取得方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2009244207A JP2009244207A (ja) | 2009-10-22 |
JP5301191B2 true JP5301191B2 (ja) | 2013-09-25 |
Family
ID=41306250
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2008093712A Active JP5301191B2 (ja) | 2008-03-31 | 2008-03-31 | 光断層画像化装置および断層画像取得方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP5301191B2 (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US8999882B2 (en) | 2006-11-20 | 2015-04-07 | Shell Oil Company | Process for treating a carrier, a process for preparing a catalyst, the catalyst, and use of the catalyst |
JP7289541B2 (ja) | 2018-10-09 | 2023-06-12 | Orbray株式会社 | ロボットハンド |
Families Citing this family (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP5301193B2 (ja) * | 2008-03-31 | 2013-09-25 | 富士フイルム株式会社 | 光断層画像形成方法および光断層画像化装置 |
ES2384795B2 (es) * | 2010-12-13 | 2013-01-29 | Medlumics, S.L. | Píldora electrónica gastrointestinal. |
JP5690193B2 (ja) * | 2011-04-18 | 2015-03-25 | 株式会社ニデック | 光断層像撮影装置 |
CA2836790C (en) * | 2011-05-31 | 2019-04-23 | Desmond Adler | Multimodal imaging system, apparatus, and methods |
JP6021384B2 (ja) | 2012-03-30 | 2016-11-09 | キヤノン株式会社 | 光干渉断層撮影装置及び制御方法 |
KR20240027147A (ko) | 2021-08-30 | 2024-02-29 | 미쓰비시덴키 가부시키가이샤 | 광 측정 장치 |
Family Cites Families (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH11148897A (ja) * | 1997-11-14 | 1999-06-02 | Olympus Optical Co Ltd | 光イメージング装置 |
JP4471163B2 (ja) * | 2004-09-30 | 2010-06-02 | 富士フイルム株式会社 | 光断層画像取得装置 |
JP2006132995A (ja) * | 2004-11-02 | 2006-05-25 | Shiyoufuu:Kk | 光コヒーレンストモグラフィー装置および計測ヘッド |
JP2007101262A (ja) * | 2005-09-30 | 2007-04-19 | Fujifilm Corp | 光断層画像化装置 |
JP2008008698A (ja) * | 2006-06-28 | 2008-01-17 | Fujifilm Corp | 光学特性検査装置および検査方法 |
JP2008070350A (ja) * | 2006-08-15 | 2008-03-27 | Fujifilm Corp | 光断層画像化装置 |
JP2008070349A (ja) * | 2006-08-15 | 2008-03-27 | Fujifilm Corp | 光断層画像化装置 |
-
2008
- 2008-03-31 JP JP2008093712A patent/JP5301191B2/ja active Active
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US8999882B2 (en) | 2006-11-20 | 2015-04-07 | Shell Oil Company | Process for treating a carrier, a process for preparing a catalyst, the catalyst, and use of the catalyst |
JP7289541B2 (ja) | 2018-10-09 | 2023-06-12 | Orbray株式会社 | ロボットハンド |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2009244207A (ja) | 2009-10-22 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US8125645B2 (en) | Optical tomographic imaging system, tomographic image acquiring method, and optical tomographic image forming method | |
JP5301191B2 (ja) | 光断層画像化装置および断層画像取得方法 | |
JP5064159B2 (ja) | 光断層画像化装置 | |
EP1685795B1 (en) | Apparatus for acquiring tomographic image formed by ultrasound-modulated fluorescence | |
JP5129562B2 (ja) | 光断層画像化方法およびシステム | |
JP4577504B2 (ja) | 画像診断装置 | |
JP4895277B2 (ja) | 光断層画像化装置 | |
US9131840B2 (en) | Optical coherence tomographic imaging apparatus and tomographic imaging method | |
JP2008253492A (ja) | 断層画像処理方法および装置ならびにプログラム | |
JP4640813B2 (ja) | 光プローブおよび光断層画像化装置 | |
JP5069585B2 (ja) | 光プローブを用いた光断層画像化装置 | |
JP2007101268A (ja) | 光断層画像化装置 | |
JP2007135947A (ja) | 光プローブおよび光断層画像化装置 | |
JP5022845B2 (ja) | 光断層画像化装置 | |
JP2007101263A (ja) | 光断層画像化装置 | |
JP2009162639A (ja) | 光断層画像化システム | |
JP5373485B2 (ja) | Oct装置及びその干渉信号レベル制御方法 | |
JP6685673B2 (ja) | 撮像装置 | |
JP5301193B2 (ja) | 光断層画像形成方法および光断層画像化装置 | |
JP2015102537A (ja) | 光干渉断層計 | |
JP2009172118A (ja) | Oct用光プローブおよび光断層画像化装置 | |
JP5429447B2 (ja) | 光断層画像測定装置 | |
JP4874906B2 (ja) | 光断層画像取得方法及び光断層画像化装置 | |
JP2006215006A (ja) | 光断層画像化装置 | |
JP2007101267A (ja) | 光断層画像化装置 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20100628 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20120327 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20120904 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20121102 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20130528 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20130619 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 5301191 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
S111 | Request for change of ownership or part of ownership |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313113 |
|
R350 | Written notification of registration of transfer |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350 |
|
RD03 | Notification of appointment of power of attorney |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R3D03 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |