JP5219405B2 - 補正値決定装置、補正値決定方法、及び、光学走査装置 - Google Patents
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Description
トランジスタ29aと29bは、スイッチング信号によって、それぞれレーザダイオード8aと抵抗31を駆動する。
I27 = V27/R27 ・・・(1)
ILD = 40×V27/R27+IB ・・・(2)
一方、オペアンプ32の非反転入力端子の電圧が電圧V27と等しい場合に、電流ILDが電流IBまで低減したとすると、次式(3)が成り立つ。
I33 = V33/R33 = 40×V27/R27 ・・・(3)
従って、本実施形態においては、R33 = R27/40 を満たすような抵抗33と抵抗27を用いることによって、0V〜DAC基準信号端子電圧における電圧の変化と、供給電流の変化とを対応させている。
k = (PX/2)/(PX−PY) ・・・(4)
即ち、係数kは、式(4)に示すように、第1の測定手段による照度PXと期待照度PS(PX/2)との差と、第1の測定手段による照度PXと第2の測定手段による照度PYとの差の比を表している。
設定電流値=P/FFh×補正値+(FFh−P)・・・(5)
ここで、「FFh」とは16進数表記であり、10進数表記の「255」を表している。また、光量62%を所望する場合には、「P」は16進数表記「9Eh」(255×0.62=158=9Eh)として計算される。
設定電流値=9Eh/FFh×1C+(FFh−9Eh)=72h・・・(6)
式(6)によって算出された「72h」は、0〜FFhにおける44.7%を表す(「72h」は10進数表記で「114」であり、0〜255の44.7%を示している)。
2 レーザ駆動部
3 制御部
4 画像制御部
5 メモリ
6 レーザ駆動回路
7 EEPROM
8 半導体レーザ
8a レーザダイオード
8b フォトダイオード
9 光量調整可変抵抗
11 コリメートレンズ
12 シリドリカルレンズ
13 回転多面鏡
14 スキャナモータユニット
15 fθレンズ
16 反射ミラー
17 感光ドラム
18 ビーム検出センサ
21 基準電圧生成回路
22 光量制御回路
23 コンデンサ
24、26、32 オペアンプ
25、28a、28b、29a、29b、30 トランジスタ
28 カレントミラー回路
29 電流ドライバ
27、31、33 抵抗
34 出力選択回路
35 差動レシーバ
36 バイアス電流生成回路
40 測定ユニット
41 光学ユニット
42 測定用フォトダイオード
43 光学駆動部
44 支持部
45 照度測定用制御部
46 APD制御部
47 AD部
48 電流制御部
Claims (7)
- 画像信号に基づいて供給される駆動電流により駆動される半導体レーザから出射されるレーザ光を偏向手段によって偏向し、前記偏向手段によって偏向されたレーザ光を光学部材を介して感光体上に導き、当該レーザ光によって前記感光体を走査することにより前記感光体上に静電潜像を形成する光学走査装置における前記レーザ光が前記感光体を走査する走査方向における露光位置ごとに前記レーザ光の照度を補正するための、前記駆動電流の補正量を決定する補正値決定装置であって、
前記偏向手段によって偏向されたレーザ光を前記光学部材を介して受光する受光部と、
前記レーザ光の走査線上の基準点について、第1の値の前記駆動電流で前記半導体レーザを駆動した際のレーザ光の照度を前記受光部において基準値として測定し、前記基準点と相異なる着目点について、前記第1の値の駆動電流で前記半導体レーザを駆動した際のレーザ光の照度を前記受光部において第1の測定値として測定し、前記着目点について、第2の値の前記駆動電流で前記半導体レーザを駆動した際のレーザ光の照度を前記受光部において第2の測定値として測定する測定手段と、
前記第1の値に対する前記第2の値の割合を前記着目点における前記第1の測定値に乗算して得られた期待照度と、前記第1の測定値と前記第2の測定値との差と、に基づいて、前記第1の測定値と前記基準値との差を量子化した値を較正し、較正した値を前記着目点における補正値として保存する補正値決定手段と、
を備えることを特徴とする補正値決定装置。 - 前記補正値決定手段は、前記第1の測定値と前記期待照度との差を、前記第1の測定値と前記第2の測定値との差によって除算することによって補正係数を算出し、前記補正係数を前記第1の測定値と前記基準値との差を量子化した値に乗算することによって前記補正値を算出することを特徴とする請求項1に記載の補正値決定装置。
- 前記測定手段は前記走査線上の複数の点を着目点としてレーザ光の照度を測定し、前記補正値決定手段は測定された複数の点について補正値を決定することを特徴とする請求項1または2に記載の補正値決定装置。
- 前記レーザ光の走査線上において、測定される照度が最も低い点を前記基準点とすることを特徴とする請求項1に記載の補正値決定装置。
- 前記補正値決定手段は、複数の点の間における照度を、少なくとも相隣接する点における前記第1の測定値および前記第2の測定値に基づいて補間し、補間した点について補正値を求めて保存することを特徴とする請求項3に記載の補正値決定装置。
- 画像信号に基づいて供給される駆動電流により駆動される半導体レーザから出射されるレーザ光を偏向手段によって偏向し、前記偏向手段によって偏向されたレーザ光を光学部材を介して感光体上に導き、当該レーザ光によって前記感光体を走査することにより前記感光体上に静電潜像を形成する光学走査装置における、前記レーザ光が前記感光体を走査する走査方向における露光位置ごとに前記レーザ光の照度を補正するための、前記駆動電流の補正量を決定する補正値決定方法であって、
前記偏向手段によって偏向されたレーザ光を前記光学部材を介して受光する受光部において、前記レーザ光の走査線上の基準点について、第1の値の前記駆動電流で前記半導体レーザを駆動した際のレーザ光の照度を基準値として測定し、前記基準点と相異なる着目点について、前記第1の値の駆動電流で前記半導体レーザを駆動した際のレーザ光の照度を第1の測定値として測定し、前記着目点について、第2の値の前記駆動電流で前記半導体レーザを駆動した際のレーザ光の照度を第2の測定値として測定する測定工程と、
前記第1の値に対する前記第2の値の割合を前記着目点における前記第1の測定値に乗算して得られた期待照度と、前記第1の測定値と前記第2の測定値との差と、に基づいて、前記第1の測定値と前記基準値との差を量子化した値を較正し、較正した値を前記着目点における補正値として保存する補正値決定工程と、
を備えることを特徴とする補正値決定方法。 - 画像信号により変調された供給電流により駆動される半導体レーザから出射されるレーザにより像担持体を露光し、走査する光学走査装置であって、
請求項6に記載の補正値決定方法により得られた補正値を、前記レーザ光の走査線上における各点ごとに保存する補正値保存手段と、
前記レーザ光の走査する位置に応じた補正値により、前記半導体レーザの供給電流を補正する補正手段と、
前記補正手段により補正された供給電流で前記半導体レーザを駆動する駆動手段と、
を備えることを特徴とする光学走査装置。
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JP2007137013A JP5219405B2 (ja) | 2007-05-23 | 2007-05-23 | 補正値決定装置、補正値決定方法、及び、光学走査装置 |
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