JP5161630B2 - 検査方法 - Google Patents
検査方法 Download PDFInfo
- Publication number
- JP5161630B2 JP5161630B2 JP2008089530A JP2008089530A JP5161630B2 JP 5161630 B2 JP5161630 B2 JP 5161630B2 JP 2008089530 A JP2008089530 A JP 2008089530A JP 2008089530 A JP2008089530 A JP 2008089530A JP 5161630 B2 JP5161630 B2 JP 5161630B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- surface temperature
- temperature data
- inspection object
- defect
- scanning
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
Images
Landscapes
- Investigating Or Analyzing Materials Using Thermal Means (AREA)
Description
前記加熱手段で前記検査対象物の表面を加熱せずに、前記赤外線検出手段で前記検査対象物の表面温度を計測して、加熱前の第1の表面温度データを得る第1の走査を行い、
この第1の表面温度データに応じて、温度の高い走査位置では前記加熱手段の出力を下げ、温度の低い走査位置では前記加熱手段の出力を上げるように前記加熱手段の出力を変化させつつ、前記加熱手段で前記検査対象物の表面を加熱しながら、この検査対象物の表面温度を前記赤外線検出手段で計測して、加熱後の第2の表面温度データを得る第2の走査を行うことを特徴とする。
図1は本発明の参考例1及び実施の形態例に係る検査方法を実施するための検査装置の概要を示す図、図2は前記検査方法の説明図であって、(a)には信号処理内容のイメージ図を示し、(b)には信号処理内容を示す波形図を示す。
図3(a)は従来の検査方法であって欠陥(亀裂等)が比較的浅い場合の説明図、図3(b)は本発明の参考例2に係る検査方法であって欠陥(亀裂等)が比較的浅い場合の説明図である。また、図4(a)は従来の検査方法であって欠陥(亀裂等)が比較的深い場合の説明図、図4(b)は本発明の参考例2に係る検査方法であって欠陥(亀裂等)が比較的深い場合の説明図である。
図5は本発明の参考例3に係る検査方法の説明図であって、(a)にはマーカーの設置状態の図を示し、(b)には波形図を示す。
2 レーザー
2a レーザービーム
3 信号処理装置
4 検査対象物
4a 表面
5a,5b 反射ミラー
6 欠陥(亀裂等)
7,8 欠陥(亀裂等)の縁部
Claims (1)
- 赤外線検出手段と加熱手段とを用いて検査対象物の表面上を走査することにより、前記検査対象物の表面近傍を検査する検査方法において、
前記加熱手段で前記検査対象物の表面を加熱せずに、前記赤外線検出手段で前記検査対象物の表面温度を計測して、加熱前の第1の表面温度データを得る第1の走査を行い、
この第1の表面温度データに応じて、温度の高い走査位置では前記加熱手段の出力を下げ、温度の低い走査位置では前記加熱手段の出力を上げるように前記加熱手段の出力を変化させつつ、前記加熱手段で前記検査対象物の表面を加熱しながら、この検査対象物の表面温度を前記赤外線検出手段で計測して、加熱後の第2の表面温度データを得る第2の走査を行うことを特徴とする検査方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2008089530A JP5161630B2 (ja) | 2008-03-31 | 2008-03-31 | 検査方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2008089530A JP5161630B2 (ja) | 2008-03-31 | 2008-03-31 | 検査方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2009244021A JP2009244021A (ja) | 2009-10-22 |
JP5161630B2 true JP5161630B2 (ja) | 2013-03-13 |
Family
ID=41306090
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2008089530A Expired - Fee Related JP5161630B2 (ja) | 2008-03-31 | 2008-03-31 | 検査方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP5161630B2 (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN106198731A (zh) * | 2016-07-19 | 2016-12-07 | 中国人民解放军装甲兵工程学院 | 喷涂层下的基体疲劳裂纹识别方法 |
Families Citing this family (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2015064311A (ja) * | 2013-09-26 | 2015-04-09 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | 赤外線検査装置および赤外線検査方法 |
FR3020678B1 (fr) * | 2014-04-30 | 2021-06-25 | Areva Np | Procede d'examen photothermique et ensemble d'examen correspondant |
JP6304880B2 (ja) | 2014-06-17 | 2018-04-04 | 株式会社Ihi | 非破壊検査装置 |
Family Cites Families (11)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS63255650A (ja) * | 1987-04-13 | 1988-10-21 | Mitsubishi Heavy Ind Ltd | 高温容器の内壁部の異常検知装置 |
JP2944248B2 (ja) * | 1991-05-07 | 1999-08-30 | 株式会社東芝 | 表層欠陥の検出装置 |
JPH0510902A (ja) * | 1991-06-28 | 1993-01-19 | Nippon Steel Corp | 表面欠陥検出方法 |
JP2653288B2 (ja) * | 1991-10-15 | 1997-09-17 | 三菱電機株式会社 | 赤外線探傷装置 |
JPH05142171A (ja) * | 1991-11-25 | 1993-06-08 | Mitsubishi Electric Corp | 誘導加熱疵検出装置 |
JPH05288699A (ja) * | 1992-04-14 | 1993-11-02 | Mitsubishi Electric Corp | 赤外線探傷装置 |
JP2002296014A (ja) * | 2001-03-30 | 2002-10-09 | Anritsu Corp | プリント基板検査装置 |
JP2003075381A (ja) * | 2001-09-04 | 2003-03-12 | Nippon Steel Corp | 金属帯の欠陥検出装置、方法、コンピュータプログラム、及びコンピュータ読み取り可能な記憶媒体 |
JP4024050B2 (ja) * | 2002-02-05 | 2007-12-19 | 日産自動車株式会社 | 赤外線サーモグラフィによる欠陥検査用塗料 |
JP2006337230A (ja) * | 2005-06-03 | 2006-12-14 | Penta Ocean Constr Co Ltd | コンクリート構造物の非破壊検査方法 |
JP4613141B2 (ja) * | 2006-03-29 | 2011-01-12 | 日本無線株式会社 | 地中探査装置 |
-
2008
- 2008-03-31 JP JP2008089530A patent/JP5161630B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN106198731A (zh) * | 2016-07-19 | 2016-12-07 | 中国人民解放军装甲兵工程学院 | 喷涂层下的基体疲劳裂纹识别方法 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2009244021A (ja) | 2009-10-22 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP5028494B2 (ja) | 材料接合部の自動試験方法 | |
JP6301951B2 (ja) | サーモグラフィを用いた試料の検査方法およびシステム | |
RU2549913C2 (ru) | Термографический способ контроля и контрольная установка для осуществления способа | |
US8306308B2 (en) | Method for optically detecting surface defect of round wire rod | |
RU2650449C1 (ru) | Устройство и способ ультразвуковой дефектоскопии | |
JP5161630B2 (ja) | 検査方法 | |
KR20100054783A (ko) | 열류 서모그래피를 이용한 용접 이음매의 자동 검사 방법 | |
JP2007024674A (ja) | 表面・表層検査装置、及び表面・表層検査方法 | |
US20230135790A1 (en) | Defect detection method, defect detection device, and additive manufacturing device | |
JP2013213733A (ja) | 検査対象物の検査装置およびその検査方法 | |
Broberg et al. | Comparison of NDT–methods for automatic inspection of weld defects | |
JP2010054502A (ja) | 熱交換器のチューブ抽出検査方法及び装置 | |
JP2007203322A (ja) | 突合せ溶接部の良否検出方法および装置 | |
JP4707506B2 (ja) | 構造部材のき裂検出方法 | |
JP2000230926A (ja) | 欠陥検査方法及び装置 | |
JP3822587B2 (ja) | 超音波検査において光学測定器を使用する形状エコー判別方法及び形状エコー判別装置 | |
JP2008196866A (ja) | 溶接割れ検出方法および装置 | |
JP4793161B2 (ja) | 突合せ溶接部の良否検査方法および装置 | |
JP3557553B2 (ja) | 溶接継手の超音波探傷試験方法 | |
JP2008279497A (ja) | 溶接割れ検出方法 | |
JP5133651B2 (ja) | レーザ溶接評価方法 | |
JP6244290B2 (ja) | き裂評価方法 | |
WO2010150709A1 (ja) | 円筒体の表面検査装置 | |
JP2008058150A (ja) | 刻印検査装置 | |
JPH1177363A (ja) | すみ肉溶接部の検査方法及び該方法に使用する装置 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20110318 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20120511 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20120522 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20120718 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20120828 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20121029 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20121120 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20121214 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20151221 Year of fee payment: 3 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |