JP4968261B2 - X線透視装置 - Google Patents
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Description
a=h*tanθ・・(1)
だけ移動させる必要がある。
1a 焦点
2 XYテーブル
2a x軸モータ
2b y軸モータ
3 X線カメラ
4 傾動機構
4a θ軸モータ
5 回転機構
5a ψ軸モータ
6 Z軸移動機構
6a z軸モータ
10 コンピュータ
10a キーボード
10b マウス
11 表示器
12 制御装置
100 支持アーム
101 コラム
W 透視対象物
V 観察点
図1は本発明の実施の形態の構成図で、機械的構成を表す模式図とシステム構成を表すブロック図とを併記して示す図である。
XYテーブル2の傾動角度の変化量を図示のようにΔθとし、その時点で用いている観察点VとX線焦点1aとのなす距離をSOD(前記した例におけるhに相当)、X線焦点1aとX線カメラ3の検出面までの距離をSID、XYテーブル2の表面から観察点Vまでの真の距離をd(真の観察点高さ)とおき、Δθの傾動前後における観察点VのX線カメラ3の検出面上でのシフト量がΔyであったとすれば、観察点高さdの誤差δは、下記の(6)式によって求めることができる。
支持アーム100の傾動中心をOとし、傾動角度θを図示のようにとり、その傾動角度の変化量をΔθとする。また、傾動角度を変化させる前の時点で設定されている観察点Vの位置をP、真の観察点Vの位置をQで表し、観察点VのX線カメラ3への投影位置をY(PQ)と表す。観察点高さの誤差δは図示のように示される。傾動角度を変化させた後、設定された観察点Vの位置はP′となり、真の観察点Vの位置はQ′で表される。この傾動角度を変化させた後の観察点Vの投影位置はY(Q)となり、傾動角度変化前の投影位置Y(PQ)に対してΔyだけその位置がシフトすることになる。上記と同様に、その時点で用いている観察点Vの設定位置PとX線焦点21aとの距離をSOD、X線焦点1aとX線カメラ3の検出面までの距離をSIDとすると、観察点高さの誤差δは、下記の(7)式によって求めることができる。
Claims (2)
- X線源と、そのX線源からのX線が入射する位置に配置されたX線カメラと、これらX線源およびX線カメラの間に設けられ、その上に載せられた透視対象物を位置決めするためのXYテーブルを備えるとともに、上記X線カメラを上記XYテーブルに対して相対的に傾動させる傾動機構を備えたX線透視装置において、
上記X線カメラが上記XYテーブルに対して相対的に傾動されたときに、その刻々の傾動角度と、上記X線源と透視対象物の観察点間の距離hを用いた演算により、観察点が上記X線カメラの視野内に位置した状態を維持するのに必要なXYテーブルの移動量を算出して自動的に当該XYテーブルを移動させて上記観察点を追尾する傾動追尾手段を備えるとともに、その傾動追尾手段による演算に用いる上記X線源と透視対象物間の距離hは、その初期値として規定値もしくは任意の入力値を用いるとともに、追尾後の画像上で観察点を指定することにより得られる観察点のずれ量を用いて、上記傾動追尾手段で用いる上記距離hを更新する追尾用データ更新手段を備えていることを特徴とするX線透視装置。 - X線源と、そのX線源からのX線が入射する位置に配置されたX線カメラと、これらX線源およびX線カメラの間に設けられ、その上に載せられた透視対象物を位置決めするためのXYテーブルを備えるとともに、上記X線カメラとXYテーブルとを、当該XYテーブルに直交する軸を中心として相対回転させる回転機構を備えたX線透視装置において、
上記X線源とXYテーブルとが相対回転したとき、その刻々の回転角度と、上記X線源と透視対象物の観察点間の距離hを用いた演算により、観察点が上記X線カメラの視野内に位置した状態を維持するのに必要なXYテーブルの移動量を算出して自動的に当該XYテーブルを移動させて上記観察点を追尾する回転追尾手段を備えるとともに、その回転追尾手段による演算に用いる上記X線源と透視対象物間の距離hは、その初期値として規定値もしくは任意の入力値を用いるとともに、追尾後の画像上で観察点を指定することにより得られる観察点のずれ量を用いて、上記回転追尾手段で用いる上記距離hを更新する追尾用データ更新手段を備えていることを特徴とするX線透視装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2008546988A JP4968261B2 (ja) | 2006-12-01 | 2007-11-27 | X線透視装置 |
Applications Claiming Priority (4)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2006326228 | 2006-12-01 | ||
JP2006326228 | 2006-12-01 | ||
JP2008546988A JP4968261B2 (ja) | 2006-12-01 | 2007-11-27 | X線透視装置 |
PCT/JP2007/072809 WO2008066017A1 (en) | 2006-12-01 | 2007-11-27 | X-ray fluoroscope |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPWO2008066017A1 JPWO2008066017A1 (ja) | 2010-03-04 |
JP4968261B2 true JP4968261B2 (ja) | 2012-07-04 |
Family
ID=39467805
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2008546988A Expired - Fee Related JP4968261B2 (ja) | 2006-12-01 | 2007-11-27 | X線透視装置 |
Country Status (6)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US7796724B2 (ja) |
JP (1) | JP4968261B2 (ja) |
KR (1) | KR101110145B1 (ja) |
CN (1) | CN101578513B (ja) |
TW (1) | TWI355865B (ja) |
WO (1) | WO2008066017A1 (ja) |
Families Citing this family (21)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US8086010B2 (en) * | 2006-06-30 | 2011-12-27 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Medical image diagnosis apparatus and the control method thereof |
DE102007004365B4 (de) * | 2007-01-29 | 2010-07-22 | Yxlon International X-Ray Gmbh | Röntgendurchleuchtungsanlage |
JP5216294B2 (ja) * | 2007-02-20 | 2013-06-19 | 東芝Itコントロールシステム株式会社 | X線透視検査装置及びx線透視検査方法 |
TWI451081B (zh) * | 2011-07-29 | 2014-09-01 | Test Research Inc | 電磁射線攝像系統及方法 |
CN103733053B (zh) * | 2011-08-05 | 2016-08-17 | 株式会社岛津制作所 | 射线摄影装置 |
JP5950100B2 (ja) * | 2012-06-11 | 2016-07-13 | 株式会社島津製作所 | X線検査装置 |
CN104306012A (zh) * | 2014-10-27 | 2015-01-28 | 沈阳东软医疗***有限公司 | 一种体表定位方法及*** |
US10948534B2 (en) | 2017-08-28 | 2021-03-16 | Teradyne, Inc. | Automated test system employing robotics |
US11226390B2 (en) | 2017-08-28 | 2022-01-18 | Teradyne, Inc. | Calibration process for an automated test system |
US10845410B2 (en) | 2017-08-28 | 2020-11-24 | Teradyne, Inc. | Automated test system having orthogonal robots |
US10725091B2 (en) | 2017-08-28 | 2020-07-28 | Teradyne, Inc. | Automated test system having multiple stages |
US10983145B2 (en) | 2018-04-24 | 2021-04-20 | Teradyne, Inc. | System for testing devices inside of carriers |
US10775408B2 (en) | 2018-08-20 | 2020-09-15 | Teradyne, Inc. | System for testing devices inside of carriers |
US11754596B2 (en) | 2020-10-22 | 2023-09-12 | Teradyne, Inc. | Test site configuration in an automated test system |
US11754622B2 (en) | 2020-10-22 | 2023-09-12 | Teradyne, Inc. | Thermal control system for an automated test system |
US11899042B2 (en) | 2020-10-22 | 2024-02-13 | Teradyne, Inc. | Automated test system |
US11867749B2 (en) | 2020-10-22 | 2024-01-09 | Teradyne, Inc. | Vision system for an automated test system |
US11953519B2 (en) | 2020-10-22 | 2024-04-09 | Teradyne, Inc. | Modular automated test system |
CN112798627A (zh) * | 2020-12-29 | 2021-05-14 | 南京灵雀智能制造有限公司 | 一种螺母立体成像检测装置及检测方法 |
US12007411B2 (en) | 2021-06-22 | 2024-06-11 | Teradyne, Inc. | Test socket having an automated lid |
US20240215942A1 (en) * | 2021-08-24 | 2024-07-04 | Siemens Shanghai Medical Equipment Ltd. | Method and apparatus for determining touch panel to object distance in x-ray imaging |
Family Cites Families (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP0623817B1 (en) * | 1993-04-23 | 1999-01-13 | Shimadzu Corporation | Local analysis of a specimen in an x-ray fluorescence spectrometer |
JP3613121B2 (ja) * | 2000-03-03 | 2005-01-26 | 株式会社島津製作所 | X線透視装置 |
JP4041637B2 (ja) * | 2000-03-31 | 2008-01-30 | 東芝Itコントロールシステム株式会社 | X線透視検査装置 |
JP2002310943A (ja) * | 2001-04-12 | 2002-10-23 | Toshiba It & Control Systems Corp | コンピュータ断層撮影装置 |
JP3891285B2 (ja) * | 2002-11-01 | 2007-03-14 | 株式会社島津製作所 | X線透視装置 |
JP4133657B2 (ja) * | 2003-07-03 | 2008-08-13 | 株式会社島津製作所 | 精密計測用x線透視装置 |
US7539284B2 (en) * | 2005-02-11 | 2009-05-26 | Besson Guy M | Method and system for dynamic low dose X-ray imaging |
US20080069304A1 (en) * | 2006-09-18 | 2008-03-20 | Eastman Kodak Company | Radiography apparatus with multiple work zones |
-
2007
- 2007-11-27 WO PCT/JP2007/072809 patent/WO2008066017A1/ja active Application Filing
- 2007-11-27 KR KR1020097010511A patent/KR101110145B1/ko active IP Right Grant
- 2007-11-27 JP JP2008546988A patent/JP4968261B2/ja not_active Expired - Fee Related
- 2007-11-27 US US12/517,063 patent/US7796724B2/en not_active Expired - Fee Related
- 2007-11-27 CN CN2007800444104A patent/CN101578513B/zh not_active Expired - Fee Related
- 2007-11-29 TW TW096145393A patent/TWI355865B/zh not_active IP Right Cessation
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
CN101578513B (zh) | 2011-07-20 |
JPWO2008066017A1 (ja) | 2010-03-04 |
TW200840422A (en) | 2008-10-01 |
WO2008066017A1 (en) | 2008-06-05 |
TWI355865B (en) | 2012-01-01 |
US7796724B2 (en) | 2010-09-14 |
CN101578513A (zh) | 2009-11-11 |
KR20090091141A (ko) | 2009-08-26 |
KR101110145B1 (ko) | 2012-01-31 |
US20100074404A1 (en) | 2010-03-25 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20090519 |
|
AA64 | Notification of invalidation of claim of internal priority (with term) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A241764 Effective date: 20090729 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
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RD02 | Notification of acceptance of power of attorney |
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|
RD05 | Notification of revocation of power of attorney |
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A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
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A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20120319 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20150413 Year of fee payment: 3 |
|
R151 | Written notification of patent or utility model registration |
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FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
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LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |