JP4847104B2 - 光モジュールテスト方法 - Google Patents

Description

本発明は、光モジュールのテストを行う光モジュールテスト方法に関するものである。

従来、光モジュールの試験は、試験専用のデータ生成装置でテストデータを作成して送信側の光モジュールに入力して光信号を発生させ、受信側の光モジュールで光信号を受信してデータに復元し、試験専用の解析装置でテストデータと、受信側の光モジュールで受信・復元されたデータとを比較して解析し、試験を行っていた。

また、光モジュールの高温試験を行う手法として、高温槽に収納した半導体レーザから放出された光信号をレンズを介してホトダイオードで受信し、試験を行っていた（特許文献１）。
実開平０７−２９３３号公報

上述した前者では、送信側の光モジュールおよび受信側の光モジュールの試験を行おうとすると、試験専用の高価なデータ生成装置および解析装置が必要となってしまうと共に、これら装置を接続した試験時しかテストできないという問題があった。

また、上述した後者では、高温槽に収納した半導体レーザから放出した光信号をレンズを介してホトダイオードで受信して試験を行ったのでは、実機と同じ光ファイバーなどを使用して試験が行えないと共に、試験時しかテストできないという問題があった。

本発明は、これらの問題を解決するため、送信側のテストボード上に試験データ生成回路、異常検出回路、および表示器を設けてこれに被試験用の光モジュールを装着し、光ケーブルを介して受信側のテストボード上に比較回路、異常検出回路、および表示器を設けて被試験用の光モジュールを装着し、表示器の点灯状態で送信側の光モジュール、光伝送路、あるいは受信側の光モジュールのいずれが異常かをリアルタイムかつ簡易に検出するようにしている。

本発明は、送信側のテストボード上に試験データ生成回路、異常検出回路、および表示器を設けてこれに被試験用の光モジュールを装着し、光ケーブルを介して受信側のテストボード上に比較回路、異常検出回路、および表示器を設けて被試験用の光モジュールを装着することにより、表示器の点灯状態で送信側の光モジュール、光伝送路、あるいは受信側の光モジュールのいずれが異常かをリアルタイムかつ簡易に検出することが可能となる。

本発明は、送信側のテストボード上に試験データ生成回路、異常検出回路、および表示器を設けてこれに被試験用の光モジュールを装着し、光ケーブルを介して受信側のテストボード上に比較回路、異常検出回路、および表示器を設けて被試験用の光モジュールを装着し、表示器の点灯状態で送信側の光モジュール、光伝送路、あるいは受信側の光モジュールのいずれが異常かをリアルタイムかつ簡易に検出することを実現した。

図１は、本発明のシステム構成図を示す。
図１において、送信モジュールボード１は、送信側のモジュールを搭載したボードであって、ここでは、テストデータ生成部２、光モジュール６、全回路Ｒｅｓｅｔ回路７、レーザモニタ信号チェック部８、ＬＥＤ−Ｒｅｓｅｔ回路１２、ＬＥＤ発光回路１３、ＬＥＤ１４などから構成されるものである。送信モジュールボード１は、高温試験（低温試験）や長時間ランニング試験などのための高温槽（低温槽）などに入れて試験を行う。

テストデータ生成部２は、検査対象の光モジュール６に入力するテスト用のデータを生成するものであって、ここでは、データパターン格納部３、ワークレジスタ４、データ発生回路５などから構成されるものである。

データパターン格納部３は、検査対象の光モジュール６に入力するテストデータを生成するためのデータパターンを予め格納したものである。尚、所定のアルゴリズムに従い自動生成して格納してもよい。

ワークレジスタ４は、データパターン格納部３から読み出したテストパターンを一時的に保持するレジスタである。

データ発生回路５は、ワークレジスタ４に格納されたテストパターンに従いテスト用のデータ（テストデータ）を発生させ、検査対象の光モジュール６に供給するものである。

光モジュール６は、検査対象の送信側の光モジュールであって、ここでは、電気信号のテストデータがデータ発生回路５から入力されると、当該テストデータをシリアルのデータに変換し、更に、シリアルのデータを光のＯＮ、ＯＦＦの光信号に変換して光ファイバを介して受信側の光モジュール３５に向けて送出するものである。光モジュール６は図示しないが当該光モジュールのピン構造に合致したサブボードに装着し、当該光モジュール６を装着したサブボードを、送信モジュールボード１の上に装着している。これにより、光モジュール６のピン構造や端子の信号種類などが異なっても、サブボードを交換すれば、ピン構造や端子の信号種類などの異なる光モジュール６でも送信モジュールボード１に装着して試験を行うことができるようにしている。

全回路Ｒｅｓｅｔ回路７は、テストデータ生成部２およびレーザモニタ信号チェック部８などの全回路をリセットするものである。

レーザモニタ信号チェック部８は、光モジュール６から送出される信号をチェックして正常、異常などを判定し、これら判定結果をもとにＬＥＤ１４を点灯、消灯などさせて試験者などに知らせる（図４参照）ものであって、モジュール起動判定部９、レーザ制御判定部１０、エラーステータス回路１１などから構成されるものである。

モジュール起動判定回路９は、光モジュール６などが起動されたか否かを判定するものである。

レーザ制御判定回路１０は、レーザが制御されているか否かなどを判定するものである。

エラーステータス回路１１は、モジュール起動判定回路９、レーザ制御判定回路１０からの判定結果をもとに、エラーの状態を表すエラーステータスを生成するものである（図４など参照）。

ＬＥＤ−Ｒｅｓｅｔ回路１２は、レーザモニタ信号チェック部８などをリセットするものである。

ＬＥＤ発光回路１３は、レーザモニタ信号チェック部８からのエラーステータスに対応する信号をもとに該当ＬＥＤ１４を点灯、消灯などするものである4（図４参照）。

ＬＥＤ１４は、光モジュール６などの異常状態を表示する表示器である（図４参照）。
ＰＷＲ１５は、電源を供給あるいは遮断するスイッチである。

以上の構成を送信側の送信モジュールボード１に備え、光モジュール６から光ファイバに送出された光信号を、受信側の受信モジュールボード２１の光モジュール３５で受信させることにより、送信側でテスト信号から生成した光信号を、受信側に送信することが可能となると共に、リアルタイムにレーザモニタ信号チェック部８でチェックした結果をＬＥＤ１４に表示（図４参照）して試験者に知らせることが可能となる。

受信モジュールボード２１は、受信側のモジュールを搭載したボードであって、ここでは、比較判定部２２、光モジュール３５、受信チェック部３６、全回路Ｒｅｓｅｔ回路３８、ＬＥＤ−Ｒｅｓｅｔ回路３９、エラーステータス回路４０、ＬＥＤ発光回路４１、ＬＥＤ４２などから構成されるものである。受信モジュールボード１は、高温試験（低温試験）や長時間ランニング試験などのための高温槽（低温槽）などに入れて試験を行う。

比較判定部２２は、受信側の光モジュール３５で受信した光信号を電気信号のデータに変換した後の当該データと、基準データとを比較してチェックするものであって、データパターン格納部２３、ワークレジスタＭ２４，テストパターン比較回路２５、テストパターンシフト処理回路２６、不足テストパターン処理回路２７、ワークレジスタＴ２８、ワークレジスタＢ２９、ワークレジスタ３０、レジスタ（Ｒ１）３１から（Ｒｍ）３１、先頭データパターン解析回路３２、テストパターン格納レジスタ３３、テストパターン量判定回路３４などから構成されるものである。

データパターン格納部２３は、受信データをチェックするためのテストパターンを予め格納したものである。尚、所定のアルゴリズムに従い送信側のテストパターンと同一のものを自動生成して格納してもよい。

ワークレジスタＭ２４は、データパターン格納部２３から読み出したデータパターンを一時的に格納するものである。

テストパターン比較回路２５は、受信側の光モジュール３５で受信して電気信号に変換して抽出したデータと、ワークレジスタＭ２４に格納されているデータパターンとを比較したり、更に、一致、不一致を出力したりなどするものである。

テストパターンシフト処理回路２６は、テストパターンをシフトする回路である。
不足テストパターン処理回路２７は、不足のテストパターンを処理するものである。

ワークレジスタＴ２８、ワークレジスタＢ２９、ワークレジスタ３０は、データを一時的に保持するものである。

レジスタ（Ｒ１）３１から（Ｒｍ）３１は、光モジュール３５で受信して電気信号に変換したデータを複数保持するものである。

先頭データパタン解析回路３２は、受信したデータの先頭データパターンを解析して見つけるものである。

テストパターン格納レジスタ３３は、テストパターンを格納するものである。
テストパターン量判定回路３４は、テストパターン量を判定するものである。

以上の２２から３４の回路、レジスタなどにより、光モジュール３５で光信号から電気信号に変換したデータと、データパターン格納部２３から読み出した比較用のデータパターンとを比較し、一致あるいは不一致を検出してエラーステータス回路４０に送出するようにしている。

光モジュール３５は、検査対象の受信側の光モジュールであって、ここでは、光ファイバから光信号が入力されると、当該光信号をシリアルの１，０の電気信号に変換し、更に、パラレルのデータに変換し、ワークレジスタ３０などの保持させるものである。光モジュール３５は図示しないが当該光モジュールのピン構造に合致したサブボードに装着し、当該光モジュール３５を装着したサブボードを、受信モジュールボード２１の上に装着している。これにより、光モジュール３５のピン構造や端子の信号種類などが異なっても、サブボードを交換すれば、ピン構造や端子の信号種類などの異なる光モジュール３５でも受信モジュールボード２１に装着して試験を行うことができるようにしている。

受信チェック部３６は、光モジュール３５での光信号などの受信状態をチェックし、そのチェック結果をエラーステータス回路４０に送信するものであって、データ受信チェック回路３７などから構成されるものである。

データ受信チェック回路３７は、光モジュール３５が光ファイバから光信号を受信しているなどの受信状態をチェックするものである。

全回路Ｒｅｓｅｔ回路３８は、比較判定部２２、受信チェック部３６などの全回路をリセットするものである。

ＬＥＤ−Ｒｅｓｅｔ回路３９は、エラーステータス回路４０などをリセットするものである。

エラーステータス回路４０は、比較判定部２２、受信チェック部３６などからの比較結果、受信チェック結果などを受信し、エラーステータス（エラー状態）を生成するものである（図４など参照）。

ＬＥＤ発光回路４１は、エラーステータス回路４０からのエラーステータスをもとにＬＥＤ４２を点灯、点滅、消灯などするものである（図４参照）。

ＬＥＤ４２は、光モジュール３５などの異常状態を表示する表示器である（図４参照）。

ＰＷＲ４３は、電源を供給あるいは遮断するスイッチである。
以上の構成を受信側の受信モジュールボード２１に備え、光ファイバを介して受信した光信号を光モジュール３５が電気信号のパラレスのデータに変換し、比較判定部２２でデータパターンと比較して一致、不一致を判定したり、光モジュール３５の受信状態をチェックしたりし、これら比較結果、受信状態チェック結果をＬＥＤ４２に表示（図４参照）して試験者に知らせることが可能となる。以下順次詳細に説明する。

図２は、本発明の動作説明フローチャート（送信側）を示す。
図２において、Ｓ１は、ＰＯＷ ＯＮする。これは、図１の送信側のＰＷＲ１５をオンにし、電源を送信モジュールボード１に供給して動作開始させる。

Ｓ２は、全回路Ｒｅｓｅｔする。これは、図１の送信側の送信モジュールボード１上の全回路Ｒｅｓｒｔ回路７を、Ｓ１の電源投入に同期して動作させ、テストモード生成部２、レーザモニタ信号チェック部８などの全回路をリセットし、初期状態から起動させる。

Ｓ３は、エラーステータス＝０と初期設定する。これは、図１のエラーステータス回路１１のエラーステータスを０（正常）に初期決定する。

Ｓ４は、データパターンの読み込みを行う。これは、図１の送信モジュールボード１上のテストデータ生成部２を構成するデータパターン格納部３からデータパターンを読み出してワークレジスタ４にセットし、テストデータの発生の準備を行う。

Ｓ５は、データ生成開始する。これにより、Ｓ４でワークレジスタ４にセットされたデータパターンを読み出し、データ発生回路５がテストデータの生成を開始する。

Ｓ６は、データを光モジュールへ入力する。これは、Ｓ５で生成したテストデータを、検査対象の光モジュール６へ入力する。

Ｓ６’は、レーザ発振開始する。これは、Ｓ６で、光モジュール６がテストデータの入力を受信すると、当該テストデータの０，１に対応した発振（例えば１のときに発振、０の時に発振停止）を開始する。

Ｓ７は、レーザ起動信号無しか判別する。これは、Ｓ６’でレーザ発振開始したけれども、光モジュールからレーザ起動した旨の信号が受信されないか判別する。ＹＥＳの場合には、Ｓ８’でエラーステータス＝１とセットし、Ｓ８’’に進む。一方、ＮＯの場合（モジュール起動信号があった場合）には、Ｓ８に進む。

Ｓ８は、レーザ制御起動信号無しか判別する。これは、レーザ起動信号はあったが、更に、レーザ制御起動信号無しか判別する。ＹＥＳの場合には、Ｓ８’でエラーステータス＝１にセットし、Ｓ８’’に進む。一方、ＮＯの場合（レーザ制御起動信号があった場合）には、Ｓ８’’に進む。

Ｓ８’’は、エラーステータス＝１か判別する。これは、Ｓ７のＹＥＳあるいはＳ８のＹＥＳとなり、Ｓ８’でエラーステータス＝１にセットされたか判別する。ＹＥＳの場合には、エラーが発生したと判明したので（モジュール起動信号無し、あるいはレーザ制御起動信号無しと判明したので）、Ｓ１５でＬＥＤ消灯し、Ｓ１６以降の処理を行なう。一方、ＮＯの場合には、エラーが発生しなかった判明したので、Ｓ９でＬＥＤ点灯し、Ｓ１０以降の処理を行う。

Ｓ１０は、回路Ｒｅｓｅｔ信号有りか判別する。これは、外部あるいは内部の図示外の制御部から回路Ｒｅｓｅｔ信号の入力がありか判別する。ＹＥＳの場合には、Ｓ２に戻り繰り返す。ＮＯの場合には、Ｓ１１に進む。

Ｓ１１は、ＬＥＤ Ｒｅｓｅｔ信号有りか判別する。これは、外部あるいは内部の図示外の制御部からＬＥＤ Ｒｅｓｅｔ信号有りか判別する。ＹＥＳの場合には、Ｓ１２でエラーステータス＝０とリセットし、Ｓ１３に進む。ＮＯの場合には、Ｓ１３に進む。

Ｓ１３は、試験継続か判別する。ＹＥＳの場合には、Ｓ７に戻り繰り返す。ＮＯの場合には、Ｓ１４でＰＷＲ ＯＦＦにし、終了する。

また、Ｓ１６は、Ｓ１５でＬＥＤ消灯したことに続き、回路Ｒｅｓｅｔ信号有りか判別する。これは、外部あるいは内部の図示外の制御部から回路Ｒｅｓｅｔ信号の入力がありか判別する。ＹＥＳの場合には、Ｓ２に戻り繰り返す。ＮＯの場合には、Ｓ１７に進む。

Ｓ１７は、ＬＥＤ Ｒｅｓｅｔ信号有りか判別する。これは、外部あるいは内部の図示外の制御部からＬＥＤ Ｒｅｓｅｔ信号有りか判別する。ＹＥＳの場合には、Ｓ１８でエラーステータス＝０とリセットし、Ｓ１８に進む。ＮＯの場合には、Ｓ１８に進む。

Ｓ１８は、試験継続か判別する。ＹＥＳの場合には、Ｓ７に戻り繰り返す。ＮＯの場合には、Ｓ１４でＰＷＲ ＯＦＦにし、終了する。

以上によって、図１の送信側の送信モジュールボード１の電源をＯＮにすると、自動的に全回路リセットし、データパターン格納部３から読み出されたデータパターンに従いテストデータを発生し、検査対象の光モジュール６に入力してレーザ発振開始して光信号を光ファイバに送出する。この際、レーザモニタ信号チェック部８がモジュール起動信号の有無を監視し、更に、レーザ制御起動信号の有無を監視し、両者の信号が有りのときに（初期設定でエラーステータス＝０にセット）ＬＥＤを点灯し、一方、いずれかが無のときにエラーステータス＝１にセットしてＬＥＤを消灯することが可能となる。これにより、管理者は、送信側の送信モジュールボード１に光モジュール６をセットした後、電源をＯＮにするという簡単な操作のみで、ＬＥＤ１４の点灯（正常）、消灯（エラー）で当該送信側の光モジュール６の動作の正常、異常を容易に判断することが可能となる。

図３は、本発明の動作説明フローチャート（受信側）を示す。当該図３の以下の説明では、図１の受信側の受信モジュールボード上の各回路の動作を示す。

図３において、Ｓ１は、ＰＯＷ ＯＮする。これは、図１の受信側のＰＷＲ４３をオンにし、電源を受信モジュールボード２１に供給して動作開始させる。

Ｓ２は、全回路Ｒｅｓｅｔする。これは、図１の受信側の受信モジュールボード２１上の全回路Ｒｅｓｒｔ回路３８を、Ｓ１の電源投入に同期して動作させ、比較判定部２２、受信チェック部３６、エラーステータス回路４０などの全回路をリセットし、初期状態から起動させる。

Ｓ３は、エラーステータス＝０と初期設定する。これは、図１のエラーステータス回路４０のエラーステータスを０（正常）に初期決定する。

Ｓ４は、整合性比較用データパターンをワークレジスタＭ２４へ格納する。これは、図１の受信モジュールボード１上のデータパターン格納部２３から整合性比較用のデータパターンを読み出してワークレジスタＭ２４にセットし、受信したデータと比較する準備を行う。

Ｓ５は、データ受信か判別する。ＹＥＳの場合には、Ｓ６に進む。ＮＯの場合には、Ｓ２５以降に進む。

Ｓ６は、ＬＥＤ点灯する。これは、図１の受信側の受信モジュールボード２１上のＬＥＤ４２を点灯し、データ受信中を表すように表示する。

Ｓ７は、Ｘバイト分をレジスタＲｎへ格納する。これは、Ｓ５のＹＥＳで受信側の光モジュールから出力された受信されたデータについて、Ｘバイト分をレジスタＲｎ３１に格納する。

Ｓ８は、レジスタＲｎの先頭アドレスから順にデータパターンを解析する。これは、図１の受信側の先頭データパターン解析回路３２でレジスタＲｎの先頭アドレスから順にデータパターンを解析して先頭パターンを見つける。

Ｓ９は、テストパターンを抽出する。これは、Ｓ８の解析を行って見つけたテストパターンの先頭から当該テストパターンを抽出し、テストパターン格納レジスタ３３に格納する。

Ｓ１０は、抽出したテストパターンが正常量より少ないか判別する。これは、Ｓ９で抽出して格納したテストパターン格納レジスタ３３中のテストパターンの量が正常量より少ないか判別する。ＹＥＳの場合には、Ｓ２１に進む。ＮＯの場合には、抽出したテストパターンの量が正常量と判明したので、Ｓ１１に進む。

Ｓ１１は、テストパターンを抽出する。
Ｓ１２は、抽出したテストパターンを、レジスタＢへ格納する。これらＳ１１、Ｓ１２は、抽出したテストパターンの量が正常量と判明したので、テストパターンを抽出してワークレジスタＢ２９に格納する。

Ｓ１３は、レジスタＢとレジスタＭを比較する。これは、Ｓ１２で格納したワークレジスタＢ２９のデータ（受信したテストデータ）と、Ｓ４で格納したワークレジスタＭ２４のデータ（整合性比較用データパターン）とを比較する。

Ｓ１４は、全一致か判別する。これは、Ｓ１３で比較した結果（受信したデータと、整合性比較用のデータとを比較した結果）が全一致か判別する。ＹＥＳの場合には、受信したデータが整合性比較用データと全一致したので、正常と判定し、Ｓ１５に進む。ＮＯの場合には、全一致しないと判明したので、異常と判定し、Ｓ３０以降に進む。

Ｓ１５は、Ｓ１４のＹＥＳで正常と判定されたので、抽出したテストパターン分を消去する。

Ｓ１６は、消去したデータ以降を先頭アドレスにシフトする。これは、テストパターンシフト処理回路２６によって行う。

Ｓ１７は、レジスタＲ０＝０か判別する。これは、レジスタＲ０からＲｍのうちの先頭か判別する。ＹＥＳの場合には、Ｓ１８でｎ＋１＝ｎを行い、１つ足した次のレジスタにセットし、Ｓ１９に進む。ＮＯの場合には、Ｓ８以降を繰り返す。

Ｓ１９は、ｎが最後尾か判別する。ＹＥＳの場合には、レジスタＲｎ３１の最後尾でデータの全ての処理が終了したと判明したので、Ｓ２０でｎ＝０（レジスタＲｎ３１の先頭）にリセットし、Ｓ５以降を繰り返す。

以上のＳ１からＳ２０によって、受信側の光モジュール３５の動作が正常な場合には、受信したデータの先頭から所定量抽出して整合性比較用データと比較して一致するので、一致したデータを消去することを繰り返すことにより、受信したテストデータの正当性をチェックすることが可能となる。

Ｓ２１は、Ｓ１０のＹＥＳで抽出したテストパターンが正常量よりも少ないと判明したので、抽出したデータをレジスタＴ２８へ格納する。

Ｓ２２は、レジスタＲｎ＋１の先頭データパターンを解析する。
Ｓ２３は、レジスタＲｎ＋１の先頭データパターン直前までのデータをレジスタＴ２８の格納済みデータの最後に追加する。

Ｓ２４は、レジスタＲｎ＋１の先頭データパターン以降を先頭アドレスへシフトする。そして、Ｓ１７に進む。

以上のＳ２１からＳ２４によって、受信したデータから抽出したデータ量が正常量よりも少ない場合には、不足するデータを、レジスタＲｎ＋１にある分を取り出して最後に追加して正常量にした後、Ｓ１７以降の処理に進むことが可能となる。

Ｓ２５は、Ｓ５のＮＯで光モジュール３５からデータ受信できないと判明したので、エラーステータス＝１にセットする。

Ｓ２６は、ＬＥＤ消灯する。これにより、受信側の光モジュール３５でデータ受信できないことを表示し、管理者に知らせることが可能となる。

Ｓ２７は、全回路Ｒｅｓｅｔ有りか判別する。これは、外部あるいは内部の図示外の制御部から回路Ｒｅｓｅｔ信号の入力がありか判別する。ＹＥＳの場合には、Ｓ２に戻り繰り返す。ＮＯの場合には、Ｓ２８に進む。

Ｓ２８は、ＬＥＤ Ｒｅｓｅｔ信号有りか判別する。これは、外部あるいは内部の図示外の制御部からＬＥＤ Ｒｅｓｅｔ信号有りか判別する。ＹＥＳの場合には、Ｓ２９でエラーステータス＝０とリセットし、Ｓ５に戻り繰り返す。ＮＯの場合には、Ｓ２６を繰り返す。

以上のＳ２５からＳ２９によつて、Ｓ５のＮＯで受信側の光モジュール３５でデータ受信されないと判明した場合、ＬＥＤを点灯して管理者に知らせることが可能となる。

Ｓ３０は、Ｓ１４のＮＯで受信して抽出したデータと整合用比較用データとを比較して全一致しないと判明したので、エラーステータス＝２にセットする。

Ｓ３１は、ＬＥＤ点滅する。これは、Ｓ３０で全一致しないと判明したのでエラーステータス＝２にセットしたことに対応して、ＬＥＤを点滅し、受信データと整合性比較用データとが全一致しない旨を管理者に知らせることが可能となる。

Ｓ３２は、全回路Ｒｅｓｅｔ有りか判別する。これは、外部あるいは内部の図示外の制御部から回路Ｒｅｓｅｔ信号の入力がありか判別する。ＹＥＳの場合には、Ｓ２に戻り繰り返す。ＮＯの場合には、Ｓ３３に進む。

Ｓ３３は、ＬＥＤ Ｒｅｓｅｔ信号有りか判別する。これは、外部あるいは内部の図示外の制御部からＬＥＤ Ｒｅｓｅｔ信号有りか判別する。ＹＥＳの場合には、Ｓ２９でエラーステータス＝０とリセットし、Ｓ５に戻り繰り返す。ＮＯの場合には、Ｓ３２を繰り返す。

以上のＳ３０からＳ３３，Ｓ２９によつて、Ｓ１４のＮＯで受信側の光モジュール３５でデータ受信されたデータと整合性比較用のデータとが全一致しないと判明した場合、ＬＥＤを点滅して管理者に知らせることが可能となる。

図４は、本発明の異常発生要因切り分け説明図を示す。図中で送信側のＬＥＤ、受信側のＬＥＤの消灯、点灯、点滅は以下の通りである。

・送信側のＬＥＤ：
・点灯（ステータス＝０）
・消灯（ステータス＝１）
・受信側のＬＥＤ：
・点灯（ステータス＝０）
・消灯（ステータス＝１）
・点滅（ステータス＝２）
以上のようなステータスのもとで、既述した図２（送信側）、図３（受信側）のＬＥＤの消灯、点灯、点滅の組み合わせで異常発生要因を切り分けると図示の下記のようになる。

送信側のＬＥＤ状態 受信側のＬＥＤ状態 判定
状態１：点灯 点灯 正常
状態２：点灯 消灯 受信側受光無し
・送信側レーザ発光無し
・光ケーブル障害
・受信側受光部不良
状態３：点灯 点滅 受信データ不一致
・受信側の回路異常
・送信側の回路異常
状態４：消灯 消灯 送信側異常
・送信側非発光
・送信側の回路異常
以上の異常発生要因切り分け図から判明するように、既述した図２（送信側）および図３（受信側）の監視チェックの結果をＬＥＤ（送信側）、ＬＥＤ（受信側）でそれぞれ点灯、消灯、点滅で表示することで、上記のような異常発生要因を容易に切り分けすることが可能となる。

次に、図５を用いて送信側のＬＥＤの点灯、消灯について詳細に説明する。
図５は、本発明の説明図（送信側）を示す。既述した図２の送信側の動作を説明するものである。

図５の（ａ）は、送信側が正常な場合のタイミングチャート例を示す。
図５の（ａ）において、（１）の”ＰＷＲ−ＯＮ”は、図１のＰＷＲ１５をＯＮにして電源を送信側モジュールボード１に供給開始することを示す。

（５）の”発信用テストデータ”は、図１のワークレジスタ４からデータ発生回路５に入力するテストデータを示す。

（６）の”発信用テストデータ”は、図１のデータ発生回路５で発生したシリアルのデータを模式的に表した例を示す。ここでは、（データ開始、テストデータ、データ終了）からなるデータが複数組み送出される状態を示す。

（７）の”モジュール起動信号”は、図１のモジュール起動判定回路９が光モジュール６からの当該起動信号を受信したときにＨｉｇｈとなる信号を示す。

（８）の”レーザ制御起動信号”は、図１のレーザ起動判定会路１０が光モジュール６からレーザ起動をしたときに送出される信号を受信したときにＨｉｇｈとなる信号を示す。

（９）の”ＬＥＤ点灯”は、図１のエラーステータス回路１１がエラーを検出したときに送出する信号（消灯（ステータス＝１）が異常の信号）である。

図５の（ｂ）は、送信側のモジュール起動信号無しの場合のタイミングチャート例を示す。ここで、（１）、（５）、（６）、（８）、（９）は、図５の（ａ）と同じ意味を表す信号である。この図５の（ｂ）では、（７）のモジュール起動信号が無（ＬＯＷレベル）、（８）のレーザ制御起動信号が無（ＬＯＷレベル）のときにＬＥＤ消灯（ステータス＝１、図２のＳ８’）となり、異常を表示する。

以上のように、送信側の送信モジュールボード１に検査対象の光モジュール６を装着して電源投入するのみで、自動的に既述した図２のフローチャートで示す処理が実行され、光モジュール６からモジュール起動信号無しの場合、更に有ってもレーザ制御起動信号が無い場合に、ＬＥＤを消灯（ステータス＝１）し、当該光モジュールの異常を管理者に知らせることが可能となる。

次に、図６から図８を用いて受信側のＬＥＤの点灯、消灯、点滅について詳細に説明する。

図６は、本発明の説明図（受信側、その１）を示す。図６の（ａ）は、受信データが正常な場合のタイミングチャート例を示す。

図６の（ａ）において、
（１）の”ＰＷＲ−ＯＮ”は、図１のＰＷＲ４３をＯＮにして電源を受信側モジュールボード２１に供給開始することを示す。

（４）の比較用テストデータ”は、図１のデータパターン格納部２３から読み出してワークレジスタＭ２４へ格納する比較用のテストデータを示す。

（５）の”受信データ”は、図１の光モジュール３５から受信チェック部３６が受け取るシリアルのデータを模式的に表した例を示す。ここでは、（データ開始、テストデータ、データ終了）からなるデータが複数組み送出された状態を示す。

（６）の”受信データ格納”は、（５）の受信データについてＸバイト分を、レジスタＲｎＲｎ＋１・・・に格納した様子を示す。

（７）の”先頭データ解析”は、（６）のＸバイト分のデータについて、先頭（ここでは、”１１（データ開始）・・・１１（データ終了）”となるデータのうちその先頭（”１１”））を解析して図示のように見つけた状態を示す。

（８）の”テストデータ抽出””は、（７）で見つけたデータの先頭から終了までの間にあるテストデータを図示のように抽出した状態を示す。

（１０）の”抽出テストデータ格納”は、（８）で抽出したテストデータを、図１のワークレジスタＢ２９に格納した状態を示す。

（１１）の”（４）と（１０）比較”は、（１０）の図１のワークレジスタＢ２９に格納した受信データと、（４）の図１のワークレジスタＭ２４に格納した比較用のテストデータとを比較する状態を示す。

”ＬＥＤ点灯”は、初期状態で点灯（ステータス＝０（図３のＳ３））し、ここでは、受信データと、比較用のテストデータとが一致したので点灯したままとなる。

図７は、本発明の説明図（受信側、その２）を示す。図７の（ｂ）は、受信データが無い場合のタイミングチャート例を示す。ここで、（１）、（４）、（５）は図６のものと同一であるので説明を省略する。

（１５）の”ステータス”は、異常状態を表すステータス（初期状態は、図３のＳ３でステータス＝０（点灯））の状態を示す。

（ｂ−１）のステータス＝１は、ここでは、受信データがない場合であるので、既述した図３のＳ５のＮＯとなり、Ｓ２５でステータス＝１にセットされ、即ち、図中のステータス＝１のタイミングチャートが図示の位置でＨｉｇｈ（＝１）にセットされるので、これに対応して（１６）のＬＥＤが消灯する。

以上のように、受信側で、既述した図３のＳ５のＮＯでデータ受信されないことが検出されると、ステータス＝１にセットし、ＬＥＤを消灯することにより、管理者は受信側でデータ受信されていないことを認識することができる。

図８は、本発明の説明図（受信側、その３）を示す。図８の（ｃ）は、受信データ不一致の場合のタイミングチャート例を示す。ここで、（１）、（４）、（５）、（６）、（７）、（８）、（１０）、（１１）は、図６のものと同一であるので説明を省略する。

（１２）の”エラー検出”は、比較用テストデータ（図１のワークレジスタＭ２４）と、受信テストデータ（ワークレジスタＢ２９）とを比較し、全一致しないと判明（既述した図３のＳ１４のＮＯ）したので、エラー検出したものである。

（１９）の”ステータス＝２は、（１２）でデータ全一致しないエラーを検出したことに対応してステータス＝２（既述した図２のＳ３０）にセットした状態を示す。

”ＬＥＤ点滅”は、（１９）でステータス＝２（データ不一致）とセットされたことに対応して、ＬＥＤを図示のように点滅する状態を示す。

以上のように、受信側で、既述した図３の１４のＮＯで、受信データと比較用のデータとが一致しないことが検出されると、ステータス＝２にセットし、ＬＥＤを点滅させることにより、管理者は受信側でデータ受信されているが比較用データと不一致である旨を認識することができる。

（付記１）
光モジュールのテストを行う光モジュールテスト方法において、
テストデータ生成部を設けた送信側のテストボード、および当該送信側のテストボードと光ファイバで接続した、受信データ比較部を設けた受信側のテストボードを備え、
送信側の被テスト用の光モジュールを送信側の前記テストボードに装着、および受信側の被テスト用の光モジュールを受信側の前記テストボードに装着した後、送信側のテストボード上の前記テストデータ生成部で生成したテストデータを被テスト用の光モジュールに入力すると共に、受信側のテストボード上の前記受信データ比較部で受信したデータと基準データとを比較して比較結果を出力することを特徴とする光モジュールテスト方法。

（付記２）
前記比較結果を、前記受信側のテストボード上に設けた表示器を点灯、点滅、消灯して出力することを特徴とする付記１記載の光モジュールテスト方法。

（付記３）
前記送信側のテストボード上に、異常検出部および異常検出結果を表示する表示器を備え、
前記送信側の被テスト用の光モジュールの状態を監視して異常検出時に、表示器を点灯、消灯してその異常状態を表示することを特徴とする付記１あるいは付記２記載の光モジュールテスト方法。

（付記４）
前記受信側のテストボード上に、異常検出部および異常検出結果を表示する表示器を備え、
前記受信側の被テスト用の光モジュールの状態を監視して異常検出時に、表示器を点灯、点滅、消灯してその異常状態を表示することを特徴とする付記１から付記３のいずれかに記載の光モジュールテスト方法。

（付記５）
前記送信側のテストボード、光モジュール、および前記受信側のテストボード、光モジュールを一方あるいは両方を高温試験槽に入れて高温試験を行うことを特徴とする付記１から付記４のいずれかに記載の光モジュールテスト方法。

（付記６）
前記送信側および受信側のいずれか一方あるいは両方のテストボードの被テスト用の光モジュールを装着する部分にソケットボードを装着し、当該ソケットボードを交換することで任意の光モジュールをテストボードに装着可能としたことを特徴とする付記１から付記５のいずれかに記載の光モジュールテスト方法。

本発明は、送信側に試験データ生成回路、異常検出回路、および表示器を設けてこれに被試験用の光モジュールを装着し、光ケーブルを介して受信側に比較回路、異常検出回路、および表示器を設けて被試験用の光モジュールを装着し、表示器の点灯状態で送信側の光モジュール、光伝送路、あるいは受信側の光モジュールなどのいずれが異常かをリアルタイムかつ簡易に検出する光モジュールテスト方法である。

本発明のシステム構成図である。 本発明の動作説明フローチャート（送信側）である。 本発明の動作説明フローチャート（受信側）である。 本発明の異常発生要因切り分け説明図である。 本発明の説明図（送信側）である。 本発明の説明図（受信側、その１）である。 本発明の説明図（受信側、その２）である。 本発明の説明図（受信側、その２）である。

符号の説明

１：送信モジュールボード
２：テストデータ生成部
６：光モジュール（送信側）
８：レーザモニタ信号チェック部
１１：エラーステータス回路
１４：ＬＥＤ（送信側）
２１：受信モジュールボード
２２：比較判定部
３５：光モジュール
３６：受信チェック部
４０：エラーステータス回路
４２：ＬＥＤ（受信側）

Claims (4)

1. 光モジュールのテストを行う光モジュールテスト方法において、
   テストデータ生成部を設けた送信側のテストボード、および当該送信側のテストボードと光ファイバで接続した、受信データ比較部を設けた受信側のテストボードを備え、
   送信側の被テスト用の光モジュールを送信側の前記テストボードに装着、および受信側の被テスト用の光モジュールを受信側の前記テストボードに装着した後、送信側のテストボード上の前記テストデータ生成部で生成したテストデータを被テスト用の光モジュールに入力すると共に、受信側のテストボード上の前記受信データ比較部で受信したデータと基準データとを比較して比較結果を出力すると共に、
   前記送信側のテストボード上に、異常検出部および異常検出結果を表示する表示器を備え、前記送信側の被テスト用の光モジュールの状態を監視して異常検出時に、表示器を点灯、消灯してその異常状態を表示する、
   ことを特徴とする光モジュールテスト方法。
2. 前記受信側のテストボード上に、異常検出部および異常検出結果を表示する表示器を備え、
   前記受信側の被テスト用の光モジュールの状態を監視して異常検出時に、表示器を点灯、点滅、消灯してその異常状態を表示することを特徴とする請求項１記載の光モジュールテスト方法。
3. 前記送信側のテストボード、光モジュール、および前記受信側のテストボード、光モジュールを一方あるいは両方を高温試験槽に入れて高温試験を行うことを特徴とする請求項１から請求項２のいずれかに記載の光モジュールテスト方法。
4. 前記送信側および受信側のいずれか一方あるいは両方のテストボードの被テスト用の光モジュールを装着する部分にソケットボードを装着し、当該ソケットボードを交換することで任意の光モジュールをテストボードに装着可能としたことを特徴とする請求項１から請求項３のいずれかに記載の光モジュールテスト方法。

Images