JP4616079B2 - 試料分析装置 - Google Patents
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Description
(1) 測定部は,発光波長の異なる少なくとも2種類の光源,試料保持部,検出器を備え,光源からの光は試料の光の透過方向の長さの概略1/2の位置で,その出力光軸が交差するように設置され,かつ,それぞれ異なる変調周波数で変調された光を出射する。更に,測定部は複数近接して設けられており,クロストークが発生する範囲内に位置する光源はそれぞれ異なる変調周波数で変調された光を出射する。この構成により,少なくとも2種類の波長の光が同じ濃度の経路を通過するため,測定精度が安定し,それぞれの波長の光が異なる変調周波数で変調されているため,測定部が複数近接して設けられていても,周波数分離回路によりクロストークを分離し除去することが可能である。
(2) 上記構成において,近接して設けられた複数の測定部において,それぞれの光源ごとに異なる変調周波数で変調された光を出射する代わりに,それぞれの測定部ごとに順次時間差をおいて光を出射する。この構成により,測定精度を安定したうえで,それぞれの測定部が順次時間差をおいて光を出射するため,測定部が複数近接して設けられていても,時間差によりクロストークを分離し除去することが可能である。
(1)出力波長の異なる少なくとも2種類の半導体光源、資料保持部、検出器からなる測定部であり、少なくとも2種類の半導体光源はそれぞれ異なる変調周波数で強弱を与えられた光を出射する測定部であり、複数近接して設けられた測定部の光源は、測定部ごとに異なる変調周波数で強弱を与えられた光を出射することを特徴とする試料分析装置。
(2)前記複数近接して設けられた測定部は,はじめから一定数までの範囲において測定部ごとに異なる変調周波数で強弱を与えられた光を出射する光源を持つ直列方向のグループ配列とし、そのグループ配列を直列方向に複数配列したことを特徴とする(1)に記載の試料分析装置。
(3)前記グループ配列を並列方向に複数配列し、最初のグループ配列から一定数のグループ配列までの範囲において測定部ごとに異なる変調周波数で強弱を与えられた光を出射する光源を持つマトリクス配列とし、そのマトリクス配列を直列方向及び若しくは並列方向に複数配列したことを特徴とする(1)に記載の試料分析装置。
(4)前記グループ配列の前記光源は、波長の組み合わせが同一であり、グループ配列毎に波長の組合せが同一か若しくは異なることを特徴とする(1)に記載の試料分析装置。
(5)出力波長の異なる少なくとも2種類の半導体光源、資料保持部、検出器からなる測定部であり、少なくとも2種類の半導体光源はそれぞれ異なる変調周波数で強弱を与えられた光を出射する測定部であり、複数近接して設けられた測定部の光源は、測定部ごとに順次時間差をおいて特定の時間光を出射することを特徴とする試料分析装置。
(7)前記グループ配列の前記光源は、波長の組み合わせが同一であり、グループ配列毎に波長の組合せが同一か若しくは異なることを特徴とする(5)に記載の試料分析装置。
(8)前記光源は,前記少なくとも2つの波長の光が,前記試料の光の透過方向における長さの概略1/2の位置で交差するように構成されたことを特徴とする(1)又は(5)に記載の試料分析装置。
(9)前記光源は1つのパッケージ内に収められていることを特徴とする(1)又は(5)に記載の試料分析装置。
(10)前記光源は,半導体レーザ及び発光ダイオード若しくはその組合せであることを特徴とする(1)又は(5)に記載の試料分析装置。
(12)前記光源各々に対して異なる周波数に変調する複数の発信回路と,前記検出器で検出した信号を,前記光源のそれぞれの周波数成分に分離する,周波数分離回路とを有することを特徴とする(1)又は(5)に記載の試料分析装置。
(13)前記(12)記載の試料分析装置において、測定部ごとに順次時間差をおいて計測が可能な周波数分離回路を有することを特徴とする(5)に記載の試料分析装置。
(14)前記光源から出射される光の中心波長,あるいは,最も成分量の多い波長が,概略340,404,415,450,480,505,546,570,600,660,700,750,800(単位はnm)の中の異なる波長であることを特徴とする(1)又は(5)に記載の試料分析装置。
(15)前記光源のうち1つが紫外線であることを特徴とする(1)又は(5)に記載の試料分析装置。
(17)前記試料保持部は,第1の基板と,前記第1の基板に設けられた複数の電極が前記試料を保持,及び搬送する搬送路に沿って設置されており,前記複数の電極の任意の電極に電圧を印加するための電圧印加手段をさらに有し,複数の電極の少なくとも1つが配置される領域からなることを特徴とする(1)又は(5)に記載の試料分析装置。
(18)前記試料保持部は,前記複数の電極を覆う第1の絶縁膜と,前記絶縁膜と覆う第1の膜とを有することを特徴とする(17)に記載の液体搬送基板。
(19)前記試料保持部は,第2の基板と,前記第2の基板に設けられた電極層とをさらに有し,前記複数の電極と前記電極層とは対面することを特徴とする(17)に記載の液体搬送基板。
(20)前記試料保持部は,前記電極層を覆う第2の絶縁膜と,前記第2の絶縁膜を覆う第2の膜とをさらに有することを特徴とする(19)に記載の液体搬送基板。
(22)前記試料保持部は,前記第1の基板と前記第2の基板とは,前記複数の電極と前記電極層とが一定の距離を保つように配置されることを特徴とする(19)に記載の液体搬送基板。
13,15,17,68,70,120…波長λ1の光源
14,16,18,69,71,121…波長λ2の光源
19,21,23,72,74…波長λ1の光
20,22,24,73,75…波長λ2の光
25,26,27,76,77,138,139,140,141,142,143,144,145,146…パッケージ
28,29,30,184…試料保持部
31,32,33,160,161…試料
34,35,36…検出器パッケージ
37,38,39…検出器
40,41,42…アンプ
45,46,47…周波数分離回路
48,49,50,51,52,53…A/Dコンバータ
54,55,56…データ処理装置
80,81,82,83,84,85,167,168,169,170,190…第1の電極
171,172,173,174,175…第2の電極
87…導入口
88,89,90,91,92,93…スイッチ
94…電源
95,105…液体
96,107…ディスペンサ
100,183…上部基板
101,182…下部基板
104…上部基板と下部基板の間の空間
106…排出口
108…廃液
110…測定部
122,124,126,128…波長λ3の光源
123,125,127,129…波長λ4の光源
130,132,134,136…波長λ5の光源
131,133,135,137…波長λ6の光源
147,148,149,150,151,152,153,154,155,156,157,158…電極
159…レンズ
160,161…試料
162,163…オイル滴
164…空気
165,166…絶縁性基板
180,181…絶縁膜
184…試料保持部
185,186…撥水膜
Claims (12)
- パッケージに納められそれぞれ異なる波長の光を発生する第1の光源及び第2の光源と,試料を保持する試料保持部と,前記第1の光源及び前記第2の光源から出射して前記試料保持部に保持された試料を透過した光を検出する光検出器とを有する測定部が複数並置され,
同じ測定部に属する前記第1の光源及び前記第2の光源は,それぞれ異なる変調周波数で変調された光を同じタイミングで出射し,
少なくとも隣接する測定部に属する光源は,それぞれ異なるタイミングで発光し,
各測定部に属する前記第1の光源と前記第2の光源は垂直方向に並んで配置され,前記第1の光源からの光と前記第2の光源からの光は前記試料に対して水平方向に照射され,前記試料の,光の透過方向における長さの1/2の位置で,前記第1の光源からの光と前記第2の光源からの光が交差し前記光検出器に照射される,又は,各測定部に属する前記第1の光源と前記第2の光源は水平方向に並んで配置され,前記第1の光源からの光と前記第2の光源からの光は前記試料に対して垂直方向に照射され,前記試料の,光の透過方向における長さの1/2の位置で,前記第1の光源からの光と前記第2の光源からの光が交差し前記光検出器に照射される,ことを特徴とする試料分析装置。 - 請求項1記載の試料分析装置において,各測定部に属する2つの光源が発生する波長の組み合わせが同一であることを特徴とする試料分析装置。
- 請求項1記載の試料分析装置において,異なる測定部に属する光源は,それぞれ異なるタイミングで発光することを特徴とする試料分析装置。
- 請求項1記載の試料分析装置において,相互に隣接する所定数の測定部に属する光源は,それぞれ異なるタイミングで発光することを特徴とする試料分析装置。
- 請求項1記載の試料分析装置において,複数の電極が設置された基板と,前記複数の電極に選択的に電圧を印加する電圧印加手段とを備える試料搬送路を有し,前記各測定部の試料保持部は,前記搬送路上に設定されることを特徴とする試料分析装置。
- パッケージに納められそれぞれ異なる波長の光を発生する第1の光源及び第2の光源と,試料を保持する試料保持部と,前記試料保持部に保持された試料を透過した前記第1の光源及び前記第2の光源からの光を検出する光検出器とを備える測定部が複数並置され,
一つの測定部に属する前記第1の光源及び前記第2の光源及び少なくとも当該測定部に隣接する測定部に属する複数の光源は,それぞれ異なる変調周波数で変調された光を出射し,
各測定部に属する前記第1の光源と前記第2の光源は垂直方向に並んで配置され,前記第1の光源からの光と前記第2の光源からの光は前記試料に対して水平方向に照射され,前記試料の,光の透過方向における長さの1/2の位置で,前記第1の光源からの光と前記第2の光源からの光が交差し前記光検出器に照射される,又は,各測定部に属する前記第1の光源と前記第2の光源は水平方向に並んで配置され,前記第1の光源からの光と前記第2の光源からの光は前記試料に対して垂直方向に照射され,前記試料の,光の透過方向における長さの1/2の位置で,前記第1の光源からの光と前記第2の光源からの光が交差し前記光検出器に照射される,ことを特徴とする試料分析装置。 - 請求項6記載の試料分析装置において,前記複数の測定部が備える複数の光源は,それぞれ異なる変調周波数で変調された光を出射することを特徴とする試料分析装置。
- 請求項6記載の試料分析装置において,相互に隣接する所定数の測定部に属する複数の光源は,それぞれ異なる変調周波数で変調された光を出射することを特徴とする試料分析装置。
- 請求項6記載の試料分析装置において,複数の電極が設置された基板と,前記複数の電極に選択的に電圧を印加する電圧印加手段とを備える試料搬送路を有し,前記各測定部の試料保持部は,前記搬送路上に設定されることを特徴とする試料分析装置。
- 請求項6記載の試料分析装置において,前記測定部は二次元的にマトリックス配列されていることを特徴とする試料分析装置。
- 請求項6記載の試料分析装置において,各測定部に属する2つの光源が発生する波長の組み合わせが同一であることを特徴とする試料分析装置。
- 請求項6記載の試料分析装置において,前記複数の測定部が備える複数の光源は同期して発光することを特徴とする試料分析装置。
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Citations (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS60216324A (ja) * | 1984-03-16 | 1985-10-29 | トムソン‐セ‐エスエフ | 流体の変位を電気的に制御する装置 |
JPS6222066A (ja) * | 1985-07-23 | 1987-01-30 | Wako Pure Chem Ind Ltd | ラテツクス凝集反応測定装置 |
JPH0980021A (ja) * | 1995-09-18 | 1997-03-28 | Otsuka Pharmaceut Co Ltd | マルチキャピラリ電気泳動装置 |
JPH10267801A (ja) * | 1997-03-24 | 1998-10-09 | Advance Co Ltd | 液体微粒子ハンドリング装置 |
JPH1137931A (ja) * | 1997-07-14 | 1999-02-12 | Tokimec Inc | 吸光光度計 |
JP2004000935A (ja) * | 2002-04-01 | 2004-01-08 | Xerox Corp | 静電力を用いて流体を移動させるための装置 |
JP2005127980A (ja) * | 2003-10-27 | 2005-05-19 | Jfe Advantech Co Ltd | 液体濃度測定装置 |
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Patent Citations (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS60216324A (ja) * | 1984-03-16 | 1985-10-29 | トムソン‐セ‐エスエフ | 流体の変位を電気的に制御する装置 |
JPS6222066A (ja) * | 1985-07-23 | 1987-01-30 | Wako Pure Chem Ind Ltd | ラテツクス凝集反応測定装置 |
JPH0980021A (ja) * | 1995-09-18 | 1997-03-28 | Otsuka Pharmaceut Co Ltd | マルチキャピラリ電気泳動装置 |
JPH10267801A (ja) * | 1997-03-24 | 1998-10-09 | Advance Co Ltd | 液体微粒子ハンドリング装置 |
JPH1137931A (ja) * | 1997-07-14 | 1999-02-12 | Tokimec Inc | 吸光光度計 |
JP2004000935A (ja) * | 2002-04-01 | 2004-01-08 | Xerox Corp | 静電力を用いて流体を移動させるための装置 |
JP2005127980A (ja) * | 2003-10-27 | 2005-05-19 | Jfe Advantech Co Ltd | 液体濃度測定装置 |
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