JP4564967B2 - X線画像における欠陥を訂正するデバイス及び方法 - Google Patents
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Description
a) 現在有効である欠陥マップで事前訂正されたX線画像において、画素の値が、その画素に割り当てられる近接(neighborhood)における画素値の区間(interval)とは特定の程度(degree)分異なる場合、その画素が「欠陥の可能性あり」と分類される。X線画像は、特に、(特別に作成されたテスト画像ではなく)X線検出器の動作中に生成される有益な画像とすることができる。画素に割り当てられるその近接は、空間的に隣接するピクセル又は画素のいくつか又はすべてを含み、図面の説明において、様々な可能性のあるトポロジーが一層詳細に説明される。
(b) 候補マップにおける画素であって、種々の内容を伴ういくつかのX線画像において「欠陥の可能性あり」として分類され、かつ他の基準も満たす画素をすべて欠陥マップに追加することにより欠陥マップをリフレッシュする。
(c) ステップb)においてリフレッシュされた欠陥マップを用いて、他の又は連続するX線画像を訂正する。この訂正は、従来技術において知られた方法で行われることができ、例えば、近接する値に基づく補間を介して行われることができる。
a) 画素値が、その画素に割り当てられる近接における画素値のと、特定の程度分異なる場合、現在の欠陥マップを用いて事前訂正されたX線画像に関する画素を、「欠陥の可能性あり」と分類し、そうして分類された画素を候補マップへ記録するステップと;
(b) 異なる内容のいくつかのX線画像において、「欠陥の可能性あり」と分類され、かつ適切であれば他の基準も満たす、候補マップにおけるすべての画素で欠陥マップをリフレッシュするステップと;
(c) そのリフレッシュされた欠陥マップを用いて、別のX線画像を訂正するステップとである。
Claims (13)
- 欠陥マップを用いてX線画像における欠陥を訂正する方法において、
a) 現在の欠陥マップを用いて事前訂正されたX線画像における画素を、該画素の値が、前記画素の近接における前記画素値の最大及び最小に基づかれる区間と、特定の程度分異なる場合、「欠陥の可能性あり」と分類し、前記分類された前記画素を候補マップに記録するステップと、
(b) いくつかのX線画像において「欠陥の可能性あり」と分類され、かつ適切であれば他の基準も満たす、前記候補マップにおけるすべての前記画素を用いて前記欠陥マップをリフレッシュするステップと、
(c) 前記リフレッシュされた欠陥マップを用いて、X線画像を追加的に訂正するステップとを有する方法。 - 「欠陥の可能性あり」と分類された前記画素と共に、ステップa)において適切なX線画像の画像パラメタが記録され、前記特定の画像パラメタの値の種々の範囲に対してそれぞれ種々の欠陥マップが生成されることを特徴とする請求項1に記載の方法。
- 前記画像パラメタが、ビーム品質、線量、検出器の温度及び/又は画像ジオメトリに関することを特徴とする請求項2に記載の方法。
- 「欠陥の可能性あり」と分類されたX線画像における画素の前記値が、該画素の近接に含まれる画素の前記値に基づいて訂正されることを特徴とする請求項1に記載の方法。
- X線画像が、前記現在の欠陥マップと前記候補マップとに基づき再度訂正されることを特徴とする請求項1に記載の方法。
- 前記画素の近接が、互いに近接する欠陥画素の検出を可能にする態様で規定されることを特徴とする請求項1に記載の方法。
- 前記画素の近接が、所定の環境からの画素を有し、該画素の値は、前記環境全体に含まれるすべての前記画素値の少なくともn次の最大値及び/又は最小値であることを特徴とする請求項6に記載の方法。
- ステップa)における前記分類が、前記画素の前記値が所定の範囲の外側にある環境にある画素を排除することを特徴とする請求項1に記載の方法。
- 前記画素が、個別のピクセル又はピクセルのグループ、ピクセルの行又は列に対応することを特徴とする請求項1に記載の方法。
- 画素の値が前記画素の近接に含まれる画素の前記画素値の最小を下回るか又は最大を上回る場合、前記画素が「欠陥の可能性あり」と分類されることを特徴とする請求項1に記載の方法。
- ステップb)における前記他の基準が、前記画素が少なくとも特定数のX線画像において調査されること、前記画素が少なくとも特定数の場合において「欠陥の可能性あり」と分類されること、及び/又は調査された場合の少なくとも特定の割合において、前記画素が「欠陥の可能性あり」と分類されることを有することを特徴とする請求項1に記載の方法。
- 前記欠陥マップは、前記X線画像を用いて連続的にリフレッシュされることを特徴とする請求項1に記載の方法。
- 欠陥マップを用いてX線画像における欠陥を訂正するデータ処理装置であって、該データ処理装置が、
a) 現在の欠陥マップを用いて事前訂正されたX線画像における画素を、該画素の値が、前記画素の近接における前記画素値の最大及び最小に基づかれる区間と、特定の程度分異なる場合、「欠陥の可能性あり」と分類し、前記分類された前記画素を候補マップに記録するステップと、
(b) いくつかのX線画像において「欠陥の可能性あり」と分類され、かつ適切であれば他の基準も満たす、前記候補マップにおける前記画素のすべてを用いて前記欠陥マップをリフレッシュするステップと、
(c) 前記リフレッシュされた欠陥マップを用いて、X線画像を追加的に訂正するステップとを実行するよう備えられるデータ処理装置。
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