JP4542903B2 - チルトの検出を備えた光走査デバイス - Google Patents
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Description
[付記]
付記(1):放射ビームを使用して光記録担体を走査する光走査デバイスであって、当該デバイスは、該放射ビームを、該記録担体における情報層においてスポットに集束させる光学系、並びに、放射ビームの主要な部分からの放射を該記録担体における該主要な部分の反射後に受けるように及び情報信号を検出するように配置される情報信号検出器を含む検出系を含み、該光学系は、該記録担体に向かって伝わるとき、放射ビームの一部分を、該放射ビームの主要な部分とは異なって再方向付けて、該再方向付けられたビームの部分が、該主要なビームの部分によってたどられる経路のものと異なる経路をたどるように配置される再方向付けの構造を含み、該検出系は、該再方向付けられたビームの部分の位置を検出する位置検知型の検出器を含む、光走査デバイス。
付記(2):前記再方向付けの構造は、屈折の再方向付けの部分を含む、付記(1)に記載の光走査デバイス。
付記(3):前記再方向付けの構造は、実質的に平坦な表面の部分を含む、付記(2)に記載の光走査デバイス。
付記(4):前記再方向付けの構造は、前記光学系における対物レンズ系の部分として形成される、付記(1)乃至(3)のいずれか一つに記載の光走査デバイス。
付記(5):前記再方向付けの構造は、レンズ素子の表面に形成される、付記(1)乃至(4)のいずれか一つに記載の光走査デバイス。
付記(6):前記再方向付けの構造は、前記レンズ素子の表面に非回転対称の変形物として配置される、付記(5)に記載の光走査デバイス。
付記(7):前記再方向付けの構造は、周囲のレンズの表面に関して傾斜させられる表面の部分を含む、付記(5)又は(6)に記載の光走査デバイス。
付記(8):前記再方向付けの構造は、放射ビームの断面積の5%未満を被覆するように配置される、付記(1)乃至(7)のいずれか一つに記載の光走査デバイス。
付記(9):前記再方向付けの構造は、前記ビームの部分を、前記記録担体に向かって伝わるとき、再方向付ける第一の部分、及び、前記記録担体からの反射後に前記ビームの部分を再方向付ける第二の部分を含む、付記(1)乃至(8)のいずれか一つに記載の光走査デバイス。
付記(10):前記光学系は、放射ビームの一部分を反射して、該反射されたビームの部分が、該放射ビームの主要なビームの部分によってたどられる経路とは異なる経路をたどるように配置される反射部分を含み、前記検出系は、該反射された部分の一部分を検出する位置検知型の検出器を含む、付記(1)乃至(9)のいずれか一つに記載の光走査デバイス。
付記(11):前記第二の部分及び前記反射部分は、単一の構造要素として形成される、付記(9)又は(10)に記載の光走査デバイス。
付記(12):前記第一及び第二の部分のそれぞれの傾斜角α及びβは、次の
付記(13):前記検出系は、前記再方向付けられたビームの部分及び前記反射されたビームの部分の両方を検出する単一の位置検知型の検出器を含む、付記(10)乃至(12)のいずれか一つに記載の光走査デバイス。
付記(14):第一の波長の第一の放射ビームを発生させる第一の放射源及び異なる第二の波長の第二の放射ビームを発生させる第二の放射源を含み、前記反射部分は、前記第一の及び第二の波長の一つに関係して選択的に反射性である、付記(10)乃至(13)のいずれか一つに記載の光走査デバイス。
付記(15):前記第二のビームを発生させる前記放射源は、前記再方向付けられたビームの部分及び前記反射されたビームの部分の相対強度を変動させるために、強度において選択的に変更されるように配置される、付記(14)に記載の光走査デバイス。
Claims (10)
- 放射ビームを使用することで光学的な記録担体を走査するための光学的な走査をするデバイスであって、
上記のデバイスは、
前記記録担体における情報層においてスポットへ前記放射ビームを集束させるための光学系、並びに、
放射ビームの主要な部分からの放射を前記記録担体における前記主要な部分の反射の後に受容するように及び情報信号を検出するように配置された情報信号検出器を含む検出系を含むと共に、
前記光学系は、放射ビームの一部分を、前記記録担体に向かって伝わるとき、前記放射ビームの主要な部分とは異なって、再方向付けされたビームの部分が、前記主要なビームの部分によってたどられた経路のものと異なるものである経路をたどるように、再方向付けするように配置された再方向付けをする構造を含むと共に、
上記の再方向付けをする構造は、屈折のための屈折性の再方向付けをする部分を含むと共に、
前記再方向付けをする構造は、レンズ素子の表面に、前記レンズ素子の中央において形成されたものであると共に、
前記検出系は、前記再方向付けされたビームの部分の位置を検出するための位置検知性の検出器を含む、光学的な走査をするデバイス。 - 請求項1に記載の光学的な走査をするデバイスにおいて、
前記再方向付けをする構造は、実質的に平坦な表面の部分を含む、光学的な走査をするデバイス。 - 請求項1に記載の光学的な走査をするデバイスにおいて、
前記再方向付けをする構造は、前記レンズ素子の表面における非回転対称な変形物として配置されたものである、光学的な走査をするデバイス。 - 請求項1又は3に記載の光学的な走査をするデバイスにおいて、
前記再方向付けをする構造は、周囲のレンズの表面に関して傾斜させられたものである表面の部分を含む、光学的な走査をするデバイス。 - 請求項1乃至4のいずれか一項に記載の光学的な走査をするデバイスにおいて、
前記再方向付けをする構造は、放射ビームの断面の面積の5%未満をカバーするように配置されたものである、光学的な走査をするデバイス。 - 請求項1乃至5のいずれか一項に記載の光学的な走査をするデバイスにおいて、
前記再方向付けをする構造は、前記ビームの部分を、前記記録担体に向かって伝わるとき、再方向付けするための第一の部分、及び、前記記録担体からの反射の後に前記ビームの部分を再方向付けするための第二の部分を含む、光学的な走査をするデバイス。 - 請求項6に記載の光学的な走査をするデバイスにおいて、
前記光学系は、放射ビームの一部分を、反射させられたビームの部分が、前記放射ビームの主要なビームの部分によってたどられたものである経路とは異なるものである経路をたどるように、反射させるように配置された反射性の部分を含むと共に、
前記検出系は、前記反射させられた部分の位置を検出するための位置検知性の検出器を含むと共に、
上記の第二の部分及び上記の反射性の部分は、単一の構造的な素子として形成されたものであると共に、
それぞれ上記の第一の及び第二の部分の前記光学系の光軸に対して垂直な平面に関しての傾斜角α及びβは、後に続くもの:
nは、前記再方向付けをする構造の屈折率である、光学的な走査をするデバイス。 - 請求項7に記載の光学的な走査をするデバイスにおいて、
前記検出系は、前記再方向付けされたビームの部分及び前記反射させられたビームの部分の両方を検出するための単一の位置検知性の検出器を含む、光学的な走査をするデバイス。 - 請求項7又は8に記載の光学的な走査をするデバイスにおいて、
第一の波長の第一の放射ビームを発生させる第一の放射源及び異なる第二の波長の第二の放射ビームを発生させる第二の放射源を含むと共に、
前記反射性の部分は、前記第一の及び第二の波長の一つに関係して選択的に反射性のものである、光学的な走査をするデバイス。 - 請求項9に記載の光学的な走査をするデバイスにおいて、
前記第二のビームを発生させる前記放射源は、前記再方向付けされたビームの部分及び前記反射させられたビームの部分の相対的な強度を変動させるために、強度において選択的に変更されたものであるように配置されたものである、光学的な走査をするデバイス。
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