JP4402081B2 - 磁気共鳴装置における検査計画方法とそのための磁気共鳴装置 - Google Patents
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Description
11 操作ユニット
12 ディスプレイユニット
14 記憶ユニット
15 データセット
16 制御ユニット
20 被検査者
21 第1階層
22 第2階層
23 第3階層
TE エコー時間
TR 繰返し時間
IFOV 固有有効視野
VLFOV 仮想大視野
Claims (7)
- 検査対象の異なる領域の画像が1つの全体画像として合成される、磁気共鳴装置における検査対象の検査計画方法であって、
・検査対象における少なくとも1つの第1画像の位置を決定するステップと、
・前記少なくとも1つの第1画像に対する測定パラメータを設定するステップと、
・前記少なくとも1つの第1画像の位置とは異なる、前記検査対象における少なくとも1つの第2画像の位置を決定するステップと、
・前記少なくとも1つの第2画像に対する測定パラメータを設定するステップと、
・従属測定パラメータを決定するステップと、
を備え、前記従属測定パラメータにおいて前記測定パラメータが全ての画像に対して同一であるように複数の画像で調整され、
複数の画像中の1つの画像における従属測定パラメータを変更したとき、その従属測定パラメータの変更が他の画像に伝達され、他方、複数の画像中の1つの画像における独立パラメータを変更したとき、その変更が他の画像に伝達されない
ことを特徴とする磁気共鳴装置における検査対象の検査計画方法。 - 検査対象が横たえられる検査台の第1位置で第1測定プロトコルデータセットを有する第1測定プロトコルが生成され、前記第1位置とは異なる前記検査台の第2位置で第2測定プロトコルデータセットを有する第2測定プロトコルが生成され、いずれか1つの測定プロトコルデータセット内の従属パラメータが変更されたとき、その変更が他の測定プロトコルデータセットに伝達されることを特徴とする請求項1記載の方法。
- 従属測定パラメータのカテゴリーが決定され、1つのカテゴリーが全ての画像に対して同一値を有する同一の従属パラメータを含んでいることを特徴とする請求項1または2記載の方法。
- 前記カテゴリーが検査対象の検査領域に従属することを特徴とする請求項2記載の方法。
- 前記従属測定パラメータが、全ての画像に対して必ずしも同一の値ではない独立測定パラメータとは異なるように表示されることを特徴とする請求項1ないし4の1つに記載の方法。
- 検査の計画のために、検査領域に応じてカテゴリーが選択され、そのカテゴリーが設定されることによって従属測定パラメータが設定されることを特徴とする請求項3ないし5の1つに記載の方法。
- 検査対象の異なる領域の画像が撮影され、それらの画像が1つの全体画像に合成される、検査対象を検査する磁気共鳴装置であって、
・検査対象の少なくとも1つの第1画像及び少なくとも1つの第2画像を撮影する画像撮影ユニット(10)と、
・検査対象の第1画像及び第2画像の位置を設定し、前記第1画像及び第2画像に対する測定パラメータを設定する操作ユニット(11)と、
・複数の測定パラメータにおいて従属測定パラメータが存在するかどうかを検査し、前記従属測定パラメータを全ての画像に対して同一であるように調整する制御ユニット(16)と、
を備え、複数の画像の中の1つに対して従属測定パラメータを変更したとき、前記制御ユニット(16)がその変更を他の画像に伝達することを特徴とする検査対象を検査する磁気共鳴装置。
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