JP3087478B2 - 抵抗溶接の溶接品質監視装置 - Google Patents
抵抗溶接の溶接品質監視装置Info
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Description
ト溶接の溶接品質管理装置に関するものである。
用する種々の製品に用いられているが、近年その溶接不
良が増大する傾向にある。すなわち、従来は一般に軟鋼
板が被溶接材であったことから通電不良も少なく、溶接
条件を一定に管理すれば溶接品質も比較的安定に保つこ
とができた。しかし、軟鋼板に代わって亜鉛メッキ鋼板
や高張力鋼板が多量に使用されはじめ、溶接不良の発生
が増大している。
るのみのものではなく、溶接品質を精度良く監視可能な
装置の出現が待たれており、これまで種々の溶接品質監
視装置が開発されてきた。
変化パターンから溶接結果の良否を判定するもの(特開
昭56−158286号公報)、 2)チップ間電圧と、あらかじめ設定した基準電圧の時
間的変化とを比較し、その差が許容値内か否かにより良
否を判定するもの(特公昭59−14312号公報)
や、チップ間電圧より溶接部の発熱に有効に寄与する有
効成分を抽出し、有効成分の時間積分値から溶接結果の
良否を判定するもの(特公昭59−40550号公報,
特開昭59−61580号公報)、 3)発熱温度を検出し、その温度変化パターンから溶接
結果の良否を判定するもの(特開平1−216246号
公報)、 4)被溶接材間に超音波を透過させ、その透過量から溶
接結果の良否を判定するもの(特開昭52−94841
号公報)、 5)電極チップの溶接中の変位を用いたもの(特公昭6
0−40955号公報)、 6)溶接電流を検出し、その上下限値を監視し溶接結果
を一定にしようとするもの、 等があり、いずれも溶接結果の良否判定のみを行ってい
た。
の方式において、1)はチップ先端部の圧潰や分流を生
じた場合や被溶接材の材質が亜鉛メッキ鋼板の場合には
抵抗の変化パターンが一様でなく、溶接結果の良否判定
が困難となる。
接状態が変化する度に溶接結果の判定条件を再設定しな
ければならず、実用上良否判定を正確に行うことは困難
である。
信,受信装置の設置、取り付け方法において現場作業上
適用困難な問題をかかえている。
イズの混入、微少変位測定の困難さ、抵抗溶接機の機械
強度の個体差等により実用には問題がある。
き、電源の故障,二次導体の断線などの発見には有効で
あるが、チップ先端部の圧潰や分流など、電流密度の低
下による溶接部の品質劣化は判別できない。
置は、それぞれの溶接材料ごとに溶接現場で予備実験を
行い、溶接品質と判別基準の関係をあらかじめ求めてお
くという作業が不可欠となり、その判別結果も溶接部の
良否をおおまかに判別し得るにすぎず、良否判定基準を
溶接部位、溶接条件に応じて作業者が精度良く決定する
ことができなかった。
接品質の打点毎の変化が不明なため、溶接現場において
は溶接機のメンテナンス、例えば溶接チップの交換,補
修時期を推定できず、あらかじめ定めた打点数に達した
時点で機械的にメンテナンスが行われており、補修材
料,補修工数とも無駄が発生していた。この方法では、
あらかじめ定めた打点数に達する以前に溶接機の補修が
必要となった場合には品質不良が発生する恐れがあり品
質面でも問題があった。
監視装置を併用しても、メンテナンスの時期まで推定で
きず、このため実際のメンテナンスの要,不要に関係な
く短期間でメンテナンスを行うため、それに要する材
料,工数の無駄が発生していた。
品質不良が発生し、手直しが必要となるばかりか、場合
によっては製品を破棄したり、市場で問題をおこす場合
もあった。
ので、設置が容易で、汎用性を持ち、溶接作業で発生し
た溶接不良の監視および、溶接チップ等のメンテナンス
の時期を推定できると共に、効果的に品質状態を作業者
に知らせることができる抵抗溶接の溶接品質管理装置を
提供することを目的とする。
に本発明の抵抗溶接の溶接品質監視装置は、被溶接材の
形状と材質を入力する手段と、溶接電流とチップ間電圧
を検出する手段と、両検出値から熱伝導モデルに基づい
て被溶接材温度を算出すると共に、この算出された温度
の分布から推定ナゲット径を推定する手段とを備え、前
記チップのメンテナンス時期判別の基準となる基準ナゲ
ット径を入力する手段と、この基準ナゲット径と溶接開
始から終了までに算出されるいずれかの前記推定ナゲッ
ト径とを比較し、その比較結果を出力する手段、 また
は、被溶接材の形状と材質を入力する手段と、溶接電流
とチップ間電圧を検出する手段と、両検出値から熱伝導
モデルに基づいて被溶接材温度を算出すると共に、この
算出された温度の分布から推定ナゲット径を推定する手
段とを備え、前記チップのメンテナンス時期判別の基準
となる基準ナゲット径を入力する手段と、溶接打点毎に
時系列で連続して推定した複数の第1の推定ナゲット径
を統計処理し第2の推定ナゲット径を算出する手段と、
この第2の推定ナゲット径と前記基準ナゲット径とを比
較し、その比較結果を出力する手段とからなる構成を有
している。
際の統計処理は、(1)第1の推定ナゲット径の時系列
上の変化から回帰直線を求め、この直線から第2の推定
ナゲット径を算出する。(2)時系列上の複数の第1の
ナゲット径の平均値を求め、これを第2の推定ナゲット
径とする。(3)時系列上で連続して推定した複数の第
1の推定ナゲット径を時系列上のブロックに分割し、ブ
ロック毎の平均値を求め、それらの平均値の変化から回
帰直線を求め、この直線から第2の推定ナゲット径を算
出する。のいずれかの処理からなる。
された被溶接材の板厚と材質から通電開始時における固
有抵抗値,比熱を求め、さらに、最初に測定された溶接
電流とチップ間電圧を用い、被溶接材の溶接部における
熱伝導モデルの発熱、熱伝導計算を行い溶接部の温度分
布を決定する。さらに、ここで決定された温度分布を用
いて次のステップにおける溶接部各部の固有抵抗値、比
熱を決定し、次に測定される溶接電流とチップ間電圧を
用いて熱伝導モデルの発熱、熱伝導計算を行うという作
業を繰り返し、溶接部の状態を推測して行く。この推測
過程で被溶接材の溶融温度を越えた部分がナゲットとな
る。
測に関しては、「抵抗溶接現象とその応用(1)」(溶
接学会抵抗溶接研究委員会編溶接学会技術資料No7、
12頁〜52頁)、「スポット溶接での通電路と温度分
布の数値解析法に関する研究」(大阪大学大学院溶接専
攻修士論文(昭和54):佐野)、「抵抗スポット溶接
用数値計算援用形品質モニタリングの高速化に関する研
究」(大阪大学大学院溶接専攻修士論文(平成3):西
宇)(以下研究論文と指称する)に開示されている。
いて求めた推定ナゲット径は、従来の溶接品質監視装置
のように、被溶接材ごとに溶接現場で溶接実験を行い、
溶接品質と判別基準の関係をあらかじめ求める必要がな
く、溶接過程において発生するチップの圧潰等の溶接条
件変化に対しても良好な精度で得られる。
ゲット径と、チップのメンテナンス時期判別の基準とな
る基準ナゲット径とを比較することで、チップの変形,
摩耗に伴うナゲット径の変化から、チップの交換時期を
溶接作業者、溶接機のメンテナンス担当者が知ることが
できる。
定した複数の第1の推定ナゲット径を統計処理し求めた
第2の推定ナゲット径を上記基準ナゲット径とを比較す
ることにより、溶接打点毎のバラツキを排除し、チップ
の変形,摩耗に伴うナゲット径の変化から、チップの交
換時期を溶接作業者、溶接機のメンテナンス担当者が知
ることができる。
報を溶接電源にフィードバックして、溶接電源の出力制
御を行うことにより、ナゲットの形成を確実にすること
ができ、溶接品質の改善をすることもできる。また、設
置方法についても、本発明の溶接品質監視装置は、溶接
電流とチップ間電圧の検出を行うのみであるため溶接作
業現場への適用も容易に可能である。
しながら説明する。
接機の上部チップ、3は同下部チップであり、これらの
チップ2,3は溶接トランス1の二次側に接続されてい
る。4は被溶接材であり、上部チップ2と下部チップ3
の間に挿入され、図示しない加圧シリンダで上下部チッ
プ2,3を加圧することにより溶接する。
ダルコイル5によって検出された出力電圧は積分回路7
により溶接電流に変換される。6は上部チップ2と下部
チップ3の間のチップ間電圧を検出する絶縁アンプであ
る。8は積分回路7で検出された溶接電流と絶縁アンプ
6で検出されたチップ間電圧を入力とするマルチプレク
サであり、CPU10からの変換要求信号により、これ
らの入力値をディジタル値に変換するA/Dコンバータ
9に順次出力する。
バックアップされたRAM部分とROM部分から構成さ
れ、CPU10の動作プログラムと各種データが格納さ
れている。
る推定ナゲット径Aと推定ナゲット径Bを算出するDS
P、14はDSP13の演算結果を記憶すると共にCP
U10からのアクセスが可能なRAMからなる記憶回路
である。
出力される溶接開始信号をCPU10に伝送するI/O
回路、16はCPU10において実施される各種ナゲッ
ト径の比較の結果を外部に出力する出力回路、17はキ
ーパネル18により入力される熱伝導モデル解析に必要
な数値、被溶接物の溶接強度確保に必要な基準ナゲット
径Aおよび上下部チップ2,3の使用によるナゲット径
の変化を基準ナゲット径Aとは異なる基準で判定するた
めの基準ナゲット径BをそれぞれCPU10に伝送する
と共に、CPU10から上記入力情報やナゲット径比較
結果をLCD表示器19,LED表示器20に表示する
ためのI/O回路である。なお、上記入力情報やナゲッ
ト径比較結果はドライバー21を介してプリンター22
にも出力できるように構成されている。
について、その動作を説明する。被溶接材4の板厚、重
ね枚数、被溶接物の溶接強度確保に必要であり溶接結果
の良否判定基準となる基準ナゲット径A、および上下部
チップ2,3の使用によるナゲット径の変化を基準ナゲ
ット径Aとは異なる基準で判別すると共に、上下部チッ
プ2,3のメンテナンス時期判別の基準となる基準ナゲ
ット径Bがキーパネル18より入力され、記憶回路12
に記憶された後、I/O回路15を介して溶接開始信号
がCPU10に入力され、通電が開始される。
と絶縁アンプ6により検出したチップ間電圧と、トロイ
ダルコイル5と積分回路7により検出した溶接電流とを
マルチプレクサ8を介して交互にA/Dコンバータ9に
入力し、デジタル値に変換してその値を記憶回路14に
転送する。
った時間間隔(本実施例では4ms)で、通電終了時点
までチップ間電圧と溶接電流の値がCPU10により書
き込まれる。
より書き込まれた被溶接材4の材質、板厚に基づく熱伝
導計算用データ値とチップ間電圧値と溶接電流値を用
い、熱伝導モデルに基づいて被溶接材温度を算出し、そ
の温度分布からナゲット径を推定してその結果を記憶回
路14に書き込む。DSP13の実行する熱伝導モデル
を用いたナゲット径の推測に関しては、前記研究論文に
開示されている。
に順次書き込まれたナゲット径の最大値を推定ナゲット
径Aとし、記憶回路12より基準ナゲット径Aを読みだ
し、両者を比較する。その結果、推定ナゲット径A≧基
準ナゲット径Aの場合は出力回路16を介して「良」の
信号を、推定ナゲット径A<基準ナゲット径Aの場合は
「否」の信号を出力し、プリンター22,LCD表示器
19等にもその結果を表示する。
して最新の推定ナゲット径Aを含めた過去の推定ナゲッ
ト径Aのデータが記憶されており、DSP13はそれら
のデータを定められた数(本実施例では5個)だけ読み
だし、統計処理(本実施例では平均値を算出する)を行
い、その結果を再び記憶回路14に推定ナゲット径Bと
して記憶させる。
た推定ナゲット径Bと、記録回路12に書き込まれてい
る基準ナゲット径Bを読みだし、両者を比較する。その
結果、推定ナゲット径B≧基準ナゲット径Bの場合は出
力を行わず、推定ナゲット径B<基準ナゲット径Bの場
合はチップのメンテナンス要求信号、および溶接条件変
更要求信号を出力回路16を介し出力し、同時にプリン
ター22,LCD表示器19等にもその結果を表示す
る。
ナゲット径Aと推定ナゲット径Bとの比較、あるいは基
準ナゲット径Bと推定ナゲット径Aとの比較を行う機能
を持たせることもできる。
結果、推定ナゲット径Bの値変化、基準ナゲット径Aお
よびBの設定例、さらに推定結果に対応する実測ナゲッ
ト径を図2に示す。図2では基準ナゲット径Aを4.7
mm、基準ナゲット径Bを5.0mmに設定している。この
図において、推定ナゲット径AまたはBと実測ナゲット
径を比較すると両者は±1mm程度の誤差範囲であり、本
発明が実用上非常に有用であることを示している。
抵抗溶接の溶接品質監視装置によれば、絶縁アンプ6に
より検出したチップ間電圧と、トロイダルコイル5と積
分器7により検出した溶接電流を用いて、熱伝導モデル
による被溶接材4の温度分布と推定ナゲット径Aを推算
するので、従来の溶接品質監視装置のように、被溶接材
ごとに溶接現場で溶接実験を行い、溶接品質と判別基準
の関係をあらかじめ求める必要がなく、溶接過程におい
て発生するチップの圧潰等の溶接条件変化に対しても良
好な精度が得られる。
よりあらかじめ入力された必要基準ナゲット径を比較す
ることにより、溶接結果の良否が数値の大小で明確に判
定でき、溶接品質の監視が効果的に行える。
ことができ、溶接条件が不適な場合も検知できるので、
溶接条件の管理にも大きな効果がある。
熱伝導モデル解析に必要な数値、および被溶接物に必要
な基準ナゲット径の値をI/O回路17を介してCPU
10に入力したが、パソコン,CAD等より直接入力し
てもよい。また、推定ナゲット径と基準ナゲット径の比
較結果の出力を良否判定のみでなく、両者の差に対応し
た指令値としてアナログまたはデジタル値で出力回路1
6より出力し、溶接電源の出力値を変更するのに用いて
も良い。
ための統計処理において5個の推定ナゲット径Aの平均
値を算出したが、推定ナゲット径Aの時系列上の変化か
ら回帰直線を求め、この直線から推定ナゲット径Bを算
出しても、あるいは推定ナゲット径Aを時系列上のブロ
ックに分割し、各ブロックの平均値を求め、その平均値
の変化から回帰直線を求めて推定ナゲット径を算出して
もよいことはいうまでもない。
発明は、熱伝導モデルを用いて求めた推定ナゲット径
を、チップのメンテナンス時期判別の基準となる基準ナ
ゲット径と比較することにより、チップの変形,摩耗に
伴うナゲット径の変化から、チップの交換時期を溶接作
業者、溶接機のメンテナンス担当者が知ることができる
ので、効果的なメンテナンスが行え、溶接品質の管理に
大いに効果がある。
定した複数の第1の推定ナゲット径を統計処理し求めた
第2の推定ナゲット径を上記基準ナゲット径とを比較す
ることで、溶接打点毎のバラツキを排除し、チップの変
形,摩耗に伴うナゲット径の変化から、チップの交換時
期を溶接作業者、溶接機のメンテナンス担当者が知るこ
とができるので効果的なメンテナンスが行え、溶接品質
の管理に大いに効果がある。
電流とチップ間電圧の検出を行うのみであるので、溶接
作業場への適用もきわめて容易であるという効果もあ
る。
監視装置の構成を示すブロック図
ト径A,推定ナゲット径Bと、基準ナゲット径A,基準
ナゲット径Bの設定例、および実際に得られたナゲット
径の実測値の一例を比較して示す図
Claims (7)
- 【請求項1】 被溶接材の形状と材質を入力する手段
と、溶接電流とチップ間電圧を検出する手段と、両検出
値から熱伝導モデルに基づいて被溶接材温度を算出する
と共に、この算出された温度の分布から推定ナゲット径
を推定する手段とを備え、 前記チップのメンテナンス時期判別の基準となる基準ナ
ゲット径を入力する手段と、この基準ナゲット径と溶接
開始から終了までに算出されるいずれかの前記推定ナゲ
ット径とを比較し、その比較結果を出力する手段とを備
える 抵抗溶接の溶接品質監視装置。 - 【請求項2】 基準ナゲット径と比較する推定ナゲット
径を、溶接終了時のナゲット径とする請求項1記載の抵
抗溶接の溶接品質監視装置。 - 【請求項3】 基準ナゲット径と比較する推定ナゲット
径を、溶接開始から終了までに算出される推定ナゲット
径の最大値とする請求項1記載の抵抗溶接の溶接品質監
視装置。 - 【請求項4】 被溶接材の形状と材質を入力する手段
と、溶接電流とチップ間電圧を検出する手段と、両検出
値から熱伝導モデルに基づいて被溶接材温度を算出する
と共に、この算出された温度の分布から推定ナゲット径
を推定する手段とを備え、 前記チップのメンテナンス時期判別の基準となる基準ナ
ゲット径を入力する手段と、溶接打点毎に時系列で連続
して推定した複数の第1の推定ナゲット径を統計処理し
第2の推定ナゲット径を算出する手段と、この第2の推
定ナゲット径と前記基準ナゲット径とを比較し、その比
較結果を出力する手段と を備える抵抗溶接の溶接品質監
視装置。 - 【請求項5】 第2の推定ナゲット径を算出するための
統計処理を、第1の推定ナゲット径の時系列上の変化か
ら回帰直線を求め、この直線より第2の推定ナゲット径
を算出することとした請求項4記載の抵抗溶接の溶接品
質監視装置。 - 【請求項6】 第2の推定ナゲット径を算出するための
統計処理を、時系列上で連続して推定した複数の第1の
推定ナゲット径の平均値を求め、この平均値を第2の推
定ナゲット径とすることとした請求項4記載の抵抗溶接
の溶接品質監視装置。 - 【請求項7】 第2の推定ナゲット径を算出するための
統計処理を、時系列上で連続して推定した複数の第1の
推定ナゲット径を時系列上のブロックに分割し、ブロッ
ク毎の平均値を求め、それらの平均値の変化から平均値
の回帰直線を求め、この直線より第2の推定ナゲット径
を算出することとした請求項4記載の抵抗溶接の溶接品
質監視装置。
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Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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ID=18134505
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1992
- 1992-12-01 JP JP04321615A patent/JP3087478B2/ja not_active Expired - Lifetime
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