JP2746140B2 - Terminal test control processing method - Google Patents
Terminal test control processing methodInfo
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- JP2746140B2 JP2746140B2 JP6243294A JP24329494A JP2746140B2 JP 2746140 B2 JP2746140 B2 JP 2746140B2 JP 6243294 A JP6243294 A JP 6243294A JP 24329494 A JP24329494 A JP 24329494A JP 2746140 B2 JP2746140 B2 JP 2746140B2
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Description
【0001】[0001]
【産業上の利用分野】本発明は、オンラインシステムの
中央装置に接続された単数または複数の端末装置(通信
制御手順やバス等を介して中央装置に接続された端末装
置)上のシステム(OS(Operating Sys
tem。オペレーティングシステム)やアプリケーショ
ンシステム(例えば、銀行業務におけるCD(Cash
Dispenser)システム))の機能を中央装置
からの指示によって試験する際に当該試験の制御を行う
端末試験制御処理方式に関する。なお、上述のシステム
は、複数のサブシステムによって構成されている。例え
ば、OSはデータ管理,入出力管理,実行管理およびユ
ーティリティ管理等の各サブシステムによって構成され
ており、CDシステムは入力金額カウント,暗証番号チ
ェックおよび伝票出力等の各サブシステムによって構成
されている。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a system (OS) on one or more terminal devices (terminal devices connected to a central device via a communication control procedure or a bus) connected to a central device of an online system. (Operating Sys
tem. Operating system) or application system (eg, CD (Cash
The present invention relates to a terminal test control processing method that controls the test when a function of the Dispenser system)) is tested according to an instruction from a central device. Note that the above-described system is configured by a plurality of subsystems. For example, the OS is constituted by subsystems such as data management, input / output management, execution management and utility management, and the CD system is constituted by subsystems such as input money count, password check and slip output. .
【0002】[0002]
【従来の技術】従来、この種の端末試験制御処理方式で
は、以下に示すような処理が行われていた。2. Description of the Related Art Conventionally, in the terminal test control processing system of this type, the following processing has been performed.
【0003】 端末装置上のシステムの機能を確認す
るための試験プログラムが用意される。この試験プログ
ラムは、当該システム単位に存在し(サブシステム単位
には存在しない)、当該システムに所望の動作(試験対
象の動作)を行わせるためのプログラムであり、当該シ
ステムの実行環境を構築するためのコントロールブロッ
クの値を与える働き等を行う。A test program for confirming the function of the system on the terminal device is prepared. This test program is a program that exists in the system unit (not in the subsystem unit) and causes the system to perform a desired operation (operation to be tested), and constructs an execution environment of the system. To give the value of the control block for the operation.
【0004】 試験プログラムが中央装置から端末装
置に転送され、中央装置から端末装置に対して試験の実
行が指示される。The test program is transferred from the central device to the terminal device, and the central device instructs the terminal device to execute a test.
【0005】 端末装置において、試験プログラムお
よび被試験プログラム(試験対象のシステムを実現する
プログラム)が実行されることにより、システム単位で
の試験が実行される。In the terminal device, a test program and a program under test (a program for realizing a system to be tested) are executed to execute a test in a system unit.
【0006】なお、における「試験プログラムの転
送」を不要にするために、あらかじめ端末装置内の記憶
部に試験プログラムが格納される方式も存在する(「特
開平1−233529号公報(端末試験制御方式)」参
照)。In order to eliminate the need for the "transfer of the test program", there is also a method in which a test program is stored in a storage unit in a terminal device in advance (see Japanese Patent Laid-Open No. 1-233529 (Terminal test control)). Method) ”).
【0007】また、複数の端末装置について上述の試験
が行われる場合には、中央装置から各端末装置に対し
て、個々に試験プログラムが転送され、試験の実行の指
示が出されることによって、各端末装置における試験が
行われていた。この場合に、定められた順序に従って各
端末装置における試験の実行が中央装置から指示されて
おり、ある端末装置についての試験が完了するまで他の
端末装置についての試験を行うことはできなかった(同
報通信による試験ができなかった)。When the above-described test is performed on a plurality of terminal devices, a test program is individually transferred from the central device to each terminal device, and an instruction to execute the test is issued. Testing was performed on the terminal device. In this case, the execution of the test in each terminal device is instructed from the central device in a predetermined order, and the test on another terminal device cannot be performed until the test on one terminal device is completed ( The broadcast test was not possible.)
【0008】[0008]
【発明が解決しようとする課題】上述した従来の端末試
験制御処理方式では、システム単位での試験が行われて
おり、サブシステム単位での試験を行うことができない
ので、どのサブシステム機能においてエラーが生じたか
を検出すること等ができず、きめの細かい試験を行うこ
とが困難であるという問題点があった。In the above-described conventional terminal test control processing method, a test is performed on a system basis, and a test cannot be performed on a subsystem basis. It has been impossible to detect whether or not the test has occurred, and it is difficult to perform a detailed test.
【0009】また、従来の端末試験制御処理方式では、
試験プログラムが不可欠であるので、以下に示すような
問題点があった。In the conventional terminal test control processing method,
Since a test program is indispensable, there were the following problems.
【0010】 試験プログラムの開発および作成のた
めに多くの工数を必要とする。特に、複数の端末装置に
ついての試験を行う場合には、各試験プログラムを独立
して開発する必要が生じ、開発工数が莫大となる。ま
た、一旦開発した後に、試験プログラムの変更や追加を
行うことが困難である。[0010] A large number of man-hours are required for developing and creating a test program. In particular, when testing a plurality of terminal devices, it is necessary to develop each test program independently, and the number of development steps becomes enormous. Also, it is difficult to change or add a test program after it has been once developed.
【0011】 中央装置から端末装置への試験プログ
ラムの転送が必要になるので、試験プログラムの転送や
蓄積のための中央装置の負荷(中央装置と端末装置との
間のバス(通信路)の負荷を含む)が大きくなる。特
に、複数の端末装置についての試験を行う場合には、こ
の負荷は過大となる。Since the transfer of the test program from the central unit to the terminal unit is required, the load on the central unit for transferring and storing the test program (the load on the bus (communication path) between the central unit and the terminal unit) ) Becomes larger. In particular, when a test is performed on a plurality of terminal devices, this load becomes excessive.
【0012】 中央装置および端末装置に試験プログ
ラムを記憶(蓄積)しておく必要があるので、オンライ
ンシステム全体としての記憶容量が増大する。特に、複
数の端末装置についての試験を行う場合には、各端末装
置に対応して異なる試験プログラムを備える必要がある
ので、記憶容量は過大となる。Since the test program needs to be stored (stored) in the central device and the terminal device, the storage capacity of the entire online system increases. In particular, when testing a plurality of terminal devices, it is necessary to provide a different test program for each terminal device, so that the storage capacity becomes excessive.
【0013】 試験プログラムの転送および蓄積等に
は、一定の時間が必要になるので、試験に要する時間が
大きくなる。特に、複数の端末装置についての試験を行
う場合には、全ての端末装置について試験を完了するま
でには長時間を要する(上述のように、ある端末装置の
試験が完了するまで他の端末装置は試験待ちの状態にな
る)。Since a certain time is required for transferring and storing the test program, the time required for the test becomes longer. In particular, when a test is performed on a plurality of terminal devices, it takes a long time to complete the test on all the terminal devices (as described above, until a test on one terminal device is completed on another terminal device). Is waiting for the test).
【0014】本発明の目的は、上述の点に鑑み、中央装
置からの指示により単数または複数の端末装置上のシス
テムの機能の試験を行う場合に、サブシステム単位の試
験を可能とし、試験プログラムを不要にする(これによ
って、試験プログラムの開発工数の除去,中央装置の負
荷の軽減,オンラインシステム全体の記憶容量の削減,
および試験時間の短縮を図る)端末試験制御処理方式を
提供することにある。In view of the above, it is an object of the present invention to enable a test on a subsystem basis when a system function test is performed on one or more terminal devices in accordance with an instruction from a central device, and a test program is provided. (This eliminates test program development man-hours, reduces the load on the central unit, reduces the storage capacity of the entire online system,
And to shorten the test time).
【0015】[0015]
【課題を解決するための手段】本発明の端末試験制御処
理方式は、オンラインシステムの中央装置に接続された
端末装置上のシステムの機能を中央装置からの指示によ
って試験する際に当該試験の制御を行う端末試験制御処
理方式において、システムコンソールから与えられる当
該パラメータコマンドと当該パラメータと当該予測レジ
スタ情報とを入力し、端末装置に対してパラメータコマ
ンドとパラメータと予測レジスタ情報とを送信し、端末
装置における試験の完了をシステムコンソールに対して
通知する中央装置内の端末試験手段と、試験対象のシス
テムの機能を実現する被試験プログラムを格納する端末
装置内の記憶部と、この記憶部内の被試験プログラム中
のサブシステムの機能を実現するプログラムの環境を構
築するためのコントロールブロックの値を前記端末試験
手段から送信されてきた当該サブシステムに関するパラ
メータに基づいて設定し、当該プログラムを実行するこ
とにより当該サブシステムに関する試験を行う端末装置
内の試験部と、この試験部による試験で得られた試験結
果と前記端末試験手段から送信されてきた予測レジスタ
情報とに基づいて試験結果情報を生成する端末装置内の
試験制御部と、この試験制御部により生成された試験結
果情報を端末装置側で出力する端末装置内の出力部と、
前記試験部による試験の実行,前記試験制御部による試
験結果情報の生成および前記出力部による試験結果情報
の出力のタイミングの監視および制御を行い、前記端末
試験手段に対して試験の完了を通知する端末装置内の入
出力監視手段とを有する。According to the terminal test control processing method of the present invention, when a function of a system on a terminal device connected to a central device of an online system is tested by an instruction from the central device, the test is controlled. In the terminal test control processing method, the parameter command, the parameter, and the prediction register information provided from the system console are input, and the parameter command, the parameter, and the prediction register information are transmitted to the terminal device. A terminal test means in the central device for notifying the system console of the completion of the test, a storage unit in the terminal device for storing a program to be tested for realizing the function of the system to be tested, and a test device in the storage unit. A component for building a program environment that implements the functions of the subsystems in the program. A testing unit in a terminal device for setting a value of a roll block based on a parameter related to the subsystem transmitted from the terminal testing unit and performing a test related to the subsystem by executing the program; A test control unit in the terminal device for generating test result information based on the test result obtained by the test according to the above and the prediction register information transmitted from the terminal test means, and a test result generated by the test control unit. An output unit in the terminal device that outputs information on the terminal device side,
The test section executes the test, the test control section generates test result information, and the output section monitors and controls the output timing of the test result information, and notifies the terminal test means of the completion of the test. Input / output monitoring means in the terminal device.
【0016】また、本発明の端末試験制御処理方式は、
オンラインシステムの中央装置に接続された複数の端末
装置上のシステムの機能を中央装置からの指示によって
試験する際に当該試験の制御を行う端末試験制御処理方
式において、システムコンソールから与えられるパラメ
ータコマンドとパラメータと端末装置識別情報と予測レ
ジスタ情報とを入力し、当該端末装置識別情報によって
特定される端末装置に対して当該パラメータコマンドと
当該パラメータと当該予測レジスタ情報とを複数の端末
装置について非同期に送信し、各端末装置における試験
の完了をシステムコンソールに対して通知する中央装置
内の非同期端末試験手段と、試験対象のシステムの機能
を実現する被試験プログラムを格納する端末装置内の記
憶部と、この記憶部内の被試験プログラム中のサブシス
テムの機能を実現するプログラムの環境を構築するため
のコントロールブロックの値を前記非同期端末試験手段
から送信されてきた当該サブシステムに関するパラメー
タに基づいて設定し、当該プログラムを実行することに
より当該サブシステムに関する試験を行う端末装置内の
試験部と、この試験部による試験で得られた試験結果と
前記非同期端末試験手段から送信されてきた予測レジス
タ情報とに基づいて試験結果情報を生成する端末装置内
の試験制御部と、この試験制御部により生成された試験
結果情報を端末装置側で出力する端末装置内の出力部
と、前記試験部による試験の実行,前記試験制御部によ
る試験結果情報の生成および前記出力部による試験結果
情報の出力のタイミングの監視および制御を行い、前記
非同期端末試験手段に対してどの端末装置からの通知で
あるかを特定した上で試験の完了を通知する端末装置内
の入出力監視手段とを有する。Further, the terminal test control processing method of the present invention comprises:
In a terminal test control processing method for controlling a test of a system function on a plurality of terminal devices connected to a central device of an online system according to an instruction from the central device, a parameter command given from a system console and A parameter, terminal device identification information, and prediction register information are input, and the parameter command, the parameter, and the prediction register information are asynchronously transmitted to a terminal device specified by the terminal device identification information for a plurality of terminal devices. An asynchronous terminal test means in the central device for notifying the system console of the completion of the test in each terminal device, and a storage unit in the terminal device for storing a program under test for realizing the function of the system under test, Realizes the function of the subsystem in the program under test in this storage unit A terminal for setting a value of a control block for constructing an environment of the program based on the parameters related to the subsystem transmitted from the asynchronous terminal test means and executing the program for the subsystem by executing the program; A test unit in the device, and a test control unit in the terminal device that generates test result information based on the test result obtained in the test by the test unit and the prediction register information transmitted from the asynchronous terminal test means. An output unit in the terminal device for outputting the test result information generated by the test control unit on the terminal device side, execution of a test by the test unit, generation of test result information by the test control unit, and output by the output unit It monitors and controls the output timing of the test result information, and determines which terminal And a output monitoring means in the terminal apparatus for notifying the completion of the test on identified whether the put these notifications.
【0017】[0017]
【作用】本発明の端末試験制御処理方式では、オンライ
ンシステムの中央装置に接続された端末装置上のシステ
ムの機能を中央装置からの指示によって試験する際に当
該試験の制御を行う端末試験制御処理方式において、中
央装置内の端末試験手段がシステムコンソールから与え
られる当該パラメータコマンドと当該パラメータと当該
予測レジスタ情報とを入力し端末装置に対してパラメー
タコマンドとパラメータと予測レジスタ情報とを送信し
端末装置における試験の完了をシステムコンソールに対
して通知し、端末装置内の記憶部が試験対象のシステム
の機能を実現する被試験プログラムを格納し、端末装置
内の試験部が記憶部内の被試験プログラム中のサブシス
テムの機能を実現するプログラムの環境を構築するため
のコントロールブロックの値を端末試験手段から送信さ
れてきた当該サブシステムに関するパラメータに基づい
て設定し当該プログラムを実行することにより当該サブ
システムに関する試験を行い、端末装置内の試験制御部
が試験部による試験で得られた試験結果と端末試験手段
から送信されてきた予測レジスタ情報とに基づいて試験
結果情報を生成し、端末装置内の出力部が試験制御部に
より生成された試験結果情報を端末装置側で出力し、端
末装置内の入出力監視手段が試験部による試験の実行,
試験制御部による試験結果情報の生成および出力部によ
る試験結果情報の出力のタイミングの監視および制御を
行い端末試験手段に対して試験の完了を通知する。According to the terminal test control processing method of the present invention, a terminal test control processing for controlling the test when a function of a system on a terminal device connected to the central device of the online system is tested by an instruction from the central device. In the system, the terminal test means in the central unit inputs the parameter command, the parameter and the prediction register information provided from the system console, and transmits the parameter command, the parameter and the prediction register information to the terminal device, and To the system console, the storage unit in the terminal device stores a program to be tested that realizes the function of the system to be tested, and the test unit in the terminal device stores the program under test in the storage unit. Control block to build a program environment that implements the functions of the The test value is set based on the parameters related to the subsystem transmitted from the terminal test means, and the relevant program is executed to perform a test for the relevant subsystem. The test result information is generated based on the test result obtained in the above and the prediction register information transmitted from the terminal test means, and the output unit in the terminal device transmits the test result information generated by the test control unit to the terminal device side. The input / output monitoring means in the terminal device executes the test by the test section,
It monitors and controls the timing of the generation of the test result information by the test control unit and the output of the test result information by the output unit, and notifies the terminal test means of the completion of the test.
【0018】また、本発明の端末試験制御処理方式で
は、オンラインシステムの中央装置に接続された複数の
端末装置上のシステムの機能を中央装置からの指示によ
って試験する際に当該試験の制御を行う端末試験制御処
理方式において、中央装置内の非同期端末試験手段がシ
ステムコンソールから与えられるパラメータコマンドと
パラメータと端末装置識別情報と予測レジスタ情報とを
入力し当該端末装置識別情報によって特定される端末装
置に対して当該パラメータコマンドと当該パラメータと
当該予測レジスタ情報とを複数の端末装置について非同
期に送信し各端末装置における試験の完了をシステムコ
ンソールに対して通知し、端末装置内の記憶部が試験対
象のシステムの機能を実現する被試験プログラムを格納
し、端末装置内の試験部が記憶部内の被試験プログラム
中のサブシステムの機能を実現するプログラムの環境を
構築するためのコントロールブロックの値を非同期端末
試験手段から送信されてきた当該サブシステムに関する
パラメータに基づいて設定し当該プログラムを実行する
ことにより当該サブシステムに関する試験を行い、端末
装置内の試験制御部が試験部による試験で得られた試験
結果と非同期端末試験手段から送信されてきた予測レジ
スタ情報とに基づいて試験結果情報を生成し、端末装置
内の出力部が試験制御部により生成された試験結果情報
を端末装置側で出力し、端末装置内の入出力監視手段が
試験部による試験の実行,試験制御部による試験結果情
報の生成および出力部による試験結果情報の出力のタイ
ミングの監視および制御を行い非同期端末試験手段に対
してどの端末装置からの通知であるかを特定した上で試
験の完了を通知する。Further, in the terminal test control processing system of the present invention, when testing the functions of the system on a plurality of terminal devices connected to the central device of the online system in accordance with an instruction from the central device, the test is controlled. In the terminal test control processing method, the asynchronous terminal test means in the central unit inputs a parameter command, a parameter, terminal device identification information, and prediction register information given from the system console, and sends the parameter command to the terminal device specified by the terminal device identification information. On the other hand, the parameter command, the parameter, and the prediction register information are transmitted asynchronously for a plurality of terminal devices, and the completion of the test in each terminal device is notified to the system console. Stores the program under test that realizes the functions of the system The unit sets the value of the control block for constructing the environment of the program that realizes the function of the subsystem in the program under test in the storage unit based on the parameter related to the subsystem transmitted from the asynchronous terminal test means. A test for the subsystem is performed by executing the program, and a test control unit in the terminal device performs a test based on a test result obtained by the test by the test unit and the prediction register information transmitted from the asynchronous terminal test means. The output unit in the terminal device outputs the test result information generated by the test control unit on the terminal device side, and the input / output monitoring means in the terminal device executes the test by the test unit, and executes the test control unit. Monitors and controls the timing of test result information output by the output unit and test result information output by the output unit, and is asynchronous It reports the completion of the test on identified which of a notification from the terminal apparatus with respect to end testing means.
【0019】[0019]
【実施例】次に、本発明について図面を参照して詳細に
説明する。Next, the present invention will be described in detail with reference to the drawings.
【0020】図1は、本発明の一実施例に係る端末試験
制御処理方式の構成を示すブロック図である。FIG. 1 is a block diagram showing a configuration of a terminal test control processing system according to one embodiment of the present invention.
【0021】本実施例の端末試験制御処理方式は、中央
装置1と、端末装置2と、バス100とを含んで構成さ
れている。The terminal test control processing system of this embodiment includes a central unit 1, a terminal unit 2, and a bus 100.
【0022】中央装置1は、システムコンソール10を
接続し、端末試験手段11を含んで構成されている。The central unit 1 is connected to a system console 10 and includes terminal test means 11.
【0023】端末装置2は、インタフェース部21と、
記憶部22と、試験部23と、試験制御部24と、出力
部25と、入出力監視手段26とを含んで構成されてい
る。The terminal device 2 includes an interface unit 21,
It includes a storage unit 22, a test unit 23, a test control unit 24, an output unit 25, and an input / output monitoring unit 26.
【0024】図2は、本実施例の端末試験制御処理方式
の動作を説明するための図である。FIG. 2 is a diagram for explaining the operation of the terminal test control processing system of the present embodiment.
【0025】図3は、本実施例の端末試験制御処理方式
における試験部23の処理を示す流れ図である。この処
理は、パラメータ値および予測レジスタ情報格納ステッ
プ301と、プログラム読出しステップ302と、コン
トロールブロック値設定ステップ303と、試験実行ス
テップ304と、試験結果格納ステップ305とからな
る。FIG. 3 is a flowchart showing the processing of the test unit 23 in the terminal test control processing method of the present embodiment. This processing includes a parameter value and prediction register information storing step 301, a program reading step 302, a control block value setting step 303, a test executing step 304, and a test result storing step 305.
【0026】次に、このように構成された本実施例の端
末試験制御処理方式の動作について説明する(図2参
照)。Next, the operation of the terminal test control processing system of the present embodiment configured as described above will be described (see FIG. 2).
【0027】試験者は、中央装置1側のシステムコンソ
ール10から、試験の実行を指示し、パラメータコマン
ドファイルを入力する。パラメータコマンドファイル
は、試験対象のサブシステムを特定して試験の実行を命
令するパラメータコマンドと、当該サブシステムを実現
するプログラムの環境を構築するためのコントロールブ
ロックの値を示すパラメータと、当該サブシステムを実
現するプログラムの実行後の各種レジスタの値として予
測される値を示す予測レジスタ情報とからなるパラメー
タコマンド行の集合である(図2中のパラメータコマン
ドファイル参照)。The tester instructs the execution of the test from the system console 10 of the central device 1, and inputs a parameter command file. The parameter command file includes a parameter command for specifying a subsystem to be tested and instructing execution of a test, a parameter indicating a value of a control block for constructing a program environment for realizing the subsystem, and a parameter for the subsystem. Is a set of parameter command lines including prediction register information indicating values predicted as values of various registers after execution of the program for realizing the above (see the parameter command file in FIG. 2).
【0028】中央装置1内の端末試験手段11は、端末
装置2に対してバス100を介し、試験の実行を指示
し、パラメータコマンドファイルを送信する。The terminal test means 11 in the central device 1 instructs the terminal device 2 to execute a test via the bus 100 and transmits a parameter command file.
【0029】端末装置2内の入出力監視手段26は、イ
ンタフェース部21を介して当該指示および当該パラメ
ータコマンドファイルを受け取る。The input / output monitoring means 26 in the terminal device 2 receives the instruction and the parameter command file via the interface unit 21.
【0030】入出力監視手段26は、試験部23に対
し、中央装置1から試験の実行を指示されたことを通知
し、当該パラメータコマンドファイル内の情報を渡す。The input / output monitoring means 26 notifies the test section 23 that the execution of the test has been instructed by the central device 1, and passes the information in the parameter command file.
【0031】試験部23は、この通知によって試験の実
行を指示されたことを認識し、以下に示すような処理を
行う(図3参照)。なお、記憶部22には試験対象のシ
ステム(例えば、OS)の機能を実現する被試験プログ
ラムが格納されており、被試験プログラムは複数のサブ
システムの機能を実現する複数のプログラムによって構
成されている。The test unit 23 recognizes that the execution of the test has been instructed by this notification, and performs the following processing (see FIG. 3). The storage unit 22 stores a program under test that realizes a function of a system to be tested (for example, an OS). The program under test includes a plurality of programs that realize the functions of a plurality of subsystems. I have.
【0032】 記憶部22内の所定の領域に各パラメ
ータコマンドに対応するパラメータの値および予測レジ
スタ情報を格納する(ステップ301)。A parameter value and prediction register information corresponding to each parameter command are stored in a predetermined area in the storage unit 22 (Step 301).
【0033】 各パラメータコマンドを順次読み出
し、そのパラメータコマンドによって特定されるサブシ
ステム(例えば、図2中のパラメータコマンドファイル
において示されているパラメータコマンドにおけるdm
(data management。データ管理)に係
るサブシステム)の機能を実現するプログラム(例え
ば、図2中のdmプログラム)を記憶部22から読み出
す(ステップ302)。Each parameter command is sequentially read, and the subsystem specified by the parameter command (for example, dm in the parameter command shown in the parameter command file in FIG. 2)
A program (for example, a dm program in FIG. 2) that realizes a function of (subsystem related to data management (data management)) is read from the storage unit 22 (step 302).
【0034】 ステップ302で読み出したプログラ
ムの環境を構築するためのコントロールブロック(例え
ば、図2中のtcb(task control bl
ock)1およびtcb2)の値を、当該サブシステム
に関するパラメータ(当該パラメータコマンドに対応す
るパラメータ)の値によって設定する(ステップ30
3)。A control block (for example, tcb (task control bl in FIG. 2) for constructing the environment of the program read in step 302
ock) 1 and the value of tcb 2) are set by the value of a parameter related to the subsystem (a parameter corresponding to the parameter command) (step 30).
3).
【0035】 ステップ303によってコントロール
ブロックの値が設定された当該プログラムを実行するこ
とにより、当該パラメータコマンドに対応するサブシス
テムの動作を確認するための試験を行う(ステップ30
4)。By executing the program in which the value of the control block is set in step 303, a test for confirming the operation of the subsystem corresponding to the parameter command is performed (step 30).
4).
【0036】 この試験による試験結果を、順次、試
験制御部24内の試験結果レジスタ(例えば、図2中の
x1,y2およびz3)に格納する(ステップ30
5)。The test results of this test are sequentially stored in a test result register (for example, x1, y2, and z3 in FIG. 2) in the test control unit 24 (step 30).
5).
【0037】以上のような手順による試験が終了する
と、試験部23は、試験制御部24に制御を渡す。When the test according to the above procedure is completed, the test section 23 transfers control to the test control section 24.
【0038】試験制御部24は、試験結果レジスタの内
容と記憶部22内の予測レジスタ情報(その試験に係る
パラメータコマンドに対応する予測レジスタ情報)の内
容とを確認し、これらの情報に基づいて試験結果情報
(これらの情報を対比して示す情報であり、場合によっ
ては両者の差異等を示す情報)を生成する。この生成が
終了すると、入出力監視手段26に試験の終了を通知す
る(試験結果情報をも渡す)。The test control unit 24 confirms the contents of the test result register and the contents of the prediction register information in the storage unit 22 (prediction register information corresponding to the parameter command related to the test), and based on these information. Test result information (information indicating the information in comparison with each other, and in some cases, information indicating a difference between the two) is generated. When the generation is completed, the end of the test is notified to the input / output monitoring means 26 (the test result information is also passed).
【0039】出力部25は、試験制御部24によって生
成された試験結果情報(予測レジスタ情報および試験結
果等)を出力する。The output section 25 outputs test result information (predicted register information, test results, etc.) generated by the test control section 24.
【0040】入出力監視手段26は、端末装置2におけ
る以上の処理の過程で、試験部23による試験の実行,
試験制御部24による試験結果情報の生成,および出力
部25による試験結果情報の出力のタイミングの監視お
よび制御を行っている。そして、試験制御部24からの
試験の終了の通知に基づいて、中央装置1内の端末試験
手段11に対して、インタフェース部21およびバス1
00を介し、試験の完了を通知する。The input / output monitoring means 26 executes the test by the test unit 23 in the course of the above processing in the terminal device 2,
The test control section 24 generates test result information, and the output section 25 monitors and controls the output timing of the test result information. Then, based on the notification of the end of the test from the test control unit 24, the interface unit 21 and the bus 1 are transmitted to the terminal test unit 11 in the central unit 1.
The completion of the test is notified via 00.
【0041】中央装置1内の端末試験手段11は、入出
力監視手段26からの通知を受け取り、端末装置2にお
ける試験が完了したことを認識すると、システムコンソ
ール10に対して「試験の完了」を通知する。When the terminal test means 11 in the central device 1 receives the notification from the input / output monitoring means 26 and recognizes that the test in the terminal device 2 has been completed, the terminal test means 11 issues a "test complete" to the system console 10. Notice.
【0042】なお、場合によっては、入出力監視手段2
6がインタフェース部21およびバス100を介して試
験結果情報を中央装置1に送信し、端末試験手段11が
入出力監視手段26から送信されてきた試験結果情報を
中央装置1側で出力する(請求項3記載の発明参照)。
これによって、中央装置1におけるマンマシンインタフ
ェースの向上を図ることができる。In some cases, the input / output monitoring means 2
6 transmits the test result information to the central unit 1 via the interface unit 21 and the bus 100, and the terminal test unit 11 outputs the test result information transmitted from the input / output monitoring unit 26 on the central unit 1 side (claim See the invention described in Item 3).
Thereby, the man-machine interface in the central device 1 can be improved.
【0043】図4は、本発明の他の実施例に係る端末試
験制御処理方式の構成を示すブロック図である。FIG. 4 is a block diagram showing a configuration of a terminal test control processing system according to another embodiment of the present invention.
【0044】本実施例の端末試験制御処理方式は、中央
装置401と、複数の端末装置402,403および4
04と、バス4100とを含んで構成されている(複数
の端末装置の数が3に限られるものでないことはいうま
でもない)。The terminal test control processing method according to the present embodiment includes a central unit 401 and a plurality of terminal units 402, 403 and 4
04 and a bus 4100 (it goes without saying that the number of terminal devices is not limited to three).
【0045】中央装置401は、システムコンソール4
10を接続し、非同期端末試験手段411を含んで構成
されている。The central unit 401 is connected to the system console 4
10 are connected to each other and include an asynchronous terminal test means 411.
【0046】端末装置402は、インタフェース部42
1と、記憶部422と、試験部423と、試験制御部4
24と、出力部425と、入出力監視手段426とを含
んで構成されている。The terminal device 402 includes the interface unit 42
1, the storage unit 422, the test unit 423, and the test control unit 4.
24, an output unit 425, and an input / output monitoring unit 426.
【0047】端末装置403は、インタフェース部43
1と、記憶部432と、試験部433と、試験制御部4
34と、出力部435と、入出力監視手段436とを含
んで構成されている。The terminal device 403 includes an interface unit 43
1, a storage unit 432, a test unit 433, and a test control unit 4.
34, an output unit 435, and an input / output monitoring unit 436.
【0048】端末装置404は、インタフェース部44
1と、記憶部442と、試験部443と、試験制御部4
44と、出力部445と、入出力監視手段446とを含
んで構成されている。The terminal device 404 includes an interface unit 44
1, a storage unit 442, a test unit 443, and a test control unit 4.
44, an output unit 445, and an input / output monitoring unit 446.
【0049】なお、端末装置402,403および40
4は本発明に関して互いに同一の動作を行うので、以下
の動作説明においては端末装置2に関してのみ言及する
場合がある。The terminal devices 402, 403 and 40
4 perform the same operation with respect to the present invention, so that only the terminal device 2 may be referred to in the following description of the operation.
【0050】図5は、本実施例の端末試験制御処理方式
の動作を説明するための図である。FIG. 5 is a diagram for explaining the operation of the terminal test control processing method according to this embodiment.
【0051】次に、このように構成された本実施例の端
末試験制御処理方式の動作について説明する(図5参
照)。Next, the operation of the terminal test control processing system of the present embodiment configured as described above will be described (see FIG. 5).
【0052】試験者は、中央装置401側のシステムコ
ンソール410から、試験の実行を指示し、パラメータ
コマンドファイルを入力する。パラメータコマンドファ
イルは、試験対象のサブシステムを特定して試験の実行
を命令するパラメータコマンドと、当該サブシステムを
実現するプログラムの環境を構築するためのコントロー
ルブロックの値を示すパラメータと、そのパラメータコ
マンドに関する試験の対象となる端末装置を示す情報で
ある端末番号(端末装置識別情報)と、当該サブシステ
ムを実現するプログラムの実行後の各種レジスタの値と
して予測される値を示す予測レジスタ情報とからなるパ
ラメータコマンド行の集合である(図5中のパラメータ
コマンドファイル参照)。The tester instructs the execution of the test from the system console 410 of the central device 401 and inputs a parameter command file. The parameter command file includes a parameter command for specifying a subsystem to be tested and instructing execution of a test, a parameter indicating a value of a control block for constructing a program environment for realizing the subsystem, and a parameter command for the parameter. No. (terminal device identification information), which is information indicating a terminal device to be tested, and prediction register information indicating values predicted as values of various registers after execution of a program for realizing the subsystem. (See the parameter command file in FIG. 5).
【0053】中央装置401内の非同期端末試験手段4
11は、各パラメータコマンド行中の端末番号に基づい
て当該パラメータコマンド行に関する試験の対象となる
端末装置を特定する。その上で、各端末装置402,4
03および404に対してバス4100を介し、試験の
実行を指示し、当該各端末装置402,403および4
04に関するパラメータコマンドファイル内のパラメー
タコマンド行群を送信する。この場合に、複数の端末装
置402,403および404のそれぞれについて、非
同期に、当該パラメータコマンド行群の送信を行う。す
なわち、端末装置402に対するパラメータコマンド行
群の送信が終了すれば、当該端末装置402からの試験
の完了の通知を受ける前であっても、他の端末装置40
3および404に対するパラメータコマンド行群の送信
を行う。Asynchronous terminal test means 4 in central unit 401
Numeral 11 specifies a terminal device to be tested for the parameter command line based on the terminal number in each parameter command line. Then, each terminal device 402, 4
03 and 404 via the bus 4100 to instruct the execution of the test.
A parameter command line group in the parameter command file relating to the command line 04 is transmitted. In this case, the parameter command line group is asynchronously transmitted to each of the plurality of terminal devices 402, 403, and 404. That is, if the transmission of the parameter command line group to the terminal device 402 is completed, even before the notification of the completion of the test from the terminal device 402 is received, the other terminal device 40
3 and 404 are transmitted.
【0054】端末装置402内の入出力監視手段426
は、インタフェース部421を介して当該指示および当
該パラメータコマンド行群(端末装置402に関するパ
ラメータコマンド行群)を受け取る(端末装置403お
よび404についても同様の動作が行われているが、先
に述べたように端末装置402で代表して説明する)。The input / output monitoring means 426 in the terminal device 402
Receives the instruction and the parameter command line group (parameter command line group relating to the terminal device 402) via the interface unit 421 (similar operations are performed for the terminal devices 403 and 404, as described above). As described above, the terminal device 402 will be described as a representative).
【0055】入出力監視手段426は、試験部423に
対して中央装置401から試験の実行を指示されたこと
を通知し、当該パラメータコマンド行群内の情報を渡
す。The input / output monitoring unit 426 notifies the test unit 423 that the execution of the test has been instructed from the central unit 401, and passes the information in the parameter command line group.
【0056】試験部423は、この通知によって試験の
実行を指示されたことを認識し、以下に示すような処理
を行う。この処理は、図3に示す処理(図1に示す端末
試験制御処理方式における試験部23の処理)と同様で
ある。なお、記憶部422には試験対象のシステムの機
能を実現する被試験プログラムが格納されており、被試
験プログラムは複数のサブシステムの機能を実現する複
数のプログラムによって構成されている。The test section 423 recognizes that the execution of the test has been instructed by this notification, and performs the following processing. This processing is the same as the processing shown in FIG. 3 (the processing of the test unit 23 in the terminal test control processing method shown in FIG. 1). Note that the storage unit 422 stores a program under test that realizes the functions of the system under test, and the program under test includes a plurality of programs that realize the functions of a plurality of subsystems.
【0057】 記憶部422内の所定の領域に各パラ
メータコマンドに対応するパラメータの値および予測レ
ジスタ情報を格納する。The value of the parameter corresponding to each parameter command and the prediction register information are stored in a predetermined area in the storage unit 422.
【0058】 各パラメータコマンドを順次読み出
し、そのパラメータコマンドによって特定されるサブシ
ステムの機能を実現するプログラムを記憶部422から
読み出す。Each parameter command is sequentially read, and a program for realizing the function of the subsystem specified by the parameter command is read from the storage unit 422.
【0059】 当該プログラムの環境を構築するため
のコントロールブロックの値を、当該サブシステムに関
するパラメータ(当該パラメータコマンドに対応するパ
ラメータ)の値によって設定する。A value of a control block for constructing the environment of the program is set by a value of a parameter related to the subsystem (a parameter corresponding to the parameter command).
【0060】 においてコントロールブロックの値
が設定された当該プログラムを実行することにより、当
該パラメータコマンドに対応するサブシステムの動作を
確認するための試験を行う。By executing the program in which the value of the control block is set in, a test for confirming the operation of the subsystem corresponding to the parameter command is performed.
【0061】 この試験による試験結果を、順次、試
験制御部424内の試験結果レジスタに格納する。The test results of this test are sequentially stored in a test result register in the test control unit 424.
【0062】以上のような手順による試験が終了する
と、試験部423は、試験制御部424に制御を渡す。When the test according to the above procedure is completed, the test section 423 transfers control to the test control section 424.
【0063】試験制御部424は、試験結果レジスタの
内容と記憶部422内の予測レジスタ情報(その試験に
係るパラメータコマンドに対応する予測レジスタ情報)
の内容とを確認し、これらの情報に基づいて試験結果情
報(これらの情報を対比して示す情報であり、場合によ
っては両者の差異等を示す情報)を生成する。なお、こ
の試験結果情報には、自端末装置(ここでは、端末装置
402)を示す端末識別情報(端末番号)が付加され
る。この生成が終了すると、入出力監視手段426に試
験の終了を通知する(試験結果情報をも渡す)。The test control section 424 stores the contents of the test result register and the prediction register information in the storage section 422 (prediction register information corresponding to the parameter command related to the test).
Then, test result information (information indicating the information in comparison with each other, and in some cases, information indicating a difference between the two) is generated based on the information. Note that terminal identification information (terminal number) indicating the own terminal device (the terminal device 402 in this case) is added to the test result information. When this generation is completed, the end of the test is notified to the input / output monitoring means 426 (the test result information is also passed).
【0064】出力部425は、試験制御部424によっ
て生成された試験結果情報(予測レジスタ情報および試
験結果等)を出力する。The output section 425 outputs the test result information (predicted register information, test result, etc.) generated by the test control section 424.
【0065】入出力監視手段426は、端末装置402
における以上の処理の過程で、試験部423による試験
の実行,試験制御部424による試験結果情報の生成,
および出力部425による試験結果情報の出力のタイミ
ングの監視および制御を行っている。そして、試験制御
部424からの試験の終了の通知に基づいて、中央装置
401内の非同期端末試験手段411に対して、インタ
フェース部421およびバス4100を介し、端末装置
402における試験の完了を通知する(端末装置402
からの通知であることを特定した上で当該通知を行
う)。The input / output monitoring means 426 is
In the process of the above, the execution of the test by the test unit 423, the generation of the test result information by the test control unit 424,
The output unit 425 monitors and controls the output timing of the test result information. Then, based on the notification of the end of the test from the test control unit 424, the completion of the test in the terminal device 402 is notified to the asynchronous terminal test means 411 in the central device 401 via the interface unit 421 and the bus 4100. (Terminal device 402
The notification is made after specifying that the notification is from the company).
【0066】中央装置401内の非同期端末試験手段4
11は、入出力監視手段426からの通知を受け取り、
端末装置402における試験が完了したことを認識する
と、システムコンソール410に対して「端末装置40
2における試験の完了」を通知する。同様に、端末装置
403内の入出力監視手段436および端末装置404
内の入出力監視手段446からの各端末装置403およ
び404における試験の完了の通知をも受け取り、これ
によって各端末装置402,403および404からの
試験の完了の通知を逐次システムコンソール410に対
して通知する。Asynchronous terminal test means 4 in central unit 401
11 receives the notification from the input / output monitoring means 426,
Upon recognizing that the test in the terminal device 402 is completed, the system console 410 displays the message “
"Completion of the test in 2". Similarly, the input / output monitoring means 436 in the terminal device 403 and the terminal device 404
The notification of the completion of the test in each of the terminal devices 403 and 404 is also received from the input / output monitoring means 446 therein, whereby the notification of the completion of the test from each of the terminal devices 402, 403 and 404 is sequentially transmitted to the system console 410. Notice.
【0067】なお、場合によっては、入出力監視手段4
26がインタフェース部421およびバス4100を介
して試験結果情報(端末装置402に関する試験結果情
報であることが読取り可能とされた試験結果情報。例え
ば、端末装置402の端末番号が付加された試験結果情
報)を中央装置401に送信し、非同期端末試験手段4
11が入出力監視手段426から送信されてきた試験結
果情報を中央装置401側で出力する(他の端末装置4
03および404からの試験結果情報についても同様の
出力が行われる)(請求項4記載の発明参照)。これに
よって、中央装置401におけるマンマシンインタフェ
ースの向上を図ることができる。In some cases, the input / output monitoring means 4
Reference numeral 26 denotes test result information via the interface unit 421 and the bus 4100 (test result information that can be read as test result information relating to the terminal device 402. For example, test result information to which the terminal number of the terminal device 402 is added) ) Is sent to the central unit 401 and the asynchronous terminal testing means 4
11 outputs the test result information transmitted from the input / output monitoring means 426 on the central device 401 side (the other terminal device 4).
The same output is performed for the test result information from the third and 404) (see the invention according to claim 4). As a result, the man-machine interface in the central device 401 can be improved.
【0068】[0068]
【発明の効果】以上説明したように本発明は、中央装置
からの指示により端末装置上のシステムの機能の試験を
行う場合に、試験プログラムではなくパラメータおよび
予測レジスタ情報を与えることによって試験を行うこと
により、試験プログラムの開発および作成のための工数
が不要になり(試験プログラムの変更および追加が不要
になるので試験内容の変更や追加も容易にもなる)、中
央装置の負荷の軽減が可能となり、オンラインシステム
全体の記憶容量の削減を図ることができ、試験時間を短
縮することができるという効果を有する。なお、これら
の効果は、複数の端末装置についての試験を行う場合に
は、特に顕著となる。As described above, according to the present invention, when a function of a system on a terminal device is tested in accordance with an instruction from a central unit, the test is performed by giving parameters and prediction register information instead of a test program. This eliminates the need for man-hours for test program development and creation (since test programs do not need to be changed or added, test contents can be easily changed or added), and the load on the central unit can be reduced. Thus, the storage capacity of the entire online system can be reduced, and the test time can be shortened. Note that these effects are particularly remarkable when a test is performed on a plurality of terminal devices.
【0069】また、試験対象のシステムを構成するサブ
システム単位の機能の試験が可能となるので、どのサブ
システム機能においてエラーが生じたかの検出等が可能
になり、システムの機能を細部にまで渡って試験するこ
とが可能になる(きめ細かい試験が実現できる)という
効果がある。Further, since the function of each subsystem constituting the system to be tested can be tested, it is possible to detect which subsystem function has an error, and to perform the function of the system in detail. There is an effect that a test can be performed (a detailed test can be realized).
【0070】さらに、端末装置側で試験結果情報を出力
するとともに中央装置側ででも試験結果情報を出力する
ことにより、中央装置におけるマンマシンインタフェー
スの向上を図ることができるという効果がある。Further, by outputting the test result information on the terminal device side and also outputting the test result information on the central device side, there is an effect that the man-machine interface in the central device can be improved.
【図1】本発明の一実施例に係る端末試験制御処理方式
の構成を示すブロック図である。FIG. 1 is a block diagram showing a configuration of a terminal test control processing method according to an embodiment of the present invention.
【図2】図1に示す端末試験制御処理方式の動作を説明
するための図である。FIG. 2 is a diagram for explaining the operation of the terminal test control processing method shown in FIG.
【図3】図1中の端末装置内の試験部の処理を示す流れ
図である。FIG. 3 is a flowchart showing a process of a test unit in the terminal device in FIG. 1;
【図4】本発明の他の実施例に係る端末試験制御処理方
式の構成を示すブロック図である。FIG. 4 is a block diagram illustrating a configuration of a terminal test control processing method according to another embodiment of the present invention.
【図5】図4に示す端末試験制御処理方式の動作を説明
するための図である。FIG. 5 is a diagram for explaining the operation of the terminal test control processing method shown in FIG.
1,401 中央装置 2,402,403,404 端末装置 10,410 システムコンソール 11 端末試験手段 21,421,431,441 インタフェース部 22,422,432,442 記憶部 23,423,433,443 試験部 24,424,434,444 試験制御部 25,425,435,445 出力部 26,426,436,446 入出力監視手段 100,4100 バス 411 非同期端末試験手段 1,401 Central device 2,402,403,404 Terminal device 10,410 System console 11 Terminal test means 21,421,431,441 Interface unit 22,422,432,442 Storage unit 23,423,433,443 Test unit 24, 424, 434, 444 Test control unit 25, 425, 435, 445 Output unit 26, 426, 436, 446 Input / output monitoring unit 100, 4100 Bus 411 Asynchronous terminal test unit
Claims (4)
れた端末装置上のシステムの機能を中央装置からの指示
によって試験する際に当該試験の制御を行う端末試験制
御処理方式において、 システムコンソールから与えられる当該パラメータコマ
ンドと当該パラメータと当該予測レジスタ情報とを入力
し、端末装置に対してパラメータコマンドとパラメータ
と予測レジスタ情報とを送信し、端末装置における試験
の完了をシステムコンソールに対して通知する中央装置
内の端末試験手段と、 試験対象のシステムの機能を実現する被試験プログラム
を格納する端末装置内の記憶部と、 この記憶部内の被試験プログラム中のサブシステムの機
能を実現するプログラムの環境を構築するためのコント
ロールブロックの値を前記端末試験手段から送信されて
きた当該サブシステムに関するパラメータに基づいて設
定し、当該プログラムを実行することにより当該サブシ
ステムに関する試験を行う端末装置内の試験部と、 この試験部による試験で得られた試験結果と前記端末試
験手段から送信されてきた予測レジスタ情報とに基づい
て試験結果情報を生成する端末装置内の試験制御部と、 この試験制御部により生成された試験結果情報を端末装
置側で出力する端末装置内の出力部と、 前記試験部による試験の実行,前記試験制御部による試
験結果情報の生成および前記出力部による試験結果情報
の出力のタイミングの監視および制御を行い、前記端末
試験手段に対して試験の完了を通知する端末装置内の入
出力監視手段とを有することを特徴とする端末試験制御
処理方式。1. A terminal test control processing method for controlling a test of a system function on a terminal device connected to a central device of an online system in accordance with an instruction from the central device, which is provided from a system console. A central device that inputs the parameter command, the parameter, and the prediction register information, transmits the parameter command, the parameter, and the prediction register information to the terminal device, and notifies the system console of the completion of the test in the terminal device. And a storage unit in the terminal device for storing a program to be tested for realizing the function of the system under test, and a program environment for realizing the function of the subsystem in the program under test in the storage unit. Send the value of the control block to construct from the terminal test means A test unit in a terminal device that sets based on the parameters related to the subsystem and executes a program related to the subsystem by executing the program, a test result obtained by a test performed by the test unit, and the terminal. A test control unit in the terminal device for generating test result information based on the prediction register information transmitted from the test means, and a test device in the terminal device for outputting the test result information generated by the test control unit on the terminal device side And an output unit for performing a test by the test unit, generating and outputting test result information by the test control unit, and monitoring and controlling the timing of output of the test result information by the output unit. Terminal input / output monitoring means for notifying the completion of the terminal test.
れた複数の端末装置上のシステムの機能を中央装置から
の指示によって試験する際に当該試験の制御を行う端末
試験制御処理方式において、 システムコンソールから与えられるパラメータコマンド
とパラメータと端末装置識別情報と予測レジスタ情報と
を入力し、当該端末装置識別情報によって特定される端
末装置に対して当該パラメータコマンドと当該パラメー
タと当該予測レジスタ情報とを複数の端末装置について
非同期に送信し、各端末装置における試験の完了をシス
テムコンソールに対して通知する中央装置内の非同期端
末試験手段と、 試験対象のシステムの機能を実現する被試験プログラム
を格納する端末装置内の記憶部と、 この記憶部内の被試験プログラム中のサブシステムの機
能を実現するプログラムの環境を構築するためのコント
ロールブロックの値を前記非同期端末試験手段から送信
されてきた当該サブシステムに関するパラメータに基づ
いて設定し、当該プログラムを実行することにより当該
サブシステムに関する試験を行う端末装置内の試験部
と、 この試験部による試験で得られた試験結果と前記非同期
端末試験手段から送信されてきた予測レジスタ情報とに
基づいて試験結果情報を生成する端末装置内の試験制御
部と、 この試験制御部により生成された試験結果情報を端末装
置側で出力する端末装置内の出力部と、 前記試験部による試験の実行,前記試験制御部による試
験結果情報の生成および前記出力部による試験結果情報
の出力のタイミングの監視および制御を行い、前記非同
期端末試験手段に対してどの端末装置からの通知である
かを特定した上で試験の完了を通知する端末装置内の入
出力監視手段とを有することを特徴とする端末試験制御
処理方式。2. A terminal test control processing system for controlling a test of a system function on a plurality of terminal devices connected to a central device of an online system in accordance with an instruction from the central device. A given parameter command, parameter, terminal device identification information, and prediction register information are input, and the parameter command, the parameter, and the prediction register information are transmitted to a terminal device specified by the terminal device identification information by a plurality of terminals. Asynchronous terminal testing means in the central unit that transmits the device asynchronously and notifies the system console of the completion of the test in each terminal device, and the terminal device that stores the program under test that realizes the functions of the system under test And a subsystem in the program under test in the storage unit. The value of a control block for constructing an environment of a program for realizing the function of the system is set based on the parameter related to the subsystem transmitted from the asynchronous terminal test means, and the subsystem is executed by executing the program. A test unit in the terminal device that performs a test related to the test, and a terminal device that generates test result information based on the test result obtained in the test by the test unit and the prediction register information transmitted from the asynchronous terminal test means. A test control unit, an output unit in the terminal device for outputting the test result information generated by the test control unit on the terminal device side, execution of a test by the test unit, generation of test result information by the test control unit And monitoring and controlling the timing of output of test result information by the output unit, and the asynchronous terminal test means. Terminal test control processing method characterized by having input and output monitoring means in the terminal apparatus for notifying the completion of the test on identified which of a notification from the terminal device for.
情報を中央装置に送信する端末装置内の入出力監視手段
と、 この入出力監視手段から送信されてきた試験結果情報を
中央装置側で出力する中央装置内の端末試験手段とを有
することを特徴とする請求項1記載の端末試験制御処理
方式。3. An input / output monitoring unit in a terminal device for transmitting test result information generated by a test control unit to a central unit, and outputting the test result information transmitted from the input / output monitoring unit on the central unit side. 2. A terminal test control processing method according to claim 1, further comprising: a terminal test means in the central device.
情報をどの端末装置に関する試験結果情報であるかを読
取り可能として中央装置に送信する端末装置内の入出力
監視手段と、 この入出力監視手段から送信されてきた試験結果情報を
どの端末装置に関する試験結果情報であるかを示して中
央装置側で出力する中央装置内の非同期端末試験手段と
を有することを特徴とする請求項2記載の端末試験制御
処理方式。4. An input / output monitoring means in a terminal device for transmitting the test result information generated by the test control unit to a central unit in a readable manner and to which terminal device the test result information relates, and the input / output monitoring means 3. The terminal according to claim 2, further comprising: an asynchronous terminal test unit in the central unit for indicating which terminal unit the test result information transmitted from is transmitted to the terminal unit and outputting the result on the central unit side. Test control processing method.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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JP6243294A JP2746140B2 (en) | 1994-09-12 | 1994-09-12 | Terminal test control processing method |
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JP6243294A JP2746140B2 (en) | 1994-09-12 | 1994-09-12 | Terminal test control processing method |
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---|---|
JPH0883194A JPH0883194A (en) | 1996-03-26 |
JP2746140B2 true JP2746140B2 (en) | 1998-04-28 |
Family
ID=17101705
Family Applications (1)
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---|---|---|---|
JP6243294A Expired - Lifetime JP2746140B2 (en) | 1994-09-12 | 1994-09-12 | Terminal test control processing method |
Country Status (1)
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JP (1) | JP2746140B2 (en) |
Family Cites Families (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS584373B2 (en) * | 1977-06-29 | 1983-01-26 | 株式会社東芝 | electronic exchange system |
JPH03208147A (en) * | 1990-01-10 | 1991-09-11 | Nippon Denki Computer Syst Kk | Computer system |
-
1994
- 1994-09-12 JP JP6243294A patent/JP2746140B2/en not_active Expired - Lifetime
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Publication number | Publication date |
---|---|
JPH0883194A (en) | 1996-03-26 |
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