JP2019204834A - Method for manufacturing piezoelectric device, piezoelectric device, liquid injection head, and liquid injection device - Google Patents

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横山 直人
Naoto Yokoyama
直人 横山
栄樹 平井
Eiki Hirai
栄樹 平井
雅夫 中山
Masao Nakayama
雅夫 中山
剛 齊藤
Tsuyoshi Saito
剛 齊藤
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Abstract

To prevent a crack in a diaphragm while ensuring the amount of displacement of the diaphragm.SOLUTION: There is provided a method for manufacturing a piezoelectric device comprising: a diaphragm that includes a first vibration layer formed of silicon oxide and a second vibration layer formed of an insulating material different from that of the first vibration layer; and a piezoelectric element that is formed on a surface of the second vibration layer and includes a first electrode, a piezoelectric layer, and a second electrode obtained by laminating a first electrode layer and a second electrode layer, the method including: a first step of forming a piezoelectric material layer covering the first electrode on the surface of the second vibration layer; a second step of forming a conductive layer on a surface of the piezoelectric material layer; a third step of heating the piezoelectric material layer after the execution of the second step; a fourth step that is a step of patterning the conductive layer and the piezoelectric material layer after the execution of the third step, the step of removing a part in a thickness direction of a portion of the second vibration layer not overlapping the piezoelectric layer; and a fifth step of forming the second electrode layer covering the first electrode layer.SELECTED DRAWING: Figure 6

Description

本発明は、例えば液体噴射ヘッドに利用される圧電デバイスに関する。   The present invention relates to a piezoelectric device used for, for example, a liquid ejecting head.

圧力室の壁面を構成する振動板を圧電素子により振動させることで圧力室内の液体をノズルから噴射する液体噴射ヘッドが、従来から提案されている。例えば特許文献1には、酸化ケイ素(SiO)で形成された第1層と、酸化ジルコニウム(ZrO)で形成された第2層との積層により振動板を形成した構成が開示されている。振動板の面上には、第1電極と圧電体層と第2電極とを積層した圧電素子が形成される。圧電体層は、例えばチタン酸ジルコン酸鉛(PZT)等の圧電材料で形成される。 2. Description of the Related Art Conventionally, a liquid ejecting head that ejects liquid in a pressure chamber from a nozzle by vibrating a diaphragm constituting a wall surface of the pressure chamber with a piezoelectric element has been proposed. For example, Patent Document 1 discloses a configuration in which a diaphragm is formed by stacking a first layer formed of silicon oxide (SiO 2 ) and a second layer formed of zirconium oxide (ZrO 2 ). . A piezoelectric element in which the first electrode, the piezoelectric layer, and the second electrode are stacked is formed on the surface of the diaphragm. The piezoelectric layer is formed of a piezoelectric material such as lead zirconate titanate (PZT), for example.

特開2014−83797号公報Japanese Patent Application Laid-Open No. 2014-83797

特許文献1の技術では、圧電素子の製造工程のなかで圧電体層が加熱される。圧電体層の加熱により拡散した鉛(Pb)が振動板の第1層に到達して反応し、鉛ガラスが形成される場合がある。振動板に形成された鉛ガラスはクラックの原因となり得る。   In the technique of Patent Document 1, the piezoelectric layer is heated during the manufacturing process of the piezoelectric element. In some cases, lead (Pb) diffused by heating the piezoelectric layer reaches the first layer of the diaphragm and reacts to form lead glass. Lead glass formed on the diaphragm can cause cracks.

他方、特に400dpi(dots per inch)以上の高密度で複数のノズルが配列された構成では、振動板の変位量を充分に確保するために振動板を薄くする必要がある。しかし、例えば振動板の第2層のうち厚さ方向の一部を除去することで振動板を薄くした場合には、加熱工程において圧電体層が拡散した鉛が振動板の第2層を通過し易くなり、第1層における鉛ガラスの形成が顕在化する。以上に説明した通り、振動板の変位量を確保しながら、圧電体層から拡散した成分と振動板の酸化ケイ素との反応に起因した振動板のクラックを抑制する、という観点から、特許文献1の技術には更なる改善の余地がある。   On the other hand, in particular, in a configuration in which a plurality of nozzles are arranged at a high density of 400 dpi (dots per inch) or more, it is necessary to make the diaphragm thin in order to ensure a sufficient amount of displacement of the diaphragm. However, for example, when the diaphragm is thinned by removing a part of the second layer of the diaphragm in the thickness direction, lead diffused by the piezoelectric layer passes through the second layer of the diaphragm in the heating process. The formation of lead glass in the first layer becomes obvious. As described above, from the viewpoint of suppressing the crack of the diaphragm caused by the reaction between the component diffused from the piezoelectric layer and the silicon oxide of the diaphragm while ensuring the displacement amount of the diaphragm, Patent Document 1 There is room for further improvement in this technology.

以上の課題を解決するために、本発明の好適な態様に係る圧電デバイスの製造方法は、酸化ケイ素で形成された第1振動層と、前記第1振動層とは異なる絶縁材料で前記第1振動層の面上に形成された第2振動層とを含む振動板と、前記第2振動層の面上に形成され、第1電極と、圧電体層と、第1電極層および第2電極層を積層した第2電極とを含む圧電素子とを具備する圧電デバイスの製造方法であって、前記第2振動層の面上に形成された前記第1電極を被覆する圧電材料層を圧電材料により形成する第1工程と、前記圧電材料層の面上に導電層を形成する第2工程と、前記第2工程の実施後に前記圧電材料層を加熱する第3工程と、前記第3工程の実施後に、前記導電層および前記圧電材料層のパターニングにより前記第1電極層および前記圧電体層をそれぞれ形成する工程であって、前記第2振動層のうち平面視で前記圧電体層に重ならない部分について厚さ方向の一部を前記パターニングにより除去する第4工程と、前記第1電極層を被覆する前記第2電極層を形成する第5工程とを含む。   In order to solve the above-described problems, a method of manufacturing a piezoelectric device according to a preferred aspect of the present invention includes a first vibration layer formed of silicon oxide and the first vibration layer made of an insulating material different from that of the first vibration layer. A diaphragm including a second vibration layer formed on the surface of the vibration layer, and a first electrode, a piezoelectric layer, a first electrode layer, and a second electrode formed on the surface of the second vibration layer. A method of manufacturing a piezoelectric device including a piezoelectric element including a second electrode in which layers are laminated, wherein the piezoelectric material layer covering the first electrode formed on the surface of the second vibration layer is a piezoelectric material. A first step of forming a conductive layer on the surface of the piezoelectric material layer, a third step of heating the piezoelectric material layer after performing the second step, and a third step of After the implementation, the first electrode layer and the piezoelectric material layer are patterned by patterning the conductive layer and the piezoelectric material layer. A step of forming each of the piezoelectric layers, wherein a part of the second vibrating layer that does not overlap the piezoelectric layer in plan view is removed by the patterning, And a fifth step of forming the second electrode layer covering the first electrode layer.

また、本発明の好適な態様に係る圧電デバイスは、酸化ケイ素で形成された第1振動層と、前記第1振動層とは異なる絶縁材料で前記第1振動層の面上に形成された第2振動層とを含む振動板と、前記第2振動層の面上に形成され、第1電極と、圧電体層と、第1電極層および第2電極層を積層した第2電極とを含む圧電素子とを具備し、前記第2振動層のうち平面視で前記圧電体層に重ならない部分の厚さは40nm以下であり、前記第1電極層と前記第2電極層との間には、前記圧電体層に含有される成分の化合物が介在し、前記第1振動層と前記第2振動層との間には、前記圧電体層に含有される成分の化合物が存在しない。   The piezoelectric device according to a preferred aspect of the present invention includes a first vibration layer formed of silicon oxide and a first vibration layer formed on a surface of the first vibration layer with an insulating material different from that of the first vibration layer. A vibration plate including two vibration layers, a first electrode, a piezoelectric layer, and a second electrode in which the first electrode layer and the second electrode layer are stacked, formed on a surface of the second vibration layer. A thickness of a portion of the second vibrating layer that does not overlap the piezoelectric layer in plan view is between the first electrode layer and the second electrode layer. The compound of the component contained in the piezoelectric layer is interposed, and the compound of the component contained in the piezoelectric layer does not exist between the first vibration layer and the second vibration layer.

本発明の好適な態様に係る液体噴射ヘッドは、液体を収容する圧力室と、前記圧力室の壁面を構成する振動板と、前記振動板の面上に形成され、第1電極と、圧電体層と、第1電極層および第2電極層を積層した第2電極とを含む圧電素子とを具備する液体噴射ヘッドであって、前記振動板は、酸化ケイ素で形成された第1振動層と、前記第1振動層とは異なる絶縁材料で前記第1振動層の面上に形成された第2振動層とを含み、前記第2振動層のうち平面視で前記圧電体層に重ならない部分の厚さは40nm以下であり、前記第1電極層と前記第2電極層との間には、前記圧電体層に含有される成分の化合物が介在し、前記第1振動層と前記第2振動層との間には、前記圧電体層に含有される成分の化合物が存在しない。   A liquid ejecting head according to a preferred aspect of the present invention includes a pressure chamber that contains a liquid, a vibration plate that forms a wall surface of the pressure chamber, a surface of the vibration plate, a first electrode, and a piezoelectric body. And a piezoelectric element including a second electrode obtained by stacking a first electrode layer and a second electrode layer, wherein the diaphragm includes a first vibration layer formed of silicon oxide, And a second vibration layer formed on the surface of the first vibration layer with an insulating material different from that of the first vibration layer, and a portion of the second vibration layer that does not overlap the piezoelectric layer in plan view Is 40 nm or less, and a compound of a component contained in the piezoelectric layer is interposed between the first electrode layer and the second electrode layer, and the first vibrating layer and the second electrode layer are interposed between the first electrode layer and the second electrode layer. There is no compound of the component contained in the piezoelectric layer between the vibration layer.

本発明の実施形態に係る液体噴射装置の構成図である。1 is a configuration diagram of a liquid ejecting apparatus according to an embodiment of the present invention. 液体噴射ヘッドの分解斜視図である。FIG. 3 is an exploded perspective view of a liquid ejecting head. 液体噴射ヘッドの断面図である。FIG. 3 is a cross-sectional view of a liquid ejecting head. 複数の圧電素子の平面図である。It is a top view of a plurality of piezoelectric elements. 図4におけるV-V線の断面図である。It is sectional drawing of the VV line in FIG. 圧電デバイスの製造方法を例示する工程図である。It is process drawing which illustrates the manufacturing method of a piezoelectric device. 対比例における圧電デバイスの製造方法を示す工程図である。It is process drawing which shows the manufacturing method of the piezoelectric device in contrast. 第2部分における第2振動層の膜厚と第1振動層に形成される鉛ガラスの膜厚との関係を示すグラフである。It is a graph which shows the relationship between the film thickness of the 2nd vibration layer in a 2nd part, and the film thickness of the lead glass formed in a 1st vibration layer. 圧電材料層の加熱により導電層の表面に形成される突起の説明図である。It is explanatory drawing of the protrusion formed in the surface of a conductive layer by the heating of a piezoelectric material layer. 導電層の表面に突起が形成された場合の圧電素子の断面図である。It is sectional drawing of a piezoelectric element when protrusion is formed in the surface of a conductive layer. 変形例における圧電素子の断面図である。It is sectional drawing of the piezoelectric element in a modification.

<液体噴射装置の構造>
図1は、本発明の好適な形態に係る液体噴射装置100を例示する構成図である。本実施形態の液体噴射装置100は、液体の例示であるインクを媒体(噴射対象)12に噴射するインクジェット方式の印刷装置である。媒体12は、典型的には印刷用紙であるが、樹脂フィルムまたは布帛等の任意の材質の印刷対象が媒体12として利用される。図1に例示される通り、液体噴射装置100には、インクを貯留する液体容器14が設置される。例えば液体噴射装置100に着脱可能なカートリッジ、可撓性のフィルムで形成された袋状のインクパック、またはインクを補充可能なインクタンクが液体容器14として利用される。
<Structure of liquid ejecting apparatus>
FIG. 1 is a configuration diagram illustrating a liquid ejecting apparatus 100 according to a preferred embodiment of the present invention. The liquid ejecting apparatus 100 according to this embodiment is an ink jet printing apparatus that ejects ink, which is an example of a liquid, onto a medium (a target to be ejected) 12. The medium 12 is typically printing paper, but a printing target of an arbitrary material such as a resin film or a fabric is used as the medium 12. As illustrated in FIG. 1, the liquid ejecting apparatus 100 is provided with a liquid container 14 that stores ink. For example, a cartridge that can be attached to and detached from the liquid ejecting apparatus 100, a bag-shaped ink pack formed of a flexible film, or an ink tank that can be refilled with ink is used as the liquid container 14.

図1に例示される通り、液体噴射装置100は、制御ユニット20と搬送機構22と移動機構24と液体噴射ヘッド26とを具備する。制御ユニット20は、例えばCPU(Central Processing Unit)またはFPGA(Field Programmable Gate Array)等の処理回路と半導体メモリー等の記憶回路とを含み、液体噴射装置100の各要素を統括的に制御する。搬送機構22は、制御ユニット20による制御のもとで媒体12をY方向に搬送する。   As illustrated in FIG. 1, the liquid ejecting apparatus 100 includes a control unit 20, a transport mechanism 22, a moving mechanism 24, and a liquid ejecting head 26. The control unit 20 includes, for example, a processing circuit such as a CPU (Central Processing Unit) or an FPGA (Field Programmable Gate Array) and a storage circuit such as a semiconductor memory, and comprehensively controls each element of the liquid ejecting apparatus 100. The transport mechanism 22 transports the medium 12 in the Y direction under the control of the control unit 20.

移動機構24は、制御ユニット20による制御のもとで液体噴射ヘッド26をX方向に往復させる。X方向は、媒体12が搬送されるY方向に交差(典型的には直交)する方向である。本実施形態の移動機構24は、液体噴射ヘッド26を収容する略箱型の搬送体242(キャリッジ)と、搬送体242が固定された搬送ベルト244とを具備する。なお、複数の液体噴射ヘッド26を搬送体242に搭載した構成、または、液体容器14を液体噴射ヘッド26とともに搬送体242に搭載した構成も採用され得る。   The moving mechanism 24 reciprocates the liquid jet head 26 in the X direction under the control of the control unit 20. The X direction is a direction that intersects (typically orthogonal) the Y direction in which the medium 12 is conveyed. The moving mechanism 24 of this embodiment includes a substantially box-shaped transport body 242 (carriage) that houses the liquid ejecting head 26, and a transport belt 244 to which the transport body 242 is fixed. A configuration in which a plurality of liquid ejecting heads 26 are mounted on the transport body 242 or a configuration in which the liquid container 14 is mounted on the transport body 242 together with the liquid ejecting head 26 may be employed.

液体噴射ヘッド26は、液体容器14から供給されるインクを制御ユニット20による制御のもとで複数のノズル(噴射孔)から媒体12に噴射する。搬送機構22による媒体12の搬送と搬送体242の反復的な往復とに並行して各液体噴射ヘッド26が媒体12にインクを噴射することで、媒体12の表面に所望の画像が形成される。   The liquid ejecting head 26 ejects ink supplied from the liquid container 14 to the medium 12 from a plurality of nozzles (ejection holes) under the control of the control unit 20. In parallel with the transport of the medium 12 by the transport mechanism 22 and the reciprocating reciprocation of the transport body 242, each liquid ejecting head 26 ejects ink onto the medium 12, thereby forming a desired image on the surface of the medium 12. .

図2は、液体噴射ヘッド26の分解斜視図であり、図3は、図2におけるIII-III線の断面図(X-Z平面に平行な断面)である。図2に例示される通り、X-Y平面(例えば媒体12の表面に平行な平面)に垂直な方向を以下ではZ方向と表記する。各液体噴射ヘッド26によるインクの噴射方向(典型的には鉛直方向)がZ方向に相当する。   2 is an exploded perspective view of the liquid jet head 26, and FIG. 3 is a cross-sectional view taken along the line III-III in FIG. 2 (a cross section parallel to the XZ plane). As illustrated in FIG. 2, a direction perpendicular to the XY plane (for example, a plane parallel to the surface of the medium 12) is hereinafter referred to as a Z direction. The ink ejection direction (typically the vertical direction) by each liquid ejection head 26 corresponds to the Z direction.

図2および図3に例示される通り、液体噴射ヘッド26は、Y方向に長尺な略矩形状の流路基板32を具備する。流路基板32のうちZ方向における負側の面上には、圧力室基板34と振動板36と複数の圧電素子38と筐体部42と封止体44とが設置される。他方、流路基板32のうちZ方向における正側の面上には、ノズル板46と吸振体48とが設置される。液体噴射ヘッド26の各要素は、概略的には流路基板32と同様にY方向に長尺な板状部材であり、例えば接着剤を利用して相互に接合される。   As illustrated in FIGS. 2 and 3, the liquid ejecting head 26 includes a substantially rectangular channel substrate 32 that is long in the Y direction. On the negative surface of the flow path substrate 32 in the Z direction, a pressure chamber substrate 34, a diaphragm 36, a plurality of piezoelectric elements 38, a housing portion 42, and a sealing body 44 are installed. On the other hand, a nozzle plate 46 and a vibration absorber 48 are installed on the positive side surface in the Z direction of the flow path substrate 32. Each element of the liquid jet head 26 is generally a plate-like member that is long in the Y direction, similarly to the flow path substrate 32, and is bonded to each other using, for example, an adhesive.

図2に例示される通り、ノズル板46は、Y方向に配列する複数のノズルNが形成された板状部材である。各ノズルNは、インクが通過する貫通孔である。なお、流路基板32と圧力室基板34とノズル板46とは、例えばシリコン(Si)の単結晶基板をエッチング等の半導体製造技術により加工することで形成される。ただし、液体噴射ヘッド26の各要素の材料や製法は任意である。Y方向は、複数のノズルNが配列する方向とも換言され得る。本実施形態の液体噴射ヘッド26においては、1インチあたり400個以上(すなわち400dpi以上)の高密度で複数のノズルNが形成される。さらに好適な態様では、1インチあたり600個以上の高密度で複数のノズルNが形成される。   As illustrated in FIG. 2, the nozzle plate 46 is a plate-like member on which a plurality of nozzles N arranged in the Y direction are formed. Each nozzle N is a through hole through which ink passes. The flow path substrate 32, the pressure chamber substrate 34, and the nozzle plate 46 are formed, for example, by processing a silicon (Si) single crystal substrate by a semiconductor manufacturing technique such as etching. However, the material and manufacturing method of each element of the liquid jet head 26 are arbitrary. The Y direction can be rephrased as the direction in which the plurality of nozzles N are arranged. In the liquid jet head 26 of the present embodiment, a plurality of nozzles N are formed at a high density of 400 or more (that is, 400 dpi or more) per inch. In a more preferred embodiment, a plurality of nozzles N are formed at a high density of 600 or more per inch.

流路基板32は、インクの流路を形成するための板状部材である。図2および図3に例示される通り、流路基板32には、開口部322と供給流路324と連通流路326とが形成される。開口部322は、複数のノズルNにわたり連続するようにZ方向からの平面視でY方向に沿う長尺状に形成された貫通孔である。他方、供給流路324および連通流路326は、ノズルN毎に個別に形成された貫通孔である。また、図3に例示される通り、流路基板32のうちZ方向における正側の表面には、複数の供給流路324にわたる中継流路328が形成される。中継流路328は、開口部322と複数の供給流路324とを連通させる流路である。   The flow path substrate 32 is a plate-like member for forming an ink flow path. As illustrated in FIGS. 2 and 3, the channel substrate 32 is formed with an opening 322, a supply channel 324, and a communication channel 326. The opening 322 is a through hole formed in a long shape along the Y direction in a plan view from the Z direction so as to be continuous over the plurality of nozzles N. On the other hand, the supply flow path 324 and the communication flow path 326 are through holes formed individually for each nozzle N. In addition, as illustrated in FIG. 3, a relay flow path 328 that extends across the plurality of supply flow paths 324 is formed on the positive surface of the flow path substrate 32 in the Z direction. The relay channel 328 is a channel that connects the opening 322 and the plurality of supply channels 324.

筐体部42は、例えば樹脂材料の射出成形で製造された構造体であり、流路基板32のうちZ方向における負側の表面に固定される。図3に例示される通り、筐体部42には収容部422と導入口424とが形成される。収容部422は、流路基板32の開口部322に対応した外形の凹部であり、導入口424は、収容部422に連通する貫通孔である。図3から理解される通り、流路基板32の開口部322と筐体部42の収容部422とを相互に連通させた空間が液体貯留室(リザーバー)Rとして機能する。液体容器14から供給されて導入口424を通過したインクが液体貯留室Rに貯留される。   The housing part 42 is a structure manufactured by injection molding of a resin material, for example, and is fixed to the negative surface of the flow path substrate 32 in the Z direction. As illustrated in FIG. 3, the housing portion 42 is formed with a housing portion 422 and an introduction port 424. The accommodating portion 422 is a concave portion having an outer shape corresponding to the opening portion 322 of the flow path substrate 32, and the introduction port 424 is a through hole communicating with the accommodating portion 422. As understood from FIG. 3, a space in which the opening 322 of the flow path substrate 32 and the accommodating portion 422 of the housing portion 42 communicate with each other functions as a liquid storage chamber (reservoir) R. The ink supplied from the liquid container 14 and passing through the inlet 424 is stored in the liquid storage chamber R.

吸振体48は、液体貯留室R内の圧力変動を吸収するための要素であり、例えば弾性変形が可能な可撓性のシート部材(コンプライアンス基板)を含んで構成される。具体的には、流路基板32の開口部322と中継流路328と複数の供給流路324とを閉塞して液体貯留室Rの底面を構成するように、流路基板32のうちZ方向における正側の表面に吸振体48が設置される。   The vibration absorber 48 is an element for absorbing pressure fluctuation in the liquid storage chamber R, and includes, for example, a flexible sheet member (compliance substrate) that can be elastically deformed. Specifically, the Z direction of the flow path substrate 32 is configured such that the opening 322, the relay flow path 328, and the plurality of supply flow paths 324 of the flow path substrate 32 are closed to form the bottom surface of the liquid storage chamber R. A vibration absorber 48 is installed on the positive surface of the.

図2および図3に例示される通り、圧力室基板34は、相異なるノズルNに対応する複数の圧力室Cが形成された板状部材である。複数の圧力室Cは、Y方向に沿って配列する。各圧力室C(キャビティ)は、平面視でX方向に沿う長尺状の開口である。X方向の正側における圧力室Cの端部は平面視で流路基板32の1個の供給流路324に重なり、X方向の負側における圧力室Cの端部は平面視で流路基板32の1個の連通流路326に重なる。   As illustrated in FIGS. 2 and 3, the pressure chamber substrate 34 is a plate-like member in which a plurality of pressure chambers C corresponding to different nozzles N are formed. The plurality of pressure chambers C are arranged along the Y direction. Each pressure chamber C (cavity) is a long opening along the X direction in plan view. The end of the pressure chamber C on the positive side in the X direction overlaps with one supply channel 324 of the flow path substrate 32 in a plan view, and the end of the pressure chamber C on the negative side in the X direction is in the plan view It overlaps with one communication channel 326 of 32.

圧力室基板34のうち流路基板32とは反対側の表面には振動板36が設置される。振動板36は、弾性的に変形可能な板状部材である。図3に例示される通り、本実施形態の振動板36は、第1振動層361と第2振動層362との積層で構成される。第2振動層362は、第1振動層361からみて圧力室基板34とは反対側に位置する。第1振動層361は、酸化ケイ素(SiO)で形成される。第2振動層362は、酸化ジルコニウム(ZrO)で形成される。 A diaphragm 36 is installed on the surface of the pressure chamber substrate 34 opposite to the flow path substrate 32. The diaphragm 36 is a plate-like member that can be elastically deformed. As illustrated in FIG. 3, the vibration plate 36 according to the present embodiment is configured by stacking a first vibration layer 361 and a second vibration layer 362. The second vibration layer 362 is located on the side opposite to the pressure chamber substrate 34 when viewed from the first vibration layer 361. The first vibration layer 361 is made of silicon oxide (SiO 2 ). The second vibration layer 362 is formed of zirconium oxide (ZrO 2 ).

図3から理解される通り、流路基板32と振動板36とは、各圧力室Cの内側で相互に間隔をあけて対向する。圧力室Cは、流路基板32と振動板36との間に位置し、当該圧力室C内に充填されたインクに圧力を付与するための空間である。液体貯留室Rに貯留されたインクは、中継流路328から各供給流路324に分岐して複数の圧力室Cに並列に供給および充填される。以上の説明から理解される通り、振動板36は、圧力室Cの壁面を構成する。   As understood from FIG. 3, the flow path substrate 32 and the vibration plate 36 face each other with an interval inside each pressure chamber C. The pressure chamber C is a space that is located between the flow path substrate 32 and the vibration plate 36 and applies pressure to the ink filled in the pressure chamber C. The ink stored in the liquid storage chamber R branches from the relay flow path 328 to each supply flow path 324 and is supplied and filled in the plurality of pressure chambers C in parallel. As understood from the above description, the diaphragm 36 constitutes the wall surface of the pressure chamber C.

図2および図3に例示される通り、振動板36のうち圧力室Cとは反対側の表面(すなわち第2振動層362の表面)には、相異なるノズルNに対応する複数の圧電素子38が設置される。各圧電素子38は、駆動信号の供給により変形するアクチュエーターであり、平面視でX方向に沿う長尺状に形成される。複数の圧電素子38は、複数の圧力室Cに対応するようにY方向に配列する。圧電素子38の変形に連動して振動板36が振動すると、圧力室C内の圧力が変動することで、圧力室Cに充填されたインクが連通流路326とノズルNとを通過して噴射される。   As illustrated in FIGS. 2 and 3, a plurality of piezoelectric elements 38 corresponding to different nozzles N are provided on the surface of the vibration plate 36 opposite to the pressure chamber C (that is, the surface of the second vibration layer 362). Is installed. Each piezoelectric element 38 is an actuator that is deformed by the supply of a drive signal, and is formed in an elongated shape along the X direction in plan view. The plurality of piezoelectric elements 38 are arranged in the Y direction so as to correspond to the plurality of pressure chambers C. When the vibration plate 36 vibrates in conjunction with the deformation of the piezoelectric element 38, the pressure in the pressure chamber C fluctuates, so that the ink filled in the pressure chamber C is ejected through the communication channel 326 and the nozzle N. Is done.

図2および図3の封止体44は、複数の圧電素子38を保護するとともに圧力室基板34および振動板36の機械的な強度を補強する構造体であり、振動板36の表面に例えば接着剤で固定される。封止体44のうち振動板36との対向面に形成された凹部の内側に複数の圧電素子38が収容される。   2 and 3 is a structure that protects the plurality of piezoelectric elements 38 and reinforces the mechanical strength of the pressure chamber substrate 34 and the diaphragm 36. For example, the sealing body 44 is bonded to the surface of the diaphragm 36. It is fixed with an agent. A plurality of piezoelectric elements 38 are accommodated inside a concave portion formed on the surface of the sealing body 44 facing the diaphragm 36.

図3に例示される通り、振動板36の表面には、例えば配線基板50が接合される。配線基板50は、制御ユニット20または電源回路(図示略)と液体噴射ヘッド26とを電気的に接続するための複数の配線(図示略)が形成された実装部品である。例えばFPC(Flexible Printed Circuit)やFFC(Flexible Flat Cable)等の可撓性の配線基板50が好適に採用される。圧電素子38を駆動するための駆動信号が配線基板50から各圧電素子38に供給される。   As illustrated in FIG. 3, for example, a wiring board 50 is bonded to the surface of the diaphragm 36. The wiring board 50 is a mounting component on which a plurality of wirings (not shown) for electrically connecting the control unit 20 or the power supply circuit (not shown) and the liquid jet head 26 are formed. For example, a flexible wiring board 50 such as FPC (Flexible Printed Circuit) or FFC (Flexible Flat Cable) is preferably employed. A drive signal for driving the piezoelectric element 38 is supplied from the wiring board 50 to each piezoelectric element 38.

振動板36と圧電素子38とは、駆動信号の供給により振動する圧電デバイスとして機能する。液体噴射ヘッド26は、インクを収容する圧力室Cと、圧力室Cからインクを噴射させる圧電デバイスとを具備する。   The diaphragm 36 and the piezoelectric element 38 function as a piezoelectric device that vibrates when a drive signal is supplied. The liquid ejecting head 26 includes a pressure chamber C that stores ink, and a piezoelectric device that ejects ink from the pressure chamber C.

各圧電素子38の具体的な構成を以下に詳述する。図4は、複数の圧電素子38の平面図である。なお、図4では、任意の1個の要素の奥側に位置する要素の周縁も便宜的に実線で図示されている。また、図5は、図4におけるV-V線の断面図である。   A specific configuration of each piezoelectric element 38 will be described in detail below. FIG. 4 is a plan view of the plurality of piezoelectric elements 38. In FIG. 4, the peripheral edge of an element located on the far side of any one element is also shown by a solid line for convenience. FIG. 5 is a sectional view taken along line VV in FIG.

図4および図5に例示される通り、圧電素子38は、概略的には、第1電極51と圧電体層52と第2電極53との積層で構成される。なお、本明細書において「要素Aと要素Bとが積層される」という表現は、要素Aと要素Bとが直接的に接触する構成に限定する趣旨ではない。すなわち、要素Aと要素Bとの間に他の要素Cが介在する構成も、「要素Aと要素Bとが積層される」という概念に包含される。また、「要素Aの面上に要素Bが形成される」という表現も同様に、要素Aと要素Bとが直接的に接触する構成には限定されない。すなわち、要素Aの表面に要素Cが形成され、要素Cの表面に要素Bが形成された構成でも、要素Aと要素Bとの少なくとも一部が平面視で重なる構成であれば、「要素Aの面上に要素Bが形成される」という概念に包含される。   As illustrated in FIGS. 4 and 5, the piezoelectric element 38 is generally composed of a stack of a first electrode 51, a piezoelectric layer 52, and a second electrode 53. In the present specification, the expression “element A and element B are stacked” is not intended to limit the configuration in which element A and element B are in direct contact with each other. That is, a configuration in which another element C is interposed between the element A and the element B is also included in the concept that “the element A and the element B are stacked”. Similarly, the expression “element B is formed on the surface of element A” is not limited to a configuration in which element A and element B are in direct contact with each other. That is, even in a configuration in which the element C is formed on the surface of the element A and the element B is formed on the surface of the element C, if “at least part of the element A and the element B overlap in a plan view” The element B is formed on the surface of “

第1電極51は、振動板36の面上に形成される。第1電極51は、圧電素子38毎に相互に離間して形成された個別電極である。具体的には、X方向に延在する複数の第1電極51が、相互に間隔をあけてY方向に配列する。各圧電素子38の第1電極51には、当該圧電素子38に対応するノズルNからのインクの噴射を制御するための駆動信号が配線基板50を介して印加される。   The first electrode 51 is formed on the surface of the diaphragm 36. The first electrode 51 is an individual electrode formed so as to be separated from each other for each piezoelectric element 38. Specifically, a plurality of first electrodes 51 extending in the X direction are arranged in the Y direction at intervals. A drive signal for controlling ejection of ink from the nozzle N corresponding to the piezoelectric element 38 is applied to the first electrode 51 of each piezoelectric element 38 via the wiring board 50.

圧電体層52は、第1電極51の面上に形成される。圧電体層52は、複数の圧電素子38にわたり連続するようにY方向に延在する帯状の誘電膜である。図4に例示される通り、圧電体層52のうち相互に隣合う各圧力室Cの間隙に平面視で対応する領域には、X方向に長尺な切欠521(スリット)が形成される。切欠521は、圧電体層52を貫通する貫通孔である。以上の構成によれば、各圧電素子38は圧力室C毎に個別に変形し、圧電素子38の相互間における振動の伝播が抑制される。したがって、各ノズルNによるインクの噴射特性を高精度に制御することが可能である。噴射特性は、例えば噴射量、噴射方向または噴射速度である。   The piezoelectric layer 52 is formed on the surface of the first electrode 51. The piezoelectric layer 52 is a strip-shaped dielectric film extending in the Y direction so as to be continuous over the plurality of piezoelectric elements 38. As illustrated in FIG. 4, a notch 521 (slit) elongated in the X direction is formed in a region corresponding to the gap between the pressure chambers C adjacent to each other in the piezoelectric layer 52 in a plan view. The notch 521 is a through hole that penetrates the piezoelectric layer 52. According to the above configuration, each piezoelectric element 38 is individually deformed for each pressure chamber C, and the propagation of vibration between the piezoelectric elements 38 is suppressed. Therefore, it is possible to control the ink ejection characteristics of each nozzle N with high accuracy. The injection characteristic is, for example, an injection amount, an injection direction, or an injection speed.

第2電極53は、圧電体層52の面上に形成される。具体的には、第2電極53は、複数の圧電素子38にわたり連続するようにY方向に延在する帯状の共通電極である。第2電極53には所定の基準電圧が印加される。   The second electrode 53 is formed on the surface of the piezoelectric layer 52. Specifically, the second electrode 53 is a strip-like common electrode extending in the Y direction so as to be continuous over the plurality of piezoelectric elements 38. A predetermined reference voltage is applied to the second electrode 53.

図5に例示される通り、第2電極53は、第1電極層531と第2電極層532との積層で構成される。第1電極層531は、圧電体層52の面上に形成される。具体的には、第1電極層531は、圧電体層52と同様の平面形状に形成されて圧電体層52の表面に接触する導電パターンである。第2電極層532は、圧電体層52と第1電極層531とが形成された振動板36の表面を被覆する導電パターンである。具体的には、第2電極層532は、第1電極層531の表面および側面と圧電体層52の側面と、圧電体層52の切欠521の内側に露出する振動板36の表面とを被覆する。   As illustrated in FIG. 5, the second electrode 53 is configured by stacking a first electrode layer 531 and a second electrode layer 532. The first electrode layer 531 is formed on the surface of the piezoelectric layer 52. Specifically, the first electrode layer 531 is a conductive pattern that is formed in the same planar shape as the piezoelectric layer 52 and contacts the surface of the piezoelectric layer 52. The second electrode layer 532 is a conductive pattern that covers the surface of the diaphragm 36 on which the piezoelectric layer 52 and the first electrode layer 531 are formed. Specifically, the second electrode layer 532 covers the surface and side surfaces of the first electrode layer 531, the side surfaces of the piezoelectric layer 52, and the surface of the vibration plate 36 exposed inside the notch 521 of the piezoelectric layer 52. To do.

第1電極51に印加される基準電圧と第2電極53に供給される駆動信号との電圧差に応じて圧電体層52が変形する。すなわち、第1電極51と第2電極53とが圧電体層52を挟んで相互に対向する部分が圧電素子38として機能する。圧力室C毎に圧電素子38が個別に形成される。具体的には、X方向に長尺状に形成された複数の圧電素子38が、相互に間隔をあけてY方向に配列する。各圧電素子38のY方向の寸法(すなわち幅)は、圧力室CのY方向の寸法を下回る。   The piezoelectric layer 52 is deformed according to the voltage difference between the reference voltage applied to the first electrode 51 and the drive signal supplied to the second electrode 53. That is, the portion where the first electrode 51 and the second electrode 53 face each other with the piezoelectric layer 52 interposed therebetween functions as the piezoelectric element 38. A piezoelectric element 38 is individually formed for each pressure chamber C. Specifically, a plurality of piezoelectric elements 38 formed in a long shape in the X direction are arranged in the Y direction at intervals. The dimension (namely, width) of each piezoelectric element 38 in the Y direction is smaller than the dimension of the pressure chamber C in the Y direction.

図5に例示される通り、振動板36の第2振動層362は、第1部分Q1と第2部分Q2とを含む。第1部分Q1は、第2振動層362のうち圧電体層52に平面視で重なる部分である。第2部分Q2は、第2振動層362のうち第1部分Q1以外の部分である。すなわち、第2部分Q2は、圧電体層52に平面視で重ならない領域である。   As illustrated in FIG. 5, the second vibration layer 362 of the diaphragm 36 includes a first portion Q1 and a second portion Q2. The first portion Q1 is a portion of the second vibration layer 362 that overlaps the piezoelectric layer 52 in plan view. The second portion Q2 is a portion other than the first portion Q1 in the second vibration layer 362. That is, the second portion Q2 is a region that does not overlap the piezoelectric layer 52 in plan view.

第2振動層362のうち第2部分Q2の膜厚T2は、第1部分Q1の膜厚T1を下回る。すなわち、第2部分Q2は第1部分Q1と比較して薄く形成される。したがって、第2振動層362の第2部分Q2が第1部分Q1と同等の膜厚に形成された構成と比較して、振動板36を効率的に振動させることが可能である。例えば複数のノズルNが400dpi以上の高密度で配列された構成では、振動板36の変位量を充分に確保することが特に困難である。本実施形態によれば、第2振動層362の第2部分Q2を薄くすることで、400dpi以上の高密度の液体噴射ヘッド26においても振動板36の変位量を充分に確保することが可能である。   The film thickness T2 of the second portion Q2 of the second vibration layer 362 is less than the film thickness T1 of the first portion Q1. That is, the second portion Q2 is formed thinner than the first portion Q1. Therefore, it is possible to vibrate the diaphragm 36 more efficiently compared to a configuration in which the second portion Q2 of the second vibration layer 362 is formed with a film thickness equivalent to that of the first portion Q1. For example, in a configuration in which a plurality of nozzles N are arranged at a high density of 400 dpi or more, it is particularly difficult to ensure a sufficient amount of displacement of the diaphragm 36. According to the present embodiment, by thinning the second portion Q2 of the second vibration layer 362, it is possible to secure a sufficient amount of displacement of the vibration plate 36 even in the high-density liquid jet head 26 of 400 dpi or more. is there.

<圧電デバイスの製造方法>
本実施形態における液体噴射ヘッド26の製造工程のうち圧電デバイスを製造する手順について説明する。図6は、圧電デバイスの製造方法を例示する工程図である。
<Piezoelectric device manufacturing method>
A procedure for manufacturing a piezoelectric device in the manufacturing process of the liquid jet head 26 in the present embodiment will be described. FIG. 6 is a process diagram illustrating a method for manufacturing a piezoelectric device.

最初の工程P0では、振動板36の面上に第1電極51が形成される。前述の通り、振動板36は、酸化ケイ素(SiO)で形成された第1振動層361と、酸化ジルコニウム(ZrO)で形成された第2振動層362との積層で構成される。第1電極51の材料または製法は任意である。例えば、白金(Pt)またはイリジウム(Ir)等の各種の導電材料の薄膜をスパッタリング等の公知の成膜技術により形成し、エッチング等の公知の加工技術により当該薄膜をパターニングすることで、第1電極51が形成される。 In the first process P 0, the first electrode 51 is formed on the surface of the diaphragm 36. As described above, the vibration plate 36 is configured by stacking the first vibration layer 361 formed of silicon oxide (SiO 2 ) and the second vibration layer 362 formed of zirconium oxide (ZrO 2 ). The material or manufacturing method of the first electrode 51 is arbitrary. For example, a thin film of various conductive materials such as platinum (Pt) or iridium (Ir) is formed by a known film forming technique such as sputtering, and the thin film is patterned by a known processing technique such as etching. An electrode 51 is formed.

工程P0の実施後の工程P1では、振動板36の面上に形成された第1電極51を被覆する圧電材料層71が圧電材料により形成される。圧電材料層71は、各圧電素子38の圧電体層52を形成するための誘電膜であり、振動板36の全面にわたり略均等な膜厚に形成される。圧電材料層71の材料および製法は任意である。例えば、チタン酸ジルコン酸鉛(PZT)等の強誘電性の圧電材料をスパッタリング等の各種の成膜技術により成膜することで圧電材料層71が形成される。なお、酸化ニッケルまたは酸化マグネシウム等の金属酸化物をチタン酸ジルコン酸鉛に添加した材料で圧電体層52を形成してもよい。以上に説明した工程P1は、「第1工程」の具体例である。   In the process P1 after the implementation of the process P0, the piezoelectric material layer 71 that covers the first electrode 51 formed on the surface of the diaphragm 36 is formed of a piezoelectric material. The piezoelectric material layer 71 is a dielectric film for forming the piezoelectric layer 52 of each piezoelectric element 38, and is formed with a substantially uniform film thickness over the entire surface of the vibration plate 36. The material and manufacturing method of the piezoelectric material layer 71 are arbitrary. For example, the piezoelectric material layer 71 is formed by forming a ferroelectric piezoelectric material such as lead zirconate titanate (PZT) by various film forming techniques such as sputtering. The piezoelectric layer 52 may be formed of a material obtained by adding a metal oxide such as nickel oxide or magnesium oxide to lead zirconate titanate. The process P1 described above is a specific example of the “first process”.

工程P1の実施後の工程P2では、圧電材料層71の面上に導電層72が形成される。導電層72は、第2電極53の第1電極層531を形成するための導電膜であり、圧電材料層71の全面にわたり略均等な膜厚に形成される。導電層72の材料および製法は任意である。例えば、白金(Pt)またはイリジウム(Ir)等の導電材料をスパッタリング等の各種の成膜技術により成膜することで導電層72が形成される。以上に説明した工程P2は、「第2工程」の具体例である。   In the process P2 after the process P1, the conductive layer 72 is formed on the surface of the piezoelectric material layer 71. The conductive layer 72 is a conductive film for forming the first electrode layer 531 of the second electrode 53, and is formed with a substantially uniform film thickness over the entire surface of the piezoelectric material layer 71. The material and manufacturing method of the conductive layer 72 are arbitrary. For example, the conductive layer 72 is formed by forming a conductive material such as platinum (Pt) or iridium (Ir) by various film formation techniques such as sputtering. The process P2 described above is a specific example of the “second process”.

工程P2における導電層72の形成の過程では、圧電材料層71の表面に結晶特性の変質等のダメージが発生し得る。圧電材料層71の結晶特性を改善するために、工程P2の実施後の工程P3では、圧電材料層71が加熱により焼成(アニール)される。すなわち、圧電材料層71が所定の時間にわたり所定の温度に加熱される。例えば、工程P3では、圧電材料層71が6分間にわたり720℃に加熱される。工程P3での加熱(すなわちポストアニール)により圧電材料層71の結晶特性が改善されるから、圧電特性が良好な圧電素子38が形成される。以上に説明した工程P3は、「第3工程」の具体例である。   In the process of forming the conductive layer 72 in the process P2, damage such as alteration of crystal characteristics may occur on the surface of the piezoelectric material layer 71. In order to improve the crystal characteristics of the piezoelectric material layer 71, in the process P3 after the execution of the process P2, the piezoelectric material layer 71 is baked (annealed) by heating. That is, the piezoelectric material layer 71 is heated to a predetermined temperature for a predetermined time. For example, in the process P3, the piezoelectric material layer 71 is heated to 720 ° C. for 6 minutes. Since the crystal characteristics of the piezoelectric material layer 71 are improved by the heating (ie, post-annealing) in the process P3, the piezoelectric element 38 having excellent piezoelectric characteristics is formed. The process P3 described above is a specific example of the “third process”.

圧電材料層71の加熱の過程では、圧電材料の成分である鉛(Pb)が圧電材料層71から周囲に拡散する。本実施形態では、圧電材料層71と振動板36の第1振動層361との間に第2振動層362が介在するから、工程P3の加熱により圧電材料層71から拡散した鉛が第1振動層361まで到達する可能性が、第2振動層362により阻害される。すなわち、第2振動層362は、圧電材料層71から第1振動層361に対する鉛の拡散を阻害する要素として機能する。   In the process of heating the piezoelectric material layer 71, lead (Pb), which is a component of the piezoelectric material, diffuses from the piezoelectric material layer 71 to the surroundings. In the present embodiment, since the second vibration layer 362 is interposed between the piezoelectric material layer 71 and the first vibration layer 361 of the diaphragm 36, the lead diffused from the piezoelectric material layer 71 by the heating in the process P3 is the first vibration. The possibility of reaching the layer 361 is hindered by the second vibration layer 362. That is, the second vibration layer 362 functions as an element that inhibits diffusion of lead from the piezoelectric material layer 71 to the first vibration layer 361.

工程P3の実施後の工程P4では、導電層72および圧電材料層71がパターニングされる。導電層72のパターニングにより各圧電素子38における第2電極53の第1電極層531が形成され、圧電材料層71のパターニングにより各圧電素子38の圧電体層52が形成される。圧電体層52の切欠521は、工程P4におけるパターニングにより形成される。以上の例示の通り、導電層72と圧電材料層71とは共通の工程で一括的にパターニングされるから、第1電極層531と圧電体層52とは共通の平面形状に形成される。すなわち、第1電極層531には、圧電体層52の切欠521と同様の切欠が形成される。導電層72および圧電材料層71のパターニングには、エッチング等の加工技術が利用される。以上に説明した工程P4は、「第4工程」の具体例である。   In the process P4 after the implementation of the process P3, the conductive layer 72 and the piezoelectric material layer 71 are patterned. The first electrode layer 531 of the second electrode 53 in each piezoelectric element 38 is formed by patterning the conductive layer 72, and the piezoelectric layer 52 of each piezoelectric element 38 is formed by patterning the piezoelectric material layer 71. The cutout 521 of the piezoelectric layer 52 is formed by patterning in the process P4. As described above, since the conductive layer 72 and the piezoelectric material layer 71 are collectively patterned in a common process, the first electrode layer 531 and the piezoelectric layer 52 are formed in a common planar shape. That is, a cutout similar to the cutout 521 of the piezoelectric layer 52 is formed in the first electrode layer 531. For patterning the conductive layer 72 and the piezoelectric material layer 71, a processing technique such as etching is used. The process P4 described above is a specific example of the “fourth process”.

工程P4では、導電層72および圧電材料層71の選択的な除去に加えて、振動板36の第2振動層362のうち平面視で圧電体層52に重ならない第2部分Q2についても厚さ方向の一部が除去される。すなわち、工程P4では、第2振動層362の第2部分Q2が所定の膜厚T2で残存するようにパターニングが実行される。具体的には、工程P4では、第2振動層362の第2部分Q2の膜厚T2が40nm以下となるように厚さ方向の一部が除去される。他方、第2振動層362の第1部分Q1は圧電体層52により被覆されるから、工程P4のパターニングでは除去されない。したがって、前述の通り、第2振動層362のうち第2部分Q2の膜厚T2は、第1部分Q1の膜厚T1を下回る。以上の例示の通り、本実施形態の工程P4では、導電層72と圧電材料層71と第2振動層362とが一括的にパターニングされる。   In the process P4, in addition to the selective removal of the conductive layer 72 and the piezoelectric material layer 71, the thickness of the second portion Q2 of the second vibration layer 362 of the vibration plate 36 that does not overlap the piezoelectric layer 52 in plan view. Part of the direction is removed. That is, in the process P4, patterning is performed so that the second portion Q2 of the second vibration layer 362 remains with a predetermined film thickness T2. Specifically, in the process P4, a part in the thickness direction is removed so that the film thickness T2 of the second portion Q2 of the second vibration layer 362 is 40 nm or less. On the other hand, since the first portion Q1 of the second vibration layer 362 is covered with the piezoelectric layer 52, it is not removed by the patterning in the process P4. Therefore, as described above, the film thickness T2 of the second portion Q2 of the second vibration layer 362 is less than the film thickness T1 of the first portion Q1. As illustrated above, in the process P4 of this embodiment, the conductive layer 72, the piezoelectric material layer 71, and the second vibration layer 362 are collectively patterned.

工程P4の実施後の工程P5では、工程P4で形成された第1電極層531を被覆する第2電極層532が形成される。第2電極層532の材料および製法は任意である。例えば、白金(Pt)またはイリジウム(Ir)等の各種の導電材料の薄膜をスパッタリング等の各種の成膜技術により形成し、エッチング等の加工技術により当該薄膜をパターニングすることで、第2電極層532が形成される。以上に説明した工程P5は、「第5工程」の具体例である。   In the process P5 after the implementation of the process P4, the second electrode layer 532 that covers the first electrode layer 531 formed in the process P4 is formed. The material and manufacturing method of the second electrode layer 532 are arbitrary. For example, the second electrode layer is formed by forming a thin film of various conductive materials such as platinum (Pt) or iridium (Ir) by various film forming techniques such as sputtering and patterning the thin film by a processing technique such as etching. 532 is formed. The process P5 described above is a specific example of the “fifth process”.

以上に説明した通り、本実施形態では、圧電材料層71を加熱する工程P3の実施後に圧電材料層71および導電層72をパターニングしたが、圧電材料層71および導電層72のパターニングの実行後に圧電材料層71を加熱する製造方法(以下「対比例」という)も想定される。図7は、対比例における圧電デバイスの製造方法の工程図である。対比例では、本実施形態における工程P3および工程P4が、図7の工程PAおよび工程PBに置換される。   As described above, in this embodiment, the piezoelectric material layer 71 and the conductive layer 72 are patterned after the step P3 of heating the piezoelectric material layer 71, but the piezoelectric material layer 71 and the conductive layer 72 are patterned after the patterning is performed. A manufacturing method for heating the material layer 71 (hereinafter referred to as “proportional”) is also assumed. FIG. 7 is a process diagram of a method for manufacturing a piezoelectric device in comparison. In contrast, the process P3 and the process P4 in this embodiment are replaced with the process PA and the process PB in FIG.

工程P2の実施後の工程PAでは、導電層72および圧電材料層71がパターニングされる。導電層72のパターニングにより第2電極53の第1電極層531が形成され、圧電材料層71のパターニングにより圧電体層52が形成される。工程PAでは、第2振動層362の第2部分Q2のうち厚さ方向の一部が除去される。したがって、工程PAを実施した段階では、第2振動層362のうち第2部分Q2の膜厚T2が第1部分Q1の膜厚T1を下回る。工程PAの実施後の工程PBでは、圧電体層52を加熱することで結晶特性が改善される。   In the process PA after the process P2, the conductive layer 72 and the piezoelectric material layer 71 are patterned. The first electrode layer 531 of the second electrode 53 is formed by patterning the conductive layer 72, and the piezoelectric layer 52 is formed by patterning the piezoelectric material layer 71. In step PA, a part in the thickness direction of the second portion Q2 of the second vibration layer 362 is removed. Therefore, at the stage where the process PA is performed, the film thickness T2 of the second portion Q2 of the second vibration layer 362 is less than the film thickness T1 of the first portion Q1. In the process PB after the implementation of the process PA, the crystal characteristics are improved by heating the piezoelectric layer 52.

工程PBにおける圧電材料層71の加熱の過程では、図7に破線の矢印で図示される通り、圧電材料の成分である鉛(Pb)が圧電材料層71からが拡散する。工程PBの段階では、第2振動層362のうち第2部分Q2の膜厚が低減された状態にある。したがって、圧電材料層71から拡散した鉛は、第2振動層362の第2部分Q2を通過して第1振動層361に到達し得る。そして、第1振動層361の酸化ケイ素に圧電材料層71からの鉛が反応することで鉛ガラスが形成される。以上のように振動板36の内部に形成された鉛ガラスはクラックの原因となり得る。   In the process of heating the piezoelectric material layer 71 in the process PB, lead (Pb), which is a component of the piezoelectric material, diffuses from the piezoelectric material layer 71 as illustrated by broken arrows in FIG. At the stage of the process PB, the film thickness of the second portion Q2 of the second vibration layer 362 is reduced. Therefore, the lead diffused from the piezoelectric material layer 71 can reach the first vibration layer 361 through the second portion Q 2 of the second vibration layer 362. Then, lead glass is formed by the lead from the piezoelectric material layer 71 reacting with the silicon oxide of the first vibration layer 361. As described above, the lead glass formed inside the diaphragm 36 may cause cracks.

以上に説明した対比例とは対照的に、本実施形態では、図6の例示の通り、圧電材料層71を加熱する工程P3の実施後に導電層72および圧電材料層71のパターニングが実行される。すなわち、圧電材料層71の加熱の段階では、第1振動層361と圧電材料層71との間に充分な膜厚T1の第2振動層362が介在する。したがって、圧電材料層71の加熱により発生した鉛の拡散は、第2振動層362により有効に阻止され、第1振動層361までは到達しない。すなわち、圧電材料層71から拡散した鉛と第1振動層361の酸化ケイ素との反応により鉛ガラスが生成される可能性が低減される。したがって、本実施形態によれば、第2振動層362の膜厚を低減することで振動板36の変位量を確保しながら、圧電材料層71から拡散した成分と振動板36を構成する酸化ケイ素との反応に起因した振動板36のクラックを抑制することが可能である。   In contrast to the above-described comparison, in the present embodiment, patterning of the conductive layer 72 and the piezoelectric material layer 71 is performed after the process P3 for heating the piezoelectric material layer 71 as illustrated in FIG. . That is, at the stage of heating the piezoelectric material layer 71, the second vibration layer 362 having a sufficient thickness T 1 is interposed between the first vibration layer 361 and the piezoelectric material layer 71. Therefore, the diffusion of lead generated by heating the piezoelectric material layer 71 is effectively prevented by the second vibration layer 362 and does not reach the first vibration layer 361. That is, the possibility that lead glass is generated by the reaction between the lead diffused from the piezoelectric material layer 71 and the silicon oxide of the first vibration layer 361 is reduced. Therefore, according to the present embodiment, the component diffused from the piezoelectric material layer 71 and the silicon oxide constituting the diaphragm 36 are secured while the amount of displacement of the diaphragm 36 is secured by reducing the film thickness of the second vibration layer 362. It is possible to suppress the cracks of the diaphragm 36 due to the reaction with.

なお、圧電体層52の側面には、圧電材料層71のパターニングに起因した結晶特性の変質等のダメージが発生し得る。圧電材料層71のパターニングの実行後に圧電体層52を加熱する対比例の手順では、工程PAでのパターニングに起因したダメージが工程PBでの加熱により改善される。他方、本実施形態では、工程P3における圧電材料層71の加熱後に当該圧電材料層71がパターニングされるから、工程P4でのパターニングに起因したダメージは圧電体層52の側面に残存する。しかし、圧電体層52の側面に残存したダメージは、圧電素子38の駆動に実質的には関与しないから、当該ダメージは特段の問題にならない。   Note that damage such as alteration of crystal characteristics due to patterning of the piezoelectric material layer 71 may occur on the side surface of the piezoelectric layer 52. In the comparative procedure in which the piezoelectric layer 52 is heated after the patterning of the piezoelectric material layer 71 is performed, the damage caused by the patterning in the process PA is improved by the heating in the process PB. On the other hand, in the present embodiment, since the piezoelectric material layer 71 is patterned after the heating of the piezoelectric material layer 71 in the process P3, damage caused by the patterning in the process P4 remains on the side surface of the piezoelectric layer 52. However, since the damage remaining on the side surface of the piezoelectric layer 52 does not substantially relate to the driving of the piezoelectric element 38, the damage is not a special problem.

図8は、圧電材料層71のパターニングの実行後に圧電体層52を加熱する対比例の製造方法において、第2振動層362のうち第2部分Q2の膜厚T2と、第1振動層361に形成される鉛ガラスの膜厚δとの関係を示すグラフである。第2部分Q2の膜厚T2が小さいほど、圧電体層52から拡散した鉛が第2振動層362を通過し易く、結果的に第1振動層361における鉛ガラスの膜厚δが大きくなる、という傾向が図8から確認できる。具体的には、第2部分Q2の膜厚T2が40nm以下であると、第1振動層361に鉛ガラスが発生する。以上の傾向を考慮すると、対比例のもとで鉛ガラスの発生を回避するには、第2振動層362の第2部分Q2について40nmを上回る膜厚T2を確保する必要がある。   FIG. 8 shows a film thickness T2 of the second portion Q2 of the second vibration layer 362 and the first vibration layer 361 in the comparative manufacturing method in which the piezoelectric layer 52 is heated after the patterning of the piezoelectric material layer 71 is performed. It is a graph which shows the relationship with the film thickness (delta) of the lead glass formed. The smaller the film thickness T2 of the second portion Q2, the easier it is for lead diffused from the piezoelectric layer 52 to pass through the second vibration layer 362. As a result, the film thickness δ of lead glass in the first vibration layer 361 increases. This tendency can be confirmed from FIG. Specifically, when the film thickness T2 of the second portion Q2 is 40 nm or less, lead glass is generated in the first vibration layer 361. Considering the above tendency, in order to avoid the generation of lead glass in a proportional manner, it is necessary to secure a film thickness T2 exceeding 40 nm for the second portion Q2 of the second vibration layer 362.

他方、本実施形態によれば、前述の通り、圧電材料層71の加熱後に導電層72および圧電材料層71をパターニングすることで鉛ガラスの発生が抑制される。すなわち、第2振動層362のうち第2部分Q2の膜厚T2を40nm以下に設定することで振動板36の変位量を充分に確保した場合でも、第1振動層361における鉛ガラスの発生を防止できる。以上の説明から理解される通り、対比例と比較した本実施形態の効果は、第2振動層362のうち第2部分Q2の膜厚T2を40nm以下とした構成において格別に顕著である。   On the other hand, according to the present embodiment, as described above, generation of lead glass is suppressed by patterning the conductive layer 72 and the piezoelectric material layer 71 after the piezoelectric material layer 71 is heated. That is, even if the displacement T of the diaphragm 36 is sufficiently secured by setting the film thickness T2 of the second portion Q2 of the second vibration layer 362 to 40 nm or less, the generation of lead glass in the first vibration layer 361 is prevented. Can be prevented. As understood from the above description, the effect of the present embodiment compared with the proportionality is particularly remarkable in the configuration in which the film thickness T2 of the second portion Q2 of the second vibration layer 362 is 40 nm or less.

<製造方法に起因した構造上の特徴>
図6に例示した本実施形態の製造方法に起因して圧電デバイスに発生する構造上の特徴について説明する。
<Structural features resulting from the manufacturing method>
Structural features that occur in the piezoelectric device due to the manufacturing method of this embodiment illustrated in FIG. 6 will be described.

工程P3において圧電材料層71を加熱する過程では、圧電材料層71に過剰に含有された鉛が圧電材料層71から拡散する。圧電材料層71から拡散した鉛は、図9に例示される通り、第1電極層531となる導電層72を通過し、導電層72の表面上で凝集することで酸化鉛等の鉛化合物を構成する。具体的には、導電層72の表面に鉛化合物の複数の突起73が形成される。なお、図5および図6においては複数の突起73の図示が便宜的に省略されている。   In the process of heating the piezoelectric material layer 71 in the process P 3, lead excessively contained in the piezoelectric material layer 71 diffuses from the piezoelectric material layer 71. As illustrated in FIG. 9, the lead diffused from the piezoelectric material layer 71 passes through the conductive layer 72 to be the first electrode layer 531 and aggregates on the surface of the conductive layer 72, thereby converting lead compounds such as lead oxide. Constitute. More specifically, a plurality of lead compound protrusions 73 are formed on the surface of the conductive layer 72. 5 and 6, the illustration of the plurality of protrusions 73 is omitted for convenience.

図9に例示した複数の突起73は、工程P4における導電層72のパターニング後にも維持される。すなわち、図10に例示される通り、第2電極53の第1電極層531の表面には鉛化合物の複数の突起73が形成される。以上の説明から理解される通り、第1電極層531の表面に鉛化合物で形成された複数の突起73は、圧電材料層71の面上に導電層72が形成された状態で当該圧電材料層71を加熱する工程P3に起因した構造である。すなわち、鉛化合物を含有する複数の突起73が第1電極層531と第2電極層532との間に介在する液体噴射装置100は、圧電材料層71の面上に導電層72が形成された状態で当該圧電材料層71を加熱する工程P3を経て製造されたと推定できる。   The plurality of protrusions 73 illustrated in FIG. 9 are maintained even after the patterning of the conductive layer 72 in the process P4. That is, as illustrated in FIG. 10, a plurality of lead compound protrusions 73 are formed on the surface of the first electrode layer 531 of the second electrode 53. As understood from the above description, the plurality of protrusions 73 formed of the lead compound on the surface of the first electrode layer 531 are formed in a state where the conductive layer 72 is formed on the surface of the piezoelectric material layer 71. This is a structure resulting from the process P3 of heating 71. That is, in the liquid ejecting apparatus 100 in which the plurality of protrusions 73 containing a lead compound are interposed between the first electrode layer 531 and the second electrode layer 532, the conductive layer 72 is formed on the surface of the piezoelectric material layer 71. It can be presumed that the piezoelectric material layer 71 was manufactured through the process P3 in the state.

前述の通り、図6に例示した製造方法では、工程P3における圧電材料層71の加熱後に導電層72および圧電材料層71のパターニングが実行されるから、圧電体層52の成分である鉛と第1振動層361の酸化ケイ素とが反応した鉛ガラスは、振動板36の第1振動層361には存在しない。したがって、振動板36の第1振動層361が鉛ガラスを含有しない液体噴射装置100は、導電層72および圧電材料層71をパターニングする工程P4の実施前に、圧電材料層71を加熱する工程P3が実施され、または、圧電材料層71を加熱する工程P3が実施されていない、と推定できる。   As described above, in the manufacturing method illustrated in FIG. 6, the conductive layer 72 and the piezoelectric material layer 71 are patterned after the heating of the piezoelectric material layer 71 in the process P3. The lead glass reacted with the silicon oxide of the first vibration layer 361 does not exist in the first vibration layer 361 of the vibration plate 36. Therefore, in the liquid ejecting apparatus 100 in which the first vibration layer 361 of the diaphragm 36 does not contain lead glass, the step P3 of heating the piezoelectric material layer 71 before the step P4 of patterning the conductive layer 72 and the piezoelectric material layer 71 is performed. It can be presumed that the step P3 for heating the piezoelectric material layer 71 is not performed.

以上の説明から理解される通り、鉛化合物を含有する複数の突起73が第1電極層531と第2電極層532との間に介在し、かつ、振動板36の第1振動層361が鉛ガラスを含有しない液体噴射装置100については、導電層72および圧電材料層71をパターニングする工程P4の実施前に、圧電材料層71を加熱する工程P3が実施されたと推定できる。以上の手順のもとでは、圧電材料層71の加熱の段階において、第1振動層361と圧電材料層71との間に充分な膜厚T1の第2振動層362が介在するから、圧電材料層71の加熱により拡散した鉛は第1振動層361まで到達しない。したがって、前述の通り、第2振動層362の膜厚を低減することで振動板36の変位量を確保しながら、圧電材料層71から拡散した成分と振動板36を構成する酸化ケイ素との反応に起因した振動板36のクラックを抑制することが可能である。   As understood from the above description, a plurality of protrusions 73 containing a lead compound are interposed between the first electrode layer 531 and the second electrode layer 532, and the first vibration layer 361 of the diaphragm 36 is lead. For the liquid ejecting apparatus 100 that does not contain glass, it can be estimated that the step P3 of heating the piezoelectric material layer 71 was performed before the step P4 of patterning the conductive layer 72 and the piezoelectric material layer 71. Under the above procedure, since the second vibration layer 362 having a sufficient film thickness T1 is interposed between the first vibration layer 361 and the piezoelectric material layer 71 at the stage of heating the piezoelectric material layer 71, the piezoelectric material. Lead diffused by heating the layer 71 does not reach the first vibration layer 361. Therefore, as described above, the reaction between the component diffused from the piezoelectric material layer 71 and the silicon oxide constituting the vibration plate 36 while ensuring the amount of displacement of the vibration plate 36 by reducing the film thickness of the second vibration layer 362. It is possible to suppress cracks in the diaphragm 36 caused by the above.

<変形例>
以上に例示した各形態は多様に変形され得る。前述の各形態に適用され得る具体的な変形の態様を以下に例示する。なお、以下の例示から任意に選択された2以上の態様は、相互に矛盾しない範囲で適宜に併合され得る。
<Modification>
Each form illustrated above can be variously modified. Specific modes of modifications that can be applied to the above-described embodiments are exemplified below. Note that two or more aspects arbitrarily selected from the following examples can be appropriately combined as long as they do not contradict each other.

(1)前述の形態では、第2振動層362の第2部分Q2が所定の膜厚T2で残存するようにパターニングを実行したが、図11に例示される通り、工程P4において第2振動層362の第2部分Q2を完全に除去してもよい。図11の構成では、圧電体層52の切欠521の内側において振動板36の第1振動層361と第2電極53の第2電極層532とが直接的に接触する。すなわち、第1振動層361と第2電極層532との間に第2振動層362は介在しない。図11の構成によれば、振動板36の変位量を確保し易いという利点がある。以上の例示の通り、好適な態様において、第2振動層362の第2部分Q2の膜厚T2は、0nm以上かつ40nm以下に設定される。 (1) In the above-described embodiment, the patterning is performed so that the second portion Q2 of the second vibration layer 362 remains with a predetermined film thickness T2. However, as illustrated in FIG. The second portion Q2 of 362 may be completely removed. In the configuration of FIG. 11, the first vibration layer 361 of the diaphragm 36 and the second electrode layer 532 of the second electrode 53 are in direct contact with each other inside the notch 521 of the piezoelectric layer 52. That is, the second vibration layer 362 is not interposed between the first vibration layer 361 and the second electrode layer 532. According to the configuration of FIG. 11, there is an advantage that it is easy to secure the displacement amount of the diaphragm 36. As described above, in a preferred embodiment, the film thickness T2 of the second portion Q2 of the second vibration layer 362 is set to 0 nm or more and 40 nm or less.

他方、図5の例示のように工程P4において第2振動層362の第2部分Q2を膜厚T2だけ残存させる構成によれば、振動板36の機械的な強度を維持し易いという利点がある。以上の例示から理解される通り、工程P4は、導電層72および圧電材料層71のパターニングにより第1電極層531および圧電体層52をそれぞれ形成する工程であって、第2振動層362のうち平面視で圧電体層52に重ならない第2部分Q2について厚さ方向の一部をパターニングにより除去する工程として包括的に表現される。   On the other hand, as illustrated in FIG. 5, according to the configuration in which the second portion Q2 of the second vibration layer 362 is left by the film thickness T2 in the process P4, there is an advantage that the mechanical strength of the vibration plate 36 can be easily maintained. . As understood from the above examples, the process P4 is a process of forming the first electrode layer 531 and the piezoelectric layer 52 by patterning the conductive layer 72 and the piezoelectric material layer 71, respectively, and includes the second vibration layer 362. The second portion Q2 that does not overlap the piezoelectric layer 52 in plan view is comprehensively expressed as a step of removing a part in the thickness direction by patterning.

(2)振動板36の第2振動層362の材料は、前述の形態で例示した酸化ジルコニウム(ZrO)に限定されない。例えば、酸化タンタル(Ta)または酸化アルミニウム(Al)等の金属酸化物により第2振動層362を形成してもよい。以上の例示から理解される通り、第2振動層362は、第1振動層361とは異なる絶縁材料で形成される。 (2) The material of the second vibration layer 362 of the vibration plate 36 is not limited to the zirconium oxide (ZrO 2 ) exemplified in the above embodiment. For example, the second vibration layer 362 may be formed of a metal oxide such as tantalum oxide (Ta 2 O 5 ) or aluminum oxide (Al 2 O 3 ). As understood from the above examples, the second vibration layer 362 is formed of an insulating material different from that of the first vibration layer 361.

(3)前述の各形態では、第1電極51が個別電極であり第2電極53が共通電極である構成を例示したが、第1電極51を、複数の圧電素子38にわたり連続する共通電極とし、第2電極53を圧電素子38毎に個別の個別電極としてもよい。また、第1電極51および第2電極53の双方を個別電極としてもよい。 (3) In each of the above-described embodiments, the configuration in which the first electrode 51 is an individual electrode and the second electrode 53 is a common electrode is exemplified. However, the first electrode 51 is a common electrode continuous across a plurality of piezoelectric elements 38. The second electrode 53 may be an individual electrode for each piezoelectric element 38. Further, both the first electrode 51 and the second electrode 53 may be individual electrodes.

(4)前述の各形態では、液体噴射ヘッド26を搭載した搬送体242を往復させるシリアル方式の液体噴射装置100を例示したが、複数のノズルNが媒体12の全幅にわたり分布するライン方式の液体噴射装置にも本発明を適用することが可能である。 (4) In each of the above-described embodiments, the serial-type liquid ejecting apparatus 100 that reciprocates the transport body 242 on which the liquid ejecting head 26 is mounted has been exemplified. The present invention can also be applied to an injection device.

(5)前述の各形態で例示した液体噴射装置100は、印刷に専用される機器のほか、ファクシミリ装置やコピー機等の各種の機器に採用され得る。もっとも、本発明の液体噴射装置の用途は印刷に限定されない。例えば、色材の溶液を噴射する液体噴射装置は、液晶表示装置のカラーフィルターを形成する製造装置として利用される。また、導電材料の溶液を噴射する液体噴射装置は、配線基板の配線や電極を形成する製造装置として利用される。 (5) The liquid ejecting apparatus 100 exemplified in each of the above-described embodiments can be employed in various apparatuses such as a facsimile apparatus and a copying machine in addition to an apparatus dedicated to printing. However, the use of the liquid ejecting apparatus of the present invention is not limited to printing. For example, a liquid ejecting apparatus that ejects a solution of a coloring material is used as a manufacturing apparatus that forms a color filter of a liquid crystal display device. Further, a liquid ejecting apparatus that ejects a solution of a conductive material is used as a manufacturing apparatus that forms wiring and electrodes of a wiring board.

(6)振動板36と圧電素子38とを具備する圧電デバイスは、液体噴射ヘッド26以外に、超音波センサー、超音波トランスデューサーまたは超音波モーター等の装置にも適用することができる。 (6) The piezoelectric device including the vibration plate 36 and the piezoelectric element 38 can be applied to an apparatus such as an ultrasonic sensor, an ultrasonic transducer, or an ultrasonic motor in addition to the liquid ejecting head 26.

100…液体噴射装置、12…媒体、14…液体容器、20…制御ユニット、22…搬送機構、24…移動機構、26…液体噴射ヘッド、32……流路基板、34……圧力室基板、342…除去部、36……振動板、361…第1振動層、362…第2振動層、38……圧電素子、42……筐体部、44……封止体、46……ノズル板、N……ノズル、48……吸振体、50……配線基板、51…第1電極、52…圧電体層、53…第2電極、531…第1電極層、532…第2電極層、71…圧電材料層、72…導電層、73…突起、C…圧力室、R…液体貯留室。
DESCRIPTION OF SYMBOLS 100 ... Liquid ejecting apparatus, 12 ... Medium, 14 ... Liquid container, 20 ... Control unit, 22 ... Conveyance mechanism, 24 ... Moving mechanism, 26 ... Liquid ejecting head, 32 ... Flow path substrate, 34 ... Pressure chamber substrate, 342... Removal part, 36... Vibration plate, 361... First vibration layer, 362... Second vibration layer, 38... Piezoelectric element, 42. , N ... nozzle, 48 ... vibration absorber, 50 ... wiring board, 51 ... first electrode, 52 ... piezoelectric layer, 53 ... second electrode, 531 ... first electrode layer, 532 ... second electrode layer, 71 ... Piezoelectric material layer, 72 ... Conductive layer, 73 ... Projection, C ... Pressure chamber, R ... Liquid storage chamber.

Claims (6)

酸化ケイ素で形成された第1振動層と、前記第1振動層とは異なる絶縁材料で前記第1振動層の面上に形成された第2振動層とを含む振動板と、
前記第2振動層の面上に形成され、第1電極と、圧電体層と、第1電極層および第2電極層を積層した第2電極とを含む圧電素子と
を具備する圧電デバイスの製造方法であって、
前記第2振動層の面上に形成された前記第1電極を被覆する圧電材料層を圧電材料により形成する第1工程と、
前記圧電材料層の面上に導電層を形成する第2工程と、
前記第2工程の実施後に前記圧電材料層を加熱する第3工程と、
前記第3工程の実施後に、前記導電層および前記圧電材料層のパターニングにより前記第1電極層および前記圧電体層をそれぞれ形成する工程であって、前記第2振動層のうち平面視で前記圧電体層に重ならない部分について厚さ方向の一部を前記パターニングにより除去する第4工程と、
前記第1電極層を被覆する前記第2電極層を形成する第5工程と
を含む圧電デバイスの製造方法。
A diaphragm including a first vibration layer formed of silicon oxide and a second vibration layer formed on a surface of the first vibration layer with an insulating material different from that of the first vibration layer;
Manufacturing of a piezoelectric device comprising: a first electrode, a piezoelectric layer, and a piezoelectric element formed on the surface of the second vibration layer, and a second electrode in which the first electrode layer and the second electrode layer are stacked. A method,
A first step of forming a piezoelectric material layer covering the first electrode formed on the surface of the second vibration layer with a piezoelectric material;
A second step of forming a conductive layer on the surface of the piezoelectric material layer;
A third step of heating the piezoelectric material layer after performing the second step;
After the third step, the first electrode layer and the piezoelectric layer are formed by patterning the conductive layer and the piezoelectric material layer, respectively, and the piezoelectric layer in the plan view of the second vibration layer. A fourth step of removing a portion in the thickness direction of the portion not overlapping the body layer by the patterning;
And a fifth step of forming the second electrode layer covering the first electrode layer.
前記第4工程においては、前記第2振動層のうち平面視で前記圧電体層に重ならない部分が残存するように前記パターニングを実行する
請求項1の圧電デバイスの製造方法。
The method for manufacturing a piezoelectric device according to claim 1, wherein in the fourth step, the patterning is performed such that a portion of the second vibration layer that does not overlap the piezoelectric layer in a plan view remains.
前記第4工程においては、前記第2振動層のうち平面視で前記圧電体層に重ならない部分を、前記パターニングにより40nm以下の膜厚まで厚さ方向に除去する
請求項1または請求項2の圧電デバイスの製造方法。
In the fourth step, a portion of the second vibration layer that does not overlap the piezoelectric layer in plan view is removed in the thickness direction to a film thickness of 40 nm or less by the patterning. A method for manufacturing a piezoelectric device.
酸化ケイ素で形成された第1振動層と、前記第1振動層とは異なる絶縁材料で前記第1振動層の面上に形成された第2振動層とを含む振動板と、
前記第2振動層の面上に形成され、第1電極と、圧電体層と、第1電極層および第2電極層を積層した第2電極とを含む圧電素子とを具備し、
前記第2振動層のうち平面視で前記圧電体層に重ならない部分の厚さは40nm以下であり、
前記第1電極層と前記第2電極層との間には、前記圧電体層に含有される成分の化合物が介在し、
前記第1振動層と前記第2振動層との間には、前記圧電体層に含有される成分の化合物が存在しない
圧電デバイス。
A diaphragm including a first vibration layer formed of silicon oxide and a second vibration layer formed on a surface of the first vibration layer with an insulating material different from that of the first vibration layer;
A piezoelectric element formed on the surface of the second vibration layer and including a first electrode, a piezoelectric layer, and a second electrode obtained by stacking the first electrode layer and the second electrode layer;
The thickness of the portion of the second vibration layer that does not overlap the piezoelectric layer in plan view is 40 nm or less,
Between the first electrode layer and the second electrode layer, a compound of a component contained in the piezoelectric layer is interposed,
A piezoelectric device in which a component compound contained in the piezoelectric layer does not exist between the first vibration layer and the second vibration layer.
液体を収容する圧力室と、
前記圧力室の壁面を構成する振動板と、
前記振動板の面上に形成され、第1電極と、圧電体層と、第1電極層および第2電極層を積層した第2電極とを含む圧電素子と
を具備する液体噴射ヘッドであって、
前記振動板は、
酸化ケイ素で形成された第1振動層と、
前記第1振動層とは異なる絶縁材料で前記第1振動層の面上に形成された第2振動層とを含み、
前記第2振動層のうち平面視で前記圧電体層に重ならない部分の厚さは40nm以下であり、
前記第1電極層と前記第2電極層との間には、前記圧電体層に含有される成分の化合物が介在し、
前記第1振動層と前記第2振動層との間には、前記圧電体層に含有される成分の化合物が存在しない
液体噴射ヘッド。
A pressure chamber containing liquid;
A diaphragm constituting a wall surface of the pressure chamber;
A liquid ejecting head, comprising: a piezoelectric element formed on a surface of the diaphragm and including a first electrode, a piezoelectric layer, and a second electrode in which the first electrode layer and the second electrode layer are stacked. ,
The diaphragm is
A first vibration layer formed of silicon oxide;
A second vibration layer formed on a surface of the first vibration layer with an insulating material different from that of the first vibration layer;
The thickness of the portion of the second vibration layer that does not overlap the piezoelectric layer in plan view is 40 nm or less,
Between the first electrode layer and the second electrode layer, a compound of a component contained in the piezoelectric layer is interposed,
A liquid ejecting head, wherein the compound of the component contained in the piezoelectric layer does not exist between the first vibrating layer and the second vibrating layer.
請求項5の液体噴射ヘッドを具備する液体噴射装置。
A liquid ejecting apparatus comprising the liquid ejecting head according to claim 5.
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