JP2017519971A5 - - Google Patents

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図1Aを参照すると、本開示の一つの実施形態に従ったウエハ検査システムの正面図が示される。いくつかの実施形態では、ライン走査光学検査システム100のようなウエハ検査システムは、3つの収集チャネル102、104、106を含み、ウエハ101における欠陥からの散乱光を収集して、その光を対応するアレイラインセンサ114、116、118上にイメージングする。位置検出器115、117、119は、各アレイラインセンサ114、116、118に関連付けられている。幾つかの実施形態では、照射光学系はウエハ101上の走査位置で、細いライン120を形成する。ウエハ101上の照射された走査位置からの散乱光は、3つの収集チャネル102、104、106によって集められて各アレイラインセンサ114、116、118上にフォーカスされる。ある例示的な実施形態では、この細いライン120は、ウエハ101上で1マイクロメータよりも細い幅を有し得るが、これに限定されるものではない。ウエハ101の形状及び欠陥からの散乱光は、各収集チャネル102、104、106内のアレイラインセンサ114、116、118上にイメージングされる。アレイラインセンサ114、116、118は、当該技術で既知の任意のイメージング技術を含み得る。いくつかの実施形態では、アレイラインセンサ114、116、118は電荷結合素子(CCD)又は時間遅延積分(TDI)デバイスを含む。
図1Bを参照すると、イメージセンサ及び位置検出器の一つの対の詳細な上面図が示されている。ある例示的な実施形態では、図1Aの第1の収集チャネルは、関連付けられたイメージセンサ116及び位置検出器117を有する。第1の収集チャネルからの照射ラインイメージ122は、イメージセンサ116及び位置検出器117の両方を照射する。照射ラインイメージ122のうちでイメージセンサを照射する部分は、対応するスリット開口フィルタ108によってフィルタリングされるが、位置検出器117を照射している部分はフィルタリングされない。位置検出器117は、走査方向(x方向)において照射ラインイメージ122の一部に対応する信号を生成する。いくつかの実施形態では、同様のイメージセンサ116/位置検出器117の対が、各収集チャネルに対して使用される。
少なくとも一つの実施形態では、第2のスリット開口フィルタ110は機械式フィルタを備えている。機械式フィルタは、より高い感度が必要とされる場合に、より大きなスリット開口を有してより多くの光を許容する機械式フィルタで置換可能であり得る。あるいは、少なくとも一つの実施形態では、第2のスリット開口フィルタ110は電子式フィルタを備える。電子式フィルタは、特定のアプリケーションに対するシステム感度について望まれるように、より大きい又はより小さい開口を作り出すように調整可能であり得る。
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