JP2016527475A - 測定対象物の少なくとも1つの仮想画像を生成する方法及び装置 - Google Patents
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Abstract
Description
Claims (12)
- 測定対象物の少なくとも1つの仮想画像(vA)を生成する方法であって、前記測定対象物の仮想位置及び/又は仮想方位を決定し、座標測定機の少なくとも1つの撮像装置の仮想位置及び/又は仮想方位を決定し、且つ前記仮想画像(vA)を、前記測定対象物の幾何学的データ及び前記測定対象物の光学特性に応じて生成する方法において、前記仮想画像(vA)を、前記撮像装置の結像パラメータ(uAE、vAE)に応じてさらに生成することを特徴とする方法。
- 請求項1に記載の方法において、少なくとも1つの光源の仮想位置及び/又は仮想方位を決定し、前記仮想画像(vA)を、前記光源の発光パラメータ(uEP、vEP)に応じてさらに決定することを特徴とする方法。
- 請求項1又は2に記載の方法において、前記撮像装置の前記結像パラメータ(uAE、vAE)は、前記撮像装置の少なくとも1つの光学素子の結像パラメータを含むことを特徴とする方法。
- 請求項1〜3のいずれか1項に記載の方法において、前記測定対象物及び/又は前記少なくとも1つの撮像装置の前記仮想位置及び/又は仮想方位を、前記座標測定機の少なくとも1つの可動部品の仮想運動パラメータ(BP)及び/又は前記座標測定機の幾何学的データに応じて決定することを特徴とする方法。
- 請求項1〜4のいずれか1項に記載の方法において、前記仮想画像(vA)を、前記撮像装置のイメージセンサのセンサパラメータに応じてさらに決定することを特徴とする方法。
- 請求項1〜5のいずれか1項に記載の方法において、前記仮想画像(vA)の生成後に、少なくとも1つの画像処理法を前記仮想画像(vA)に適用し、前記画像処理法は、前記撮像装置の少なくとも1つの収差をシミュレートすることを特徴とする方法。
- 請求項6に記載の方法において、前記仮想画像(vA)の生成後に、少なくとも1つの平滑化フィルタ演算を前記仮想画像(vA)に適用し、前記平滑化フィルタ演算の強度を、前記撮像装置の焦点面からの、前記測定対象物上の1つ又は複数の画素に結像した点の距離に応じて選択することを特徴とする方法。
- 請求項1〜7のいずれか1項に記載の方法において、前記撮像装置の焦点面を決定し、前記仮想画像(vA)は、仮想測定対象物のうち前記焦点面に又は該焦点面の周りの所定の領域に配置された部分に対応することを特徴とする方法。
- 請求項1〜8のいずれか1項に記載の方法において、前記少なくとも1つの光源及び/又は前記座標測定機及び/又は前記撮像装置の少なくとも1つの調整可能パラメータ(vAE、vEP、vBP)を、前記仮想画像(vA)の生成に用いた対応のパラメータに応じて調整することを特徴とする方法。
- 請求項1〜9のいずれか1項に記載の方法において、前記座標測定機の測定精度を、前記仮想画像(vA)に応じて決定することを特徴とする方法。
- 請求項1〜10のいずれか1項に記載の方法において、測定対象物の画像ベース測定の種々の方法の測定精度を、前記仮想画像(vA)に応じて比較することを特徴とする方法。
- 測定対象物の少なくとも1つの仮想画像(vA)を生成する装置であって、少なくとも1つの制御・評価装置を含み、該制御・評価装置を用いて、前記測定対象物の仮想位置及び/又は仮想方位、及び/又は座標測定機の少なくとも1つの撮像装置の仮想位置及び/又は仮想方位を決定することが可能であり、前記測定対象物の幾何学的データ及び前記測定対象物の光学特性に応じて、前記仮想画像(vA)を生成することが可能である装置において、前記仮想画像(vA)を、前記撮像装置の結像の結像パラメータ(uAE、vAE)に応じてさらに生成することができることを特徴とする装置。
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