JP2016208493A - 光伝送装置、接続確認方法および波長選択スイッチカード - Google Patents
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Abstract
【課題】簡単な構成で光伝送装置内の接続を検証する。【解決手段】光伝送装置100は、光学的に接続された複数の基板モジュール20、30、40、60、70、80を備える。複数の基板モジュールの中の第1の基板モジュール20、60は、テスト光を生成する光生成器23、63と、生成されたテスト光を転送する第1の光スイッチ21、61を含む。複数の基板モジュールの中の第2の基板モジュール40、80は、第1の基板モジュール20、60から転送されたテスト光を、第1の基板モジュール20、60にループバックする第2の光スイッチ41、42、81、82を含む。【選択図】図4
Description
本発明は、光伝送装置に関する。
大容量の光通信を実現するために、WDM(Wavelength Division Multiplexing)が普及している。WDM伝送システムにおいては、複数の波長チャネルが多重化されたWDM信号が伝送される。また、WDM伝送システムの各ノードには、光分岐挿入装置(ROADM:Reconfigurable Optical Add Drop Multiplexer)が設けられる。ROADMは、WDM信号から所望の波長チャネルの光信号を分岐し、WDM信号の空チャネルに光信号を追加することができる。
図1は、WDM伝送装置の一例を示す。図1に示すWDM伝送装置は、波長選択スイッチ(WSS:Wavelength Selective Switch)1001W、1001E、多重/逆多重器1002W、1002E、複数のトランスポンダ1003を備える。波長選択スイッチ1001Wは、WEST方路から入力されるWDM信号およびWEST方路へ出力されるWDM信号を処理する。同様に、波長選択スイッチ1001Eは、EAST方路から入力されるWDM信号およびEAST方路へ出力されるWDM信号を処理する。なお、波長選択スイッチ1001W、1001Eは、互いに接続されている。多重/逆多重器1002Wは、WEST方路から入力されるWDM信号を波長チャネル毎に分離して対応するトランスポンダへ導く。また、多重/逆多重器1002Wは、WEST方路へ出力すべき光信号を多重化して波長選択スイッチ1001Wへ導く。同様に、多重/逆多重器1002Eは、EAST方路から入力されるWDM信号を波長チャネル毎に分離して対応するトランスポンダへ導く。また、多重/逆多重器1002Eは、EAST方路へ出力すべき光信号を多重化して波長選択スイッチ1001Eへ導く。
近年、CDCG(Color-less, Direction-less, Contention-less, Grid-less)を実現するROADMが実用化されている。CDCG(または、CDC)を実現するCDC−ROADMの一例を図2に示す。CDC−ROADMは、例えば、図1に示す多重/逆多重器1002W、1002Eに代わりに、マルチキャストスイッチ1004X、1004Yを備える。
CDC−ROADMは、WEST方路から入力されるWDM信号を、マルチキャストスイッチ1004Xに収容されているトランスポンダ1003だけでなく、マルチキャストスイッチ1004Yに収容されているトランスポンダ1003にも導くことができる。同様に、CDC−ROADMは、EAST方路から入力されるWDM信号を、マルチキャストスイッチ1004Yに収容されているトランスポンダ1003だけでなく、マルチキャストスイッチ1004Xに収容されているトランスポンダ1003にも導くことができる。また、CDC−ROADMは、マルチキャストスイッチ1004Xに収容されているトランスポンダ1003から送信される光信号を、WEST方路だけでなくEAST方路にも導くことができる。同様に、CDC−ROADMは、マルチキャストスイッチ1004Yに収容されているトランスポンダ1003から送信される光信号を、EAET方路だけでなくWEST方路にも導くことができる。これらの機能を提供するため、図1に示すWDM伝送装置と比較して、図2に示すCDC−ROADMにおいては、装置内の光ファイバの接続が複雑である。
ここで、方路数の多いノードおいては、光伝送装置が備える波長選択スイッチの数が多く、各波長選択スイッチのポート数も多い。また、光伝送装置に収容されるクライアントの数が多いときは、多重/逆多重器またはマルチキャストスイッチの数が多く、多重/逆多重器またはマルチキャストスイッチのポート数も多い。これらのケースでは、光伝送装置内の光ファイバの接続がさらに複雑になる。
光伝送装置内の光ファイバの接続は、ユーザまたはネットワーク管理者により手作業で行われる。図2に示す例では、波長選択スイッチ1001W、1001E間、波長選択スイッチ1001Wとマルチキャストスイッチ1004X、1004Yとの間、波長選択スイッチ1001Eとマルチキャストスイッチ1004X、1004Yとの間で、それぞれ複数の光ファイバが接続される。
このとき、光ファイバが正しくないポートに接続されるおそれがある。また、光ファイバが適切に接続されないおそれもある。したがって、光伝送装置内で光ファイバが正しくまたは適切に接続されていることを確認する方法が求められている。
なお、光ファイバの接続を自動的に確認する機能を有する光クロスコネクト装置が提案されている(例えば、特許文献1)。また、光ファイバの誤接続を検出する機能を備えたノード装置が提案されている(例えば、特許文献2)。
従来技術において、光伝送装置内の接続を確認する際には、その光伝送装置から対向ノードへ光信号が送信される。例えば、図1または図2に示す光伝送装置においては、接続を確認するための光信号は、トランスポンダ1003により生成される。そして、対向ノードにおいてその光信号をモニタすることで、目的とする光伝送装置内の接続が確認される。あるいは、対向ノードから受信する光信号を利用して、目的とする光伝送装置内の接続が確認される。ただし、この方法では、対向ノードに設けられている光伝送装置を利用する必要がある。
この問題は、例えば、光伝送装置の特定の出力ポートと特定の入力ポートとの間を光ファイバで接続することによりループバック経路を構成すれば解決され得る。この方法によれば、対向ノードに設けられている他の光伝送装置を利用することなく、光伝送装置内の接続を確認することができるかも知れない。しかし、この方法では、光伝送装置内の接続を検証するために、実際の通信で使用する光ファイバとは別に、専用の光ファイバを光伝送装置に接続する必要がある。このため、通信サービスの運用が開始された後は、光伝送装置内の接続を確認することはできない。
本発明の1つの側面に係わる目的は、簡単な構成で光伝送装置内の接続を確認できるようにすることである。
本発明の1つの態様の光伝送装置は、に接続された複数の基板モジュールを備える。前記複数の基板モジュールの中の第1の基板モジュールは、テスト光を生成する光生成器と、前記生成されたテスト光を転送する第1の光スイッチを含む。前記複数の基板モジュールの中の第2の基板モジュールは、前記第1の基盤モジュールから転送されたテスト光を、前記第1の基盤モジュールにループバックする第2の光スイッチを含む。
上述の態様によれば、簡単な構成で光伝送装置内の接続を確認できる。
図3は、本発明の実施形態に係わる光伝送装置の一例を示す。この実施例では、光伝送装置1は、複数の基板モジュール(スイッチング基板2、スイッチング基板3、回路基板4)、制御部5を備える。複数の基板モジュールは、互いに光ファイバで光学的に接続されている。図3に示す例では、スイッチング基板2と回路基板4との間が複数の光ファイバで接続され、スイッチング基板3と回路基板4との間が複数の光ファイバで接続されている。なお、光伝送装置1は、さらに他の基板モジュールを備えていてもよい。
スイッチング基板2は、例えば、光伝送装置1のエッジに設けられる。「エッジ」は、光伝送装置1の外部と光伝送装置1の内部との境界を意味する。図3に示す例では、スイッチング基板2は、幹線ネットワークに接続されている。なお、スイッチング基板2は、光スイッチ2a、光送信器2b、光受信器2cを備える。
光スイッチ2aは、制御部5から与えられる指示に従って、光信号を処理する。すなわち、光スイッチ2aは、ネットワークから受信する光信号を指定された他の基板モジュール(図3では、回路基板4)に導く。また、光スイッチ2aは、他の基板モジュール(図3では、回路基板4)から受信する光信号をネットワークへ導く。
光送信器2bは、テスト光信号を生成する。ここで、光送信器2bは、光源および光変調器を含み、与えられたデータを伝送するテスト光信号を生成することができる。たとえば、光送信器2bには、スイッチング基板2または光送信器2bを識別する識別データが与えられる。この場合、テスト光信号は、識別データを表す変調光信号である。そして、光送信器2bにより生成されるテスト光信号は、光スイッチ2aに入力される。なお、光送信器2bは、テスト光信号を生成する光信号生成器の一例である。
光受信器2cは、光スイッチ2aにより光受信器2cに導かれる光信号を受信する。ここで、光受信器2cは、光復調器を含み、受信した変調光信号を復調してデータを再生することができる。なお、基板モジュール間の接続の検証が行われるときは、光送信器2bにより生成されるテスト光信号は、1または複数の他の基板モジュールを経由してスイッチング基板2に戻ってくる。この場合、光受信器2cは、テスト光信号を復調してデータを再生する。そして、光受信器2cは、再生したデータを制御部5に通知する。なお、光受信器2cは、テスト光信号からデータを再生するデータ再生器の一例である。
スイッチング基板3は、光スイッチ3aを備える。光スイッチ3aは、制御部5から与えられる指示に従って、光信号を処理する。図3に示す例では、光スイッチ3aには、複数の光送受信モジュール6が収容されている。各光送受信モジュール6は、例えば、クライアントに対応する。そして、光スイッチ3aは、他の基板モジュール(図3では、回路基板4)から導かれてくる光信号を、制御部5により指定される光送受信モジュール6へ転送する。また、光スイッチ3aは、光送受信モジュール6から受信する光信号を、制御部5により指定される基板モジュール(図3では、回路基板4)へ転送する。さらに、光スイッチ3aは、光信号をループバックする機能を有している。
回路基板4は、光回路4aを含む。光回路4aは、特に限定されるものではないが、例えば、光信号のパワーを調整する光増幅器である。なお、光伝送装置1は、回路基板4を備えていなくてもよい。すなわち、スイッチング基板2、3間が光ファイバにより直接的に接続されていてもよい。或いは、光伝送装置1は、スイッチング基板2、3間に複数の回路基板4を有していてもよい。
光伝送装置1は、図3には示していないが、基板モジュール間で伝送される光信号のパワーを測定するパワー測定器を備えている。図3に示す例では、光伝送装置1は、スイッチング基板2と回路基板4との間で伝送される光信号のパワーを測定するパワー測定器、およびスイッチング基板3と回路基板4との間で伝送される光信号のパワーを測定するパワー測定器を備える。例えば、スイッチング基板2と回路基板4との間では、スイッチング基板2から回路基板4へ光信号を伝送するための経路において、スイッチング基板2の出力光パワーおよび基板回路3の入力光パワーが測定され、回路基板4からスイッチング基板2へ光信号を伝送するための経路において、回路基板4の出力光パワーおよびスイッチング基板2の入力光パワーが測定される。
制御部5は、スイッチング基板2の光スイッチ2aおよびスイッチング基板3の光スイッチ3aを制御する。また、制御部5は、光送信器2bにより生成されるテスト光信号を利用して、光伝送装置1内の接続を検証する。
光伝送装置1内の接続を検証するときは、制御部5は、光送信器2bにより生成されるテスト光信号が、スイッチング基板2からスイッチング基板3へ伝送された後にスイッチング基板2へ戻るように、光スイッチ2aおよび光スイッチ3aを制御する。このとき、制御部5は、必要に応じて、回路基板4の光回路4aを制御してもよい。そして、制御部5は、テスト光信号をモニタすることにより、スイッチング基板2とスイッチング基板3との間の接続を検証する。
例えば、制御部5は、テスト光信号が伝送される経路上の複数の測定点においてそれぞれ測定される光パワーに基づいて、スイッチング基板2とスイッチング基板3との間の接続を検証する。このとき、制御部5は、上述の測定点においてそれぞれ測定される光パワーに基づいて、スイッチング基板2とスイッチング基板3との間で接続が異常である箇所を特定してもよい。また、制御部5は、光送信器2bにより生成されるテスト光信号に含まれるデータと、光受信器2cにより再生されたデータとの比較の結果に基づいて、スイッチング基板2とスイッチング基板3との間の接続を検証してもよい。
このように、光伝送装置1は、検証すべき経路を介してテスト光信号が伝送されるように光スイッチ2a、3aを制御することで、その経路の接続を検証する。すなわち、光伝送装置1は、対向ノードに設けられている他の光伝送装置を利用することなく、光伝送装置1内の接続を検証できる。また、光スイッチ2a、3aを利用してテスト光信号が伝送される経路を制御することで、光伝送装置1内の接続が検証される。すなわち、実際に通信サービスが提供されるときと同じ接続状態について、その接続が正しいか否かを検証することができる。したがって、検証の信頼性が高い。さらに、光伝送装置1は、通信サービスの運用中であっても、その通信サービスを提供するためのパス以外のパスの接続を確認できる。
<第1の実施形態>
図4は、本発明の第1の実施形態に係わる光伝送装置の一例を示す。第1の実施形態の光伝送装置100は、WDM信号を処理する光分岐挿入装置(ROADM)である。ただし、本発明の伝送装置は、光分岐挿入装置に限定されるものではない。
図4は、本発明の第1の実施形態に係わる光伝送装置の一例を示す。第1の実施形態の光伝送装置100は、WDM信号を処理する光分岐挿入装置(ROADM)である。ただし、本発明の伝送装置は、光分岐挿入装置に限定されるものではない。
光伝送装置100は、WEST方路およびEAST方路を有する。すなわち、光伝送装置100には、WEST回線およびEAST回線が接続されている。そして、光伝送装置100は、光アンプ回路10、50、WSS基板20、60、光アンプ回路30、70、光スイッチ基板40、80、及びコントローラ90を備える。
光アンプ回路10は、光アンプ11および光アンプ12を備える。光アンプ11は、WEST回線を介して受信するWDM信号を増幅する。また、光アンプ12は、WEST回線へ出力するWDM信号を増幅する。
WSS基板20は、波長選択スイッチ21、波長選択スイッチ22、送受信機23を備える。波長選択スイッチ21は、2つの入力ポートおよび複数の出力ポートを備える。図4に示す例では、波長選択スイッチ21は3つの出力ポートを備えているが、波長選択スイッチ21は4以上の出力ポートを備えていてもよい。一方の入力ポートには、光アンプ11により増幅されたWDM信号が入力され、他方の入力ポートには、送受信機23により生成されるテスト光信号が入力される。そして、波長選択スイッチ21は、コントローラ90から与えられる指示に従って、クロスコネクト処理を実行する。このとき、波長選択スイッチ21は、WDM信号から、指定された波長の光信号を分岐することができる。分岐された光信号は、光アンプ回路30または光アンプ回路70に導かれ、残りの光信号を含むWDM信号は、WSS基板60に導かれる。また、テスト光信号は、コントローラ90から与えられる指示に従って、WSS基板60、光アンプ回路30、または光アンプ回路70に導かれる。
波長選択スイッチ22は、複数の入力ポートおよび2つの出力ポートを備える。図4に示す例では、波長選択スイッチ22は3つの入力ポートを備えているが、波長選択スイッチ22は4以上の入力ポートを備えていてもよい。波長選択スイッチ22の入力ポートには、WSS基板60から導かれてくるWDM信号、光アンプ回路30から導かれてくる光信号、光アンプ回路70から導かれてくる光信号が入力される。そして、波長選択スイッチ22は、コントローラ90から与えられる指示に従って、クロスコネクト処理を実行する。このとき、波長選択スイッチ22は、WEST回線へ出力する光信号を光アンプ回路10へ導き、テスト光信号を送受信機23に導く。
送受信機23は、光信号生成器として動作する光送信器を含み、テスト光信号を生成して出力する。テスト光信号は、WSS基板20または送受信機23を識別する識別データに基づいて生成される。また、送受信機23は、データ再生器として動作する光受信器を含み、テスト光信号を受信して識別データを再生する。
光アンプ回路50は、光アンプ51および光アンプ52を備える。WSS基板60は、波長選択スイッチ61、波長選択スイッチ62、送受信機63を備える。光アンプ回路50およびWSS基板60の構成は、それぞれ光アンプ回路10およびWSS基板20と実質的に同じなので、説明を省略する。
光アンプ回路30は、光アンプ31〜34を備える。光アンプ31は、波長選択スイッチ21から導かれてくる光信号を増幅する。光アンプ32は、波長選択スイッチ61から導かれてくる光信号を増幅する。光アンプ33は、光スイッチ基板40からWSS基板20へ向かう光信号を増幅する。光アンプ34は、光スイッチ基板40からWSS基板60へ向かう光信号を増幅する。なお、図4に示す例では、光伝送装置100は2方路ROADMなので、光アンプ回路30が2個のドロップアンプ(31、32)および2個のアドアンプ(33、34)を備えている。すなわち、N方路ROADMにおいては、光アンプ回路30がN個のドロップアンプおよびN個のアドアンプを備えていてもよい。
光アンプ回路70は、光アンプ71〜74を備える。光アンプ回路70の構成は、光アンプ回路30と実質的に同じなので、説明を省略する。
光スイッチ基板40は、光スイッチ41および光スイッチ42を備える。光スイッチ41は、コントローラ90から与えられる指示に従って、クロスコネクト処理を実行する。すなわち、光スイッチ41は、光スイッチ回路30または光スイッチ42から受信する光信号を、送受信機501、送受信機502、または光スイッチ42に導く。光スイッチ42は、コントローラ90から与えられる指示に従って、クロスコネクト処理を実行する。すなわち、光スイッチ42は、送受信機501、送受信機502、または光スイッチ回路41から受信する光信号を、光アンプ回路30または光スイッチ41に導く。
光スイッチ基板80は、光スイッチ81および光スイッチ82を備える。光スイッチ基板80の構成は、光スイッチ基板40と実質的に同じなので、説明を省略する。
光スイッチ基板40は、複数の送受信機を収容することができる。図4に示す例では、光スイッチ基板40は、送受信機501、502を収容している。同様に、光スイッチ基板80は、送受信機503、504を収容している。送受信機501〜504は、それぞれ、例えば、クライアントに相当する。
コントローラ90は、プロセッサ91およびメモリ92を備え、光伝送装置100の動作を制御する。すなわち、コントローラ90は、ユーザまたはネットワーク管理者からの指示に基づいて、各スイッチ(波長選択スイッチ21、22、61、62、および光スイッチ41、42、81、82)の状態を制御する。このとき、コントローラ90は、指定された光信号が指定された経路を伝送するように、各スイッチを制御する。また、コントローラ90は、テスト光信号が指定された経路を伝送するように、各スイッチを制御することもできる。さらに、コントローラ90は、光伝送装置100内の光ファイバが正しく接続されているか否かを検証することができる。なお、上述の機能は、プロセッサ91が与えられたプログラムを実行することにより実現される。ただし、コントローラ90は、上述の機能の一部を実現するハードウェア回路を含んでいてもよい。
加えて、光伝送装置100は、各光デバイスの入力光パワーおよび出力光パワーをモニタする機能を有する。すなわち、各スイッチについては、各入力ポートの光パワーおよび各出力ポートの光パワーをモニタする機能が実装されている。また、各光アンプについては、入力光パワーおよび出力光パワーをモニタする機能が実装されている。光パワーのモニタは、例えば、フォトダイオードを含む受光素子により実現される。そして、コントローラ90は、各受光素子によるモニタ値を取得することができる。
上記構成の光伝送装置100において、基板間は、光ファイバにより接続される。すなわち、WSS基板20とWSS基板60との間、WSS基板20と光アンプ回路30との間、WSS基板20と光アンプ回路70との間、WSS基板60と光アンプ回路30との間、WSS基板60と光アンプ回路70との間、光アンプ回路30と光スイッチ基板40との間、光アンプ回路70と光スイッチ基板80との間は、それぞれ光ファイバにより接続される。
基板間の光ファイバの接続は、ユーザまたはネットワーク管理者により手作業で行われる。このため、光ファイバが誤ったポートに接続されるおそれがある。或いは、光コネクタが適切に勘合されないおそれもある。したがって、光伝送装置100は、光ファイバが正しく接続されているか否かを検証する機能を備える。
光伝送装置100において、WSS基板20、60は、図3に示すスイッチング基板2として動作してもよい。光スイッチ基板40、80は、図3に示すスイッチング基板3として動作してもよい。光アンプ回路30、70は、図3に示す回路基板4として動作してもよい。コントローラ90は、図3に示す制御部5に相当する。
実施例1:実施例1では、WSS基板20と光スイッチ基板40との間の接続が検証される。この場合、コントローラ90は、送受信機23により生成されるテスト光信号が、WSS基板20から光スイッチ基板40へ伝送された後にWSS基板20へ戻るように、波長選択スイッチ21、22、及び光スイッチ41、42を制御する。具体的には、コントローラ90は、送受信機23により生成されるテスト光信号が光アンプ回路30に導かれるように波長選択スイッチ21を制御する。コントローラ90は、光アンプ31から光スイッチ基板40に到着する光信号が光スイッチ42に導かれるように光スイッチ41を制御する。コントローラ90は、光スイッチ41から光スイッチ42に到着する光信号が光アンプ回路30の光アンプ33に導かれるように光スイッチ42を制御する。コントローラ90は、光アンプ回路30からWSS基板20に到着する光信号が送受信機23に導かれるように波長選択スイッチ22を制御する。
上述のようにして各スイッチが制御されたときは、WSS基板20と光スイッチ基板40との間の接続が正しければ、送受信機23により生成されるテスト光信号は、波長選択スイッチ21、光アンプ31、光スイッチ41、光スイッチ42、光アンプ32、波長選択スイッチ22を経由して送受信機23に戻るはずである。したがって、この経路の接続は、以下の手順で検証される。
テスト光信号は、以下のようにして伝送される。
(1)送受信機23は、識別子IDtxを伝送するテスト光信号を生成する。このテスト光信号は、波長選択スイッチ21に入力される。
(2)波長選択スイッチ21は、テスト光信号を光アンプ回路30へ導く。このテスト光信号は、光アンプ31に入力される。
(3)光アンプ31は、テスト光信号を増幅し、光スイッチ基板40へ出力する。このテスト光信号は、光スイッチ41に入力される。
(4)光スイッチ41は、テスト光信号を光スイッチ42に導く。
(5)光スイッチ42は、テスト光信号を光アンプ回路30の光アンプ33へ導く。
(6)光アンプ33は、テスト光信号を増幅し、WSS基板20へ出力する。このテスト光信号は、波長選択スイッチ22に入力される。
(7)波長選択スイッチ22は、テスト光信号を送受信機23に導く。
(1)送受信機23は、識別子IDtxを伝送するテスト光信号を生成する。このテスト光信号は、波長選択スイッチ21に入力される。
(2)波長選択スイッチ21は、テスト光信号を光アンプ回路30へ導く。このテスト光信号は、光アンプ31に入力される。
(3)光アンプ31は、テスト光信号を増幅し、光スイッチ基板40へ出力する。このテスト光信号は、光スイッチ41に入力される。
(4)光スイッチ41は、テスト光信号を光スイッチ42に導く。
(5)光スイッチ42は、テスト光信号を光アンプ回路30の光アンプ33へ導く。
(6)光アンプ33は、テスト光信号を増幅し、WSS基板20へ出力する。このテスト光信号は、波長選択スイッチ22に入力される。
(7)波長選択スイッチ22は、テスト光信号を送受信機23に導く。
送受信機23は、受信したテスト光信号を復調してデータを再生する。以下では、受信したテスト光信号から再生されるデータを識別子IDrxと呼ぶことがある。そして、送受信機23は、受信したテスト光信号から再生した識別子IDrxをコントローラ90に通知する。また、上述のようにしてテスト光信号が伝送されるときに、コントローラ90は、波長選択スイッチ21の出力光パワー、光アンプ31の入力光パワー、光アンプ31の出力光パワー、光スイッチ41の入力光パワー、光スイッチ41の出力光パワー、光スイッチ42の入力光パワー、光スイッチ42の出力光パワー、光アンプ33の入力光パワー、光アンプ33の出力光パワー、波長選択スイッチ22の入力光パワーを検出する。
コントローラ90は、識別子IDtxと識別子IDrxとを比較することで論理値Cを計算する。ここで、識別子IDtxと識別子IDrxとが一致すれば、論理値Cは「真」である。一方、識別子IDtxと識別子IDrxとが一致しないときは、論理値Cは「偽」である。なお、識別子IDtxは、既知である。また、識別子IDrxは、送受信機23から通知される。
コントローラ90は、波長選択スイッチ21と光アンプ31との間の接続状態を表す論理値L21,31を計算する。論理値L21,31は、下式により計算される。
L21,31=(Lmin<Lcurr&&Lcurr<Lmax)
Lcurr=Lout−Lin
Lmin=Smin−(|eout,n|+ein,p)
Lmax=Smax+(eout,p+|ein,n|)
L21,31=(Lmin<Lcurr&&Lcurr<Lmax)
Lcurr=Lout−Lin
Lmin=Smin−(|eout,n|+ein,p)
Lmax=Smax+(eout,p+|ein,n|)
LminおよびLmaxは、それぞれ、波長選択スイッチ21と光アンプ31との間の接続において想定される最小ロスおよび最大ロスを表す。Lcurrは、測定されたロスを表す。この例では、波長選択スイッチ21の出力パワーLoutと光アンプ31の入力パワーLinとの間の差分を表す。eout,pおよびeout,nは、それぞれ、波長選択スイッチ21の出力パワーモニタの最大誤差(正側および負側)を表す。ein,pおよびein,nは、それぞれ、光アンプ31の入力パワーモニタの最大誤差(正側および負側)を表す。SminおよびSmaxは、それぞれ、波長選択スイッチ21と光アンプ31とを接続する光ファイバの最小ロスおよび最大ロスを表す。そして、測定されたロスが最小ロスよりも大きく、且つ、測定されたロスが最大ロスよりも小さいときは、論理値L21,31は「真」である。そうでないときは、論理値L21,31は「偽」である。
同様に、コントローラ90は、光アンプ31と光スイッチ41との間の接続状態を表す論理値L31,41、光スイッチ41と光スイッチ42との間の接続状態を表す論理値L41,42、光スイッチ42と光アンプ33との間の接続状態を表す論理値L42,33、光アンプ33と波長選択スイッチ22との間の接続状態を表す論理値L33,22を計算する。そして、コントローラ90は、計算した論理値に基づいて、WSS基板20と光スイッチ基板40との間の接続を検証する。
図5は、光伝送装置内の接続を検証するための論理値表の一例を示す。なお、図5は、WSS基板20と光スイッチ基板40との間の接続を検証するための論理値表を示している。
すべての論理値が「真」であれば、コントローラ90は、WSS基板20と光スイッチ基板40との間が正しく接続されていると判定する。この場合、コントローラ90は、例えば、接続が正しいことを表すメッセージを表示装置に表示する。一方、1または複数の論理値が「偽」であるときは、コントローラ90は、論理値表に基づいて異常箇所を特定し、その特定箇所を表すメッセージを表示装置に表示する。
異常箇所を表すメッセージが表示されたときは、ユーザまたはネットワーク管理者は、そのメッセージに従って光ファイバの接続を修正することができる。この場合、ユーザまたはネットワーク管理者は、例えば、光ファイバの接続ポートを変更するか、光ファイバを交換するか、光ファイバの端面を清掃する。そして、すべての論理値が「真」になるまで上述の手順を繰り返すことにより、正しい接続が実現される。
実施例2:実施例2では、WSS基板20とWSS基板60との間の接続が検証される。この場合、コントローラ90は、送受信機23により生成されるテスト光信号が、WSS基板60に実装されている送受信機63へ伝送されるように、波長選択スイッチ21および波長選択スイッチ62を制御する。具体的には、コントローラ90は、送受信機23により生成されるテスト光信号がWSS基板60に導かれるように波長選択スイッチ21を制御する。また、コントローラ90は、WSS基板20からWSS基板60に到着するWDM信号に含まれているテスト光信号が送受信機63に導かれるように波長選択スイッチ62を制御する。
テスト光信号は、以下のようにして伝送される。
(1)送受信機23は、識別子IDtxを伝送するテスト光信号を生成する。このテスト光信号は、波長選択スイッチ21に入力される。
(2)波長選択スイッチ21は、テスト光信号をWSS基板60へ導く。このとき、テスト光信号は、WSS基板20からWSS基板60へ向かうWDM信号に挿入されるようにしてもよい。この場合、このWDM信号は、波長選択スイッチ62に入力される。
(3)波長選択スイッチ62は、WDM信号からテスト光信号を抽出して送受信機63に導く。
(1)送受信機23は、識別子IDtxを伝送するテスト光信号を生成する。このテスト光信号は、波長選択スイッチ21に入力される。
(2)波長選択スイッチ21は、テスト光信号をWSS基板60へ導く。このとき、テスト光信号は、WSS基板20からWSS基板60へ向かうWDM信号に挿入されるようにしてもよい。この場合、このWDM信号は、波長選択スイッチ62に入力される。
(3)波長選択スイッチ62は、WDM信号からテスト光信号を抽出して送受信機63に導く。
送受信機63は、受信したテスト光信号を復調してデータを再生する。実施例2においても、テスト光信号から再生されるデータを識別子IDrxと呼ぶことがある。そして、送受信機63は、テスト光信号から再生した識別子IDrxをコントローラ90に通知する。また、上述のようにしてテスト光信号が伝送されるときに、コントローラ90は、波長選択スイッチ21の出力光パワーおよび波長選択スイッチ62の入力光パワーを検出する。
コントローラ90は、識別子IDtxと識別子IDrxとを比較することで論理値Cを計算する。論理値Cの計算は、実施例1および実施例2において実質的に同じである。さらに、コントローラ90は、波長選択スイッチ21と波長選択スイッチ62との間の接続状態を表す論理値Lを計算する。論理値Lの計算方法は、実施例1と実質的に同じなので、説明を省略する。
コントローラ90は、論理値Cおよび論理値Lに基づいて、WSS基板20とWSS基板60との間の接続を検証する。WSS基板20とWSS基板60との間の接続を検証するための論理値表の一例を図6に示す。
実施例3:実施例3では、送受信機501と光スイッチ基板40との間の接続が検証される。この場合、コントローラ90は、送受信機501から光スイッチ基板40へ送信される光信号が送受信機501へ戻るように、光スイッチ41、42を制御する。具体的には、コントローラ90は、送受信機501から送信される光信号が光スイッチ41に導かれるように光スイッチ42を制御する。また、コントローラ90は、光スイッチ42から光スイッチ41へ到着する光信号が送受信機501に導かれるように光スイッチ41を制御する。
送受信機501から出力される光信号は、以下のようにして伝送される。
(1)送受信機501は、光信号を出力する。この光信号は、光スイッチ42に入力される。
(2)光スイッチ42は、この光信号を光スイッチ41に導く。
(3)光スイッチ41は、この光信号を送受信機501に導く。
(1)送受信機501は、光信号を出力する。この光信号は、光スイッチ42に入力される。
(2)光スイッチ42は、この光信号を光スイッチ41に導く。
(3)光スイッチ41は、この光信号を送受信機501に導く。
上述のようにして光信号が伝送されるときに、コントローラ90は、送受信機501の出力光パワー、光スイッチ42の入力光パワー、光スイッチ42の出力光パワー、光スイッチ41の入力光パワー、光スイッチ41の出力光パワー、送受信機501の入力光パワーをそれぞれ検出する。さらに、コントローラ90は、送受信機501と光スイッチ42との間の接続状態を表す論理値L501,42、光スイッチ42と光スイッチ41との間の接続状態を表す論理値L42,41、および光スイッチ41と送受信機501との間の接続状態を表す論理値L41,501を計算する。これらの論理値の計算方法は、実施例1と実質的に同じなので、説明を省略する。
コントローラ90は、上述の論理値に基づいて、送受信機501と光スイッチ基板40との間の接続を検証する。送受信機501と光スイッチ基板40との間の接続を検証するための論理値表の一例を図7に示す。
図8は、光伝送装置内の接続を検証する処理を示すフローチャートである。このフローチャートの処理は、ユーザまたはネットワーク管理者からの指示に応じて、コントローラ90により実行される。このとき、ユーザまたはネットワーク管理者は、検証すべき経路をコントローラ90に通知する。
S1において、コントローラ90は、指定された経路を介してテスト光信号が伝送されるように、各スイッチを制御する。S2において、コントローラ90は、テスト光信号を生成する旨の指示を対応する送受信機(図4では、送受信機23または送受信機63)に与える。これにより、送受信機は、テスト光信号を生成する。S3において、コントローラ90は、指定された経路上に配置されている受光器の出力信号を参照することにより、複数の測定点の光パワーを検出する。S4において、コントローラ90は、テスト光信号を受信する送受信機により再生された識別子(すなわち、受信識別子)を取得する。
S5において、コントローラ90は、予め用意されている送信識別子およびS4で取得した受信識別子に基づいて論理値Cを計算する。S6において、コントローラ90は、複数の測定点で検出された光パワーに基づいて1または複数の論理値Lを計算する。図4〜図5に示す例では、L21,31、L31,41、L41,42、L42,33、L33,22が計算される。S7において、コントローラ90は、論理値Cおよび論理値Lに基づいて、指定された経路の接続を検証する。そして、コントローラ90は、S8において、検証結果を出力する。
なお、図4に示す実施例では、送受信機501〜504が光スイッチ基板40、80に収容されているが、本発明はこの構成に限定されるものではない。すなわち、図9に示すように、送受信機が光スイッチ基板40、80に収容されていない状態であっても、コントローラ90は、光伝送装置100内の接続を検証することが可能である。
このように、第1の実施形態によれば、光伝送装置100は、対向ノードの光伝送装置を利用することなく、光伝送装置100内の接続を検証することができる。また、光伝送装置100に実装されている各スイッチの状態を制御することでテスト光信号の伝送経路が設定されるので、実際に通信サービスが提供されるときと同じ接続状態において、光ファイバの接続が正しいか否かを検証できる。さらに、光伝送装置100の一部がインサービス状態であっても、光ファイバの接続を検証できる。或いは、図9に示すように、光伝送装置100がサービスを提供する前であっても、光ファイバの接続を検証できる。
<第2の実施形態>
図10は、本発明の第2の実施形態に係わる光伝送装置の一例を示す。第2の実施形態の光伝送装置200の構成は、第1の実施形態の光伝送装置100と類似している。すなわち、光伝送装置200も、光アンプ回路10、50、WSS基板20、60、光アンプ回路30、70、光スイッチ基板40、80、及びコントローラ90を備える。
図10は、本発明の第2の実施形態に係わる光伝送装置の一例を示す。第2の実施形態の光伝送装置200の構成は、第1の実施形態の光伝送装置100と類似している。すなわち、光伝送装置200も、光アンプ回路10、50、WSS基板20、60、光アンプ回路30、70、光スイッチ基板40、80、及びコントローラ90を備える。
ただし、第2の実施形態においては、WSS基板20、60と光アンプ回路30、70との間、及び、光アンプ回路30、70と光スイッチ基板40、80との間は、それぞれ多芯光ファイバケーブルで接続されている。多芯光ファイバケーブルは、特に限定されるものではないが、例えば、MPO(Multi-fiber Push On)コネクタ付光ファイバケーブルである。
また、WSS基板20、60と光アンプ回路30、70との間は、ファイバディストリビューションパネル210を介して接続される。ファイバディストリビューションパネル210は、多芯光ファイバケーブルを介して受信する複数の光信号を個々にスイッチングして、他の多芯光ファイバケーブル中の任意の光ファイバに導くことができる。なお、ファイバディストリビューションパネル210の内部のパスは、例えば、コントローラ90により設定される。
光伝送装置内の接続を検証する方法は、第1の実施形態および第2の実施形態において実質的に同じである。ただし、第2の実施形態では、例えば、WSS基板20とWSS基板60との間の接続が異常であるときは、WSS基板20とファイバディストリビューションパネル210との間の光ファイバ、または、WSS基板60とファイバディストリビューションパネル210との間の光ファイバが異常であると判定される。或いは、WSS基板20と光アンプ回路30との間の接続が異常であるときは、WSS基板20とファイバディストリビューションパネル210との間の光ファイバ、または、光アンプ回路30とファイバディストリビューションパネル210との間の光ファイバが異常であると判定される。
<第3の実施形態>
大規模なネットワークにおいて使用される光伝送装置は、多数の方路を収容することがある。また、ネットワークを拡張する際には、光伝送装置が収容する方路が増加することがある。第3の実施形態の光伝送装置は、収容する方路の数を増やすことが可能な構成を有する。
大規模なネットワークにおいて使用される光伝送装置は、多数の方路を収容することがある。また、ネットワークを拡張する際には、光伝送装置が収容する方路が増加することがある。第3の実施形態の光伝送装置は、収容する方路の数を増やすことが可能な構成を有する。
図11は、本発明の第3の実施形態に係わる光伝送装置の一例を示す。第3の実施形態の光伝送装置300は、4本の方路(方路A〜D)を収容する。そして、光伝送装置300は、各方路に対して光アンプ回路およびWSS基板を備える。図11に示す例では、方路Aに対して光アンプ回路10AおよびWSS基板20Aが設けられ、方路Dに対して光アンプ回路10DおよびWSS基板20Dが設けられている。なお、方路B、Cに対して設けられる光アンプ回路およびWSS基板は、省略されている。
光アンプ回路30Xおよび光スイッチ基板40Xは、方路Aおよび方路Bの光信号を処理するために設けられている。光アンプ回路30Yおよび光スイッチ基板40Yは、方路Cおよび方路Dの光信号を処理するために設けられている。そして、光スイッチ基板40Xおよび光スイッチ基板40Yは、光ファイバにより接続されている。図11に示す例では、光スイッチ42Xの少なくとも1つの出力ポートが、光スイッチ42Yの対応する入力ポートに光学的に接続されている。また、光スイッチ41Yの少なくとも1つの出力ポートが、光スイッチ41Xの対応する入力ポートに光学的に接続されている。
なお、光スイッチ41Xは、光アンプ回路30Xにより増幅された光信号を、光スイッチ42Xまたは送受信機501〜502に導くことができる。光スイッチ42Xは、受信した光信号を、光スイッチ42Yまたは光アンプ回路30Xに導くことができる。光スイッチ41Yは、受信した光信号を光スイッチ41Xに導くことができる。光スイッチ42Yは、受信した光信号を、光スイッチ41Yまたは光アンプ回路30Yに導くことができる。
光伝送装置内の接続を検証する方法は、第1の実施形態および第3の実施形態においてほぼ同じである。ここでは、一例として、WSS基板20Dと光スイッチ基板40Xとの間の接続を検証する手順を説明する。
コントローラ90は、送受信機23Dにより生成されるテスト光信号が、WSS基板20Dから光スイッチ基板40Xへ伝送された後にWSS基板20Dへ戻るように、波長選択スイッチ21D、22D、および光スイッチ41X、42X、41Y、42Yを制御する。具体的には、送受信機23により生成されるテスト光信号が光アンプ回路30Yに導かれるように、波長選択スイッチ21Dが制御される。光アンプ32Yから光スイッチ基板40Yに到着する光信号が光スイッチ41Xに導かれるように、光スイッチ41Yが制御される。光スイッチ41Yから光スイッチ41Xに到着する光信号が光スイッチ42Xに導かれるように、光スイッチ41Xが制御される。光スイッチ41Xから光スイッチ42Xに到着する光信号が光スイッチ42Yに導かれるように、光スイッチ42Xが制御される。光スイッチ42Xから光スイッチ42Yに到着する光信号が光アンプ回路30Yに導かれるように、光スイッチ42Yが制御される。光アンプ回路30YからWSS基板20Dに到着する光信号が送受信機23Dに導かれるように、波長選択スイッチ22Dが制御される。
上述のようにして各スイッチが制御されたときは、WSS基板20Dと光スイッチ基板40Xとの間の接続が正しければ、送受信機23Dにより生成されるテスト光信号は、波長選択スイッチ21D、光アンプ32Y、光スイッチ41Y、光スイッチ41X、光スイッチ42X、光スイッチ42Y、光アンプ34Y、波長選択スイッチ22Dを経由して送受信機23Dに戻るはずである。したがって、この経路の接続は、以下の手順で検証される。
テスト光信号は、以下のようにして伝送される。
(1)送受信機23Dは、識別子IDtxを伝送するテスト光信号を生成する。このテスト光信号は、波長選択スイッチ21Dに入力される。
(2)波長選択スイッチ21Dは、テスト光信号を光アンプ回路30Yへ導く。このテスト光信号は、光アンプ32Yに入力される。
(3)光アンプ32Yは、テスト光信号を増幅し、光スイッチ基板40Y出力する。このテスト光信号は、光スイッチ41Yに入力される。
(4)光スイッチ41Yは、テスト光信号を光スイッチ41Xに導く。
(5)光スイッチ41Xは、テスト光信号を光スイッチ42Xに導く。
(6)光スイッチ42Xは、テスト光信号を光スイッチ42Yに導く。
(7)光スイッチ42Yは、テスト光信号を光アンプ回路30Yの光アンプ34Yへ導く。
(8)光アンプ34Yは、テスト光信号を増幅し、WSS基板20Dへ出力する。このテスト光信号は、波長選択スイッチ22Dに入力される。
(9)波長選択スイッチ22Dは、テスト光信号を送受信機23Dに導く。
(1)送受信機23Dは、識別子IDtxを伝送するテスト光信号を生成する。このテスト光信号は、波長選択スイッチ21Dに入力される。
(2)波長選択スイッチ21Dは、テスト光信号を光アンプ回路30Yへ導く。このテスト光信号は、光アンプ32Yに入力される。
(3)光アンプ32Yは、テスト光信号を増幅し、光スイッチ基板40Y出力する。このテスト光信号は、光スイッチ41Yに入力される。
(4)光スイッチ41Yは、テスト光信号を光スイッチ41Xに導く。
(5)光スイッチ41Xは、テスト光信号を光スイッチ42Xに導く。
(6)光スイッチ42Xは、テスト光信号を光スイッチ42Yに導く。
(7)光スイッチ42Yは、テスト光信号を光アンプ回路30Yの光アンプ34Yへ導く。
(8)光アンプ34Yは、テスト光信号を増幅し、WSS基板20Dへ出力する。このテスト光信号は、波長選択スイッチ22Dに入力される。
(9)波長選択スイッチ22Dは、テスト光信号を送受信機23Dに導く。
送受信機23Dは、受信したテスト光信号を復調してデータ(識別子IDrx)を再生する。そして、送受信機23は、識別子IDrxをコントローラ90に通知する。また、上述のようにしてテスト光信号が伝送されるときに、コントローラ90は、波長選択スイッチ21Dの出力光パワー、光アンプ32Yの入力光パワー、光アンプ32Yの出力光パワー、光スイッチ41Yの入力光パワー、光スイッチ41Yの出力光パワー、光スイッチ41Xの入力光パワー、光スイッチ41Xの出力光パワー、光スイッチ42Xの入力光パワー、光スイッチ42Xの出力光パワー、光スイッチ42Yの入力光パワー、光スイッチ42Yの出力光パワー、光アンプ34Yの入力光パワー、光アンプ34Yの出力光パワー、波長選択スイッチ22Dの入力光パワーを検出する。
コントローラ90は、識別子IDtxと識別子IDrxとを比較することで論理値C(真または偽)を計算する。また、コントローラ90は、上述の光パスの各区間についてそれぞれ論理値L(真または偽)を計算する。そして、コントローラ90は、上述の論理値に基づいて、WSS基板20Dと光スイッチ基板40Xとの間の接続を検証する。WSS基板20Dと光スイッチ基板40Xとの間の接続を検証するための論理値表の一例を図12に示す。
上記構成により、第3の実施形態においては、光伝送装置の方路を増設する際に、既存の光信号に影響を与えることなく、新たに設けられた光ファイバの接続を検証することができる。
<波長選択スイッチカードについて>
波長選択スイッチカードでは、カプラを用いてテスト光信号を挿入することが考えられる。カプラを用いてテスト光信号を挿入するときに、信号光のカプラロスを減らそうとすると、テスト光信号のカプラロスが増加してしまう。一方、テスト光信号のカプラロスを減らそうとすると、信号光のカプラロスが増加してしまう。
波長選択スイッチカードでは、カプラを用いてテスト光信号を挿入することが考えられる。カプラを用いてテスト光信号を挿入するときに、信号光のカプラロスを減らそうとすると、テスト光信号のカプラロスが増加してしまう。一方、テスト光信号のカプラロスを減らそうとすると、信号光のカプラロスが増加してしまう。
第1〜第3の実施形態に係る波長選択スイッチは、2×Nのポートを備え、その内の1つは、テスト光信号専用のポートを備える。テスト光信号と信号光の夫々が異なるポートから入力されることで、互いのロスが発生するのを回避することができる。
図13は、カプラを備えた波長選択カード(送信側)の例を説明する図である。図13の波長選択カード2000は、第1〜第3の実施形態に係る光伝送装置に実装される波長選択カードではない。波長選択カード2000は、テスト光信号を挿入する場合のカプラを備えた波長選択カードの構成の一例である。波長選択カード2000は、カプラ2001、SFP(Small Form−factor Plugaable)モジュール2002、WSS2003、スイッチ2004、OCM(Optical Channel Monitor)2005を備える。
波長選択カード2000に入力された信号光(例えば、WDM信号)は、WSS2003に送られる。WSS2003は、1つの入力ポートと複数の出力ポートを備える。WSS2003は、例えば、コントローラや制御部の指示に従って、入力ポートに入力された光信号を波長毎に任意の出力ポートに分岐することができる。分岐された光信号は、光アンプ回路に導かれる。
SFPモジュール2002は、テスト光信号を生成する光信号生成器として動作する。光信号生成器は、SFPと異なる規格の信号生成器でもよい。テスト光信号は、例えば、波長選択カード2000と他のカードの接続を確認するために用いられる。ここで、図13の例における波長選択カード2000は、カプラ2001を備える。テスト光信号は、カプラ2001を用いて信号光と合波されWSS2003に送られる。WSS2003は、コントローラや制御部の指示に従って、テスト光信号を信号光から分波させる。テスト光信号は、信号光で使用していない波長、且つ、未使用のポートの接続の確認に用いられる。WSS2003から出力されたテスト光信号は、分岐部によりSW2004側に送る信号と波長選択カード2000の外に出される信号とに分岐される。SW2004に送られたテスト光信号はSW2004を介してOCM2005に送られる。SW2004は、例えば、Nx1SWで構成され、コントローラや制御部の指示に従って、SW2004の入力と出力ポート間の接続を切替える。ユーザは、OCM2005などを監視することで、接続確認をすることができる。
テスト光信号を信号光に挿入する際、波長選択スイッチ内のカプラは、使用中の信号光にテスト光信号を合波する。カプラには、分岐比があり、該分岐比によって信号光またはテスト光信号のロスが決まる。テスト光信号を挿入するときに、信号光のロスを減らそうとすると、テスト光信号にロスが生じてしまう。逆に、テスト光信号のロスを減らそうとすると、信号光がロスしてしまう。
このような、テスト光信号と信号光の2種類の光信号を用いる波長選択スイッチにおいて信号光のロスをなくす波長選択カードを図14に示す。
図14は、本実施形態に係る波長選択カードの例(送信側)を説明する図である。図14の波長選択カード400は、本実施形態に係る図3のスイッチング基板2、3や、図4、図9、図11のWSS基板20、60などの具体例である。図14の波長選択カード400は、図13の波長選択カード2000と異なりカプラ2001を備えない。波長選択カード400は、WSS401、SFPモジュール402、スイッチ403、OCM404を備える。SFPモジュール402は、例えば、図3の光送信器2bや図4の送受信機23である。図14は、送信側の波長選択カードであるため、SFPモジュール402は、テスト光生成器として動作する。
WSS401は、2×Nのポートを備え、信号光(WDM信号)が入力されるポートとは別に、テスト光信号専用の入力ポートを備える。すると、信号光とテスト光信号とが、別々のポートからWSS401に入力される。図14の波長選択カード400では、信号光にテスト光信号を合波するためのカプラが挿入されないため、信号光のロスがなくなる。WSS401は、例えば、コントローラや制御部の指示に従って、入力ポートに入力された光信号を波長毎に任意の出力ポートに分岐することができる。分岐された光信号は、光アンプ回路に導かれる。
更に、WSS401は、コントローラや制御部の指示に従って、テスト光信号を分岐させる。テスト光信号は、信号光で使用していない波長で、且つ、未使用のポートの接続の確認に用いられる。WSS401から出力されたテスト光信号は、分岐部405によりSW403側に送る信号と波長選択カード400の外に出される信号とに分岐される。SW403に送られたテスト光信号は、SW2004を介してOCM404に送られる。SW403は、例えば、NX1SWで構成され、コントローラや制御部の指示に従って、SW403の入力と出力ポート間の接続を切替える。ユーザは、OCM404などを監視することで、接続確認をすることができる。
このように、波長選択カード400内の波長選択スイッチとして、2×Nの波長選択スイッチを用いる。該波長選択スイッチは、テスト光信号専用の入力ポートを備える。信号光とテスト光信号の夫々が異なるポートから入力されることで、互いのロスが発生するのを回避することができる。
図15は、カプラを備えた波長選択カード(受信側)の例を説明する図である。図15の波長選択カード2000は、図13の波長選択カード2000と同一のものである。そのため、同じ構成のものには、同じ番号を付している。図15の波長選択カード2000は、本実施形態に係る図3のスイッチング基板2、3や、図4、図9、図11のWSS基板20、60などの具体例である。図13の例では、波長選択カード2000が送信側であるため、受信側の波長選択カードで用いられるSFPモジュール2011およびフィルタ2012を図示していない。波長選択カード2000は、光信号の受信に用いられるSFPモジュール2011およびフィルタ2012を備える。
入力されたテスト光信号および信号光は、WSS2003に送られる。テスト光信号は、カプラ2001、フィルタ2012を介してSFPモジュール2011に送られる。SFPモジュール2011は、例えば、光受信器である。
また、テスト光信号は、SW2004にも入力され、その後、OCM2005に送られる。ユーザは、OCM2005などを監視することで、接続確認をすることができる。SW2004は、例えば、NX1SWで構成され、コントローラや制御部の指示に従って、SW2004の入力と出力ポート間の接続を切替える。
図16は、本実施形態に係る波長選択カードの例(受信側)を説明する図である。図16の波長選択カード400は、図14の波長選択カード400と同一のものである。そのため、同じ構成のものには、同じ番号を付している。図16の波長選択カード400は、本実施形態に係る図3のスイッチング基板2、3や、図4、図9、図11のWSS基板20、60などの具体例である。図14の波長選択カード400は送信側のカードであるため、受信側の波長選択カードで用いられるSFPモジュール412を図示していない。波長選択カード400は、光信号の受信に用いられるSFPモジュール412を備える。SFPモジュール412は、例えば、図3の光受信器2cや図4の送受信機23として動作する。
入力された監視光信号および信号光は、WSS401に送られる。WSS401は、テスト光信号を専用のポートを用いてSFPモジュール412に送る。信号光は、専用のポートと異なるポートから出力される。これにより、信号光にテスト光信号を分岐するためのカプラが挿入されないため、信号光のロスがなくなる。
テスト光信号は、分岐部405によりSW403側に送る信号とWSS401に送られる信号とに分岐される。SW403に送られたテスト光信号は、SW403を介して、OCM404に送られる。SW403は、例えば、NX1SWで構成され、コントローラや制御部の指示に従って、SW403の入力と出力ポート間の接続を切替える。ユーザは、OCM404などを監視することで、接続確認をすることができる。
このように、波長選択カード400内の波長選択スイッチとして、2×Nの波長選択スイッチを用い、該波長選択スイッチは、テスト光信号専用のポートを備える。信号光とテスト光信号の夫々が異なるポートから入力・出力されることで、互いのロスが発生するのを回避することができる。これに伴い、図16の本実施形態に係る波長選択カード400は、図15に示す波長選択カード2000と異なり、フィルタ2012を設置しなくてよくなる。
以上記載した各実施例を含む実施形態に関し、さらに以下の付記を開示する。
(付記1)
光学的に接続された複数の基板モジュールを備え、
前記複数の基板モジュールの中の第1の基板モジュールは、
テスト光を生成する光生成器と、
前記生成されたテスト光を転送する第1の光スイッチと、を含み、
前記複数の基板モジュールの中の第2の基板モジュールは、
前記第1の基盤モジュールから転送されたテスト光を、前記第1の基盤モジュールにループバックする第2の光スイッチを含む
ことを特徴とする光伝送装置。
(付記2)
前記第2の基盤モジュールは、テスト光以外の光は第1の基盤モジュール以外の基盤モジュールに転送することを特徴とする付記1に記載の光伝送装置。
(付記3)
前記テスト光が伝送される経路上の複数の測定点においてそれぞれ光パワーを測定する複数のパワー測定器と、
前記複数の基板モジュールの中の少なくとも1つの動作を制御する制御部と、をさらに備え、
前記制御部は、前記複数のパワー測定器による測定結果に基づいて、前記第1の基板モジュールと前記第2の基板モジュールとの間の接続を検証する
ことを特徴とする付記1又は2に記載の光伝送装置。
(付記4)
前記制御部は、前記複数のパワー測定器による測定結果に基づいて、前記第1の基板モジュールと前記第2の基板モジュールとの間で接続が異常である箇所を特定する
ことを特徴とする付記3に記載の光伝送装置。
(付記5)
前記第1の基板モジュールは、前記第2の基板モジュールから戻ってくるテスト光からデータを再生するデータ再生器を含み、
前記制御部は、前記光生成器により生成されるテスト光に含まれるデータと前記データ再生器により再生されたデータとの比較の結果に基づいて、前記第1の基板モジュールと前記第2の基板モジュールとの間の接続を検証する
ことを特徴とする付記3又は4に記載の光伝送装置。
(付記6)
前記第1の基板モジュールと前記第2の基板モジュールとの間の少なくとも一部の区間はマルチファイバケーブルで接続されている
ことを特徴とする付記1に記載の光伝送装置。
(付記7)
前記第2の基板モジュールは、複数のサブモジュールを含み、
前記第2の光スイッチは、前記複数のサブモジュールに設けられる、互いに光ファイバで光学的に接続された複数のサブスイッチで構成され、
前記制御部は、前記テスト光が、前記第1の基板モジュールから前記第2の基板モジュールへ伝送された後に前記第1の基板モジュールへ戻るように、前記第1の光スイッチおよび前記複数のサブスイッチを制御する
ことを特徴とする付記1に記載の光伝送装置。
(付記8)
光学的に接続された複数の基板モジュールを含む光伝送装置内の接続を検証する接続確認方法であって、
前記複数の基板モジュールの中の第1の基板モジュールを用いてテスト光を生成し、
前記第1の基板モジュールに含まれる第1の光スイッチを用いて前記テスト光を転送し、
前記第1の基盤モジュールから転送されたテスト光を、前記複数の基板モジュールの中の第2の基板モジュールに含まれる第2の光スイッチを用いて前記第1の基盤モジュールにループバックする
ことを特徴とする接続確認方法。
(付記9)
信号光が入力される入力ポートと、
テスト光を生成する光生成器と、
前記信号光が入力される第1入力ポートと、前記テスト光が入力される第2入力ポートと、前記信号光と前記テスト光の何れかを出力する複数の出力ポートと、を有する波長選択スイッチと、
前記複数の出力ポートから出力された光を分岐する複数の分岐部と、
分岐した光を合波する合波部と、
前記合波部から出力される光をモニタするモニタ部と、
を備えることを特徴とする波長選択スイッチカード。
(付記1)
光学的に接続された複数の基板モジュールを備え、
前記複数の基板モジュールの中の第1の基板モジュールは、
テスト光を生成する光生成器と、
前記生成されたテスト光を転送する第1の光スイッチと、を含み、
前記複数の基板モジュールの中の第2の基板モジュールは、
前記第1の基盤モジュールから転送されたテスト光を、前記第1の基盤モジュールにループバックする第2の光スイッチを含む
ことを特徴とする光伝送装置。
(付記2)
前記第2の基盤モジュールは、テスト光以外の光は第1の基盤モジュール以外の基盤モジュールに転送することを特徴とする付記1に記載の光伝送装置。
(付記3)
前記テスト光が伝送される経路上の複数の測定点においてそれぞれ光パワーを測定する複数のパワー測定器と、
前記複数の基板モジュールの中の少なくとも1つの動作を制御する制御部と、をさらに備え、
前記制御部は、前記複数のパワー測定器による測定結果に基づいて、前記第1の基板モジュールと前記第2の基板モジュールとの間の接続を検証する
ことを特徴とする付記1又は2に記載の光伝送装置。
(付記4)
前記制御部は、前記複数のパワー測定器による測定結果に基づいて、前記第1の基板モジュールと前記第2の基板モジュールとの間で接続が異常である箇所を特定する
ことを特徴とする付記3に記載の光伝送装置。
(付記5)
前記第1の基板モジュールは、前記第2の基板モジュールから戻ってくるテスト光からデータを再生するデータ再生器を含み、
前記制御部は、前記光生成器により生成されるテスト光に含まれるデータと前記データ再生器により再生されたデータとの比較の結果に基づいて、前記第1の基板モジュールと前記第2の基板モジュールとの間の接続を検証する
ことを特徴とする付記3又は4に記載の光伝送装置。
(付記6)
前記第1の基板モジュールと前記第2の基板モジュールとの間の少なくとも一部の区間はマルチファイバケーブルで接続されている
ことを特徴とする付記1に記載の光伝送装置。
(付記7)
前記第2の基板モジュールは、複数のサブモジュールを含み、
前記第2の光スイッチは、前記複数のサブモジュールに設けられる、互いに光ファイバで光学的に接続された複数のサブスイッチで構成され、
前記制御部は、前記テスト光が、前記第1の基板モジュールから前記第2の基板モジュールへ伝送された後に前記第1の基板モジュールへ戻るように、前記第1の光スイッチおよび前記複数のサブスイッチを制御する
ことを特徴とする付記1に記載の光伝送装置。
(付記8)
光学的に接続された複数の基板モジュールを含む光伝送装置内の接続を検証する接続確認方法であって、
前記複数の基板モジュールの中の第1の基板モジュールを用いてテスト光を生成し、
前記第1の基板モジュールに含まれる第1の光スイッチを用いて前記テスト光を転送し、
前記第1の基盤モジュールから転送されたテスト光を、前記複数の基板モジュールの中の第2の基板モジュールに含まれる第2の光スイッチを用いて前記第1の基盤モジュールにループバックする
ことを特徴とする接続確認方法。
(付記9)
信号光が入力される入力ポートと、
テスト光を生成する光生成器と、
前記信号光が入力される第1入力ポートと、前記テスト光が入力される第2入力ポートと、前記信号光と前記テスト光の何れかを出力する複数の出力ポートと、を有する波長選択スイッチと、
前記複数の出力ポートから出力された光を分岐する複数の分岐部と、
分岐した光を合波する合波部と、
前記合波部から出力される光をモニタするモニタ部と、
を備えることを特徴とする波長選択スイッチカード。
1 光伝送装置
2、3 スイッチング基板
2a、3a 光スイッチ
2b 光送信器
2c 光受信器
4 回路基板
5 制御部
20、60 WSS基板
21、22、61、62 波長選択スイッチ
23、63 送受信機
30、70 光アンプ回路
40、80 光スイッチ基板
41、42、81、82 光スイッチ
100、200、300 光伝送装置
210 ファイバディストリビューションパネル
2、3 スイッチング基板
2a、3a 光スイッチ
2b 光送信器
2c 光受信器
4 回路基板
5 制御部
20、60 WSS基板
21、22、61、62 波長選択スイッチ
23、63 送受信機
30、70 光アンプ回路
40、80 光スイッチ基板
41、42、81、82 光スイッチ
100、200、300 光伝送装置
210 ファイバディストリビューションパネル
Claims (7)
- 光学的に接続された複数の基板モジュールを備え、
前記複数の基板モジュールの中の第1の基板モジュールは、
テスト光を生成する光生成器と、
前記生成されたテスト光を転送する第1の光スイッチと、を含み、
前記複数の基板モジュールの中の第2の基板モジュールは、
前記第1の基盤モジュールから転送されたテスト光を、前記第1の基盤モジュールにループバックする第2の光スイッチを含む
ことを特徴とする光伝送装置。 - 前記第2の基盤モジュールは、テスト光以外の光は第1の基盤モジュール以外の基盤モジュールに転送することを特徴とする請求項1に記載の光伝送装置。
- 前記テスト光が伝送される経路上の複数の測定点においてそれぞれ光パワーを測定する複数のパワー測定器と、
前記複数の基板モジュールの中の少なくとも1つの動作を制御する制御部と、をさらに備え、
前記制御部は、前記複数のパワー測定器による測定結果に基づいて、前記第1の基板モジュールと前記第2の基板モジュールとの間の接続を検証する
ことを特徴とする請求項1又は2に記載の光伝送装置。 - 前記制御部は、前記複数のパワー測定器による測定結果に基づいて、前記第1の基板モジュールと前記第2の基板モジュールとの間で接続が異常である箇所を特定する
ことを特徴とする請求項3に記載の光伝送装置。 - 前記第1の基板モジュールは、前記第2の基板モジュールから戻ってくるテスト光からデータを再生するデータ再生器を含み、
前記制御部は、前記光生成器により生成されるテスト光に含まれるデータと前記データ再生器により再生されたデータとの比較の結果に基づいて、前記第1の基板モジュールと前記第2の基板モジュールとの間の接続を検証する
ことを特徴とする請求項3又は4に記載の光伝送装置。 - 光学的に接続された複数の基板モジュールを含む光伝送装置内の接続を検証する接続確認方法であって、
前記複数の基板モジュールの中の第1の基板モジュールを用いてテスト光を生成し、
前記第1の基板モジュールに含まれる第1の光スイッチを用いて前記テスト光を転送し、
前記第1の基盤モジュールから転送されたテスト光を、前記複数の基板モジュールの中の第2の基板モジュールに含まれる第2の光スイッチを用いて前記第1の基盤モジュールにループバックする
ことを特徴とする接続確認方法。 - 信号光が入力される入力ポートと、
テスト光を生成する光生成器と、
前記信号光が入力される第1入力ポートと、前記テスト光が入力される第2入力ポートと、前記信号光と前記テスト光の何れかを出力する複数の出力ポートと、を有する波長選択スイッチと、
前記複数の出力ポートから出力された光を分岐する複数の分岐部と、
分岐した光を合波する合波部と、
前記合波部から出力される光をモニタするモニタ部と、
を備えることを特徴とする波長選択スイッチカード。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US15/091,040 US20160315701A1 (en) | 2015-04-24 | 2016-04-05 | Optical transmission device, method for verifying connection, and wavelength selective switch card |
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2015089502 | 2015-04-24 | ||
JP2015089502 | 2015-04-24 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2016208493A true JP2016208493A (ja) | 2016-12-08 |
Family
ID=57490815
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2016009858A Pending JP2016208493A (ja) | 2015-04-24 | 2016-01-21 | 光伝送装置、接続確認方法および波長選択スイッチカード |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2016208493A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2019176297A (ja) * | 2018-03-28 | 2019-10-10 | 三菱電機株式会社 | 光伝送装置における光ファイバの接続確認方法 |
WO2020217439A1 (ja) * | 2019-04-26 | 2020-10-29 | 三菱電機株式会社 | 光通信装置 |
-
2016
- 2016-01-21 JP JP2016009858A patent/JP2016208493A/ja active Pending
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2019176297A (ja) * | 2018-03-28 | 2019-10-10 | 三菱電機株式会社 | 光伝送装置における光ファイバの接続確認方法 |
JP7058535B2 (ja) | 2018-03-28 | 2022-04-22 | 三菱電機株式会社 | 光伝送装置における光ファイバの接続確認方法 |
WO2020217439A1 (ja) * | 2019-04-26 | 2020-10-29 | 三菱電機株式会社 | 光通信装置 |
JPWO2020217439A1 (ja) * | 2019-04-26 | 2021-11-11 | 三菱電機株式会社 | 光通信装置 |
JP7278370B2 (ja) | 2019-04-26 | 2023-05-19 | 三菱電機株式会社 | 光通信装置 |
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