JP2015515403A - スクリーンプリンタ装備の補正方法及びそれを用いた基板検査システム - Google Patents
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Abstract
Description
各ブロック別中心値、各ブロック別パッド及びはんだ位置値、及び各ブロック別任意に選択された位置値のうち少なくとも一つを用いて推定してもよい。
Claims (16)
- スクリーンプリンタ装備からフィデュシャル情報の入力を受ける段階と、
はんだ検査装備の測定を通じて基板に形成されたパッドの位置情報及びはんだの位置情報を抽出する段階と、
前記パッドの位置情報及び前記はんだの位置情報を用いて前記フィデュシャル情報を基準としたステンシルマスクのx、yオフセット値及び回転量を推定する段階と、
前記ステンシルマスクのx、yオフセット値及び回転量を前記スクリーンプリンタ装備に伝達する段階と、
を含むことを特徴とするスクリーンプリンタ装備の補正方法。 - 前記x、yオフセット値及び回転量を推定することにおいて、前記ステンシルマスクの誤差は下記数式によって定義され、定義された誤差を最小化するように前記ステンシルマスクのx、yオフセット値及び回転量を推定することを特徴とする請求項1に記載のスクリーンプリンタ装備の補正方法。
(ここで、Eはステンシルマスクの誤差であり、iは各パッドを示す) - 前記ステンシルマスクの誤差を定義することにおいて、はんだの測定値の信頼度に対応する加重値を反映することを特徴とする請求項2に記載のスクリーンプリンタ装備の補正方法。
- スクリーンプリンタ装備からフィデュシャル情報の入力を受ける段階と、
前記はんだ検査装備で基板を複数のブロックに区画し、各ブロック別に前記フィデュシャル情報を基準としてブロック別x、yオフセット値及び回転量を推定する段階と、
ブロック別推定された前記ブロック別x、y値及び回転量に基づいてステンシルマスクのx、yオフセット値及び回転量を推定する段階と、
前記ステンシルマスクのx、yオフセット値及び回転量を前記スクリーンプリンタ装備に伝達する段階と、
を含むことを特徴とするスクリーンプリンタ装備の補正方法。 - 前記ブロック別x、yオフセット値及び回転量を推定する段階は、
各ブロック別中心値、各ブロック別パッドとはんだ位置値、及び各ブロック別任意に選択された位置値のうち少なくとも一つを用いて推定することを特徴とする請求項4に記載のスクリーンプリンタ装備の補正方法。 - 前記ステンシルマスクのx、yオフセット値及び回転量を推定する段階は、
前記ブロック別x、yオフセット値及び回転量の平均を通じて前記ステンシルマスクのx、yオフセット値及び回転量を推定することを特徴とする請求項4に記載のスクリーンプリンタ装備の補正方法。 - 前記ブロック別x、yオフセット値及び回転量を推定することにおいて、
前記ステンシルマスクの誤差は下記数式によって定義され、
定義された誤差を最小化するように前記ステンシルマスクのx、yオフセット値及び回転量を推定することを特徴とする請求項4に記載のスクリーンプリンタ装備の補正方法。
(ここで、Eはステンシルマスクの誤差であり、iは各パッドを示す。) - 前記ステンシルマスクの誤差を定義することにおいて、はんだの測定値の信頼度に対応する加重値を反映することを特徴とする請求項7に記載のスクリーンプリンタ装備の補正方法。
- スクリーンプリンタ装備からはんだがプリンタされた基板をはんだ検査装備に伝達する段階と、
前記はんだ検査装備から前記伝達された基板を検査し、検査結果を分析する段階と、
前記分析された検査結果を前記スクリーンプリンタ装備に伝達する段階と、
前記分析された検査結果を用いて前記スクリーンプリンタ装備から補正された印刷条件の入力を受ける段階と、
を含むことを特徴とするスクリーンプリンタ装備の補正方法。 - 前記補正された印刷条件の入力を受ける段階以後、
前記補正された印刷条件をユーザが認識できるように、
ディスプレーする段階をさらに含むことを特徴とする請求項9に記載のスクリーンプリンタ装備の補正方法。 - 前記補正された印刷条件の入力を受けた段階以後に、
前記分析された検査結果及び前記補正された印刷条件の間の関係を分析する段階をさらに含むことを特徴とする請求項9に記載のスクリーンプリンタ装備の補正方法。 - 前記補正された印刷条件は、前記スクリーンプリンタ装備の印刷圧力、印刷速度及びステンシルマスクの位置補正のうち少なくとも一つを含むことを特徴とする請求項9に記載のスクリーンプリンタ装備の補正方法。
- 基板にはんだを印刷するスクリーンプリンタ装備から前記基板の伝達を受けて、プリンタされたはんだを検査して検査結果を分析した後、分析された検査結果を前記スクリーンプリンタ装備に伝達する検査結果伝達部と、
前記分析された検査結果を用いて前記スクリーンプリンタ装備で補正された印刷条件の入力を受けて貯蔵する印刷条件貯蔵部と、
を含むことを特徴とする基板検査システム。 - 前記補正された印刷条件をユーザが認識できるようにディスプレーするディスプレー部をさらに含むことを特徴とする請求項13に記載の基板検査システム。
- 前記分析された検査結果及び前記補正された印刷条件の間の関係を分析する分析部をさらに含むことを特徴とする請求項13に記載の基板検査システム。
- 前記印刷条件は、
前記スクリーンプリンタ装備の印刷圧力、印刷速度及びステンシルマスクの位置情報のうち少なくとも一つを含むことを特徴とする請求項13に記載の基板検査システム。
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