JP2015049100A - 測定装置および測定方法 - Google Patents
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Abstract
Description
図6(c)で例示するように、CPUの個体差に起因して測定抵抗値がばらつくため、一定のしきい値での判定ができない。ショート障害が発生しているのかCPU抵抗値のバラツキの影響なのか、判別することが困難である。なお、しきい値が緩いとショート障害流出、しきい値が厳しいと誤検出による直行率低下を招く。
(問題点2)
図6(c)で例示するように、電源回路の故障で電源側の抵抗分が低下した場合、測定抵抗値の低下がCPU抵抗分のバラツキによる影響なのか判別が困難である。すなわち、電源障害の流出が問題になる。
(問題点3)
図6(d)で例示するように、CPU側の抵抗が非常に小さいとショート有無の検出ができない。V−G間にて半田ショートしている状態でのV−G間抵抗は、多少の抵抗分がありゼロとはならない場合がある(半田ショートの状態や配線抵抗分等の影響)。抵抗測定では、この電源ショートの場合とCPU抵抗分が非常に小さい場合とで判別ができない。すなわち、ショート障害流出(焼損)が生じ、BGA部品は取り外して調査する必要がある。
11 抵抗計
12 直流定電流源
13 直流定電圧源
14 スイッチ
15 電圧計
16 電流計
17 計測器インタフェース
20 リレー切替回路
21 電源ライン切替スイッチ
22 アース接続切替スイッチ
23 リレー切替制御部
31 リレー切替制御部
32 計測器制御部
33 良否判断制御部
34 インタフェース
35 ショートチェック制御部
100 測定装置
200 ショートチェック装置
300 コントローラ
400 データベース
Claims (7)
- プリント基板の複数の電源ラインのうち、測定対象の電源ライン以外の全ての電源ラインを短絡させアースと短絡させるスイッチと、
前記測定対象の電源ラインと前記アースとの間の抵抗値を測定する抵抗計とを備えることを特徴とする測定装置。 - 前記抵抗値が判定値未満であれば、ショートが発生していると判定する判定部を備えることを特徴とする請求項1記載の測定装置。
- 前記スイッチは、ショートが発生していると前記判定部によって判定された場合、前記測定対象以外の電源ラインと前記アースとの短絡を開放し、
前記抵抗計は、前記測定対象の電源ラインと前記アースとの間の抵抗値を再度測定することを特徴とする請求項2記載の測定装置。 - 前記判定部は、前記測定対象以外の電源ラインと前記アースとの短絡を開放した前後で前記抵抗計によって測定された抵抗値の変動量が第1しきい値以下であれば、前記測定対象の電源ラインと前記アースとの間にショートが発生していると判定し、前記測定対象以外の電源ラインと前記アースとの短絡を開放した前後で前記抵抗計によって測定された抵抗値の変動量が第1しきい値以上の第2しきい値を上回れば、前記測定対象の電源ラインとの他のいずれかの電源ラインとの間にショートが発生していると判定することを特徴とする請求項3記載の測定装置。
- 前記測定対象の電源ライン上にデバイスが設けられている場合において、
前記判定値は、事前に測定された前記デバイスの単体での抵抗値に基づいて算出されたものであることを特徴とする請求項2〜4のいずれか一項に記載の測定装置。 - 前記測定対象の電源ライン上にデバイスが設けられている場合において、
前記判定部は、前記電源と前記デバイスとの一方の間と他方の間との2点間において、直流定電圧の電源供給した場合の電流値と、直流定電流の電源供給した場合の電圧値とに基づいて、前記測定対象の電源ラインのショートの発生を判定することを特徴とする請求項2〜4のいずれか一項に記載の測定装置。 - プリント基板の複数の電源ラインのうち、測定対象の電源ライン以外の全ての電源ラインを互いに短絡させアースと短絡し、
前記測定対象の電源ラインとアースとの間の抵抗値を測定することを特徴とする測定方法。
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---|---|---|---|---|
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Families Citing this family (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US10134550B2 (en) * | 2015-05-21 | 2018-11-20 | Asco Power Technologies, L.P. | Short circuit detection circuit |
CN105425094B (zh) * | 2015-11-24 | 2018-04-27 | 深圳怡化电脑股份有限公司 | 一种pcba短路点检测方法及装置 |
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CN110488205B (zh) * | 2018-10-24 | 2021-02-26 | 新华三技术有限公司 | 一种故障识别装置 |
EP3822936B1 (en) * | 2019-11-13 | 2023-09-13 | Carrier Corporation | Short-circuit isolator |
US11668761B2 (en) * | 2021-10-06 | 2023-06-06 | Dell Products, L.P. | Adaptive short circuit detection system and method for an information handling system (IHS) |
Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH01308975A (ja) * | 1988-03-19 | 1989-12-13 | Fujitsu Ltd | プリント板試験装置 |
US5504432A (en) * | 1993-08-31 | 1996-04-02 | Hewlett-Packard Company | System and method for detecting short, opens and connected pins on a printed circuit board using automatic test equipment |
JP2013061261A (ja) * | 2011-09-14 | 2013-04-04 | Hioki Ee Corp | 回路基板検査装置および回路基板検査方法 |
Family Cites Families (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4810972A (en) * | 1987-10-05 | 1989-03-07 | Westinghouse Electric Corp. | Automatic short circuit tester control device |
US7216051B2 (en) * | 2005-05-26 | 2007-05-08 | International Business Machines Corporation | Power short circuit testing of an electronics assembly employing pre-characterized power off resistance of an electronic component thereof from a power boundary |
-
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2014
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Patent Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH01308975A (ja) * | 1988-03-19 | 1989-12-13 | Fujitsu Ltd | プリント板試験装置 |
US5504432A (en) * | 1993-08-31 | 1996-04-02 | Hewlett-Packard Company | System and method for detecting short, opens and connected pins on a printed circuit board using automatic test equipment |
JP2013061261A (ja) * | 2011-09-14 | 2013-04-04 | Hioki Ee Corp | 回路基板検査装置および回路基板検査方法 |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2023062736A (ja) * | 2021-10-22 | 2023-05-09 | アズールテスト株式会社 | 半導体デバイス検査装置 |
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