JP2014052273A - 端度器比較測定機及び端度器比較測定方法 - Google Patents
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Abstract
【課題】寸法検査に伴う標準端度器及び被測定端度器の表面の品質低下を抑制できる端度器比較測定機を提供する。
【解決手段】端度器比較測定機１は、標準端度器Ｓ及び被測定端度器Ｍが載置される基準テーブル５と、標準端度器Ｓ及び被測定端度器Ｍを保持するホルダ７１と、ホルダ７１を移動させ、標準端度器Ｓ及び被測定端度器Ｍの複数の測定箇所を測定プローブ６の測定ポイントに順に導くための移動装置７３とを備える。移動装置７３は、測定箇所を変更する際、ホルダ７１を直線的に移動させる。基準テーブル５の上面には、当該上面の面内で直線状に延びる複数の突条部が形成されている。複数の突条部は、移動装置７３によるホルダ７１の直線的な移動方向に対して、直交せずかつ平行とならない方向に延びている。
【選択図】図１
【解決手段】端度器比較測定機１は、標準端度器Ｓ及び被測定端度器Ｍが載置される基準テーブル５と、標準端度器Ｓ及び被測定端度器Ｍを保持するホルダ７１と、ホルダ７１を移動させ、標準端度器Ｓ及び被測定端度器Ｍの複数の測定箇所を測定プローブ６の測定ポイントに順に導くための移動装置７３とを備える。移動装置７３は、測定箇所を変更する際、ホルダ７１を直線的に移動させる。基準テーブル５の上面には、当該上面の面内で直線状に延びる複数の突条部が形成されている。複数の突条部は、移動装置７３によるホルダ７１の直線的な移動方向に対して、直交せずかつ平行とならない方向に延びている。
【選択図】図１
Description
本発明は、標準端度器を基準に被測定端度器の寸法差を測定する端度器比較測定機及び端度器比較測定方法に関する。
従来、ゲージブロック等の端度器の寸法検査を行うために、標準ゲージブロック（標準端度器）を基準に被測定ゲージブロック（被測定端度器）を比較測定するゲージブロック比較測長機（端度器比較測定機）が提案されている（例えば、特許文献１参照）。
特許文献１に記載の端度器比較測定機は、標準ゲージブロック及び被測定ゲージブロックが載置される基準テーブルと、各ブロックを保持するホルダと、先端に測定子を有し、各ブロックの測定箇所を測定する測長センサ等を備える。
特許文献１に記載の端度器比較測定機は、標準ゲージブロック及び被測定ゲージブロックが載置される基準テーブルと、各ブロックを保持するホルダと、先端に測定子を有し、各ブロックの測定箇所を測定する測長センサ等を備える。
図１４は、従来の端度器比較測定機による標準ゲージブロックＳ（以下、標準ブロックＳ）及び被測定ゲージブロックＭ（以下、被測定ブロックＭ）の測定箇所を示す模式図である。
図１５は、従来の端度器比較測定機を用いた端度器比較測定方法を説明するための模式図である。
具体的に、図１４及び図１５は、各ブロックＳ，Ｍが端度器比較測定機に設置された状態を上方側から見た模式図を示している。
また、図１５において、実線の丸印は、被測定ブロックＭの寸法検査を行っている際の標準ブロックＳの中心位置Ｏの軌跡を示している。また、破線の丸印は、後述する第１〜第６測定箇所Ａ〜Ｆを示している。
なお、以下では、図１５で紙面に直交する方向（端度器比較測定機の上下方向）をＺ軸、図１５での上下方向をＹ軸、図１５での左右方向をＸ軸とする。
図１５は、従来の端度器比較測定機を用いた端度器比較測定方法を説明するための模式図である。
具体的に、図１４及び図１５は、各ブロックＳ，Ｍが端度器比較測定機に設置された状態を上方側から見た模式図を示している。
また、図１５において、実線の丸印は、被測定ブロックＭの寸法検査を行っている際の標準ブロックＳの中心位置Ｏの軌跡を示している。また、破線の丸印は、後述する第１〜第６測定箇所Ａ〜Ｆを示している。
なお、以下では、図１５で紙面に直交する方向（端度器比較測定機の上下方向）をＺ軸、図１５での上下方向をＹ軸、図１５での左右方向をＸ軸とする。
被測定ゲージブロックＭの寸法検査を行う際の測定箇所は、図１４に示すように、各ブロックＳ，Ｍの上面における各中心位置である第１，第２測定箇所Ａ，Ｂ、及び被測定ゲージブロックＭの上面における四隅の各位置である第３〜第６測定箇所Ｃ〜Ｆである。
そして、特許文献１では、端度器比較測定機を用いて、以下に示すように、被測定ブロックＭの寸法検査を行っている。
先ず、作業者は、図１５に示すように、長手方向がＹ軸に沿うように各ブロックＳ，Ｍを基準テーブルＴｂ上に載置する。
次に、作業者は、ホルダ（図示略）を移動させて、標準ブロックＳの第１測定箇所Ａを測長センサの測定ポイント（ＸＹ平面内の固定位置）に位置付ける。そして、作業者は、測長センサの測定子を第１測定箇所Ａに当接させ、第１測定箇所Ａを測定する。
同様に、作業者は、ホルダを移動させて、第２測定箇所Ｂ〜Ｆを測長センサの測定ポイントに位置付け、各測定箇所Ｂ〜Ｆを順次、測定する。
以上のように、特許文献１では、基準テーブルＴｂ上で各ブロックＳ，Ｍを摺動させて（図１５に示す矢印Ａ１２，Ａ２３，Ａ３４，Ａ４５，Ａ５６の方向に移動させて）、各測定箇所Ａ〜Ｆを順次、測定することで、被測定ゲージブロックＭの寸法検査を行っている。
そして、特許文献１では、端度器比較測定機を用いて、以下に示すように、被測定ブロックＭの寸法検査を行っている。
先ず、作業者は、図１５に示すように、長手方向がＹ軸に沿うように各ブロックＳ，Ｍを基準テーブルＴｂ上に載置する。
次に、作業者は、ホルダ（図示略）を移動させて、標準ブロックＳの第１測定箇所Ａを測長センサの測定ポイント（ＸＹ平面内の固定位置）に位置付ける。そして、作業者は、測長センサの測定子を第１測定箇所Ａに当接させ、第１測定箇所Ａを測定する。
同様に、作業者は、ホルダを移動させて、第２測定箇所Ｂ〜Ｆを測長センサの測定ポイントに位置付け、各測定箇所Ｂ〜Ｆを順次、測定する。
以上のように、特許文献１では、基準テーブルＴｂ上で各ブロックＳ，Ｍを摺動させて（図１５に示す矢印Ａ１２，Ａ２３，Ａ３４，Ａ４５，Ａ５６の方向に移動させて）、各測定箇所Ａ〜Ｆを順次、測定することで、被測定ゲージブロックＭの寸法検査を行っている。
ところで、各ブロックＳ，Ｍが載置される基準テーブルＴｂの上面は、各測定箇所Ａ〜Ｆを測定する際の基準となるため、高い平面度が要求される。
そして、基準テーブルＴｂの上面の平面度が高い場合には、寸法検査に用いる各ブロックＳ，Ｍが比較的に大きく、基準テーブルＴｂの上面と各ブロックＳ，Ｍとの接触面が大きいと、基準テーブルＴｂの上面に対して各ブロックＳ，Ｍが吸着してしまう。
そこで、上記吸着を防止するために、すなわち、基準テーブルＴｂと各ブロックＳ，Ｍとの接触面積を小さくするために、図１５に示すように、基準テーブルＴｂの上面に直線状に延びる複数の突条部Ｒを設けることが考えられる。
なお、図１５では、突条部ＲがＸ軸に沿って延び、Ｙ軸に沿って並設された例を示している。突条部Ｒは、その上端縁が同じ高さに揃えられ、各々の上端縁で仮想的な平面を形成し、この平面で各ブロックＳ，Ｍの下面を支持することになる。
そして、基準テーブルＴｂの上面の平面度が高い場合には、寸法検査に用いる各ブロックＳ，Ｍが比較的に大きく、基準テーブルＴｂの上面と各ブロックＳ，Ｍとの接触面が大きいと、基準テーブルＴｂの上面に対して各ブロックＳ，Ｍが吸着してしまう。
そこで、上記吸着を防止するために、すなわち、基準テーブルＴｂと各ブロックＳ，Ｍとの接触面積を小さくするために、図１５に示すように、基準テーブルＴｂの上面に直線状に延びる複数の突条部Ｒを設けることが考えられる。
なお、図１５では、突条部ＲがＸ軸に沿って延び、Ｙ軸に沿って並設された例を示している。突条部Ｒは、その上端縁が同じ高さに揃えられ、各々の上端縁で仮想的な平面を形成し、この平面で各ブロックＳ，Ｍの下面を支持することになる。
しかしながら、被測定ブロックＭの寸法検査において、各ブロックＳ，Ｍを突条部Ｒの延びる方向に対して平行な方向に移動させた場合（例えば、図１５における矢印Ａ１２，Ａ３４，Ａ５６の方向に移動させた場合）には、以下の問題が生じる恐れがある。
このように移動させた場合には、突条部Ｒに対する各ブロックＳ，Ｍの接触箇所が常に同一箇所となるため、寸法検査時の移動に伴い、突条部Ｒにより各ブロックＳ，Ｍの表面の摩耗や傷の進行が早まる恐れがある。
このように移動させた場合には、突条部Ｒに対する各ブロックＳ，Ｍの接触箇所が常に同一箇所となるため、寸法検査時の移動に伴い、突条部Ｒにより各ブロックＳ，Ｍの表面の摩耗や傷の進行が早まる恐れがある。
また、被測定ブロックＭの寸法検査において、各ブロックＳ，Ｍを突条部Ｒの延びる方向に対して直交する方向に移動させた場合（例えば、図１５における矢印Ａ４５の方向に移動させた場合）には、以下の問題が生じる恐れがある。
このように移動させた場合には、各ブロックＳ，Ｍが突条部Ｒの先端に一気に乗り上げることになるため、突条部Ｒの先端と各ブロックＳ，Ｍとが密着し易いものとなり、密着と密着解除とを繰り返す現象が生じる。すなわち、各ブロックＳ、Ｍが微少に振動しながら移動することとなり、当該移動に伴い、突条部Ｒにより各ブロックＳ，Ｍの表面に傷が付いてしまう恐れがある。
特に、標準ブロックＳは、検査対象である被測定ブロックＭの基準となるため、複数の被測定ブロックＭの寸法検査に用いられることとなる。すなわち、上述した移動に伴い、標準ブロックＳは、被測定ブロックＭと比較して、表面に傷が付き易いものである。
このように移動させた場合には、各ブロックＳ，Ｍが突条部Ｒの先端に一気に乗り上げることになるため、突条部Ｒの先端と各ブロックＳ，Ｍとが密着し易いものとなり、密着と密着解除とを繰り返す現象が生じる。すなわち、各ブロックＳ、Ｍが微少に振動しながら移動することとなり、当該移動に伴い、突条部Ｒにより各ブロックＳ，Ｍの表面に傷が付いてしまう恐れがある。
特に、標準ブロックＳは、検査対象である被測定ブロックＭの基準となるため、複数の被測定ブロックＭの寸法検査に用いられることとなる。すなわち、上述した移動に伴い、標準ブロックＳは、被測定ブロックＭと比較して、表面に傷が付き易いものである。
本発明の目的は、寸法検査に伴う標準端度器及び被測定端度器の表面の品質低下を抑制できる端度器比較測定機及び端度器比較測定方法を提供することにある。
本発明の端度器比較測定機（以下、第１の端度器比較測定機）は、端度器の寸法を測定する測定プローブを有し、標準端度器を基準にして前記標準端度器と被測定端度器との寸法差を測定する端度器比較測定機であって、前記標準端度器及び前記被測定端度器が載置される基準テーブルと、前記基準テーブル上に設けられ、前記標準端度器及び前記被測定端度器を保持するホルダと、前記ホルダを移動させ、前記標準端度器及び前記被測定端度器の複数の測定箇所を前記測定プローブの測定ポイントに順に導くための移動装置とを備え、前記移動装置は、前記測定箇所を変更する際、前記ホルダを移動させ、前記基準テーブルの前記標準端度器及び前記被測定端度器が載置される面には、前記面内で直線状に延びる複数の突条部が形成され、前記複数の突条部は、前記移動装置による前記ホルダの移動方向に対して、平行とならない方向に延びていることを特徴とする。
本発明では、基準テーブルの上面に形成された複数の突条部は、移動装置によるホルダの直線的な移動方向（例えば、図１５における矢印Ａ１２，Ａ２３，Ａ３４，Ａ４５，Ａ５６の方向）に対して、平行とならない方向に延びている。
このことにより、被測定端度器の寸法検査において、標準端度器及び被測定端度器を移動させる方向は、突条部の延びる方向に対して平行な方向とならない。
このため、標準端度器及び被測定端度器の移動に伴い、突条部に対する標準端度器及び被測定端度器の接触箇所を移動させることができ（接触箇所が変化するので）、当該接触箇所が常に同一の特定箇所に限定されることがない。
以上のことから、寸法検査により、標準端度器及び被測定端度器の表面（基準テーブルの突条部と接触する面）に傷が付くことを抑制でき、すなわち、標準端度器及び被測定端度器の表面の品質低下を抑制できる。
なお、突条部とホルダの移動方向との交差角度は一定でなくてもよく、例えば突条部が全体として円弧状であってもよく、異なる角度の直線状部分を連結したもの等であってもよい。
なお、本発明において、前記複数の突条部は、前記移動装置による前記ホルダの移動方向に対して、平行でなくかつ直交しない方向（突条部に対して０度より大きく９０度未満の角度をなす方向）に延びていることが望ましい。
このようにすれば、突条部の延びる方向とホルダの移動方向とが直交する場合のような、標準端度器及び被測定端度器が突条部の先端に一気に乗り上げることもなくなるため、標準端度器及び被測定端度器が微少に振動しながら移動することもなくなる。
このことにより、被測定端度器の寸法検査において、標準端度器及び被測定端度器を移動させる方向は、突条部の延びる方向に対して平行な方向とならない。
このため、標準端度器及び被測定端度器の移動に伴い、突条部に対する標準端度器及び被測定端度器の接触箇所を移動させることができ（接触箇所が変化するので）、当該接触箇所が常に同一の特定箇所に限定されることがない。
以上のことから、寸法検査により、標準端度器及び被測定端度器の表面（基準テーブルの突条部と接触する面）に傷が付くことを抑制でき、すなわち、標準端度器及び被測定端度器の表面の品質低下を抑制できる。
なお、突条部とホルダの移動方向との交差角度は一定でなくてもよく、例えば突条部が全体として円弧状であってもよく、異なる角度の直線状部分を連結したもの等であってもよい。
なお、本発明において、前記複数の突条部は、前記移動装置による前記ホルダの移動方向に対して、平行でなくかつ直交しない方向（突条部に対して０度より大きく９０度未満の角度をなす方向）に延びていることが望ましい。
このようにすれば、突条部の延びる方向とホルダの移動方向とが直交する場合のような、標準端度器及び被測定端度器が突条部の先端に一気に乗り上げることもなくなるため、標準端度器及び被測定端度器が微少に振動しながら移動することもなくなる。
本発明の端度器比較測定機（以下、第２の端度器比較測定機）は、端度器の寸法を測定する測定プローブを有し、標準端度器を基準にして前記標準端度器と被測定端度器との寸法差を測定する端度器比較測定機であって、前記標準端度器及び前記被測定端度器が載置される基準テーブルと、前記基準テーブル上に設けられ、前記標準端度器及び前記被測定端度器を保持するホルダと、前記ホルダを移動させ、前記標準端度器及び前記被測定端度器の複数の測定箇所を前記測定プローブの測定ポイントに順に導くための移動装置とを備え、前記移動装置は、前記測定箇所を変更する際、前記ホルダを移動させ、前記基準テーブルの前記標準端度器及び前記被測定端度器が載置される面には、前記面内を延びかつ前記移動装置による前記ホルダの移動方向に対して角度が変化する複数の突条部が形成されていることを特徴とする。
ここで、上記「ホルダの移動方向に対して角度が変化する」とは、直線状に延びる部分がホルダの移動方向に対する傾き角度を変えて連設された形状の他、曲線状に延びてホルダの移動方向に対する傾き角度が徐々に変化する形状も含む意味である。
これらの傾き角度が変化した部分は、繰り返して波形とされていることが望ましい。例えば、角度が異なる直線部分の連結が繰り返される三角波や台形波、逆向きの円弧の繰り返しによる波形などとすることができる。
ここで、上記「ホルダの移動方向に対して角度が変化する」とは、直線状に延びる部分がホルダの移動方向に対する傾き角度を変えて連設された形状の他、曲線状に延びてホルダの移動方向に対する傾き角度が徐々に変化する形状も含む意味である。
これらの傾き角度が変化した部分は、繰り返して波形とされていることが望ましい。例えば、角度が異なる直線部分の連結が繰り返される三角波や台形波、逆向きの円弧の繰り返しによる波形などとすることができる。
本発明の第２の端度器比較測定機は、上述した第１の端度器比較測定機に対して、基準テーブルの標準端度器及び被測定端度器が載置される面に形成された複数の突条部の形状が異なる点に特徴を有する。
すなわち、第２の端度器比較測定機において、複数の突条部は、基準テーブルの標準端度器及び被測定端度器が載置される面内でホルダの移動方向に対する傾き角度を変えながら延びている。
そして、複数の突条部を上記のような形状とすることで、第１の端度器比較測定機と同様に、標準端度器及び被測定端度器の移動に伴い、突条部に対する標準端度器及び被測定端度器の接触箇所を特定箇所に限定することなく移動させることができる。また、突条部の延びる方向がホルダの移動方向に対して傾いていることで、標準端度器及び被測定端度器が突条部の先端に一気に乗り上げることもなくなり、標準端度器及び被測定端度器が微少に振動しながら移動することもなくなる。
以上のことから、第１の端度器比較測定機と同様に、寸法検査に伴う標準端度器及び被測定端度器の表面の品質低下を抑制できる。
すなわち、第２の端度器比較測定機において、複数の突条部は、基準テーブルの標準端度器及び被測定端度器が載置される面内でホルダの移動方向に対する傾き角度を変えながら延びている。
そして、複数の突条部を上記のような形状とすることで、第１の端度器比較測定機と同様に、標準端度器及び被測定端度器の移動に伴い、突条部に対する標準端度器及び被測定端度器の接触箇所を特定箇所に限定することなく移動させることができる。また、突条部の延びる方向がホルダの移動方向に対して傾いていることで、標準端度器及び被測定端度器が突条部の先端に一気に乗り上げることもなくなり、標準端度器及び被測定端度器が微少に振動しながら移動することもなくなる。
以上のことから、第１の端度器比較測定機と同様に、寸法検査に伴う標準端度器及び被測定端度器の表面の品質低下を抑制できる。
本発明の端度器比較測定機（以下、第３の端度器比較測定機）は、端度器の寸法を測定する測定プローブを有し、標準端度器を基準にして前記標準端度器と被測定端度器との寸法差を測定する端度器比較測定機であって、前記標準端度器及び前記被測定端度器が載置される基準テーブルと、前記基準テーブル上に設けられ、前記標準端度器及び前記被測定端度器を保持するホルダと、前記ホルダを移動させ、前記標準端度器及び前記被測定端度器の複数の測定箇所を前記測定プローブの測定ポイントに順に導くための移動装置とを備え、前記基準テーブルの上面には、ピン状の複数の突起部が形成されていることを特徴とする。
本発明の第３の端度器比較測定機は、上述した第１，第２の端度器比較測定機に対して、基準テーブルの標準端度器及び被測定端度器が載置される面の形状が異なる点に特徴を有する。
すなわち、第３の端度器比較測定機において、基準テーブルの標準端度器及び被測定端度器が載置される面には、ピン状の複数の突起部が形成されている。ピン状の複数の突起部は、各々の上端を同じ高さに揃えておけば、これらの上端で仮想的な平面が規定され、この平面で標準端度器及び被測定端度器の下面を支持することができる。
そして、基準テーブルの標準端度器及び被測定端度器が載置される面に上述した複数の突起部を形成することで、第１，第２の端度器比較測定機と同様に、標準端度器及び被測定端度器の移動に伴い、突起部に対する標準端度器及び被測定端度器の接触箇所が特定箇所に限定されない。また、標準端度器及び被測定端度器が微少に振動しながら移動することもなくなる。
以上のことから、第１，第２の端度器比較測定機と同様に、寸法検査に伴う標準端度器及び被測定端度器の表面の品質低下を抑制できる。
すなわち、第３の端度器比較測定機において、基準テーブルの標準端度器及び被測定端度器が載置される面には、ピン状の複数の突起部が形成されている。ピン状の複数の突起部は、各々の上端を同じ高さに揃えておけば、これらの上端で仮想的な平面が規定され、この平面で標準端度器及び被測定端度器の下面を支持することができる。
そして、基準テーブルの標準端度器及び被測定端度器が載置される面に上述した複数の突起部を形成することで、第１，第２の端度器比較測定機と同様に、標準端度器及び被測定端度器の移動に伴い、突起部に対する標準端度器及び被測定端度器の接触箇所が特定箇所に限定されない。また、標準端度器及び被測定端度器が微少に振動しながら移動することもなくなる。
以上のことから、第１，第２の端度器比較測定機と同様に、寸法検査に伴う標準端度器及び被測定端度器の表面の品質低下を抑制できる。
本発明の端度器比較測定機では、前記移動装置は、前記ホルダを移動可能とする移動機構と、前記ホルダの移動方向を規制し、前記ホルダの移動を案内するガイド機構とを備えることが好ましい。
本発明では、移動装置が上述した移動機構及びガイド機構を備えるので、端度器比較測定機を、被測定端度器の寸法検査を手動で行う手動式の端度器比較測定機として構成することができる。
また、このように手動式の端度器比較測定機とした場合であっても、上述した第１〜第３の端度器比較測定機のように基準テーブルの上面の形状を工夫することで、寸法検査に伴う標準端度器及び被測定端度器の表面の品質低下を抑制できる。
本発明では、移動装置が上述した移動機構及びガイド機構を備えるので、端度器比較測定機を、被測定端度器の寸法検査を手動で行う手動式の端度器比較測定機として構成することができる。
また、このように手動式の端度器比較測定機とした場合であっても、上述した第１〜第３の端度器比較測定機のように基準テーブルの上面の形状を工夫することで、寸法検査に伴う標準端度器及び被測定端度器の表面の品質低下を抑制できる。
本発明の端度器比較測定機では、前記移動装置は、前記ホルダを移動可能とする移動機構と、前記移動機構を動作させる駆動装置と、前記駆動装置を制御する制御装置とを備えることが好ましい。
本発明では、移動装置が上述した移動機構、駆動装置、及び制御装置を備えるので、端度器比較測定機を、被測定端度器の寸法検査を自動で行う自動式の端度器比較測定機として構成することができる。
また、このように自動式の端度器比較測定機とした場合であっても、上述した第１〜第３の端度器比較測定機のように基準テーブルの上面の形状を工夫することで、寸法検査に伴う標準端度器及び被測定端度器の表面の品質低下を抑制できる。
本発明では、移動装置が上述した移動機構、駆動装置、及び制御装置を備えるので、端度器比較測定機を、被測定端度器の寸法検査を自動で行う自動式の端度器比較測定機として構成することができる。
また、このように自動式の端度器比較測定機とした場合であっても、上述した第１〜第３の端度器比較測定機のように基準テーブルの上面の形状を工夫することで、寸法検査に伴う標準端度器及び被測定端度器の表面の品質低下を抑制できる。
なお、本発明において、前述した各測定箇所での測定としては、基準テーブルＴｂの上面（各ブロックＳ，Ｍの下面に接する部位を包括する仮想面）を基準として、各ブロックＳ，Ｍの上面高さを測定し、前述した基準テーブルＴｂの上面を基準とした各ブロックＳ，ＭのＺ軸寸法を測定することができる。
さらに、測定ポイントにおいて基準テーブルＴｂを下面から貫通する別の測長センサを用い、各ブロックＳ，Ｍの上面及び下面のＺ軸位置をそれぞれ測定し、その差分をとることもできる。この場合、別の測長センサは、前述した突条部あるいは突起部の間隔部分を利用して設置することが望ましい。
さらに、測定ポイントにおいて基準テーブルＴｂを下面から貫通する別の測長センサを用い、各ブロックＳ，Ｍの上面及び下面のＺ軸位置をそれぞれ測定し、その差分をとることもできる。この場合、別の測長センサは、前述した突条部あるいは突起部の間隔部分を利用して設置することが望ましい。
本発明の端度器比較測定方法は、端度器の寸法を測定する測定プローブを有し、標準端度器を基準にして前記標準端度器と被測定端度器との寸法差を測定する端度器比較測定機に用いられる端度器比較測定方法であって、前記端度器比較測定機は、前記標準端度器及び前記被測定端度器が載置される基準テーブルと、前記基準テーブル上に設けられ、前記標準端度器及び前記被測定端度器を保持するホルダとを備え、前記基準テーブルの前記標準端度器及び前記被測定端度器が載置される面には、前記面内で直線状に延びる複数の突条部が形成され、当該端度器比較測定方法は、前記ホルダを移動させ、前記標準端度器及び前記被測定端度器の複数の測定箇所を前記測定プローブの測定ポイントに順に導く移動工程と、前記測定ポイントに導かれた前記測定箇所を前記測定プローブにより測定する測定工程とを備え、前記移動工程では、前記複数の突条部の延びる方向に対して、平行とならない方向に前記ホルダを移動させることを特徴とする。
本発明では、移動工程において、複数の突条部の延びる方向に対して、平行とならない方向にホルダ（標準端度器及び被測定端度器）を移動させる。
このようにホルダを移動させることで、上述した本発明の端度器比較測定機と同様に、標準端度器及び被測定端度器の移動に伴い、突条部に対する標準端度器及び被測定端度器の接触箇所を移動させることができる。
なお、本発明において、前記ホルダの移動方向は、前記複数の突条部が延びるに対して、平行でなくかつ直交しない方向（ホルダの移動方向に対して０度から９０度の角度をなす方向）とすることが望ましい。
このようにすれば、突条部の延びる方向とホルダの移動方向とが直交する場合のように、標準端度器及び被測定端度器が突条部の先端に一気に乗り上げることもなくなり、標準端度器及び被測定端度器が微少に振動しながら移動することもなくなる。
以上のことから、上述した本発明の端度器比較測定機と同様に、寸法検査に伴う標準端度器及び被測定端度器の表面の品質低下を抑制できる。
このようにホルダを移動させることで、上述した本発明の端度器比較測定機と同様に、標準端度器及び被測定端度器の移動に伴い、突条部に対する標準端度器及び被測定端度器の接触箇所を移動させることができる。
なお、本発明において、前記ホルダの移動方向は、前記複数の突条部が延びるに対して、平行でなくかつ直交しない方向（ホルダの移動方向に対して０度から９０度の角度をなす方向）とすることが望ましい。
このようにすれば、突条部の延びる方向とホルダの移動方向とが直交する場合のように、標準端度器及び被測定端度器が突条部の先端に一気に乗り上げることもなくなり、標準端度器及び被測定端度器が微少に振動しながら移動することもなくなる。
以上のことから、上述した本発明の端度器比較測定機と同様に、寸法検査に伴う標準端度器及び被測定端度器の表面の品質低下を抑制できる。
[第１実施形態]
以下、本発明の第１実施形態を図面に基づいて説明する。
〔端度器比較測定機の構成〕
図１及び図２は、第１実施形態における端度器比較測定機１（以下、単に比較測定機１という）を示す図である。具体的に、図１は比較測定機１の正面図であり、図２は比較測定機１の平面図である。
なお、図１及び図２では、比較測定機１の高さ方向（図１中、上下方向）をＺ軸とし、比較測定機１の左右方向（図１中、左右方向）をＸ軸とし、比較測定機１の前後方向（図１中、紙面に直交する方向）をＹ軸とする。また、上方側を＋Ｚ軸側とし、比較測定機１の正面から見て右側を＋Ｘ軸とし、比較測定機１の正面側を＋Ｙ軸側とする。以下の図も同様である。
比較測定機１は、標準端度器としての標準ゲージブロックＳ（以下、標準ブロックＳ）を基準として、被測定端度器としての被測定ゲージブロックＭ（以下、被測定ブロックＭ）の寸法検査を行う装置である。
本実施形態では、比較測定機１は、被測定ブロックＭの寸法検査を手動で行う手動式の比較測定機で構成されている。
そして、比較測定機１は、図１または図２に示すように、測定機本体２と、演算装置３（図１）とを備える。
以下、本発明の第１実施形態を図面に基づいて説明する。
〔端度器比較測定機の構成〕
図１及び図２は、第１実施形態における端度器比較測定機１（以下、単に比較測定機１という）を示す図である。具体的に、図１は比較測定機１の正面図であり、図２は比較測定機１の平面図である。
なお、図１及び図２では、比較測定機１の高さ方向（図１中、上下方向）をＺ軸とし、比較測定機１の左右方向（図１中、左右方向）をＸ軸とし、比較測定機１の前後方向（図１中、紙面に直交する方向）をＹ軸とする。また、上方側を＋Ｚ軸側とし、比較測定機１の正面から見て右側を＋Ｘ軸とし、比較測定機１の正面側を＋Ｙ軸側とする。以下の図も同様である。
比較測定機１は、標準端度器としての標準ゲージブロックＳ（以下、標準ブロックＳ）を基準として、被測定端度器としての被測定ゲージブロックＭ（以下、被測定ブロックＭ）の寸法検査を行う装置である。
本実施形態では、比較測定機１は、被測定ブロックＭの寸法検査を手動で行う手動式の比較測定機で構成されている。
そして、比較測定機１は、図１または図２に示すように、測定機本体２と、演算装置３（図１）とを備える。
〔測定機本体の構成〕
測定機本体２は、図１または図２に示すように、基台４と、基準テーブル５と、測定プローブとしての測長センサ６と、比較測定用治具７とを備える。
測定機本体２は、図１または図２に示すように、基台４と、基準テーブル５と、測定プローブとしての測長センサ６と、比較測定用治具７とを備える。
〔基台の構成〕
基台４は、測定機本体２を支持する。
この基台４において、その上面の−Ｙ軸側には、図１に示すように、Ｚ軸に沿って延びる支柱４Ａが垂設されている。
そして、支柱４Ａには、図１または図２に示すように、昇降台４ＢがＺ軸に沿って移動可能に取り付けられている。
昇降台４Ｂは、昇降ハンドル４Ｃの回動操作によって支柱４Ａに沿って移動し、かつ、締付レバー４Ｄによって任意の高さ位置で支柱４Ａに固定される。
基台４は、測定機本体２を支持する。
この基台４において、その上面の−Ｙ軸側には、図１に示すように、Ｚ軸に沿って延びる支柱４Ａが垂設されている。
そして、支柱４Ａには、図１または図２に示すように、昇降台４ＢがＺ軸に沿って移動可能に取り付けられている。
昇降台４Ｂは、昇降ハンドル４Ｃの回動操作によって支柱４Ａに沿って移動し、かつ、締付レバー４Ｄによって任意の高さ位置で支柱４Ａに固定される。
〔基準テーブルの構成〕
図３は、基準テーブル５の上面を示す模式図である。
基準テーブル５は、図１または図２に示すように、基台４の上面に固定されるとともに、各ブロックＳ，Ｍが載置される部材である。
そして、基準テーブル５の上面（各ブロックＳ，Ｍが載置される面）には、図３に示すように、当該上面から突出する高さが同一である複数の突条部５Ａが形成されている。
突条部５Ａは、図３に示すように、Ｘ軸に対して直角以外の角度（９０度以外）で交差（つまり０度以上）する方向（０度〜９０度の傾きとなる方向、本実施形態ではＸ軸に対して８度）に直線状に延びるように形成されている。そして、複数の突条部５Ａは、互いに平行となるように並設されている。
図３は、基準テーブル５の上面を示す模式図である。
基準テーブル５は、図１または図２に示すように、基台４の上面に固定されるとともに、各ブロックＳ，Ｍが載置される部材である。
そして、基準テーブル５の上面（各ブロックＳ，Ｍが載置される面）には、図３に示すように、当該上面から突出する高さが同一である複数の突条部５Ａが形成されている。
突条部５Ａは、図３に示すように、Ｘ軸に対して直角以外の角度（９０度以外）で交差（つまり０度以上）する方向（０度〜９０度の傾きとなる方向、本実施形態ではＸ軸に対して８度）に直線状に延びるように形成されている。そして、複数の突条部５Ａは、互いに平行となるように並設されている。
〔測長センサの構成〕
図１および図２に示す測長センサ６は、各ブロックＳ，Ｍの第１〜第６測定箇所Ａ〜Ｆ（図７参照）を測定するために用いられる。
なお、本実施形態の各ブロックＳ，Ｍの第１〜第６測定箇所Ａ〜Ｆは、特許文献１に記載の比較測定機での第１〜第６測定箇所Ａ〜Ｆと同一の箇所である（図１４参照）。
この測長センサ６は、図１または図２に示すように、昇降台４Ｂの＋Ｙ軸側に取り付けられている。そして、測長センサ６は、Ｚ軸に沿って移動可能で、かつ、−Ｚ軸側に付勢された測定子６Ａ（図１）を有し、その測定子６Ａの変位を電気信号として演算装置３に出力する。
図１および図２に示す測長センサ６は、各ブロックＳ，Ｍの第１〜第６測定箇所Ａ〜Ｆ（図７参照）を測定するために用いられる。
なお、本実施形態の各ブロックＳ，Ｍの第１〜第６測定箇所Ａ〜Ｆは、特許文献１に記載の比較測定機での第１〜第６測定箇所Ａ〜Ｆと同一の箇所である（図１４参照）。
この測長センサ６は、図１または図２に示すように、昇降台４Ｂの＋Ｙ軸側に取り付けられている。そして、測長センサ６は、Ｚ軸に沿って移動可能で、かつ、−Ｚ軸側に付勢された測定子６Ａ（図１）を有し、その測定子６Ａの変位を電気信号として演算装置３に出力する。
〔比較測定用治具の構成〕
図４は、比較測定用治具７の構成を示す斜視図である。
比較測定用治具７は、基台４の上面の＋Ｘ軸側に固定され、各ブロックＳ，Ｍを保持しながら、各ブロックＳ，Ｍを移動させて、各ブロックＳ，Ｍの第１〜第６測定箇所Ａ〜Ｆを測長センサ６の測定ポイントに移動させる。
この比較測定用治具７は、図４に示すように、ホルダ７１と、ガイド機構７２と、移動機構７３とを備える。
図４は、比較測定用治具７の構成を示す斜視図である。
比較測定用治具７は、基台４の上面の＋Ｘ軸側に固定され、各ブロックＳ，Ｍを保持しながら、各ブロックＳ，Ｍを移動させて、各ブロックＳ，Ｍの第１〜第６測定箇所Ａ〜Ｆを測長センサ６の測定ポイントに移動させる。
この比較測定用治具７は、図４に示すように、ホルダ７１と、ガイド機構７２と、移動機構７３とを備える。
ホルダ７１は、Ｘ軸に沿って延びる平面視矩形状の板体で構成され、各ブロックＳ，Ｍを保持する部材である。
このホルダ７１において、先端部分には、図４に示すように、各ブロックＳ，Ｍを保持するための保持孔７１Ａが形成されている。
このホルダ７１において、先端部分には、図４に示すように、各ブロックＳ，Ｍを保持するための保持孔７１Ａが形成されている。
図５は、ガイド機構７２の要部を示す平面図である。
ガイド機構７２は、ホルダ７１の移動を案内し、各ブロックＳ，Ｍの第１〜第６測定箇所Ａ〜Ｆを測長センサ６の測定ポイントに導く機構である。
このガイド機構７２は、図４または図５に示すように、連結プレート７２１と、ガイドピン７２２とを備える。
連結プレート７２１は、Ｘ軸に沿って延びる平面視矩形状の板体で構成され、ホルダ７１及び移動機構７３（後述するＹスライダ７３３）を連結する部材である。
この連結プレート７２１には、図４または図５に示すように、表裏を貫通したガイド孔７２１Ａ及び逃げ孔７２１Ｂが形成されている。
ガイド機構７２は、ホルダ７１の移動を案内し、各ブロックＳ，Ｍの第１〜第６測定箇所Ａ〜Ｆを測長センサ６の測定ポイントに導く機構である。
このガイド機構７２は、図４または図５に示すように、連結プレート７２１と、ガイドピン７２２とを備える。
連結プレート７２１は、Ｘ軸に沿って延びる平面視矩形状の板体で構成され、ホルダ７１及び移動機構７３（後述するＹスライダ７３３）を連結する部材である。
この連結プレート７２１には、図４または図５に示すように、表裏を貫通したガイド孔７２１Ａ及び逃げ孔７２１Ｂが形成されている。
ガイド孔７２１Ａは、略Ｖ字形状を有し、縁部分にガイドピン７２２を当接させながらホルダ７１を移動させることで、当該ホルダ７１の移動を案内し、第１〜第６測定箇所Ａ〜Ｆを測長センサ６の測定ポイントに導く。
このガイド孔７２１Ａの縁部分には、各ブロックＳ，Ｍの第１〜第６測定箇所Ａ〜Ｆ（図７参照）と同一の位置関係となるように配置された第１〜第６切欠部７２Ａ〜７２Ｆが形成されている。
第１〜第６切欠部７２Ａ〜７２Ｆは、各ブロックＳ，Ｍの第１〜第６測定箇所Ａ〜Ｆを測長センサ６の測定ポイントにそれぞれ位置決めするために用いられる。
逃げ孔７２１Ｂは、ガイド孔７２１Ａに連通し、Ｘ軸に沿って直線状に延びるように形成されている。そして、逃げ孔７２１Ｂは、ホルダ７１の移動を案内し、各ブロックＳ，Ｍを測定ポイントから同時に逃がすために用いられる。
このガイド孔７２１Ａの縁部分には、各ブロックＳ，Ｍの第１〜第６測定箇所Ａ〜Ｆ（図７参照）と同一の位置関係となるように配置された第１〜第６切欠部７２Ａ〜７２Ｆが形成されている。
第１〜第６切欠部７２Ａ〜７２Ｆは、各ブロックＳ，Ｍの第１〜第６測定箇所Ａ〜Ｆを測長センサ６の測定ポイントにそれぞれ位置決めするために用いられる。
逃げ孔７２１Ｂは、ガイド孔７２１Ａに連通し、Ｘ軸に沿って直線状に延びるように形成されている。そして、逃げ孔７２１Ｂは、ホルダ７１の移動を案内し、各ブロックＳ，Ｍを測定ポイントから同時に逃がすために用いられる。
ガイドピン７２２は、移動機構７３の後述する枠体７３１に取り付けられた固定部材７３１Ａの上面に突設され、比較測定用治具７を組み立てた状態で、ガイド孔７２１Ａや逃げ孔７２１Ｂに挿通される。
移動機構７３は、作業者に操作されることで、ガイド機構７２を介して、ホルダ７１を移動させる機構である。
図４に示すように、移動機構７３は、枠体７３１と、Ｘスライダ７３２と、Ｙスライダ７３３と、操作部７３４とを備える。
枠体７３１は、比較測定用治具７全体を支持しつつ、基台４の上面の＋Ｘ軸側に固定される。
この枠体７３１において、−Ｘ軸側の端部には、上面にガイドピン７２２を有する固定部材７３１Ａが固定されている。
図４に示すように、移動機構７３は、枠体７３１と、Ｘスライダ７３２と、Ｙスライダ７３３と、操作部７３４とを備える。
枠体７３１は、比較測定用治具７全体を支持しつつ、基台４の上面の＋Ｘ軸側に固定される。
この枠体７３１において、−Ｘ軸側の端部には、上面にガイドピン７２２を有する固定部材７３１Ａが固定されている。
Ｘスライダ７３２は、Ｘ軸に沿って移動可能な状態で枠体７３１内に収納されている。
Ｙスライダ７３３は、Ｘスライダ７３２に対して、２本のガイドレール７３２Ａを介して、Ｙ軸に沿って移動可能に取り付けられている。
操作部７３４は、作業者に操作される部分であり、Ｙスライダ７３３の＋Ｘ軸側の端部に接続し、当該＋Ｘ軸側の端部からＸ軸に沿って延出し、先端部分に作業者に把持される球状のつまみ部７３４Ａが設けられている。
以上の構成により、作業者により操作部７３４がＸ軸またはＹ軸に沿って移動されると、Ｘ，Ｙスライダ７３２，７３３を介して、連結プレート７２１及びホルダ７１がＸ軸またはＹ軸に沿って移動することとなる。
上述したガイド機構７２及び移動機構７３は、本発明に係る移動装置８に相当する。
Ｙスライダ７３３は、Ｘスライダ７３２に対して、２本のガイドレール７３２Ａを介して、Ｙ軸に沿って移動可能に取り付けられている。
操作部７３４は、作業者に操作される部分であり、Ｙスライダ７３３の＋Ｘ軸側の端部に接続し、当該＋Ｘ軸側の端部からＸ軸に沿って延出し、先端部分に作業者に把持される球状のつまみ部７３４Ａが設けられている。
以上の構成により、作業者により操作部７３４がＸ軸またはＹ軸に沿って移動されると、Ｘ，Ｙスライダ７３２，７３３を介して、連結プレート７２１及びホルダ７１がＸ軸またはＹ軸に沿って移動することとなる。
上述したガイド機構７２及び移動機構７３は、本発明に係る移動装置８に相当する。
〔演算装置の構成〕
演算装置３（図１参照）は、具体的な図示は省略したが、ＣＰＵ(Central Processing Unit)やハードディスクを備えた制御部本体と、マウスやキーボード等で構成された入力装置と、ディスプレイ等の表示装置等を備える。
そして、演算装置３は、第１〜第６測定箇所Ａ〜Ｆにおいて測長センサ６にて測定され、測長センサ６から出力される電気信号を取り込み、標準ブロックＳを基準に被測定ブロックＭの寸法差を演算処理する。
演算装置３（図１参照）は、具体的な図示は省略したが、ＣＰＵ(Central Processing Unit)やハードディスクを備えた制御部本体と、マウスやキーボード等で構成された入力装置と、ディスプレイ等の表示装置等を備える。
そして、演算装置３は、第１〜第６測定箇所Ａ〜Ｆにおいて測長センサ６にて測定され、測長センサ６から出力される電気信号を取り込み、標準ブロックＳを基準に被測定ブロックＭの寸法差を演算処理する。
〔端度器比較測定方法〕
次に、上述した比較測定機１を用いた端度器比較測定方法（以下、単に比較測定方法という）について説明する。
図６は、比較測定方法を説明するフローチャートである。
図７は、比較測定方法を説明するための図である。
具体的に、図７は、各ブロックＳ，Ｍが基準テーブル５に載置されているとともに、第１測定箇所Ａが測長センサ６の測定ポイントに位置付けられた状態を上方側から見た模式図であり、比較測定用治具７については図示を省略している。
なお、図７では、比較測定方法を実施している際の標準ブロックＳの中心位置Ｏの軌跡を実線の丸印で示し、第１〜第６測定箇所Ａ〜Ｆを破線の丸印で示している。
また、比較測定方法の開始前の状態では、図４においてガイドピン７２２が逃げ孔７２１Ｂ内に位置する状態、すなわち、ホルダ７１の保持孔７１Ａが測長センサ６の測定ポイントから離れた位置（以下、測定開始位置）に位置付けられているものとする。
次に、上述した比較測定機１を用いた端度器比較測定方法（以下、単に比較測定方法という）について説明する。
図６は、比較測定方法を説明するフローチャートである。
図７は、比較測定方法を説明するための図である。
具体的に、図７は、各ブロックＳ，Ｍが基準テーブル５に載置されているとともに、第１測定箇所Ａが測長センサ６の測定ポイントに位置付けられた状態を上方側から見た模式図であり、比較測定用治具７については図示を省略している。
なお、図７では、比較測定方法を実施している際の標準ブロックＳの中心位置Ｏの軌跡を実線の丸印で示し、第１〜第６測定箇所Ａ〜Ｆを破線の丸印で示している。
また、比較測定方法の開始前の状態では、図４においてガイドピン７２２が逃げ孔７２１Ｂ内に位置する状態、すなわち、ホルダ７１の保持孔７１Ａが測長センサ６の測定ポイントから離れた位置（以下、測定開始位置）に位置付けられているものとする。
先ず、作業者は、図４において長手方向がＹ軸に沿うように各ブロックＳ，Ｍをホルダ７１の保持孔７１Ａ内に収納する（図６のステップＳＴ１）。
次に、作業者は、操作部７３４を−Ｘ軸側に押し込み、各ブロックＳ，Ｍが測長センサ６の下方に位置するように、ホルダ７１（各ブロックＳ，Ｍ）を−Ｘ軸側に移動させる。
このホルダ７１の移動により、ガイドピン７２２は、ガイド孔７２１Ａ内に位置する状態となる。
そして、作業者は、図４の操作部７３４を操作して、ガイド孔７２１Ａの縁部分をガイドピン７２２に当接させながらホルダ７１を移動させ、測長センサ６の測定ポイントに測定箇所を位置付ける（図６のステップＳＴ２：移動工程）。
次に、作業者は、図１および図２に示す昇降ハンドル４Ｃを操作して昇降台４Ｂを下方に移動させ、測定ポイントに位置付けられた測定箇所に測定子６Ａを当接させ、当該測定箇所を測定する（図６のステップＳＴ３：測定工程）。また、作業者は、当該測定箇所の測定後、昇降ハンドル４Ｃを操作して昇降台４Ｂを上方に移動させる。
次に、作業者は、操作部７３４を−Ｘ軸側に押し込み、各ブロックＳ，Ｍが測長センサ６の下方に位置するように、ホルダ７１（各ブロックＳ，Ｍ）を−Ｘ軸側に移動させる。
このホルダ７１の移動により、ガイドピン７２２は、ガイド孔７２１Ａ内に位置する状態となる。
そして、作業者は、図４の操作部７３４を操作して、ガイド孔７２１Ａの縁部分をガイドピン７２２に当接させながらホルダ７１を移動させ、測長センサ６の測定ポイントに測定箇所を位置付ける（図６のステップＳＴ２：移動工程）。
次に、作業者は、図１および図２に示す昇降ハンドル４Ｃを操作して昇降台４Ｂを下方に移動させ、測定ポイントに位置付けられた測定箇所に測定子６Ａを当接させ、当該測定箇所を測定する（図６のステップＳＴ３：測定工程）。また、作業者は、当該測定箇所の測定後、昇降ハンドル４Ｃを操作して昇降台４Ｂを上方に移動させる。
そして、第１〜第６測定箇所Ａ〜Ｆを全て測定するまで、上述したステップＳＴ２，ＳＴ３を繰り返し実施する（ステップＳＴ４）。
なお、本実施形態では、ステップＳＴ２において、第１切欠部７２Ａをガイドピン７２２に位置決めした後、ガイド孔７２１Ａの縁部分をガイドピン７２２に当接させながら、図７に示すように、矢印Ａ１３，Ａ３４，Ａ４２，Ａ２５，Ａ５６の方向に順にホルダ７１を移動させる。そして、第３切欠部７２Ｃ、第４切欠部７２Ｄ、第２切欠部７２Ｂ、第５切欠部７２Ｅ、及び第６切欠部７２Ｆをガイドピン７２２に順に位置決めする。
すなわち、第１測定箇所Ａ、第３測定箇所Ｃ、第４測定箇所Ｄ、第２測定箇所Ｂ、第５測定箇所Ｅ、及び第６測定箇所Ｆの順に、測定ポイントに位置付ける。
そして、図６のステップＳＴ３において、上記の順に第１〜第６測定箇所Ａ〜Ｆを測定する。
なお、上記ホルダ７１の移動方向である矢印Ａ１３，Ａ３４，Ａ４２，Ａ２５，Ａ５６の方向（ガイド孔７２１Ａの縁部分の延びる方向）は全て、直線的であり、突条部５Ａの延びる方向に対して直角以外の角度で交差する方向（つまり突条部５Ａの延びる方向に対して平行でなくかつ直交しない方向）となっている。
なお、本実施形態では、ステップＳＴ２において、第１切欠部７２Ａをガイドピン７２２に位置決めした後、ガイド孔７２１Ａの縁部分をガイドピン７２２に当接させながら、図７に示すように、矢印Ａ１３，Ａ３４，Ａ４２，Ａ２５，Ａ５６の方向に順にホルダ７１を移動させる。そして、第３切欠部７２Ｃ、第４切欠部７２Ｄ、第２切欠部７２Ｂ、第５切欠部７２Ｅ、及び第６切欠部７２Ｆをガイドピン７２２に順に位置決めする。
すなわち、第１測定箇所Ａ、第３測定箇所Ｃ、第４測定箇所Ｄ、第２測定箇所Ｂ、第５測定箇所Ｅ、及び第６測定箇所Ｆの順に、測定ポイントに位置付ける。
そして、図６のステップＳＴ３において、上記の順に第１〜第６測定箇所Ａ〜Ｆを測定する。
なお、上記ホルダ７１の移動方向である矢印Ａ１３，Ａ３４，Ａ４２，Ａ２５，Ａ５６の方向（ガイド孔７２１Ａの縁部分の延びる方向）は全て、直線的であり、突条部５Ａの延びる方向に対して直角以外の角度で交差する方向（つまり突条部５Ａの延びる方向に対して平行でなくかつ直交しない方向）となっている。
そして、作業者は、第１〜第６測定箇所Ａ〜Ｆの全ての測定を終了した後、ガイドピン７２２が逃げ孔７２１Ｂ内に位置するように、ホルダ７１を＋Ｘ軸側に移動させ、各ブロックＳ，Ｍを交換可能な位置（以下、測定終了位置）にホルダ７１を位置付ける。
なお、上述した測定開始位置と測定終了位置とは同一の位置である。
以上の作業により、被測定ブロックＭの寸法検査を終了する。
なお、上述した測定開始位置と測定終了位置とは同一の位置である。
以上の作業により、被測定ブロックＭの寸法検査を終了する。
上述した第１実施形態によれば、以下の効果がある。
本実施形態では、基準テーブル５の上面に形成された複数の突条部５Ａは、ホルダ７１の移動方向（矢印Ａ１３，Ａ３４，Ａ４２，Ａ２５，Ａ５６の方向）に対して、直角以外の角度で交差する方向（つまり突条部５Ａの延びる方向に対して平行でなくかつ直交しない方向）に延びている。
このことにより、被測定ブロックＭの寸法検査において、各ブロックＳ，Ｍを突条部５Ａの延びる方向に対して平行な方向、及び直交する方向に移動させることがない。
このため、各ブロックＳ，Ｍの移動に伴い、突条部５Ａに対する各ブロックＳ，Ｍの接触箇所を移動させることができ、当該接触箇所が常に同一箇所となることがない。また、各ブロックＳ，Ｍが突条部５Ａの先端に一気に乗り上げることもなくなるため、各ブロックＳ，Ｍが微少に振動しながら移動することもなくなる。
以上のことから、寸法検査により、各ブロックＳ，Ｍの表面に傷が付くことを抑制でき、すなわち、各ブロックＳ，Ｍの表面の品質低下を抑制できる。
本実施形態では、基準テーブル５の上面に形成された複数の突条部５Ａは、ホルダ７１の移動方向（矢印Ａ１３，Ａ３４，Ａ４２，Ａ２５，Ａ５６の方向）に対して、直角以外の角度で交差する方向（つまり突条部５Ａの延びる方向に対して平行でなくかつ直交しない方向）に延びている。
このことにより、被測定ブロックＭの寸法検査において、各ブロックＳ，Ｍを突条部５Ａの延びる方向に対して平行な方向、及び直交する方向に移動させることがない。
このため、各ブロックＳ，Ｍの移動に伴い、突条部５Ａに対する各ブロックＳ，Ｍの接触箇所を移動させることができ、当該接触箇所が常に同一箇所となることがない。また、各ブロックＳ，Ｍが突条部５Ａの先端に一気に乗り上げることもなくなるため、各ブロックＳ，Ｍが微少に振動しながら移動することもなくなる。
以上のことから、寸法検査により、各ブロックＳ，Ｍの表面に傷が付くことを抑制でき、すなわち、各ブロックＳ，Ｍの表面の品質低下を抑制できる。
また、移動装置８がガイド機構７２及び移動機構７３を備えるので、比較測定機１を、被測定ブロックＭの寸法検査を手動で行う手動式の比較測定機として構成することができる。
このように手動式の比較測定機１とした場合であっても、上述したように突条部５Ａの形状を工夫することで、寸法検査に伴う各ブロックＳ，Ｍの表面の品質低下を抑制できる。
さらに、突条部５Ａが直線状に延びる形状を有していることから、突条部５Ａの製造、すなわち、基準テーブル５を容易に製造できる。
このように手動式の比較測定機１とした場合であっても、上述したように突条部５Ａの形状を工夫することで、寸法検査に伴う各ブロックＳ，Ｍの表面の品質低下を抑制できる。
さらに、突条部５Ａが直線状に延びる形状を有していることから、突条部５Ａの製造、すなわち、基準テーブル５を容易に製造できる。
[第２実施形態]
次に、本発明の第２実施形態について説明する。
図８は、第２実施形態における基準テーブル５の上面を示す模式図である。
なお、以下では、前記第１実施形態と同様の構成には同一の符号を付し、その詳細な説明については省略する。以下に記載する第３，第４実施形態でも同様である。
本実施形態では、前記第１実施形態に対して、基準テーブル５の上面に形成された複数の突条部５Ａの形状が異なる。その他の構成は、前記第１実施形態と同様である。
次に、本発明の第２実施形態について説明する。
図８は、第２実施形態における基準テーブル５の上面を示す模式図である。
なお、以下では、前記第１実施形態と同様の構成には同一の符号を付し、その詳細な説明については省略する。以下に記載する第３，第４実施形態でも同様である。
本実施形態では、前記第１実施形態に対して、基準テーブル５の上面に形成された複数の突条部５Ａの形状が異なる。その他の構成は、前記第１実施形態と同様である。
すなわち、本実施形態の突条部５Ａは、図８に示すように、基準テーブル５の上面の面内で、ホルダ７１の移動方向に対する傾き角度を変えながら波形に延びるように形成されている。
具体的に、突条部５Ａは、基準テーブル５の上面の面内で曲線状に延びるように形成されている。そして、複数の突条部５Ａは、所定間隔で並ぶように設けられている。
上述した第２実施形態のように突条部５Ａを曲線状に形成した場合であっても、前記第１実施形態と同様の作用及び効果を享受できる。
具体的に、突条部５Ａは、基準テーブル５の上面の面内で曲線状に延びるように形成されている。そして、複数の突条部５Ａは、所定間隔で並ぶように設けられている。
上述した第２実施形態のように突条部５Ａを曲線状に形成した場合であっても、前記第１実施形態と同様の作用及び効果を享受できる。
[第３実施形態]
次に、本発明の第３実施形態について説明する。
図９は、第３実施形態における基準テーブル５の上面を示す模式図である。
本実施形態では、前記第１実施形態に対して、基準テーブル５の上面の形状が異なる。その他の構成は、前記第１実施形態と同様である。
すなわち、本実施形態の基準テーブル５の上面（各ブロックＳ，Ｍが載置される面）には、図９に示すように、当該上面に対する各々の上端の高さが同一とされたピン状の複数の突起部５Ｂがランダムに形成されている。
上述した第３実施形態のように基準テーブル５の上面に複数の突起部５Ｂを形成した場合であっても、前記第１実施形態と同様の作用及び効果を享受できる。
次に、本発明の第３実施形態について説明する。
図９は、第３実施形態における基準テーブル５の上面を示す模式図である。
本実施形態では、前記第１実施形態に対して、基準テーブル５の上面の形状が異なる。その他の構成は、前記第１実施形態と同様である。
すなわち、本実施形態の基準テーブル５の上面（各ブロックＳ，Ｍが載置される面）には、図９に示すように、当該上面に対する各々の上端の高さが同一とされたピン状の複数の突起部５Ｂがランダムに形成されている。
上述した第３実施形態のように基準テーブル５の上面に複数の突起部５Ｂを形成した場合であっても、前記第１実施形態と同様の作用及び効果を享受できる。
[第４実施形態]
次に、本発明の第４実施形態について説明する。
前記第１実施形態では、比較測定機１は、被測定ブロックＭの寸法検査を手動で行う手動式の比較測定機で構成されていた。
これに対して第２実施形態では、比較測定機１は、被測定ブロックＭの寸法検査を自動で行う自動式の比較測定機で構成されている。
すなわち、本実施形態では、前記第１実施形態に対して、移動装置８の構成が異なる。
また、本実施形態では、比較測定機１を自動式で構成したことに伴い、連結プレート７２１のガイド孔７２１Ａ及び逃げ孔７２１Ｂ、ガイドピン７２２が省略されている。
さらに、本実施形態では、基準テーブル５の上面に形成された突条部５Ａは、Ｘ軸に沿って直線状に延びるように形成されている（図１１参照）。
次に、本発明の第４実施形態について説明する。
前記第１実施形態では、比較測定機１は、被測定ブロックＭの寸法検査を手動で行う手動式の比較測定機で構成されていた。
これに対して第２実施形態では、比較測定機１は、被測定ブロックＭの寸法検査を自動で行う自動式の比較測定機で構成されている。
すなわち、本実施形態では、前記第１実施形態に対して、移動装置８の構成が異なる。
また、本実施形態では、比較測定機１を自動式で構成したことに伴い、連結プレート７２１のガイド孔７２１Ａ及び逃げ孔７２１Ｂ、ガイドピン７２２が省略されている。
さらに、本実施形態では、基準テーブル５の上面に形成された突条部５Ａは、Ｘ軸に沿って直線状に延びるように形成されている（図１１参照）。
図１０は、第４実施形態における移動装置８の構成を示すブロック図である。
第４実施形態における移動装置８は、図１０に示すように、移動機構７３の他、駆動装置８１と、制御装置としての制御部本体８２を備える。
駆動装置８１は、モーター等で構成され、制御部本体８２による制御の下、Ｘ，Ｙスライダ７３２，７３３（ホルダ７１）や昇降台４Ｂを移動させる。
制御部本体８２は、演算装置３を構成する制御部本体であって、メモリー（図示略）に記憶された制御プログラムにしたがって、駆動装置８１の動作を制御する。
第４実施形態における移動装置８は、図１０に示すように、移動機構７３の他、駆動装置８１と、制御装置としての制御部本体８２を備える。
駆動装置８１は、モーター等で構成され、制御部本体８２による制御の下、Ｘ，Ｙスライダ７３２，７３３（ホルダ７１）や昇降台４Ｂを移動させる。
制御部本体８２は、演算装置３を構成する制御部本体であって、メモリー（図示略）に記憶された制御プログラムにしたがって、駆動装置８１の動作を制御する。
次に、第４実施形態における比較測定方法について説明する。
なお、第４実施形態の比較測定方法は、前記第１実施形態に対して、ホルダ７１の移動方向、及び第１〜第６測定箇所Ａ〜Ｆの測定順序が異なるのみである。
図１１は、第４実施形態における比較測定方法を説明するための図である。
具体的に、図１１は、図７に対応した図である。
ステップＳＴ１の後、作業者は、演算装置３の入力装置（図示略）を操作する。そして、制御部本体８２は、上記入力装置への操作に応じて、メモリー（図示略）に記憶された制御プログラムを読み出し、以下の処理を実行する。
なお、第４実施形態の比較測定方法は、前記第１実施形態に対して、ホルダ７１の移動方向、及び第１〜第６測定箇所Ａ〜Ｆの測定順序が異なるのみである。
図１１は、第４実施形態における比較測定方法を説明するための図である。
具体的に、図１１は、図７に対応した図である。
ステップＳＴ１の後、作業者は、演算装置３の入力装置（図示略）を操作する。そして、制御部本体８２は、上記入力装置への操作に応じて、メモリー（図示略）に記憶された制御プログラムを読み出し、以下の処理を実行する。
先ず、制御部本体８２は、測定開始位置からホルダ７１を移動させ、測長センサ６の測定ポイントに第１測定箇所Ａを位置付ける（ステップＳＴ２）。そして、制御部本体８２は、昇降台４Ｂを下方に移動させて、第１測定箇所Ａを測定する（ステップＳＴ３）。また、制御部本体８２は、第１測定箇所Ａの測定後、昇降台４Ｂを上方に移動させる。
そして、制御部本体８２は、ホルダ７１を移動させ、第２〜第６測定箇所Ｂ〜Ｆの順に、第２〜第６測定箇所Ｂ〜Ｆを測定ポイントに位置付け（ステップＳＴ２）、上記同様に、第２〜第６測定箇所Ｂ〜Ｆを測定する（ステップＳＴ３）。
なお、制御部本体８２は、測定箇所を第１測定箇所Ａから第２測定箇所Ｂに変更する際には、図１１に示すように、Ｘ軸に対して直角以外の角度で交差する矢印Ａ１２１の方向に一旦、ホルダ７１を移動させる。この後、制御部本体８２は、Ｘ軸に対して同様に交差する矢印Ａ１２２の方向にホルダ７１を移動させることで、測定ポイントに第２測定箇所Ｂを位置付ける。
そして、制御部本体８２は、ホルダ７１を移動させ、第２〜第６測定箇所Ｂ〜Ｆの順に、第２〜第６測定箇所Ｂ〜Ｆを測定ポイントに位置付け（ステップＳＴ２）、上記同様に、第２〜第６測定箇所Ｂ〜Ｆを測定する（ステップＳＴ３）。
なお、制御部本体８２は、測定箇所を第１測定箇所Ａから第２測定箇所Ｂに変更する際には、図１１に示すように、Ｘ軸に対して直角以外の角度で交差する矢印Ａ１２１の方向に一旦、ホルダ７１を移動させる。この後、制御部本体８２は、Ｘ軸に対して同様に交差する矢印Ａ１２２の方向にホルダ７１を移動させることで、測定ポイントに第２測定箇所Ｂを位置付ける。
また、制御部本体８２は、測定箇所を第３測定箇所Ｃから第４測定箇所Ｄに変更する際、測定箇所を第４測定箇所Ｄから第５測定箇所Ｅに変更する際、及び測定箇所を第５測定箇所Ｅから第６測定箇所Ｆに変更する際も、上記同様に、ホルダ７１を移動させる。
すなわち、制御部本体８２は、図１１に示すように、Ｘ軸に対して直角以外の角度で交差する矢印Ａ３４１，Ａ４５１，Ａ５６１の方向に一旦、ホルダ７１を移動させた後、Ｘ軸に対して同様に交差する矢印Ａ３４２，Ａ４５２，Ａ５６２の方向にホルダ７１を移動させる。
一方、制御部本体８２は、測定箇所を第２測定箇所Ｂから第３測定箇所Ｃに変更する際には、図１１に示すように、上記とは異なり、矢印Ａ２３の方向にホルダ７１を移動させることで、測定ポイントに第３測定箇所Ｃを位置付ける。
すなわち、制御部本体８２は、図１１に示すように、Ｘ軸に対して直角以外の角度で交差する矢印Ａ３４１，Ａ４５１，Ａ５６１の方向に一旦、ホルダ７１を移動させた後、Ｘ軸に対して同様に交差する矢印Ａ３４２，Ａ４５２，Ａ５６２の方向にホルダ７１を移動させる。
一方、制御部本体８２は、測定箇所を第２測定箇所Ｂから第３測定箇所Ｃに変更する際には、図１１に示すように、上記とは異なり、矢印Ａ２３の方向にホルダ７１を移動させることで、測定ポイントに第３測定箇所Ｃを位置付ける。
なお、上記ホルダ７１の移動方向である矢印Ａ１２１，Ａ１２２，Ａ３４１，Ａ３４２，Ａ４５１，Ａ４５２，Ａ５６１，Ａ５６２，Ａ２３の方向は全て、直線的であり、突条部５Ａの延びる方向（Ｘ軸方向）に対して直角以外の角度で交差する方向（つまり突条部５Ａの延びる方向に対して平行でなくかつ直交しない方向）となっている。
上述した第４実施形態のように、比較測定機を自動式の比較測定機とした場合であっても、上述した第１実施形態と同様の作用及び効果を享受できる。
なお、本発明は、前記実施形態に限定されるものではなく、本発明の目的を達成できる範囲での変形、改良等は本発明に含まれるものである。
前記各実施形態では、本発明に係る測定プローブとして、接触型のプローブである測長センサ６を採用していたが、これに限らず、例えば、光波干渉測定により非接触で測定箇所を測定するプローブを採用しても構わない。
前記各実施形態では、端度器として、ゲージブロックを例示していたが、本発明はゲージブロック以外の端度器にも適用可能である。
前記各実施形態では、本発明に係る測定プローブとして、接触型のプローブである測長センサ６を採用していたが、これに限らず、例えば、光波干渉測定により非接触で測定箇所を測定するプローブを採用しても構わない。
前記各実施形態では、端度器として、ゲージブロックを例示していたが、本発明はゲージブロック以外の端度器にも適用可能である。
図１２は、第１実施形態における比較測定方法の変形例を示す図である。
具体的に、図１２は、図７や図１１に対応した図である。
前記第１〜第４実施形態において、第１〜第６測定箇所Ａ〜Ｆの測定順序は、前記各実施形態で説明した測定順序に限らない。
例えば、前記第１実施形態において、前記第４実施形態と同様に、第１〜第６測定箇所Ａ〜Ｆの順に測定を行っても構わない。
この際、図１２に示すように、ホルダ７１の移動方向（矢印Ａ１２，Ａ２３，Ａ３４，Ａ４５，Ａ５６の方向）を全て、直線的に設定する。
このように測定を行った場合であっても、突条部５ＡがＸ軸に対して直角以外の角度で交差する方向（つまりＸ軸方向に対して直交せず、かつ平行でない方向）に延びるように形成されているため、ホルダ７１の移動方向を突条部５Ａの延びる方向に対して直角以外の角度で交差する方向（つまり突条部５Ａの延びる方向に対して平行でなくかつ直交しない方向）に設定することができる。
また、例えば、前記第４実施形態において、ホルダ７１の移動方向を突条部５Ａの延びる方向に対して直角以外の角度で交差するように設定していれば、前記第１〜第３実施形態で説明した測定順序で測定を行っても構わない。
具体的に、図１２は、図７や図１１に対応した図である。
前記第１〜第４実施形態において、第１〜第６測定箇所Ａ〜Ｆの測定順序は、前記各実施形態で説明した測定順序に限らない。
例えば、前記第１実施形態において、前記第４実施形態と同様に、第１〜第６測定箇所Ａ〜Ｆの順に測定を行っても構わない。
この際、図１２に示すように、ホルダ７１の移動方向（矢印Ａ１２，Ａ２３，Ａ３４，Ａ４５，Ａ５６の方向）を全て、直線的に設定する。
このように測定を行った場合であっても、突条部５ＡがＸ軸に対して直角以外の角度で交差する方向（つまりＸ軸方向に対して直交せず、かつ平行でない方向）に延びるように形成されているため、ホルダ７１の移動方向を突条部５Ａの延びる方向に対して直角以外の角度で交差する方向（つまり突条部５Ａの延びる方向に対して平行でなくかつ直交しない方向）に設定することができる。
また、例えば、前記第４実施形態において、ホルダ７１の移動方向を突条部５Ａの延びる方向に対して直角以外の角度で交差するように設定していれば、前記第１〜第３実施形態で説明した測定順序で測定を行っても構わない。
図１３は、第２実施形態における突条部５Ａの変形例を示す図である。
前記第２実施形態では、突条部５Ａは、曲線状に延びるように形成されていたが、移動方向に対する傾き角度が変化しながら延びていれば、例えば、図１３に示すように、直線状に延びる部分が連設された台形波形状としても構わない。
前記第２実施形態では、突条部５Ａは、曲線状に延びるように形成されていたが、移動方向に対する傾き角度が変化しながら延びていれば、例えば、図１３に示すように、直線状に延びる部分が連設された台形波形状としても構わない。
本発明は、標準端度器を基準に被測定端度器の寸法差を測定する端度器比較測定機に利用できる。
１・・・端度器比較測定機
５・・・基準テーブル
５Ａ・・・突条部
５Ｂ・・・突起部
６・・・測長センサ（測定プローブ）
８・・・移動装置
７１・・・ホルダ
７２・・・ガイド機構
７３・・・移動機構
８１・・・駆動装置
８２・・・制御部本体（制御装置）
Ｓ・・・標準ゲージブロック（標準端度器）
Ｍ・・・被測定ゲージブロック（被測定端度器）
ＳＴ２・・・移動工程
ＳＴ３・・・測定工程
５・・・基準テーブル
５Ａ・・・突条部
５Ｂ・・・突起部
６・・・測長センサ（測定プローブ）
８・・・移動装置
７１・・・ホルダ
７２・・・ガイド機構
７３・・・移動機構
８１・・・駆動装置
８２・・・制御部本体（制御装置）
Ｓ・・・標準ゲージブロック（標準端度器）
Ｍ・・・被測定ゲージブロック（被測定端度器）
ＳＴ２・・・移動工程
ＳＴ３・・・測定工程
Claims (6)
- 端度器の寸法を測定する測定プローブを有し、標準端度器を基準にして前記標準端度器と被測定端度器との寸法差を測定する端度器比較測定機であって、
前記標準端度器及び前記被測定端度器が載置される基準テーブルと、
前記基準テーブル上に設けられ、前記標準端度器及び前記被測定端度器を保持するホルダと、
前記ホルダを移動させ、前記標準端度器及び前記被測定端度器の複数の測定箇所を前記測定プローブの測定ポイントに順に導くための移動装置とを備え、
前記移動装置は、前記測定箇所を変更する際、前記ホルダを移動させ、
前記基準テーブルの前記標準端度器及び前記被測定端度器が載置される面には、前記面内で直線状に延びる複数の突条部が形成され、
前記複数の突条部は、前記移動装置による前記ホルダの移動方向に対して、平行とならない方向に延びている
ことを特徴とする端度器比較測定機。 - 端度器の寸法を測定する測定プローブを有し、標準端度器を基準にして前記標準端度器と被測定端度器との寸法差を測定する端度器比較測定機であって、
前記標準端度器及び前記被測定端度器が載置される基準テーブルと、
前記基準テーブル上に設けられ、前記標準端度器及び前記被測定端度器を保持するホルダと、
前記ホルダを移動させ、前記標準端度器及び前記被測定端度器の複数の測定箇所を前記測定プローブの測定ポイントに順に導くための移動装置とを備え、
前記移動装置は、前記測定箇所を変更する際、前記ホルダを移動させ、
前記基準テーブルの前記標準端度器及び前記被測定端度器が載置される面には、前記面内を延びかつ前記移動装置による前記ホルダの移動方向に対して角度が変化する複数の突条部が形成されている
ことを特徴とする端度器比較測定機。 - 端度器の寸法を測定する測定プローブを有し、標準端度器を基準にして前記標準端度器と被測定端度器との寸法差を測定する端度器比較測定機であって、
前記標準端度器及び前記被測定端度器が載置される基準テーブルと、
前記基準テーブル上に設けられ、前記標準端度器及び前記被測定端度器を保持するホルダと、
前記ホルダを移動させ、前記標準端度器及び前記被測定端度器の複数の測定箇所を前記測定プローブの測定ポイントに順に導くための移動装置とを備え、
前記基準テーブルの上面には、
ピン状の複数の突起部が形成されている
ことを特徴とする端度器比較測定機。 - 請求項１から請求項３のいずれかに記載の端度器比較測定機において、
前記移動装置は、
前記ホルダを移動可能とする移動機構と、
前記ホルダの移動方向を規制し、前記ホルダの移動を案内するガイド機構とを備える
ことを特徴とする端度器比較測定機。 - 請求項１から請求項３のいずれかに記載の端度器比較測定機において、
前記移動装置は、
前記ホルダを移動可能とする移動機構と、
前記移動機構を動作させる駆動装置と、
前記駆動装置を制御する制御装置とを備える
ことを特徴とする端度器比較測定機。 - 端度器の寸法を測定する測定プローブを有し、標準端度器を基準にして前記標準端度器と被測定端度器との寸法差を測定する端度器比較測定機に用いられる端度器比較測定方法であって、
前記端度器比較測定機は、
前記標準端度器及び前記被測定端度器が載置される基準テーブルと、
前記基準テーブル上に設けられ、前記標準端度器及び前記被測定端度器を保持するホルダとを備え、
前記基準テーブルの前記標準端度器及び前記被測定端度器が載置される面には、前記の面内で直線状に延びる複数の突条部が形成され、
当該端度器比較測定方法は、
前記ホルダを移動させ、前記標準端度器及び前記被測定端度器の複数の測定箇所を前記測定プローブの測定ポイントに順に導く移動工程と、
前記測定ポイントに導かれた前記測定箇所を前記測定プローブにより測定する測定工程とを備え、
前記移動工程では、
前記複数の突条部の延びる方向に対して、平行とならない方向に前記ホルダを移動させる
ことを特徴とする端度器比較測定方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2012196665A JP2014052273A (ja) | 2012-09-06 | 2012-09-06 | 端度器比較測定機及び端度器比較測定方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2012196665A JP2014052273A (ja) | 2012-09-06 | 2012-09-06 | 端度器比較測定機及び端度器比較測定方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2014052273A true JP2014052273A (ja) | 2014-03-20 |
Family
ID=50610867
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2012196665A Pending JP2014052273A (ja) | 2012-09-06 | 2012-09-06 | 端度器比較測定機及び端度器比較測定方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2014052273A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2020027090A (ja) * | 2018-08-17 | 2020-02-20 | 地方独立行政法人東京都立産業技術研究センター | 比較測定機用校正ゲージ及び比較測定機の校正方法 |
-
2012
- 2012-09-06 JP JP2012196665A patent/JP2014052273A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2020027090A (ja) * | 2018-08-17 | 2020-02-20 | 地方独立行政法人東京都立産業技術研究センター | 比較測定機用校正ゲージ及び比較測定機の校正方法 |
| JP7092348B2 (ja) | 2018-08-17 | 2022-06-28 | 地方独立行政法人東京都立産業技術研究センター | 比較測定機用校正ゲージ及び比較測定機の校正方法 |
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