JP2010267023A - テストデータ生成方法及び装置及びプログラム - Google Patents
テストデータ生成方法及び装置及びプログラム Download PDFInfo
- Publication number
- JP2010267023A JP2010267023A JP2009116917A JP2009116917A JP2010267023A JP 2010267023 A JP2010267023 A JP 2010267023A JP 2009116917 A JP2009116917 A JP 2009116917A JP 2009116917 A JP2009116917 A JP 2009116917A JP 2010267023 A JP2010267023 A JP 2010267023A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- test data
- level
- data specification
- factor
- input
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Images
Landscapes
- Debugging And Monitoring (AREA)
Abstract
【解決手段】 本発明は、ユーザ端末より、UMLクラス図とアクティビティ図のみで記述した設計モデルを読み込み、設計モデルからアクティビティ図をテスト対象として抽出し、テスト対象から実行経路を抽出する。抽出された各実行経路の制約条件に基づいて、テストデータ仕様を更新する。テストデータ仕様を読み込み、因子毎に、「水準」を生成し、因子と水準の組み合わせである「入力」に対する実行経路を取得し、「入力」が実行経路にとって許容する入力である正常入力、または、該実行経路にとって許容しない入力である異常入力のいずれであるか、及び、実行経路中に事後条件が含まれるか否かにより期待値を求め、「入力」に該期待値を付与したテストデータを生成する。
【選択図】 図1
Description
ユーザ端末より、UMLクラス図とアクティビティ図のみで記述した設計モデルを読み込む設計モデル読込手段1と、
読み込まれた設計モデルからアクティビティ図をテスト対象として抽出する設計モデル分析手段2と、
テスト対象から実行経路を抽出する実行経路抽出手段3と、
実行経路抽出手段3から抽出された各実行経路を持つアクティビティの入力パラメータを変数(実験計画法でいう「因子」)とし、該変数が満たすべき制約条件を実行経路の始点ノードから終点ノードを走査することで抽出し、該制約条件及び変数の型に基づいて、テストデータ仕様記憶手段8に格納されているテストデータ仕様を更新するテストデータ仕様生成手段4と、
テストデータ仕様記憶手段8からテストデータ仕様を読み込み、該テストデータ仕様毎に、因子のとる値(実験計画法でいう「水準」)を生成し、該因子と該水準を記憶手段に格納する水準生成手段5と、
因子と水準を取得して、該因子と該水準の組み合わせである「入力」に対する実行経路を取得し、該「入力」が実行経路にとって許容する入力である正常入力、または、該実行経路にとって許容しない入力である異常入力のいずれであるか、及び、実行経路中に事後条件が含まれるか否かにより期待値を求め、該「入力」に該期待値を付与したテストデータを生成する組み合わせ手段6と、
テストデータをユーザ端末に出力する出力手段7と、を有する。
テストデータ仕様が、オブジェクト型であるとき、
制約条件に含まれるオペレータが「null(ヌル)でない」の場合は、テストデータ仕様記憶手段のオブジェクト型テストデータ仕様に「Nullを許容しない」ことを記録する手段と、
制約条件に含まれるオペレータが「nullである」の場合は、テストデータ仕様記憶手段のオブジェクト型テストデータ仕様に「nullを許容する」ことを記録する手段と、
制約条件に含まれるオペレータが上記以外である場合は、テストデータ仕様記憶手段のテストデータ仕様に含まれる各属性の仕様の列を取得して、該テストデータ仕様の因子名と制約条件に含まれる因子名を比較して、一致する場合には、該制約条件を用いて該テストデータ仕様を更新する手段と、を含む。
テストデータ仕様が、オブジェクト型であるとき、水準を生成せず、
組み合わせ生成手段6は、
テストデータ仕様が、オブジェクト型であるとき、
オブジェクト型の階層構造を展開した際に、リーフのいずれかに異常を含む組み合わせをオブジェクト型の異常水準として生成し、全て正常である組み合わせを正常水準として生成する手段を含む。
水準生成手段5で求められた全因子の全ての正常水準を取得し、全因子の中で最も正常水準を多く持つ因子Aの正常水準数を特定し、該因子Aの正常水準を該正常水準数だけテストデータの正常入力に設定し、該因子A以外の各因子については、該因子の正常水準をテストデータに設定する手段と、
水準生成手段5で求められた全因子の全ての異常水準を取得し、該異常水準数を特定し、生成した正常入力を異常入力に上書きする手段と、を含む。
ユーザ端末より、UMLクラス図とアクティビティ図のみで記述した設計モデルを読み込む設計モデル読込ステップ(ステップ1)と、
読み込まれた設計モデルからアクティビティ図をテスト対象として抽出する設計モデル分析ステップ(ステップ2)と、
テスト対象から実行経路を抽出する実行経路抽出ステップ(ステップ3)と、
抽出された各実行経路を持つアクティビティの入力パラメータを変数(実験計画法でいう「因子」)とし、該変数が満たすべき制約条件を実行経路の始点ノードから終点ノードを走査することで抽出し、該制約条件及び変数の型に基づいて、テストデータ仕様記憶手段に格納されているテストデータ仕様を更新するテストデータ仕様生成ステップ(ステップ4)と、
テストデータ仕様記憶手段からテストデータ仕様を読み込み、該テストデータ仕様毎に、因子のとる値(実験計画法でいう「水準」)を生成し、該因子と該水準を記憶手段に格納する水準生成ステップ(ステップ5)と、
因子と水準を取得して、該因子と該水準の組み合わせである「入力」に対する実行経路を取得し、該「入力」が実行経路にとって許容する入力である正常入力、または、該実行経路にとって許容しない入力である異常入力のいずれであるか、及び、実行経路中に事後条件が含まれるか否かにより期待値を求め、該「入力」に該期待値を付与したテストデータを生成する組み合わせステップ(ステップ6)と、
テストデータをユーザ端末に出力する出力ステップ(ステップ7)と、を行う。
テストデータ仕様が、オブジェクト型であるとき、
制約条件に含まれるオペレータが「null(ヌル)でない」の場合は、テストデータ仕様記憶手段のオブジェクト型テストデータ仕様に「Nullを許容しない」ことを記録し、
制約条件に含まれるオペレータが「nullである」の場合は、テストデータ仕様記憶手段のオブジェクト型テストデータ仕様に「nullを許容する」ことを記録し、
制約条件に含まれるオペレータが上記以外である場合は、テストデータ仕様記憶手段のテストデータ仕様に含まれる各属性の仕様の列を取得して、該テストデータ仕様の因子名と制約条件に含まれる因子名を比較して、一致する場合には、該制約条件を用いて該テストデータ仕様を更新する。
組み合わせ生成ステップにおいて、オブジェクト型の階層構造を展開した際に、リーフのいずれかに異常を含む組み合わせをオブジェクト型の異常水準として生成し、全て正常である組み合わせを正常水準として生成する。
水準生成ステップで求められた全因子の全ての正常水準を取得し、全因子の中で最も正常水準を多く持つ因子Aの正常水準数を特定し、該因子Aの正常水準を該正常水準数だけテストデータの正常入力に設定し、該因子A以外の各因子については、該因子の正常水準をテストデータに設定し、
全因子の全ての異常水準を取得し、該異常水準数を特定し、生成した正常入力を異常入力に上書きする。
ステップ160) 出力部7は、テストデータ記憶部13からテストデータを取得してユーザ端末20のビューア22に出力する。
次に、上記のステップ130のテストデータ仕様生成部4の動作を説明する。
次に、図7のステップ140の水準生成部4の処理について説明する。
次に、図7のステップ150におけるテストデータ生成部6の動作について説明する。
2 設計モデル分析手段、設計モデル分析部
3 実行経路抽出手段、実行経路抽出部
4 テストデータ仕様生成手段、テストデータ仕様生成部
5 水準生成手段、水準生成部
6 組み合わせ手段、データ生成部
7 出力手段、出力部
8 テストデータ仕様記憶手段、テストデータ仕様記憶部
11 実行経路・水準記憶部
12 テストデータ仕様記憶部
13 テストデータ記憶部
Claims (9)
- システムの設計情報を形式的な言語で記述した設計モデルの設計意図に沿って、システムが構築されたか否かを確認するためのテストデータを生成するテストデータ生成装置であって、
ユーザ端末より、UMLクラス図とアクティビティ図のみで記述した設計モデルを読み込む設計モデル読込手段と、
読み込まれた前記設計モデルからアクティビティ図をテスト対象として抽出する設計モデル分析手段と、
前記テスト対象から実行経路を抽出する実行経路抽出手段と、
前記実行経路抽出手段から抽出された各実行経路を持つアクティビティの入力パラメータを変数(実験計画法でいう「因子」)とし、変数が満たすべき制約条件を実行経路の始点ノードから終点ノードを走査することで抽出し、該制約条件及び変数の型に基づいて、テストデータ仕様記憶手段に格納されているテストデータ仕様を更新するテストデータ仕様生成手段と、
前記テストデータ仕様記憶手段から前記テストデータ仕様を読み込み、該テストデータ仕様毎に、前記因子のとる値(実験計画法でいう「水準」)を生成し、該因子と該水準を記憶手段に格納する水準生成手段と、
前記因子と前記水準を取得して、該因子と該水準の組み合わせである「入力」に対する実行経路を取得し、該「入力」が実行経路にとって許容する入力である正常入力、または、該実行経路にとって許容しない入力である異常入力のいずれであるか、及び、実行経路中に事後条件が含まれるか否かにより期待値を求め、該「入力」に該期待値を付与したテストデータを生成する組み合わせ手段と、
前記テストデータを前記ユーザ端末に出力する出力手段と、
を有することを特徴とするテストデータ生成装置。 - 前記テストデータ仕様生成手段は、
前記テストデータ仕様が、オブジェクト型であるとき、
前記制約条件に含まれるオペレータが「null(ヌル)でない」の場合は、前記テストデータ仕様記憶手段のオブジェクト型テストデータ仕様に「Nullを許容しない」ことを記録する手段と、
前記制約条件に含まれるオペレータが「nullである」の場合は、前記テストデータ仕様記憶手段のオブジェクト型テストデータ仕様に「nullを許容する」ことを記録する手段と、
前記前記制約条件に含まれるオペレータが上記以外である場合は、前記テストデータ仕様記憶手段のテストデータ仕様に含まれる各属性の仕様の列を取得して、該テストデータ仕様の因子名と前記制約条件に含まれる因子名を比較して、一致する場合には、該制約条件を用いて該テストデータ仕様を更新する手段と、を含む
請求項2記載のテストデータ生成装置。 - 前記水準生成手段は、
前記テストデータ仕様が、オブジェクト型であるとき、前記水準を生成せず、
前記組み合わせ生成手段は、
前記テストデータ仕様が、オブジェクト型であるとき、
オブジェクト型の階層構造を展開した際に、リーフのいずれかに異常を含む組み合わせをオブジェクト型の異常水準として生成し、全て正常である組み合わせを正常水準として生成する手段を含む
請求項1記載のテストデータ生成装置。 - 前記組み合わせ生成手段は、
前記水準生成手段で求められた全因子の全ての正常水準を取得し、全因子の中で最も正常水準を多く持つ因子Aの正常水準数を特定し、該因子Aの正常水準を該正常水準数だけテストデータの正常入力に設定し、該因子A以外の各因子については、該因子の正常水準をテストデータに設定する手段と、
前記水準生成手段で求められた全因子の全ての異常水準を取得し、該異常水準数を特定し、生成した前記正常入力を異常入力に上書きする手段と、
を含む請求項1記載のテストデータ生成装置。 - システムの設計情報を形式的な言語で記述した設計モデルの設計意図に沿って、システムが構築されたか否かを確認するためのテストデータを生成するテストデータ生成方法であって、
ユーザ端末より、UMLクラス図とアクティビティ図のみで記述した設計モデルを読み込む設計モデル読込ステップと、
読み込まれた前記設計モデルからアクティビティ図をテスト対象として抽出する設計モデル分析ステップと、
前記テスト対象から実行経路を抽出する実行経路抽出ステップと、
抽出された各実行経路を持つアクティビティの入力パラメータを変数(実験計画法でいう「因子」)とし、該変数が満たすべき制約条件を実行経路の始点ノードから終点ノードを走査することで抽出し、該制約条件及び変数の型に基づいて、テストデータ仕様記憶手段に格納されているテストデータ仕様を更新するテストデータ仕様生成ステップと、
前記テストデータ仕様記憶手段から前記テストデータ仕様を読み込み、該テストデータ仕様毎に、前記因子のとる値(実験計画法でいう「水準」)を生成し、該因子と該水準を記憶手段に格納する水準生成ステップと、
前記因子と前記水準を取得して、該因子と該水準の組み合わせである「入力」に対する実行経路を取得し、該「入力」が実行経路にとって許容する入力である正常入力、または、該実行経路にとって許容しない入力である異常入力のいずれであるか、及び、実行経路中に事後条件が含まれるか否かにより期待値を求め、該「入力」に該期待値を付与したテストデータを生成する組み合わせステップと、
前記テストデータを前記ユーザ端末に出力する出力ステップと、
を行うことを特徴とするテストデータ生成方法。 - 前記テストデータ仕様生成ステップにおいて、
前記テストデータ仕様が、オブジェクト型であるとき、
前記制約条件に含まれるオペレータが「null(ヌル)でない」の場合は、前記テストデータ仕様記憶手段のオブジェクト型テストデータ仕様に「Nullを許容しない」ことを記録し、
前記制約条件に含まれるオペレータが「nullである」の場合は、前記テストデータ仕様記憶手段に「nullを許容する」ことを記録する、
前記前記制約条件に含まれるオペレータが上記以外である場合は、前記テストデータ仕様記憶手段のテストデータ仕様に含まれる各属性の仕様の列を取得して、該テストデータ仕様の因子名と前記制約条件に含まれる因子名を比較して、一致する場合には、該制約条件を用いて該テストデータ仕様を更新する
請求項5記載のテストデータ生成方法。 - 前記水準生成ステップにおいて、前記テストデータ仕様が、オブジェクト型であるとき、前記水準は生成せずに、
前記組み合わせ生成ステップにおいて、オブジェクト型の階層構造を展開した際に、リーフのいずれかに異常を含む組み合わせをオブジェクト型の異常水準として生成し、全て正常である組み合わせを正常水準として生成する
請求項5記載のテストデータ生成方法。 - 前記組み合わせステップにおいて、
前記水準生成ステップで求められた全因子の全ての正常水準を取得し、全因子の中で最も正常水準を多く持つ因子Aの正常水準数を特定し、該因子Aの正常水準を該正常水準数だけテストデータの正常入力に設定し、該因子A以外の各因子については、該因子の正常水準をテストデータに設定し、
全因子の全ての異常水準を取得し、該異常水準数を特定し、生成した前記正常入力を異常入力に上書きする
請求項5記載のテストデータ生成方法。 - 請求項1乃至4記載のいずれか1項記載のテストデータ生成装置を構成する各手段としてコンピュータを機能させるためのテストデータ生成プログラム。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2009116917A JP5164919B2 (ja) | 2009-05-13 | 2009-05-13 | テストデータ生成方法及び装置及びプログラム |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2009116917A JP5164919B2 (ja) | 2009-05-13 | 2009-05-13 | テストデータ生成方法及び装置及びプログラム |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2010267023A true JP2010267023A (ja) | 2010-11-25 |
JP5164919B2 JP5164919B2 (ja) | 2013-03-21 |
Family
ID=43363956
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2009116917A Active JP5164919B2 (ja) | 2009-05-13 | 2009-05-13 | テストデータ生成方法及び装置及びプログラム |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP5164919B2 (ja) |
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2015204065A (ja) * | 2014-04-16 | 2015-11-16 | 株式会社日立製作所 | テストケース生成装置及びテストケース生成方法 |
JP2016018390A (ja) * | 2014-07-08 | 2016-02-01 | 株式会社エヌ・ティ・ティ・データ | 検証支援方法、検証支援装置、及びプログラム |
JP2019066987A (ja) * | 2017-09-29 | 2019-04-25 | 富士通株式会社 | 解析装置および解析方法 |
WO2019242868A1 (en) | 2018-12-12 | 2019-12-26 | Mitsubishi Electric Corporation | Software testing device, software testing method, and software testing program |
CN112965909A (zh) * | 2021-03-19 | 2021-06-15 | 湖南大学 | 测试数据、测试用例生成方法及***、存储介质 |
Citations (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH04276835A (ja) * | 1991-03-04 | 1992-10-01 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | プログラム単体テストデータ生成方法 |
JP2001282536A (ja) * | 2000-03-29 | 2001-10-12 | Hitachi Software Eng Co Ltd | テスト項目抽出装置 |
JP2004151884A (ja) * | 2002-10-29 | 2004-05-27 | Cats Kk | 試験項目抽出プログラム |
JP2005085182A (ja) * | 2003-09-11 | 2005-03-31 | Fujitsu Ltd | 試験支援システム |
JP2007018378A (ja) * | 2005-07-08 | 2007-01-25 | I L C:Kk | デバッグ支援システム、デバッグ支援方法、デバッグ支援ターゲットプログラムおよびデバッグ支援ホストプログラム |
JP2007249826A (ja) * | 2006-03-17 | 2007-09-27 | Mitsubishi Electric Corp | テスト項目生成装置 |
JP2007323573A (ja) * | 2006-06-05 | 2007-12-13 | Internatl Business Mach Corp <Ibm> | 機能テスト・スクリプト生成装置 |
-
2009
- 2009-05-13 JP JP2009116917A patent/JP5164919B2/ja active Active
Patent Citations (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH04276835A (ja) * | 1991-03-04 | 1992-10-01 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | プログラム単体テストデータ生成方法 |
JP2001282536A (ja) * | 2000-03-29 | 2001-10-12 | Hitachi Software Eng Co Ltd | テスト項目抽出装置 |
JP2004151884A (ja) * | 2002-10-29 | 2004-05-27 | Cats Kk | 試験項目抽出プログラム |
JP2005085182A (ja) * | 2003-09-11 | 2005-03-31 | Fujitsu Ltd | 試験支援システム |
JP2007018378A (ja) * | 2005-07-08 | 2007-01-25 | I L C:Kk | デバッグ支援システム、デバッグ支援方法、デバッグ支援ターゲットプログラムおよびデバッグ支援ホストプログラム |
JP2007249826A (ja) * | 2006-03-17 | 2007-09-27 | Mitsubishi Electric Corp | テスト項目生成装置 |
JP2007323573A (ja) * | 2006-06-05 | 2007-12-13 | Internatl Business Mach Corp <Ibm> | 機能テスト・スクリプト生成装置 |
Cited By (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2015204065A (ja) * | 2014-04-16 | 2015-11-16 | 株式会社日立製作所 | テストケース生成装置及びテストケース生成方法 |
JP2016018390A (ja) * | 2014-07-08 | 2016-02-01 | 株式会社エヌ・ティ・ティ・データ | 検証支援方法、検証支援装置、及びプログラム |
JP2019066987A (ja) * | 2017-09-29 | 2019-04-25 | 富士通株式会社 | 解析装置および解析方法 |
WO2019242868A1 (en) | 2018-12-12 | 2019-12-26 | Mitsubishi Electric Corporation | Software testing device, software testing method, and software testing program |
CN112965909A (zh) * | 2021-03-19 | 2021-06-15 | 湖南大学 | 测试数据、测试用例生成方法及***、存储介质 |
CN112965909B (zh) * | 2021-03-19 | 2024-04-09 | 湖南大学 | 测试数据、测试用例生成方法及***、存储介质 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP5164919B2 (ja) | 2013-03-21 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP5197688B2 (ja) | 統合環境生成器 | |
CN102449598B (zh) | 包设计和生成 | |
WO2012032890A1 (ja) | ソースコード変換方法およびソースコード変換プログラム | |
JP5164919B2 (ja) | テストデータ生成方法及び装置及びプログラム | |
JP2012221380A (ja) | 自動プログラム生成装置、方法及びコンピュータプログラム | |
JP2007265089A (ja) | ソフトウェア保守支援プログラム,処理方法および装置 | |
Gabmeyer et al. | A feature-based classification of formal verification techniques for software models | |
CN108595187A (zh) | 安卓安装包集成软件开发工具包的法、装置及存储介质 | |
Lu et al. | Model-based incremental conformance checking to enable interactive product configuration | |
JP5164920B2 (ja) | テストデータ生成方法及び装置及びプログラム | |
CN114077534A (zh) | 测试用例生成方法、装置和计算机可读存储介质 | |
JP2008299723A (ja) | プログラム検証方法、プログラム検証装置 | |
JP5164918B2 (ja) | テストデータ生成方法及び装置及びプログラム | |
US20080196009A1 (en) | Apparatus and method for componentizing legacy system | |
JP2020060919A (ja) | システム移行支援装置、システム移行支援方法及びプログラム | |
CN109189688A (zh) | 一种测试用例脚本的生成方法、生成装置及电子设备 | |
JP2008305079A (ja) | 要求仕様自動検証方式 | |
JP2010211481A (ja) | テストケース生成装置およびその生成方法、ならびにコンピュータプログラム | |
Boucher et al. | Transforming workflow models into automated end-to-end acceptance test cases | |
Muñoz | Measuring the fidelity of digital twin systems | |
CN104737125B (zh) | 用于维护代码生成器输出的完整性的方法和*** | |
Lai et al. | Defining and verifying behaviour of domain specific language with fUML | |
Burger et al. | Difference-based Conformance Checking for Ecore Metamodels | |
EP4030723A1 (en) | Internet-of-things model-based virtual internet-of-things device generation method and apparatus | |
JP5900212B2 (ja) | テストデータ生成装置、該プログラム、及び該方法 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20110202 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20120305 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20120731 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20120925 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20121211 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20121218 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20151228 Year of fee payment: 3 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 5164919 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
S531 | Written request for registration of change of domicile |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313531 |
|
R350 | Written notification of registration of transfer |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350 |