JP2009267931A - アナログデジタル変換装置、アナログデジタル変換方法、試験装置、および、プログラム - Google Patents
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Abstract
【解決手段】アナログの入力信号をデジタルの出力信号に変換するアナログデジタル変換装置であって、所定位相ずつ異なるサンプリングクロックが与えられ、それぞれが、与えられたサンプリングクロックにより入力信号をデジタル化した個別信号を出力する複数のADコンバータと、それぞれの個別信号に生じる非線形歪のうち、共通する共通非線形歪を、それぞれの個別信号に対して共通に補償する共通補償部と、それぞれの個別信号に生じる非線形歪のうち、共通非線形歪以外の個別非線形歪を、それぞれの個別信号に生じる線形歪とあわせて、それぞれの個別信号に対して個別に補償する複数の個別補償部と、それぞれの個別信号に基づいて、出力信号を合成する合成部とを備えるアナログデジタル変換装置を提供する。
【選択図】図1
Description
An(f)=A(f)・exp(jθ(f))
Bn(f)=B(f)・exp(jφ(f))
とすると、
Cn(f)=An(f)・Bn(f)
=A(f)・B(f)・exp(j(θ(f)+φ(f)))
で与えられる。それぞれの個別補償部20は、当該歪Cn(f)の逆関数で与えられる合成個別補償係数を用いてよい。
Claims (15)
- アナログの入力信号をデジタルの出力信号に変換するアナログデジタル変換装置であって、
所定位相ずつ異なるサンプリングクロックが与えられ、それぞれが、与えられた前記サンプリングクロックにより前記入力信号をデジタル化した個別信号を出力する複数のADコンバータと、
所定の共通非線形歪を、それぞれの前記個別信号に対して共通に補償する共通補償部と、
それぞれの前記個別信号に生じる前記非線形歪と、前記共通非線形歪との比により得られる個別非線形歪を、それぞれの前記個別信号に生じる線形歪とあわせて、それぞれの前記個別信号に対して個別に補償する複数の個別補償部と、
それぞれの前記個別信号に基づいて、前記出力信号を合成する合成部と
を備えるアナログデジタル変換装置。 - それぞれの前記個別補償部は、対応する前記個別信号に生じる前記非線形歪のスペクトルと、前記共通非線形歪のスペクトルとの間における周波数成分毎の比により得られる前記個別非線形歪を、前記入力信号のスペクトルと、対応する前記個別信号のスペクトルとの間における周波数成分毎の比により得られる前記線形歪とあわせて、対応する前記個別信号に対して個別に補償する
請求項1に記載のアナログデジタル変換装置。 - 前記共通補償部は、いずれかの前記個別信号に生じる前記非線形歪を、前記共通非線形歪として、それぞれの前記個別信号に対して共通に補償する
請求項2に記載のアナログデジタル変換装置。 - 前記共通補償部は、前記入力信号に対して、いずれかの前記個別信号に生じる高調波成分を、前記共通非線形歪として、それぞれの前記個別信号に対して共通に補償する
請求項3に記載のアナログデジタル変換装置。 - 前記合成部は、それぞれの前記個別補償部により信号歪が補償されたそれぞれの前記個別信号を合成した前記出力信号を生成し、
前記共通補償部は、前記合成部が合成した前記出力信号に対して、前記共通非線形歪を補償する
請求項4に記載のアナログデジタル変換装置。 - 基準となる前記個別信号の前記非線形歪と、それぞれの前記個別信号の前記非線形歪との間における周波数成分毎の比に基づいて、それぞれの前記個別非線形歪を算出し、算出した前記個別非線形歪に応じた補償係数を、それぞれの前記個別補償部に設定する測定部を更に備える
請求項4に記載のアナログデジタル変換装置。 - 前記測定部は、それぞれの前記ADコンバータで生じる前記線形歪が予め与えられ、対応する前記線形歪および前記個別非線形歪を合成した信号歪を補償する合成個別補償係数を算出し、それぞれの前記個別補償部に設定する
請求項6に記載のアナログデジタル変換装置。 - 前記測定部は、それぞれの前記ADコンバータで生じる前記線形歪を補償する補償係数が予め与えられ、対応する前記線形歪を補償する補償係数および前記非線形歪を補償する補償係数を合成した合成個別補償係数を算出し、それぞれの前記個別補償部に設定する
請求項6に記載のアナログデジタル変換装置。 - 前記測定部は、それぞれの前記個別信号を、それぞれの前記個別補償部に対して並列に受け取り、それぞれの前記個別信号に基づいて、当該個別信号を補償する前記合成個別補償係数を算出し、
それぞれの前記個別補償部は、前記測定部が算出した前記合成個別補償係数に基づいて、それぞれの当該個別信号を補償する
請求項7または8のいずれかに記載のアナログデジタル変換装置。 - それぞれの前記個別信号のスペクトルを算出するスペクトル算出部を更に備え、
前記測定部は、それぞれの前記個別信号のスペクトルに基づいて、周波数軸の前記合成個別補償係数を算出し、
前記個別補償部は、それぞれの前記個別信号のスペクトルを、前記合成個別補償係数で補償する
請求項9に記載のアナログデジタル変換装置。 - 前記合成部は、それぞれの前記個別補償部において補償されたそれぞれの前記スペクトルに基づいて、時間領域の前記出力信号を合成し、
前記共通補償部は、前記合成部が合成した前記出力信号を、時間軸で補償する
請求項10に記載のアナログデジタル変換装置。 - 前記共通補償部は、
前記出力信号を、複素数により表される複素信号に変換する複素数化部と、
複素数により表される前記補償係数により前記複素信号を補償した補償済信号を生成する複素補償部と、
前記補償済信号を、実数により表される信号に変換して、前記出力信号として出力する実数化部と
を有する
請求項11に記載のアナログデジタル変換装置。 - 所定位相ずつ異なるサンプリングクロックが与えられ、それぞれが、与えられた前記サンプリングクロックにより入力信号をデジタル化した個別信号を出力する複数のADコンバータを用いて、アナログの前記入力信号をデジタルの出力信号に変換するアナログデジタル変換方法であって、
所定の共通非線形歪を、それぞれの前記個別信号に対して共通に補償し、
それぞれの前記個別信号に生じる前記非線形歪と、前記共通非線形歪との比により得られる個別非線形歪を、それぞれの前記個別信号に生じる線形歪とあわせて、それぞれの前記個別信号に対して個別に補償し、
それぞれの前記個別信号に基づいて、前記出力信号を合成するアナログデジタル変換方法。 - 被試験デバイスを試験する試験装置であって、
前記被試験デバイスに試験信号を供給する信号供給部と、
前記被試験デバイスが前記試験信号に応じて出力するアナログの応答信号を、デジタルの出力信号に変換するアナログデジタル変換装置と、
前記アナログデジタル変換装置が出力する前記出力信号に基づいて、前記被試験デバイスの良否を判定する判定部と
を備え、
前記アナログデジタル変換装置は、
所定位相ずつ異なるサンプリングクロックが与えられ、それぞれが、与えられた前記サンプリングクロックにより前記応答信号をデジタル化した個別信号を出力する複数のADコンバータと、
所定の共通非線形歪を、それぞれの前記個別信号に対して共通に補償する共通補償部と、
それぞれの前記個別信号に生じる前記非線形歪と、前記共通非線形歪との比により得られる個別非線形歪を、それぞれの前記個別信号に生じる線形歪とあわせて、それぞれの前記個別信号に対して個別に補償する複数の個別補償部と、
それぞれの前記個別信号に基づいて、前記出力信号を合成する合成部と
を有する試験装置。 - アナログの入力信号をデジタルの出力信号に変換するアナログデジタル変換装置を機能させるプログラムであって、
前記アナログデジタル変換装置を、
所定位相ずつ異なるサンプリングクロックが与えられ、それぞれが、与えられた前記サンプリングクロックにより前記入力信号をデジタル化した個別信号を出力する複数のADコンバータと、
所定の共通非線形歪を、それぞれの前記個別信号に対して共通に補償する共通補償部と、
それぞれの前記個別信号に生じる前記非線形歪と、前記共通非線形歪との比により得られる個別非線形歪を、それぞれの前記個別信号に生じる線形歪とあわせて、それぞれの前記個別信号に対して個別に補償する複数の個別補償部と、
それぞれの前記個別信号に基づいて、前記出力信号を合成する合成部と
して機能させるプログラム。
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