JP2005241575A - X線断層撮影装置および立体透視画像構成装置 - Google Patents
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- 238000002591 computed tomography Methods 0.000 title abstract description 6
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 claims description 32
- 238000003325 tomography Methods 0.000 claims description 19
- 230000007246 mechanism Effects 0.000 abstract description 12
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 abstract description 4
- 230000005855 radiation Effects 0.000 description 8
- 238000000034 method Methods 0.000 description 7
- 230000010354 integration Effects 0.000 description 3
- 101150018759 CG10 gene Proteins 0.000 description 2
- 238000010276 construction Methods 0.000 description 2
- 238000007689 inspection Methods 0.000 description 2
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 1
- 230000001066 destructive effect Effects 0.000 description 1
- 239000000284 extract Substances 0.000 description 1
- 230000002194 synthesizing effect Effects 0.000 description 1
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- G—PHYSICS
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- G01N23/02—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material
- G01N23/06—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material and measuring the absorption
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- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N2223/00—Investigating materials by wave or particle radiation
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- Health & Medical Sciences (AREA)
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Abstract
【解決手段】X線管1のX線発生源1bを移動させて被検体4にX線を放射する。X線による被検体4の複数の透過画像GをX線受像素子2で受像する。X線受像素子2で受像した透過画像Gをコンピュータ5の画像処理部で画像処理して断層画像Tを得る。X線発生器、X線受像素子、あるいは被検体を移動させる可動機構を設けることなく被検体4の断層画像Tを容易に得ることができるとともに、軟質の被検体などに対しても断層画像Tを確実に得ることができる。
【選択図】図1
Description
1b 焦点としてのX線発生源
2 X線受像素子
4 被検体
5 画像処理部および立体透視画像構成部を機能として有するコンピュータ
B 輝度値
D 立体透視画像
G 透過画像
P 幾何拡大率
SG 積算画像
T 断層画像
TH 上限閾値
TL 下限閾値
Claims (4)
- 焦点位置を移動させる機能を備え、被検体に対してX線を放射するX線発生器と、
このX線発生器により焦点位置を移動させてそれぞれ放射されたX線による被検体の複数の透過画像をそれぞれ得るX線受像素子と、
このX線受像素子で受像した被検体の複数の透過画像を画像処理して断層画像を得る画像処理部と
を具備したことを特徴とするX線断層撮影装置。 - X線発生器は、焦点位置を円周状に移動可能であり、
画像処理部は、前記X線発生器の各焦点位置に対応した被検体の透過画像を積算処理した積算画像を構成するとともに、この積算画像の輝度値が所定の上限閾値と所定の下限閾値との間にある画素を抽出して断層画像を得る
ことを特徴とする請求項1記載のX線断層撮影装置。 - 所定の方向に交差し互いに異なる複数の断層面毎に被検体の断層画像を得る請求項1または2記載のX線断層撮影装置と、
このX線断層撮影装置により得られた複数の断層画像を画像処理して立体透視画像を得る立体透視画像構成部と
を具備したことを特徴とする立体透視画像構成装置。 - 立体透視画像構成部は、X線断層撮影装置により得られた複数の断層画像の幾何拡大率をそれぞれ補正し、これら補正された断層画像を合成して立体透視画像を得る
ことを特徴とする請求項3記載の立体透視画像構成装置。
Priority Applications (6)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2004054625A JP2005241575A (ja) | 2004-02-27 | 2004-02-27 | X線断層撮影装置および立体透視画像構成装置 |
EP05710749A EP1720004A1 (en) | 2004-02-27 | 2005-02-25 | X-ray tomograph and stereoradioscopic image constructing device |
US10/590,517 US7729468B2 (en) | 2004-02-27 | 2005-02-25 | X-ray tomograph and stereoradioscopic image construction equipment |
PCT/JP2005/003199 WO2005083403A1 (ja) | 2004-02-27 | 2005-02-25 | X線断層撮影装置および立体透視画像構成装置 |
KR1020067019576A KR20060114720A (ko) | 2004-02-27 | 2005-02-25 | X선 단층촬영장치와 입체투시화상 구성장치 |
CNA2005800059502A CN1922475A (zh) | 2004-02-27 | 2005-02-25 | X射线断层摄影装置及立体透视图像构成装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2004054625A JP2005241575A (ja) | 2004-02-27 | 2004-02-27 | X線断層撮影装置および立体透視画像構成装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2005241575A true JP2005241575A (ja) | 2005-09-08 |
Family
ID=34908799
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2004054625A Pending JP2005241575A (ja) | 2004-02-27 | 2004-02-27 | X線断層撮影装置および立体透視画像構成装置 |
Country Status (6)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US7729468B2 (ja) |
EP (1) | EP1720004A1 (ja) |
JP (1) | JP2005241575A (ja) |
KR (1) | KR20060114720A (ja) |
CN (1) | CN1922475A (ja) |
WO (1) | WO2005083403A1 (ja) |
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- 2005-02-25 US US10/590,517 patent/US7729468B2/en active Active
- 2005-02-25 WO PCT/JP2005/003199 patent/WO2005083403A1/ja active Application Filing
- 2005-02-25 CN CNA2005800059502A patent/CN1922475A/zh active Pending
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Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US20080267347A1 (en) | 2008-10-30 |
US7729468B2 (en) | 2010-06-01 |
CN1922475A (zh) | 2007-02-28 |
KR20060114720A (ko) | 2006-11-07 |
EP1720004A1 (en) | 2006-11-08 |
WO2005083403A1 (ja) | 2005-09-09 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
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A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20070124 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20090513 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
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A131 | Notification of reasons for refusal |
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A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20091218 |
|
A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20100421 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20100609 |
|
A911 | Transfer to examiner for re-examination before appeal (zenchi) |
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|
A912 | Re-examination (zenchi) completed and case transferred to appeal board |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A912 Effective date: 20100910 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
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