JP2001264385A - Ｉｃ自動搬送装置及びｉｃ自動検査方法 - Google Patents
Ｉｃ自動搬送装置及びｉｃ自動検査方法Info
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- JP2001264385A JP2001264385A JP2000081473A JP2000081473A JP2001264385A JP 2001264385 A JP2001264385 A JP 2001264385A JP 2000081473 A JP2000081473 A JP 2000081473A JP 2000081473 A JP2000081473 A JP 2000081473A JP 2001264385 A JP2001264385 A JP 2001264385A
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 不良品発生時に、被検査対象ＩＣそのものが
不良であるのか、あるいは測定部の異常による不良であ
るのかを自動的に検証できるようにする。 【解決手段】 不良品発生時に、良品であることが確認
済である標準サンプルＩＣ９を自動的に検査し、不良と
判定されれば、コンタクト部２の異常であると判断し、
検査を停止し、アラームを出す。良品と判定されれば、
検査を続行するようにする。
不良であるのか、あるいは測定部の異常による不良であ
るのかを自動的に検証できるようにする。 【解決手段】 不良品発生時に、良品であることが確認
済である標準サンプルＩＣ９を自動的に検査し、不良と
判定されれば、コンタクト部２の異常であると判断し、
検査を停止し、アラームを出す。良品と判定されれば、
検査を続行するようにする。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】この発明は、ＩＣ自動搬送装
置に関するものであり、特に被検査対象ＩＣを良品と不
良品とに選別する検査工程において、不良発生時に測定
部の異常によるものであるかどうかを識別し、検査の続
行、停止の判断を行うことを可能としたＩＣ自動搬送装
置、及びその自動検査方法に関するものである。
置に関するものであり、特に被検査対象ＩＣを良品と不
良品とに選別する検査工程において、不良発生時に測定
部の異常によるものであるかどうかを識別し、検査の続
行、停止の判断を行うことを可能としたＩＣ自動搬送装
置、及びその自動検査方法に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】被検査対象ＩＣを良品と不良品とに選別
する検査工程で使用されるＩＣ自動搬送装置は、従来大
きく分けると３つの部分から構成されている。即ち、被
検査対象ＩＣを供給するローダー部、検査装置と被検査
対象ＩＣとの間で電気的導通を取り検査を実施するコン
タクト部、及び検査済の被検査対象ＩＣを良品と不良品
とに分別するアンロード部から構成されるものである。
する検査工程で使用されるＩＣ自動搬送装置は、従来大
きく分けると３つの部分から構成されている。即ち、被
検査対象ＩＣを供給するローダー部、検査装置と被検査
対象ＩＣとの間で電気的導通を取り検査を実施するコン
タクト部、及び検査済の被検査対象ＩＣを良品と不良品
とに分別するアンロード部から構成されるものである。
【０００３】図３は従来のＩＣ自動搬送装置を示す平面
図であり、図において、１はローダー部、２はコンタク
ト部、３はアンロード部であり、４は検査前の被検査対
象ＩＣ、５は検査中の被検査対象ＩＣ、６は検査にて良
品と判定された被検査対象ＩＣ、７は検査にて不良と判
定された被検査対象ＩＣ、Ａ，Ｂは被検査対象ＩＣを搬
送する経路である。
図であり、図において、１はローダー部、２はコンタク
ト部、３はアンロード部であり、４は検査前の被検査対
象ＩＣ、５は検査中の被検査対象ＩＣ、６は検査にて良
品と判定された被検査対象ＩＣ、７は検査にて不良と判
定された被検査対象ＩＣ、Ａ，Ｂは被検査対象ＩＣを搬
送する経路である。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】従来のＩＣ自動搬送装
置は以上のように構成されていたので、ＩＣ自動搬送装
置による連続した検査においては、異物の付着等によ
り、コンタクト部の電気的導通が劣化するなど、被検査
対象ＩＣは不良でないものの、測定部の経時変化による
異常発生により、検査の結果不良と判定されることがあ
った。従って、不良が大量に発生した場合等、被検査対
象ＩＣの母集団そのものが、大量に不良を含んでいるも
のなのか、測定部の異常によるものなのか区別が出来な
い為、検査を中断し、測定部の異常であるかどうかを検
証、判断する作業が必要となるという問題が発生してい
た。
置は以上のように構成されていたので、ＩＣ自動搬送装
置による連続した検査においては、異物の付着等によ
り、コンタクト部の電気的導通が劣化するなど、被検査
対象ＩＣは不良でないものの、測定部の経時変化による
異常発生により、検査の結果不良と判定されることがあ
った。従って、不良が大量に発生した場合等、被検査対
象ＩＣの母集団そのものが、大量に不良を含んでいるも
のなのか、測定部の異常によるものなのか区別が出来な
い為、検査を中断し、測定部の異常であるかどうかを検
証、判断する作業が必要となるという問題が発生してい
た。
【０００５】この発明は上記のような課題を解決するた
めになされたものであり、不良発生時に被検査対象ＩＣ
そのものが不良であるのか、測定部の異常による不良で
あるのかを自動的に検証、判断することができるＩＣ自
動搬送装置、及びその自動検査方法を提供することを目
的としている。
めになされたものであり、不良発生時に被検査対象ＩＣ
そのものが不良であるのか、測定部の異常による不良で
あるのかを自動的に検証、判断することができるＩＣ自
動搬送装置、及びその自動検査方法を提供することを目
的としている。
【０００６】
【課題を解決するための手段】この発明の請求項１に係
るＩＣ自動搬送装置は、ＩＣを供給するローダー部と、
ＩＣの検査を実施する測定部と、検査済のＩＣを良品と
不良品とに分別するアンロード部とから構成されるもの
であって、良品であることが確認済である標準サンプル
ＩＣを保持する機構を設け、不良発生時に自動的に標準
サンプルＩＣを取り出し、検査することにより、ＩＣそ
のものが不良であるか、測定部の異常による不良である
かを自動的に判断する手段を備えたものである。
るＩＣ自動搬送装置は、ＩＣを供給するローダー部と、
ＩＣの検査を実施する測定部と、検査済のＩＣを良品と
不良品とに分別するアンロード部とから構成されるもの
であって、良品であることが確認済である標準サンプル
ＩＣを保持する機構を設け、不良発生時に自動的に標準
サンプルＩＣを取り出し、検査することにより、ＩＣそ
のものが不良であるか、測定部の異常による不良である
かを自動的に判断する手段を備えたものである。
【０００７】この発明の請求項２に係るＩＣ自動検査方
法は、予め指定した回数連続してＩＣの不良が発生した
場合、又は予め指定した検査回数測定した場合に標準サ
ンプルＩＣを検査するものである。
法は、予め指定した回数連続してＩＣの不良が発生した
場合、又は予め指定した検査回数測定した場合に標準サ
ンプルＩＣを検査するものである。
【０００８】
【発明の実施の形態】実施の形態１．以下、この発明の
一実施形態を図に基づいて説明する。図１は、この発明
の一実施形態による標準サンプルＩＣを保持する機能を
有するＩＣ自動搬送装置を示す平面図であり、図におい
て、１はローダー部、２は測定部であるコンタクト部、
３はアンロード部であり、４は標準サンプルＩＣ格納
部、５は検査前の被検査対象ＩＣ、６は検査中である被
検査対象ＩＣ、７は検査にて良品と判定された被検査対
象ＩＣ、８は検査にて不良と判定された被検査対象Ｉ
Ｃ、９は良品であることが確認済である標準サンプルＩ
Ｃ、Ｃは標準サンプルＩＣ格納部４より標準サンプルＩ
Ｃ９を取り出すときの標準サンプルＩＣ９の搬送経路、
Ｄは検査にて良品と判定された被検査対象ＩＣ７を標準
サンプルＩＣとして使用する時の、被検査対象ＩＣ７の
搬送経路である。
一実施形態を図に基づいて説明する。図１は、この発明
の一実施形態による標準サンプルＩＣを保持する機能を
有するＩＣ自動搬送装置を示す平面図であり、図におい
て、１はローダー部、２は測定部であるコンタクト部、
３はアンロード部であり、４は標準サンプルＩＣ格納
部、５は検査前の被検査対象ＩＣ、６は検査中である被
検査対象ＩＣ、７は検査にて良品と判定された被検査対
象ＩＣ、８は検査にて不良と判定された被検査対象Ｉ
Ｃ、９は良品であることが確認済である標準サンプルＩ
Ｃ、Ｃは標準サンプルＩＣ格納部４より標準サンプルＩ
Ｃ９を取り出すときの標準サンプルＩＣ９の搬送経路、
Ｄは検査にて良品と判定された被検査対象ＩＣ７を標準
サンプルＩＣとして使用する時の、被検査対象ＩＣ７の
搬送経路である。
【０００９】不良発生時において、あらかじめ良品であ
ることが確認済である標準サンプルＩＣ９を標準サンプ
ルＩＣ格納部４より取り出し、自動的に検査することに
より、被検査対象ＩＣそのものが不良であるか、測定部
の異常による不良であるかを自動的に判断することが可
能となる。標準サンプルＩＣ９は、ＩＣ自動搬送装置の
外部より標準サンプルＩＣ格納部４に格納しても良い
し、検査にて良品と判定された被検査対象ＩＣ７より任
意のものを取り出し、格納しても良い。
ることが確認済である標準サンプルＩＣ９を標準サンプ
ルＩＣ格納部４より取り出し、自動的に検査することに
より、被検査対象ＩＣそのものが不良であるか、測定部
の異常による不良であるかを自動的に判断することが可
能となる。標準サンプルＩＣ９は、ＩＣ自動搬送装置の
外部より標準サンプルＩＣ格納部４に格納しても良い
し、検査にて良品と判定された被検査対象ＩＣ７より任
意のものを取り出し、格納しても良い。
【００１０】実施の形態２．図２は本発明によるＩＣ自
動搬送装置を用いて、指定した回数連続して不良が発生
した場合、又は指定した検査回数測定した場合に標準サ
ンプルＩＣを検査するフローチャートを示している。図
において、Ｎは連続不良発生回数、Ｎ１は指定した連続
不良発生回数、Ｍは連続検査回数、Ｍ１は指定した連続
検査回数である。
動搬送装置を用いて、指定した回数連続して不良が発生
した場合、又は指定した検査回数測定した場合に標準サ
ンプルＩＣを検査するフローチャートを示している。図
において、Ｎは連続不良発生回数、Ｎ１は指定した連続
不良発生回数、Ｍは連続検査回数、Ｍ１は指定した連続
検査回数である。
【００１１】まず初期設定として、連続不良発生回数Ｎ
１及び連続検査回数Ｍ１を設定する（ＳＴＥＰ１０
０）。未検査ＩＣが存在すれば、被検査対象ＩＣ５をコ
ンタクト部２へ搬送し、検査を行なう（ＳＴＥＰ１０
１，１０２，１０３）。検査の結果、被検査対象ＩＣ５
が不良であると判断されると、当該ＩＣをアンロード部
３へ搬送し、連続不良発生回数Ｎ及び連続検査回数Ｍを
それぞれ１ずつカウントする（ＳＴＥＰ１０４，１０
５）。又、検査の結果、被検査対象ＩＣ５が良品である
と判断されると、当該ＩＣをアンロード部３へ搬送し、
連続検査回数Ｍを１つカウントすると共に、連続不良発
生回数Ｎをクリアする。
１及び連続検査回数Ｍ１を設定する（ＳＴＥＰ１０
０）。未検査ＩＣが存在すれば、被検査対象ＩＣ５をコ
ンタクト部２へ搬送し、検査を行なう（ＳＴＥＰ１０
１，１０２，１０３）。検査の結果、被検査対象ＩＣ５
が不良であると判断されると、当該ＩＣをアンロード部
３へ搬送し、連続不良発生回数Ｎ及び連続検査回数Ｍを
それぞれ１ずつカウントする（ＳＴＥＰ１０４，１０
５）。又、検査の結果、被検査対象ＩＣ５が良品である
と判断されると、当該ＩＣをアンロード部３へ搬送し、
連続検査回数Ｍを１つカウントすると共に、連続不良発
生回数Ｎをクリアする。
【００１２】上記ＳＴＥＰ１０５，１０８でそれぞれ標
準サンプルＩＣ９を検査する条件（Ｎ＝Ｎ１，Ｍ＝Ｍ
１）を満たした時（ＳＴＥＰ１０９，１１０）、標準サ
ンプルＩＣ９を取り出し、検査を実施する（ＳＴＥＰ１
１１，１１２）。検査の結果、標準サンプルＩＣ９が不
良と判定されれば、測定部の異常であると判断し、検査
を停止し、アラームを出す（ＳＴＥＰ１１３，１１
４）。また、検査の結果、標準サンプルＩＣ９が良品と
判定されれば、検査を続行する機能を有することが判明
し、標準サンプルＩＣ９を標準サンプルＩＣ格納部４に
格納する（ＳＴＥＰ１１５）。ここで、初期設定にて指
定される連続不良発生回数Ｎ１及び連続検査回数Ｍ１
は、０を設定することにより、それぞれ未設定とするこ
とができる（ＳＴＥＰ１１６）。
準サンプルＩＣ９を検査する条件（Ｎ＝Ｎ１，Ｍ＝Ｍ
１）を満たした時（ＳＴＥＰ１０９，１１０）、標準サ
ンプルＩＣ９を取り出し、検査を実施する（ＳＴＥＰ１
１１，１１２）。検査の結果、標準サンプルＩＣ９が不
良と判定されれば、測定部の異常であると判断し、検査
を停止し、アラームを出す（ＳＴＥＰ１１３，１１
４）。また、検査の結果、標準サンプルＩＣ９が良品と
判定されれば、検査を続行する機能を有することが判明
し、標準サンプルＩＣ９を標準サンプルＩＣ格納部４に
格納する（ＳＴＥＰ１１５）。ここで、初期設定にて指
定される連続不良発生回数Ｎ１及び連続検査回数Ｍ１
は、０を設定することにより、それぞれ未設定とするこ
とができる（ＳＴＥＰ１１６）。
【００１３】上記のようにして、被検査対象ＩＣそのも
のが不良であるのか、あるいは測定部の異常により不良
であると判定されたのかを自動的に判定できるため、測
定部の異常による不良以外は検査を中断することなく、
検査を続行できる。
のが不良であるのか、あるいは測定部の異常により不良
であると判定されたのかを自動的に判定できるため、測
定部の異常による不良以外は検査を中断することなく、
検査を続行できる。
【００１４】
【発明の効果】この発明の請求項１に係るＩＣ自動搬送
装置によれば、ＩＣを供給するローダー部と、ＩＣの検
査を実施する測定部と、検査済のＩＣを良品と不良品と
に分別するアンロード部とから構成されるものであっ
て、良品であることが確認済である標準サンプルＩＣを
保持する機構を設け、不良発生時に自動的に標準サンプ
ルＩＣを取り出し、検査することにより、ＩＣそのもの
が不良であるか、測定部の異常による不良であるかを自
動的に判断する手段を備えたので、測定部の異常による
不良以外は検査を中断することなく、続行することがで
きる。
装置によれば、ＩＣを供給するローダー部と、ＩＣの検
査を実施する測定部と、検査済のＩＣを良品と不良品と
に分別するアンロード部とから構成されるものであっ
て、良品であることが確認済である標準サンプルＩＣを
保持する機構を設け、不良発生時に自動的に標準サンプ
ルＩＣを取り出し、検査することにより、ＩＣそのもの
が不良であるか、測定部の異常による不良であるかを自
動的に判断する手段を備えたので、測定部の異常による
不良以外は検査を中断することなく、続行することがで
きる。
【００１５】この発明の請求項２に係るＩＣ自動検査方
法によれば、予め指定した回数連続してＩＣの不良が発
生した場合、又は予め指定した検査回数測定した場合に
標準サンプルＩＣを検査するようにしたので、効率的に
検査を行なうことができる。
法によれば、予め指定した回数連続してＩＣの不良が発
生した場合、又は予め指定した検査回数測定した場合に
標準サンプルＩＣを検査するようにしたので、効率的に
検査を行なうことができる。
【図１】 この発明の実施の形態１によるＩＣ自動搬送
装置を示す平面図である。
装置を示す平面図である。
【図２】 動作を示すフローチャートである。
【図３】 従来のＩＣ自動搬送装置を示す平面図であ
る。
る。
１ ローダー部、３ アンロード部、９ 標準サンプル
ＩＣ。
ＩＣ。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 馬把 正俊 東京都千代田区丸の内二丁目２番３号 三 菱電機株式会社内 Ｆターム(参考） 2G003 AA07 AF05 AF06 AG11 AH03 AH04 AH06
Claims (2)
- 【請求項１】 ＩＣを供給するローダー部と、上記ＩＣ
の検査を実施する測定部と、検査済のＩＣを良品と不良
品とに分別するアンロード部とから構成されるＩＣ自動
搬送装置であって、良品であることが確認済である標準
サンプルＩＣを保持する機構を設け、不良発生時に自動
的に上記標準サンプルＩＣを取り出し、検査することに
より、ＩＣそのものが不良であるか、上記測定部の異常
による不良であるかを自動的に判断する手段を備えたこ
とを特徴とするＩＣ自動搬送装置。 - 【請求項２】 請求項１記載のＩＣ自動搬送装置による
ＩＣ自動検査方法であって、予め指定した回数連続して
ＩＣの不良が発生した場合、又は予め指定した検査回数
測定した場合に標準サンプルＩＣを検査することを特徴
とするＩＣ自動検査方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2000081473A JP2001264385A (ja) | 2000-03-23 | 2000-03-23 | Ｉｃ自動搬送装置及びｉｃ自動検査方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2000081473A JP2001264385A (ja) | 2000-03-23 | 2000-03-23 | Ｉｃ自動搬送装置及びｉｃ自動検査方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2001264385A true JP2001264385A (ja) | 2001-09-26 |
Family
ID=18598402
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2000081473A Pending JP2001264385A (ja) | 2000-03-23 | 2000-03-23 | Ｉｃ自動搬送装置及びｉｃ自動検査方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2001264385A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2013044549A (ja) * | 2011-08-22 | 2013-03-04 | Shibuya Kogyo Co Ltd | 物品分類装置およびその運転方法 |
-
2000
- 2000-03-23 JP JP2000081473A patent/JP2001264385A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2013044549A (ja) * | 2011-08-22 | 2013-03-04 | Shibuya Kogyo Co Ltd | 物品分類装置およびその運転方法 |
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| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| RD01 | Notification of change of attorney |
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