JP2000022536A - 半導体集積回路 - Google Patents

半導体集積回路

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JP2000022536A
JP2000022536A JP10189417A JP18941798A JP2000022536A JP 2000022536 A JP2000022536 A JP 2000022536A JP 10189417 A JP10189417 A JP 10189417A JP 18941798 A JP18941798 A JP 18941798A JP 2000022536 A JP2000022536 A JP 2000022536A
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integrated circuit
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JP10189417A
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Akira Nakada
章 中田
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Seiko Epson Corp
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Seiko Epson Corp
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Abstract

(57)【要約】 【課題】複数のデジタル−アナログ変換回路またはアナ
ログ−デジタル変換回路を具備した半導体集積回路にお
いて、特性のばらつきを改善し、高い精度で合わせる手
段を提供することにある。 【解決手段】基準レベルを微調整する手段を具備し、微
調整データ格納領域を複数具備する。基準レベル発生回
路105は半導体集積回路の外にあり、基準レベル入力
端子111から供給される。基準レベルは微調整回路1
03にて調整されたのち、デジタル−アナログ変換回路
102に印可される。デジタル−アナログ変換回路10
2は3個使用されており、それぞれR(赤)、G
(緑)、B(青)の映像信号を分担し、デジタルの映像
信号をアナログに変換している。微調整回路を制御する
ための微調整制御回路が105で示される。これによ
り、特性のばらつきを概ね0.1%以内に改善すること
ができる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は複数のデジタル−ア
ナログ変換回路を具備した半導体集積回路に関するもの
で、複数のデジタル−アナログ変換回路の特性を揃えた
り、または故意に特性を変更する方法に関するものであ
る。
【0002】また、同様に複数のアナログ−デジタル変
換回路を具備した半導体集積回路に関するもので、複数
のアナログ−デジタル変換回路の特性を揃えたり、また
は故意に特性を変更する方法にも関するものである。
【0003】
【従来の技術】複数のデジタル−アナログ変換回路を使
用する場合の従来の回路方式を図7と図8に示す。
【0004】一般にデジタル−アナログ変換回路(10
2で示される)は、ある基準レベルをもとにして変換を
行う。
【0005】基準レベルとしては、たとえば電流源、電
圧源、抵抗、または容量などが用いられる。あるいはク
ロック時間を容量と併用する場合もある。基準レベルの
選択に関してはどの方式であっても本質的に同一の作用
をもたらすので特に限定せず「基準レベル」として説明
する。
【0006】オーディオ用・ビデオ用・計測用などのア
プリケーションにおいて、特性のそろったデジタル−ア
ナログ変換回路が多数個必要になる場合がある。このよ
うな場合、もっとも有効な方法は、図8のように同一の
半導体集積回路の中に必要数を組み込んでしまい、同一
の基準レベルを用いて動作させることである。同一の半
導体集積回路の中に同一のデジタル−アナログ変換回路
を複数組み込んだ場合、原則的にはきわめて均一の特性
が得られると期待できからである。
【0007】セグメント方式電流加算型デジタル−アナ
ログ変換回路を使えば、基準電流レベルを調整してフル
スケールレベルを合わせればその他の特性(オフセット
や直線性誤差)は実用上十分そろうことが知られてい
る。
【0008】また配置配線に特に留意して設計すれば、
フルスケールレベル変動を1パーセント以下に抑えられ
ることも知られている。
【0009】しかしそれでも、実際には、特定の傾向を
もたないランダムな分布を持つ特性ばらつきが認められ
た。フルスケール差が1パーセント以下ではあるが正規
分布をしているのである。
【0010】発明者らは、これは、製造工程中の微少な
変動が影響しているのであろうと結論づけている。この
ような変動は、ランダムであるから設計の作り込みでは
補正のしようがない。
【0011】従来は、このようなランダムばらつきを補
正するためには、図7のように外付け回路にてフルスケ
ールをアジャストする方法が採用されていた。あるいは
完成した半導体集積回路をテストしてデータを収集し、
トリミングと呼ばれる方法で1個1個微調整をする方法
もあった。しかしいずれの場合であっても経済性・時間
・サイズの増大からデメリットであることは明白であ
る。
【0012】また、別の用途として、故意に特性に差を
つけたい場合もあるが、複数のデジタル−アナログ変換
回路を同一チップ上に集積した半導体集積回路では、対
応が困難であったので、図7のように外付け回路にて実
現していた。例えばパーソナルコンピュータのRGBデ
ィスプレイにおいて、ディスプレイ側ではなくパーソナ
ルコンピュータの側で3チャンネルの色バランスを調整
する場合がある。
【0013】以上はデジタル−アナログ変換回路を複数
用いる場合について説明したが、アナログ−デジタル変
換回路を複数個使用する場合にも同様の問題がある。
【0014】
【発明が解決しようとする課題】本発明は前記のような
特性ばらつきを改善するための微調整を可能にしようと
するものであり、より高い精度、おおむね0.1%以下
の精度を実現することを目的としている。
【0015】また微調整して補正するのみでなく、調整
を積極的に利用して更なる効果を得ようとするものであ
る。
【0016】
【課題を解決するための手段】本発明による半導体集積
回路は、 (1)複数のビットから成るデータ入力端子と基準レベ
ル入力端子と、出力端子とを有するデジタル−アナログ
変換回路を2個以上有し、該デジタル−アナログ変換回
路は与えられた基準レベル入力をもとにしてデータ入力
端子に印可されたデジタルデータに応じたアナログデー
タを出力端子に出力するよう構成されており、基準レベ
ル入力端子と、基準レベル出力端子とを有する微調整回
路を有し、該微調整回路は前記入力された基準レベルを
微調整して前記基準レベル出力端子に出力するよう構成
されており、前記微調整回路の基準レベル出力端子が前
記デジタル−アナログ変換回路の基準レベル入力端子に
接続されていることを特徴とする。
【0017】(2)(1)において、前記微調整回路を
複数個有し、これら微調整回路の基準レベル出力端子が
それぞれのデジタル−アナログ変換回路の基準レベル入
力端子に接続されていることを特徴とする。
【0018】(3)(1)において、少なくとも1個の
デジタル−アナログ変換回路の基準レベル入力端子は該
微調整回路の基準レベル出力端子に接続されていないこ
とを特徴とする。
【0019】(4)(1)において、前記微調整回路の
うち少なくとも1個の微調整回路にはデータ格納領域が
2個以上あり、2個以上のデータを切り替えて参照して
微調整に使用することを特徴とする。
【0020】(5)(1)において、前記微調整回路の
うち少なくとも1個の微調整回路にはデータ格納領域が
2個以上あり、2個以上のデータを演算し、演算結果を
参照して微調整に使用することを特徴とする。
【0021】(6)入力端子と、複数のビットから成る
データ出力端子と、基準レベル入力端子とを有するアナ
ログ−デジタル変換回路を2個以上有し、該アナログ−
デジタル変換回路は与えられた基準レベル入力をもとに
して入力端子に印可されたアナログデータに応じたデジ
タルデータを出力端子に出力するよう構成されており、
基準レベル入力端子と、基準レベル出力端子とを有する
微調整回路を有し、該微調整回路は前記入力された基準
レベルを微調整して前記基準レベル出力端子に出力する
よう構成されており、前記微調整回路の基準レベル出力
端子が前記アナログ−デジタル変換回路の基準レベル入
力端子に接続されていることを特徴とする。
【0022】(7)(6)において、前記微調整回路を
複数個有し、これら微調整回路の基準レベル出力端子が
それぞれのアナログ−デジタル変換回路の基準レベル入
力端子に接続されていることを特徴とする。
【0023】(8)(6)において、少なくとも1個の
アナログ−デジタル変換回路の基準レベル入力端子は該
微調整回路の基準レベル出力端子に接続されていないこ
とを特徴とする。
【0024】(9)(6)において、前記微調整回路の
うち少なくとも1個の微調整回路にはデータ格納領域が
2個以上あり、2個以上のデータを切り替えて参照して
微調整に使用することを特徴とする。
【0025】(10)(6)において、前記微調整回路
のうち少なくとも1個の微調整回路にはデータ格納領域
が2個以上あり、2個以上のデータを演算し、演算結果
を参照して微調整に使用することを特徴とする。
【0026】
【作用】このように、2個以上のデジタル−アナログ変
換回路を有する構成の場合、それぞれのデジタル−アナ
ログ変換回路に一定の基準レベルを印可するのではな
く、微調整された基準レベルを供給することにより、そ
れぞれのチャンネルを独立に調整することが可能にな
る。
【0027】
【発明の実施の形態】以下、実施例に基づいて本発明の
動作を詳細に説明する。
【0028】図1は本発明の実施例である。映像信号処
理装置を半導体集積回路にて実現し、本発明を実施した
ものである。この例では、基準レベル発生回路105は
半導体集積回路の外にあり、基準レベル入力端子111
から供給される。基準レベルは微調整回路103にて調
整されたのち、デジタル−アナログ変換回路102に印
可される。本実施例ではデジタル−アナログ変換回路1
02は3個使用されており、それぞれR(赤)、G
(緑)、B(青)の映像信号を分担し、デジタルの映像
信号をアナログに変換している。微調整回路を制御する
ための微調整制御回路が105で示される。
【0029】図2は、図1の中で、微調整回路103と
デジタル−アナログ変換回路102とのつながりを示し
たものである。
【0030】図3は本発明の第二の実施例である。この
例では、デジタル−アナログ変換回路102は3個であ
るが、微調整回路103は2個しかない。端子116に
現れるB映像信号出力は微調整制御ができないので、他
の2出力を微調整してあわせる用途に適している。
【0031】図4に微調整回路の第一の例を示す。微調
整制御の実際は、基準レベルが電圧で示されたり、電流
で示されたり、あるいは抵抗値・容量値などで与えられ
たり、あるいは電圧を受けて電流を出力するなど場合に
よって異なるが、扱うものによって実現方法は各種あ
り、それぞれに適した微調整方法が選択される。
【0032】発明者のグループでは、MOS型半導体集
積回路にて実現したので、基準レベルとしては電流を選
択し、微調整の手段としてはカレントミラー回路を用
い、MOSトランジスタのサイズ(微小トランジスタの
接続個数)で調整する方法をとった。0.1%以下まで
合わせるため、微調整ステップ幅は0.05%単位と
し、これを200個用意し、つごうプラスマイナス5%
の範囲で微調整が可能となるようにした。図4では、微
調整データ格納領域が401と402の2個示されてい
る。401は外部から設定が可能なレジスタで、ソフト
ウェアから制御されたりユーザーが自由に設定したりす
るためである、一方402は工場出荷時に設定されるも
ので、半導体集積回路の固有の製造ばらつきを補正する
ために用意されている。一般にヒューズと呼ばれるプロ
グラム手法や、EPROM(電気的書き込み)による手
法が適用できる。この例では、工場出荷時の調整値とユ
ーザー設定値とを切り替えて選択するように設計されて
いる。
【0033】図5は微調整回路の第二の例である。この
例では、微調整データ格納領域401と402はともに
プログラム可能であり、一方は補正値を保持しており、
他方は補正値に対するオフセットを保持している。演算
回路501は401の内容と402の内容を加算に、最
終的な補正値を求める。演算は加算だけとは限らず、減
算であったり、乗算の方が適している場合もある。
【0034】図6は本発明の第三の実施例である。この
例ではアナログ−デジタル変換回路602が2個あり、
この2個の基準レベルを微調整して特性をそろえるよう
に設計されている。
【0035】
【発明の効果】以上、本発明の半導体集積回路によれ
ば、同一半導体集積回路内におけるデジタル−アナログ
変換回路およびアナログ−デジタル変換回路の特性ばら
つきが、1%ないし2%以内であったものを、概ね0.
1%以内の誤差に改善することが可能となる。また誤差
の調整だけでなく特性の差を積極的に活用することも可
能になった。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の実施例の半導体集積回路の構成図。
【図2】図1の102で示されるデジタル−アナログ変
換回路と図1の103で示される微調整回路の接続図。
【図3】本発明の第二の実施例の半導体集積回路の構成
図。
【図4】図1の103で示される微調整回路の第一の例
を示す図。
【図5】図1の103で示される微調整回路の第二の例
を示す図。
【図6】本発明の第三の実施例の半導体集積回路の構成
図。
【図7】従来の技術による半導体集積回路の第一の例を
示す図。
【図8】従来の技術による半導体集積回路の第二の例を
示す図。
【符号の説明】
101・・・・・・半導体集積回路 102・・・・・・デジタル−アナログ変換回路 103・・・・・・微調整回路 104・・・・・・微調整制御回路 105・・・・・・基準レベル発生回路 106・・・・・・記憶回路 107・・・・・・映像信号処理回路 108・・・・・・ホストインターフェイス回路 110・・・・・・微調整制御インターフェイス端子 111・・・・・・基準レベル入力端子 112・・・・・・映像信号入力端子 113・・・・・・ホストインターフェイス端子 114・・・・・・R映像信号出力端子 115・・・・・・G映像信号出力端子 116・・・・・・B映像信号出力端子 201・・・・・・微調整制御端子 202・・・・・・基準レベル入力端子 203・・・・・・基準レベル出力端子 204・・・・・・基準レベル入力端子 205・・・・・・データ入力端子 206・・・・・・デジタル−アナログ変換出力端子 401・・・・・・第一の微調整データ格納領域 402・・・・・・第二の微調整データ格納領域 403・・・・・・微調整データ切り替え回路 501・・・・・・微調整データ演算回路 601・・・・・・半導体集積回路 602・・・・・・アナログ−デジタル変換回路 603・・・・・・微調整回路 604・・・・・・微調整制御回路 605・・・・・・基準レベル発生回路 606・・・・・・記憶回路 607・・・・・・映像信号処理回路 608・・・・・・ホストインターフェイス回路 610・・・・・・微調整制御インターフェイス端子 611・・・・・・基準レベル入力端子 612・・・・・・映像信号出力端子 613・・・・・・ホストインターフェイス端子 614・・・・・・Y映像信号入力端子 615・・・・・・C映像信号入力端子 701・・・・・・従来の技術による半導体集積回路 702・・・・・・基準レベル微調整回路 801・・・・・・従来の技術による半導体集積回路 802・・・・・・RGB出力微調整回路

Claims (10)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】半導体集積回路において、複数のビットか
    ら成るデータ入力端子と基準レベル入力端子と、出力端
    子とを有するデジタル−アナログ変換回路を2個以上有
    し、該デジタル−アナログ変換回路は与えられた基準レ
    ベル入力をもとにしてデータ入力端子に印可されたデジ
    タルデータに応じたアナログデータを出力端子に出力す
    るよう構成されており、基準レベル入力端子と、基準レ
    ベル出力端子とを有する微調整回路を有し、該微調整回
    路は前記入力された基準レベルを微調整して前記基準レ
    ベル出力端子に出力するよう構成されており、前記微調
    整回路の基準レベル出力端子が前記デジタル−アナログ
    変換回路の基準レベル入力端子に接続されていることを
    特徴とする半導体集積回路。
  2. 【請求項2】請求項1記載の半導体集積回路において、
    前記微調整回路を複数個有し、これら微調整回路の基準
    レベル出力端子がそれぞれのデジタル−アナログ変換回
    路の基準レベル入力端子に接続されていることを特徴と
    する半導体集積回路。
  3. 【請求項3】請求項1記載の半導体集積回路において、
    少なくとも1個のデジタル−アナログ変換回路の基準レ
    ベル入力端子は該微調整回路の基準レベル出力端子に接
    続されていないことを特徴とする半導体集積回路。
  4. 【請求項4】請求項1記載の半導体集積回路において、
    前記微調整回路のうち少なくとも1個の微調整回路には
    データ格納領域が2個以上あり、2個以上のデータを切
    り替えて参照して微調整に使用することを特徴とする半
    導体集積回路。
  5. 【請求項5】請求項1記載の半導体集積回路において、
    前記微調整回路のうち少なくとも1個の微調整回路には
    データ格納領域が2個以上あり、2個以上のデータを演
    算し、演算結果を参照して微調整に使用することを特徴
    とする半導体集積回路。
  6. 【請求項6】半導体集積回路において、入力端子と、複
    数のビットから成るデータ出力端子と、基準レベル入力
    端子とを有するアナログ−デジタル変換回路を2個以上
    有し、該アナログ−デジタル変換回路は与えられた基準
    レベル入力をもとにして入力端子に印可されたアナログ
    データに応じたデジタルデータを出力端子に出力するよ
    う構成されており、基準レベル入力端子と、基準レベル
    出力端子とを有する微調整回路を有し、該微調整回路は
    前記入力された基準レベルを微調整して前記基準レベル
    出力端子に出力するよう構成されており、前記微調整回
    路の基準レベル出力端子が前記アナログ−デジタル変換
    回路の基準レベル入力端子に接続されていることを特徴
    とする半導体集積回路。
  7. 【請求項7】請求項6記載の半導体集積回路において、
    前記微調整回路を複数個有し、これら微調整回路の基準
    レベル出力端子がそれぞれのアナログ−デジタル変換回
    路の基準レベル入力端子に接続されていることを特徴と
    する半導体集積回路。
  8. 【請求項8】請求項6記載の半導体集積回路において、
    少なくとも1個のアナログ−デジタル変換回路の基準レ
    ベル入力端子は該微調整回路の基準レベル出力端子に接
    続されていないことを特徴とする半導体集積回路。
  9. 【請求項9】請求項6記載の半導体集積回路において、
    前記微調整回路のうち少なくとも1個の微調整回路には
    データ格納領域が2個以上あり、2個以上のデータを切
    り替えて参照して微調整に使用することを特徴とする半
    導体集積回路。
  10. 【請求項10】請求項6記載の半導体集積回路におい
    て、前記微調整回路のうち少なくとも1個の微調整回路
    にはデータ格納領域が2個以上あり、2個以上のデータ
    を演算し、演算結果を参照して微調整に使用することを
    特徴とする半導体集積回路。
JP10189417A 1998-07-03 1998-07-03 半導体集積回路 Withdrawn JP2000022536A (ja)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2013102318A (ja) * 2011-11-08 2013-05-23 Mitsubishi Electric Corp 二次電池の状態検知装置、二次電池の状態検知装置のための故障診断方法

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Effective date: 20050906