FI61361C - Foerfarande och anordning foer analys av malm med anvaendning av gammastraolning - Google Patents
Foerfarande och anordning foer analys av malm med anvaendning av gammastraolning Download PDFInfo
- Publication number
- FI61361C FI61361C FI802882A FI802882A FI61361C FI 61361 C FI61361 C FI 61361C FI 802882 A FI802882 A FI 802882A FI 802882 A FI802882 A FI 802882A FI 61361 C FI61361 C FI 61361C
- Authority
- FI
- Finland
- Prior art keywords
- radiation
- analysis
- scattering
- sources
- intensity
- Prior art date
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N23/00—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
- G01N23/22—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by measuring secondary emission from the material
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N2223/00—Investigating materials by wave or particle radiation
- G01N2223/05—Investigating materials by wave or particle radiation by diffraction, scatter or reflection
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N2223/00—Investigating materials by wave or particle radiation
- G01N2223/05—Investigating materials by wave or particle radiation by diffraction, scatter or reflection
- G01N2223/063—Investigating materials by wave or particle radiation by diffraction, scatter or reflection inelastic scatter, e.g. Compton effect
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N2223/00—Investigating materials by wave or particle radiation
- G01N2223/07—Investigating materials by wave or particle radiation secondary emission
- G01N2223/071—Investigating materials by wave or particle radiation secondary emission combination of measurements, at least 1 secondary emission
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N2223/00—Investigating materials by wave or particle radiation
- G01N2223/07—Investigating materials by wave or particle radiation secondary emission
- G01N2223/084—Investigating materials by wave or particle radiation secondary emission photo-electric effect
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N2223/00—Investigating materials by wave or particle radiation
- G01N2223/20—Sources of radiation
- G01N2223/206—Sources of radiation sources operating at different energy levels
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N2223/00—Investigating materials by wave or particle radiation
- G01N2223/50—Detectors
- G01N2223/505—Detectors scintillation
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
- Measurement Of Radiation (AREA)
- Geophysics And Detection Of Objects (AREA)
- Sorting Of Articles (AREA)
Description
r£ttr«i ΓΒ1 fn^^ULUTUSJULKAISU , . -, , Λ
JjSTfb LBJ (11) UTLÄGGN INGSSKMFT O I o 6 1 •A|S§ C (*$) rater. “I ::rrr :t‘y 12 C7 15.32 ^ T ^ (51) K».ik.3/int.ci.3 G 01 N 23/00 SUOMI—FINLAND (21) PatMttlhakamut — PMMtanaekning 802882 (22) HakamltpUvi —AiMtHuilngidag 15.09.80 ^^ (23) Alkupllvl—Glltl|h«t*daf 15.09.80 (41) Tullut JulklMktl — Bllvlt offantllf 16.0 3.82
Patentti- ja rekisterihallitus .... ...... ... . . ,. ,. , . . (44) NihUvSk»lpanon |· kuuL|ulk*laun pvm. — ,ι n: «o
Patent· och registerstyrelsen ' aimMcm uthgd och utukrift*n publicand (32)(33)(31) Pyydetty etuoikeus—B«g|rd prlorltet (71) Outokumpu Oy, Outokumpuni; Töölönkatu 00100 Helsinki 10,
Suomi-Finland(FI) (72) Heikki Sipilä, Espoo, Erkki Kiuru, Espoo, Seppo Vaijärvi, Espoo, iSuomi-Finland(FI) (7M Berggren Oy Ab (5^) Menetelmä ja laite malmin analysoimiseksi gammasäteilyä käyttäen - Förfarande och anordning för analys av malm med användning av gammasträlning
Esillä oleva keksintö kohdistuu menetelmään ja laitteeseen lohkareiden muodossa olevan malmin analysoimiseksi luokittelua varten/ jossa lohkareita säteilytetään yksitellen γ-säteilyllä ja niiden aiheuttamaa säteilyn sirontaa tutkitaan.
On ennestään tunnettua käyttää γ-säteilyä yksittäisten malmiloh-kareiden analysointia varten ennen niiden kuljettamista edelleen-käsiteltäviksi. Lohkareiden koon-, pölyisyyden jne. vaihdellessa on kuitenkin ollut vaikeata saavuttaa riittävä tarkkuus luokittelussa. Tarkkuuden parantamiseksi on tunnettua käyttää kaappausgammamenetelmää sekä puolijohdedetektoria, jonka erottelukyky on hyvä mutta joka samalla on kallis sekä vaatii erikoisjärjestelyjä sen suojaamiseksi vahingoittavalta säteilyltä.
Esillä olevan keksinnön tarkoituksena on aikaansaada γ-säteilyyn perustuva analyysimenetelmä, joka suhteellisen yksinkertaisella laitteistolla mahdollistaa hyvän ja olosuhteiden vaihteluista huolimatta luotettavan analyysituloksen. Tämän saavuttamiseksi 2 61 361 on keksinnön mukaiselle menetelmälle tunnusomaista se, mikä on esitetty oheisessa patenttivaatimuksessa 1, kun taas keksinnön mukaisen laitteen tunnusmerkit selviävät vastaavasti patenttivaatimuksesta 5.
Keksinnössä on siis olennaista kahden eri energiatasoisen säteilylähteen käyttö, millä voidaan yksinkertaisesti eliminoida lohkareiden vaihtelevien parametrien, kuten koon ja puhtauden vaihtelut samoin kuin taustasäteilyn vaihtelu.
Keksintöä selostetaan seuraavassa lähemmin esimerkin muodossa ja viitaten oheisiin piirustuksiin, joissa kuvio 1 esittää kaaviomaisesti keksinnön mukaista mittausjärjestelyä sivulta katsottuna, kuvio 2 esittää samaa järjestelyä päästä katsottuna, kuvio 3 esittää lohkokaavion muodossa keksinnön mukaiseen laitteeseen liittyvää elektroniikkayksikköä, ja kuviot 4 ja 5 esittävät mittauksen suoritukseen liittyviä juoksukaavioita.
Keksinnön mukaisen laitteen geometria on sopivasti kuvion 1 mukainen. Siinä on sijoitettu kulloinkin kaksi eri energiatasot omaavaa γ-säteilylähdettä la, lb vast. 2a, 2b olennaisesti samaan kohtaan eli samaan koloon säteilysuojaan 4. Syynä siihen, että käytetään kahta lähdeparia on se, että tällä tavalla saadaan voimakkaampi ja tasaisempi säteily kohdistumaan ohiputoa-vaan lohkareeseen 5, joka on analyysin kohde. Säteilylähteen la vast. 2a energiataso voi olla esimerkiksi noin 20-150 keV ja säteilylähteen lb vast. 2b energiataso noin 300-1500 keV. Käytännössä on käytetty säteilylähteitä Am-241 ja Cs-137, joiden intensiteetit ovat noin 60 keV ja noin 600 keV.
Symmetrisesti lähdeparien suhteen on sijoitettu detektori 6, joka tässä tapauksessa on energiadispersiivisesti toimiva tuikeilmai-sin.
Mittauksen alkukohdan määräämiseksi on hieman lähde-detektori-yhdistelmän yläpuolelle sijoitettu tavallinen valokenno 3, joka havaitsee saapuvan lohkareen 5 tämän katkaistessa valolähteen 61361 ja valokennon välisen valonsäteen.
Keksinnössä on siis olennaista se, että kiveä säteilytetään kahdella eri energiaisella γ-lähteellä. Valitaan toisen energia siten, että Compton vuorovaikutus on hallitseva. Toisen energia valitaan siten, että valosähköinen ilmiö ja Compton-ilmiö kilpailevat keskenään. Valosähköinen vuorovaikutus riippuu voimakkaasti alkuaineen järjestysluvusta, kun taas Compton vuorovaikutus on järjestysluvusta riippumaton. Mittaamalla näiden kahden eri energiaisen sironnan intensiteettien suhde saadaan tulos, joka kuvaa raskaiden aineiden osuutta kivessä. Useissa tapauksissa malmi ja raakkukivet ovat erittäin selvästi erotettavissa toisistaan. Kiven muodolla ja koolla ei ole juuri vaikutusta tulokseen. Säteilyjen energiat voidaan valita siten,että läpitunke-vuus on niin suuri, ettei kiven pinnassa oleva lika vaikuta tulokseen .
Kuviossa 3 on esitetty analysaattorin elektroniikkaosaa lohko-kaavion muodossa. Olennaista järjestelmässä on se, että kummankin lähteen (la, 2a ja Ib, 2b) osalta mitataan energiadis-persiivisen detektorin avulla sironneen säteilyn intensiteetti I vast. II. Näistä arvoista vähennetään vastaavat tausta-intensiteetit IQ ja IIo sekä muodostetaan lopuksi erotuksien suhde T. lli°
II-II
o jota käytetään suoritetun analyysin tulosarvona. Normaalitapauksessa suure T kuvaa raskaan tai raskaiden alkuaineiden osuutta lohkareessa.
Kuvioissa 4 ja 5 on lopuksi esitetty analysaattorin toimintaan liittyviä juoksukaavioita.
Kuvion 4 kaavio esittää tilannetta, joka alkaa kun uusi kivi tulee mittausalueelle. Yksinkertaisuuden vuoksi on menetelty niin, että jos edellisen kiven mittaus on vielä kesken, uusi kivi lajitellaan malmiksi.
Kuviossa 5 esitetty kellokeskeytys suoritetaan 1 ms:n välein. Analysaattorissa muodostetaan edellä mainittu testisuure t,
Claims (9)
1. Menetelmä lohkaireiden muodossa olevan malmin analysoimiseksi luokittelua varten, jossa lohkareita säteilytetään yksitellen γ-säteilyllä ja niiden aiheuttamaa säteilyn sirontaa tutkitaan, tunn ettu siitä, että käytetään kahdella eri energiatasolla toimivaa γ-säteilylähdettä ja ainakin yhdellä detektorilla havaitaan lohkareen aiheuttamaa näiden säteilylähteiden säteilyn sirontaa, jolloin lähteiden energiatasot on valittu niin, että toisella on Compton-vuorovaikutus hallitseva ja toisella kilpailevat keskenään Compton-vuorovaikutus sekä valosähköinen vuorovaikutus, joista ensiksi mainittu on voimakkaasti riippuvainen alkuaineen järjestysluvusta, ja että verrataan toisiinsa mainitun kahden säteilylähteen aiheuttaman sironnan intensiteettejä lohkareen sisältämän raskaiden aineiden osuuden selvittämiseksi.
2. Patenttivaatimuksen 1 mukainen menetelmä, tunnettu siitä, että luokittelutuloksen kuvaavaksi parametriksi otetaan kahden suureen muodostama suhde (T), joista ensimmäinen suure on ensimmäisen lähteen aiheuttaman sironnan intensiteetti (I) vähennettynä taustasäteilyn intensiteetillä (I ) ja toinen suure on toisen lähteen aiheuttaman sironnan intensiteetti (II) vähennettynä vastaavalla taustasäteilyn intensiteetillä (IIq) ·
3. Patenttivaatimuksen 1 tai 2 mukainen menetelmä, tunn e t-t u siitä, että detektorina käytetään yhtä energiadispersiivi-sesti toimivaa tuikeilmaisinta.
4. Jonkin patenttivaatimuksista 1-3 mukainen menetelmä, tunnettu siitä, että säteilylähteiden energiatasot ovat alueella noin 20-150 keV ja noin 300-1500 keV.
4 61 361 joka verrataan muistissa olevaan lajittelukynnykseen TQ ja joka määrää kiven lajittelun raakuksi tai malmiksi.
5. Laite patenttivaatimuksen 1 mukaisen menetelmän suorittamiseksi malminlohkareen analysoimiseksi γ-säteilyn avulla, tunnettu siitä, että se käsittää kaksi eri energiatasoilla toimivaa 7-säteilylähdettä (la, Ib? 2a, 2b), jotka ovat sovitetut kohdistamaan säteilyä lohkareeseen olennaisesti samanaikaisesti 61361 ja joiden energiatasot on valittu siten, että säteilyn sironnassa on toisella energiatasolla Compton-vuorovaikutus hallitseva ja toisella kilpailevat keskenään Compton-vuorovaikutus ja valosähköinen vuorovaikutus, ja että säteilyjen aiheuttaman sironnan ilmaisemiseksi on sovitettu siten sijoitettu detektori (6), että se ottaa vastaan olennaisesti vain lohkareesta (5) sironnut-ta säteilyä, jolloin detektoriin on edelleen kytketty mittauseli-met kahden säteilylähteen aiheuttaman sironnan intensiteettien vertailemiseksi toisiinsa.
6. Patenttivaatimuksen 5 mukainen laite, tunn ettu siitä, että säteilylähteet (la, Ib; 2a, 2b) on sijoitettu olennaisesti samaan kohtaan.
7. Patenttivaatimuksen 6 mukainen laite, tunn ettu sitä, että siinä on kaksi samanlaista säteilylähdeparia (la, Ib; 2a, 2b), jotka kumpikin käsittävät eri energiatasot omaavat lähteet ja jotka on sijoitettu symmetrisesti detektorin (6) molemmin puolin.
8. Patenttivaatimuksen 5 mukainen laite, tunn e ttu siitä, että detektorina (6) toimii tuikeilmaisin.
9. Patenttivaatimuksen 5 mukainen laite, tunnettu siitä, että detektori (6) on kytketty elektroniseen analysointi-piiriin, joka käsittää pulssinkorkeusanalysaattorin sekä siihen liittyvän mikroprosessorin (kuvio 3). 61361 6 t
Priority Applications (13)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| FI802882A FI61361C (fi) | 1980-09-15 | 1980-09-15 | Foerfarande och anordning foer analys av malm med anvaendning av gammastraolning |
| SE8105326A SE8105326L (sv) | 1980-09-15 | 1981-09-08 | Forfarande och anordning for analys av malm med anvendning av gammastralning |
| ZA816268A ZA816268B (en) | 1980-09-15 | 1981-09-10 | A method and apparatus for analysing ore by means of gamma radiation |
| US06/301,196 US4520267A (en) | 1980-09-15 | 1981-09-11 | Method and apparatus for analyzing ore by means of gamma radiation |
| AU75217/81A AU527158B2 (en) | 1980-09-15 | 1981-09-14 | Analysing ore by means of gamma radiation |
| CA000385782A CA1168766A (en) | 1980-09-15 | 1981-09-14 | Method and apparatus for analysing ore by means of gamma radiation |
| SU813337799A SU1355111A3 (ru) | 1980-09-15 | 1981-09-14 | Устройство дл сортировки руд |
| DE3136343A DE3136343C2 (de) | 1980-09-15 | 1981-09-14 | Verfahren zum Analysieren von brockenförmigem, erzhaltigen Material |
| ES505458A ES505458A0 (es) | 1980-09-15 | 1981-09-14 | Un metodo para analizar trozos de mineral con fines de se- leccion |
| BR8105860A BR8105860A (pt) | 1980-09-15 | 1981-09-15 | Processo para analisar pedacos de minerio por meio de radiacoes gama e aparelho para o processo |
| FR8117417A FR2490823A1 (fr) | 1980-09-15 | 1981-09-15 | Procede et appareil pour analyser des minerais au moyen de rayons gamma |
| GB8127849A GB2083618B (en) | 1980-09-15 | 1981-09-15 | A method and apparatus for analysis of heavy element content of ore |
| ES515253A ES8306257A1 (es) | 1980-09-15 | 1982-08-25 | "un aparato para analizar trozos de mineral con fines de seleccion". |
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| FI802882A FI61361C (fi) | 1980-09-15 | 1980-09-15 | Foerfarande och anordning foer analys av malm med anvaendning av gammastraolning |
| FI802882 | 1980-09-15 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| FI61361B FI61361B (fi) | 1982-03-31 |
| FI61361C true FI61361C (fi) | 1982-07-12 |
Family
ID=8513771
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| FI802882A FI61361C (fi) | 1980-09-15 | 1980-09-15 | Foerfarande och anordning foer analys av malm med anvaendning av gammastraolning |
Country Status (12)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4520267A (fi) |
| AU (1) | AU527158B2 (fi) |
| BR (1) | BR8105860A (fi) |
| CA (1) | CA1168766A (fi) |
| DE (1) | DE3136343C2 (fi) |
| ES (2) | ES505458A0 (fi) |
| FI (1) | FI61361C (fi) |
| FR (1) | FR2490823A1 (fi) |
| GB (1) | GB2083618B (fi) |
| SE (1) | SE8105326L (fi) |
| SU (1) | SU1355111A3 (fi) |
| ZA (1) | ZA816268B (fi) |
Families Citing this family (11)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| FI67626C (fi) * | 1983-03-23 | 1985-04-10 | Outokumpu Oy | Foerfarande foer analysering av malmblock |
| FI72211C (fi) * | 1983-03-23 | 1987-04-13 | Outokumpu Oy | Foerfarande foer beaktande av straolningsbakgrunden foer bestaemning av straolningsintensiteter som uppstaor i kroppar som skall analyseras. |
| US4916719A (en) * | 1988-06-07 | 1990-04-10 | Board Of Control Of Michigan Technological University | On-line analysis of ash containing slurries |
| US5506406A (en) * | 1993-05-17 | 1996-04-09 | Atomic Energy Corporation Of South Africa Ltd. | Method and apparatus for determining the concentration of a heavy element in a rock face |
| AUPN226295A0 (en) * | 1995-04-07 | 1995-05-04 | Technological Resources Pty Limited | A method and an apparatus for analysing a material |
| US7075062B2 (en) * | 2001-12-10 | 2006-07-11 | Schlumberger Technology Corporation | Apparatus and methods for downhole determination of characteristics of formation fluids |
| US9482762B2 (en) | 2014-08-28 | 2016-11-01 | Infineon Technologies Ag | Gamma ray detector and method of detecting gamma rays |
| GB2571099B (en) * | 2018-02-15 | 2022-12-21 | Bae Systems Plc | Radiation detector |
| EP3737972A1 (en) | 2018-02-15 | 2020-11-18 | BAE SYSTEMS plc | Radiation detector |
| WO2020104800A1 (en) | 2018-11-23 | 2020-05-28 | Bae Systems Plc | Scintillation detector |
| CA3191464A1 (en) * | 2020-09-02 | 2022-03-10 | Botswana International University Of Science And Technology | Method and system for sorting of diamonds |
Family Cites Families (10)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| FR1389417A (fr) * | 1963-04-01 | 1965-02-19 | Commissariat Energie Atomique | Procédé de dosage et dispositifs en faisant application |
| GB1103591A (en) * | 1964-02-25 | 1968-02-21 | Nat Res Dev | Improvements in or relating to analysing and/or sorting arrangements |
| AU475297B2 (en) * | 1972-06-09 | 1976-08-19 | Commonwealth Scientific And Industrial Research Organisation | Analysis utilizing neutron irradiation |
| DK134687B (da) * | 1972-11-22 | 1976-12-20 | Isotopcentralen | Apparat til måling af koncentrationen af et eller flere grundstoffer i et bæremedium ved hjælp af gamma- eller rontgenstråler. |
| ZA766086B (en) * | 1975-10-29 | 1977-07-27 | Atomic Energy Commission | Analysis of coal |
| DE2622175C3 (de) * | 1976-05-19 | 1982-04-01 | Gkss - Forschungszentrum Geesthacht Gmbh, 2000 Hamburg | Verfahren zum Ermitteln der Volumenanteile eines Drei-Komponenten-Gemisches |
| GB2039363B (en) * | 1979-01-12 | 1983-02-16 | Coal Ind | Determining the nature of transported material |
| DE2920364A1 (de) * | 1979-05-19 | 1980-11-27 | Strahlen Umweltforsch Gmbh | Verfahren zur bestimmung von substanzen niederer ordnungszahl |
| US4314155A (en) * | 1979-07-19 | 1982-02-02 | Australian Atomic Energy Commission | Method and apparatus for elemental analysis employing combination of neutron inelastic scattering and γ ray scattering |
| AU546141B2 (en) * | 1979-12-20 | 1985-08-15 | Australian Atomic Energy Commission | Annihilation radiation analysis |
-
1980
- 1980-09-15 FI FI802882A patent/FI61361C/fi not_active IP Right Cessation
-
1981
- 1981-09-08 SE SE8105326A patent/SE8105326L/ unknown
- 1981-09-10 ZA ZA816268A patent/ZA816268B/xx unknown
- 1981-09-11 US US06/301,196 patent/US4520267A/en not_active Expired - Lifetime
- 1981-09-14 DE DE3136343A patent/DE3136343C2/de not_active Expired
- 1981-09-14 CA CA000385782A patent/CA1168766A/en not_active Expired
- 1981-09-14 ES ES505458A patent/ES505458A0/es active Granted
- 1981-09-14 SU SU813337799A patent/SU1355111A3/ru active
- 1981-09-14 AU AU75217/81A patent/AU527158B2/en not_active Ceased
- 1981-09-15 FR FR8117417A patent/FR2490823A1/fr active Granted
- 1981-09-15 GB GB8127849A patent/GB2083618B/en not_active Expired
- 1981-09-15 BR BR8105860A patent/BR8105860A/pt unknown
-
1982
- 1982-08-25 ES ES515253A patent/ES8306257A1/es not_active Expired
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| ES8302912A1 (es) | 1982-12-01 |
| GB2083618A (en) | 1982-03-24 |
| AU527158B2 (en) | 1983-02-17 |
| SE8105326L (sv) | 1982-03-16 |
| CA1168766A (en) | 1984-06-05 |
| ES505458A0 (es) | 1982-12-01 |
| GB2083618B (en) | 1984-06-13 |
| BR8105860A (pt) | 1982-06-08 |
| DE3136343C2 (de) | 1986-01-02 |
| FR2490823B1 (fi) | 1984-11-16 |
| ES515253A0 (es) | 1983-05-01 |
| ZA816268B (en) | 1983-01-26 |
| US4520267A (en) | 1985-05-28 |
| ES8306257A1 (es) | 1983-05-01 |
| AU7521781A (en) | 1982-04-08 |
| FI61361B (fi) | 1982-03-31 |
| SU1355111A3 (ru) | 1987-11-23 |
| FR2490823A1 (fr) | 1982-03-26 |
| DE3136343A1 (de) | 1982-06-16 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| FI61361C (fi) | Foerfarande och anordning foer analys av malm med anvaendning av gammastraolning | |
| FI97647B (fi) | Menetelmä ja laitteisto alkuaineen pitoisuuden määrittämiseksi | |
| JPH028653B2 (fi) | ||
| US20050084064A1 (en) | X-ray grading apparatus and process | |
| FI72211C (fi) | Foerfarande foer beaktande av straolningsbakgrunden foer bestaemning av straolningsintensiteter som uppstaor i kroppar som skall analyseras. | |
| FI80524C (fi) | Foerfarande och anordning foer analysering av slamartade material. | |
| CA2066233A1 (en) | Apparatus for bulk material constituent content determination using pulsed neutron radiation and method employed | |
| JPS6233544B2 (fi) | ||
| US3452193A (en) | Moisture content measuring method and apparatus | |
| US3859525A (en) | Method and apparatus for fluorescent x-ray analysis | |
| GB1185783A (en) | Improvements in Methods of and Apparatus for Obtaining Indications of the Amounts and Distributions of Fillers in Papers | |
| DE60026701D1 (de) | Verfahren und system zur inspektion eines bauteils mit anschlüssen und zum erfassen der korrekten bestückungsposition | |
| CA2093347A1 (en) | Imaging method for defining the structure of objects | |
| FI67626C (fi) | Foerfarande foer analysering av malmblock | |
| RU2154537C1 (ru) | Способ рентгенорадиометрической сепарации минерализованной массы | |
| SU1028387A1 (ru) | Устройство дл рентгенорадиометрической сортировки руд | |
| ATE71737T1 (de) | Verfahren und vorrichtung zur messung der roentgenstrahlung oder gammastrahlung. | |
| SU1315880A1 (ru) | Способ абсорбционного рентгеновского анализа руд | |
| FI113496B (fi) | Menetelmä kivien tunnistamiseksi puuvirrasta | |
| RU1771275C (ru) | Способ плотностной дефектоскопии твердых материалов | |
| AU600461B2 (en) | Neutron and gamma-ray moisture assay | |
| SU1010528A2 (ru) | Устройство дл определени содержани минералов в руде | |
| SU958933A1 (ru) | Способ флуоресцентного рентгенорадиометрического анализа | |
| SU1762205A1 (ru) | Способ контрол массовой доли нерастворимого остатка в калийных рудах | |
| JPS646850A (en) | Method and instrument for measuring element concentration distribution |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| MM | Patent lapsed |
Owner name: OUTOKUMPU OY |