FI20021455A - Menetelmä ja järjestely epäpuhtauksien mittaamiseksi - Google Patents
Menetelmä ja järjestely epäpuhtauksien mittaamiseksiInfo
- Publication number
- FI20021455A FI20021455A FI20021455A FI20021455A FI20021455A FI 20021455 A FI20021455 A FI 20021455A FI 20021455 A FI20021455 A FI 20021455A FI 20021455 A FI20021455 A FI 20021455A FI 20021455 A FI20021455 A FI 20021455A
- Authority
- FI
- Finland
- Prior art keywords
- arrangement
- measuring impurities
- impurities
- measuring
- Prior art date
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
Priority Applications (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
FI20021455A FI115859B (fi) | 2002-08-08 | 2002-08-08 | Menetelmä ja järjestely epäpuhtauksien mittaamiseksi |
PCT/FI2003/000592 WO2004015403A1 (en) | 2002-08-08 | 2003-08-05 | Method and arrangement for measuring impurities |
AU2003251015A AU2003251015A1 (en) | 2002-08-08 | 2003-08-05 | Method and arrangement for measuring impurities |
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
FI20021455A FI115859B (fi) | 2002-08-08 | 2002-08-08 | Menetelmä ja järjestely epäpuhtauksien mittaamiseksi |
FI20021455 | 2002-08-08 |
Publications (3)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
FI20021455A0 FI20021455A0 (fi) | 2002-08-08 |
FI20021455A true FI20021455A (fi) | 2004-02-09 |
FI115859B FI115859B (fi) | 2005-07-29 |
Family
ID=8564418
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
FI20021455A FI115859B (fi) | 2002-08-08 | 2002-08-08 | Menetelmä ja järjestely epäpuhtauksien mittaamiseksi |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
AU (1) | AU2003251015A1 (fi) |
FI (1) | FI115859B (fi) |
WO (1) | WO2004015403A1 (fi) |
Family Cites Families (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4692799A (en) * | 1982-04-05 | 1987-09-08 | Showa Electric Wire & Cable Co., Ltd. | Automatic inspection system for detecting foreign matter |
JPS59197840A (ja) * | 1983-04-25 | 1984-11-09 | Fujitsu Autom Kk | 高速移動連続紙の欠陥自動検出装置 |
JPS62138740A (ja) * | 1985-12-13 | 1987-06-22 | Hiyuutec:Kk | シ−ト面の欠陥検出方法 |
US4989973A (en) * | 1988-10-03 | 1991-02-05 | Nissan Motor Co., Ltd. | Surface condition estimating apparatus |
DE4217942A1 (de) * | 1992-05-30 | 1993-12-02 | Koenig & Bauer Ag | Druck-Qualitätskontrolleinrichtung für eine Schön- und Widerdruck-Rotationsdruckmaschine |
DE19813575B4 (de) * | 1998-03-27 | 2005-10-20 | Bielomatik Leuze Gmbh & Co Kg | Drall-Prüfeinrichtung für flächiges Material, wie Papier |
CH692847A5 (fr) * | 1998-09-02 | 2002-11-29 | Bobst Sa | Dispositif automatique détectant les défauts d'impression apparaissant sur des bandes métallisées ou sur tout autre support d'impression comprenant une prédominance de surfaces de couleurs s |
-
2002
- 2002-08-08 FI FI20021455A patent/FI115859B/fi not_active IP Right Cessation
-
2003
- 2003-08-05 WO PCT/FI2003/000592 patent/WO2004015403A1/en not_active Application Discontinuation
- 2003-08-05 AU AU2003251015A patent/AU2003251015A1/en not_active Abandoned
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
FI115859B (fi) | 2005-07-29 |
FI20021455A0 (fi) | 2002-08-08 |
WO2004015403A1 (en) | 2004-02-19 |
AU2003251015A1 (en) | 2004-02-25 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
NO20032220D0 (no) | Löfteverktöy II og fremgangsmåte for anvendelse av samme | |
DK1664746T3 (da) | Antioxidantsensor og fremgangsmåde | |
BRPI0313238A2 (pt) | método | |
FI20021327A0 (fi) | Menetelmä ja laitteisto murskaimen asetuksen mittaamiseksi ja säätämiseksi | |
DE60309411D1 (de) | Pollensensor und Verfahren | |
DE60319191D1 (de) | Brückenvorrichtung und -verfahren | |
NO20020795D0 (no) | Måleverktöy | |
FI20020547A0 (fi) | Menetelmä ja laitteisto kokoonpanoon | |
FI20020280A (fi) | Putkistoelementti ja menetelmä ja laitteisto sen valmistamiseksi | |
NO20022908L (no) | Analysator for fibersensorer | |
FI20030447A (fi) | Menetelmä ja sovitelma epäpuhtauksien poistamiseksi | |
FI20021112A (fi) | Menetelmä ja järjestely paikannuksen suorittamiseksi | |
FI20031868A0 (fi) | Menetelmä ja järjestely taajuusmuuttajan suojaamiseksi | |
DE60229840D1 (de) | Offset-messverfahren | |
FI116806B (fi) | Menetelmä ja järjestelmä valinnan suorittamiseksi ja elektroniikkalaite | |
NO20023358D0 (no) | Metode | |
FI20021455A (fi) | Menetelmä ja järjestely epäpuhtauksien mittaamiseksi | |
FI20031164A (fi) | Menetelmä ja laitteisto massan käsittelemiseksi | |
FI20020901A (fi) | Menetelmä kylmälaitteen yhteydessä ja kylmälaite | |
FI20021656A0 (fi) | Menetelmä ja järjestely dekoodauksen suorittamiseksi | |
FI20021754A (fi) | Menetelmä saheiden mittaamiseksi ja saheiden mittausjärjestely | |
FI20011720A (fi) | Menetelmä ja sovitelma mittalaitteen yhteydessä | |
FI20022178A (fi) | Menetelmä ja testipakkaus diabetesriskin havaitsemiseksi | |
FI20022278A0 (fi) | Menetelmä ja järjestelmä ohjelman testaamiseksi ja laite | |
FI20021642A0 (fi) | Menetelmä ja laite siirtymän mittaamiseksi |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
PC | Transfer of assignment of patent |
Owner name: METSO AUTOMATION OY Free format text: METSO AUTOMATION OY |
|
FG | Patent granted |
Ref document number: 115859 Country of ref document: FI |
|
MM | Patent lapsed |