FI20021455A - Menetelmä ja järjestely epäpuhtauksien mittaamiseksi - Google Patents

Menetelmä ja järjestely epäpuhtauksien mittaamiseksi

Info

Publication number
FI20021455A
FI20021455A FI20021455A FI20021455A FI20021455A FI 20021455 A FI20021455 A FI 20021455A FI 20021455 A FI20021455 A FI 20021455A FI 20021455 A FI20021455 A FI 20021455A FI 20021455 A FI20021455 A FI 20021455A
Authority
FI
Finland
Prior art keywords
arrangement
measuring impurities
impurities
measuring
Prior art date
Application number
FI20021455A
Other languages
English (en)
Swedish (sv)
Other versions
FI115859B (fi
FI20021455A0 (fi
Inventor
Antti Salopuro
Mika Sappinen
Heikki Suistomaa
Original Assignee
Metso Field Systems Oy
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Metso Field Systems Oy filed Critical Metso Field Systems Oy
Priority to FI20021455A priority Critical patent/FI115859B/fi
Publication of FI20021455A0 publication Critical patent/FI20021455A0/fi
Priority to PCT/FI2003/000592 priority patent/WO2004015403A1/en
Priority to AU2003251015A priority patent/AU2003251015A1/en
Publication of FI20021455A publication Critical patent/FI20021455A/fi
Application granted granted Critical
Publication of FI115859B publication Critical patent/FI115859B/fi

Links

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
FI20021455A 2002-08-08 2002-08-08 Menetelmä ja järjestely epäpuhtauksien mittaamiseksi FI115859B (fi)

Priority Applications (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
FI20021455A FI115859B (fi) 2002-08-08 2002-08-08 Menetelmä ja järjestely epäpuhtauksien mittaamiseksi
PCT/FI2003/000592 WO2004015403A1 (en) 2002-08-08 2003-08-05 Method and arrangement for measuring impurities
AU2003251015A AU2003251015A1 (en) 2002-08-08 2003-08-05 Method and arrangement for measuring impurities

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
FI20021455A FI115859B (fi) 2002-08-08 2002-08-08 Menetelmä ja järjestely epäpuhtauksien mittaamiseksi
FI20021455 2002-08-08

Publications (3)

Publication Number Publication Date
FI20021455A0 FI20021455A0 (fi) 2002-08-08
FI20021455A true FI20021455A (fi) 2004-02-09
FI115859B FI115859B (fi) 2005-07-29

Family

ID=8564418

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
FI20021455A FI115859B (fi) 2002-08-08 2002-08-08 Menetelmä ja järjestely epäpuhtauksien mittaamiseksi

Country Status (3)

Country Link
AU (1) AU2003251015A1 (fi)
FI (1) FI115859B (fi)
WO (1) WO2004015403A1 (fi)

Family Cites Families (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4692799A (en) * 1982-04-05 1987-09-08 Showa Electric Wire & Cable Co., Ltd. Automatic inspection system for detecting foreign matter
JPS59197840A (ja) * 1983-04-25 1984-11-09 Fujitsu Autom Kk 高速移動連続紙の欠陥自動検出装置
JPS62138740A (ja) * 1985-12-13 1987-06-22 Hiyuutec:Kk シ−ト面の欠陥検出方法
US4989973A (en) * 1988-10-03 1991-02-05 Nissan Motor Co., Ltd. Surface condition estimating apparatus
DE4217942A1 (de) * 1992-05-30 1993-12-02 Koenig & Bauer Ag Druck-Qualitätskontrolleinrichtung für eine Schön- und Widerdruck-Rotationsdruckmaschine
DE19813575B4 (de) * 1998-03-27 2005-10-20 Bielomatik Leuze Gmbh & Co Kg Drall-Prüfeinrichtung für flächiges Material, wie Papier
CH692847A5 (fr) * 1998-09-02 2002-11-29 Bobst Sa Dispositif automatique détectant les défauts d'impression apparaissant sur des bandes métallisées ou sur tout autre support d'impression comprenant une prédominance de surfaces de couleurs s

Also Published As

Publication number Publication date
FI115859B (fi) 2005-07-29
FI20021455A0 (fi) 2002-08-08
WO2004015403A1 (en) 2004-02-19
AU2003251015A1 (en) 2004-02-25

Similar Documents

Publication Publication Date Title
NO20032220D0 (no) Löfteverktöy II og fremgangsmåte for anvendelse av samme
DK1664746T3 (da) Antioxidantsensor og fremgangsmåde
BRPI0313238A2 (pt) método
FI20021327A0 (fi) Menetelmä ja laitteisto murskaimen asetuksen mittaamiseksi ja säätämiseksi
DE60309411D1 (de) Pollensensor und Verfahren
DE60319191D1 (de) Brückenvorrichtung und -verfahren
NO20020795D0 (no) Måleverktöy
FI20020547A0 (fi) Menetelmä ja laitteisto kokoonpanoon
FI20020280A (fi) Putkistoelementti ja menetelmä ja laitteisto sen valmistamiseksi
NO20022908L (no) Analysator for fibersensorer
FI20030447A (fi) Menetelmä ja sovitelma epäpuhtauksien poistamiseksi
FI20021112A (fi) Menetelmä ja järjestely paikannuksen suorittamiseksi
FI20031868A0 (fi) Menetelmä ja järjestely taajuusmuuttajan suojaamiseksi
DE60229840D1 (de) Offset-messverfahren
FI116806B (fi) Menetelmä ja järjestelmä valinnan suorittamiseksi ja elektroniikkalaite
NO20023358D0 (no) Metode
FI20021455A (fi) Menetelmä ja järjestely epäpuhtauksien mittaamiseksi
FI20031164A (fi) Menetelmä ja laitteisto massan käsittelemiseksi
FI20020901A (fi) Menetelmä kylmälaitteen yhteydessä ja kylmälaite
FI20021656A0 (fi) Menetelmä ja järjestely dekoodauksen suorittamiseksi
FI20021754A (fi) Menetelmä saheiden mittaamiseksi ja saheiden mittausjärjestely
FI20011720A (fi) Menetelmä ja sovitelma mittalaitteen yhteydessä
FI20022178A (fi) Menetelmä ja testipakkaus diabetesriskin havaitsemiseksi
FI20022278A0 (fi) Menetelmä ja järjestelmä ohjelman testaamiseksi ja laite
FI20021642A0 (fi) Menetelmä ja laite siirtymän mittaamiseksi

Legal Events

Date Code Title Description
PC Transfer of assignment of patent

Owner name: METSO AUTOMATION OY

Free format text: METSO AUTOMATION OY

FG Patent granted

Ref document number: 115859

Country of ref document: FI

MM Patent lapsed