EP1521143A1 - Convertisseur temps-numérique - Google Patents
Convertisseur temps-numérique Download PDFInfo
- Publication number
- EP1521143A1 EP1521143A1 EP03103642A EP03103642A EP1521143A1 EP 1521143 A1 EP1521143 A1 EP 1521143A1 EP 03103642 A EP03103642 A EP 03103642A EP 03103642 A EP03103642 A EP 03103642A EP 1521143 A1 EP1521143 A1 EP 1521143A1
- Authority
- EP
- European Patent Office
- Prior art keywords
- signal
- event
- register
- time
- samples
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Withdrawn
Links
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G04—HOROLOGY
- G04F—TIME-INTERVAL MEASURING
- G04F10/00—Apparatus for measuring unknown time intervals by electric means
-
- G—PHYSICS
- G04—HOROLOGY
- G04F—TIME-INTERVAL MEASURING
- G04F10/00—Apparatus for measuring unknown time intervals by electric means
- G04F10/04—Apparatus for measuring unknown time intervals by electric means by counting pulses or half-cycles of an ac
Definitions
- the present invention relates to the field of coders of time, and more specifically time-to-digital converters, designated also TDC (Time-Digital-Converters).
- TDC Time-Digital-Converters
- Time-to-Digital Converters are used where one wants to accurately measure and code the temporal position of a event, or a plurality of events, represented by electrical pulses, with respect to a reference signal, defining the origin of the time scale.
- TDCs are used for example in the field of physics corpuscular, to measure the passage times of particles elementals produced during an interaction, in the different zones of a segmented particle detector.
- TDCs also find applications in many others areas in which accurate measurement of arrival times is required of electrical impulses.
- TDC applications include time correlated microscopy of photons, optical tomography, component testing electronic spectroscopy, time-of-flight measurement spectroscopy, OTDR in the field of time.
- a well-known technique of coding time intervals is to electronically count the number of pulses of a signal clock, and copy the counter value during the event of interest in a register.
- a limitation of this technique is that the measurement accuracy, is limited by the rate of the clock signal. For a resolution of 10 picoseconds, for example, a clock signal of 100 gigahertz is required, so that this level of precision is hardly attainable by this technical.
- Another known technique is to convert the interval to measure in a proportionally longer interval, for example with a double-ramp converter, in which one charges and then discharges a capacitor with two constant currents of different values.
- the time required for the voltage across the capacitor returns to zero is proportional to the desired time interval, and can be measured with a counter whose rate is relatively low.
- a disadvantage of this technique is the relatively large idle time associated with each event measured, so that this technique is difficult to apply to multiple and close impulses, such as for example the signals generated by the particle detectors elementary (multi-hit events).
- Another disadvantage of the above technique is related to the difficulty in achieving constant and independent sources of currents the ramp voltage. Any difference in behavior between the two sources leading to conversion errors.
- An object of the present invention is to present a coder of time free from the disadvantages of the prior art.
- Another object of the present invention is to propose an encoder of time that joins a high resolution and depth, allowing very precise measurements of extended time intervals.
- Another object of the present invention is to enable realize a time encoder whose resolution is programmable and adaptable to the needs of the application.
- Another object of the invention is to provide a time coder requiring no calibration procedure to maintain its accuracy.
- a device for measuring the temporal position of an event comprising: a signal generator bootable, to generate a synchronous periodic signal with the said event, and whose phase is correlated with the temporal position of the event, characterized in that said measuring device comprises a first analog-to-digital converter to measure a plurality samples of a first reference signal during said event, the values of said samples determining said phase of said signal periodic.
- the input signal 2 is an analog or digital signal comprising corresponding voltage or current pulses in general to events whose temporal position is to be determined precisely.
- the signal 2 is connected to an input of a discriminator 37, to obtain a digital trigger signal 6 (TRIG, TR), whose front corresponds to the event signaled by the impulse 2.
- TOG digital trigger signal
- the discriminator may be preceded by an input signal conditioning circuit 2, no shown in FIG. 1.
- the conditioning circuit can for example be include overvoltage protection elements, a line of delay, an amplifier, attenuators, impedance adapters and everything other electrical or electronic element necessary to adapt the characteristics of signal 2 to discriminator 37.
- a second input of the discriminator 37 is connected to the converter DAC 35, which provides a constant voltage level 5 and representing a threshold level to be exceeded for an event to be detected by the converter 10.
- the threshold level 5 will be placed low enough to detect small impulses as well, but far enough away from the noise level to limit false triggers.
- the DAC 35 makes it easy to adapt the value of the threshold 5 to measurement conditions.
- the DAC 35 may be replaced by a fixed or variable reference voltage generator.
- the discriminator 37 is a constant fraction discriminator (CFD), which triggers the pulse of trigger when the input level has reached a predetermined fraction of its peak value.
- CFD constant fraction discriminator
- the discriminator 37 detects the rising edge of the input signal 2.
- logic gate 39 controlled by the input 38 makes it possible to obtain a signal trigger logic 6 having the required polarity.
- the generator 81 produces the sinusoidal signal 13 serving as the time base for the converter 10.
- the sinusoid 13 is generated from an external clock signal 82, as indicated on the Figure 1a, or by a local generator of time not shown.
- the signal frequency 13 is chosen according to the application and the desired temporal resolution, within limits imposed by the speed of components used. In a typical case we can recommend a frequency of 100 MHz, although obviously the present invention also includes devices whose rate is higher or lower, According to the case.
- the trigger digital signal 6 is sent to a system coarse measuring device 15, described hereinafter with reference to FIGS. 2a.
- the coarse measurement circuit 15 comprises the real-time counter 61 and the two registers 64, 65.
- the real-time counter 61 counts the signal periods sinusoidal 13, and is used to power the two buses 3 and 4, whose content changes synchronously, being incremented each cycle of the time base 13, during all the time in which the converter 10 is active.
- the bus 4 is shifted by half a period with respect to bus 3 by a timing logic circuit not shown.
- the number of bits of buses 3 and 4 is chosen according to the maximum temporal distance between two events you want save. Admitting that the time base runs at 100 MHz, and that the bus 3 and 4 include 32 bits each, the maximum duration will be 43 seconds. If a more limited duration is enough, we can limit the depth buses 3 and 4 and the counter 61, for example at 24 bits for a depth of 167 ms.
- Registers 64 and 65 sample the contents of buses 3 and 4 to the moment of each event signaled by the rising edge of the signal of trigger 6. The contents of the registers are then copied into a zone of memory provided for this purpose in logic unit 71.
- the system of coarse measurement 15, including the real-time counter 61, the two buses 3, 4, the timing unit and the registers 64, 65 are made inside an FPGA (Field Programmable Gate Array) type integrated circuit.
- FPGA Field Programmable Gate Array
- the FPGA circuit will also include the logic unit 71.
- the trigger signal 6 is also sent to a device of fine measurement 17, comprising the pulse generator 40 and the ADC 52.
- the pulse generator 40 triggers a burst of pulses 8 in correspondence of each event marked by an impulse of trigger signal 6.
- Signal 8 serves as a clock for the ADC 52 which samples the sinusoidal signal 13 corresponding to each signal pulse 8.
- the 8 signal generated is, by the way the circuit 40 operates, synchronous with the trigger signal 6.
- the signal 8 contains therefore, by the value of its phase, the information on the moment of arrival of the event.
- the values sampled by the ADC 52 are stored in the unit logic 71. Taking several samples of the sinusoid 13 allows to determine the phase of the latter at the moment of the signal of trigger 6, with a high resolution, as we will see later.
- the amplitude A is chosen so as to occupy as much as possible the scale of ADC 52, but without exceeding it.
- the sampling period T s is judiciously chosen according to the period T 0 of the sampled sinusoid. Preferably, a substantially faster rate will be adopted than that of the sinusoid 13, to accelerate the conversion time. For example we can choose pulses separated by 1 ns, and an ADC 52 with a conversion rate of 1 GS / s.
- the three unknowns A, T s and D are determined at each new trigger signal, and their value is ignored, or used for monitoring purposes only.
- This measurement method has the advantage of not requiring any calibration, the accuracy of the measurement then based solely on the absolute accuracy and stability of the frequency ⁇ 0 .
- the quantities A, T s and D are however substantially constant, and could be determined once and for all or periodically by a suitable calibration method. It is also possible in the present invention to separately evaluate the quantities A, T s and D during an automatic calibration or on the initiative of an operator, thus reducing the number of pulses required to reach the desired resolution and limiting the In a further variant of the invention, the calibration of A, T s and D may also be performed only when certain predetermined conditions are met, for example once for the first hit of each event, but not for successive hits.
- pulses 8 are sampled. If by example ADC 52 has an internal pipeline architecture, one or more pulses at the beginning and at the end of the salvo are only needed to wake up the ADC and extract the data from the pipeline. In this case we may increase the number of hits in each salvo, in order to have always a sufficient number of samples.
- the generator 40 shown in FIG. LC oscillator that can be booted by the transistor 42.
- a sinusoid is present at the terminal 45 whose frequency is determined by the values of L and C.
- Counter 4 counts a number predefined pulse of the discriminated signal 46, and resets the signal Enable, to cut the burst of pulses to the desired length.
- Figure 7 shows an alternating circuit for the generator pulses 40 having delay lines 43.
- Each cell consisting of a delay line 43 and an XOR gate 44 produces a impulse shifted in time.
- the adder ⁇ recomposes pulses to give rise to the burst of pulses 8.
- the two registers 64 and 65 record two measurements independent of the temporal position of the event by compared to two time bases 3 and 4 isochronous and offset by half period. This duplication makes it possible to avoid ambiguities due to metastability of buses 3 and 4 during transitions 90, visible in FIG. 2.
- the counting and reading routine may be stored in the logical unit 71 and executed by a local processor, or executed by a master processor, which has access to the raw data stored in unit 71 by an appropriate communication bus, such as for example a PCI, VME or VXI bus.
- an appropriate communication bus such as for example a PCI, VME or VXI bus.
- the time encoder according to the invention 20 comprises a generator 810 which produces the two sinusoidal signals in quadrature 13 and 14 serving as a time base for the converter 10.
- a generator 810 which produces the two sinusoidal signals in quadrature 13 and 14 serving as a time base for the converter 10.
- I In phase
- Q Quadrature
- Signals 13 and 14 are generated at from an external clock signal 82, as can be seen in FIG. or by a local oscillator not shown.
- the frequency of the signals 13 and 14 is chosen according to the resolution that one wishes to obtain, as in the first embodiment already described.
- the I and Q 810 signal generator is now described with 3 and 4.
- the reference signal 82 coming from the outside or a local oscillator, is applied to the inputs of both flip-flops 83, 84 for generating two square signals out of phase by 90 ° whose frequency is half that of signal 82.
- Both band pass filters or identical low-pass 85 and 86 transform square signals into signals sinusoidal.
- the latches 83, 84 are replaced by a clock generator 89.
- the circuit 89 produces at its outputs A and B two signals squares each having a specific phase relationship with the signal of reference 82 programmable by the input bus 120. In the circuit of 4 the delay between the I and Q signals can thus be easily calibrated.
- the programmable generator 89 is integrated in the FPGA.
- the frequency of the reference signals I and Q can be changed, to adapt to the conditions of measurement, by appropriate means not shown.
- the trigger digital signal 6 is sent to a system coarse measurement 15, identical to that already described in relation to the first embodiment of this invention and shown in FIGS. 2a.
- the trigger signal 6 is also sent to a device of fine measurement 17, comprising the pulse generator 40 and the two ADCs 51 and 52.
- the pulse generator 40 triggers a burst of pulses 8 in correspondence of each event marked by an impulse of trigger signal 6.
- Signal 8 serves as clock for both ADC 51 and 52 which sample the two sinusoidal signals in quadrature 13 and 14 in correspondence of each pulse of the signal 8.
- this embodiment of the invention provides a pair of sinusoids in quadrature as a time reference, the invention is not not limited by this example.
- a converter according to the invention could also use two signals out of phase by an angle other than 90 ° or different shapes, for example triangles, instead of sinusoids 13 and 14.
- the relative arrival time t 0 of the pulse 6 can thus be determined more precisely, analogously to that described in the first embodiment above, or by means of averaging or interpolation, for example a linear regression of the values ⁇ i .
- the real time counter 128 of the time encoder 100 counts the number of CK pulses from the beginning to the end of the measurement. Its depth, in bits determines the TDC range, which is the maximum time between the first and the last event recorded by the TDC module.
- the value of counter 161 is available on the CTR bus. Typically we will provide a 32-bit depth for a clock rate of 1 GHz CK and a depth of 4.3 seconds, although of course other values are possible for these parameters.
- the time encoder 100 also comprises at least two channels 99. Several channels can share a single basic circuit of time 181 and a common counter 161 to form a TDC multi-channel that can sample multiple signals at a time, each signal being measured by one of the TDC channels.
- the digital trigger signal TR is generated from the signal input by the comparator 37, the DAC 35 and the gate 38, as already Explain.
- the signal TR is applied to the clock input of a D flip-flop 107, making it possible to implement a function for accepting triggers, and gives rise, when the control signal ENA is in the high state, to a signal accepted trigger TRA.
- the TRA signal whose initial flank is synchronous with the event to measure, triggers a synchronized sinus generator (GSS) 140.
- the circuit 140 is constructed similarly to the circuit 40 shown in FIG. FIG. 5, and comprises an LC oscillator controlled by a circuit of start / stop. In the stopped state a constant current is injected into the inductance L, and the quality factor Q of the resonator is kept low by the low resistance of diodes D1, D2 in the conduction state.
- the output of the GSS 140 (SIN) is of single-ended type, the invention extends however also to the case of a differential output.
- the sinusoidal signal SIN is applied to the input of digitization of an ADC 151.
- the ADC 151 continuously samples the output of the generator 140, according to the rate imparted by the present CK signal at his clock entrance.
- the circuit 113 composed by the cascade of the flip-flops 108 and 109, generates the accepted trigger signal synchronized to the TRAS clock.
- This circuit includes at least two chain D flip-flops and has the function of producing a signal whose transitions are synchronous with those of the CK, and lacking metastable states. This signal will be used to freeze the counter's status. real-time system.
- Samples measured by ADC 52 are transmitted to a register of interpolation data (RDI) 185.
- This digital memory of samples accepts data from ADC 151 when the signal TRAS is in the high state, and records only the output data of the ADC interesting for determining the moment of arrival of the event, as will be explained later.
- the selection of events useful for determining time arrival is performed by the acquisition sequence controller 127.
- This circuit contains a sample counter to accept to determine the number of samples to be recorded at each event. When this number is reached the signal RESET resets the flip-flop 107 to zero. Signals TRA and TRAS therefore return to the low state, the first immediately, and the second after a number of clock cycles that is determined by the number of latches in series in circuit 113.
- the acquisition sequence controller 127 provides two modes selectable operating modes. In a first mode (multi-hit mode) resets himself to be ready to accept a new event immediately after a recorded event. In one second mode of operation (single-hit mode) it keeps the signal from RESET high, prohibiting the acquisition of new events, until the receiving a new reset command.
- a first mode multi-hit mode
- a second mode of operation single-hit mode
- the real-time register 164 stores the state of the CTR bus at moment of positive transition of TRAS.
- the value recorded in the register 164 is a rough measure of the instant of the TR trigger.
- the time zone of acceptance of a trigger TRA it is possible for the time zone of acceptance of a trigger TRA to be determined from the coarse measurement and the known delay introduced by the synchronization circuit, within the uncertainty range Z acc , corresponding to a period of the clock CK.
- the timing diagram 9 is valid for a synchronization with 2 flip-flops; The same reasoning can however extend to a different synchronization circuit.
- the interpolation of the data acquired by the ADC provides, as in the first embodiment of the invention, the exact time ⁇ T of the transition of TRA inside the window Z acc .
- the unknowns to be determined are 5 (A, ⁇ 0 , ⁇ 0 , ⁇ 0 , D) and the algorithm used will be a 5-parameter fit, making it possible to determine ⁇ t as soon as N, the number of samples, is greater than or equal to 5.
- the position and the size of the pulse TRAS, corresponding to the acquisition window of the RDI register 162, will be chosen to store a sufficient number of samples E i , taking also into account the delay introduced by the ADC 151 (pipeline delay) as shown in Figure 9.
- Elements 107, 113 and 127 have, in this example, basically the function of generating the TRAS timing signal to select the events really useful for the determination the moment the TR trigger is triggered. This selection could however, be carried out or completed also in a example by a piece of software, reside in the control unit of the encoder 100, or in an external computer.
- the proposed circuits can also work with other waveforms, different from the sinusoidal form. Any shape repetitive waveform and synchronous with a trigger that can in principle be used. For example one could replace the generators 51, 52 and 151 by sawtooth or triangle signal generators.
- time encoder of the present invention can advantageously integrated in a multi-channel device, comprising several channels 99 in a module that can be interfaced with a bus of communication.
- the different channels of a module can be sequenced to reach a close dead time zero in single channel mode.
- the TDC according to the invention can be produced as an element modular, provided with a connector to connect to a bus of data, such as a PCI, VXI or VME bus.
- a bus of data such as a PCI, VXI or VME bus.
- each module constitutes a card having a connector on one edge, so that it can be plugged in removably and connected electrically with a motherboard.
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Measurement Of Unknown Time Intervals (AREA)
Abstract
Convertisseur temps-numérique (10) comportant un circuit de mesure grossière (15) et un circuit de mesure fine (17). Le circuit de mesure fine permet la détermination précise de la position temporelle d'un événement à l'intérieur d'une période de la base des temps, par interpolation ou moyennage de sinusoïdes en quadrature (13, 14), échantillonnés (Ii, Qi) en coïncidence avec une salve d'impulsions (8) générées par le circuit de déclenchement du convertisseur. <IMAGE>
Description
La présente invention se rapporte au domaine des codeurs de
temps, et plus précisément des convertisseurs temps-numérique, désignés
aussi TDC (Time-Digital-Converters).
Les convertisseurs temps-numériques, ou TDC, sont utilisés où l'on
désire mesurer et coder avec précision la position temporelle d'un
événement, ou d'une pluralité d'événements, représentés par des
impulsions électriques, par rapport à un signal de référence, définissant
l'origine de l'échelle temporelle.
Les TDC sont utilisés par exemple dans de domaine de la physique
corpusculaire, pour mesurer les temps de passage des particules
élémentaires produites lors d'une interaction, dans les différentes zones
actives d'un détecteur de particules segmenté.
Les TDC trouvent aussi des applications dans beaucoup d'autres
domaines, dans lesquels on requiert une mesure précise des temps d'arrivée
d'impulsions électriques. En particulier, mas non exclusivement les
applications des TDC comprennent la microscopie à corrélation temporelle
de photons, de la tomographie optique, l'essai des composantes
électroniques, la spectroscopie par mesure du temps de vol, la
réflectométrie dans le domaine du temps.
Une technique bien connue de coder des intervalles de temps est
de compter électroniquement le nombre d'impulsions d'un signal
d'horloge, et de copier la valeur du compteur lors de l'événement d'intérêt
dans un registre.
Une limitation de cette technique est que la précision de mesure,
est limitée par la cadence du signal d'horloge. Pour une résolution de 10
picosecondes, par exemple, un signal d'horloge de 100 gigahertz est requis,
en sorte que ce niveau de précision est difficilement atteignable par cette
technique.
Une autre technique connue prévoit de convertir l'intervalle à
mesurer en un intervalle proportionnellement plus long, par exemple avec
un convertisseur à double rampe, dans lesquels on charge et puis décharge
un condensateur avec deux courants constants de valeurs différentes.
Le temps requis pour que la tension aux bornes du condensateur
retourne à zéro est proportionnel à l'intervalle de temps recherché, et peut
être mesuré avec un compteur dont la cadence est relativement faible. Un
inconvénient de cette technique est le temps mort relativement important
associé à chaque événement mesuré, en sorte que cette technique est
difficilement applicable à des impulsions multiples et rapprochées, comme
par exemple les signaux générés par les détecteurs de particules
élémentaires (événements multi-hit).
Un autre inconvénient de la technique ci-dessus est lié à la
difficulté de réaliser des sources de courants constantes et indépendantes
de la tension de rampe. Toute différence de comportement entre le deux
sources induisant des erreurs de conversion.
Il est aussi connu de transformer un intervalle de temps en un
signal analogique de tension ou de charge de valeur proportionnel, grâce à
un convertisseur temps-amplitude (TAC), et de convertir ensuite le signal
analogique en un signal numérique par un convertisseur analogique-numérique
(ADC). Cette méthode présente toutefois le désavantage d'une
calibration complexe et délicate. Un autre inconvénient de la technique ci-dessus
est lié à la difficulté d'obtenir une rampe de tension exactement
linéaire. La non linéarité de la capacité et/ou la non constance de la source
du courant sont des sources d'erreur de conversion. Cette technique exige
d'autre part de prévoir une procédure de calibration de la rampe, due à
l'imprécision initiale inévitable da la capacité et du courant de rampe.
Un objet de la présente invention est de présenter un codeur de
temps exempt des inconvénients de l'art antérieur.
Un autre but de la présente invention est de proposer un codeur
de temps qui joint une résolution et une profondeur élevées, permettant
des mesures très précises d'intervalles temporels étendus.
Un autre but de la présente invention est de permettre de
réaliser un codeur de temps dont la résolution est programmable et
adaptable aux besoins de l'application.
Un autre but de l'invention est de réaliser un codeur de temps ne
nécessitant pas de procédure de calibration pour maintenir sa précision.
Ces buts sont atteints par le dispositif qui est l'objet de la
revendication principale, et notamment par un dispositif de mesure de la
position temporelle d'un événement, comprenant: un générateur de signal
démarrable, pour générer un signal périodique synchrone avec le dit
événement, et dont la phase est corrélée à la position temporelle dudit
événement, caractérisé en ce que ledit dispositif de mesure comporte un
premier convertisseur analogique-numérique pour mesurer une pluralité
d'échantillons d'un premier signal de référence lors dudit événement, les
valeurs desdits échantillons déterminant ladite phase dudit signal
périodique.
L'invention sera mieux comprise à la lecture des revendications et
de la description détaillée et illustrée par les figures dans lesquelles :
- la figure 1a représente un schéma-bloc d'un codeur de temps selon une variante de l'invention ;
- la figure 1 b représente un schéma-bloc d'un codeur de temps selon un mode ultérieur de réalisation de l'invention ;
- la figure 2a et 2b représentent des chronogrammes des différents signaux des circuits des figures 1a et 1b respectivement ;
- les figures 3 et 4 représentent deux exécutions possibles d'un générateur pour la base des temps du dispositif selon l'invention;
- les figures 5 et 7 représentent deux exécutions possibles d'un générateur d'impulsions de l'invention ;
- la figure 6 représente un chronogramme illustrant le fonctionnement du circuit de la figure 5 ;
- la figure 8 représente un autre mode d'exécution d'un codeur de temps selon l'invention ;
- la figure 9 représente un chronogramme illustrant le fonctionnement du circuit de la figure 8 ;
Le fonctionnement général d'un convertisseur 10 selon un aspect
de la présente invention est maintenant décrit avec référence au schéma-bloc
de la figure 1 et au chronogramme de la figure 2.
Le signal d'entrée 2 est un signal analogique ou numérique
comprenant des impulsions de tension ou de courant correspondant en
général à des événements dont la position temporelle doit être déterminée
avec précision. Dans la figure 1 le signal 2 est connecté à une entrée d'un
discriminateur 37, pour en obtenir un signal numérique de déclenchement
6 (TRIG, TR), dont le front correspond à l'événement signalé par l'impulsion
2.
Lorsque les circonstances le requièrent, le discriminateur pourra
être précédé d'un circuit de conditionnement du signal d'entrée 2, non
représenté sur la figure 1. Le circuit de conditionnement peut pour exemple
inclure des élément de protection contre les surtensions, une ligne de
retard, un amplificateur, atténuateurs, adaptateurs d'impédance et tout
autre élément électrique ou électronique nécessaire pour adapter les
caractéristiques du signal 2 au discriminateur 37.
Une seconde entrée du discriminateur 37 est connectée au
convertisseur DAC 35, qui fournit un niveau de tension constant 5 et
représentant un niveau de seuil à dépasser pour qu'un événement soit
détecté par le convertisseur 10. En général le niveau de seuil 5 sera placé
suffisamment bas pour détecter aussi les petites impulsions, mais toutefois
assez éloigné du niveau du bruit pour limiter les faux déclenchements.
Le DAC 35 permet d'adapter aisément la valeur du seuil 5 aux
conditions de mesure. Dans une variante simplifiée de l'invention, et
lorsque cette flexibilité d'utilisation n'est pas requise, le DAC 35 pourra être
remplacé par un générateur de tension de référence fixe ou variable.
Dans une autre variante de l'invention, le discriminateur 37 est
un discriminateur à fraction constante (CFD), qui déclenche l'impulsion de
trigger lorsque le niveau d'entrée a atteint une fraction prédéterminée de
sa valeur de pic. Cette disposition est particulièrement utile lorsque
l'amplitude des signaux d'entrée peut varier d'un événement à l'autre.
Dans le schéma de la figure 1, le discriminateur 37 détecte le
flanc ascendant du signal d'entrée 2. Il existe toutefois des situations dans
lesquelles il est nécessaire de détecter le flanc descendant, par exemple lors
qu'on traite des impulsions ayant une polarité négative. Dans ce cas la
porte logique 39, commandée par l'entrée 38 permet d'obtenir un signal
logique de trigger 6 ayant la polarité requise.
Dans un premier mode de réalisation de l'invention, décrit avec
référence à la figure 1a, le générateur 81 produit le signal sinusoïdal 13
servant de base des temps pour le convertisseur 10. La sinusoïde 13 est
généré à partir d'un signal d'horloge externe 82, comme indiqué sur la
figure 1a, ou par un générateur local de base des temps non représenté. La
fréquence du signal 13 est choisie en fonction de l'application et de la
résolution temporelle désirée, dans des limites imposées par la vitesse des
composantes utilisées. Dans un cas typique on peut préconiser une
fréquence de 100 MHz, bien que, évidemment, la présente invention
englobe aussi des dispositifs dont la cadence est plus élevée ou plus faible,
selon les cas.
Le signal numérique de déclenchement 6 est envoyé à un système
de mesure grossier 15, décrit par la suite avec référence aux figures 1a et
2a. Le circuit de mesure grossier 15 comprend le compteur en temps réel 61
et les deux registres 64, 65.
Le compteur en temps réel 61 compte les périodes du signal
sinusoïdal 13, et est utilisé pour alimenter les deux bus 3 et 4, dont le
contenu change de manière synchrone, étant incrémenté à chaque cycle de
la base des temps 13, pendant tout le temps dans lequel le convertisseur 10
est actif. Le bus 4 est décalé d'une demi-période par rapport au bus 3 par
un circuit logique de temporisation non représenté.
Le nombre de bits des bus 3 et 4 est choisi en fonction de la
distance temporelle maximale entre deux événements que l'on désire
enregistrer. Admettant que la base des temps tourne à 100 MHz, et que les
bus 3 et 4 comprennent 32 bits chacun, la durée maximale sera de 43
secondes. Si une durée plus limitée suffit, l'on pourra limiter la profondeur
des bus 3 et 4 et du compteur 61, par exemple à 24 bits pour une
profondeur de 167 ms.
Les registres 64 et 65 échantillonnent le contenu des bus 3 et 4 à
l'instant de chaque événement signalé par le flanc ascendant du signal de
trigger 6. Le contenu des registres est ensuite copié dans une zone de
mémoire prévue à cet effet dans l'unité logique 71.
Dans une variante préférentielle de l'invention, le système de
mesure grossier 15, comprenant le compteur en temps réel 61, les deux bus
3, 4, l'unité de temporisation et les registres 64, 65 sont réalisés à l'intérieur
d'un circuit intégré de type FPGA (Field Programmable Gate Array). De
préférence le circuit FPGA comprendra aussi l'unité logique 71.
Le signal de déclenchement 6 est aussi envoyé à un dispositif de
mesure fine 17, comprenant le générateur d'impulsions 40 et l' ADC 52.
Le générateur d'impulsions 40 déclenche une salve d'impulsions 8
en correspondance de chaque événement marqué par une impulsion du
signal de trigger 6. Le signal 8 sert d'horloge pour l'ADC 52 qui
échantillonne le signal sinusoïdal 13 en correspondance de chaque
impulsion du signal 8. Le signal 8 généré est, par la manière dont le circuit
40 fonctionne, synchrone avec le signal de trigger 6. Le signal 8 contient
donc, par la valeur de sa phase, l'information sur l'instant d'arrivée de
l'événement.
Les valeurs échantillonnés par l'ADC 52 sont stockées dans l'unité
logique 71. Le fait de prendre plusieurs échantillons de la sinusoïde 13
permet de déterminer la phase de cette dernière au moment du signal de
trigger 6, avec une grande résolution, comme on verra par la suite.
On admet que le signal sinusoïdal 13 est représenté par la
relation :
S (t )=A · sin(ω0 · t )+ D
où la quantité ω0 représente la fréquence angulaire du signal 13,
qui est connue parce qu'elle st liée à la base des temps interne ou externe,
A représente l'amplitude de la sinusoïde 13 et D représente en tension,
inconnu a priori.
A l'instant du trigger TRIG, on déclenche une salve de N mesures
du signal S(t) et l'on enregistre ces mesures dans 71. On a, pour les N
échantillons ;
Si = A · sin (ω0 · (t0 + i · Ts )) + D i = 0 ... N-1
où Ts représente l'espacement entre deux impulsions d'une salve.
Les N relations (2) constituent donc un système de N équations avec les
inconnues:
- t0
- instant d'arrivée du trigger par rapport au passage par zéro de S(t) ;
- A
- amplitude de la sinusoïde 13;
- TS
- période avec laquelle la sinusoïde 13 est échantillonnée (inverse de la fréquence de la salve d'impulsions 8) ;
- D
- décalage vertical (offset) de la sinusoïde dans l'échelle de l'ADC.
Toutes les inconnues, et en particulier t0, (celle qui nous intéresse) peuvent
donc être déterminées dès que N ≥ 4.
Pour N > 4 le système (2) est surdéterminé. On pourra alors utiliser des
procédés d'adaptation ou de minimisation des erreurs pour améliorer la
résolution de la mesure fine. La précision de la mesure fine s'améliore avec
un facteur N -3 , par exemple par N = 7 la résolution est améliorée d'un
facteur 2 ; pour N = 19 la résolution est améliorée d'un facteur 4 et ainsi de
suite, la résolution temporelle initiale (N = 4) étant déterminée par la
fréquence ω0 et le nombre de bits de l'ADC 52.
L'amplitude A est choisie de façon à occuper au maximum l'échelle de
l'ADC 52, sans toutefois la dépasser.
La période d'échantillonnage Ts est choisie judicieusement en
fonction de la période T0 de la sinusoïde échantillonnée. De préférence on
adoptera une cadence sensiblement plus rapide que celle de la sinusoïde
13, pour accélérer le temps de conversion. Par exemple on pourra choisir
des impulsions séparées de 1 ns, et un ADC 52 avec un taux de conversion
de 1 GS/s.
De préférence les trois inconnues A, Ts et D sont déterminées à
chaque nouveau signal de trigger, et leur valeur est ignoré, ou utilisé pour
des fins de monitorage uniquement. Ce procédé de mesure présente
l'avantage de ne pas nécessiter d'aucune calibration, l'exactitude de la
mesure reposant alors uniquement sur la précision absolue et la stabilité de
la fréquence ω0.
Les quantités A, Ts et D sont toutefois sensiblement constantes, et
pourraient être déterminée une fois pour toutes ou périodiquement par un
procédé de calibration approprié. Il est aussi possible dans la présente
invention d'évaluer séparément les quantités A, Ts et D lors d'une
calibration automatique ou sur initiative d'un opérateur, réduisant ainsi le
nombre d'impulsions requises pour atteindre la résolution souhaitée et
limitant le temps mort di convertisseur 10. Dans une variante ultérieure de
l'invention, la calibration de A, Ts et D pourra aussi être effectuée
seulement lorsque certaines conditions prédéterminées sont réunies, par
exemple une seule fois pour le premier hit de chaque événement, mais pas
pour les hits successifs.
Grâce aux multiples échantillons il est possible d'augmenter
sensiblement la résolution temporelle du convertisseur 10. Par exemple en
digitalisant 9 échantillons de la sinusoïde 13 à 100 MHz avec un ADC à 6
bits on peut atteindre une résolution de 25 ps ou meilleure.
Selon les cas et les caractéristiques des composantes employés, il
est possible que toutes les impulsions 8 ne soient pas échantillonnées. Si par
exemple l'ADC 52 a une architecture interne en pipeline, une ou plusieurs
impulsions au début et à la fin de la salve sont nécessaires uniquement
pour réveiller l'ADC et pour extraire les données du pipeline. Dans ce cas on
pourra augmenter le nombre de coups dans chaque salve, afin d'avoir
toujours un nombre suffisant d'échantillons.
Le générateur d'impulsions 40 est maintenant décrit en détail
avec référence aux figures 5 et 6. La figure 5 représente une façon possible
de réaliser le générateur 40.
Le générateur 40 représenté sur la figure 5 comporte un
oscillateur LC démarrable par le transistor 42. A la réception d'un signal de
trigger 6, une sinusoïde est présente au terminal 45 dont la fréquence est
déterminée par les valeurs de L et C. Le compteur 4 compte un nombre
prédéfini d'impulsions du signal discriminé 46, et remet à zéro le signal
Enable, pour couper la salve d'impulsions à la longueur souhaitée.
La figure 7 représente un circuit alternatif pour le générateur
d'impulsions 40 comportant des lignes de retard 43. Chaque cellule,
composée d'une ligne de retard 43 et d'une porte XOR 44 produit une
impulsion décalée dans le temps. L'additionneur Σ recompose les
impulsions pour donner lieu à la salve d'impulsions 8.
Lors de l'explication du fonctionnement du dispositif de mesure
grossier 15, on a vu que les deux registres 64 et 65 enregistrent deux
mesures indépendantes de la position temporelle de l'événement par
rapport aux deux bases de temps 3 et 4 isochrones et décalées d'une demi
période. Cette duplication permet d'éviter les ambiguïtés dues à la
métastabilité des bus 3 et 4 lors des transitions 90, visibles sur la figure 2.
A la fin d'une période de mesure, la mémoire interne de l'unité
71 contient les données brutes relatifs à chaque événement, soit, pour
chaque événement :
- la valeur K des registres 64 et 65 du dispositif de mesure grossière 15 ;
- les N codes SN résultant de l'échantillonnage de la sinusoïde 13 en correspondance des N impulsion de la salve d'impulsions 8 du dispositif de mesure fine 17.
Une routine de dépouillement et lecture permet de calculer la
position temporelle de chaque événement enregistré. La routine comprend,
pour chaque événement ayant généré un signal de déclenchement 6, les
étapes suivantes :
- les données du dispositif de lecture fine 17 doivent être traduites en temps relatif t0 sur la période des sinusoïdes I. Cette partie de l'algorithme utilise les échantillons Si enregistrés en salve pour calculer les phases ϕi et le temps relatif t0, par inversion du système (2), comme expliqué ci-dessus.
- La valeur de t0 permet de savoir lequel des latchs 64 et 65 a enregistré le temps réel TR correctement, sans métastabilité induite par les transitions 90. En effet la connaissance de t0 et de ϕ0 permet toujours de déterminer lequel des deux registres 64 et 65 contient la valeur exacte du temps réel, et reste plus éloigné des transitions 90. Dans l'exemple de la figure 2 les transitions du bus 3 se trouvent à la phase -90°, par rapport à la sinusoïde I, tandis que les transitions du bus Q se situent à la phase +90°. Ainsi l'algorithme choisira, pour le calcul de TR, le bus 3 lorsque 0 ≤ ϕ0 ≤ 180°, et le bus 4 si 180° ≤ ϕ0 ≤ 360°. Le temps réel est alors donné par TR = 2π K / ω. L'homme du métier comprendra facilement que d'autres dispositions des déphasages entre le signal S(t) et les bus 3, 4 sont aussi possibles dans la présente invention.
- Le temps de l'événement est obtenu par la somme du temps réel et tu temps relatif : Tev = Tv+ t0.
Selon les cas, la routine de dépouillement et lecture pourra être
stockée dans l'unité logique 71 et exécutée par un processeur local, ou
exécutée par un processeur master, qui a l'accès aux données brutes
stockées dans l'unité 71 par un bus de communication approprié, comme
par exemple un bus PCI, VME ou VXI.
Un second mode de réalisation de la présente invention est
maintenant décrit avec référence à la figure 1b.
Dans ce mode de réalisation le codeur de temps selon l'invention
20 comprend un générateur 810 qui produit les deux signaux sinusoïdaux
en quadrature 13 et 14 servant de base de temps pour le convertisseur 10.
On désigne aussi la première sinusoïde 13 avec I (In phase), et la seconde
sinusoïde 14 avec Q (Quadrature). Les signaux 13 et 14 sont générés à
partir d'un signal d'horloge externe 82, comme il est visible sur la figure 1,
ou par un oscillateur local non représenté. La fréquence des signaux 13 et
14 est choisie en fonction de la résolution que l'on souhaite obtenir,
comme dans le premier mode de réalisation déjà décrit.
Le générateur des signaux I et Q 810 est maintenant décrit avec
référence aux figures 3 et 4. Le signal de référence 82, provenant de
l'extérieur ou d'un oscillateur local, est appliqué aux entrées des deux
bascules 83, 84 pour générer deux signaux carrés déphasés de 90° dont la
fréquence est la moitié de celle du signal 82. Les deux filtres passe-bande
ou passe-bas identiques 85 et 86 transforment les signaux carrés en signaux
sinusoïdaux.
Dans une variante du générateur 810, représentée sur la figure 4,
les bascules 83, 84 sont remplacées par un générateur d'horloge
programmable 89. Le circuit 89 produit à ses sorties A et B deux signaux
carrés ayant chacun une relation de phase déterminée avec le signal de
référence 82 programmable par le bus d'entrée 120. Dans le circuit de
figure 4 la temporisation entre les signaux I et Q peut ainsi être aisément
calibrée. De préférence le générateur programmable 89 est intégré dans le
FPGA.
La fréquence des signaux de référence I et Q peut être changée,
pour s'adapter aux conditions de la mesure, par des moyens appropriés
non représentés.
Le signal numérique de déclenchement 6 est envoyé à un système
de mesure grossier 15, identique à celui déjà décrit en relation au premier
mode de réalisation de cette invention et représenté sur les figures 1a et
2a.
Le signal de déclenchement 6 est aussi envoyé à un dispositif de
mesure fine 17, comprenant le générateur d'impulsions 40 et les deux ADC
51 et 52.
Le générateur d'impulsions 40 déclenche une salve d'impulsions 8
en correspondance de chaque événement marqué par une impulsion du
signal de trigger 6. Le signal 8 sert d'horloge pour les deux ADC 51 et 52
qui échantillonnent les deux signaux sinusoïdaux en quadrature 13 et 14 en
correspondance de chaque impulsion du signal 8.
Revenant maintenant à la figure 2b, les valeurs échantillonnés
par les ADC 51 et 52 sont stockées dans l'unité logique 71, et chaque paire
de codes I et Q est utilisée pour déterminer la phase ϕ de la sinusoïde I lors
de son échantillonnage, selon la relation trigonométrique ϕ = arctan(I/Q),
en obtenant ainsi une mesure fine du temps d'arrivée de l'événement.
Bien que ce mode de réalisation de l'invention prévoie une paire
de sinusoïdes en quadrature comme référentiel de temps, l'invention n'est
pas limitée par cet exemple. Un convertisseur selon l'invention pourrait
aussi utiliser deux signaux déphasés d'un angle différent de 90° ou de
formes différentes, par exemple des triangles, à la place des sinusoïdes 13
et 14.
Vu que le signal 8 se compose d'une salve d'impulsions
régulièrement espacés dans le temps, chaque événement donne lieu à
plusieurs échantillons Ii et Qi, et à plusieurs valeurs de la phase ϕi = ω0 x ti,
où ω0 représente la fréquence angulaire des sinusoïdes I et Q, et ti le temps
de départ de la i-ème impulsion de la salve d'impulsions 8. Le temps
d'arrivée relatif t0 de l'impulsion 6 peut ainsi être déterminé plus
précisément, de manière analogue à celle décrite dans le premier mode de
réalisation ci-dessus, ou par des techniques de moyennage ou interpolation,
par exemple une régression linéaire des valeurs ϕi.
Grâce à l'échantillonement de deux sinusoïdes en parallèle, il est
possible de stocker un nombre supérieur de valeurs Ii et Qi dans un temps
plus bref, par rapport au premier mode de réalisation. Cette variante de
l'invention offre ainsi, à résolution équivalente, un temps mort réduit.
Une variante préférée de réalisation de la présente invention est
maintenant décrit avec référence aux figures 8 et 9.
Le générateur 181 de la figure 8 produit un signal d'horloge à
cadence constante CK, de manière autonome ou synchrone avec un signal
d'horloge externe 82. Le circuit de base de temps 181 peut comprendre une
PLL, et sa fréquence de sortie sera choisie de manière à être adaptée à
l'ADC utilisé et à la vitesse des divers circuits digitaux du système,
implémentés dans un FPGA. Les caractéristiques requises pour la base de
temps sont :
- une grande précision à long terme, en ppm, qui détermine la précision du TDC sur sa gamme de mesure et dépend de la qualité de la fréquence de référence de la PLL.
- un très faible bruit de phase (mesuré en pico-secondes rms) sur la durée de la mesure.
Le compteur en temps réel 128 du codeur de temps 100 compte
le nombre d'impulsions CK du début à la fin de la mesure. Sa profondeur,
en bits détermine la plage du TDC, soit la durée maximale entre le premier
et le dernier événement enregistré par le module TDC. La valeur du
compteur 161 est disponible sur le bus CTR. Typiquement on prévoira une
profondeur de 32 bits pour une cadence de l'horloge CK de 1 GHz et une
profondeur de 4.3 secondes, bien que, évidemment, d'autres valeurs soient
possibles pour ces paramètres.
Le codeur de temps 100 comprend aussi au moins deux canaux
d'acquisition 99. Plusieurs canaux peuvent partager un seul circuit de base
de temps 181 et un compteur 161 commun pour constituer un TDC
multi-canal pouvant échantillonner plusieurs signaux à la fois, chaque
signal étant mesuré par un des canaux du TDC.
Le signal numérique de trigger TR est généré à partir du signal
d'entrée par le comparateur 37, le DAC 35 et la porte 38, comme déjà
expliqué. Le signal TR est appliquée à l'entrée d'horloge d'une bascule D
107, permettant d'implémenter une fonction d'acceptation des triggers, et
donne lieu, lorsque le signal de contrôle ENA est à l'état haut, à un signal
de trigger accepté TRA.
Le signal TRA, dont le flanc initial est synchrone avec l'événement
à mesurer, déclenche un générateur de sinus synchronisé (GSS) 140. Le
circuit 140 est construit de façon similaire au circuit 40 représenté sur la
figure 5, et comprend un oscillateur LC contrôlé par un circuit de
démarrage / arrêt. Dans l'état arrêt un courant constant est injecté dans
l'inductance L, et le facteur de qualité Q du résonateur est maintenu faible
par la faible résistance des diodes D1, D2 en l'état de conduction.
Lorsque TRA passe à l'état haut, l'injection de courant et le
pilotage du transistor sont brusquement supprimés, le facteur Q devient
alors élevé et le résonateur LC entre en oscillation sinusoïdale faiblement
amortie. L'oscillation sinusoïdale SIN est synchrone à TRA et s'étend pour
plusieurs périodes, en pratique jusqu'à l'instant dans lequel le signal TRA
revient à l'état bas. Ce circuit mémorise donc, par l'état de sa phase,
l'instant d'arrivée de l'événement qui a généré le trigger.
Dans cet exemple la sortie du GSS 140 (SIN) est de type single-ended,
l'invention s'étend toutefois aussi au cas d'une sortie différentielle.
A la différence des modes de réalisation présentés
précédemment, le signal sinusoïdale SIN est appliqué à l'entrée de
numérisation d'un ADC 151. L'ADC 151 échantillonne en permanence la
sortie du générateur 140, selon la cadence impartie par le signal CK présent
à son entrée d'horloge.
Le circuit 113, composé par la cascade des bascules 108 et 109,
génère le signal de trigger accepté synchronisé à l'horloge TRAS. Ce circuit
comprend au moins deux bascules D en chaíne et a la fonction de produire
un signal dont le transitions sont synchrones à celles du CK, et dépourvu
d'états métastables. Ce signal sera utilisé pour geler l'état du compteur de
temps réel du système.
Les échantillons mesurés par l'ADC 52 sont transmis à un registre
de données d'interpolation (RDI) 185. Cette mémoire numérique
d'échantillons accepte les données provenant de l'ADC 151 lorsque le signal
TRAS est dans l'état haut, et enregistre seulement les données de sortie de
l'ADC intéressantes pour la détermination de l'instant d'arrivée de
l'événement, comme il sera expliqué par la suite.
La sélection des événements utiles à la détermination du temps
d'arrivée est effectuée grâce au contrôleur de séquence d'acquisition 127.
Ce circuit contient un compteur d'échantillons à accepter pour déterminer
le nombre d'échantillons à enregistrer à chaque événement. Lorsque ce
nombre est atteint le signal RESET remet la bascule 107 à zéro. Les signaux
TRA et TRAS reviennent donc à l'état bas, le premier immédiatement, et le
second après un nombre de cycles d'horloge qui est déterminé par le
nombre de bascules en série dans le circuit 113.
Le contrôleur de séquence d'acquisition 127 prévoit deux modes
de fonctionnement sélectionnables. Dans un premier mode (mode multi-hit)
se remet lui-même à zéro pour être prêt à accepter un nouvel
événement immédiatement après un événement enregistré. Dans un
second mode de fonctionnement (mode single-hit) il garde le signal de
RESET haut, interdisant l'acquisition de nouveaux événements, jusqu'à la
réception d'une nouvelle commande de réinitialisation.
Le registre de temps réel 164 mémorise l'état du bus CTR au
moment de la transition positive du TRAS. La valeur enregistrée dans le
registre 164 constitue une mesure grossière de l'instant du trigger TR.
En se référant maintenant au chronogramme de la figure 9, on
peut voire que la zone temporelle d'acceptation d'un trigger TRA est
déterminée à partir de la mesure grossière et du retard connu introduit par
le circuit de synchronisation, à l'intérieur de la plage d'incertitude Zacc,
correspondant à une période de l'horloge CK. Le chronogramme 9 est
valable pour une synchronisation à 2 bascules ; Le même raisonnement peut
toutefois s'étendre à un circuit de synchronisation différent.
L'interpolation des données acquises par l'ADC fournit, comme
dans le premier mode de réalisation de l'invention, le temps exact ΔT de la
transition de TRA à l'intérieur de la fenêtre Zacc.
Les échantillons stockés dans le registre RDI 185 successifs à
chaque impulsion de trigger sont donc donnés, dans l'approximation d'un
amortissement négligeable, Q = ∞.
EK = A ·sin(ω0 (k ·TS +ΔT ))+D
On peut reconnaítre dans cette expression le système d'équations
(2). Le système (3) est donc déterminé si le nombre N d'échantillons est à
égal à 4, et surdéterminé si N > 4. Dans ce dernier cas il sera possible
d'utiliser l'information supplémentaire peur augmenter la précision de la
mesure de ΔT, comme dans les exemples précédents.
Dans le cas où le résonateur LC a un facteur Q réel (Q ≠ ∞) la
sinusoïde générée par le circuit 140 a la forme :
SIN =A · exp(-t /τ) · sin(ω0 t + ϕ0 ) + D
Les inconnues à déterminer sont au nombre de 5 (A, τ0, ω0, ϕ0, D)
et l'algorithme utilisé sera un fit à 5 paramètres, permettant de déterminer
Δt dès que N, le nombre d'échantillons, est supérieure ou égale à 5.
La fin de l'intervalle Zacc coïncide avec le temps réel mémorisé
dans le registre RTR 162, l'instant d'arrivée d'un événement peut donc être
obtenu par
tev = N · TS - ΔT
où Ts est la période du signal d'horloge CK.
La position et la taille de l'impulsion TRAS, correspondant à la
fenêtre d'acquisition du registre RDI 162, seront choisies pour mémoriser un
nombre suffisant d'échantillons Ei, en tenant compte aussi du retard
introduit par l'ADC 151 (pipeline delay) comme indiquée sur la figure 9.
Les éléments 107, 113 et 127 ont, dans cet exemple,
essentiellement la fonction de générer le signal de temporisation TRAS
pour sélectionner les événements réellement utiles pour la détermination
de l'instant du déclenchement du trigger TR. Cette sélection pourrait
toutefois être réalisée ou complétée aussi dans une étape successive, par
exemple par un élément de logiciel, résident dans l'unité de contrôle du
codeur 100, ou dans un ordinateur externe.
Eventuellement l'on pourra aussi sélectionner seulement un sous-ensemble
des échantillons Ei, par exemple pour éviter d'utiliser le premier
échantillon de la sinusoïde (E3 sur la figure 9) si l'on soupçonne que
l'oscillateur GSS 140 possède un phénomène transitoire de démarrage.
Les circuits proposés peuvent également fonctionner avec
d'autres formes d'onde, différentes de la forme sinusoïdale. Toute forme
d'onde répétitive et synchrone à un trigger pouvant en principe être
utilisée. Par exemple l'on pourrait remplacer le générateurs 51, 52 et 151
par des générateurs de signaux à dents de scie ou à triangle.
On a vu que le codeur de temps de la présente invention peut
être avantageusement intégré dans un dispositif multi-canal, comprenant
plusieurs canaux 99 dans un module pouvant être interfacé avec un bus de
communication. Dans le cas d'un dispositif multi-canal, les différents canaux
d'un module peuvent être séquencés pour atteindre un temps mort proche
de zéro en mode monocanal.
Le TDC selon l'invention peut être réalisé sous forme d'élément
modulaire, pourvu d'un connecteur permettant de le brancher à un bus de
données, comme par exemple un bus PCI, VXI ou VME. Dans ce cas chaque
module constitue une carte présentant un connecteur sur un bord, de
manière à pouvoir être enfiché de manière amovible et connectée
électriquement avec une carte-mère.
Claims (19)
- Dispositif de mesure (10, 20, 100) de la position temporelle d'un événement, comprenant:un générateur de signal démarrable (40), pour générer un signal périodique (8, SIN) synchrone avec le dit événement, et dont la phase est corrélée à la position temporelle dudit événement
- Dispositif selon la revendication 1, dans lequel ledit signal périodique (8) détermine la cadence d'acquisition dudit convertisseur analogique-numérique (51) et ledit premier signal de référence (13) est un signal périodique continu.
- Dispositif selon la revendication 2, comprenant un second convertisseur analogique-numérique (52) pour mesurer l'amplitude d'un second signal de référence (14), ayant une différence de phase prédéterminée par rapport audit premier signal de référence (13), lors dudit événement.
- Dispositif selon la revendication 1, dans lequel ledit signal de référence est ledit signal périodique synchrone (SIN), et la cadence d'échantillonnage dudit ADC est déterminée par une horloge stable (CK)
- Dispositif selon la revendication 2, comprenant un dispositif de mesure grossière (15) comprenant un premier registre (64) et un second registre (65) pour compter un nombre de périodes desdits premier (14) et/ou second (13) signal de référence, et des moyens de calcul pour déterminer ladite mesure grossière à partir du valeur d'un desdits premier registre (64) et second registre (65), le registre utilisé étant choisi pour éviter des erreurs induit par des transition (90) dudit nombre de périodes.
- Dispositif selon la revendication 2, comprenant un dispositif de mesure grossière (15) comprenant un premier registre (64) et un second registre (65) pour compter un nombre de périodes desdits premier (14) et/ou second (13) signal de référence, et des moyens de calcul pour déterminer ladite mesure grossière à partir du valeur d'un desdits premier registre (64) et second registre (65), le registre utilisé étant celui dont le signal de référence est le plus éloigné d'une transition (90).
- Dispositif selon la revendication 1 ou 4, comportant des moyens de calcul pour déduire la valeur de ladite phase dudit signal périodique et/ou la position temporelle dudit événement à partir de ladite pluralité d'échantillons mesurés (Si, Ei).
- Dispositif selon la revendication 1 ou 4, comportant des moyens d'interface pour transférer la pluralité d'échantillons mesurés.
- Dispositif selon la revendication 1 ou 4, dans lequel ledit générateur de signal démarrable (40, 140) comporte au moins un oscillateur LC.
- Dispositif selon la revendication 2 ou 3, dans lequel ledit ou lesdits signaux de référence (13, 14) sont des signaux sinusoïdaux en quadrature.
- Dispositif selon la revendication précédente, dans lequel ledit ou lesdits signaux de référence sinusoïdaux sont générés par filtrage de signaux rectangulaires.
- Dispositif selon l'une des revendications précédentes, comportant des moyens de calibration de la phase dudit ou desdits signaux de référence.
- Dispositif selon l'une des revendications précédentes, comportant des moyens pour changer la fréquence dudit ou desdits signaux de référence.
- Dispositif selon la revendication 4, comprenant un circuit de temporisation (107, 113, 127) pour sélectionner les échantillons utiles à la détermination du temps dudit événement.
- Dispositif selon l'une des revendications précédentes, dans lequel ledit événement est constitué par un changement d'état d'un signal de déclenchement, ledit signal de déclenchement étant généré par un comparateur comparant un signal d'acquisition avec une valeur de seuil.
- Dispositif selon la revendication précédente, dans lequel ledit comparateur est un discriminateur à fraction constante.
- Dispositif selon la revendication 15 ou 16, comportant un convertisseur numérique-analogique pour générer ladite valeur de seuil.
- Système comportant plusieurs dispositifs selon l'une des revendications 1 à 5 permettant de mesurer la position temporelle de différents événements, ledit système comportant en outre une mémoire dans laquelle les résultats de mesure de chaque dispositif sont écrits, ladite mémoire étant accessible par un système de traitement numérique.
- Système selon l'une des revendications précédentes, monté sur une carte d'interconnexion comprenant un connecteur sur un bord, de manière à ce que ladite carte puisse être enfichée de manière amovible et connectée électriquement avec une carte-mère.
Priority Applications (4)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
EP03103642A EP1521143A1 (fr) | 2003-10-01 | 2003-10-01 | Convertisseur temps-numérique |
CA002482677A CA2482677A1 (fr) | 2003-10-01 | 2004-09-28 | Convertisseur de temps |
US10/955,282 US7423937B2 (en) | 2003-10-01 | 2004-09-30 | Time converter |
JP2004287119A JP2005106826A (ja) | 2003-10-01 | 2004-09-30 | 時間変換器 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
EP03103642A EP1521143A1 (fr) | 2003-10-01 | 2003-10-01 | Convertisseur temps-numérique |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
EP1521143A1 true EP1521143A1 (fr) | 2005-04-06 |
Family
ID=34306970
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
EP03103642A Withdrawn EP1521143A1 (fr) | 2003-10-01 | 2003-10-01 | Convertisseur temps-numérique |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US7423937B2 (fr) |
EP (1) | EP1521143A1 (fr) |
JP (1) | JP2005106826A (fr) |
CA (1) | CA2482677A1 (fr) |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
FR2933774A1 (fr) * | 2008-07-11 | 2010-01-15 | Mathieu Duprez | Procede electronique de mesure instantanee d'un intervalle de temps utilisant un circuit logique programmable(ou fpga en anglais) et une horloge de reference |
WO2013034770A3 (fr) * | 2011-09-08 | 2013-05-02 | Borowski, André | Convertisseur temps/numérique, dispositif d'imagerie 3d utilisant un tel convertisseur, procédé de conversion temps/numérique et procédé d'imagerie 3d |
CN105068405A (zh) * | 2015-08-28 | 2015-11-18 | 中国科学技术大学 | Fpga实现的单通道信号脉宽高精度测量方法和装置 |
CN111007520A (zh) * | 2019-12-30 | 2020-04-14 | 中国科学院微电子研究所 | 基于fpga的多通道时间测量***、方法及激光扫描仪 |
Families Citing this family (13)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US7750305B2 (en) * | 2006-06-15 | 2010-07-06 | Koninklijke Philips Electronics N.V. | Integrated multi-channel time-to-digital converter for time-of-flight pet |
US8098787B1 (en) * | 2007-12-13 | 2012-01-17 | Altera Corporation | Method and apparatus for precision quantization of temporal spacing between two events |
KR101223953B1 (ko) * | 2011-07-05 | 2013-01-21 | 한국 천문 연구원 | 표준 시각 동기용 주파수를 이용한 자체 온도 보상 기능을 갖는 고 분해능 정밀 시각 측정 장치 및 방법 |
EP3004994B1 (fr) * | 2013-05-31 | 2017-08-30 | Cserey, György, Gábor | Dispositif et procédé de détermination de synchronisation d'un signal mesuré |
US9606228B1 (en) | 2014-02-20 | 2017-03-28 | Banner Engineering Corporation | High-precision digital time-of-flight measurement with coarse delay elements |
RU2598975C1 (ru) * | 2015-05-26 | 2016-10-10 | Геннадий Николаевич Абрамов | Нониусный рециркуляционный преобразователь время-код повышенного быстродействия |
US9866208B2 (en) | 2015-06-15 | 2018-01-09 | Microsoft Technology Lincensing, LLC | Precision measurements and calibrations for timing generators |
RU2707380C1 (ru) * | 2018-12-19 | 2019-11-26 | Геннадий Николаевич Абрамов | Нониусный рециркуляционный преобразователь время-код повышенного быстродействия |
DE102019205731A1 (de) | 2019-04-18 | 2020-10-22 | Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V. | Zeit-zu-Digital-Wandler-Anordnung |
JP7298317B2 (ja) * | 2019-06-07 | 2023-06-27 | セイコーエプソン株式会社 | 電子時計の制御方法および電子時計 |
CN114779607B (zh) * | 2021-05-10 | 2023-11-28 | 深圳阜时科技有限公司 | 时间测量电路、时间测量方法、时间测量芯片、时间测量模组和电子设备 |
CN113934132B (zh) * | 2021-10-12 | 2022-05-27 | 湖南师范大学 | 一种基于北斗时钟信号的高精度时间同步***及同步方法 |
CN114253117B (zh) * | 2021-11-05 | 2023-06-06 | 上海星秒光电科技有限公司 | 光子到达时间的测量方法、装置、电子设备及存储介质 |
Citations (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3889189A (en) * | 1974-02-21 | 1975-06-10 | Tenny D Lode | Digital time measurement system |
US4908784A (en) * | 1987-08-04 | 1990-03-13 | Wave Technologies, Inc. | Method and apparatus for asynchronous time measurement |
US5027298A (en) * | 1989-06-29 | 1991-06-25 | Genrad, Inc. | Low-dead-time interval timer |
US5150337A (en) * | 1990-02-21 | 1992-09-22 | Applied Magnetics Corporation | Method and apparatus for measuring time elapsed between events |
US5200933A (en) * | 1992-05-28 | 1993-04-06 | The United States Of America As Represented By The United States Department Of Energy | High resolution data acquisition |
US5566139A (en) * | 1993-09-20 | 1996-10-15 | The United States Of America As Represented By The United States National Aeronautics And Space Administration | Picosecond resolution sampling time interval unit |
Family Cites Families (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3618089A (en) * | 1969-01-29 | 1971-11-02 | Moran Instr Corp | Range and time measure system |
FR2342521A1 (fr) * | 1976-02-27 | 1977-09-23 | Anvar | Dispositif de mesure d'intervalle de temps separant les apparitions de deux impulsions correlees a amplitude et temps de montee distincts |
US4982350A (en) * | 1987-06-10 | 1991-01-01 | Odetics, Inc. | System for precise measurement of time intervals |
US5243344A (en) * | 1991-05-30 | 1993-09-07 | Koulopoulos Michael A | Digital-to-analog converter--preamplifier apparatus |
US5796682A (en) * | 1995-10-30 | 1998-08-18 | Motorola, Inc. | Method for measuring time and structure therefor |
DE69707851T2 (de) * | 1996-04-02 | 2002-05-16 | Lecroy Corp., Chestnut Ridge | Verfahren und vorrichtung zum hochgenauen messen von zeitintervallen |
US5903523A (en) * | 1996-11-08 | 1999-05-11 | Eg & G Instruments, Inc. | Time analyzer having an improved interpolator with temperature compensation |
-
2003
- 2003-10-01 EP EP03103642A patent/EP1521143A1/fr not_active Withdrawn
-
2004
- 2004-09-28 CA CA002482677A patent/CA2482677A1/fr not_active Abandoned
- 2004-09-30 US US10/955,282 patent/US7423937B2/en active Active
- 2004-09-30 JP JP2004287119A patent/JP2005106826A/ja active Pending
Patent Citations (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3889189A (en) * | 1974-02-21 | 1975-06-10 | Tenny D Lode | Digital time measurement system |
US4908784A (en) * | 1987-08-04 | 1990-03-13 | Wave Technologies, Inc. | Method and apparatus for asynchronous time measurement |
US5027298A (en) * | 1989-06-29 | 1991-06-25 | Genrad, Inc. | Low-dead-time interval timer |
US5150337A (en) * | 1990-02-21 | 1992-09-22 | Applied Magnetics Corporation | Method and apparatus for measuring time elapsed between events |
US5200933A (en) * | 1992-05-28 | 1993-04-06 | The United States Of America As Represented By The United States Department Of Energy | High resolution data acquisition |
US5566139A (en) * | 1993-09-20 | 1996-10-15 | The United States Of America As Represented By The United States National Aeronautics And Space Administration | Picosecond resolution sampling time interval unit |
Cited By (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
FR2933774A1 (fr) * | 2008-07-11 | 2010-01-15 | Mathieu Duprez | Procede electronique de mesure instantanee d'un intervalle de temps utilisant un circuit logique programmable(ou fpga en anglais) et une horloge de reference |
WO2013034770A3 (fr) * | 2011-09-08 | 2013-05-02 | Borowski, André | Convertisseur temps/numérique, dispositif d'imagerie 3d utilisant un tel convertisseur, procédé de conversion temps/numérique et procédé d'imagerie 3d |
US10079608B2 (en) | 2011-09-08 | 2018-09-18 | Fastree 3D Bv | Time-to-digital converter and method therefor |
CN105068405A (zh) * | 2015-08-28 | 2015-11-18 | 中国科学技术大学 | Fpga实现的单通道信号脉宽高精度测量方法和装置 |
CN105068405B (zh) * | 2015-08-28 | 2017-10-03 | 中国科学技术大学 | Fpga实现的单通道信号脉宽高精度测量方法和装置 |
CN111007520A (zh) * | 2019-12-30 | 2020-04-14 | 中国科学院微电子研究所 | 基于fpga的多通道时间测量***、方法及激光扫描仪 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
CA2482677A1 (fr) | 2005-04-01 |
JP2005106826A (ja) | 2005-04-21 |
US7423937B2 (en) | 2008-09-09 |
US20050122846A1 (en) | 2005-06-09 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
EP1521143A1 (fr) | Convertisseur temps-numérique | |
US8766682B2 (en) | Method and device for measuring duration of a time interval | |
EP0891654B1 (fr) | Appareil et procede permettant de mesurer des intervalles de temps avec une tres haute resolution | |
FR2897441A1 (fr) | Recepteur numerique large bande de mesure de frequence | |
EP0165144B1 (fr) | Système de chronométrie électronique de haute résolution | |
JP2017040646A (ja) | 試験測定装置及びsパラメータを求める方法 | |
FR2468153A1 (fr) | Systeme chronometrique | |
FR2908513A1 (fr) | Systeme d'echantillonnage en temps equivalent | |
US8390300B2 (en) | Time domain reflectometry in a coherent interleaved sampling timebase | |
EP0165109B1 (fr) | Procédé et dispostif pour le test de matériaux diélectriques, en particulier de condensateurs | |
CN107678333B (zh) | 一种基于等效时间序列采样的步长时间校正方法及装置 | |
EP0793153B1 (fr) | Dispositif de mesure précise de la durée d'un intervalle de temps et dispositif de télémétrie laser le comprenant | |
EP0632279A1 (fr) | Dispositif de mesure de la durée d'un intervalle de temps | |
EP2751583A1 (fr) | Dispositif de mesure d'une durée d'un niveau d'un signal électrique | |
EP0706100B1 (fr) | Dispositif de mesure de la durée d'un intervalle de temps | |
EP0866326B1 (fr) | Installation de détection et de localisation de fuites de liquides | |
EP1580893B1 (fr) | Dispositif et procédé de détection de phase d'un signal | |
EP1348968B1 (fr) | Circuit numérique de mesure de la puissance d'un signal | |
FR2941113A1 (fr) | Procede de detection du verrouillage d'une boucle a verrouillage de phase et dispositif associe | |
WO2010125062A1 (fr) | Procédé de mesure du taux de comptage d'impulsions, utilisant une méthode du type des temps morts reconductibles avec mesure du temps actif | |
FR3113950A1 (fr) | Mesure de fréquence | |
Peev et al. | A nanosecond-resolution method of TDC implementation, based on time-to-time converters | |
FR2890749A1 (fr) | Dispositif de mesure de la periode d'un signal et son application a un systeme de brouillage | |
EP0508908A1 (fr) | Procédé et dispositif de mesure pour capteur à fibre optique | |
FR2556528A1 (fr) | Procede et dispositif de conversion d'un signal analogique |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
PUAI | Public reference made under article 153(3) epc to a published international application that has entered the european phase |
Free format text: ORIGINAL CODE: 0009012 |
|
AK | Designated contracting states |
Kind code of ref document: A1 Designated state(s): AT BE BG CH CY CZ DE DK EE ES FI FR GB GR HU IE IT LI LU MC NL PT RO SE SI SK TR |
|
AX | Request for extension of the european patent |
Extension state: AL LT LV MK |
|
17P | Request for examination filed |
Effective date: 20050722 |
|
AKX | Designation fees paid |
Designated state(s): AT BE BG CH CY CZ DE DK EE ES FI FR GB GR HU IE IT LI LU MC NL PT RO SE SI SK TR |
|
STAA | Information on the status of an ep patent application or granted ep patent |
Free format text: STATUS: THE APPLICATION HAS BEEN WITHDRAWN |
|
18W | Application withdrawn |
Effective date: 20091128 |