DE8806064U1

DE8806064U1 - Testgerät

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Publication number: DE8806064U1
Application number: DE8806064U
Authority: DE
Original assignee: Atg Electronic 6980 Wertheim De GmbH
Current assignee: Atg Electronic 6980 Wertheim De GmbH
Priority date: 1988-05-06
Filing date: 1988-05-06
Publication date: 1989-09-07

Description

• · I ■

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Testgerät

Die Erfindung betrifft ein Testgerät zum Testen von elektrischen oder elektronischen Prüflingen gemäß dem Oberbegriff des Anspruches 1.

Derartige Testgerate dienen dem Prüfen von bestückten und unbestückten Leiterplatten, Chips, integrierten Schaltkreisen oder dgl. auf elektrische Fehlerfreiheit, indem die Kontaktiervorrichtung den Prüfling 15

an vorbestimmten Punkten gleichzeitig elektrisch kontiktiert und hierdurch elektrische Verbindungen zu der mindestens eine bestückte Leiterplatte aufweisenden Prüfelelekt onik des Testgerätes herstellt, die

dann in extrem kurzer Zeit die Prüfung auf elektrische 20

Fehlerfreiheit durchführt. Anschließend kann der

Prüfling gewechselt und ein anderer Prüfling derselben Art an seiner Stelle durch die Kontaktiervorrichtung kontaktiert und durch die Prüfelektronik geprüft ^Werden-

Bei einem bekannten Testgerät dieser Art (DE-OS -

32 11 410) weist die Kontaktiervorrichtung gemäß einem

Raster angeordnete Kontaktflächen, d.h. Pads auf, die

an einem Grundkörper der Kontaktiervorrichtung 30

angeordnet und von Kontaktstiften kontaktiert sind,

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tiie mit ihren vorderen Enden dem Kontaktieren von & Prüfligen dienen und mit ihren rückwärtigen Enden auf den Pads aufsitzen. Die Pads sind über Steckerstifte, Buchsen und flexible elektrische Leitungen mit einer im Abstand von der Kontaktiervorrichtung angeordneten Meßeinrichtung, die die Prüfelektronik bildet, verbunden. Da ein derartiges Testgerät im allgemeinen eine sehr große Anzahl von Pads aufweist, meist mehrere hundert bis viele tausend Pads, ist das manuelle Herstellen der vielen elektrisch leitenden Verbindungen zwischen der Kontaktiervorrichtung und der Prüfelektronik zeitlich außerordentlich aufwendig und es kann auch leicht zu Falschanschlüssen kommen, die dann wieder in einem zeitaufwendigen Verfahren ermittelt und richtiggestellt werden müssen.

A Es ist deshalb eine Aufgabe der Erfindung, ein Testgerät der im Oberbegriff des Anspruches 1 genannten Art zu schaffen, bei welchem die Herstellung der elektrischen Verbindungen zwischen der Kontaktiervorrichtung und der Prüfelektronik sich einfach und rasch, ggf. e'ich halb- oder vollautomatisch herstellen läßt.

Diese Aufgabe wird erfindungsgemäß durch ein Testgerät gemäß Anspruch 1 gelöst.

Indem die oder jede Anschlußleiterplatte direkt an mindestens einer ihr zugeordneten bestückten Leiterplatte, die auch als Prüfleiterplatte bezeichnet sei, der Prüfelektronik angeordnet ist, können die Sn der Rückseite der Anschluöleiterplatte oder jeder

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Anschlußleiterplette vorgesehenen, mit Pads der Anschlußleiterplette elektrisch verbundenen elektrischen Anschlüsse, die ihrem Anschluß en auf der benachbarten bestückten Leiterplatte, d.h.der Prüfleiterplatte befindliche elektrische Anschlüsse dienen, stets sü QetFüffeFi sein, daß jeder sülcfief

Anschluß gegenüber einem an der bestückten Leiterplatte befindlichen zugeordneten Anschluß zu liegen kommt. Auf diese Weise können besonders zweckmäßig die elektrischen Anschlüsse der Anschlußleiterplatte entweder nur benachbart einer " Breitseite der Isolierplatte der zugeordneten Prüfleiterplatte in einer Reihe in geringen Abständen nebeneinander angeordnet sein oder es können noch zweckmäßiger jeder der beiden Breitseiten der Isolierplatte der betreffenden Prüfleiterplatte je eine

Reihe von elektrischen Anschlüssen der

Anschlußleiterplatte zugeordnet sein. An der betreffenden Breitseite der Prüfleiterplatte kann dann zweckmäßig ebenfalls pro Reihe der elektrischen Anschlüsse der Anschlußleiterplatte je eine Reihe der elektrischen Anschlüsse der Prüfleiterplatte angeordnet sein, wobei die Teilungen dieser beiden einander gegenüberliegenden Reihen von elektrischen Anschlüssen gleich sein können ,und jedem Anschluß der Anschlußleiterplatte liegt dabei der ihm zugeordnete, mit ihm elektrisch verbundene oder zu verbindende

Anschluß der betreffenden Prüfleiterplatte gegenüber.

Die elektrischen Anschlüsse der Anschlußleiterplatte können mittels ihre Isolierplatte durchdringenden Leiterzügen mit den auf der Vorderseite der

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Anschlußleiterplatte angeordneten Pads elektrisch leitend verbunden sein, wobei jeder Pad mit einem einzigen zugeordneten elektrischen Anschluß der Anschlußeiterplatte verbunden sein kann.

Die Anschlußleiterplatte kann vorzugsweise eine

unbestückte Leiterplette sein, doch kann sie ggfs.

auch eine bestückte Leiterplatte sein. Sie sei stets als Anschlußleiterplatte bezeichnet. Die Prüfleiterplatte ist dagegen stets eine bestückte Leiterplatte, die zur Prüfelektronik und nicht zur Kontaktiervorrichtung gehört. Die Anschlußleiterplatte kann man dagegen stets der Kontaktiervorrichtung zuordnen, selbst dann, wenn ihre Isolierplatte eine einstückige Verlängerung der Isolierplatte einer Prüfleiterplatte ist.

Es sei deshalb im weiteren die Prüfleiterplatte in der Regel als Prüfleiterplatte bezeichnet, die also nicht die Anschlußleiterplatte ist, sondern zur Prüfelektronik gehört.

Die Pads der Anschlußleiterplatte, die man auch als elektrische Kontaktflächen bezeichnen kann, können vorzugsweise quadratische Gestalt in Draufsicht aufweisen und in geringen Abständen nebeneinander und übereinander angeordnet sein, vorzugsweise gemäß einem vorbestimmten Raster in einer oder mehreren Reihen. Besonders günstig ist es, die Pads in vier oder in acht Reihen anzuordnen, doch sind auch andere Anordnungen möglich.

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Jeder Pad kann - braucht aber nicht - durch einen Kontaktstift oder dergl. der Kontaktiervorrichtung kontaktiert werden.

Es lassen sich auf diese Weise sehr rasch und einfach die elektrischen Verbindungen zwischen den elektrischen Anschlüssen - nachfolgend kurz Anschlüsse genannt - der mindestens einen Anschlußleiterplatte und den zugeordneten elektrischen Anschlüssen nachfolgend ebenfalls kurz Anschlüsse genannt - der mindestens einen Prüfleiterplatte der Prüfelektronik herstellen, vorzugsweise durch Löten entlang jedem Paar von einander zugeordneten benachbarten Reihen von Anschlüssen der Anschlußleiterplatte und der zugeordneten Prüfleiterplatte, deren Anschlüsse elektrisch miteinander zu verbinden sind, was in einem Zug durch gerades Entlangfahren mittels eines Lötkolbens oder einer sonstigen Lötvorrichtung vornehmbar ist, wobei das Lot dann nur an den miteinander zu verbindenden, benachbarten Anschlüssen Verbindungen eingeht. Auch andere Möglichkeiten rascher Verbindungen besteht, bspw. durch Schweißen oder noch einfacher dadurch, indem jeder Anschluß der Anschlußleiterplatte an den zugeordneten Anschluß der Prüfleiterplatte lediglich in lösbarem Kontakt angedrückt wird, sei es, daß dieser Anschluß an der Anschlußleiterplatte oder an der Prüfleiterplatte federnd angeordnet ist odef indem diese beiden Anschlüsse einfach reibungsschlüssig aneinander angedrückt werden. Man kann dann die Anschlußleiterplatte jederzeit abziehen und durch eine andere Anschlußleiterplatte ersetzen.

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Die mechanische und /oder elektrische Verbindung der Anschlußleiterplatte mit der mindestens einen zugeordneten Prüfleiterplatte kenn manuell oder halbautomatisch oder auch vollautomatisch vorgenommen werden, und zwar stets mit minimalem Arbeitsaufwand in kürzester Zeit. Auch wird hohe Sicherheit gegen Fehlanschlüsse erreicht.

Die Kontaktiervorrichtung kann vorzugsweise nur über an der oder den Anschlußleiterplatten angeordnete Anschlüsse mit der Prüfelektronik elektrisch verbunden sein.

Im Hinblick auf die normalerweise sehr große Anzahl von Anschlüssen pro bestückter Leiterplatte ist es zweckmäßig, jede Reihe solcher Anschlüsse im wesentlichen über die Länge der betreffenden Schmalseite der Isolierplatte der Prüfleiterplatte zu erstrecken. Entsprechend kann auch die oder jede zugeordnete Reihe von Anschlüssen an der Anschlußleiterplatte sich ebenfalls im wesentlichen über die Länge dieser Schmalseite der benachbarten Prüfleiterplatte erstrecken. Benders vorteilhaft kann also die Länge der Anschlußleiterplatte der der jetreffenden Schmalseite der Isolierplatte der Prüfleiterplatte entsprechen.

Man kann in vielen Fällen zweckmäßig vorsehen, daß sich das auf der Vorderseite der AnschlußleiterpV befindliche Padfeld ungefähr über die Länge dieser Anschlußleiterplatte erstreckt,was die Bildung der die

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AnschluBleiterplatte durchdringenden, jeden Pad mit einem zugeordneten Anschluß an der Rückseite der AnschluBleiterplatte verbindenden Leiterzüge besonders einfach ermöglicht. Die Anzahl der Padreihen an der Vorderseite der AnschluBleiterplatte kann beliebig sein, vorzugsweise mindestens vier betragen.

Insbesondere dann, wenn besonders geringe Mittenabstände der Pads erwünscht sind, ist es zweckmäßig, daß sich das Padfeld nur über einen Teilbereich der Länge der AnschluBleiterplatte erstreckt,. vorzugsweise über maximal das 0,7-fache ihrer Länge, besonders zweckmäßig ungefähr über das 0,2 bis 0,5-fache ihrer Länge. In diesem Fall kann man dann zweckmäßig vorsehen, daß die Pads in einer Anzahl von sich in Längsrichtung der Anschlußleiterplatte erstreckenden Reihen angeordnet sind, die größer als vier ist, vorzugsweise in acht bis sechzehn Reihen. Dabei ist es wiederum zweckmäßig, an jeder Breitseite dar Isolierplatte der Prüfleiterplatte benachbart der betreffenden Anschlußleiterplatte nur je eine Reihe von Anschlüssen anzuordnen, welche Reihe sich im wesentlichen über die Länge der betreffenden Schmalseite der Prüfleiterplatte erstrecken können, so daß ihre Mittenabstände nicht übermäßig klein zu sein brauchen. Dieser Anschlußreihe benachbart oder jeder solchen Anschlußreihe benachbart befindet sich denn an der Rückseite der Anschlußleiterplatte je eine Anschlußreihe, von denen jeder Anschluß mit einem zugeordneten Pad verbunden ist. Wenn dabei die Pads nur über einen Teilbereich der Länge der

Anschlußleiterplatte frontseitig an ihr angeordnet

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sind, kann man denn die Pads an dieser Anschlußleiterplatte in geringeren Hittenabständen anordnen als wenn das Feld von Pads sich ungefähr über die Länge und Breite der Frontseite der Anschlußleiterplatte erstrecken würde. Hier kann man besonders vorteilhaft vorsehen, daß die Pads auf dem beschränkten Längenbereich in mehr als vier Reihen angeordnet sind, wie gesagt vorzugsweise in acht bis sechzehn Reihen.

Die Anschlußleiterplatte kann als gesondertes Teil ausgebildet sein, das an mindestens eine Prüfleiterplatte, vorzugsweise an eine einzige Prüfleiterplatte an deren betreffende Schmalseite angesetzt wird. Vorzugsweise kann dies formschlüssig erfolgen, wobei besonders zweckmäßig die Anschlußleiterplatte für die oder jede Prüfleiterplatte eine Längsnut aufweist, in die die Isolierplatte der betreffenden Prüfleiterplatte formschlüssig eingesetzt ist. Hierdurch ist exakte Lage gesichert und die elektrischen Verbindungen zwischen den Anschlüssen der Anschlußleiterplatte und den diesen Anschlüssen benachbarten Anschlüssen der mindestens einen Prüfleiterplatte sind auf einfachste Weise möglich.

Das Testgerät kann eine Prüfleiterplatte oder eine

Mehrzahl von Prüfleiterplatten aufweisen. Wenn es eine Mehrzahl von Prüfleiterplatten aufweist, kann vorgesehen sein, daß jeder Prüfleiterplatte je eine Anschlußleiterplatte zugeordnet ist. Es kann dabei jedoch in vielen Fällen auch zweckmäßig vorgesehen

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sein, daß mindestens zwei Prüfleiterplatten nur eine gemeinsame einzige AnechluBleiterplatte zugeordnet ist. Dies ist insbesondere dann möglich, wenn die elektrischen Verbindungen zwischen den Anschlüssen der Anschlußleiterplette und den der Prüfleiterplatte nur durch lösbaren Kontakt erfolgen, also keine nicht lösbaren Lot- oder Schweißverbindungen dieser Anschlüsse vorgesehen sind. Doch ist diese Maßnahme, mindestens zwei Prüfleiterplatten eine einzige Anschlußleiterplatte zuzuordnen, ggf. allen vorhandenen Piüfleiterplatten eine einzice Anschlußleiterplatte zuzuordnen, zumindest in manchen Fällen auch möglich, wenn die Anschlüsse der Anschlußleiterplatte mit den Anschlüssen der Prüfleiterplatten nicht lösbar durch Schweißen, Löten oder auf sonstige Weise verbunden werden, insbesondere dann, wenn die Zwischenräume zwischen den Prüfleiterplatten so vorgesehen sind, daß man in .-ihnen elektrische Verbindungen der hier befindlichen Anschlüsse durch Schweißen oder Löten weiterhin vornehmen kann.

Die Kontaktstifte, die die Pads der mindestens einen Anschlußleiterplatte kontaktieren, können unterschiedliche Ausbildung haben. In vielen Fällen können es zweckmäßig Federkontaktstifte und/oder durch Federkontaktstifte oder dergl. federnd abgestützte sogenannte Starrstifte uncT/oder sogenannte Knickdrähte, die beim axialen Zusammendrücken sich seitlich ausbiegen und/oder Drähte oder Nadeln sein, die mindestens eine seitliche Auswölbung aufweisen, die ihnen besondere sichere und einfache axiale

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Federungseigenschaften geben. Alle solchen Kontaktstifte dienen als elektrische Leiter und bestehen deshalb zweckmässig ganz aus Metall.

Die die Pads kontaktierenden Kontaktstifte können entweder direkt dem Kontaktieren von Prüflingen dienen,

oder es kann in an sich bekannter Weise auch vorgesehen sein, insbesondere dann, wenn die die Puds kontaktierenden Kon.taktstifte Federkontaktstifte sind, daß deren von den Pads abgewendeten freien Enden als Widerlager für sogenannte Starrstifte dienen, die in

¹^ mindestens einer Platte axial beweglich geradegeführt sind und dem Kontaktieren der Prüflinge dienen. Solche Starrstifte haben den Vorteil, daß man sie besonders problemlos auch schräg geneigt zur Längsrichtung der sie federnd abstützenden Federkontaktstifte anordnen

²^ kann, so daß ihre dem Kontaktieren von Prüflingen dienenden freien Enden außerhalb des Rasters liegen können, in dem die Pads und vorzugsweise auch die sie kontaktierenden Federkontaktstifte im allgemeinen

zweckmäßig angeordnet sein können. 25

Die Anschlüsse der Leiterzüge der Anschlußleiterplatte können durch die betreffenden Enden der Leiterzüge selbst gebildet sein oder diese Leiterrüge können an rückseitig der Anschlußleiterplatte angeordnete gesonderte Anschlüsse angeschlosesn sein, bspw. an kurzen Blattfedern, die dem reibungsschlüssigen Kontaktieren der bspw. als Kontaktflächen ausgebildeten Anschlüsse der betreffenden uindestens einen Prüfleiterplatte dienen.

~¹⁷~

In der Zeichnung sind Ausführungsbeispiele der Erfindung dargestellt. Es zeigen:

Fig. 1 ein Testgerät gemäes eine Ausführungsbeispiel der Erfindung in ausschnittsweiser Seitenansicht,

Gehäuse nicht dargestellt ist, Fig. 2 eine ausschnittsweise Draufsicht auf das Testgerät nach Fig. 1 ebenfalls ohne Gehäuse, Fig.3 eine Vorderansicht der Anschlußleiterplatte

des Testgerätes nach den Fig. 1 uiid 2 in gebrochener Darstellung,

_n Fig.4 einen Teilschnitt durch ein Testgerät gemäß einem zweiten Ausführungsbeispiel der Erfindung, wobei ebenfalls das Gehäuse weggelassen ist,

&ldquor;j. Fig.5 eine Vorderansicht der Anschlußleiterplatte des Testgerätes nach Fig. 4.

Das Testgerät 14 nach den Fig. 1 bis 3 weist eine Kontaktiervorrichtung 10 zum Kontaktieren von _Q_ elektrischen oder elektronischen Prüflingen 11 auf, wie Leiterplatten oder dgl.. , zwecks Herstellung von

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elektrisch leitenden Verbindungen zwischen seinen f» Prüfpunkten und einer die Prüfung durchführenden Prüfelektronik 12. Die Prüfelektronik 12 weist in diesem Ausführungsbeispiel zwei bestückte Leiterpletten 13, 13', die also im weiteren als Prüfleiterplatten 13, 13' bezeichnet sind,auf, auf denen alle der Prüfung des jeweiligen Prüflinges 11 dienenden Schaltungen angeordnet sein können. Diese Prüfleiterplatten 13, 13' können sich zusammen mit einem Teil der Kontaktiervorrichtung 10 in einem nicht dargestellten Gehäuse befinden. Anstatt daß die Prüfelektronik 12 zwei Prüfleiterplatten 13, 13' aufweist, kann sie auch nur eine solche Prüfleiterplatte oder mehr als zwei Prüfleiterplatten aufweisen. Die Bestückung dieser Prüfleiterplatten 13, 13' ist nicht dargestellt. Es sind lediglich einige ihrer Anschlüsse 15 mit angeschlossenen Leiterbahnen 16 dargestellt.

Die Kontaktiervorrichtung 10 weist in diesem Ausführungsbeispiel eine Mehrzahl von zueinander parallelen, voll ausgezogen dargestellten Federkontaktstiften 17 irgendeiner üblichen Bauart auf, die in zwei zueinander parallelen und senkrecht zu ihnen verlaufenden, an einem Gestell 21 gehaltenen Tragplatten 19» 20 axial beweglich geradegeführt sind.

Diese Kontaktiervorrichtung 10 weist ferner zwei

vorzugsweise unbestückte Anschlußleiterplatten 22, 22' auf, die an ihrer ebenen Vorderseite 23 metallische Pads 24, d.h. elektrische Kontaktflächen tragen. An jedem solchen Pad 24 kann je ein metallischer

Federkontaktstift 17 anliegen. Wenn die Zahl der

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Federkontaktstifte 17 kleiner als die Zahl der Pads sein kann, brauchen dann nur eine der Anzahl der Federkontaktstifte entsprechende Anzahl von Pads durch je einen Federkontektstift 17 kontaktiert zu sein und die übrigen Pads 24 können unkontaktiert sein.

Jede der beiden aus je einer elektrisch isolierenden Isolierplatte 25, den Pads 24 und diese mit rückseitigen Anschlüssen 26 verbindenden elektrischen Leiterzügen, wie 27, bestehenden Anschlußleiterplatten 22, 22' ist an je eine der beiden Prüfleiterplatten 13, 13' wie aus Fig. 1 ersichtlich dadurch angesetzt, indem in jede der Isolierplatten je eine sich über ihre Länge erstreckende Längsnut eingefräst ist, in die die elektrisch isolierende

Isolierplatte 29 der betreffenden bestückten, zur

Prüfelektronik 12 gehörende Prüfleiterplatte 13 bzw. 13' formschlüssig unbeweglich lösbar oder nicht lösbar eingesetzt ist, so dass die gerade ebene Schmalseite 28 der Isolierplatte 29 und damit die betreffende Prüfleiterplatte 13 bzw. 13" an den Boden der betreffenden Längsnut 44 anstößt.

Auf der Vorderseite 23 oder Frontseite jeder zur Kontaktiervorrichtung 10 gehörenden Anschlußleiterplatte 22 bzw 22* sind in diesem Ausführungsbeispiel je vier Reihen von quadratischen Pads 24 in geringen Abständen nebeneinander gemäß einem vorbestimmten Raster eines Rastermaßes von bspw. 0,5 bis 2 mm angeordnet. Auch andere Rastermaße sind möglich. Ihre rückseitigen elektrischen Anschlüsse 26 sind in

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konstanter Teilung in zwei Reihen angeordnet, die sich nahe den beiden Breitseiten der Isolierplatte 29 der zugeordneten Prüfleiterplatte 13 bzw 13' erstrecken. Diese Anschlüsse 26 können church die hier vorzugsweise etwas über die Rückseite der Anschlußleiterplatte 22 bzw 22' vorstehenden und vorzugsweise etwas

Leiterzüge 27 gebildet sein oder ar, diese Leiterzüge 27 mit ihnen elektrisch leitend verbundene elektrische Anschlüsse 26, wie kleine federnde metallische Plättchen oder dgl. angeschlossen sein. Jedem solchen

ic Anschluß 26 liegt auf der diesem Anschluß 26 benachbarten Breitseite der Isolierplatte 29 der Prüfleiterplatte 13 bzw. 13' ein bspw. als Ende einer Leiterbahn 16 oder ein als sonstiger elektrischer Kontakt ausgebildeter elektrischer Anschluß 15 ohne oder in geringem Abstand gegenüber, welche beiden einander jeweils zugeordneten Anschlüsse 15 und 26 elektrisch miteinander verbunden sind, und zwar in diesem Ausführungsbeispiel durch Löten mittels eines hierdurch gebildeten Lötpunktes 30.

Demzufolge verlaufen entlang der Rückseite der

Isolierplatte 25 jeder Anschlußleiterplatte 22 und 22' sowohl in geringem Abstand von der einen Breitseite der Isolierplatte 29 der betreffenden Prüfleiterplatte

OQ 13 bzw 13' als auch in geringem Abstand gegenüber

deren anderer Breitseite j& eine Reihe von Anschlüssen 26, die über die Isolierplatten 25 durchdringende Leiterzüge 27 mit den Pads 24 auf der Vorderseite -1st Anschlußleiterplatte 22 bzw 22' elektrisch verbunden

gg sind, und zwar jeder Anschluß 26 mit je einem

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zugeordneten Pad 24. Jeder dieser Anschlüsse 26 ist

mit dem ihm benachbarten Anschluß 15 auf der 5

betreffenden Breitseite der Prüfleiterplatte 13 bzw. 13' durch Löten elektrisch verbunden. Die Anzahl der betreffenden Lötstellen entspricht also der Anzahl der Anschlüsse 26 an der Rückseite der

Anschlußleiterplatte 22 bzw. 22* und entsprechend auch 10

der Anzahl der Anschlüsse 15 auf der Isolierplatte der zugeordneten Prüfleiterplatte 13 bzw. 13' . Da diese Lötstellen 30 pro Anschlußleiterplatte 22 bzw. 22' insgesamt zwei gerade Reihen von Lötstellen bilden, kann man sie extrem einfach und schnell durch Entlangführen eines Lötwerkzeuges pro Reihe in je einem Zuge herstellen.

Die beiden Anschlußleiterplatten 22 und 22' liegen mit

den einander benachbarten schmalen Längsseiten

aneinander an &ugr;&eegr;&Iacgr; die Pads 24 auf den Vorderseiten dieser beiden AnschluSleiterplatten 22, 22' bilden zusammen ein rechteckiges Padfeld 31 eines vorbestimmten Rastermaßes.

Jeder Federkontaktstift 17 besteht aus Metall und

bildet einen elektrischen Leiter geringen Durchgänge-Widerstandes .

Wenn ein Prüfling 11 zu prüfen ist, wird er gegen die

hier vertikal nach oben gerichteten Federkontaktstifte 17 bis in eine vorbestimmte Stellung oder mit vorbestimmter Kraft gedrückt, so daß die vorhandenen Federkontaktstifte seine zu kontaktierenden Stellen

kontaktieren und hierdurch elektrische Verbindungen 35

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zwischen diesen Stellen des Prüflings 11 und der durch die beiden Prüfleiterplatten 13, 13' gebildeten oder mitgebildeten Prüfelektronik 12 herstellen, die dann selbsttätig die Prüfung des Prüflings auf Fehlerfreiheit durchführt, worauf der Prüfling wieder abgenommen wird und ein anderer gleicher Prüfling an JO die Federkontaktstifte 17 in entsprechender gleicher Stellung angedrückt und ebenfalls geprüft werden kann, usw.

In Fig. 1 ist noch strichpunktiert dargestellt, daß 2g die Kontaktiervorrichtung 10 auch so ausgebildet sein kann, daß die Federkontaktstifte 17, anstatt, wie voll ausgezogen dargestellt, direkt dem Kontaktieren von Prüflingen 11 dienen, der federnden Abstützung von dem Kontaktieren der Prüflinge 11 dienenden, sogenannter 2Q Starrstifte 32 dienen können, die gerade dünne Nadeln aus Stahl oder dergl. sind, die sich im Betrieb nicht biegen. Der einzelne Starrstift 32 liegt zu seiner federnden Abstützung an dem Kopf eines zugeordneten Federkontaktstiftes 17 an und ist in Bohrungen von jjg zwei Platten 33, 34 einer Plattenanordnung 35 gleitbar geradegeführt. Oiese Starrstifte 32 sind axial starr und biegen sich beim Kontaktieren von Prüflingen nicht seitlich aus infolge ihrer mehrfachen Gleitführung.

₃q Während die Federkontaktstifte 17 zweckmässig im Raster der Pads 24 angeordnet sind, brauchen die in der linken äußeren Platte 34 befindlichen Bohrungen für diese Starrstifte 32 nicht in diesem Raster angeordnet zu sein, sondern können auch außer Raster

_qF; sein, so daß dann die betreffenden Starrstifte 32

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schwach schräg zur Längsachse der Federkontaktstifte 17 geneigt sind, wie es für einige Starrstifte 32 dargestellt ist. Hierdurch ist es ohne weiteres möglich, die Prüflinge 11 an Stellen zu kontaktieren, die nicht im Raster der Federkontaktstifte 17 und der Pads 24 angeordnet sind. Wenn ein solcher Prüfling zu

IQ kontaktieren ist, wird er gegen die freien Spitzen der Starrstifte 32 gedrückt. Es brauchen dabei nicht alle Federkontaktstifte 17 mit je einem Starrstift 32 bestückt zu sein, sondern nur die Federkontaktstifte, die über die £tarrstifte 32 elektrische Verbindunger·

je zu kontaktierenden Punkten des jeweiligen Prüflings herstellen müssen. Wenn ein solcher Prüfling 11 gegen die freien Enden der Starrstifte 32 gedrückt wird, dann drücken diese Starrstifte 32 die Köpfe der Federkontaktstxfte 17 gegen die Wirkung von Federn

2Q dieser Federkontaktstifte bezogen auf Fig. 1 nach unten bis die gewünschten Kontaktkräfte sich eingestellt haben, mit der die Starrstifte 32 auf den Prüfling 11 zum sicherem elektrischen Kontakt drücken. Anschließend führt die Prüfelektronik 12 die Prüfung

2g des Prüflings 11 auf elektrische Fehlerfreiheit durch.

Es ist natürlich auch möglich, die Pads 24 der Anschlußleiterplatten 22, 22' bereits so anzuordnen, daß sie der Anordnung der zu 'iontaktierenden Stellen - der betreffenden Prüflinge entsprechen, elso daß

zumindest einige der Pads 24 außerhalb dem für die übrigen Pads 24 geltenden Raster sind. Günstiger ist as jedoch, alle Pads 24 in einem gemeinsamen Raster anzuordnen, was die Verwendung dieser Anschlußleiter-&ldquor;,. platten 22, 22' für unterschiedliche Prüflinge

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ermöglicht, deren zu kontaktierenden Stellen also

w unterschiedlich verteilt und angeordnet sind. Man

■' 5 ■

versieht dann die Kontaktiervorrichtung 10 nur an den

'.. Stellen mit Federkontaktstiften 17 oder nur mit

• Starrstiften 32, falls solche vorgesehen sind, wo

Stellen des betreffenden Prüflings zu kontaktieren

sind.
10

In diesem Ausführungsbeispiel erstreckt sich das gesamte Padfeld 31 der Kontaktiervorrichtung 10 über die Vorderseiten beider Anschluiileiterplatten 22 und 22', also ungefähr über die Länge und Höhe der Vorderseiten 23 der aneinander anliegenden beiden Anschlußleiterplatten 22, 22' .

Während die Isolierplatte 29 der Prüfleiterplatte 13

bzw. 13' nach den Fig. 1 bis 3 eine einzige Lage

20

aufweisen kann, also eine Mono-Layerplatte sein kann,

ist im Ausführungsbeispiel nach den Figuren 4 und 5 die Prüfleiterplatte 13''eine Multi-Layerplatte. In ■ diesem Ausführungsbeispiel hat ihre ebene

Isolierplatte 29'insgesamt vier Lagen 36 bis 39. Pie

nc.

Anschlußleiterplatte 22 '' ist hier nun dadurch gebildet, daß die beiden oberen Lagen 36, 37 an der einen strichpunktiert angedeuteten Schmalseite 28 der ebenen Isolierplatte 29' rechtwinklig nach oben

abgewinkelt und die beiden unteren Lagen 38, 39 an

30

dieser geraden Schmalseite rechtwinklig nach unten

abgewinkelt sind, derart, daß sich hier eine sich über die Länge der betreffenden Schmalseite der ebenen Isolierplatte 29* der Prüfleiterplatte 13* ' der

&igr; Prüfelektronik erstreckende Anschlußleiterplatte 22''

35

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der Kontaktiervorrichtung 10 ergibt, deren
rechtwinklig zur Isolierplatte 29 ' verlaufende,
^& ebenfalls ebene Isolierplatte 25* aus zwei Lagen

besteht, die einstückige Verlängerungen der Legen 36 bis 39 der Isolierplatte 29' sind. Die
Anschlußleiterplette 22'· ist also ebenfalls eine

rtüxti-Leyöipläuue üfid steht uöiuäölcs uijvr die

Isolierplatte 29' etwa gleich weit über und kann

vorzugsweise rechteckförmigen Umriss und insgesamt
ungefähr quaderförmige Gestalt haben. Hierdurch kann die Paddichte der Pads 24 auf der Vorderseite dieser Anschlußleiterplatte 22'' vergröße"t werden,

insbesondere so, daß sich des Padfeld 31 auch nicht
entfernt über die Länge dieser Anschlußleiterplatie
22'' erstreckt, sondern nur über einen Teilbereich der Länge ihrer ebenen Vorderseite 23, vorzugsweise über maximal das O,7-fache ihrer Länge, besonders

zweckmäßig über ungefähr das 0,2 bis 0,5-fache dieser Länge. Die Schmalseite 28 ist keine körperliche
Fläche, sondern eine gedachte geometrische Ebene, an der die ebene Isolierplatte 29' in die zu ihr
senkrecht verlaufende ebene Isolierplatte 25'

übergeht.

Beide Isolierplatten 25' und 29' können rechteckige
Umrisse aufweisen, Die Isolierplatte 29' ist jedoch im allgemeinen viel grosser als die Isolierplatte 25' .

Auf der Rückseite der Anschlußleiterplatte 22''

befindet sich in geringem Abstand oberhalb der oberen Ebene der Isolierplatte 29'und nahe unterhalb der Unterseite dieser Isolierplatte 29' je eine Reihe von elektrischen Anschlüssen 26, die an zugeordnete,

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ihnen benachbarte elektrische Anschlüsse 15 dieser c Isolierplatte 2&iacgr;&iacgr;' der Prüf leiterplatte 13'' bspw. wieder durch Lötstellen 30 elektrisch angeschlossen sind, nämlich derart, daß der einzelne Anschluß 15 der Prüfleiterplatte 13'' der Prüfelektronik 12 mit einem zugeordneten Anschluß 26 der Anschlußleiterplatte 22'* _n verbunden ist und alle diese Verbindungen sind elektrisch gegeneinander isoliert.

Auf diese Weise können problemlos sowohl auf der oberen Längshälfte der Frontseite 23 der Anschlußleiterplatte 22'' wie auch auf ihrer unteren 15

Längshälfte je vier Padreihen oder ggf. auch noch eine

größere Anzahl von zueinander parallelen Padreihen angeordnet sein, welche Padreihen sich in Längsrichtung der Anschlußleiterplatte 22'' über einen mittleren Bereich von ihr erstrecken. Alle Pads 24 dieser hierdurch insgesamt acht Padreihen können gemäß einem vorbestimmten Raster angeordnet sein.

In diesem Ausführungsbeispiel werden diese wiederum

quadratische Kontaktflächen bildenden metallischen 25

Pads 24 von sogenannten Knickdrähten oder Knicknadeln

40 kontaktiert, die ebenfalls Kontaktstifte bilden. Jede Knicknadel 40 ist in Bohrungen von zwei Platten 41, 42 einer Plattenanordnung 43 der Kontaktiervorrichtung 10 geradegeföhrt und geringfügig so seitlich 30

ausgebogan, daß bei axialer Belastung jeder solchen Knicknadel 40 in Richtung des Pfeiles A diese durch seitliches Ausbiegen oder Ausknicken axial federt und die Federkraft auf den von ihr kontaktierten Pad 24

zur Herstellung sicheren elektrischen Kontaktes 35

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überträgt. Hierzu können ggfs. diese Knicknadeln auch gerade sein, wenn sie nur so geführt sind, daß sie bei axieler Belastung sich seitlich ausbiegen können zwecks axialer Federung.

Bei der Prüfung von Prüflingen wird der jeweilige Prüfling gegen die freien Spitzen der KnicknadRln 4Q angedrückt und drückt diese etwas nach rechts. Jede solche Knicknadel 40 bildet dann einen elektrischen Leiter, der die betreffende kontaktierte Stelle des Prüflings mit dem betreffenden von ihr kontaktierten Pad 24 elektrisch verbindet und von diesem Pad 24 geht dann die elektrische Verbindung weiter über den an ihn angeschlossenen Leiterzug 27 und die betreffenden elektrisch miteinander verbundenen Anschlüsse 26, 15 zur betreffenden Eingangsleiterbahn 16 der Prüfleiterplatte 22*' der Prüfelektronik. Während sich das Padfeld 31 gemäß Fig. 5 nur über einen nicht allzu großen Teilbereich der viel größeren Gesamtlänge der Vorderseite 23 der Anschlußleiterplatte 22*' erstreckt, erstrecken sich die in Fig. 5 gestrichelt angedeuteten beiden Reihen 51 der rückseitig der Anschlußleiterplatte 22'' angeordneten Anschlüsse 26 wie auch die beiden Reihen der zugeordneten Anschlüsse 15 der Prüfleiterplatte 13'' praktisch über die Gesamtlänge L der Anschlußleiterplatte 22''wie auch über die Gesamtlänge der gleich langen Schmalseite 28 der Prüfleiterplatte 13 ' ' , was für diese Anschlußreihen günstige, relativ grosse Teilung zulässt. Jeder Anschluß 26 ist über einen durch die Isolierplatte 25' der Anschlußleiterplatte 22'' hindurchgeführten Leiterzug 27 mit einem zugeordneten

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Pad 24 auf der Vorderseite dieser Isolierplatte 25' elektrisch verbunden. Hierdurch wird also relativ große Paddichte ermöglicht.

Anstatt, wie dargestellt, nur eine einzige solche Prüfleiterplatte 13*' mit zugeordneter Anschlußleiterplatte 22*' dem Testgerät 14 zuzuordnen.

können auch mehrere solche Prüfleiterplatten 13''der Prüfelektronik mit Anschlußleiterpiatten 22''angeordnet sein, wobei auch hier zweckmäßig die AnschluQleiterplatten dann in Fluchtung miteinander mit ihren schmalen einander benachbarten Längskanten aneinander anliegend angeordnet sein können, so daß sie zusammen 3in entsprechend größeres Padfeld vorzugsweise eines gemeinsamen Rasters bilden.

Für die Prüfung eines Prüflings brauchen in die Plattenanordnung 43 nur so viele Knicknadeln 40 eingesetzt zu werden, wie der betreffende Früfling zu kontaktierende Stellen aufweist, wobei auch hier durch entsprechende Anordnung von einem Teil oder allen Bohrungen für die betreffenden Knickstifte oder Knicknadeln 40 in der dem jeweiligen Prüfling benachbarten vordersten Platte 41 auch außer Raster liegende Stelle'* drs Prüflings kontaktiert werden können.

Zum elektrischen Anschluß eines Prüflings an die

Prüfelektronik wird dieser mit seinen zu kontaktierenden Stellen an die Kontaktstifte bildende Knicknadeln 40 mit ausreichend großer Kraft angedrückt, so daß diese axial zur Ausübung

• · · ■ · a · ■ t

6O77 - 29 -

ausreichend großer Kontaktkräfte federnd etwas zusammengedrückt werden,und es ist dann von jedem kontaktierten Prüfpunkt des jeweiligen Prüflings eine elektrische Verbindung zu der Prüfelektronik hergestellt, die dann die elektrische Prüfung auf Fehlerfreiheit vornimmt.

Es sei noch erwähnt, daß beispielsweise jeder

Ftderkontaktstift 17 der Fig. 1 und 2 eine in einer Bohrung der Platte 19 mit Gleitlagerspiel geradegeführte Hülse 46 aufweisen kann, in welcher

sich eine nicht dargestellte Druckfeder befindet, die 15

ein in der Hülse 46 geradegeführt gleitbai gelagertes Kolbenglied 47 federbelastet, das einen Schaft 49 mit einer verbreiterten Kontaktspitze 50 aufweist. Anstelle eines solchen Federkontaktstiftes kann auch

ein Federkontaktstift vorgesehen sein, dessen Hülse in 20

der Platte 19 fest angeordnet ist und in der Hülse sind dann zwei axial geradegeführte Kolbenglieder angeordnet, die durch dieselbe Druckfeder belastet sein können und von denen das eine den Schaft mit

Kontaktspitze und das andere Kolbenglied einen über 25

die Hülse nach hinten vorstehenden Schaft oder dgl.

aufweist, der an das zugeordnete Pad 24 angedrückt ist. Es können auch andere Federkontaktstifte vorgesehen sein, bspw. solche mit Überhülse.

Auch bei den Anschlußleiterplatten 22 und 22* nach den

Fig. 1 bis 3 kann gewünschtenfalls ohne weiteres vorgesehen sein, daß sich ihre durch die Pads gebildeten Padfelder 31 ähnlich oder ebenso wie das

Padfeld 31 der Anschlußleiterplatte 22'' nach Fig. 35

6&Ogr;77 - 30 -

nur über einen ggfs. relativ kleinen Teilbereich der Längen L dieser Anschlußleiterplatten 22, 22* erstrecken kann, wie es die jeweilige Ausbildung der zu prüfenden Prüflinge zweckmäßig macht. Es ist also auch hier möglich, vorzusehen, daß sich die Pads 24 jeder der Anschlußleiterplatten 22, 22' bspw. nur über das 0,2- bis 0,7-fache der Länge L dieser Anschlußleiterplatten 22, 22' erstrecken und die Pads 24 dann mit entsprechend höherer Paddichte in den entsprechend kürzeren Reihen und ggfs. auch in mehr als vier Reihen angeordnet sind, um so entsprechend geringere Abstände der zu kontaktierenden Stellen der jeweiligen Prüflinge erzielen zu lassen. Die rückseitigen Anschlüsse 26 können jedoch dabei zweckmäßig in mindestens einer Reihe angeordnet sein, die sich ungefähr über die Länge L der betreffenden Anschlußleiterplatte 22 bzw. 22' erstreckt, wie es das Ausführungsbeispiel nach Fig. 5 an einem Beispiel ^ entsprechend zeigt.

Diese Anschlußleiterplatten 22, 22' nach Fig. 1 bis haben auch den Vorteil, daß sie ohne weiteres lösbar und damit auswechselbar an den zugeordneten Prüfleiterplatten

^&Lgr;&Ogr; angeordnet sein können, so daß man jede solche Anschlußleiterplatte 22, 22' gewünschtenfalls gegen eine andere, vorzugsweise gleich lange Anschlußleiterplatte mit anderer Anordnung der Pads auswechseln kann, wobei jedoch die rückseitigen Anschlüsse 26 solcher anderen Anschlußleiterplatten 22, 22* wie die bei den Fig. 1 bis 3 angeordnet sein können, so daß diese Anschlüsse 26 mit den unverändert angeordneten Anschlüssen 15 der

eon, - 31 -

unverändert bleibenden Prüfleiterplatten 29 elektrisch verbunden werden können, also die rückseitigen Reihen von Anschlüssen 26 beliebiger AnschluBleiterplatten und 22' stets dieselbe Teilung haben können, die der Teilung der Reihen der Anschlüsse 15 der Prüfleiterplatten 29 zweckmäßig entsprechen können. Dies ermöglicht es, die Kontaktiervorrichtung 10 für Prüflinge unterschiedlichst' Ausbildungen u. a.

bezüglich der Anordnung der Pads 24 unterschiedlich zu gestalten und dennoch sie an die unverändert bleibenden Prüfleiterplatten 29 ansetzen zu können.

Die Anschlußleiterplatten 22, 22' und 22*' benötigen zumindest oft keine äußerlichen Leiterbahnen, sondern es is⁺. für sie zumindest in vielen Fällen ausreichend und vorteilhaft, vorzusehen, daß die elektrischen Verbindungen zwischen ihren Pads 24 und den rückseitigen Anschlüssen 26 nur durch Durchkupferungen oder Durchkontaktierungen oder dgl.der Isolierplatte 25 bzw.25'der betreffenden Anschlußleiterplatte bildende Leiterzüya 27 gebildet sind. Doch können ggfs. auch äußerliche Leiterbahnen vorgesehen oder zusätzlich vorgesehen sein.

Die Anschlußleiterplatte, wie 22, 22' und 22'', kann man auch anders bezeichnen, b&pw. als Anschlußplatine, Anschlu0piatte, Kontaktplafcte, Schrittstellen- oder Interface-Platte oder¹ dgl. _#

Claims

- 1 - Schutzansprüche

1. Testgerät zum Testen von elektrischen oder elektronischen Prüflingen, wie Leiterplatten,

Chips, integrierten Schaltkreisen oder dgl.,

welches Testgerät eine Prüfelektronik aufweist, die mit einer dem Kontaktieren der Prüflinge dienenden Kontaktiervorrichtung elektrisch verbunden ist, dadurch gekennzeichnet, daß die Prüfelektronik (12) mindestens eine bestückte Leiterplatte (13, 13'; 13'') - nachfolgend Prüfleiterplatte genannt - aufweist, an deren einer geraden Schmalseite (28) mindestens eine sich quer zu der Isolierplatte (29; 29') dieser Prüfleiterplatte (13, 13';13'')erstreckende Anschlußleiterplatte (22, 22'; 22'') angeordnet ist, die auf ihrer von der Prüfleiterplatte abgewendeten Seite Pads (24) aufweist, die elektrisch an die ihnen zugeordneten Anschlüsse (15) mindestens einer zugeordneten Prüfleiterplatte angeschlossen sind, und daß die Kontaktiervorrichtung (10) dem Kontaktieren zumindest einiger dieser Pads (24) dienende Kontaktstifte (17; 40) aufweist.

_a0

2. Testgerät nach Anspruch I₁ dadurch gekennzeichnet, daß der oder mindestens, einer Anschlußleiterplatte

- 2 -

(22; 22'; 22¹¹) eine einzige Prüfleiterplatte (13; 13'; 13") zugeordnet isty

3. Testgerät nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, daß mindestens zwei

Prüfleiterplatten eine einzige Anschlußleiterplattt ^1U zugeordnet ist.^

4. Testgerät nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß die Pads (24) der Anschlußleiterplatte (22; 22'; 22'') mittels Leiterzügen (27), die die Isolierplatte (25; 25') der Anschlußleiterplatte (22; 22', 22' ') durchdringen, mit zugeordneten, an der Rückseite dieser Isolierplatte der Anschlußleiterplatte befindlichen elektrischen Anschlüssen (26)

^&Lgr;&ugr; elektrisch verbunden sind, die sich gegenüber ihner zugeordneten elektrischen Anschlüssen (15) mindestens einer zugeordneten Prüfleiterplatte (13; 13', 13'') befinden und an diese elektrisch angeschlossen sind./
'

5. Testgerät nach Anspruch 4, dadurch gekennzeichnet, daß die elektrischen Anschlüsse (26) der Ansrhlußleiterplatte mit den zugeordneten elektrischen Anschlüssen (15) der mindestens einen zugeordneten Prüfleiterplatte durch Lötstellen (3O] verbunden sind.

6. Testgerät nach Anspruch 4, dadurch gekennzeichnet, daß die elektrischen Anschlüsse der

³^ Anschlußleiterplatte mit den elektrischen

6077

Anschlüssen mindestens einer zugeordneten

Prüfleiterplatte durch Schweißen verbunden sind.^

7. Testgerät nach Anspruch 4, dadurch gekennzeichnet, daß die elektrischen Anschlüsse der Anschlußleiterplatte mit den zugeordneten

&eegr; &Pgr; 5 C11 &khgr; &ugr; S 30&Pgr; mi &Pgr; &ugr;&thgr; 5 &igr;*&THgr;&Pgr;3 ciiici

zugeordneten Prüfleiterplatte lediglich in lösbarem elektrischen Kontakt stehen.

8. Testgerät nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß die Anschlußleiterplatte (22; 22') eine gesonderte, vorzugsweise unbestückte Leiterplatte ist, die an die betreffende Schmalseite (28) der Isolierplatte (29) mindestens einer Prüfleiterplatte (13; 13') angesetzt ist, vorzugsweise eine Längsnut (44) aufweist, in die die Isolierplatte (29) der Prüfleiterplatte formschlüssig eingreift,^/

9. Testgerät nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß die AnschluSleiterplatte (22; 22'; 22'') über mindestens eine Breitseite, vorzugsweise über beide Breitseiten der Isolierplatte {25; ?9') einer zugeordneten Prüfleiterplatte (13; 13'; 13'')übersteht.

10. Testgerät nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß die Anschlußleiterplatte oder mindestens eine

Anschlußleiterplatte (22; 22') eine einlagige

- 4 -

Leiterplatte ist.

11. Testgerät nach einem dervorhergehenden Ansprüche,
dadurch gekennzeichnet, daß die
Anschlußleiterplatte oder mindestens eine
Anschlußleiterplatte (22'') eine Multi-Layerplatte

12. Testgerät nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß die Prüfleiterplatte
(13'') oder mindestens eine Prüfleiterplatte eine

Multi-Layerplatte ist./

13. Testgerät nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß die Isolierplatte
mindestens einer Anschlußleiterplatte (22'') durch mindestens eine abgewinkelte, einstückige

Verlängerung mindestens einer Lage (36 bis 39)
der vorzugsweise mehrlagigen Isolierplatte (29)
einer zugeordneten Prüfleiterplatte (13'')
gebildet ist. .

14. Testgerät nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß die Pads (24) der
Anschlußleiterplatte (22; 22'; 22'') in mindestens einer Reihe angeordnet sind, die sich parallel zur betreffenden geraden Schmalseite (28) der

mindestens einen zugeordneten Prüfleiterplatte
(13; 13'; 13 " )erstreckt._;

15. Testgerät nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß die Pads (24) der

- ·> -

Anschlußleiterpiatte (22; 22'; 22'*) in mindestens vier zueinander parallelen, sich in Längsrichtung der betreffenden Schmalseite (28) der zugeordneten Prüfleiterplatte (13; 13'; 13'') erstreckenden Reihen angeordnet sind.

16. Testgerät nach einem der vorhergehenden Ansprüche,

naaurcn getcennzeicnnet, can aer tjereicn (Ji) aer

Anschlußleiterplatte, der die Paus (24) aufweist, sich ungefähr über die Länge der betreffenden Schmalseite (28) der mindestens einen zugeordneten Prüfleiterplatte erstreckt.

17. Testgerät nach einem der Ansprüche 1 bis 15, dadurch gekennzeichnet, daß sich der Bereich (31) der Anschlußleiterplatte (22¹¹), an dem die Pads

(24) angeordnet sind, nur über einen Teilbereich,

vorzugsweise über höchstens das 0,7-fache der Länge dieser Anschlußleiterplatte (22'') erstreckt^

18. Testgerät nach Anspruch 17, dadurch gekennzeichnet, daß die rückseitig dieser Anschlußleiterplatte (22'') angeordneten Anschlüsse (26) in mindester«; e^ner Reihe (51) angeordnet sind, wobei mindestens eine Reihe oder dies« Reihe langer ist

als die Länge des Bereichs (31) der Anschlußlei-

terplatte, an dem die Pads (24) angeordnet sind,

vorzugsweise sich diese Reihe oder mindestens eine dieser Reihen (51) von Anschlüssen (26) ungefähr über die Länge (L) dieser Anschluß-Leiterplatic

(22¹' ) erstreckt.
36

- 6 -

19. Testgerät nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß die Pads (24) der Anschlußleiterplatte sich in mindestens acht zueinander parallelen, sich parallel zur benachbarten Schmalseite (28) der zugeordneten Prüf leiterplatte (13") erstrecken.

. Testgerät nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß die elektrischen Anschlüsse(26) der Leiterzüge (27) der Anschlußleiterplatte seitlich einer Breitseite oder seitlich beider Breitseiten der Isolierplatte

der mindestens einen zugeordneten Prüfleiterplatte 15

in einer Reihe bzw. in je einer Reihe angeordnet sind und dieser Reihe oder Reihen je eine Reihe von elektrischen Anschlüssen (15) der Prüfleiterplatte gegenüberliegt, wobei jeder elektrische

Anschluß (26) der Anschlußleiterplatte dem ihm ZO

zugeordneten elektrischen Anschluß (15) der Prüfleiterplatte benachbart angeordnet und mit ihm elektrisch verbunden ist.

21. Testgerät nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß die Kontaktstifte der Kontaktiervorrichtung,die dem Kontaktieren der Pads (24) dienen, auch dem Kontaktieren der Prüflinge dienen, vorzugsweise Federkontaktstifte sind.

22. Testgerät nach einem der Ansprüche 1 bis 20, dadurch 30

gekennzeichnet, daß die Kontaktiervorrichtung dem Kontaktieren der Prüflinge dienende Starrstifte aufweist, die an Pads der mindestens einen Anschlußleiterplatte kontaktierenden Federkontaktstiften zu ihrer axialen Federung abgestützt sind.

Testgerät nach oinem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß die Anschlußleiterplatte ( 2 2 ; 2 2 ' ) &eegr;&eegr; der zugeordneten mindestens einen Prüfleiterplatte (13;13') lösbar befestigt ist.