DE68918501T2 - Einrichtung zur Steuerung von Gewinn und Offsetspannung in Strahlungsmessapparaten. - Google Patents

Einrichtung zur Steuerung von Gewinn und Offsetspannung in Strahlungsmessapparaten.

Info

Publication number
DE68918501T2
DE68918501T2 DE68918501T DE68918501T DE68918501T2 DE 68918501 T2 DE68918501 T2 DE 68918501T2 DE 68918501 T DE68918501 T DE 68918501T DE 68918501 T DE68918501 T DE 68918501T DE 68918501 T2 DE68918501 T2 DE 68918501T2
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
gain
light
radiation
signals
signal
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Lifetime
Application number
DE68918501T
Other languages
English (en)
Other versions
DE68918501D1 (de
Inventor
Hiroaki Intellectula Kobayashi
Tsutomu Intellectulal Yamakawa
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Toshiba Corp
Original Assignee
Toshiba Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Priority claimed from JP63150914A external-priority patent/JPH01318988A/ja
Priority claimed from JP15091388A external-priority patent/JP2698611B2/ja
Priority claimed from JP20608288A external-priority patent/JPH0619446B2/ja
Priority claimed from JP63206081A external-priority patent/JPH0619451B2/ja
Priority claimed from JP21892088A external-priority patent/JPH0619447B2/ja
Application filed by Toshiba Corp filed Critical Toshiba Corp
Application granted granted Critical
Publication of DE68918501D1 publication Critical patent/DE68918501D1/de
Publication of DE68918501T2 publication Critical patent/DE68918501T2/de
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01TMEASUREMENT OF NUCLEAR OR X-RADIATION
    • G01T1/00Measuring X-radiation, gamma radiation, corpuscular radiation, or cosmic radiation
    • G01T1/16Measuring radiation intensity
    • G01T1/20Measuring radiation intensity with scintillation detectors
    • G01T1/208Circuits specially adapted for scintillation detectors, e.g. for the photo-multiplier section
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J1/00Photometry, e.g. photographic exposure meter
    • G01J1/10Photometry, e.g. photographic exposure meter by comparison with reference light or electric value provisionally void
    • G01J1/16Photometry, e.g. photographic exposure meter by comparison with reference light or electric value provisionally void using electric radiation detectors
    • G01J1/18Photometry, e.g. photographic exposure meter by comparison with reference light or electric value provisionally void using electric radiation detectors using comparison with a reference electric value
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J1/00Photometry, e.g. photographic exposure meter
    • G01J1/02Details
    • G01J1/08Arrangements of light sources specially adapted for photometry standard sources, also using luminescent or radioactive material
    • G01J2001/086Calibrating drift correction
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J1/00Photometry, e.g. photographic exposure meter
    • G01J1/42Photometry, e.g. photographic exposure meter using electric radiation detectors
    • G01J1/44Electric circuits
    • G01J2001/4406Plural ranges in circuit, e.g. switchable ranges; Adjusting sensitivity selecting gain values
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J1/00Photometry, e.g. photographic exposure meter
    • G01J1/42Photometry, e.g. photographic exposure meter using electric radiation detectors
    • G01J1/44Electric circuits
    • G01J2001/4446Type of detector
    • G01J2001/4453PMT

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • High Energy & Nuclear Physics (AREA)
  • Molecular Biology (AREA)
  • Measurement Of Radiation (AREA)
  • Nuclear Medicine (AREA)

Description

  • Die vorliegende Erfindung betrifft ein System zur Echtzeitkalibrierung von Verstärkung und Offset bzw. Versatz eines Positionsdetektorsignals in X- und Y-Richtung innerhalb eines Strahlungsmeßapparates mit Strahlungsdetektoren.
  • Bei einem Strahlungsmeßapparat mit einem auf Strahlungseinfall ansprechenden Szintillator zur Erzeugung van Szintillationen und einem Photoelektronenvervielfacher (Photomultiplier - PMT), welcher die erzeugten Szintillationen in elektrische Signale wandelt, ist eine stabile Strahlungsmessung z.B. die Verstärkungssteuerung des PMT sehr wichtig, um die Genauigkeit der Strahlungsmessung zu verbessern.
  • Da jedoch die Verstärkungssteuerung bei herkömmlichen Strahlungsmeßapparaten manuell erfolgt, ist es nicht einfach, die PMT-Verstärkung mit hoher Genauigkeit zu steuern.
  • Ein Verfahren zur Steuerung der PMT-Verstärkung läßt sich verwirklichen, indem der PMT mit Normallicht einer Leuchtdiode (LED) bestrahlt und der Ausgang des PMT zur LED rückgekoppelt wird. In diesem Fall ist es wünschenswert, das Normallicht während der Strahlungsmessung oftmals zu messen. Wenn jedoch das Normallicht während der Strahlungsmessung gemessen wird, wird gleichzeitig auch die Strahlung erkannt. Das bedeutet, daß dann, wenn die Strahlung während der Emission des Normallichts auf den Szintillator fällt, von diesem erzeugte Szintllationen durch den PMT zusammen mit dem Normallicht erkannt werden.
  • Im Ergebnis kann eine stabile Verstärkungssteuerung des PMT nicht erzielt werden, wodurch die Genauigkeit der Strahlungsmessung verringert wird.
  • Hier kann beispielsweise ein Verfahren entwickelt werden, bei welchem die Szintillationen durch Bestrahlung des PMT mit Normallicht eines im Vergleich zu den Szintillationen hohen Energieniveaus vernachlässigt werden können. Allerdings sind die Meßbedingungen für das Normallicht und diejenigen für die Szintillationen voneinander verschieden. Dies macht eine ordnungsgemäße Verstärkungssteuerung für den PMT unmöglich.
  • Angesichts der obigen Ausführungen wird eine Vorrichtung gewünscht, welche die stabile Verstärkungssteuerung in Strahlungsmeßapparaten leisten kann.
  • Die zum Stand der Technik gehörige EP-A1-0 066 763 beschreibt eine Vorrichtung zur automatischen Verstärkungssteuerung von Photoelektronenvervielfacherröhren einer Gammakamera. Bei dieser Vorrichtung wird eine Vielzahl von Leuchtdioden mit Spannung von einem kontinuierlich arbeitenden Impulsgenerator versorgt. Das von den Leuchtdioden emittierte Licht trifft auf Kathoden der Photoelektronenvervielfacherröhren auf. Eine Steuerschaltung für jede Photoelektronenvervielfacherröhre dient zur Steuerung der Potentialdifferenz zwischen zwei Dynoden der Photoelektronenvervielfacherröhre und umfaßt einen mit dem Ausgang der zugehörigen Photoelektronenvervielfacherröhre gekoppelten Spitzenwertdetektor. Das Ausgangssignal der Photoelektronenvervielfacherröhre wird an einen Komparator zum Vergleich mit einer regelbaren stabilen Referenzspannung geliefert. Der Ausgang des Komparators ist mit einer über die beiden Dynoden verbundenen Widerstandssteuerschaltung gekoppelt, so daß eine kontinuierliche Neukalibrierung der Verstärkung jeder Photoelektronenvervielfacherröhre während des Betriebs der Gammakamera erfolgen kann. Zusammenfassend läßt sich sagen, daß auch diese dem Stand der Technik entsprechende Veröffentlichung eine Vorrichtung beschreibt, in welcher die Eigenschaft einer Photoelektronenvervielfacherröhre durch Änderung ihres Verstärkungsfaktors kalibriert wird.
  • Es ist eine Aufgabe der vorliegenden Erfindung, ein System zur Steuerung von Verstärkung und Offset bzw. Versatz in Strahlungsmeßapparaten bereitzustellen.
  • Zur Lösung dieser Aufgabe stellt die vorliegende Erfindung ein System gemäß Anspruch 1 bereit.
  • Dieses System umfaßt insbesondere eine Generatoreinrichtung zur Erzeugung des Normallichts, eine Wandlereinrichtung zur Wandlung eines Licht- in ein elektrisches Signal, eine Überwachungseinrichtung zur Überwachung des gewandelten elektrischen Signals und zur Erkennung eines Spannungswertes des überwachten elektrischen Signals, wenn dieses ein dem Normallicht entsprechendes elektrisches Signal enthält, und eine Steuerungseinrichtung zur Steuerung von Verstärkung und Offset des Strahlungsmeßapparates, um einen Verstärkungs- und einen Offsetkorrekturwert in Übereinstimmung mit dem erkannten und einem Ausgangsspannungswert zu erhalten.
  • Ein Verfahren für den Betrieb des Systems umfaßt insbesondere die folgenden Schritte:
  • Erzeugung eines Normallichts;
  • Wandlung des Lichts in ein elektrisches Signal;
  • Überwachung des gewandelten elektrischen Signals sowie Erkennung eines Spannungswertes des überwachten elektrischen Signals, wenn dieses ein dem Normallicht entsprechendes elektrisches Signal enthält; und
  • Steuerung von Verstärkung und Offset bzw. Versatz des Strahlungsmeßapparates durch Erhalt eines Verstärkungs- und eines Offsetkorrekturwerts in Übereinstimmung mit dem erkannten und einem Ausgangsspannungswert.
  • Diese Erfindung wird anhand der nachfolgenden detaillierten Beschreibung in Zusammenhang mit den beiliegenden Zeichnungen erläutert; es zeigen:
  • Fig. 1 und 2 Blockschaltbilder von Verstärkungs-Steuerungssystemen in herkömmlichen Strahlungsmeßapparaten;
  • Fig. 3 ein Blockschaltbild eines Strahlungsmeßsystems entsprechend einem ersten Ausführungsbeispiel der vorliegenden Erfindung;
  • Fig. 4 ein Wellenformdiagramm des von einer Leuchtdiode erzeugten Normallichtes;
  • Fig. 5 eine zweidimensionale Anordnung bzw. Matrix von Photoelektronenvervielfachern;
  • Fig. 6 einen Schaltungsaufbau einer AGC-Schaltung im vorliegenden System;
  • Fig. 7 ein Diagramm zur Erläuterung der Erkennung des Offset bzw. Versatzes;
  • Fig. 8 und 9 Flußdiagramme der Verstärkungs- und Offset- bzw. Versatzkorrektur bei dem ersten Ausführungsbeispiel der vorliegenden Erfindung;
  • Fig. 10 Diagramme zur Erläuterung der Erkennung des überlagerten Lichtes;
  • Fig. 11 ein Flußdiagramm einer zweiten Verstärkungs- und Offset- bzw. Versatzkorrektur bei dem ersten Ausführungsbeispiel der vorliegenden Erfindung;
  • Fig. 12 ein Blockschaltbild eines zweiten Ausführungsbeispiels der vorliegenden Erfindung;
  • Fig. 13 ein Blockschaltbild eines dritten Ausführungsbeispiels der vorliegenden Erfindung;
  • Fig. 14 und 15 eine Vorder- und eine Draufsicht zur Darstellung der Lage einer Punktquelle für einen Photoelektronenvervielfacher; und
  • Fig. 16 eine Änderung der Energiepegel eines Signals aufgrund einer Änderung des Verstärkungsfaktors in den Systemen der vorliegenden Erfindung.
  • In den in den Fig. 1 und 2 gezeigten herkömmlichen PMT- Verstärkungssteuerungssystemen wird ein PMT 1 mit von einer Leuchtdiode (LED) 2 unter der Steuerung eines LED-Controllers 5 erzeugtem Normallicht bestrahlt. Ein Ausgangssignal des PMT 1 wird an einen Rückkopplungs-Controller 4 gelegt. Der Rückkopplungs-Controller 4 steuert die Verstärkung eines Vorverstärkers 3 in Übereinstimmung mit dem Ausgangssignal des PMT 1. Als Ergebnis wird der Verstärkungsfaktor des PMT 1 indirekt gesteuert. Der Rückkopplungs-Controller 4 kann die Ausgangsspannung einer Hochspannungs-(HV)-Einheit 6 so steuern, daß der Verstärkungsfaktor des PMT 1 indirekt gesteuert wird.
  • Bei der Messung des Normallichts während der Strahlungsmessung werden solche Systeme nicht nur das Normallicht, sondern auch die Strahlung erkennen. Somit kann eine stabile Steuerung der Verstärkung des PMT nicht erreicht werden.
  • Es sei nunmehr auf die Fig. 3 verwiesen, welche ein Verstärkungssteuerungssystem entsprechend einem ersten Ausführungsbeispiel der vorliegenden Erfindung darstellt.
  • Das jeweilige von LED's 12-1 bis 12-n erzeugte Normallicht wird zu PMT's 10-1 bis 10-n geschickt, welche von einer HV- Einheit 28 gesteuert werden. Die LED's 12-1 bis 12-n erzeugen unter der Steuerung eines LED-Controllers 27 jeweils zwei Typen von Normallicht P1 und P2, die sich untereinander hinsichtlich der Lichtmenge unterscheiden. Ein Szintillator 40 erzeugt als Reaktion auf den Strahlungseinfall auf ihn Szintillationen. Ein Lichtleiter 41 leitet die erzeugten-Szintillationen zu den PMT's 10-1 bis 10-n.
  • Die Fig. 5 zeigte eine zweidimensionale Anordnung bzw. Matrix (X-Richtung, Y-Richtung) der PMT's 10-1 bis 10-n. Die LED's 12-1 bis 12-n sind jeweils in der Nähe der PMT's 10-1 bis 10-n angeordnet. Wahlweise können beispielsweise die LED's 12-1 bis 12-4 in der Nähe der PMT's 10-1 bis 10-4 angeordnet werden, welche sich in den vier Ecken der die PMT's 10-1 bis 10-n umfassenden PMT-Matrix befinden. Die LED's 12-1 bis 12-n erzeugen Licht eines Spektrums, welche nahe dem optischen Spektrum des Szintillators 40 liegt, z.B. grünes Licht als Normallicht. Die LED's 12-1 bis 12-n werden durch Stromimpulse mit einem vorgegebenen Tastverhältnis vom LED-Controller 27 gesteuert.
  • Vorverstärker 15-1 bis 15-n sind den PMT's 10-1 bis 10-n zugeordnet und verfügen jeweils über automatische Verstärkungsregelungsschaltungen (AGC - Automatic Gain Control) 16-1 bis 16-n. Die Verstärkungsfaktoren der Vorverstärker 15-1 bis 15-n werden jeweils durch einen System-Controller 26 gesteuert, welcher beispielsweise eine Zentraleinheit (CPU) umfaßt. Die Ausgangssignale der Vorverstärker 15-1 bis 15-n werden über einen Summierverstärker 19 an eine Impulsformerschaltung 20 gelegt.
  • Wie in der Fig. 6 gezeigt, umfaßt die AGC-Schaltung 16-1 einen D/A-Wandler 16a des Multiplikationstyps sowie Zwischenspeicherschaltungen 16b und 16c. Die AGC-Schaltungen 16-2 bis 16-n sowie später zu beschreibende AGC-Schaltungen 57 und 58 haben dieselbe Konfiguration wie die AGC-Schaltung 16-1.
  • Anschlüsse B1 bis B12 des D/A-Wandlers 16a des Multiplikationstyps sind mit Anschlüssen Q1 bis Q6 der Zwischenspeicherschaltungen 16b und 16c verbunden. Jede der Zwischenspeicherschaltungen 16b und 16c spricht auf ein an seinen CK-Anschluß gelegtes CK-Signal an, um ein 12 Bit breites digitales Signal, d.h. ein an ihre Anschlüsse D1 bis D6 vom System-Controller 26 gelegtes Verstärkungskorrektursignal, welches später beschrieben wird, zu halten. Das digitale Signal wird an den D/A-Wandler 16a des Multiplikationstyps abgesetzt.
  • Ein A/D-Wandler 24 wandelt ein von der Impulsformerschaltung 20 abgesetztes Analogsignal in ein digitales Signal und legt das digitale Signal an eine Versatz- bzw. Offset- Korrekturschaltung 25. Die Offset-Korrekturschaltung 25 korrigiert den Versatz bzw. Offset des digitalen Signals, d.h. die Meßdaten der Strahlung, in Übereinstimmung mit einem Offset-Korrekturwert.
  • Nunmehr wird ein Verfahren zur Berechnung des Offset- Korrekturwertes beschrieben.
  • Wenn die Normallichttypen P1 und P2 zu verschiedenen Zeitpunkten auf die PMT's 10-1 bis 10-n fallen, werden als Spitzenwerte der entsprechenden Ausgangssignale des A/D- Wandlers 24 für den Fall, daß kein Versatz bzw. Offset auftritt, als OP1 bzw. OP2 im Graphen der Fig. 7 angenommen. Man geht hier davon aus, daß die Spitzenwerte für die Normallichttypen P1 und P2 so eingeregelt sind, daß eine OP1 mit OP2 verbindende gerade Linie durch den Ursprung O verläuft. Werden die PMT's 10-1 bis 10-n nach Ablauf einer vorgegebenen Zeit erneut mit Normallicht P1 und P2 bestrahlt, dann würde im Falle eines Versatzes der Ausgangs-Spitzenwerte des A/D-Wandlers 24 nach OP1' und OP2' eine OP1' und OP2' verbindende gerade Linie L nicht durch den Ursprung O verlaufen. Die Abweichung der geraden Linie L bezogen auf den Ursprung O entspricht der Versatz- bzw. Offsetgröße. Der Versatz- bzw. Offset-Korrekturwert dient zur Korrektur der Abweichung.
  • Der System-Controller 26 berechnet einen Verstärkungs- Korrekturwert in Übereinstimmung mit einem Ausgangssignal des A/D-Wandlers 24, welches man erhält, wenn die PMT's 10-1 bis 10-n mit dem Normallicht bestrahlt werden. Die Verstärkungsfaktoren der Vorverstärker 15-1 bis 15-n werden entsprechend dem Verstärkungs-Korrekturwert gesteuert, so daß die Verstärkungsfaktoren der PMT's 10-1 bis 10-n indirekt gesteuert werden. Der System-Controller 26 berechnet außerdem den obigen Versatz- bzw. Offset-Korrekturwert. Die PMT's weisen im allgemeinen statistische Schwankungen auf. Somit ermöglichen mehrere Messungen des Normallichtes und die Berechnung eines arithmetischen Mittels der Meßdaten eine Verbesserung der Genauigkeit des Verstärkungs- und Offset-Korrekturwertes. Es ist zu beachten, daß die Messung des Normallichtes während der Strahlungsmessung unter der Steuerung des System-Controllers 26 erfolgt.
  • Ein Überlagerungslichtdetektor 21 erkennt den Einfall von Szintillationen auf den PMT's 10-1 bis 10-n während der Messung des Normallichts. Die Erkennung der Szintillationen erfolgt, indem die Ausgangssignale der Impulsformerschaltung 20 überwacht werden. Der Überlagerungslichtdetektor 21 besteht aus einem Integrator 21a zur Integration eines Ausgangssignals der Impulsformerschaltung 20 bis zum Ablauf einer vorgegebenen Zeitspanne ab der Emission des Normallichts und aus einem Komparator 21b zum Vergleich einer Ausgangsspannung Vint des Integrators 21a mit einer Referenzspannung Vref. Wenn im Komparator Vint > Vref, d.h., wenn das Normallicht und die Szintillationen innerhalb einer vorgegebenen Zeitspanne gleichzeitig auf die PMT's 10-1 bis 10-n fallen, setzt der Überlagerungslichtdetektor 21 ein Sperrsignal an den System-Controller 26 ab. Bei Empfang des Sperrsignals sperrt der System-Controller 26 die Operation des A/D-Wandlers 24. Mit anderen Worten, wenn das Normallicht und die Szintillationen auf die PMT's 10-1 bis 10-n fallen, wird das Ausgangssignal des A/D-Wandlers 24 nicht zur Offset- und Verstärkungs-Korrektur herangezogen.
  • Andererseits werden die in den Vorverstärkern 15-1 bis 15-n verstärkten Ausgangssignale der PMT's 10-1 bis 10-n an einen Positionssignalgenerator 56 gelegt. Der Positionssignalgenerator 56 berechnet auf Basis der Ausgangssignale der Vorverstärker 15-1 bis 15-n eine Einfallsposition der Strahlung auf den PMT's und stellt Positionssignale bereit, welche die Einfallsposition auf den AGC-Schaltungen 57 und 58 repräsentieren. Die Positionssignale enthalten ein X- und ein Y-Signal.
  • Die AGC-Schaltungen 57 und 58 korrigieren die Verstärkungsfaktoren der vom Positionssignalgenerator 56 abgesetzten Positionssignale. Die Verstärkungskorrektur erfolgt durch Verstärkungs-Korrektursignale, welche die vom System- Controller 26 ausgegebenen Verstärkungs-Korrekturwerte repräsentieren.
  • Addierglieder 59 und 60, welche jeweils aus einem Operationsverstärker bestehen können, addieren die die Offset- Korrekturwerte repräsentierenden Offset-Korrektursignale zu den Ausgangssignalen der AGC-Schaltungen 57 und 58, d.h. zu den verstärkungsberichtigten Positionssignalen.
  • A/D-Wandler 61 und 62 wandeln von den Addiergliedern 59 und 60 ausgegebene Analogsignale in digitale Signale. Die von den A/D-Wandlern 61 und 62 bei Emission von Normallicht abgesetzten digitalen Signale werden über einen Puffer 63 an den System-Controller 26 gelegt. Andererseits werden die gemessenen Strahlungsdaten an einen RI-Bildprozessor (nicht dargestellt) gelegt, um zur Bildung eines RI-Bildes herangezogen zu werden.
  • Der System-Controller 26 spricht auf das Ausgangssignal des Puffers 63 an, um das Verstärkungs- und das Versatz- bzw. Offset-Korrektursignal zu erzeugen.
  • Das Verstärkungs-Korrektursignal dient zur Korrektur von Abweichungen des Verstärkungsfaktors in der X- und Y-Richtung und ergibt sich aus einem Vergleich zwischen dem vom Puffer 63 abgesetzten Positionssignal und einem Ausgangspositionssignal, welches zuvor gesetzt wird, und durch Änderung einer aus dem Vergleich mit einer Änderung des Verstärkungsfaktors resultierenden Differenz. Das Verstärkungs-Korrektursignal wird an die AGC-Schaltungen 57 und 58 gelegt.
  • Das Offset-Korrektursignal dient zur Korrektur von Offset- Abweichungen in der X- und Y-Richtung und ergibt sich aus einem Vergleich zwischen dem vom Puffer 63 abgesetzten Positionssignal und einem Ausgangspositionssignal, welches zuvor gesetzt wird, und durch Änderung einer aus dem Vergleich mit einer Änderung des Versatzes bzw. Offset resultierenden Differenz. Das vom System-Controller 26 abgesetzte Offset-Korrektursignal wird von den D/A-Wandlern 64 und 65 in Analogsignale gewandelt und dann über Puffer 68 und 69 an die Addiergleider 59 und 60 gelegt.
  • In diesem Zusammenhang ist zu beachten, daß es sich bei dem Ausgangspositionssignal um ein zum Zeitpunkt der ersten Emission von Normallicht gewonnenes und in einem Speicher 67 gespeichertes Positionssignal handelt.
  • Im folgenden wird die Funktionsweise des vorliegenden Systems beschrieben.
  • Die Strahlungsmessung wird wie folgt ausgeführt. Die Ausgangswerte für die Verstärkungs- und Offset-Korrektur werden vorab in den AGC-Schaltungen 16-1 bis 16-n und in der Offset-Korrekturschaltung 25 gesetzt.
  • Wenn Strahlung von einem einem zu untersuchenden Objekt bzw. einer Versuchsperson verabreichten RI (Radioisotop) auf den Szintillator 40 fällt, so erzeugt dieser Szintillationen, welche auf die PMT's 10-1 bis 10-n fallen. Die Ausgangssignale der PMT's 10-1 bis 10-n werden durch die Vorverstärker 15-1 bis 15-n verstärkt und dann über den Summierverstärker 19, die Impulsformerschaltung 20 und den A/D-Wandler 24 an die Offset-Korrekturschaltung 25 gelegt. Ein der Offset-Korrektur in der Offset-Korrekturschaltung 25 unterworfenes Signal wird in den RI-Bildprozessor eingegeben.
  • Andererseits werden die in den Vorverstärkern 15-1 bis 15-n verstärkten Ausgangssignale der PMT's 10-1 bis 10-n an den Positionssignalgenerator 56 gelegt. Der Positionssignalgenerator 56 berechnet die Einfallposition der Strahlung in Ubereinstimmung mit den Ausgangssignalen der Vorverstärker 15-1 bis 15-n, um die Einfallposition angebende Positionssignale (X- und Y-Signale) bereitzustellen. Das X-Signal wird über die AGC-Schaltung 57 und das Addierglied 59 an den A/D-Wandler 61 gelegt, während das Y-Signal über die AGC-Schaltung 58 und das Addierglied 60 an den A/D-Wandler 62 gelegt wird. Die Ausgangssignale der A/D-Wandler 61 und 62 werden in den RI-Bildprozessor eingegeben.
  • Die obige Strahlungsmessung wird fortgesetzt, bis ein RI- Bild gebildet ist. Andererseits werden die Verstärkungs- und Offset-Korrektur wie folgt ausgeführt.
  • Der System-Controller 26 sperrt die Vorverstärker mit Ausnahme eines zur Korrektur verwendeten Vorverstärkers für Ausgangssignale und setzt ein Emissions-Befehlssignal an den LED-Controller 27 ab. Das Emissions-Befehlssignal enthält ein Signal zur Einstellung einer zu emittierenden Lichtmenge. Der LED-Controller 27 reagiert auf das Emissions-Befehlssignal, indem er eine vorgegebene LED veranlaßt, Licht zu emittieren. Ein Ausgangssignal eines mit dem Referenzlicht von der LED bestrahlten PMT wird von einem entsprechenden Vorverstärker verstärkt und dann über den Summierverstärker 19 und die Impulsformerschaltung 20 an den A/D-Wandler 24 gelegt. Ein digitales vom A/D-Wandler 24 abgesetztes Signal wird in den System-Controller 26 eingegeben. Als Reaktion auf das Anlegen des digitalen Signals gestattet der System-Controller 26 den Vorverstärkern, deren Signalausgabe gesperrt war, aktiv zu werden. Demzufolge wird die übliche Strahlungsmessung ausgeführt.
  • Der System-Controller 26 erhält auf Basis der obigen Abfolge einen Durchschnittswert der Meßdaten für die Normallichttypen und beschafft sich durch einen Vergleich zwischen dem erhaltenen Durchschnittswert und dem in den Vorverstärkern gesetzten Ausgangswert für die Verstärkungskorrektur oder dem vorigen Durchschnittswert eine Verstärkungsänderung. Die Verstärkungsänderung enthält Verstärkungsänderungen der PMT's sowie Verstärkungsänderungen des Analogsignal-Verarbeitungssystems. Der System-Controller 26 ändert die in den Vorverstärkern gesetzten Verstärkungs- Korrekturwerte entsprechend der erhaltenen Verstärkungsänderung. Folglich ändern sich die Verstärkungsfaktoren der Vorverstärker, so daß der Verstärkungs-Korrekturprozeß für den vorgegebenen Vorverstärker abgeschlossen ist.
  • Bei dem vorliegenden Meßsystem mit einer Vielzahl von PMT's werden die Vorverstärker nacheinander der obigen Verstärkungskorrektur unterworfen.
  • Die Operation wird für zwei Typen von Normallicht durchgeführt. Der Offset-Korrekturwert wird aus den Meßdaten für die jeweiligen Typen von Normallicht berechnet, wodurch der in der Offset-Korrekturschaltung 25 gesetzte Offset-Korrekturwert geändert wird.
  • Die Fig. 8 und 9 zeigen Flußdiagramme der vom System-Controller 26 durchgeführten Verstärkungs- und Offset-Korrektur. In dem Meßsystem mit n PMT's 10-1 bis 10-n werden m aus jedem der PMT's in m Messungen des Normallichts erhaltene Signale gemittelt.
  • In Schritt A1 werden Ausgangswerte des Verstärkungs- und des Offset-Korrekturwertes in den AGC-Schaltungen 16-1 bis 16-n bzw. in der Offset-Korrekturschaltung 25 gesetzt. In Schritt A2 wird eine Variable i auf 0 gesetzt. In Schritt A3 wird die Variable i um Eins hochgezählt. Anschließend wird in Schritt A4 eine Variable j auf 0 gesetzt. Die Variable j wird in Schritt A5 um Eins hochgezählt.
  • In Schritt A6 wird das Normallicht gemessen, und die vom Vorverstärker 15-i erhaltenen Meßwerte werden addiert.
  • In Schritt A7 wird bestimmt, ob j &ge; m ist oder nicht. Wenn j < m, werden die Schritte A5 und A6 ausgeführt. Das heißt, die Schritte A5 und A6 werden wiederholt ausgeführt, bis in Schritt A7 j &ge; m. Hier erfolgt eine vorgegebene Anzahl von Additionsprozessen für die vom Vorverstärker 15-i ausgegebenen Meßdaten, d.h. es werden m Additionsprozesse durchgeführt. Nach Abschluß der m Additionsprozesse erhält man einen Durchschnittswert der Meßdaten.
  • In Schritt A8 wird bestimmt, ob die Offset- bzw. Versatzkorrektur vorgenommen wird oder nicht. Erfolgt keine Offset-Korrektur, so wird auf Basis des Ausgangswertes und der Meßwerte ein Verstärkungs-Korrekturwert in Schritt A9 berechnet. Der berechnete Verstärkungs-Korrekturwert wird in der AGC-Schaltung 16-i gesetzt.
  • Wird die Offset-Korrektur ausgeführt, so wird in Schritt A10 die Summe der Meßwerte gespeichert. In Schritt A11 wird die Variable j auf 0 gesetzt und in Schritt A12 wird sie um Eins hochgezählt. In Schritt A13 wird das Normallicht gemessen, und die Meßwerte vom Vorverstärker 15-i werden addiert. Die Messungen des Normallichts in den Schritten A13 und A6 unterscheiden sich voneinander hinsichtlich der von der LED emittierten Lichtmenge. Wird beispielsweise das in der Fig. 4 gezeigte Normallicht P1 im Schritt A6 verwendet, dann wird in Schritt A13 das Normallicht P2 verwendet.
  • In Schritt A14 wird bestimmt, ob j &ge; m ist oder nicht. Wenn in Schritt A14 j &ge; m, werden aus den Ausgangswerten, den in Schritt A13 erhaltenden Meßdaten und der in Schritt A10 gespeicherten Daten ein Verstärkungs- und ein Offset-Korrekturwert berechnet (Schritt A15). In der AGC-Schaltung 16-i und der Offset-Korrekturschaltung 25 werden der Verstärkungs- bzw. Der Offset-Korrekturwert gesetzt. Nach Abschluß von Schritt A15 wird der Schritt A3 ausgeführt.
  • Die Fig. 9 ist ein Flußdiagramm der Schritte A6 bis A13.
  • In Schritt B1 sind die Vorverstärker mit Ausnahme des Vorverstärkers 15-i für die Erzeugung von Ausgangssignalen gesperrt. In Schritt B2 wird die dem PMT 10-i entsprechende LED 12-i angewiesen, Licht zu emittieren, und anschließend wird in Schritt B3 der A/D-Wandler 24 so gesteuert, daß er arbeitet, wenn das von der LED 12-i emittierte Normallicht auf den PMT 10-i fällt. In Schritt B4 wird ein Additionsprozeß entsprechend den digitalen Werten vom A/D-Wandler 24 ausgeführt. In Schritt B5 werden die Vorverstärker, welche in Schritt B1 gesperrt waren, freigegeben.
  • Die Messung des Normallichts und die Addition der Meßdaten erfolgen während der Strahlungsmessung. Deshalb können, wenn die PMT's 10-1 bis 10-n mit dem Normallicht von den LED's 12-1 bis 12-n bestrahlt werden, durch Strahlung des RI im Objekt bzw. in der zu untersuchenden Person Szintillationen erzeugt und dem Normallicht zur anschließenden Beaufschlagung der PMT's 10-1 bis 10-n überlagert werden. Erkennt der Überlagerungslichtdetektor 21 das überlagerte Licht, werden die zum Zeitpunkt der Emission von Normallicht erhaltenen Meßdaten nicht zur Verstärkungs- und Offset-Korrektur herangezogen.
  • Die Fig. 10 zeigt eine Ausgangswellenform der Impulsformerschaltung 20 und eine Ausgangswellenform des Integrators 21a. Es sei angenommen, daß man ein Signal 31 von der Impulsformerschaltung 20 erhält, wenn nur Normallicht auf den PMT fällt, während man ein Signal 32 von der Impulsformerschaltung 20 erhält, wenn Normallicht und Szintillationen auf den PMT fallen. In diesem Fall integriert der Integrator 21a das Ausgangssignal der Impulsformerschaltung 20 bis zum Ablauf mehrerer us ab der Emission von Normallicht, um eine Spannung Vint bereitzustellen. Wird das Signal 31 von der Impulsformerschaltung 20 ausgegeben, erhält man ein Signal 33 als Spannung Vint vom Integrator 21a. Wird andererseits das Signal 32 von der Impulsformerschaltung 20 ausgegeben, erhält man ein Signal 34 als Spannung Vint vom Integrator 21a.
  • Die Referenzspannung Vref wird vorab auf einen etwas höheren Spannungspegel als das Signal 33 eingestellt. Wenn Vint > Vref, setzt der Komparator 21b ein Sperrsignal an den System-Controller 26 ab. Ist dagegen Vint < Vref, setzt der Komparator 21b kein Sperrsignal ab.
  • Wird wie oben beschrieben, überlagertes Licht erkannt, so setzt der Überlagerungslichtdetektor 21 ein Sperrsignal an den System-Controller 26 ab. Der System-Controller 26 spricht auf das Sperrsignal mit einer Deaktivierung des A/D-Wandlers 24 an. Das heißt, daß die Berechnung eines Korrekturwertes aus den Meßdaten gesperrt ist, wodurch Fehler aufgrund des überlagerten Lichtes vermieden und eine einwandfreie Korrektur von Verstärkung und Offset bzw. Versatz erhalten werden können.
  • Die Referenzspannung Vref wird für den Komparator 21b verwendet. Wahlweise kann bei Fehlen von überlagertem Licht ein von der Impulsformerschaltung 20 ausgegebenes Signal abgefragt werden, um einen Spitzenwert zur Verwendung als Vref zu halten. In diesem Fall ist das Sperrsignal nur dann an den System-Controller 26 zu legen, wenn ein Ausgangswert der Impulsformerschaltung 20 den gehaltenen Spitzenwert überschreitet.
  • Im obigen Ausführungsbeispiel wird der Verstärkungsfaktor des Strahlungsmeßsystem durch Signale nach der Verarbeitung der Analogsignale gesteuert. Wie in den Fig. 1 und 2 dargestellt, kann die Verstärkungssteuerung auf der Basis eines Signals vom PMT 1 an den Vorverstärker 3 erfolgen.
  • Das vorliegende System kann das Normallicht für jeden der PMT's einmal messen und einen Verstärkungs-Korrekturwert berechnen, indem es die Meßdaten zu einer Summe der Meßdaten aus den vorherigen Messungen addiert. Des weiteren kann das vorliegende System das Normallicht mit jeweils verschiedenen Lichtmengen in einem Zeitpunkt messen und einen Offset-Korrekturwert entsprechend dem Meßwert und einer Summe der Meßdaten aus den vorherigen Messungen berechnen.
  • Die Fig. 11 ist ein Flußdiagramm der Verstärkungs- und Offset-Korrektur bei einer Messung des Normallichts. Im Schritt C1 werden Ausgangswerte für Verstärkungs- und Offset-Korrektur gesetzt. In Schritt C2 wird eine Variable i auf 0 Gesetzt, welche dann im Schritt C3 um Eins inkrementiert wird. Die LED 12-i wird in Schritt C4 angewiesen, Normallicht zu emittieren, und in Schritt C5 wird das von der LED 12-i emittierte Normallicht gemessen und ein Verstärküngs-Korrekturwert auf Basis der Meßdaten und der obigen Ausgangswerte berechnet. Der Verstärkungs-Korrekturwert wird in der AGC-Schaltung 16-i gesetzt.
  • In Schritt C6 wird bestimmt, ob die Offset-Korrektur ausgeführt wird oder nicht. Soll die Offset-Korrektur nicht ausgeführt werden, so wird Schritt C3 ausgeführt.
  • Soll die Offset-Korrektur ausgeführt werden, dann wird die LED 12-i in Schritt C7 angewiesen, Licht zu emittieren. In diesem Fall unterscheidet sich die zu emittierende Lichtmenge von derjenigen in Schritt C4. In Schritt C8 werden das von der LED 12-i emittierte Normallicht gemessen und der Offset-Korrekturwert aus den Meßdaten und dem Ausgangswert berechnet. Der Offset-Korrekturwert wird in der Offset-Korrekturschaltung 25 gesetzt. Nach Abschluß des Schrittes C8 wird der Schritt C3 ausgeführt.
  • Auf diese Weise kann der Prozeß schneller abgewickelt werden als der in der Fig. 8 dargestellte Prozeß.
  • Andererseits wird die Verstärkungs- und Offsetkorrektur für Positionssignale wie folgt durchgeführt.
  • Zunächst wird die Bildung der Ausgangspositionssignale erläutert.
  • Die LED's 12-1 bis 12-n emittieren zu verschiedenen Zeitpunkten periodisch Normallicht zur Beaufschlagung der PMT's 10-1 bis 10-n. Die von den Vorverstärkern 15-1 bis 15-n als Reaktion auf das auf den PMT's 10-1 bis 10-n einfallende Normallicht abgesetzten Signale werden an den Positionssignalgenerator 56 gelegt. In diesem Fall sind die Vorverstärker mit Ausnahme eines einem PMT entsprechenden Vorverstärkers nicht aktiviert.
  • Der Positionssignalgenerator 56 generiert bei Erzeugung des Normallichts Positionssignale (X- und Y-Signale) in Übereinstimmung mit den von den Vorverstärkern 15-1 bis 15-n abgesetzten Signalen. Das X- und Y-Signal werden über die AGC-Schaltungen 57 und 58, die Addierglieder 59 und 60, die A/D-Wandler 61 und 62 und den Puffer 63 an den System-Controller 26 gelegt. Der System-Controller 26 speichert die X- und Y-Signale im Speicher 67. Diese X- und Y-Signale dienen als Ausgangspositionssignale.
  • Im folgenden wird die Verstärkungs- und Offset-Korrektur auf Basis der Ausgangspositionssignale beschrieben.
  • Im Fall mit der obenbeschriebenen Bildung der Ausgangspositionssignale werden die PMT's 10-1 bis 10-n zu verschiedenen Zeitpunkten mit Normallicht während der Strahlungsmessung bestrahlt. Ein Ausgangssignal eines einem das Normallicht empfangenden PMT entsprechenden Vorverstärkers wird an den Positionssignalgenerator 56 gelegt. Vom Positionssignalgenerator 56 erzeugte Positionssignale werden über die AGC-Schaftungen 57 und 58, die Addierglieder 59 und 60, die A/D-Wandler 61 und 62 und den Puffer 63 an den System-Controller 26 gelegt. Der System-Controller 26 vergleicht diese Positionssignale mit den im Speicher 67 abgelegten Ausgangspositionssignalen, um ihre Pegeldifferenzen zu berechnen. Das Verstärkungs- und das Offset-Korrektursignal werden auf Basis der Pegeldifferenzen erhalten.
  • Das Verstärkungs-Korrektursignal wird an die AGC-Schaltungen 57 und 58 gelegt, wodurch diese die Verstärkungs- Korrektur der Positionssignale während der Strahlungsmessung durchführen.
  • Das Offset-Korrektursignal wird über D/A-Wandler 64 und 65 und Puffer 68 und 69 an die Addierglieder 59 und 60 gelegt, wodurch in den Addiergliedern 59 und 60 die Offset-Korrektur der Positionssignale durchgeführt wird.
  • Die Fig. 12 ist ein Blockschaltbild eines zweiten Ausführungsbeispiels der vorliegenden Erfindung. HV-Einheiten 28-1 bis 28-n entsprechen den PMT's 10-1 bis 10-n. Die Verstärkungs-Korrektur erfolgt durch Rückkopplung der PMT- Steuerspannungen von den HV-Einheiten 28-1 bin 28-n. Das heißt, die vom System-Controller 26 berechneten Verstärkungs-Korrekturwerte werden in den HV-Einheiten 28-1 bis 28-n gesetzt. Die HV-Einheiten 28-1 bis 28-n legen an die PMT's 10-1 bis 10-n in Übereinstimmung mit den Verstärkungs-Korrekturwerten vorgegebene Steuerspannungen an. Das System gemäß Fig. 3 steuert die Verstärkungsfaktoren der Vorverstärker, während das System gemäß Fig. 12 die Steuerspannungen der PMT's steuert.
  • Da die obige Verstärkungs- und Offset-Korrektur während der Strahlungsmessung regelmäßig erfolgen, kann die Einheitlichkeit eines RI-Bildes verbessert werden. Während bei dem herkömmlichen System die Verstärkungs- und Offset-Korrektur zum Zeitpunkt des Versands des Apparats manuell vorgenommen werden, gestattet das vorliegende System die Periodische, automatische Korrektur während der Strahlungsmessung, so daß die Notwendigkeit einer Korrektur zum Zeitpunkt des Versands des Apparats entfällt.
  • Die Anzahl und die Positionen der mit Normallicht bestrahlten PMT's können beliebig gewählt werden. Je höher die Anzahl der mit Normallicht bestrahlten PMT's ist, umso größer ist die Meßgenauigkeit.
  • Die Fig. 13 ist ein Blockschaltbild eines dritten Ausführungsbeispiels der vorliegenden Erfindung. Die dritte Ausführungsform besitzt keine LED's und keinen Überlagerungslichtdetektor.
  • Wie in den Fig. 14 und 15 gezeigt, wird ein PMT 10, welcher oberhalb des Szintillators 40 mit dazwischenliegenden Lichtleiter 41 angeordnet ist, eine Ausgangspegeldifferenz zwischen Position Pa und Position Pb mit einer Punktquelle PS aus in einem die Strahlung einschließenden Bleibehälter befindlichen &sup5;&sup7;Co an den Mittelpunkt des PMT 10 liefern. Dies ist hauptsächlich auf den Kanteneffekt des Szintillators 40 zurückzuführen. Danach werden solche Einregelungen vorgenommen, daß die Vorverstärker denselben Ausgangspegel für entsprechende Positionen der über dem Szintillator 40 angeordneten PMT's haben, wobei deren jeweilige Punktquellen PS eingeschnürt sind. Das heißt, die Verstärkungsfaktoren der PMT's selbst werden durch für die Einregelung der an den PMT's angelegten Spannungen gesteuert.
  • Nachdem die Einregelung der PMT's abgeschlossen ist und sie in einer zweidimensionalen Anordnung bzw. Matrix angeordnet sind, werden solche Verstärkungs-Korrekturen, wie oben beschrieben, durchgeführt.
  • Unterscheidet sich der Ausgangspegel eines Vorverstärkers von dem Referenzpegel, wie in der Fig. 16 dargestellt, so erhält man einen Verstärkungs-Korrekturwert Dco wie folgt
  • Dco = Dini (Hini/Hco)
  • wobei Hco ein Spitzenwert eines Vorverstärkers ist, den man erhält, wenn die Punktquelle PS auf den Mittelpunkt von PMT eingeschnürt wird, Hini ein Spitzenwert des Referenzsignals und Dini ein Ausgangswert des zuvor im D/A-Wandler 16a des Multiplikationstyps gesetzten Ausgangswert des Verstärkungs-Korrekturwerts ist.
  • Die Verstärkungsfaktoren der Vorverstärker können auf Basis des mit der obigen Formel erhaltenen Verstärkungs-Korrekturwerts gesteuert werden.
  • Auf diese Weise kann die Einregelung der Verstärkungsfaktoren der PMT's auf ihre jeweiligen Positionen im voraus und, falls die Einregelung der Verstärkungsfaktoren schlecht ist, durch Verwendung des Verstärkungs-Korrekturwertes präziser vorgenommen werden.
  • Obwohl bestimmte Ausführungsformen der der vorliegenden Erfindung offenbart und beschrieben worden sind, ist es für den Fachmann offensichtlich, daß auch andere Ausführungsformen und Modifikationen möglich sind.

Claims (4)

1. System zur Echtzeitkalibrierung von Verstärkung und Offset bzw. Versatz eines Positionsdetektorsignals in X- und Y-Richtung innerhalb eines Strahlungsmeßapparates mit Strahlungsdetektoren, wobei das System folgendes umfaßt:
- lichtemittierende Einrichtungen (12), welche in Positionen angeordnet sind, die durch vorgegebene Bedingungen in den Strahlungsdetektoren (10) gesetzt werden, zur periodischen Emission von Licht auf die Strahlungsdetektoren (19), während die Strahlungsdetektoren (10) die Strahlung erkennen;
-eine Positionssignalgeneratoreinrichtung (56) zur Generierung von Positionssignalen, wenn die Strahlungsdetektoren (10) das von den lichtemittierenden Einrichtungen (12) emittierte Licht erkennen;
- eine Korrekturdaten-Berechnungseinrichtung (26) zur Berechnung von durch eine Differenz zwischen den Positionssignalen und den Positionsbedingungen Korrekturdaten entsprechend den jeweiligen Positionssignalen; und
- eine Vielzahl von Verstärkungskalibriereinrichtungen (57, 58) dadurch gekennzeichnet, daß die Verstärkungskalibriereinrichtungen die Verstärkung der Positionsdetektorsignale in X- und Y-Richtung innerhalb des Strahlungsmeßapparates entsprechend den Korrekturdaten kalibrieren, während die Strahlungsdetektoren (10) die Strahlung erkennen, aufweist.
2. System gemäß Ansprucht 1, welches des weiteren Einrichtungen (21, 56-60) zur Ignorierung der durch Lichtsignale von den lichtemittierenden Einrichtungen (12) verursachten Lichtsignale, wenn diese Lichtsignale und Szintillationen im wesentlichen gleichzeitig erkannt werden.
3. System gemäß Anspruch 1, in welchem diese lichtemittierenden Einrichtungen (12) außerdem Einrichtungen (27) zur Steuerung der Menge des emittierten Lichtes enthalten.
4. System gemäß Anspruch 1, welches des weiteren Offsetkalibriereinrichtungen (59, 60, 64, 65, 68, 69) zur Kalibrierung des Offset bzw. Versatzes des Positionsdetektorsignals in X- und Y-Richtung innerhalb des Strahlungsmeßapparates entsprechend den Offsetkorrekturdaten, umfaßt, während die Strahlungsdetektoren die Strahlung erkennen.
DE68918501T 1988-06-17 1989-06-14 Einrichtung zur Steuerung von Gewinn und Offsetspannung in Strahlungsmessapparaten. Expired - Lifetime DE68918501T2 (de)

Applications Claiming Priority (5)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP63150914A JPH01318988A (ja) 1988-06-17 1988-06-17 放射線計測装置
JP15091388A JP2698611B2 (ja) 1988-06-17 1988-06-17 放射線計測装置
JP20608288A JPH0619446B2 (ja) 1988-08-19 1988-08-19 シンチレーションカメラの調整方法
JP63206081A JPH0619451B2 (ja) 1988-08-19 1988-08-19 シンチレーションカメラ
JP21892088A JPH0619447B2 (ja) 1988-08-31 1988-08-31 ガンマカメラ

Publications (2)

Publication Number Publication Date
DE68918501D1 DE68918501D1 (de) 1994-11-03
DE68918501T2 true DE68918501T2 (de) 1995-01-26

Family

ID=27527936

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DE68918501T Expired - Lifetime DE68918501T2 (de) 1988-06-17 1989-06-14 Einrichtung zur Steuerung von Gewinn und Offsetspannung in Strahlungsmessapparaten.

Country Status (4)

Country Link
US (1) US5004904A (de)
EP (1) EP0346878B1 (de)
CA (1) CA1333638C (de)
DE (1) DE68918501T2 (de)

Families Citing this family (26)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
SE460506B (sv) * 1988-08-31 1989-10-16 Wallac Oy Fotomultiplikator med foerstaerkningsstabiliseringsorgan
FR2651331B1 (fr) * 1989-08-22 1991-10-25 Thomson Tubes Electroniques Procede de correction des signaux d'un detecteur lineaire de radiations et dispositif de correction mettant en óoeuvre ce procede.
US5220589A (en) * 1991-07-18 1993-06-15 General Electric Company Correction circuit for a floating-point amplifier
US5179423A (en) * 1991-07-26 1993-01-12 Kollmorgen Corporation Gain stabilized self-scanning photo-diode array
US5412215A (en) * 1991-10-08 1995-05-02 Kabushiki Kaisha Toshiba Method and system capable of tuning scintillation camera by small number of light references
US5237173A (en) * 1992-04-01 1993-08-17 Independent Scintillation Imaging Systems, Inc. Gain calibration in a scintillation camera
FR2700859B1 (fr) * 1993-01-27 1995-03-31 Sopha Medical Gamma-caméra à compensation de gain.
US5376797A (en) * 1993-09-03 1994-12-27 Siemens Medical Systems, Inc. Method and apparatus for producing and utilizing flashes of light which simulate scintillation events
FR2711792B1 (fr) * 1993-10-21 1996-12-20 Instruments Sa Dispositif de mesure de flux lumineux.
US5453610A (en) * 1994-05-20 1995-09-26 Summit World Trade Corporation Electronic gain control for photomultiplier used in gamma camera
US5512755A (en) * 1994-05-20 1996-04-30 Summit World Trade Corp. Gamma camera device
US5550377A (en) * 1994-09-20 1996-08-27 Picker International, Inc. Technique for balancing anger cameras using an externally irradiated crystal and single tube data
US5449897A (en) * 1994-10-03 1995-09-12 Adac Laboratories Automatic gain calibration for gamma camera system
EP0706065B1 (de) * 1994-10-03 2002-11-27 Koninklijke Philips Electronics N.V. Verbessertes Gammakamera-System
US5548111A (en) * 1995-02-22 1996-08-20 Wallac Oy Photomultiplier having gain stabilization means
US5677536A (en) * 1996-06-19 1997-10-14 Smv America Gamma camera with on the fly calibration for PMT drift
US5795784A (en) 1996-09-19 1998-08-18 Abbott Laboratories Method of performing a process for determining an item of interest in a sample
US5856194A (en) 1996-09-19 1999-01-05 Abbott Laboratories Method for determination of item of interest in a sample
CA2212196A1 (en) 1997-08-01 1999-02-01 Is2 Research Inc. Medical diagnostic apparatus and method
US5859429A (en) * 1997-08-20 1999-01-12 Abbott Laboratories Optical system with test/calibration
SE9703360D0 (sv) * 1997-09-17 1997-09-17 Btg Kaelle Inventing Ab Sätt och anordning för bestämning av nivån för en vätska i en behållande
JP4696172B2 (ja) * 2009-06-15 2011-06-08 古河機械金属株式会社 信号光検出装置及び信号光検出方法
US8866094B2 (en) 2010-12-09 2014-10-21 Rigaku Corporation Radiation detector
US9507049B2 (en) 2013-10-04 2016-11-29 Banner Engineering Object sensing using dynamic demodulation
WO2015126386A1 (en) * 2014-02-19 2015-08-27 Halliburton Energy Services Inc. Integrated computational element designed for multi-characteristic detection
CN106052861B (zh) * 2016-07-27 2017-08-29 武汉京邦科技有限公司 一种硅光电倍增器测试***及测试方法

Family Cites Families (15)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3487222A (en) * 1967-11-03 1969-12-30 Bausch & Lomb Automatic gain control for self-calibrating a detection system
US3515878A (en) * 1967-12-28 1970-06-02 Ball Brothers Res Corp Gain control system for photomultiplier using standardization pulses
US3714441A (en) * 1971-12-13 1973-01-30 Servo Corp Photomultiplier gain control circuit
FR2168849B1 (de) * 1972-01-24 1976-09-03 Schlumberger Prospection
US3864573A (en) * 1973-08-20 1975-02-04 Bethlehem Steel Corp Wide-range radiation gage for determining a material property
FR2286393A1 (fr) * 1974-09-27 1976-04-23 Labo Electronique Physique Systeme automatique de reetalonnage permanent pour camera a scintillation
FR2328207A1 (fr) * 1975-10-17 1977-05-13 Labo Electronique Physique Systeme de regulation automatique pour camera a scintillations
US4071762A (en) * 1976-10-12 1978-01-31 General Electric Company Scintillation camera with improved output means
US4310243A (en) * 1979-10-19 1982-01-12 Beckman Instruments, Inc. Spectrophotometer with photomultiplier tube dark signal compensation
US4279510A (en) * 1979-10-19 1981-07-21 Beckman Instruments, Inc. Spectrophotometer with improved photomultiplier tube dark signal compensation
US4413183A (en) * 1980-12-29 1983-11-01 Raytheon Company Gamma camera
DK230481A (da) * 1981-05-26 1982-11-27 Gen Electric Nuclear Medical A Anordning ved et gammakamera til automatisk forstaerkningsregulering
US4466075A (en) * 1981-11-23 1984-08-14 Siemens Gammasonics, Inc. Motion correction circuitry and method for a radiation imaging device
JPS58129378A (ja) * 1982-01-29 1983-08-02 Shimadzu Corp シンチレ−シヨンカメラの光検出器の調整方法
JPH065280B2 (ja) * 1985-04-17 1994-01-19 株式会社東芝 シンチレ−シヨンカメラ

Also Published As

Publication number Publication date
CA1333638C (en) 1994-12-20
EP0346878A2 (de) 1989-12-20
EP0346878B1 (de) 1994-09-28
EP0346878A3 (de) 1991-05-15
DE68918501D1 (de) 1994-11-03
US5004904A (en) 1991-04-02

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE68918501T2 (de) Einrichtung zur Steuerung von Gewinn und Offsetspannung in Strahlungsmessapparaten.
DE2654106C2 (de)
DE69323531T2 (de) Ungleichförmigkeitsausgleich mit grossem Dynamikbereich für infrarote Bildebenematrizen
DE69723991T2 (de) Vorrichtung und verfahren zum sammeln und kodieren von signalen von photodetektoren
DE69023462T2 (de) Verfahren zur Regelung der Belichtungszeit eines Röntgengerätes, insbesondere für die Mammographie.
DE2641775C2 (de)
DE10357187A1 (de) Verfahren zum Betrieb eines zählenden Strahlungsdetektors mit verbesserter Linearität
DE10301071A1 (de) Vorrichtung und Verfahren zum Einstellen der Brennfleckposition einer Röntgenröhre
EP0029244A1 (de) Verfahren und Gerät zur Korrektur von Ungleichförmigkeiten in den Bildereignis-Energiesignalen einer Szintillationskamera
DE2810501B2 (de) Vorrichtung zur Ermittlung der Einstellung größter Bildschärfe von optischen Geräten
DE69019212T2 (de) Strahlungsmessvorrichtung.
DE2826484A1 (de) Regelverfahren und -vorrichtung zur automatischen driftstabilisierung bei strahlungsmessungen
DE2704784C2 (de) Computer-Tomograph
DE23639T1 (de) Instrument und verfahren zur kalibrierung von szintillationskameras.
DE102014205148A1 (de) Röntgenstrahlenanalysegerät
DE3106428A1 (de) Lageempfindlicher strahlungsdetektor
DE2746763A1 (de) Verfahren und anordnung zur kalibrierung eines gammastrahlungszaehlinstruments
DE2252353A1 (de) Einrichtung zum konstanthalten der verstaerkung einer fotovervielfacheranordnung
DE2413041A1 (de) Strahlungsabtastvorrichtung
DE69528949T2 (de) Verbessertes Gammakamera-System
DE102015201494A1 (de) Ermitteln von Funktionsdaten eines Röntgendetektors
DE69105101T2 (de) Röntgenbildanlage.
DE3004147C2 (de) Fokussierungsermittlungseinrichtung für eine Kamera
DE1764603B2 (de) Verfahren zum automatischen kompensieren von auf loeschvorgaengen beruhenden spektralen verschiebungen bei einem fluessigkeitsszintillationszaehler
DE2454574C2 (de)

Legal Events

Date Code Title Description
8364 No opposition during term of opposition
8320 Willingness to grant licences declared (paragraph 23)