DE4333423A1 - Verfahren und Anordnung zur Absolutinterferometrie mit durch Diodenlaser erzeugter Strahlung - Google Patents

Description

Die Erfindung betrifft ein Verfahren und eine Anordnung zur Absolutinterferometrie mit durch Diodenlaser erzeugter Strah­ lung nach den Patentansprüchen 1, 4 und 9.

Es ist bekannt, auf der Basis der Absolutinterferometrie mit durchstimmbaren Halbleiterlasern Abstände statisch ohne Ver­ schieben eines Meßreflektors, wie dies bei Michelson-Interfe­ rometern erforderlich ist, zu bestimmen. Bei der Absolutinter­ ferometrie mit durchstimmbaren Halbleiterlasern wird durch eine kontinuierliche Wellenlängenänderung des Lasers eine Än­ derung der Interferenzphase hervorgerufen. Diese Phasenände­ rung wird zu einer Phasenänderung in Beziehung gesetzt, die in einem Referenzinterferometer mit konstanter Länge gemessen wird. Aus der Kenntnis der Referenzstreckenlänge läßt sich dann der absolute Abstand zwischen Detektor und Reflektor be­ rechnen.

Ein derartiges absolutinterferometrisches Verfahren wurde bei­ spielsweise von T. Pfeifer und J. Thiel in "Technisches Mes­ sen" 60 (1993), Heft 5, S. 185 bis 191 beschrieben.

Bei der absolutinterferometrischen Messung wird die Wellenlänge eines Halbleiterlasers kontinuierlich durchgestimmt, wobei die Laserwellenlänge ohne Modensprung beispielsweise von λ₁ nach λ₂ geändert wird. Eine derartige Durchstimmung kann bei der Verwendung von Halbleiterlasern beispielsweise dadurch erfol­ gen, daß ein unterschiedlicher Injektionsstrom eingestellt wird. Für einen gegebenen Absolutabstand L_abs des Meßspiegels gelten für die Wellenlängen λ₁ und λ₂ folgende Beziehungen:

L_abs = (m₁ + ϕ₁) λ₁/2 = Φ₁ λ₁/2

L_abs = (m₂ + ϕ₂) λ₂/2 = Φ₂ λ₂/2

Nach Multiplikation der oben genannten Gleichungen mit der je­ weils anderen Wellenlänge und anschließender Subtraktion er­ gibt sich:

wobei Λ_S die Schwebungswellenlänge darstellt.

Da die Wellenlängen λ₁ und λ₂ vom jeweils verwendeten Halblei­ terlaser nicht ohne weitere Maßnahmen exakt reproduzierbar eingestellt werden können, variiert die Schwebungswellenlänge Λ_S. Sie variiert deshalb so stark, da in ihre Berechnung die geringe Wellenlängendifferenz (λ₂-λ₁) im Nenner eingeht.

Beim bekannten Stand der Technik ist es daher erforderlich, einen Längenvergleich mit einem Referenzinterferometer kon­ stanter Länge durchzuführen.

Dieses bekannte absolutinterferometrische Verfahren mit einem zusätzlichen Referenzinterferometer mit konstanter Länge ba­ siert darauf, während der kontinuierlichen Wellenlängendurch­ stimmung die Interferenzphasenänderung sowohl in dem Meß- als auch in dem Referenzinterferometer zu detektieren. Wenn die Länge der Referenzstrecke L_ref bekannt ist, so ergibt sich der Meßabstand L_abs aus der Phasenänderung der Referenzstrecke Φ_ref und der Phasenänderung der Meßstrecke Φ_abs nach folgender Beziehung

Bei diesem Verfahren ist die Kenntnis der Wellenlängen und des Abstandes Δλ nicht erforderlich und die Meßunsicherheit wird lediglich von der Genauigkeit der Phasenmessung und der Be­ stimmung der Referenzstreckenlänge abhängig.

Es gilt allerdings, daß mit einer Vergrößerung des Durchstimm­ bereiches der Laserwellenlänge die relative Unsicherheit der Phasenmessung geringer wird.

Der Durchstimmbarkeit eines Halbleiterlasers sind jedoch, je nach konkreter Realisierungsform des pn-Übergangs und des Laserresonators, Grenzen gesetzt.

Die Realisierung des oben beschriebenen absolutinterferometri­ schen Verfahrens ist aufgrund der Notwendigkeit eines Referenzinterferometers bzw. einer Referenzstrecke mit einem erhöhten optisch-mechanischem Aufwand verbunden.

Es ist daher Aufgabe der Erfindung, ein Verfahren und eine An­ ordnung zur Absolutinterferometrie mit durch Diodenlaser er­ zeugter Strahlung anzugeben, welches eine relative oder abso­ lute Abstandsmessung ohne Referenzinterferometer ermöglicht, wobei die Schwebungswellenlänge Λ_S konstant ist und das die Voraussetzung für eine hoch aufgelöste Phasenmessung mit ent­ sprechender genauer Meßstreckenbestimmung schafft.

Die Lösung der Aufgabe der Erfindung erfolgt mit den Merkmalen der Patentansprüche 1, 4 und 9, wobei die Unteransprüche vor­ teilhafte Ausgestaltungen und Weiterbildungen der Erfindung umfassen.

Der Grundgedanke der Erfindung besteht darin, die mittels ei­ nes Diodenlasers erzeugte Strahlung derart zu modulieren, daß dem Diodenlaser mindestens eine diskrete Frequenz aufgeprägt wird, die dann mit einem an sich bekannten phasenempfindlichen Detektionsverfahren nachgewiesen wird. Durch die Modulation der ursprünglichen Strahlung des Diodenlasers wird quasi ein zweiter Laserstrahl erzeugt, so daß in einem einzigen Strah­ lengang ein Meß- und Referenzstrahl resultieren. Beide Strah­ len besitzen jeweils eine andere Frequenz, weisen jedoch par­ allele Wellenfronten auf und legen exakt den gleichen opti­ schen Weg zurück und interferieren auf einem einzigen Detek­ tor.

Bei der vorerwähnten Modulation wird der Diodenlaser bzw. die Trägerfrequenz des Lasers derart moduliert, daß im Frequenzbe­ reich im Abstand der Modulationsfrequenz mindestens ein Sei­ tenband entsteht. Die Schwebungswellenlänge hängt damit nur noch von der Modulationsfrequenz ab, die mit bekannten Fre­ quenzgeneratoren, z. B. Quarzoszillatoren sehr präzise und genau vorgegeben werden kann.

Es wird also bei der Erfindung in neuartiger Weise ein abso­ lutinterferometrisches Verfahren vorgestellt, bei dem die Pha­ senverschiebung eines Modulationssignals gemessen wird und der Diodenlaser bzw. die durch ihn erzeugte Strahlung nur Träger­ funktion hat und die Meßstrecke eindeutig festlegt. Es liegt im Sinne der Erfindung, daß das Verfahren mit und ohne Reflek­ torspiegel realisiert werden kann, wobei im Falle des Ver­ zichtes auf einen Reflektorspiegel die Meßstrecke durch den Abstand zwischen Diodenlaser und Detektor definiert ist.

Es liegt ebenfalls im Sinne der Erfindung, eine Intensitäts­ normierung der gemessenen Signale auf die Lichtleistung am De­ tektor vorzusehen, um eine Beeinflussung der Messung durch un­ erwünschte Absorptionen im optischen Strahlengang auszuschlie­ ßen.

Mit dem erfindungsgemäßen Verfahren und der zur Realisierung des Verfahrens angegebenen Anordnung wird also entgegen dem eingangs beschriebenen Stand der Technik eine konstante Schwe­ bungswellenlänge Λ_S erreicht. Durch eine hochaufgelöste Pha­ senmessung ΔΦ, die nur durch Rauschen bzw. Quantisierungsfeh­ ler eines verwendeten Analog-Digital-Wandlers begrenzt ist, kann eine erhebliche Erhöhung der Meßgenauigkeit erreicht wer­ den. Durch den Fortfall eines ansonsten notwendigen Durchstim­ mens des Diodenlasers sind Fehler, die durch Fluktuationen oder Parameteränderungen während der Durchstimmzeit entstehen, von vornherein ausgeschlossen. Es könnten also Relativmessun­ gen bei konstanten Systemparametern, wie Laserstrom, Lasertem­ peratur und Lasermodulation durchgeführt werden, da nur ein elektronisches Vermessen einer Phasenänderung erforderlich ist.

Absolutmessungen werden durch eine Veränderung der Modula­ tionsfrequenz über einen vorgegebenen Bereich durchgeführt, wobei die Bestimmung des absoluten Abstandes dann auf die Mes­ sung der Frequenz, die mit bekannten Methoden hochgenau mög­ lich ist, zurückgeführt wird. Eine notwendige Richtungsdetek­ tion erfolgt vorteilhaft durch elektronische Erzeugung von 90°, 180° und/oder 270° phasenverschobenen Signalen und mit nur einem einzigen Detektor.

Die Erfindung soll anhand von Ausführungsbeispielen und Figu­ ren näher erläutert werden.

Hierbei zeigen:

Fig. 1 eine prinzipielle Anordnung zur Bestimmung der Ände­ rung der Größe einer Meßstrecke bzw. Entfernung auf der Basis des erfindungsgemäßen absolutinterferome­ trischen Verfahrens;

Fig. 2 eine prinzipielle Anordnung zur Bestimmung der Ände­ rung der Größe einer Meßstrecke bzw. Entfernung un­ ter gleichzeitiger Bestimmung der Änderungsrichtung; und

Fig. 3 eine prinzipielle Anordnung zur Bestimmung der abso­ luten Größe einer Meßstrecke auf der Basis des er­ findungsgemäßen absolutinterferometrischen Verfah­ rens mit veränderlicher Modulation.

Bei der Anordnung zur Bestimmung der Änderung der Größe einer Meßstrecke bzw. Entfernung auf der Basis des erfindungsgemäßen Verfahrens wird ein Diodenlaser 1 über eine Steuereinheit 2 hinsichtlich Injektionsstrom, Temperatur und pn-Übergang be­ trieben. Die Laserstrahlung des Diodenlasers 1 gelangt auf z. B. einen (Retro)Reflektor 3 und von dort zurück auf einen Detektor 4. Die Meßstrecke L ist durch den Abstand zwischen (Retro)Reflektor 3 und Detektor 4 definiert. Der Diodenlaser 1 wird über einen Modulator 5 frequenzmoduliert. Die Modulation der Strahlung νl des Diodenlasers erfolgt derart, daß im Frequenzbereich im Abstand der Modulationsfrequenz νm mindestens ein Seitenband νs entsteht. Durch die derart erfolgende Modulation wird neben dem ursprünglichen ersten Strahl ein virtueller, zweiter Strahl mit geänderter Frequenz, aber parallelen Wellenfronten, erzeugt, wobei der erste und der zweite Strahl jeweils den gleichen optischen Weg zurücklegen und die Strahlen auf dem Detektor 4 interferieren.

Der Ausgang des Detektors 4 steht mit dem ersten Eingang eines phasenempfindlichen Detektors 6 in Verbindung, an dessen zwei­ ten Eingang ein Modulationsreferenzsignal aus dem Modulator 5 anliegt.

Das am Ausgang des phasenempfindlichen Detektors 6 bereitste­ hende Phasenänderungssignal wird mit einer Signalverarbei­ tungseinheit 7 derart bewertet, daß die Änderungsgröße der Meßstrecke L bestimmbar ist.

Der phasenempfindliche Detektor 6 kann beispielsweise durch einen Lock-In-Verstärker oder einen Double-Balanced-Mixer re­ alisiert werden.

Mittels des Modulators 5 wird der Diodenlaser 1 bzw. die Trä­ gerfrequenz νl derart moduliert, daß im Frequenzbereich im Ab­ stand der Modulationsfrequenz νm mindestens ein Seitenband mit νs = νl+νm bzw.

resultiert.

Demnach hängt die Schwebungswellenlänge

nur noch von der Modulationsfrequenz νm ab, die innerhalb des Modulators 5 durch einen hochgenauen frequenzstabilisierten Generator erzeugt werden kann.

Die Genauigkeitsgrenzen der Längenbestimmung L ist gegeben durch ΔL_min = ΔΦ_min·Λ_S/2.

Mittels phasenempfindlicher Detektion können Phasenänderungen ΔΦ_min 10^-3 gemessen werden. Dies ist beispielsweise durch einen 12 Bit Analog-Digital-Wandler mit einer Auflösung von 1/4096 möglich.

In der nachstehenden Tabelle sind minimal detektierbare Län­ genänderungen bzw. Genauigkeiten für eine Phasenauflösung ΔΦ_min von 10^-3 bzw. 10^-4 als Funktion der Modulationsfrequenz νm gezeigt. Für größere oder kleinere Phasenauflösungen können die Werte entsprechend skaliert werden. Ebenso für andere Modulationsfrequenzen νm.

Das Ausführungsbeispiel gemäß Fig. 2 zeigt die erfindungsge­ mäße Anordnung zur Bestimmung der Änderung der Größe einer Meßstrecke mit Richtungsbestimmungsoption.

Die Meßstrecke ändert sich hier in Betrag und Richtung z. Ebenso wie beim ersten Ausführungsbeispiel ist ein Diodenlaser 1 vorgesehen, dessen Strahlung auf einen Retroreflektor 3 fällt und anschließend von einem Detektor 4 empfangen wird. Der Modulator 5 erzeugt ein Modulationssignal A·sin(ωm·t), wobei dieses Modulationssignal wie auch beim ersten Ausfüh­ rungsbeispiel zusätzlich auf den Referenzeingang, d. h. den zweiten Eingang des phasenempfindlichen Detektors 6 gelangt. Der Ausgang des Detektors 4 steht mit dem ersten Eingang des vorerwähnten phasenempfindlichen Detektors 6 in Verbindung.

Der modulierte Laserstrahl durchläuft die Meßstrecke und er­ zeugt auf dem Detektor 4 ein Schwebungssignal B·sin(ωm·t + Φ). Dieses Signal hat eine Frequenz, die genau der Modula­ tionsfrequenz entspricht, jedoch um den Betrag Φ phasenver­ schoben ist. Am Ausgang des phasenempfindlichen Detektors 6 ergibt sich nach einem Mischprozeß und geeigneter Filterung ein Gleichspannungspegel C·sin(Φ), der von der Phase Φ ab­ hängt. Bei einer Änderung der Phase von 0 bis 2π wird ein Gleichspannungspegel von 2C durchlaufen. Die Pegeländerung kann nach geeigneter Verstärkung entweder analog oder digital bestimmt werden und stellt die gesuchte Meßgröße dar.

Für Relativmessungen ist es notwendig, die Änderungsrichtung ebenfalls zu detektieren. Hierfür wird das Detektorausgangs­ signal in zwei oder mehrere gleiche Anteile aufgespalten und mehreren phasenempfindlichen Detektoren zugeführt, wobei die Referenzsignale der phasenempfindlichen Detektoren um 90, 180 oder 270° phasenverschoben sind.

In der Ausführungsform gemäß Fig. 2 ist ein zweiter phasen­ empfindlicher Detektor 8 vorgesehen, dessen zweiten Eingang ein Referenzsignal zugeführt wird, welches um 90° phasenver­ schoben ist. Am ersten Eingang des zweiten phasenempfindlichen Detektors 8 liegt das Ausgangssignal des Detektors 4 an. Durch den Vergleich der Ausgangssignale des ersten und des zweiten phasenempfindlichen Detektors 6, 8, die das In-Phase und ein Quadratur-Signal führen, kann auf elektronischem Wege die Än­ derungsrichtung des Betrages z bestimmt werden.

Es liegt im Sinne der Erfindung, daß auf den Retroreflektor 3 verzichtet werden kann, wobei dann die Meßstrecke durch den sich gegenüberstehenden Diodenlaser 1 und Detektor 4 definiert ist.

Vorteilhafterweise werden zur Realisierung des erfindungsgemä­ ßen Verfahrens Halbleiterlaser eingesetzt, da diese bis in den Gigahertzbereich, z. B. über den Injektionsstrom moduliert werden können.

Wird z. B. eine Hochfrequenzmodulation mit einer Modulations­ frequenz von ca. 100 MHz angewendet, so wird bei einem Modula­ tionsindex von β < 1 im Abstand der Modulationsfrequenz vom Träger je ein oberes und unteres Seitenband mit entgegenge­ setzter Phasenlage erzeugt. Dies ist im oberen Teil der Fig. 1 symbolisch dargestellt.

Bei einer entsprechend breitbandigen Ausführung des Detektors 4 entstehen nun Signale bei allen Frequenzmischprodukten, so auch bei der Modulationsfrequenz. Da das obere und untere Sei­ tenband eine entgegengesetzte Phasenlage aufweisen, ergibt sich auch für die Detektorausgangsströme bei der Modulations­ frequenz eine Phasenverschiebung von 180°, so daß beide Signale sich bei einer phasenempfindlichen Detektion zu einem Netto-Null Signal aufheben.

Bei der direkten Modulation von Halbleiterlasern über den In­ jektionsstrom liegt jedoch, wie im bereits erwähnten oberen Bildteil der Fig. 1 symbolisch dargestellt, immer eine Kopp­ lung von Frequenz- und Amplitudenmodulation vor. Werden über einen Modulationsstrom Ladungsträger periodisch in den pn- Übergang des Diodenlasers injiziert, ändern sich nämlich sowohl die Ladungsträgerdichte (Amplitudenmodulation) als auch der Brechungsindex im Laserresonator (Frequenzmodulation). Hieraus resultiert entsprechend den Parametern des jeweiligen Lasers eine Restamplitudenmodulation, die beim vorliegenden Verfahren aber vorteilhaft ausgenutzt wird.

In der Praxis erhält man, dargestellt mit dem oberen Bildteil der Fig. 2, eine quasi Einseitenbandmodulation durch Differenzbildung der Schwebungssignale von einerseits oberem Seitenband und Träger und andererseits dem unteren Seitenband und dem Träger. Die maximale Amplitude des Differenzsignals am Ausgang des phasenempfindlichen Detektors 4 ist Weise abhängig von der Größe der vorerwähnten Restamplitudenmodulation und wird somit zur Bildung der gesuchten Meßgröße herangezogen.

Es liegt im Sinne der Erfindung, eine Intensitätsnormierung der gemessenen Signale auf die empfangene Lichtleistung am De­ tektor vorzunehmen, so daß unerwünschte Absorptionen im Strah­ lengang nicht zu einer Verfälschung der Meßergebnisse führen.

Ebenso können mittels der Modulatoren 5 verschiedene Modula­ tionsarten, nämlich die Einton-Modulation oder die Zweiton- Modulation, bei der der Träger mit zwei verschiedenen Fre­ quenzen moduliert wird und eine Detektion der Differenzfre­ quenz erfolgt, genutzt werden.

Durch den einfachen Aufbau der in den Ausführungsbeispielen gezeigten Anordnung können kostengünstig Vibrations-Überwa­ chungsinterferometer, z. B. an Brückenbauwerken, installiert werden.

Bei der Anordnung gemäß Fig. 1 können also Relativmessungen bei konstanten Systemparametern durchgeführt werden, da nur die Phasenänderung elektronisch bestimmt wird. Der Arbeits­ punkt des Diodenlasers 1 wird über die Steuereinrichtung 2 festgelegt. Entsprechend des konkreten Anwendungsfalles wird eine geeignete Modulationsfrequenz ausgewählt. Bestimmt wird, wie dargelegt, die Phasenverschiebung ΔΦ. Gemäß oben genannter Tabelle entspricht also z. B. eine gemessene Phasenverschie­ bung von 10^-3 einer Längenänderung von 1,5 mm bei einer Modu­ lationsfrequenz von 100 MHz und mit c Lichtgeschwindigkeit im Vakuum.

Unter Hinweis auf die Fig. 3 sei eine Anordnung erläutert, mit deren Hilfe Absolutmessungen über eine Veränderung der Modula­ tionsfrequenz des Modulators 5 durchgeführt werden können. Die Abstandsmessung kann bei diesem Ausführungsbeispiel auf eine Frequenzmessung Δν oder Phasenmessung ΔΦ zugeführt werden.

So kann z. B., wie dies mit dem oberen Teil der Fig. 3 prinzipiell dargestellt ist, die Frequenz ausgehend von ν₁ so lange erhöht werden, bis eine Phase um 2π durchlaufen ist, d. h. ΔΦ = 1 ist. Aus der Frequenzdifferenz Δν = ν₂-ν₁ kann direkt auf die absolute Länge der Meßstrecke L geschlossen werden.

Die Meßstrecke L ergibt sich demnach wie folgt:

L = c/(2·(ν₂-ν₁)) = c/(2·Δν).

Bei dieser Ausführungsform der Erfindung kann der Modulator 5 beispielsweise ein spannungsgesteuerter Oszillator (VCO) sein, welcher von der Signalverarbeitungseinheit 7 angesteuert wird.

Aus dem oben genannten ergibt sich, daß, wenn z. B. die Modu­ lationsfrequenz von 100 MHz auf 110 MHz durchgestimmt werden muß, um eine Phase von 2π zu durchlaufen, die erforderliche Frequenzänderung einer Weglänge von 14,99 m entspricht. Die Genauigkeit der Bestimmung der Weglänge hängt dabei entspre­ chend dem anmeldungsgemäßen Prinzip lediglich von der Genauig­ keit der Phasenmessung mittels des phasenempfindlichen Detek­ tors 6 ab. Besonders vorteilhaft ist, wenn eine Mittelung über mehrere Phasen unter Nutzung der Signalverarbeitungseinheit 7 durchgeführt wird.

Wenn ein fester Frequenzhub Δν vorgegeben ist, läßt sich die Länge bei Kenntnis des festen Frequenzhubes auch unmittelbar aus der Phasenmessung ΔΦ bestimmen.

Bei den gezeigten Ausführungsbeispielen kann die Änderung der Größe der Meßstrecke zwischen Diodenlaser und Reflektor pro Zeiteinheit erfaßt werden. Hieraus kann dann die Bewegungsge­ schwindigkeit zwischen Diodenlaser 1 und Reflektor 3 ermittelt werden. Des weiteren kann in Verbindung mit einem Scanner ein Meßobjekt dreidimensional abgetastet und dessen Oberflächen­ konfiguration bestimmt werden.

Mittels der Erfindung ist es also in überraschender Weise mög­ lich, ohne Verwendung eines Referenzinterferometers relative oder absolute Abstandsmessungen bei Anwendungen von Modula­ tionstechniken und phasenempfindlicher Detektion durchzu­ führen. Insbesondere Relativmessungen können bei konstanten Systemparametern des verwendeten Diodenlasers erfolgen, wodurch der Aufbau auf ein derartiges Prinzip zurückgehender Meßanordnungen deutlich vereinfacht wird und sich durch kostengünstige Meßanordnungen neue Anwendungsgebiete er­ schließen. Über das unkritische Durchstimmen der Modula­ tionsfrequenz bei gleichzeitiger Frequenzmessung und Bestimmung der Phasenänderung kann die Bestimmung der Größe einer Meßstrecke auf eine einfache, in bekannter Weise realisierbare Frequenzmessung zurückgeführt bzw. reduziert werden.

Mittels der Erfindung sind also absolutinterferometrische Messungen auf der Basis einer durch Diodenlaser erzeugten Strahlung ohne separaten Referenzstrahlengang und ohne Referenzdetektor in hoher Genauigkeit möglich.

Die Messung und Auswertung selbst erfolgt mit rein elektronischen Mitteln, d. h. ohne mechanisch bewegte Teile, wie diese bei einem herkömmlichen Michelson-Interferometer notwendig sind.

Claims (9)

1. Verfahren zur Absolutinterferometrie mit durch Diodenlaser erzeugter Strahlung, wobei die Änderung der Größe einer Meß­ strecke bzw. Entfernung zwischen dem Diodenlaser und einem Re­ flektor mittels eines Detektors durch folgende Schritte be­ stimmt wird:

• - Modulation der Strahlung νl (Referenzstrahl) des Diodenlasers derart, daß im Frequenzbereich im Abstand einer Modulationsfrequenz νm mindestens ein quasi resultierendes Seitenband νs (Meßstrahl) mit νs = νl + νm entsteht, wodurch der Diodenlaser neben dem ursprünglichen ersten Strahl einen zweiten Strahl mit geänderter Frequenz, aber parallelen Wellenfronten, erzeugt, wobei der erste und der zweite Strahl jeweils den gleichen opti­ schen Weg zurücklegen und die Strahlen auf dem Detektor interferieren,
• - Ermittlung der Phasenverschiebung ΔΦ bzw. der Phasenände­ rung des Modulationssignals als Maß für die Änderung der Meßstrecke bzw. Entfernung.

2. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die Änderung der Meßstrecke oder Entfernung ΔL wie folgt bestimmt wird: ΔL = ΔΦ·c/(2·νm),wobei c gleich der Lichtgeschwindigkeit im Medium ist.

3. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß für Relativmessungen eine Bestimmung der Verschiebungs­ richtung durch elektronisches Aufspalten des Ausgangssignals des Detektors erfolgt, wobei das in gleiche Anteile aufgespal­ tene Signal mindestens zwei phasenempfindlichen Detektoren zu­ geführt wird und wobei die Referenzsignale der phasenempfind­ lichen Detektoren um 90 bzw. 180 oder 270° phasenverschoben sind, so daß ein In-Phase und eine Quadratursignal zur Ver­ schiebungsrichtungsbestimmung entsteht.

4. Verfahren zur Absolutinterferometrie mit durch Diodenlaser erzeugter Strahlung, wobei die absolute Größe einer Meßstrecke bzw. Entfernung zwischen dem Diodenlaser und einem Reflektor mittels eines Detektors durch folgende Schritte bestimmt wird:

• - Modulation und Veränderung der Modulationsfrequenz von ν1 nach ν2 so lange, bis mittels des Detektors eine Phasen­ verschiebung von vorzugsweise 2π bzw. ΔΦ = 1 zwischen dem ursprünglichen ersten Strahl des Diodenlasers und einem durch Modulation erzeugten zweiten Strahl mit geänderter Frequenz, aber parallelen Wellenfronten, erkannt wurde bzw. durchlaufen ist, wobei der erste und der zweite Strahl den gleichen optischen Weg zurücklegen;
• - Messen der Modulationsfrequenz ν2, bei welcher die Phasen­ verschiebung von 2π erreicht ist und Differenzbildung zur Ausgangsmodulationsfrequenz ν1 nach Δν = ν2-ν1 und
• - Bestimmung der absoluten Größe der Meßstrecke bzw. Entfer­ nung L nach der Beziehung L = c/(2·Δν),wobei c eine Konstante und gleich der Lichtgeschwindigkeit im Medium ist.

5. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die Strahlung des Diodenlasers mit zwei verschiedenen Fre­ quenzen moduliert wird und daß die sich ergebende Differenz­ frequenz detektiert wird.

6. Verfahren nach einem der vorhergehenden Ansprüche, gekennzeichnet durch eine Intensitätsnormierung der gewonnenen Signale auf die Strahlungsleistung am Detektor.

7. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß aus der Änderung der Größe der Meßstrecke zwischen Dioden­ laser und Reflektor pro Zeiteinheit die Bewegungsgeschwindig­ keit zwischen Diodenlaser und Reflektor ermittelt wird.

8. Verfahren nach Anspruch 1, 2, 3, 5 oder 7, dadurch gekennzeichnet, daß die Änderung der Größe einer Meßstrecke bzw. Entfernung zwischen Diodenlaser und Detektor bestimmt wird.

9. Anordnung zur Absolutinterferometrie mit durch Diodenlaser erzeugter Strahlung umfassend eine Steuereinheit zum Betreiben des Diodenlasers, einen De­ tektor und einen Modulator, dadurch gekennzeichnet, daß der Modulator (5) die Strahlung des Diodenlasers (1) der­ art frequenzmoduliert, daß neben der Strahlung mit einer Trä­ gerfrequenz Strahlung mit einer Seitenbandfrequenz entsteht, die Strahlung mit Trägerfrequenz und die Strahlung mit Seiten­ bandfrequenz eine Meßstrecke durchlaufen und auf den Detektor (4) gelangen und daß der Ausgang des Detektors (4) mit einem phasenempfindlichen Detektor (6) in Verbindung steht, welchem an seinem Referenzeingang die Modulationsfrequenz des Modula­ tors (5) zugeführt ist, wobei am Ausgang des phasenempfindli­ chen Detektors eine der Phasendifferenz zwischen der Strahlung mit Trägerfrequenz und der Strahlung mit Seitenbandfrequenz entsprechende Größe anliegt und daß diese Größe mit der Meßstrecke bzw. dem Abstand zwischen Diodenlaser (1) und De­ tektor (4) korreliert.