DE4042523C2 - Verfahren zum Untersuchen von Teilchenmustern - Google Patents
Verfahren zum Untersuchen von TeilchenmusternInfo
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Description
Die Erfindung betrifft ein Verfahren zum Untersuchen von Teil
chenmustern, bei dem eine Probe und ein Reagenz in einem Reak
tionsgefäß gemischt werden, um eine immunologische Agglutina
tionsreaktion (im Gefäß) zu bewirken, wobei sich am Boden des
Reaktionsgefäßes ein Teilchenmuster ausbildet, welches mit
optischen Mitteln vermessen wird, um automatisch zu bestimmen, ob
das Teilchenmuster einer Agglutination entspricht oder nicht und
wobei auch andere Eigenschaften des Musters für medizinische
Zwecke untersucht werden können.
In der japanischen Patent-Offenlegungsschrift 58-105065 wird ein
Verfahren zum Beurteilen von Teilchenmustern beschrieben, bei dem
ein sich am Boden eines Reaktionsgefäßes durch eine Aggluti
nationsreaktion bildendes Teilchenmuster optisch vermessen wird
und bei dem ein Verhältnis der Helligkeiten eines zentralen Ab
schnittes des Reaktionsgefäßes und eines Umfangsabschnittes ge
bildet wird, um zu ermitteln, ob dem Teilchenmuster eine Agglu
tination zugrundeliegt oder nicht. Eine solche Technik zum Unter
suchen von Teilchenmustern ist auch in der US-PS 4 727 033
beschrieben, bei der Lichtintensitäten von zentralen und peri
pheren Abschnitten des geneigten Bodens des Reaktionsgefäßes ge
trennt voneinander gemessen werden unter Verwendung von zwei
lichtempfangenden Elementen und bei dem die Beurteilung hin
sichtlich der Bildung eines Teilchenmusters auf dem Boden dahin
gehend, ob eine Agglutination vorliegt oder nicht, aufgrund des
Verhältnisses zwischen den Ausgangssignalen der lichtempfangenden
Elemente getroffen wird. Das heißt, wenn das Teilchenmuster
agglutiniert ist, sind die Teilchen gleichförmig auf der Boden
fläche des Reaktionsgefäßes abgelagert, so daß die Differenz der
Lichtintensitäten der genannten lichtempfangenden Elemente gering
ist, während im Gegensatz hierzu dann, wenn die Teilchen nicht
agglutiniert sind, dieselben auf den geneigten Boden nach unten
rutschen und sich im mittleren Abschnitt des Gefäßes sammeln, so
daß die Differenz zwischen den Lichtintensitäten relativ groß
ist. Bei einem solchen herkömmlichen Verfahren zum Untersuchen
von Teilchenmustern wird das so erhaltene Verhältnis verglichen
mit vorgegebenen oberen und unteren Grenzwerten. Ist das Verhält
nis größer als der obere Grenzwert, wird das Teilchenmuster als
agglutiniert erkannt, während dann, wenn das Verhältnis kleiner
ist als der untere Grenzwert, das Teilchenmuster als nicht-agglu
tiniert beurteilt wird. Ist das Verhältnis zwischen dem oberen
und dem unteren Grenzwert, so wird das Teilchenmuster als nicht
eindeutig identifizierbar beurteilt und es ist deshalb unmöglich,
dieses Muster automatisch zu untersuchen.
In den japanischen Patentveröffentlichungen 61-215948, 62-105031,
63-58237 und 63-256839 werden andere Verfahren zum Untersuchen
von Teilchenmustern beschrieben, bei denen Agglutinationsreaktio
nen durchgeführt werden in einer Anzahl von Vertiefungen, die in
einer Mikroplatte ausgebildet sind und bei denen ein optisches
Bild der Vertiefungen mittels einer TV-Kamera aufgenommen wird.
Die Bilddaten jeder Vertiefung werden mittels eines Rechners
verarbeitet, um eine Fläche zu ermitteln, wo die Teilchen jeder
Vertiefung auf der Bodenfläche abgelagert sind und die Teilchen
struktur wird hinsichtlich der Frage, ob eine Agglutination
vorliegt oder nicht, auf der Grundlage der so gewonnen Fläche
ermittelt.
Aus EP 0 257 660 A2 ist ein Verfahren zur Beurteilung der Ag
glutination bekannt, bei dem die Kante eines zentralen Ab
schnitts eines Teilchenmusters aufgrund von Differentiations
werten bestimmt wird. Aus den Differentiationswerten wird die
Fläche des zentralen Abschnitts ermittelt, der durch die Kante
eingegrenzt wird.
Nach einem aus der japanischen Patentveröffentlichung 63-58237
bekannten Verfahren wird ein Bild der Bodenfläche jeder Vertie
fung in der Mikroplatte mittels einer TV-Kamera aufgenommen, um
entsprechende Bildsignale zu gewinnen, die Daten eines Mittel
punktes der Vertiefung werden gewonnen durch Verarbeitung der
erhaltenen Bildsignale, eine Kontur des in der Vertiefung ge
bildeten Teilchenmusters wird gewonnen durch Ermittlung des
Unterschiedes der Helligkeiten der Bildsignale innerhalb eines
Kreises, der um den Mittelpunkt gelegt ist und der Bildsignale
außerhalb dieses Kreises, die Fläche innerhalb der so gewonnenen
Kontur wird ermittelt und sodann wird die so gewonnene Fläche mit
einem vorgegebenen Standardwert verglichen. Ist die Fläche größer
als der Standardwert, so wird das Teilchenmuster als agglutiniert
eingestuft und dann, wenn die Fläche geringer ist als der Stan
dardwert, wird das Teilchenmuster als nicht-agglutiniert bewer
tet. Das heißt, bei diesem herkömmlichen Verfahren wird das
Teilchenmuster vermessen mittels einer Vielzahl von Bildpunkten,
die den im zentralen Bereich der Vertiefung gesammelten Teilchen
entsprechen.
In der japanischen Patentveröffentlichung 63-256839 wird ein
anderes Verfahren beschrieben, bei dem der Mittelpunkt der Ver
tiefung in ähnlicher Weise wie oben gewonnen wird, während die
Beurteilung derart erfolgt, daß eine Relativbeziehung zwischen
der Abmessung des mittleren Abschnittes, wo die Teilchen auf der
Bodenfläche des Reaktionsgefäßes abgelagert sind, und einer
Standard-Abweichung des Differentialkoeffizienten der Teilchen
struktur verwendet wird.
Bei den vorstehend erwähnten herkömmlichen Verfahren besteht aber
der Nachteil, daß es nicht möglich ist, mit hinreichender
Genauigkeit zu beurteilen, ob dem Teilchenmuster eine Agglutina
tion zugrundeliegt oder nicht. Falls die Agglutinationskräfte der
zu untersuchenden Teilchen so schwach sind, daß eine große
Wahrscheinlichkeit besteht, daß eine Agglutinationsstruktur
(Muster) fast die gleiche Form hat als eine nicht-agglutinierte
Struktur auf der Bodenfläche des Reaktionsgefäßes ist es sehr
schwierig, automatisch festzustellen, welchen Charakter das
Teilchenmuster hat. Deshalb ist bei den herkömmlichen Verfahren
die Zuverlässigkeit der Beurteilung so gering, daß eine Bedie
nungsperson die Muster visuell zu untersuchen und das mit einer
automatischen Vorrichtung gewonnene Ergebnis zu korrigieren hat.
Dies erfordert beträchtliche zusätzliche Arbeit. Bei den in der
JP-58-105065 und der US-PS 4 727 033 beschriebenen Verfahren be
steht das Problem, daß die Anzahl der Proben, welche nur als
zweifelhaft vermeßbar sind, sehr groß wird, weil die Agglutina
tionsreaktion im allgemeinen sehr empfindlich ist, so daß in
einer Vielzahl von Fällen zweifelhafte Teilchenmuster gebildet
werden. Deshalb ist die Effektivität bei der Vermessung derarti
ger Proben sehr gering und auch menschliche Fehler auf seiten der
Bedienungsperson treten häufig auf. Die Meßgenauigkeit und auch
die Zuverlässigkeit der Messung leidet.
Bei einem Verfahren gemäß der japanischen Patentveröffentlichung
63-58237 ist es möglich, den Mittelpunkt der Teilchenstruktur
exakt zu bestimmen, jedoch hängt die Abmessung des Abschnittes,
in dem sich die Teilchen auf der Bodenfläche des Gefäßes abla
gern, nicht nur davon ab, ob die Teilchen agglutiniert sind oder
nicht sondern auch davon, wie groß die Menge der Probe oder des
Reagenzes ist. Auch hier ist es sehr schwer, genaue Messungen
durchzuführen.
Bei dem aus der japanischen Patentveröffentlichung 63-256839 be
kannten Verfahren ist das Meßergebnis durch Bläschen beeinfluß
bar, die in der Testflüssigkeit enthalten sind und auch durch den
Umstand, daß das Muster außer Form gerät oder sogar verzerrt
wird, was ebenfalls die genaue Messung beeinträchtigt.
Die vorliegende Erfindung hat deshalb zum Ziel, die vorstehend
erwähnten Nachteile des Standes der Technik zu überwinden und ein
Verfahren zum Vermessen von Teilchenmustern anzugeben, mit dem es
möglich ist, auch dann exakt zu beurteilen, ob ein Teilchenmuster
agglutiniert ist oder nicht, wenn die Agglutinationskräfte der
Teilchen sehr schwach sind, und bei dem es weiterhin möglich ist,
eine genaue Messung ohne Beeinflussung durch Bläschen durchzu
führen und bei dem auch eine Verfälschung der Struktur durch
Verzerrung des Musters ausgeschlossen ist. Weiterhin soll bei dem
erfindungsgemäßen Verfahren die Anzahl der Proben, bei denen eine
Nachprüfung durch eine Bedienungsperson mit visuellen Mitteln
erforderlich ist, stark reduziert werden, so daß die Messung mit
hohem Wirkungsgrad und hoher Genauigkeit durchführbar ist.
Erfindungsgemäß wird dieses Ziel mit den Merkmalen des Patent
anspruches 1 erreicht. Vorteilhafte Ausgestaltungen sind in den
abhängigen Ansprüchen beschrieben.
Wenn eine Testflüssigkeit mit zu untersuchenden Teilchen in ein
Reaktionsgefäß eingegeben wird, das eine konische Bodenfläche
aufweist, zeigen sich bisweilen nicht-agglutinierte Teilchen
muster, die fast die gleiche Form haben wie ein agglutiniertes
Teilchenmuster, weil die Agglutinationskräfte der Testflüssigkeit
sehr schwach sind. Fig. 1A zeigt ein Beispiel für ein derartiges,
nicht-agglutiniertes Teilchenmuster und Fig. 1B zeigt ein agglu
tiniertes Teilchenmuster. Es hat sich aber gezeigt, daß dabei die
Grenze der agglutinierten Struktur gemäß Fig. 1B im Vergleich mit
der Grenze der nicht-agglutinierten Struktur gemäß Fig. 1A weni
ger eindeutig (scharf) ist. Nach dem erfindungsgemäßen Verfahren
ist es möglich, solche nicht-agglutinierten Teilchenmuster, die
fast die gleiche Form haben wie ein agglutiniertes Teilchen
muster, dadurch zu unterscheiden, daß die vorstehend erwähnte
Grenz-Eigenschaft untersucht wird.
Die Fig. 2A und 2B zeigen die Variation der durch das Reaktions
gefäß und die darin enthaltene Testflüssigkeit durchgelassenen
Lichtmenge auf geraden Linien A und B, welche durch die Mittel
punkte der Reaktionsgefäße 1 gemäß den Fig. 1A und 1B gehen.
Werden die Grenzen der Teilchenmuster näher betrachtet, was in
den Figuren durch den Pfeil "D" angedeutet ist, dann ergibt sich,
daß das Veränderungsverhältnis bezüglich der an der Grenze des
Teilchenmusters durchgelassenen Lichtmenge in Fig. 2B kleiner ist
als bei dem nicht-agglutinierten Teilchenmuster gemäß Fig. 2A.
Deshalb ist es möglich durch Gewinnung von Meßdaten bezüglich der
Extinktion an den Grenzen bei Messung der Lichtmengen auf geraden
Linien A und B und durch Bestimmung des Veränderungsverhältnisses
der Meßdaten an der Grenze agglutinierte Teilchenmuster und
nicht-agglutinierte Teilchenmuster zu unterscheiden, auch wenn
die Agglutinationskräfte schwach sind.
Mit dem erfindungsgemäßen Verfahren können Teilchenmuster auch
dann exakt vermessen werden, wenn Bläschen im Teilchenmuster
enthalten sind oder wenn das Muster außer Form gerät oder ver
zerrt ist. Wenn nämlich Bläschen im Muster enthalten sind, dann
ist die Bilddichte des Kontur-Abschnittes der Bläschen relativ
hoch und dann, wenn die Bilddichte eines gestörten Abschnittes
oder eines verzerrten Abschnittes des Musters groß wird, ist die
Bilddichte des unteren Abschnittes des gestörten Abschnittes oder
des verzerrten Abschnittes gering. Deshalb ist es möglich, auch
solche ungewöhnlichen Muster zu vermessen mittels der Verteilung
der differenzierten Werte des zweidimensionalen Bildsignales des
Musters. Mit dem erfindungsgemäßen Verfahren ist es deshalb mög
lich, das Teilchenmuster exakt zu vermessen, ohne daß Meßfehler
aufgrund von Bläschen oder aufgrund von Verzerrungen des Musters
auftreten können. Auch kann die Anzahl der Proben, welche visuell
nachgeprüft werden müssen, verringert werden, so daß der Analy
sen-Durchsatz erhöht werden kann. Im Vergleich mit herkömmlichen
Meßverfahren kann der Meßfehler, welcher dadurch verursacht ist,
daß unterschiedliche Mengen von Proben oder Reagenz abgegeben
werden, verringert werden, weil beim erfindungsgemäßen Verfahren
die Beurteilung darüber, ob das Muster agglutiniert ist oder
nicht nur abhängt von einer Information derjenigen Fläche des
Abschnittes, wo die Teilchen abgelagert sind.
Nachfolgend wird die Erfindung anhand der Zeichnung näher erläu
tert. Es zeigt, bzw. zeigen:
Fig. 1A und 1B schematische Ansichten von Teilchenmustern,
die in einem Reaktionsgefäß gebildet sind;
Fig. 2A und 2B schematische Ansichten von Lichtmengen, die
auf geraden Linien A und B gemessen werden, welche
die Mittelpunkte der Reaktionsgefäße gemäß den
Fig. 1A und 1B schneiden, wobei diese Figuren die
Erfindung illustrieren;
Fig. 3 ein Blockdiagramm einer Vorrichtung zum automati
schen Vermessen von Teilchenmustern, wobei mit
dieser Vorrichtung ein erfindungsgemäßes Verfahren
durchführbar ist;
Fig. 4 und 5 schematische Ansichten eines Differenzierungs
operators zum Ermitteln von Veränderungen der
Lichtintensitäten in horizontalen und vertikalen
Richtungen des Teilchenmusters;
Fig. 6 eine schematische Ansicht einer Bildpunkt-Kom
position zum Differenzieren der Bildsignale und
Fig. 7 ein Flußdiagramm zur Illustration des erfindungs
gemäßen Meßverfahrens.
Fig. 3 zeigt eine Vorrichtung zum automatischen Vermessen von
Teilchenmustern. Bei diesem Ausführungsbeispiel wird die Mikro
platte 11 auf einem angetriebenen Tisch (nicht gezeigt) positio
niert und der angetriebene Tisch ist so ausgelegt, daß er in
bezug auf eine optische Achse der Bild-Aufnahmeeinrichtung 43
bewegbar ist. Unter der Mikroplatte 11 ist eine Lichtquelle 42
angeordnet und oberhalb der Mikroplatte 11 ist eine Bild-Auf
nahmeeinrichtung 43 vorgesehen, um ein zweidimensionales Bild des
Teilchenmusters aufzunehmen, das auf der Bodenfläche jeder Ver
tiefung 11a der Mikroplatte 11 ausgebildet ist. Bei dem Aus
führungsbeispiel wird eine CCD-TV-Kamera als Bild-Aufnahmeein
richtung 43 verwendet. Eine zweidimensionale Bildinformation des
Teilchenmusters, welche mittels der Bild-Aufnahmeeinrichtung 43
erzeugt wird, wird in eine Signal-Verarbeitungsschaltung 44
eingegeben, um verstärkt und in ein digitales Signal umgewandelt
zu werden. Das digitale Signal wird in einen Speicher 45 einge
geben, um dort abgespeichert zu werden. Die im Speicher 45
abgespeicherte Bildinformation wird ausgelesen und in einen
Monitor 46 eingegeben, um die auf der Bodenfläche der Vertiefung
11a der Mikroplatte 11 gebildete Teilchenstruktur auf dem Bild
schirm des Monitors 46 anzuzeigen. Die aus dem Speicher 45 ausge
lesene zweidimensionale Bildinformation wird in einen Differen
zierkreis 47 eingegeben, um einen differenzierten Wert der
Bildinformation zu erhalten. Die Differenzierung wird mittels
Differenzierungsoperatoren durchgefügt, die in den Fig. 4 und 5
erläutert sind. Ein erster Operator gemäß Fig. 4 ist vorgesehen,
um eine Veränderung der Lichtintensität des Bildes in horizon
taler Richtung zu ermitteln und ein zweiter Operator gemäß Fig.
5 ist vorgesehen, um eine Veränderung der Lichtintensität des
Bildes in vertikaler Richtung zu ermitteln. Gemäß Fig. 6 sind
neun Bildelemente, die in bezug zueinander ausgerichtet sind und
die jeweils eine Bildpunkt-Fläche bilden, aus den Bildinforma
tionen des Teilchenmusters nacheinander extrahiert. Der Licht-
Intensitätswert jedes Bildelementes (Pixel), das aus der Pixel-
Fläche besteht, wird multipliziert mit entsprechenden Koeffi
zienten des ersten und zweiten Differenzier-Operators und die so
gewonnenen multiplizierten Werte der Lichtintensität werden zu
einander addiert, um die Summen Y1 und Y2 entsprechend den nach
folgenden Formeln zu erhalten. Weiterhin wird ein Mittelwert
dieser Summen Y1 und Y2 ermittelt, um einen differenzierten Wert
Y der Bildpunkt-Fläche zu gewinnen.
Y1 = (-1×A)+(0×B)+(1×C)+(-2×D)+(0×E)+(2×F)+(-1×G)+(0×H)+(1×I)
Y2 = (-1×A)+(-2×B)+(-1×C)+(0×D)+(0×E)+(0×F)+(1×G)+(2×H)+(1×I)
Y = (|Y1|+|Y2|)/2.
Y2 = (-1×A)+(-2×B)+(-1×C)+(0×D)+(0×E)+(0×F)+(1×G)+(2×H)+(1×I)
Y = (|Y1|+|Y2|)/2.
Nacheinander werden die Bildpunkt-Flächen bezüglich aller Bild
informationen des Musters durchgerechnet entsprechend den vor
stehenden Formeln, um differenzierte Werte der Bildpunkt-Flächen
zu erhalten, welche das gesamte Bild einer Vertiefung 11a ab
decken. Die so gewonnenen differenzierten Werte des zweidimen
sionalen Bildes des Teilchenmusters werden in einen Beurtei
lungsschaltkreis 48 eingegeben und nacheinander in einem Spei
cher abgespeichert, der im Kreis 48 vorgesehen ist. Bei diesem
Ausführungsbeispiel wird das in der Vertiefung 11a gebildete
Teilchenmuster im Beurteilungskreis 48 auf Basis der Verteilung
der so gewonnenen differenzierten Werte des zweidimensionalen
Bildes des Musters durchgeführt. Ein Beispiel dieser Beurteilung
soll nachfolgend mit Hilfe des Flußdiagramms gemäß Fig. 7 er
läutert werden. Dieses Beispiel dient dazu, differenzierte Werte
bezüglich des Teilchenmusters zu gewinnen, das auf der Boden
fläche einer Vertiefung ausgeformt ist, um zu ermitteln, ob das
Teilchenmuster agglutiniert ist oder nicht, wobei die Beurteilung
erfolgt aufgrund einer Verteilung der so gewonnenen differen
zierten Werte des Musters.
Werden mehr als zweitausendfünfhundert Bildpunkte (Pixel) gefun
den mit differenzierten Werten von mehr als 20 aber weniger als
40, so wird festgelegt, daß dieses Teilchenmuster außer Form
geraten ist. Das heißt, wenn ein Teilchenmuster in diesem Sinne
als "außer Form geraten" anzusehen ist, dann erscheint im Teil
chenmuster eine große Anzahl von Zwischenwerten der Veränderung
der Konzentration. Mit anderen Worten, wenn die Anzahl der Bild
flächen mit differenzierten Werten zwischen 20 und 40 gezählt
wird und wenn diese Anzahl den Wert 2500 überschreitet, dann
kann dieses Teilchenmuster als "außer Form geraten" angesehen
werden.
Da eine solche Verzerrung des Musters nur in einem agglutinierten
Teilchenmuster auftritt, wird das Muster als agglutiniert er
kannt.
Werden zehn oder mehr Bildpunkte mit differenzierten Werten
größer als 200 gefunden, so wird dies dahingehend verwertet, daß
festgelegt wird, daß das Teilchenmuster Bläschen enthält. Das
heißt, falls das Teilchenmuster Bläschen enthält, dann wird die
Differenz zwischen Licht und Schatten des Musters sehr groß, so
daß sehr viele große differenzierte Werte erhalten werden.
Daraus kann man auf die Existenz von Bläschen im Teilchenmuster
schließen und der entsprechende Schluß erfolgt mittels der An
zahl von Bildelementen, die große differenzierte Werte aufwei
sen.
Wenn ein Verhältnis, das gewonnen wird durch Division der Anzahl
von Bildpunkten A, deren differenzierte Werte größer sind als 20
aber kleiner als 50, durch eine Anzahl von Bildpunkten B, deren
differenzierte Werte größer sind als 100 aber kleiner als 200,
kleiner ist als 22, dann wird daraus geschlossen, daß das Teil
chenmuster agglutiniert ist.
Beträgt das vorstehend definierte Verhältnis mehr als 40, dann
wird daraus geschlossen, daß das Teilchenmuster nicht-aggluti
niert ist.
Eine Probe, deren Verhältnis größer ist als 22 aber kleiner als
40, wird als nicht-beurteilbar eingestuft. Solche Proben müssen
von der Bedienungsperson visuell untersucht werden.
Wenn ein Teilchenmuster dahingehend beurteilt wird, daß es
Bläschen enthält, wird ein Verhältnis G, welches erhalten wird
als G = E/F verglichen mit dem oben definierten Verhältnis R,
wobei der Wert E erhalten wird durch Multiplikation der Anzahl
von Bildpunkten mit differenzierten Werten größer als 20 aber
kleiner als 50 mit dem Faktor 1,2 und wobei der Wert F erhalten
wird durch Multiplikation der Anzahl von Bildpunkten mit diffe
renzierten Werten oberhalb von 100 aber unterhalb von 200 mit
0,5. Durch Multiplikation der Anzahl von Bildpunkten mit diffe
renzierten Werten größer als 20 aber kleiner als 50 mit 1,2 und
Multiplikation der Anzahl von Bildpunkten mit differenzierten
Werten größer als 100 aber kleiner als 200 mit 0,5, wird eine
kleine Veränderung von Licht und Schatten des Musters stark
gewichtet, während eine starke Veränderung dieser Größen gerin
ger gewichtet wird, so daß es möglich ist, das Teilchenmuster zu
vermessen ohne durch darin eingeschlossene Bläschen beeinflußt
zu sein.
Das so gewonnene Meßergebnis wird in eine Anzeigeeinrichtung 49
eingegeben, um auf einem Bildschirm dargestellt zu werden.
In den nachfolgenden Tabellen sind Verteilungen von differen
zierten Werten von Bildsignalen enthalten, die gewonnen sind
durch Aufnehmen von zweidimensionalen Bildern von Teilchen
mustern bei unterschiedlichen Arten von Proben.
In diesen Tabellen sind nicht nur die Anzahl der Bildpunkte,
die den einzelnen differenzierten Werten gemäß den oben stehenden
Beurteilungsgrundsätzen zuzuordnen sind, sondern auch die
Anzahl der Bildpunkte angegeben, deren differenzierte Werte
größer sind als 200, größer als 100 aber kleiner als 200, größer
als 20 aber kleiner als 40, größer als 20 aber kleiner als 50,
sowie das Verhältnis R, das kleiner ist als 22, Werte von E und
F) das korrigierte Verhältnis G und das Meßergebnis.
Die Proben 1, 6, 7 und 8 sind typische negative Muster. Die Pro
ben 13 bis 18 sind typische positive Muster und die Proben 9 bis
12 sind nicht zu beurteilen.
Die Proben 3 und 4 werden beurteilt als Bläschen enthaltend, wo
bei die Probe 3 negativ und die Probe 4 positiv beurteilt werden
mittels des korrigierten Verhältnisses G. Die Probe 5 wird zu
nächst dahingehend beurteilt, daß das Muster außer Form ist, je
doch schließlich als positiv eingeordnet. Wie sich aus der Ta
belle und den obigen Erläuterungen ergibt, ist es gemäß dem
dritten erfindungsgemäßen Verfahren auch dann möglich, eine
genaue Beurteilung dahingehend, ob das Muster agglutiniert ist
oder nicht, abzugeben, wenn Bläschen in der Probe enthalten sind
oder wenn das Muster gestört ist. Deshalb ist es möglich, die
Anzahl von Proben, die visuell nachgeprüft werden müssen, stark
einzuschränken. Insbesondere dann, wenn Bläschen im Teilchen
muster enthalten sind, kann das Muster durch Verwendung der kor
rigierten differenzierten Werte beurteilt werden. Die Anzahl
derjenigen Proben, die als nicht-beurteilbar eingestuft werden,
kann erheblich gesenkt werden.
Claims (12)
1. Verfahren zum Untersuchen von Teilchenmustern mit
folgenden Schritten:
- - Aufnehmen eines zweidimensionalen Bildes eines Teilchen musters, das auf der Bodenfläche eines Reaktionsgefäßes durch eine immunologische Agglutinationsreaktion gebildet ist, um eine Bildinformation bezüglich des Teilchenmusters zu erhalten;
- - Differenzieren der genannten Bildinformation, um diffe renzierte Werte derselben zu gewinnen; und
- - Beurteilen, ob das Teilchenmuster agglutiniert ist oder nicht auf Basis der Verteilung der differenzierten Werte der Bildinformation,
dadurch gekennzeichnet, daß die Differen
zierung mittels eines ersten Differenzieroperators durchge
führt wird, um eine Variation der Lichtintensität bezüg
lich des Teilchenmusters in horizontaler Richtung zu ge
winnen, und mittels eines zweiten Differenzieroperators,
um eine Variation der Lichtintensität bezüglich des Teil
chenmusters in vertikaler Richtung zu gewinnen.
2. Verfahren nach Anspruch 1,
dadurch gekennzeichnet, daß beim Diffe
renzieren eine Anzahl von Bildelementen extrahiert wird,
welche horizontal und vertikal zueinander ausgerichtet sind, bestehend aus einer
Bildelement-Fläche der Bildinformation des Teilchen
musters; daß die Lichtintensität jedes Bildelementes, das
aus einer Bildelement-Fläche besteht, mit einem Koeffizien
ten der genannten ersten und zweiten Differenzieroperato
ren multipliziert wird und Addieren jedes multiplizierten Wertes gemäß den
folgenden Gleichungen:
Y1 = (-1×A)+(0×B)+(1×C)+(-2×D)+(0×E)+(2×F)+(-1×G)+(0×H)+(1×I)
Y2 = (-1×A)+(-2×B)+(-1×C)+(0×D)+(0×E)+(0×F)+(1×G)+(2×H)+(1×I)
Y = (|Y1| + |Y2|)/2wobei Y1 einen Wert darstellt, der berechnet ist unter Verwendung des ersten Differenzieroperators und Y2 einen Wert darstellt, der berechnet ist unter Verwendung des zweiten Differenzieroperators;
daß ein Mittelwert von Y1 und Y2 gewonnen wird durch die Gleichung Y = (|Y1|+|Y2|)/2, um die differenzierten Werte der Bildelement-Fläche zu erhalten;
und daß nacheinander die Bildpunktflächen bezüglich des gesamten Teilchen musters extrahiert werden.
Y2 = (-1×A)+(-2×B)+(-1×C)+(0×D)+(0×E)+(0×F)+(1×G)+(2×H)+(1×I)
Y = (|Y1| + |Y2|)/2wobei Y1 einen Wert darstellt, der berechnet ist unter Verwendung des ersten Differenzieroperators und Y2 einen Wert darstellt, der berechnet ist unter Verwendung des zweiten Differenzieroperators;
daß ein Mittelwert von Y1 und Y2 gewonnen wird durch die Gleichung Y = (|Y1|+|Y2|)/2, um die differenzierten Werte der Bildelement-Fläche zu erhalten;
und daß nacheinander die Bildpunktflächen bezüglich des gesamten Teilchen musters extrahiert werden.
3. Verfahren nach Anspruch 2,
dadurch gekennzeichnet, daß beim Unter
suchen des Teilchenmusters dasselbe als agglutiniert
eingestuft wird, wenn 2500 oder mehr extrahierte Bildele
mente gefunden werden, die jeweils differenzierte Werte
von mehr als 20 und weniger als 40 aufweisen.
4. Verfahren nach Anspruch 2,
dadurch gekennzeichnet, daß bei der Be
urteilung des Teilchenmusters eine erste Anzahl von Bild
element-Flächen gewonnen wird, die jeweils differenzierte
Werte von mehr als 20 aber weniger als 50 aufweisen und
eine zweite Anzahl von Bildelement-Flächen, die jeweils
differenzierte Werte von mehr als 100 aber weniger als 200
aufweisen, und daß das Teilchenmuster als agglutiniert
eingestuft wird, wenn der Wert, der erhalten wird durch
Division der ersten Bildelement-Anzahl durch die zweite
Bildelement-Anzahl, kleiner ist als 22.
5. Verfahren nach Anspruch 2,
dadurch gekennzeichnet, daß bei der Un
tersuchung des Teilchenmusters eine erste Anzahl von Bild
element-Flächen gewonnen wird, bei denen jeweils der dif
ferenzierte Wert größer als 20 aber kleiner als 50 ist,
sowie eine zweite Anzahl von Bildelement-Flächen, bei
denen der differenzierte Wert größer als 100 aber kleiner
als 200 ist, und daß das Teilchenmuster als nicht-aggluti
niert eingestuft wird, wenn derjenige Wert, der erhalten
wird durch Division der ersten Anzahl durch die zweite
Anzahl, größer als 40 ist.
6. Verfahren nach Anspruch 2,
dadurch gekennzeichnet, daß bei der
Beurteilung des Teilchenmusters eine erste Anzahl von
Bildelement-Flächen gewonnen wird, deren differenzierte
Werte größer als 20 aber kleiner 50 sind, sowie eine
zweite Anzahl von Bildelement-Flächen, deren differenzier
te Werte größer als 100 aber kleiner als 200 sind, und daß
das Teilchenmuster als hinsichtlich der Agglutination
nicht einstufbar beurteilt wird, wenn derjenige Wert, der
erhalten wird durch Division der ersten Anzahl durch die
zweite Anzahl größer als 22 aber kleiner als 40 ist.
7. Verfahren nach Anspruch 2,
dadurch gekennzeichnet, daß bei der Be
urteilung des Teilchenmusters ein Vorhandensein von Bläs
chen im Teilchenmuster dadurch gemessen wird, daß 10 oder
mehr Bildelement-Flächen gefunden werden, von denen jede
differenzierte Werte von 200 oder mehr aufweist aus den
differenzierten Werten bezüglich aller Bildelement-Flä
chen, die das Teilchenmuster bilden.
8. Verfahren nach Anspruch 7,
dadurch gekennzeichnet, daß bei der Be
urteilung des Teilchenmusters erste Bildelement-Flächen
extrahiert werden, die jeweils differenzierte Werte von
mehr als 20 aber weniger als 50 aufweisen und daß die
Anzahl der ersten Bildelement-Flächen mit einem Faktor 1,2
multipliziert wird, um einen Wert c zu gewinnen; daß
zweite Bildelement-Flächen extrahiert werden, die jeweils
differenzierte Werte von mehr als 100 aber weniger als 200
aufweisen, und daß die Anzahl der zweiten Bildelement-Flä
chen mit 0,5 multipliziert wird, um einen Wert d zu erhal
ten, und daß das Verhältnis zwischen den Werten c und d
gebildet wird.
9. Verfahren nach Anspruch 8,
dadurch gekennzeichnet, daß das Teilchen
muster als agglutiniert eingestuft wird, wenn das genannte
Verhältnis kleiner als 22 ist.
10. Verfahren nach Anspruch 8,
dadurch gekennzeichnet, daß das Teilchen
muster als nicht-agglutiniert eingestuft wird, wenn das
Verhältnis größer als 40 ist.
11. Verfahren nach Anspruch 8,
dadurch gekennzeichnet, daß das Teilchen
muster hinsichtlich der Agglutination als nicht-beurteil
bar eingestuft wird, wenn das Verhältnis größer als 22
aber kleiner als 40 ist.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE19904040726 DE4040726C2 (de) | 1989-12-21 | 1990-12-19 | Verfahren zum Untersuchen von Teilchenmustern |
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP32966289A JPH03191848A (ja) | 1989-12-21 | 1989-12-21 | 粒子凝集パターンの判定方法 |
JP18433390A JP3165429B2 (ja) | 1990-07-13 | 1990-07-13 | 凝集像判定方法 |
DE19904040726 DE4040726C2 (de) | 1989-12-21 | 1990-12-19 | Verfahren zum Untersuchen von Teilchenmustern |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE4042523C2 true DE4042523C2 (de) | 1995-05-24 |
Family
ID=27202005
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE4042523A Expired - Lifetime DE4042523C2 (de) | 1989-12-21 | 1990-12-19 | Verfahren zum Untersuchen von Teilchenmustern |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
DE (1) | DE4042523C2 (de) |
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