DE3926349A1 - Optische fehlerinspektionsvorrichtung - Google Patents
Optische fehlerinspektionsvorrichtungInfo
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Description
Die Erfindung betrifft eine optische Fehlerinspektionsvor
richtung für die Erkennung von in einem vorzugsweise ebenen
transparenten Platten- oder blattförmigen Material endlicher
Dicke vorhandenen Fehlstellen und von deren Lage zwischen
den beiden Oberflächen, wie sie im Oberbegriff des Patent
anspruchs 1 bzw. 14 beschrieben ist.
Eine derartige Fehlerinspektionsvorrichtung ist aus der
DE-OS 38 00 053 bekannt. Dort wird eine auf dem zu unter
suchenden Material befindliche Abtastlinie mit einem paral
lel zu sich selbst verschobenen Fahrstrahl abgetastet, der
so gegen die Oberfläche des Materials geneigt ist, daß der
Fahrstrahl in Abtastrichtung gesehen einen von 0° verschiede
nen Einfallswinkel mit der Normalen zur Materialoberfläche
einschließt. Die Erzeugung des Fahrstrahls erfolgt dabei mit
tels einer Laserlichtquelle, deren Ausgangslichtstrahl von
einem Spiegelrad über eine Beleuchtungsoptik auf das zu
untersuchende Material geworfen wird.
Nachteilig bei einer derartigen Fehlerinspektionsvorrichtung
ist das mit hoher Geschwindigkeit umlaufende Spiegelrad zur
Erzeugung der Abtastbewegung des Fahrstrahls und das Erfor
dernis einer Lichtquelle mit hoher Strahldichte, da jeder
Punkt auf dem zu überwachenden Material nur kurzzeitig von
dem Fahrstrahl beleuchtet wird.
Ein weiterer Nachteil besteht darin, daß zur Erzeugung eines
möglichst genauen Abtastlichtflecks, durch dessen Verschie
bung ein Beleuchtungs-Abtaststreifen erzeugt wird, eine sehr
präzise und damit aufwendige Beleuchtungsoptik erforderlich
ist.
Aus der DE-OS 35 34 019 ist es nun bereits bekannt, für die
Inspektion von Materialbahnen eine Diodenzeilenkamera zu ver
wenden, wobei die auf dem Material befindliche Inspektions
linie streifenförmig und stationär beleuchtet wird.
Die Aufgabe der vorliegenden Erfindung ist es, eine optische
Fehlerinspektionsvorrichtung der eingangs genannten Art zu
schaffen, die ohne eine mechanische und optisch aufwendige
Beleuchtungsanordnung eine präzise Erfassung von Defekten in
Platten- oder blattförmigen ebenen Material ermöglicht.
Diese Aufgabe wird erfindungsgemäß durch die Merkmale des
Anspruchs 1 bzw. des nebengeordneten Anspruchs 14 gelöst.
Durch die erfindungsgemäß vorgesehene Beleuchtungsoptik, die
eine stationär beleuchtete Beleuchtungspupille so über das
zu untersuchende Material in ein Objektiv einer Photoempfän
gerkamera abbildet, daß der Beleuchtungsbereich gegen den
Inspektionsbereich versetzt ist, wird erreicht, daß ein im
Material befindlicher Fehler oder Defekt von zwei an ver
schiedenen Stellen auf das Material auftreffenden Beleuch
tungsstrahlen erfaßt wird, so daß die den Inspektionsbereich
beobachtende Photoempfängerkamera ein doppeltes Bild vom je
weiligen Fehler erfaßt. Aufgrund des doppelten oder zumin
dest verbreiternden Fehlers läßt sich die Fehlerlage im Mate
rial, also der Abstand des Fehlers von den Oberflächen des
Materials bestimmen.
Um in einem Fehlerdoppelsignal das primäre Fehlersignal vom
zugeordneten sekundären Fehlersignal besser unterscheiden zu
können, sind die Merkmale der Ansprüche 2 und 3 bzw. 15 vor
gesehen.
Durch die erfindungsgemäß vorgesehene Abbildung des Inspek
tionsbereiches mit kleiner Schärfentiefe wird insbesondere
erreicht, daß das primäre Fehlersignal stets mit einer größe
ren Schärfe oder Genauigkeit abgebildet wird, als das sekun
däre Fehlersignal. Auf diese Weise lassen sich auch bei
dicht beieinanderliegenden Fehlern, die jeweils ein Fehler
doppelsignal erzeugen, die einzelnen Fehlersignale einander
sicher zuordnen.
Für die Zuordnung der einzelnen Fehlersignale zueinander ist
es dabei von besonderem Vorteil, daß sich die Unschärfe der
Fehlersignale nicht nur in Richtung der die Fehlerdoppel
signale bewirkenden Signalverbreiterung, sondern auch quer
dazu bemerkbar macht, so daß sich selbst bei einem sich
überlagernden Fehlerdoppelsignal über die Erfassung der
Unschärfe der Abbildung die Signale voneinander trennen las
sen.
Eine Verbesserung der Auswertbarkeit der Fehlersignale er
gibt sich bei den Ausführungsformen nach Anspruch 4 bis 6
bzw. Anspruch 16.
Bei den Ausführungsformen nach Anspruch 7 bzw. 17 und 18 er
gibt sich trotz der schrägen Beobachtung stets eine scharfe
Abbildung des Inspektionsbereiches auf die Photoempfängeran
ordnung der verwendeten Photoempfängerkamera.
Besonders einfache Ausführungsformen der Erfindung sind in
Anspruch 8 und 9 bzw. 19 beschrieben.
Durch die Ausführungsformen nach Anspruch 10 und 11 läßt es
sich erreichen, daß die beiden Fehlersignale eines Fehlerdop
pelsignals im wesentlichen in gleicher Weise von den auf den
Fehler auftreffenden Beleuchtungsstrahlen erfaßt werden, so
daß die Unterschiede in den erfaßten Fehlersignalen aus
schließlich von der unterschiedlich scharfen Abbildung der
Fehler durch die Photoempfängerkamera hervorgerufen werden.
Bei der Ausführungsform nach Anspruch 12 lassen sich hin
gegen Fehler an der Oberseite des Materials besonders prä
zise von im Material befindlichen Fehlern unterscheiden.
Eine für die Bestimmung der Lage eines Fehlers im Material
besonders günstige Signalverbreiterung erhält man bei der
Ausführungsform nach Anspruch 13.
Die Ausführungsformen nach den Ansprüchen 20 bis 22 sind vor
gesehen, um bei der Untersuchung von auf seiner Unterseite
mit einem Beugungsgitter versehenen Material den störenden
Einfluß der wellenlängenabhängigen Lage der höheren Beugungs
ordnungen zu beseitigen.
Die Erfindung wird im folgenden beispielsweise anhand der
Zeichnung beschrieben; in dieser zeigt:
Fig. 1 eine schematische Darstellung einer optischen Fehler
inspektionsvorrichtung,
Fig. 2 eine stark vereinfachte schematische Ansicht der
Fehlerinspektionsvorrichtung nach Fig. 1 in Vorschub
richtung des Materials,
Fig. 3 eine schematische Darstellung des von der Diodenzei
lenkamera abgegebenen Videosignals im Falle verschie
dener im Material befindlicher Fehler, und zwar als
Amplituden-Ortsdiagramm,
Fig. 4 eine schematische Ansicht entsprechend Fig. 2,
Fig. 5 eine Darstellung des Videosignals entsprechend Fig. 3
für einen in Fig. 4 dargestellten Oberflächenfehler,
Fig. 6 eine schematische Ansicht der Fehlerinspektionsvor
richtung entsprechend Fig. 2,
Fig. 7 eine schematische Darstellung des Videosignals ent
sprechend Fig. 3, im Falle eines in Fig. 6 darge
stellten Fehlers im zu untersuchenden Material,
Fig. 8 eine schematische Darstellung einer anderen opti
schen Fehlerinspektionsvorrichtung,
Fig. 9 eine weitere Darstellung einer optischen Fehler
inspektionsvorrichtung mit telezentrischem Strahlen
gang,
Fig. 10 eine schematische Ansicht einer optischen Fehlerin
spektionsvorrichtung nach Fig. 8 oder 9 quer zur Vor
schubsrichtung des Materials,
Fig. 11 eine dreidimensionale perspektivische Darstellung
der Videosignale der in Reflexion arbeitenden
Diodenzeilenkamera der optischen
Fehlerinspektionsvorrichtung nach Fig. 8 oder 9,
Fig. 12 eine weitere Ausführungsform einer optischen Fehler
inspektionsvorrichtung mit senkrecht auf die Ober
fläche des Materials auftreffenden Beleuchtungsstrah
len und einem an der Unterseite des Materials ange
ordneten Beugungsgitter,
Fig. 13 das von einer Diodenzeilenkamera der Fehlerinspek
tionsvorrichtung nach Fig. 12 gelieferte Fehler-
Videosignal als Amplituden-Ortsdiagramm bei einem in
Fig. 12 dargestellten Oberflächenfehler,
Fig. 14 ein Blockschaltbild für eine Auswerteelektronik, die
bei der mit einer Diodenzeilenkamera in Reflexion
arbeitenden Fehlerinspektionsvorrichtung nach Fig. 1
angewendet werden kann,
Fig. 15 ein Blockschaltbild einer Auswerteelektronik für
eine in Reflexion und Transmission arbeitende opti
sche Fehlerinspektionsvorrichtung, und
Fig. 16 ein Blockschaltbild einer Auswerteelektronik für
eine optische Fehlerüberwachungsvorrichtung nach
Fig. 8 oder 9.
In den verschiedenen Figuren der Zeichnung sind einander ent
sprechende Bauteile mit gleichen Bezugszeichen bezeichnet.
Nach Fig. 1 wird eine Lichtquelle 11 mittels eines Konden
sors 12 auf eine Blende 10 abgebildet, die die Eintritts
pupille eines Beleuchtungsstrahlengangs bildet. Die Blende
10 wird von einem Hohlspiegelstreifen 13 in ein Objektiv 15
einer Diodenzeilenkamera 16 abgebildet. Bei dieser Abbildung
wird der vom Hohlspiegelstreifen 13 kommende Beleuchtungs
strahlengang an einem zu untersuchenden, ebenen transparen
ten Material 14 endlicher Dicke unter Bildung eines Beleuch
tungsstreifens 17 reflektiert, der in der Einfallsebene des
Mittenstrahls 18 angeordnet ist und quer zur Vorschubs
richtung F des Materials 14 verläuft. Die Diodenzeile 19 der
Diodenzeilenkamera 16 ist über eine Ausleseelektronik 20 mit
einem Ausgang 21 verbunden, an den eine Auswerteelektronik
50 (Fig. 14-16) anschließbar ist.
Die Diodenzeilenkamera 16 ist so angeordnet, daß das Objek
tiv 15 eine mit dem Beleuchtungsstreifen 17 im wesentlichen
zusammenfallende Inspektionslinie auf die Diodenzeile 19 ab
bildet. Um dabei eine scharfe Abbildung zu erreichen, ist
die Diodenzeile 19 so unter einem Winkel zur optischen Achse
22 des Objektivs 15 angeordnet, daß sich die Verlängerung
der Diodenzeile 19 mit einer Verlängerung des Beleuchtungs
streifens 17 bzw. der Inspektionslinie in einem Punkt P
schneidet, der in der Objektivebene 23 des Objektivs 15
liegt. Die Objektivebene 23 steht dabei in Fig. 1 senkrecht
zur Zeichenebene. Die durch die Diodenzeile 19 und den Be
leuchtungsstreifen 17 bzw. die Inspektionslinie gegebene
Ebene fällt also mit der durch den Mittenstrahl 18 und eine
auf dem Beleuchtungsstreifen 17 stehende Normale zum Mate
rial 14 gegebenen Einfallsebene zusammen.
Unterhalb des transparenten Materials 14 kann eine weitere
in Transmission arbeitende Diodenzeilenkamera 16′ angeordnet
sein, in deren Objektiv 15′ die Blende 10 ebenfalls abgebil
det ist. Die Diodenzeile 19′, die über eine Ausleseschaltung
20′ mit einem Ausgang 21′ verbunden ist, ist so angeordnet,
daß sich ihre Verlängerung mit der Verlängerung des Beleuch
tungsstreifens 17 bzw. Inspektionslinie im Punkt P schnei
det, der in der Objektivebene 23′ des Objektivs 15′ liegt.
Die Funktionsweise der optischen Fehlerinspektionsvorrich
tung nach Fig. 1 wird nun im folgenden unter Bezugnahme auf
die Fig. 2 bis 7 näher beschrieben. Da anstelle eines im Be
reich des Beleuchtungsstreifens 17 konvergenten Beleuch
tungsstrahlengangs auch mit einem telezentrischen Strahlen
gang gearbeitet werden kann, ist der Übersichtlichkeit hal
ber in den Fig. 2, 4 und 6 eine telezentrische Beleuchtung,
also eine Beleuchtung mit parallel zueinander verlaufenden
Beleuchtungsstrahlen 25 dargestellt. Wie in den Fig. 2, 4
und 6 gezeigt, treffen die einzelnen Beleuchtungsstrahlen 25
jeweils unter einem Winkel α zur Normalen 24 auf die Ober
fläche des Materials 14 auf und werden sowohl reflektiert
als auch teilweise in das Material 14 hineingebrochen. Die
in das Material eingedrungenen Beleuchtungsstrahlen treffen
unter einem Winkel β auf die untere Oberfläche des Materials
14 auf, werden dort reflektiert und treten durch die obere
Oberfläche des Materials 14 aus, wo sie unter dem Winkel α
zur Diodenzeilenkamera 16 gelangen.
Der Übersichtlichkeit halber wurden in den Fig. 2, 4 und 6
einige der reflektierten und transmittierten Strahlen wegge
lassen.
Befindet sich in der Oberfläche des Materials 14 ein Defekt
oder Fehler, der absorbierend und/oder streuend sein kann,
wie bei I dargestellt, so erfaßt der an der Unterseite des
Materials 14 reflektierte Beleuchtungsstrahl 25, der sich in
Position 1 befindet, den Fehler I. Gleichzeitig erfaßt auch
der in Position 2 befindliche Beleuchtungsstrahl 25 den
Fehler I, so daß sowohl das an der Oberseite des Materials
14 reflektierte als auch das in das Material 14 hineinge
brochene Licht des in Position 2 befindlichen Beleuchtungs
strahls 25 vom Fehler I beeinflußt wird. Es ergibt sich
somit ein Fehlersignal A1, das von der Diodenzeilenkamera 16
am Ort des Fehlers I erfaßt wird. Gleichzeitig sieht die
Diodenzeilenkamera 16 am Ort I′ der Oberseite des Materials
14 ein vorzugsweise unscharfes Bild des Fehlers I, da der an
dieser Stelle normalerweise austretende Beleuchtungsstrahl
25 von Position 2 durch den Fehler I geschwächt ist. Die
Unschärfe des Bildes am Ort I′ ergibt sich aus der optischen
Wegdifferenz zwischen dem Ort des Fehlers I und dem Ort I′,
auf den die Diodenzeilenkamera 16 scharfgestellt ist. Das
Licht des in Position 3 befindlichen Beleuchtungsstrahls 25,
das am Ort I′ auf die Oberseite des Materials 14 auftrifft,
wird dort ungestört reflektiert, so daß sich ein verringer
tes Fehlersignal A2 ergibt, das ebenfalls durch den Fehler I
hervorgerufen ist.
Aufgrund der Unschärfe ergibt sich am Ort I′ ein verringer
tes und verbreitertes Fehlersignal A2, das mit durchge
zogener Linie dargestellt ist. Bei einer Abbildung der In
spektionslinie mit großer Schärfentiefe ergibt sich das bei
A2 gestrichelt dargestellte Fehlersignal. Es zeigt sich
also, daß die Signalverringerungen infolge der Unschärfe und
infolge der unterschiedlichen Lichtbeeinflussung durch den
Fehler I in der gleichen Richtung wirken.
Aus dem Abstand dI der Fehlersignale A1, A2 läßt sich die
Höhe h des Fehlers im Material nach der folgenden Formel
bestimmen:
d = 2h · tanβ (1)
β ergibt sich dabei aus dem Brechungsgesetz
n1×sinα=n2×sinβ.
d ergibt sich dabei unter Berücksichtigung des Abbildungs
maßstabs der Diodenzeilenkamera aus der Lage der Fehler
signale A1, A2 auf der Diodenzeile 19. Der Abstand d wird zu
einem Maximum, wenn sich der Fehler, wie der Fehler I in
Fig. 2 an der oberen Oberfläche des Materials 14 befindet. In
diesem Fall wird die Höhe h des Fehlers gleich der Material
dicke s.
Der Abstand d wird zu Null, wenn sich der Fehler, wie der
Fehler III in Fig. 2, an der unteren Oberfläche des Mate
rials 14 befindet. In diesem Fall wird nur der in Position 4
befindliche Beleuchtungsstrahl 25 bei seiner Reflexion an
der Unterseite des Materials 14 vom Fehler III beeinflußt.
Die Diodenzeile 16 erfaßt somit ein einziges Fehlersignal
A5, das der Stelle III′ auf der Oberseite des Materials 14
zugeordnet wird.
Befindet sich der Fehler zwischen den Oberflächen des Mate
rials 14, wie der Fehler II in Fig. 2, so werden die in Posi
tion 3 und 5 befindlichen Beleuchtungsstrahlen 25 einmal vor
ihrer Reflexion an der Unterseite des Materials 14 (Beleuch
tungsstrahl 25 in Position 3) und einmal nach ihrer
Reflexion an der Unterseite des Materials 14 (Beleuchtungs
strahl 25 in Position 5) durch den Fehler II beeinflußt. Es
ergeben sich somit zwei Fehlersignale A3 und A4, die den
Orten II′ und II′′ auf der Oberseite des Materials 14 zugeord
net sind. Bei Abbildung mit großer Schärfentiefe sind die
beiden Fehlersignale im wesentlichen gleich hoch, wie ge
strichelt dargestellt.
Befindet sich ein relativ großflächiger Fehler IV im wesent
lichen an der oberen Oberfläche des Materials 14, so ergibt
sich das in Fig. 5 schematisch dargestellte Fehlersignal A6,
das unterschiedliche Signalamplituden aufweist. Die zwischen
Position 1 und im wesentlichen Position 3 befindlichen Be
leuchtungsstrahlen 25 erfassen den Fehler IV von der Unter
seite her, während die zwischen Position 2 und Position 4
befindlichen Beleuchtungsstrahlen 25 den Fehler von der Ober
seite her feststellen. Somit ergibt sich im Bereich iv des
Fehlersignals A6, der mit dem Ort x des Fehlers IV im Mate
rial 14 entspricht, ein höheres Fehlersignal als im Bereich
iv′, wo der Fehler nur noch von den zwischen Position 3 und
Position 4 befindlichen Beleuchtungsstrahlen von oben her
erfaßt wird. Die Länge des zweiten Abschnitts iv′ des Fehler
signals A6 entspricht dabei dem Signalabstand d zwischen
zwei Einzelfehlersignalen, wie sie bei kleinen Fehlern auf
treten. Somit lassen sich große Oberflächenfehler sowohl an
einem gestuften Fehlersignal, entsprechend dem Fehlersignal
A6, als auch aufgrund der Länge d des zweiten Signalab
schnitts als solche erkennen.
Erfindungsgemäß kann durch das Auftreten eines Fehlerdoppel
impulses A1, A2 bzw. A3, A4 innerhalb des maximal möglichen
Abstandes d auf einen Fehler oberhalb der unteren Oberfläche
geschlossen werden. Die Feststellung des Doppelimpulses wird
erhärtet durch das charakteristische Amplitudenverhältnis A1
zu A2 bzw. A3 zu A4.
Die Fehlerauswertung kann in einer an die Diodenzeilenkamera
16 angeschlossene Auswerteelektronik 50 (siehe Fig. 14 bis
16) erfindungsgemäß nach der oben angegebenen Formel (1) vor
genommen werden, wobei durch eine einfache Rechenschaltung
aus der Größe d und dem bekannten Winkel α (bzw. β) die
Fehlerhöhe h bestimmt werden kann.
Mit der vergleichsweise einfachen Oberflächeninspektionsvor
richtung können unter Umständen bei sehr großflächigen Feh
lern und einem sehr geringen Abstand des Fehlers von der
unteren Oberfläche Probleme auftreten. Um dem entgegenzuwir
ken, kann zweckmäßig auch noch unter dem Material 14 eine
Diodenzeilenkamera 16′ angeordnet sein, wie dies in Fig. 1
gestrichelt dargestellt ist.
In Fig. 6 ist ein Fehler V in einem relativ geringen Abstand
h von der unteren Oberfläche des Materials 14 dargestellt.
Die in Reflexion arbeitende Diodenzeilenkamera 16 erzeugt
hierbei ein Fehlersignal A7, das möglicherweise nur eine
geringe Abstufung aufweist, da die Unschärfeunterschiede
relativ gering sein können. Die in Fig. 6 nicht dargestellte
unterhalb des Materials 14 angeordnete, in Transmission
arbeitende Diodenzeilenkamera 16′ erfaßt die durch das
Material 14 hindurchgegangenen Beleuchtungsstrahlen 25′,
wobei nur die zwischen den in Position 1 und Position 2
befindlichen Beleuchtungsstrahlen auf das Material 14
auftreffenden Beleuchtungsstrahlen 25 durch den Fehler V
beeinflußt zur Diodenzeilenkamera 16 gelangen. In Position 3
ist ein derartiger Beleuchtungsstrahl 25 dargestellt, der
den Fehler V erfaßt, bevor er zur Unterseite des Materials
14 gelangt. Die in Transmission arbeitende Diodenzeilen
kamera 16 erfaßt somit ein Fehlersignal A′7, das in Fig. 7
zusammen mit dem Fehlersignal A7 der Diodenzeilenkamera 16
dargestellt ist.
Die Breite b des Fehlersignals A′7 der in Transmission
arbeitenden Diodenzeilenkamera entspricht dabei im wesent
lichen dem Fehlerdurchmesser entlang der Inspektionslinie.
Die Breite d′V des Fehlersignals A7, das von der in
Reflexion arbeitenden Diodenzeilenkamera 16 geliefert wird,
entspricht der Summe aus dem Fehlerdurchmesser entlang der
Inspektionslinie und der Länge zwischen den Austrittspunkten
3′ und 2′ der in Position 3 bzw. Position 2 befindlichen
Beleuchtungsstrahlen 25, die dem Abstand des in Position 2
befindlichen, an der Unterseite des Materials 14 reflektier
ten Beleuchtungsstrahls 25 in der jeweiligen Fehlerhöhe h.
Die Länge der Differenz der beiden Fehlersignale (d′V-b)
hängt also nur ab vom Einfallswinkel α (bzw. β) der Beleuch
tungsstrahlen 25 und von der Fehlerhöhe h im Material 14.
Die Differenz (d′-b) wird 0, wenn der Fehler sich an der
unteren Oberfläche des Materials 14 befindet, wenn also h=0
ist. In diesem Fall haben die Fehlersignale A7 und A7′ der
beiden Diodenzeilenkameras 16, 16′ die gleiche Breite b. Die
Differenz (d′-b) wird maximal, wenn sich der Fehler an der
oberen Oberfläche des Materials 14 befindet, wenn also h=s
ist. Das Maximum der Differenz hängt von der Dicke s des
Materials ab.
Durch die elektronische Berechnung der Differenz (d′-b) in
der Rechenschaltung 31 der Auswerteelektronik 30 kann nun
neben der Fehlerbreite b in Richtung der Inspektionslinie
auch die Fehlerhöhe h eindeutig bestimmt werden, und zwar
nach der Formel:
d′-b = 2h · tanβ (2)
Dabei läßt sich β wiederum mittels des Brechungsgesetzes aus
dem Einfallswinkel α berechnen.
Erfaßt die in Reflexion arbeitende Diodenzeilenkamera 16 ein
Fehlerdoppelsignal, so entspricht der Ort x des ersten Teils
des Fehlerdoppelsignals im wesentlichen dem Ort eines Fehler
signals, das von der in Transmission arbeitenden Diodenzei
lenkamera 16′ erfaßt ist. Damit ist auch beim Auftreten von
Fehlerdoppelsignalen die Festlegung von d′-b auf ähnliche
Weise eindeutig möglich.
Bei transparentem Material kann auch mit einer mit großer
Schärfentiefe arbeitenden Diodenzeilenkamera untersucht
werden, wenn gleichzeitig in Reflexion und Transmission
gearbeitet wird.
Bei unscharfer Beobachtung wird ein Fehler, z.B. der Fehler
II in Fig. 2, der als streuender und/oder absorbierender Feh
ler angenommen, erscheint also dann, wenn er von dem in Posi
tion 5 befindlichen Beleuchtungsstrahl 25 beleuchtet wird,
was dem Beobachtungsort II′ entspricht, nur relativ wenig
unscharf, während er bei einer Beleuchtung mit dem in Posi
tion 3 befindlichen Beleuchtungsstrahl 25, was einem Beobach
tungsort II′′ entspricht, deutlich unschärfer als vorher. Auf
grund der mehr oder weniger scharfen Abbildung des Fehlers
durch die Diodenzeilenkamera 16 ergibt sich eine Änderung in
der Fehlersignalamplitude, aus der ebenfalls auf die Höhe
des Fehlers innerhalb des zu untersuchenden Materials 14 ge
schlossen werden kann. Mittels dieser Unschärfe bedingten
Fehlersignal-Amplitudenänderungen läßt sich also ein
Kriterium für die einander zuzuordnenden Fehlersignale
finden.
Bei zu untersuchenden Materialien, die auf der Unterseite
nahezu lichtundurchlässig verspiegelt sind, so daß mit einer
zusätzlichen, in Transmission arbeitenden Diodenzeilenkamera
nicht gearbeitet werden kann, um die Fehlerlagen eindeutig
zu bestimmen, läßt sich für einen im Material vorliegenden
großen Fehler, der z.B. als Fehler V in Fig. 6 dargestellt
ist, das gestufte Fehlersignal erzeugen. Aus der Länge der
Stufe läßt sich dann wiederum der Abstand d der beiden in
unterschiedlichen Ebenen beobachteten Bildern des Fehlers
ermitteln, um die Fehlerhöhe eindeutig zu bestimmen. Dabei
liefert die Unschärfe bedingte Amplitudenänderung im Fehler
signal ein weiteres Maß für die Höhe des Fehlers im Mate
rial.
Ist das Verhältnis der beiden in einem Fehlersignal vorkom
menden Signalamplituden gleich einem Maximalwert, so befin
det sich der beobachtete Fehler an der oberen Oberfläche des
Materials 14 und wird demzufolge einmal scharf und einmal
völlig unscharf beobachtet. Tritt andererseits in einem
unscharf beobachteten Fehlersignal keine Änderung der Fehler
signalamplitude auf, so befindet sich der Fehler an der unte
ren Oberfläche des Materials 14 und wird mit einer mittleren
Unschärfe beobachtet.
Die in Fig. 8 gezeigte optische Fehlerinspektionsvorrichtung
besitzt eine Lichtquelle 11, die über einen als Kondensor
12′ dienenden Hohlspiegelstreifen auf eine Blende 10 abgebil
det wird. Die Blende 10 wird von einem weiteren Hohlspiegel
13 über einen Umlenkspiegel 26 und das Material 14 in ein
Objektiv 15 einer Diodenzeilenkamera 16 abgebildet, wobei
die Beleuchtungsstrahlen 25, die auf dem Material einen
Beleuchtungsstreifen 17 bilden, vom Material 14 zum Objektiv
15 hin reflektiert werden.
Unterhalb des Materials 14 kann wiederum eine zweite, in
Transmission arbeitende Diodenzeilenkamera 16′ vorgesehen
sein.
Die von den einzelnen Beleuchtungsstrahlen 25 gebildete Be
leuchtungsebene schließt mit einer Normalen 24 zur Material
oberfläche einen Winkel α ein. Die Beleuchtungsstrahlen 25
sind somit in einer senkrecht zum Beleuchtungsstreifen 17
stehenden Ebene geneigt.
Das Objektiv 15 der Diodenzeilenkamera 16 bildet wiederum
den Beleuchtungsstreifen 17 bzw. eine in dessen Bereich lie
gende Inspektionslinie auf die Diodenzeile 19 der Diodenzei
lenkamera 16 ab. Dabei ist die Diodenzeile 19 parallel zum
Beleuchtungsstreifen 17 und senkrecht zur optischen Achse
des Objektivs 15 angeordnet.
Die in Fig. 9 gezeigte Fehlerinspektionsvorrichtung weist
eine lineare Lichtquelle 11 auf, die eine Blende 10 beleuch
tet. Die Blende 10 wird von einem ersten Hohlspiegelstreifen
13′ nach Unendlich abgebildet, wobei der Beleuchtungsstrah
lengang zwischen der Blende 10 und dem ersten Hohlspiegel
streifen 13 durch zwei Umlenkspiegel 27, 28 aufgefaltet ist.
Die von dem ersten Hohlspiegelstreifen 13′ kommenden zuein
ander parallelen Beleuchtungsstrahlen 25 treffen in einem
Beleuchtungsstreifen 17 auf das zu inspizierende Material 14
auf und werden von diesem auf einen zweiten Hohlspiegelstrei
fen 13′′ reflektiert, der die Blende 10 über einen weiteren
Umlenkspiegel 28′ in ein Objektiv 15 einer Diodenzeilen
kamera 16 abbildet. Die Diodenzeilenkamera ist wiederum so
angeordnet, daß ihr Objektiv den Beleuchtungsstreifen 17 auf
die Diodenzeile 19 abbildet, die senkrecht zur optischen
Achse des Objektivs 15 steht.
Die Funktion der in Fig. 8 oder 9 dargestellten Fehlerinspek
tionsvorrichtung wird anhand der Fig. 10 und 11 näher erläu
tert.
Wie Fig. 10 zeigt, treffen die Beleuchtungsstrahlen 25 unter
einem Winkel α auf die Oberseite des Materials 14 auf und
bilden dort einen Beleuchtungsstreifen 17, der senkrecht zur
Vorschubsrichtung F des Materials 14 eine Breite B besitzt,
die so gewählt ist, daß eine vom Objektiv 15 auf die Dioden
zeile 19 abgebildete Inspektionslinie 29 auf der Oberseite
des Materials 14 von einem Teil der Beleuchtungsstrahlen 25
im Auflicht, also von oben, und von einem anderen Teil der
Beleuchtungsstrahlen 25 im Durchlicht, also von unten, be
leuchtet ist. Die Breite BI der Inspektionslinie 29 wird
dabei durch die Größe der Dioden der Diodenzeile 19 und den
Abbildungsmaßstab des Objektivs 15 der Diodenzeilenkamera 16
bestimmt.
Erreicht ein Fehler, der z.B. an der Oberseite des Materials
14 vorliegen kann und eine streuende und/oder absorbierende
Charakteristik aufweist, die Position I1 in Fig. 10, so wird
der Fehler von dem Teil der Beleuchtungsstrahlen 25 erfaßt,
die den Inspektionsstreifen 29 von unten her beleuchten. Da
mit erfaßt die Diodenzeilenkamera den Fehler in zeitlich auf
einanderfolgenden Schritten, in denen die Diodenzeile 19 je
weils ausgelesen wird. Dies ist in Fig. 11 durch die Fehler
signalverteilung A1 dargestellt.
Erreicht der Fehler die Position I2, so werden die den
Inspektionsstreifen beleuchtenden Beleuchtungsstrahlen 25
durch ihn nicht beeinflußt, so daß die Diodenzeilenkamera 16
kein Fehlersignal erfaßt.
Sobald der Fehler die Position I3 erreicht hat, in der der
Fehler unmittelbar unter dem Inspektionsstreifen 29 liegt,
wird sowohl der den Inspektionsstreifen 29 von vorne als
auch der diesen von hinten beleuchtende Beleuchtungsstrahl
25 durch den Fehler beeinflußt, wodurch sich ein Fehler
signal A2 mit höherer Amplitude ergibt, wie in Fig. 11 darge
stellt.
Die Bestimmung der Höhe des Fehlers im Material 14 erfolgt
wiederum wie oben beschrieben.
Wird bei den anhand von Fig. 8 und 9 beschriebenen Fehler
inspektionsvorrichtungen mit einer Diodenzeilenkamera 16
gearbeitet, die eine große Schärfentiefe aufweist, so wird
der Fehler beide Male scharf erfaßt, so daß das Amplituden
verhältnis der beiden Teile des Fehlerdoppelsignals nur
durch die unterschiedliche Beeinflussung der Beleuchtungs
strahlen 25 in den Positionen I1 und I3 bestimmt ist. Wird
jedoch eine Diodenzeilenkamera 16 mit geringer Tiefenschärfe
verwendet, so wird der erste Teil A1 des Fehlerdoppelimpul
ses zusätzlich durch die unscharfe Beobachtung mit der
Diodenzeilenkamera 16 in seiner Amplitude verringert. Auch
hierbei erfolgt die Auswertung wie oben beschrieben.
Anstelle des beschriebenen Beleuchtungsstreifens 17 mit rela
tiv großer Breite kann auch ein Beleuchtungsstreifen verwen
det werden, der eine relativ schmale Breite B′ aufweist, die
im wesentlichen gleich der Breite BI des Inspektionsstrei
fens ist. In diesem Fall muß der Beleuchtungsstreifen 17 so
parallel zum Inspektionsstreifen 29 entgegen der Vorschub
richtung F des Materials 14 versetzt sein, daß das in das
Material hineingebrochene und an der Unterseite reflektierte
Licht den Inspektionsstreifen 29 von hinten beleuchtet. Bei
einer derartigen Anordnung treten Änderungen in der Fehler
signalamplitude eines Doppelfehlersignals nur bei unscharfer
Beobachtung, also bei Beobachtung mit großer Apertur, auf.
Obwohl die Erfindung in bezug auf eine Fehlerinspektion mit
einer Diodenzeilenkamera beschrieben wurde, kann auch eine
Matrixkamera verwendet werden, mit der eine Inspektionsflä
che auf dem zu inspizierenden Material 14 erfaßt werden
kann. Anstelle eines Beleuchtungsstreifens muß dann ein ent
sprechender Beleuchtungsbereich ausgeleuchtet werden.
Wird eine Matrixkamera bei der erfindungsgemäßen Fehlerin
spektionsvorrichtung verwendet, so muß bei der Auswertung
berücksichtigt werden, daß eine Signalverdoppelung oder -ver
breiterung nur in der Richtung auftreten kann, die durch die
zueinander parallelen Schnittgeraden der Einfallsebenen der
einzelnen Beleuchtungsstrahlen 25 mit der Materialebene ge
geben ist. Hierbei muß stets die Photoempfängermatrix so
gegen die optische Achse des Objektivs geneigt sein, daß die
Ebene der Photoempfängermatrix, die Mittelebene des Objek
tivs und die Ebene der Materialoberfläche sich in einer
Geraden schneiden.
Fig. 12 zeigt rein schematisch die Anwendung der Erfindung
bei einer Fehlerinspektionsvorrichtung, die für ein trans
parentes Material 14 gedacht ist, auf dessen Unterseite ein
Beugungsgitter 32 vorgesehen ist.
Die von einer in Fig. 12 nicht dargestellten Beleuchtungsan
ordnung erzeugten Beleuchtungsstrahlen bilden einen zur Zei
chenebene parallelen Beleuchtungsstreifen 17, der quer zur
Vorschubrichtung (senkrecht zur Zeichenebene) des Materials
14 verläuft.
Die im wesentlichen senkrecht auf das Material 14 auftreffen
den Beleuchtungsstrahlen 25 werden an der Unterseite des
Materials 14 reflektiert und gleichzeitig vom Beugungsgitter
32 so gebeugt, daß die an der Unterseite reflektierten Be
leuchtungsstrahlen im Material 14 mit den einfallenden Be
leuchtungsstrahlen einen Winkel γ einschließen.
Die Diodenzeilenkamera 16 ist nun so angeordnet, daß sie nur
das in eine Beugungsordnung, z.B. in die erste Beugungsord
nung gebeugte Licht empfängt. Dabei ist wiederum darauf zu
achten, daß sich die Verlängerung der Diodenzeile 19 mit der
Verlängerung des Beleuchtungsstreifens 17 in einem Punkt
schneidet, der in der Ebene des Objektivs 15 liegt.
Wie Fig. 12 zu entnehmen ist, wird ein Fehler I, der sich
z.B. in der Höhe h nahe der Oberseite des Materials 14 be
findet, sowohl von dem in Position 1 befindlichen als auch
von dem in Position 2 befindlichen Beleuchtungsstrahl 25 er
faßt, so daß die Diodenzeilenkamera 16 das in Fig. 13 sche
matisch dargestellte Video-Fehlersignal liefert.
Da die Diodenzeilenkamera 16 nur zurückgebeugtes Licht
empfängt, erscheinen beide Fehlersignale im Videosignal mit
gleicher Amplitude. Auch die Breite der beiden Fehlersignale
ist nahezu gleich, sie entspricht dabei im wesentlichen dem
Durchmesser des Fehlers entlang der Inspektionslinie bzw.
des Beleuchtungsstreifens 17.
Der Abstand d der beiden Fehlersignale, also der Abstand der
Fehlersignalmaxima hängt nur vom Beugungswinkel γ und von
der Fehlerhöhe h im Material 14 ab. Für den Winkel γ gilt
dabei die Gleichung
a · sinγ = m · λ (3)
Darin bedeutet m die Nummer der empfangenen Beugungsordnung,
λ die Wellenlänge des verwendeten Lichts und a den Gitterab
stand.
Aus dem Abstand d der Fehlersignale A1, A2 in Fig. 13 läßt
sich die Fehlerhöhe nach der folgenden Formel berechnen:
d = h · tanγ (4)
Der in in Fig. 12 und 13 dargestellte Abstand d führt zu
einem Maximum für h=s. Dieser Abstand d wird zu 0 für h=0,
also für Fehler, die an der Unterseite des Materials 14 vor
liegen.
Die Feststellung des Fehlerdoppelsignals ist hier besonders
deutlich durch die gleichen Amplituden beider Einzelsignale,
durch die gemeinsame Fehlersignalbreite b und durch das Auf
treten des Fehlerdoppelsignals innerhalb eines maximalen Ab
standes, der durch die Dicke s des Materials 14 und den Beu
gungswinkel γ gegeben ist.
Aus dem Abstand d kann auf die Höhe h des Fehlers über der
unteren Oberfläche des Materials 14 geschlossen werden.
Da der Beugungswinkel γ außer vom Gitterabstand a auch von
der Wellenlänge λ des verwendeten Lichts abhängt, ist es
zweckmäßig, für die anhand von Fig. 12 beschriebene Fehler
inspektionsvorrichtung als Lichtquelle eine Halogenlampe zu
verwenden, aus deren Spektrum eine für die Fehlerinspektion
vorgesehene Wellenlänge mittels eines Filters herausgefil
tert wird, das z.B. vor dem Objektiv 15 der Diodenzeilen
kamera 16 angeordnet ist.
Es kann jedoch auch jede andere geeignete monochromatische
Beleuchtungsanordnung verwendet werden, z.B. kann die Blende
12 mittels eines Monochromators oder eines entsprechend auf
geweiteten Laserstrahls beleuchtet werden.
Fig. 14 zeigt ein Blockschaltbild für die Auswertung der von
der Reflexion arbeitenden Diodenzeilenkamera 16 nach Fig. 1
abgegebenen elektrischen Signale in einer Auswerteelektronik
50, die an die Ausleseschaltung 20 der Diodenzeilenkamera 16
angeschlossen ist.
Die Ausleseschaltung 20 ist über einen Hochpaß 28 zur Extrak
tion von Fehlerimpulsen und zur Datenreduktion an einen nor
malen Video-Auswerteausgang 29 angeschlossen. Der Ausgang
des Hochpaßfilters 28 liegt außerdem an einem Bandpaßfilter
30, dessen Frequenzumfang auf die größte zugelassene Fre
quenz abgestimmt ist, die einem kürzesten Fehlersignal ent
spricht, das durch die Breite der Dioden der Diodenzeile 19
und durch die Auslesegeschwindigkeit der in der Diodenzeile
19 erfaßten Signale gegeben ist. Das Bandpaßfilter 30 be
stimmt weiter die kleinste zugelassene Frequenz, die einem
möglichen Doppelsignal mit größtmöglichen Signal- bzw.
Impulsabstand entspricht. Außerdem besorgt das Bandpaßfilter
30 eine weitere Datenreduktion.
Dem Bandpaßfilter 30 folgt eine erste Auswertestufe 31, die
der Bestimmung der Impulsamplituden sowie der Kontrolle der
Amplitudenverhältnisse aufeinanderfolgender Impulse zwecks
Datenreduktion dient. Weiter erfolgt hier die Bestimmung der
Zählabstände von Doppelimpulsen mit Hilfe eines DA-Impulses
(line clock) und des internen Rechentaktes. Die Zählabstände
der Doppelimpulse entsprechen dabei den Ortsabständen auf
der Inspektionslinie bzw. in der Diodenzeile.
Der DA-Impuls wird beispielsweise von der Ausleseelektronik
20 zu Beginn jedes Auslesens des Inhalts der Diodenzeile er
zeugt. Es handelt sich hier also um das Startsignal für eine
interne Zählung der von den einzelnen Photoempfängern oder
Pixeln einer Diodenzeile, z.B. einer CCD-Zeile, gelieferten
Signale. Durch die Zählung der Pixel kann also die Lage der
jenigen Pixel bestimmt werden, deren Fehlersignalamplituden
einen Schwellenwert überschreiten, so daß auf diese Weise
eine Bestimmung der Fehlerlage erfolgt.
Außerdem erfolgt in der ersten Auswertestufe die Bestimmung
von d nach einer Tabelle programmierter, endlich vieler
sinnvoller d-Werte.
Der Ausgang der ersten Auswertestufe 31 wird einer zweiten
Auswertestufe 32 zugeführt, in welcher entschieden wird, ob
D kleiner oder gleich Dmax ist. Im Falle, daß diese
Beziehung verneint wird, erfolgt die Videoauswertung zweier
Einzelimpulse am Ausgang 34a. Wird die Beziehung bejaht,
bedeutet dies, daß ein Doppelimpuls vorliegt. Ein entspre
chendes JA-Signal wird an eine Zuordnungsstufe 33 gegeben,
in der die Zuordnung des h-Wertes zu dem d-Wert nach Tabelle
erfolgt. Die Zuordnungsstufe 33 stellt eine dritte Auswerte
stufe dar. Am Ausgang 34 wird der h-Wert für die Fehler-
Klassifikation ausgewertet.
Die Auswerteelektronik 50 besteht also im wesentlichen aus
den drei hintereinandergeschalteten Auswertestufen 31, 32,
33.
Fig. 15 zeigt eine Auswerteschaltung 50 für eine Ausführungs
form der Erfindung, bei der sowohl eine in Reflexion als
auch eine in Transmission arbeitende Diodenzeilenkamera 16
bzw. 16′ verwendet wird. Die Ausleseschaltung 20 der in
Reflexion arbeitenden und die Ausleseschaltung 20′ der in
Transmission arbeitenden Diodenzeilenkamera 16, 16′ sind
nach Fig. 15 jeweils an ein Hochpaßfilter 35, 36 angeschlos
sen, die an eine normale Videoauswertung 37, 38 angelegt
sind. Weiter sind die Ausgänge der Hochpaßfilter 35, 36 an
Bandpaßfilter 39, 40 angelegt.
Die Hochpaßfilter 35, 36 dienen der Extraktion von Fehler
impulsen und der Datenreduktion. In den Bandpaßfiltern 39,
40 entspricht die größte zugelassene Frequenz einem
kürzesten Fehlersignal, also einem von einer einzelnen Diode
einer Diodenzeile 19 erzeugten Fehlersignal, und die
kleinste zugelassene Frequenz dem längsten Fehlersignal, für
das eine h-Bestimmung sinnvoll ist. Auf diese Weise wird die
Anzahl der weitergeleiteten Daten erheblich reduziert.
Die Ausgänge der Bandpaßfilter 39, 40 sind an eine erste
Auswertestufe 41 angelegt, der auch ein DA-Impuls zur Fest
legung des Beginns jedes Auslesezyklus aus der Diodenzeile
19 zugeführt ist (line clock). In der ersten Auswertestufe
erfolgt der Vergleich der Fehlerimpulse beider Empfänger und
die Bestimmung der Größe (d′-b), wobei vom Auftreten zähl
gleicher, also von demselben Ort zugeordneten Fehlerimpuls
anfängen ausgegangen wird. Die Feststellung der Zählwerte
der Impulsanfänge erfolgt mittels Amplitudenschwellen.
Sind zwei zählgleiche Impulsanfänge in den von den Auswerte
elektroniken 20, 20′ aus den Diodenzeilen 19, 19′ ausgelese
nen Signalen gefunden worden, so werden im Signal von der
Diodenzeile 19 alle Fehlerereignisse bis zum nächsten zähl
gleichen Impulsanfang als ein Fehlersignal betrachtet.
Daraus wird dann der Wert (d′-b) gebildet.
Der Ausgang der ersten Auswertestufe 41 wird an eine zweite
Auswertestufe 42 angelegt, in der die Zuordnung von h-Werten
zu (d′-b)-Werten nach Tabelle erfolgt.
Am Ausgang der zweiten Auswertestufe 42 erfolgt die Berück
sichtigung des h-Wertes für die Fehler-Klassifikation.
Das Ausgangssignal der Ausführungsform nach Fig. 10 kann
mittels eines Blockschaltbildes nach Fig. 16 ausgewertet
werden.
Das Ausgangssignal der Ausleseschaltung 20 wird über ein
rekursives Filter 43 zum einen der normalen Videoauswertung
44 und zum anderen einem Längskorrelator 45 mit Bandpaß
charakter zugeführt, dem auch der DA-Impuls zur Festlegung
des Beginns jedes Auslesezyklus zugeführt ist (line clock).
Der Längskorrelator registriert und korreliert Fehlerimpul
se, die bei nacheinander erfolgtem Auslesen, was nacheinan
der erfolgten Abtastungen entspricht, mit demselben Zählwert
bzw. zum selben Zeitpunkt während des Auslesens bzw. der
Abtastung auftreten, die also von denselben Pixeln der
CCD-Zeile erzeugt werden, also Fehlersignale von Defekten
oder Fehlern in Materialvorschubrichtung. Die größte
zugelassene Frequenz entspricht einem Fehlersignal während
eines Auslesens. Die kleinste zugelassene Frequenz des
Längskorrelators entspricht der Abtastlinienzahl eines
möglichen Doppelsignals mit größtmöglichem Impulsabstand.
Die Datenmenge wird durch den Längskorrelator 45 mit Bandpaß
charakter wesentlich reduziert.
An den Längskorrelator 45 ist eine erste Auswertestufe 46
angeschlossen, in der mögliche Doppelimpulse erkannt und
extrahiert werden. Es erfolgt die Bestimmung der Amplituden
und die Kontrolle des Amplitudenverhältnisses. Die Bestim
mung von d erfolgt nach Tabelle. Es erfolgt eine Entschei
dung, ob die Beziehung d dmax erfüllt ist oder nicht. Ist
die Bedingung nicht erfüllt, so erscheint an einem Ausgang
47 ein Signal, welches die Videoauswertung zweier Ein
zelimpulse auslöst.
Ist die Bedingung erfüllt, so wird über einen Ausgang 48 ein
JA-Signal abgegeben, und in einer zweiten Auswertestufe 49
erfolgt die Zuordnung von h-Werten zu d-Werten nach Tabelle.
Am Ausgang 50 der zweiten Auswertestufe erfolgt die Berück
sichtigung des h-Wertes für die Fehler-Klassifikation.
Die Auswertestufen 46, 49 bilden zusammen die Auswerteelek
tronik 50.
Claims (22)
1. Optische Fehlerinspektionsvorrichtung zur Erkennung von
in einem vorzugsweise ebenen transparenten Platten- oder
Blattmaterial endlicher Dicke vorhandenen Fehlstellen und
von deren Lage zwischen den beiden Oberflächen, mit einer
Lichtquelle, mit einer Beleuchtungsoptik, die das von der
Lichtquelle kommende Licht auf einen zu beleuchtenden Be
reich auf dem zu untersuchenden Material lenkt, wobei die
einzelnen Beleuchtungsstrahlen mit der normalen zur
Materialoberfläche einen von 0° verschiedenen Einfalls
winkel einschließen, sowie mit einer Lichtempfangsanord
nung, die von einem Inspektionsbereich ausgehende, reflek
tierte Beleuchtungsstrahlen über eine Optik auf eine
Photoempfangsanordnung wirft, die dem empfangenen Licht
entsprechende elektrische Signale, von denen jedes einer
Stelle auf dem zu untersuchenden Material zugeordnet ist,
an eine elektronische Auswerteschaltung liefert, in der
diese Signale in bezug auf die Signalhöhe, -breite und
-abstände der Fehlerimpulse unter Berücksichtigung des
Einfallswinkels ausgewertet werden, um die Fehlerhöhe im
Material zu bestimmen,
dadurch gekennzeichnet,
daß die Beleuchtungsoptik (13) eine von der Lichtquelle
(11) stationär beleuchtete Beleuchtungspupille (10) über
das zu untersuchende Material (14) in ein Objektiv (15)
einer Photoempfängerkamera (16) abbildet, auf deren Photo
empfängeranordnung (19) der Inspektionsbereich abgebildet
ist, und daß der Beleuchtungsbereich (17) so gegen den
Inspektionsbereich in Richtung einer Schnittgeraden von
Einfallsebene und Materialoberfläche versetzt angeordnet
ist, daß zumindest die an der Unterseite des Materials
reflektierten Beleuchtungsstrahlen den Inspektionsbereich
beleuchten.
2. Optische Fehlerinspektionsvorrichtung nach Anspruch 1,
dadurch gekennzeichnet,
daß das Objektiv (15) der Photoempfängerkamera (16) eine
große Beobachtungsapertur aufweist, so daß die Abbildung
des auf der Oberseite des Materials (14) liegenden Inspek
tionsbereichs mit kleiner Schärfentiefe erfolgt.
3. Optische Fehlerinspektionsvorrichtung nach Anspruch 1
oder 2,
dadurch gekennzeichnet,
daß die Beleuchtungsapertur der Beleuchtungsoptik (13)
sehr viel kleiner als die Beobachtungsapertur des Objek
tivs (15) der Photoempfängerkamera (16) ist.
4. Optische Fehlerinspektionsvorrichtung nach Anspruch 1, 2
oder 3,
dadurch gekennzeichnet,
daß die Beleuchtungspupille (10) im Brennpunkt eines
ersten Beleuchtungsobjektivs (13′) angeordnet ist und daß
die von dem Beleuchtungsbereich (17) ausgehenden, paral
lelen Beleuchtungsstrahlen von einem in Lichtrichtung
hinter dem Beleuchtungsbereich (17) angeordneten zweiten
Beleuchtungsobjektiv (13′′) in das Objektiv (15) der Photo
empfängerkamera (16) fokussiert sind, um eine telezentri
sche Beleuchtung zu erhalten.
5. Optische Fehlerinspektionsvorrichtung nach Anspruch 4,
dadurch gekennzeichnet,
daß die beiden Beleuchtungsobjektive (13′, 13′′) die
gleiche Brennweite aufweisen.
6. Optische Fehlerinspektionsvorrichtung nach einem der
vorhergehenden Ansprüche,
dadurch gekennzeichnet,
daß das oder die Beleuchtungsobjektive Hohlspiegel (13;
13′, 13′′) sind.
7. Optische Fehlerinspektionsvorrichtung nach einem der
vorhergehenden Ansprüche,
dadurch gekennzeichnet,
daß die Photoempfängeranordnung (19) so gegen die opti
sche Achse (22) des Objektivs (15) der Photoempfänger
kamera (16) geneigt ist, daß sich die Ebene der Photo
empfängeranordnung (19), die Mittelebene (23) des Objek
tivs (15) und die durch die Oberseite des Materials (14)
gegebene Ebene in einer Geraden schneiden.
8. Optische Fehlerinspektionsvorrichtung nach einem der
vorhergehenden Ansprüche,
dadurch gekennzeichnet,
daß als Photoempfängerkamera eine Diodenzeilenkamera (16)
dient, auf deren Diodenzeile eine den Inspektionsbereich
bildende Inspektionslinie abgebildet ist, daß die Inspek
tionslinie quer zu einer Vorschubsrichtung (F) des zu
untersuchenden Materials (14) angeordnet ist und daß der
gegen die Inspektionslinie versetzte Beleuchtungsbereich
(17) streifenförmig ist.
9. Optische Fehlerinspektionsvorrichtung nach Anspruch 8,
dadurch gekennzeichnet,
daß die Einfallsebene des Mittenstrahls (18) des Beleuch
tungsstrahlenbündels parallel zur Inspektionslinie ange
ordnet ist.
10. Optische Fehlerinspektionsvorrichtung nach Anspruch 8,
dadurch gekennzeichnet,
daß die Einfallsebene des Mittenstrahls (18) des Beleuch
tungsstrahlenbündels im wesentlichen senkrecht zur In
spektionslinie bzw. zum Beleuchtungsstreifen (17) ange
ordnet ist.
11. Optische Fehlerinspektionsvorrichtung nach Anspruch 10,
dadurch gekennzeichnet,
daß die Breite des Beleuchtungsstreifens (17) im wesent
lichen gleich der Breite der Inspektionslinie ist.
12. Optische Fehlerinspektionsvorrichtung nach Anspruch 10,
dadurch gekennzeichnet,
daß die Breite des Beleuchtungsstreifens (17) zumindest
gleich der Summe der Breite der Inspektionslinie und der
Größe des Versatzes des Beleuchtungsstreifens (17) gegen
über der Inspektionslinie ist und daß der Beleuchtungs
streifen (17) so zur Inspektionslinie angeordnet ist,
daß die Inspektionslinie sowohl von den an der Untersei
te des Materials (14) reflektierten als auch von den auf
die Oberseite des Materials (14) auftreffenden Beleuch
tungsstrahlen beleuchtet wird.
13. Optische Fehlerinspektionsvorrichtung nach einem der
vorhergehenden Ansprüche,
dadurch gekennzeichnet,
daß der Einfallswinkel (α) zwischen 15° und 60°,
vorzugsweise zwischen 30° und 50°, insbesondere 40°
beträgt.
14. Optische Fehlerinspektionsvorrichtung zur Erkennung von
in einem vorzugsweise ebenen transparenten Platten- oder
Blattmaterial endlicher Dicke vorhandenen Fehlstellen
und von deren Lage zwischen den beiden Oberflächen, wo
bei das Material auf der Unterseite ein Beugungsgitter
trägt, mit einer Lichtquelle, mit einer Beleuchtungsop
tik, die das von der Lichtquelle kommende Licht auf ei
nen zu beleuchtenden Bereich auf dem zu untersuchenden
Material lenkt, sowie mit einer Lichtempfangsanordnung,
die an der Unterseite des zu untersuchenden Materials
reflektierte und in Richtung der ersten und/oder zweiten
Beugungsanordnung gebeugte Beleuchtungsstrahlen, die von
einem Inspektionsbereich ausgehen, über eine Optik auf
eine Photoempfangsanordnung wirft, die dem empfangenen
Licht entsprechende elektrische Signale, von denen jedes
einer Stelle auf dem zu untersuchenden Material zugeord
net ist, an eine elektronische Auswerteschaltung lie
fert, in der diese Signale in bezug auf die Signalhöhe,
-breite und -abstände der Fehlerimpulse unter Berücksich
tigung des Beugungswinkels ausgewertet werden, um die
Fehlerhöhe im Material zu bestimmen,
dadurch gekennzeichnet,
daß die Beleuchtungsoptik eine von der Lichtquelle sta
tionär beleuchtete Beleuchtungspupille über das zu unter
suchende Material (14) in ein Objektiv (15) einer Photo
empfängerkamera (16) abbildet, auf deren Photoempfänger
anordnung (19) der Inspektionsbereich abgebildet ist,
und daß der Beleuchtungsbereich (17) so gegen den Inspek
tionsbereich in Beugungsrichtung versetzt angeordnet
ist, daß die an der Unterseite des Materials reflektier
ten und gebeugten Beleuchtungsstrahlen den Inspektions
bereich beleuchten.
15. Optische Fehlerinspektionsvorrichtung nach Anspruch 14,
dadurch gekennzeichnet,
daß das Objektiv (15) der Photoempfängerkamera (16) eine
große Beleuchtungsapertur aufweist, so daß die Abbildung
des auf der Oberseite des Materials (14) liegenden In
spektionsbereichs mit kleiner Schärfentiefe erfolgt, wo
bei vorzugsweise die Beleuchtungsapertur der Beleuch
tungsoptik sehr viel kleiner als die Beobachtungsapertur
des Objektivs (15) der Photoempfängerkamera (16) ist.
16. Optische Fehlerinspektionsvorrichtung nach Anspruch 14
oder 15,
dadurch gekennzeichnet;
daß die Beleuchtungsoptik so ausgebildet ist, daß sie
eine telezentrische Beleuchtung bewirkt.
17. Optische Fehlerinspektionsvorrichtung nach einem der
Ansprüche 14 bis 16,
dadurch gekennzeichnet,
daß die Photoempfängeranordnung (19) so gegen die
optische Achse (22) des Objektivs (15) geneigt ist, daß
sich die Ebene der Photoempfängeranordnung (19), die
Mittelebene des Objektivs (15) und die durch die Mate
rialoberseite gegebene Ebene in einer Geraden schneiden.
18. Optische Fehlerinspektionsvorrichtung nach einem der
Ansprüche 14 bis 17,
dadurch gekennzeichnet,
daß als Photoempfängerkamera eine Diodenzeilenkamera
(16) vorgesehen ist, deren Diodenzeile (19) so gegen die
optische Achse (22) des Objektivs (15) der Diodenzeilen
kamera (16) geneigt ist, daß sich die in Verlängerung
der Diodenzeile (19) erstreckende Gerade mit einer den
streifenförmig ausgebildeten Beleuchtungsbereich verlän
gernden Gerade in einem Punkt schneidet, der in der Mit
telebene (23) des Objektivs (15) der Diodenzeilenkamera
(16) liegt.
19. Optische Fehlerinspektionsvorrichtung nach Anspruch 18,
dadurch gekennzeichnet,
daß die Inspektionslinie bzw. der dazu parallele Beleuch
tungsstreifen (17) in Beugungsrichtung angeordnet ist.
20. Optische Fehlerinspektionsvorrichtung nach einem der
Ansprüche 14 bis 19,
dadurch gekennzeichnet,
daß die die Beleuchtungspupille bildende Blende (10) von
einer monochromatischen Lichtquelle (11) beleuchtet ist.
21. Optische Fehlerinspektionsvorrichtung nach Anspruch 20,
dadurch gekennzeichnet,
daß die Lichtquelle (11) von einer Halogenlampe gebildet
ist, der ein optisches Farbfilter zugeordnet ist.
22. Optische Fehlerinspektionsvorrichtung nach einem der
Ansprüche 14 bis 19,
dadurch gekennzeichnet,
daß vor dem Objektiv (15) der Photoempfängerkamera (16)
ein optisches Farbfilter (60) angeordnet ist.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE19893926349 DE3926349A1 (de) | 1989-08-09 | 1989-08-09 | Optische fehlerinspektionsvorrichtung |
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Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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DE19893926349 DE3926349A1 (de) | 1989-08-09 | 1989-08-09 | Optische fehlerinspektionsvorrichtung |
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DE3926349A1 true DE3926349A1 (de) | 1991-02-14 |
DE3926349C2 DE3926349C2 (de) | 1992-08-13 |
Family
ID=6386815
Family Applications (1)
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DE19893926349 Granted DE3926349A1 (de) | 1989-08-09 | 1989-08-09 | Optische fehlerinspektionsvorrichtung |
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