DE3622431A1 - Digitalinterferometer zum polarisationsrandzonenabtasten - Google Patents
Digitalinterferometer zum polarisationsrandzonenabtastenInfo
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Description
Die Erfindung betrifft eine Art Interferometer, der zur Prüfung optischer
Eigenschaften verschiedener optischer Bauteile verwendet wird.
Insbesondere betrifft die Erfindung Digitalinterferometer zum Randzonenabtasten.
Digitalinterferometer zum Randzonenabtasten wurden zuerst im Jahre
1974 von J. H. Burnig et al. der Bell Telephone Company, USA vorgeschlagen
(Appl. Opt. 1974, Band 13, Nr. 11. P2693) und dann von den
Firmen TROPEL und ZYGO (M. Sohaham SPIE, 1981, Band 306, 183; US-Patent
42 01 473-A) in den Handel gebracht. Heute stellen sie die effektivsten
Instrumente für äußerst genaue Wellenfrontmessungen dar.
Die bekannten Digitalinterferometer zum Randzonenabtasten, zum Beispiel
das Interferometer von ZYGO, umfassen eine Lichtquelle, eine Randzonenabtastinterferenzeinheit,
ein photoelektrisches Meßgerät und ein Datenverarbeitungssystem,
wobei die Randzonenabtastung durch Ändern des optischen
Weges eines Interferenzstrahls unter Verwendung eines Piezokristalls
ausgeführt wird. Dieses Verfahren hat jedoch folgende Nachteile:
1. Es ist schwierig, den Piezokristall mit hoher Genauigkeit zu steuern.
2. Es ist ein Zweistrahl-Interferenzgerät zu verwenden, bei dem das
Meßsystem sehr empfindlich gegenüber Luftströmung und Vibrationen
von außen ist, und daher ist für die Messung eine sehr kritische Umgebung
erforderlich.
3. Es werden eine sehr genaue Referenzwellenfront sowie andere optische
Bauteile hoher Qualität benötigt.
4. Als Lichtquelle ist ein frequenzstabilisierter Laser zu verwenden.
5. Die Interfrequenzrandronen sind instabil, so daß es schwierig ist, die
nullte Ordnungs-Interferenzrandzone der Aberration einzuhalten.
6. Die Vorrichtung besitzt eine komplizierte Struktur.
Um die oben genannten Nachteile zu beseitigen, hat der Erfinder auf der
im August 1984 in Japan stattgefundenen 13. Internationalen Optikkonferenz
ein neues Randzonenabtastprinzip, die Polarisationsrandzonenabtastung,
vorgeschlagen und in "Acta Optica Sinica" einen Artikel über "Polarization
Fringe Scanning Interferometer" vorgelegt, um das Prinzip der Polarisationszonenabtastung
näher zu erläutern (Acta Optica Sinica, 1985,
Band 5, Nr. 2).
Es ist die Aufgabe der Erfindung, eine Art praktischer Vorrichtung, die
auf dem von dem Erfinder vorgeschlagenen Prinzip des Digitalinterferometers
zum Polarisationsrandzonenabtasten basiert, sowie einen praktischen optischen
Weg und ein Gerät zur Prüfung der Eigenschaften verschiedener optischer
Bauteile, wie zum Beispiel Linsen, Kugelspiegel und Planspiegel etc.,
und ein Verfahren zu Verwendung der Vorrichtung zu schaffen.
Die technische Darstellung der Erfindung ist im folgenden aufgeführt:
Die Wellenfrontmessung wird auf Airysche Punktmessung beschränkt, und
es wird eine kooptische Weginterferenz verwendet. Die zu prüfende Phasenverteilung
ϕ (X, Y) wird mittels einer erfindungsgemäßen Phasenpolarisationskodiereinrichtung
als die Verteilung des Polarisationswinkels
(x, y)/2 kodiert, und anschließend wird die Randzonenabtastung unter
Verwendung eines Rotationsanalysators durchgeführt. Die Interferogramme
werden von einer Videokamera fotografiert und zur Verarbeitung einem
Mikrocomputer zugeführt.
Wenn N-Positionen innerhalb des Polarisationswinkelintervalls (O,π)
eingenommen werden, so können die Intensitätsverteilungen I (X,Y,K) der
entsprechenden N-Bilder der Interferenzrandzonen gemessen werden. Die
relative Phase ϕ (X, Y) zwischen verschiedenen Punkten, die genau die
Wellenfrontverteilung ist, läßt sich errechen, indem das Prinzip der
digitalen Synchrondetektion angewandt wird:
worin
Die erfindungsgemäße Phasenpolarisationskodiereinrichtung (wie in Fig. 2
dargestellt) besteht aus einem Polarisator (12), einem Polarisationsloch
(14) auf einem Polarisationsfilm (13) und einer Viertelwellenlängenplatte
(15). Fig. 3 zeigt die Ausrichtung dieser Polarisationsbauteile,
in der E P die Polarisationsachse des Polarisators (12), E ┴ bzw.
E ∥ die Löschungs- bzw. Transmissionsachse des Polarisationsfilms (13)
und E f bzw. E s die schnelle bzw. langsame Achse der Viertelwellenlängenplatte
(15) sind. Die Winkel zwischen E f und E ∥ , E s und E ┴ betragen jeweils 45°.
Wenn der Airysche Punkt der zu prüfenden konvergenten Wellenfront
durch den Polarisator (12) hindurchgeht und dann auf das Polarisationsloch
(14) fällt, verursacht das Loch, das als Standardpunktquelle
gesehen werden kann, eine Referenzwellenfront, deren Polarisation entlang
E ┴ liegt. Da die einfallende Polarisation E P eine Komponente parallel
zu E ∥ hat, besitzt die zu testende Wellenfront eine transmissive
Komponente, deren Polarisation entlang E ∥ liegt. Die Amplituden der Referenzwellenfront
und der zu prüfenden Wellenfront können durch Änderung
des Winkels zwischen E P und E ┴ mittels Einstellung der Ausrichtung des
Polarisators (12) exakt angeglichen werden. Nach dem Hindurchgehen
durch die Viertelwellenlängenplatte (15) werden sie in Rechts- bzw.
Linkskreispolarisierung umgewandelt, und ihre Kombination führt zu einer
Linearpolarisierung, deren Polarisationswinkel die Hälfte der Differenz
zwischen ihren Phasen beträgt, d. h. ϕ(x,y)/2. Auf diese Weise
wird die Polarisationskodierung der Phasen durchgeführt.
Die Phasenpolarisationskodiereinrichtung ist für jede Wellenfront geeignet,
vorausgesetzt sie wird auf einen Airyschen Punkt konvergiert und
fällt auf das Polarisationsloch (14).
Im Vergleich zu den bekannten Randzonenabtastinterferometern besitzt
das Digitalinterferometer zum Polarisationsrandzonenabtasten die folgenden
Vorteile:
1. Zur Abtastung wird ein Rotationsanalysator verwendet, wobei eine
Drehung um 180° der Änderung von einer Wellenlänge entspricht; daher
ist eine hochgenaue Steuerung sehr leicht, was wiederum die Empfindlichkeit
der Messung stark erhöht.
2. Durch die kooptische Weginterferenz wird die Vorrichtung gegenüber
Luftströmung und Vibrationen von außen unempfindlich. Daher funktioniert
sie gut in normaler Umgebung.
3. Die Vorrichtung benötigt keine optischen Bauteile hoher Qualität,
insbesondere wird keine hochgenaue Referenzwellenfront zur Messung
von Linsen benötigt; ein Standardloch reicht zum Funktionieren der
Vorrichtung aus.
4. Die Verwendung eines frequenzstabilisierten Lasers als Laserquelle
ist nicht notwendig.
5. Die Interferenzrandzonen sind sehr stabil. Eine Interferenz nullter
Ordnung läßt sich leicht einstellen. Die Messung von Aberration und
Wellenfront ist ebenfalls unmittelbar.
6. Seine Struktur ist einfach und umfaßt nur einige optische Bauteile.
7. Die Wellenfrontmessung wird bei diesem Verfahren auf die Airysche
Punktmessung beschränkt, welche zu sehr genauen quanitativen Ergebnissen
führen kann und die traditionelle qualitative Airysche Punktmessung
quantitativ macht.
Fig. 1 zeigt den optischen Weg einer praktischen Vorrichtung zur Messung
von Linsen und Mikroskopobjektiven.
Fig. 2 ist eine schematische Darstellung der Struktur der Phasenpolarisationskodiereinrichtung.
-
-
Fig. 3 zeigt die Anordnung der Ausrichtung der verschiedenen Polarisationskomponenten
der Phasenpolarisationskodiereinrichtung gemäß
der Erfindung.
Fig. 4 zeigt den optischen Weg einer praktischen Vorrichtung zur Messung
von Kugelflächen.
Fig. 5 zeigt einen Teil des optischen Weges der Messung von Phasenflächen.
Nachfolgend wird die Erfindung unter Bezugnahme auf die Zeichnungen und
Ausführungsbeispiele im einzelnen erläutert.
In Fig. 2 ist mit (12) ein Polarisator bezeichnet, (13) ist ein Polarisationsfilm
mit einem darauf befindlichen Loch (14), d. h. mit dem Polarisationsloch,
dessen Durchmesser im Bereich von 3 µm bis 20 µm liegt. (15)
stellt eine Viertelwellenlängenplatte dar. Die Ausrichtungen dieser Polarisationskomponenten
sind in Fig. 3 dargestellt. Der einstellbare Polarisator
(12) kann den Winkel zwischen der Richtung der Polarisationsachse
E P des Polarisators und der Transmisssionsrichtung des Polarisationsloch
(d. h. der Löschungsachse des Polarisationsfilms) derart ändern,
daß der Kontast der Interferenzrandzonen ein Maximum erreicht.
Der Polarisator (12) sollte sich so nah wie möglich am Polarisationsloch
befinden, zum Beispiel 1 mm bis 10 mm, so daß die Vorrichtung
nicht von der Depolarisationserscheinung des zu prüfenden Teils beeinflußt
wird (insbesondere beim Prüfen eines Mikroskops), daß ein Polarisator
hoher Qualität unnötig wird, weil nur ein kleines Gebiet des
Polarisators verwendet wird, daß keine zusätzliche sphärische Aberration
verursacht wird, da der Öffnungswinkel des auf das Polarisationsloch
fallenden Lichtstrahls sehr klein ist.
Als Viertelwellenlängenplatte (15) läßt sich jede beliebige Viertelwellenlängenplatte
verwenden. Vorzugsweise wird jedoch eine Fresnelplatte
als Viertelwellenlängenplatte verwendet, weil es schwierig ist,
eine gewöhnliche Viertelwellenlängenplatte mit hoher Präzision zu bearbeiten.
Die gewöhnliche Quarzplatte wird zusammengeklebt, ist daher
nicht wärmebeständig und kann nicht mit einem transmissionsverstärkten
Film hoher Qualität beschichtet werden. Eine sehr genaue Phasenverschiebung
läßt sich mittels einer Fresnelplatte erreichen, deren Endflächen
mit einem transmissionsverstärkten Film hoher Qualität, der
von der Wellenlänge unabhängig und daher für jede Wellenlänge anwendbar
ist, beschichtet werden kann.
Fig. 1 ist eine Darstellung des optischen Weges einer praktischen Vorrichtung
zum Messen von Linsen und Mikroskopobjektiven. Innerhalb der
gestrichelten Linie befindet sich der Hauptteil des erfindungsgemäßen
Digitalinterferometers zur Polarisationsrandzonenabtastung, d. h. die
Polarisationsrandzonenabtastmeßeinrichtung (11), das die Phasenpolarisationskodiereinrichtung
-(5), einen Rotationsanalysator (7), eine Videokamera
(9), einen Mikrocomputer (10) und eine von dem Mikrocomputer
gesteuerte Synchronisierungssteuerung umfaßt. Vorzugsweise wird eine
Bilderzeugungslinse (6) zwischen die Phasenpolarisationskodiereinrichtung
(5) und den Rotationsanalysator (7) eingefügt, so daß die Bilder
der Interferenzrandzonen klar auf der Objektebene der Videokamera (9)
erzeugt werden können.
Die Funktionsweise des Digitalinterferometers zum Polarisationsrandzonenabtasten
ist beim Messen von Linsen oder Mikroskopobjektiven wie folgt:
Ein von einem Laser (1) ausgesandter Laserstrahl wird durch eine Fokussierlinse
(2) auf ein Loch (3) fokussiert, welches sich auf einer Objektivebene
einer zu prüfenden Linse befindet, und als Standardpunktlichtquelle
verwendet, deren Bildpunkt auf das Polarisationsloch (14)
einer Phasenpolarisationskodiereinrichtung (5) (siehe Fig. 2) fällt,
und danach wird die Polarisationskodierung der zu prüfenden Wellenfront
durchgeführt. Nach Hindurchtreten durch die Bilderzeugungsliste (6) und
den Rotationsanalysator (7) wird die Randzonenabtastung durchgeführt.
Das Interferogramm fällt auf die Objektebene der Videokamera (9) und
wird von dieser fotografiert. Anschließend wird es zu dem Mikrocomputer
zur Datenverarbeitung weitergeleitet. Bei dem Testverfahren steuert der
Mikrocomputer (10) die Synchronisierungssteuerung (8), die zum Beispiel
einen Schrittschaltmotor und eine Getriebevorrichtung umfaßt, und zwar
zur Synchronisation des Rotationsanalysators (7) mit der Videokamera
(9), um so synchrone Polarisationsrandzonenabtastung und synchrone Messung
zu erreichen.
Fig. 4 ist eine Darstellung des optischen Weges einer praktischen Vorrichtung
zur Prüfung von Kugelflächen. Das vom Laser (1) ausgesandte
Licht, welcher mit einer Einmodenlichtleitfaser (16) verbunden ist, wird
auf einen achsennahen Bildpunkt (17) eines Mikroskopobjektivs (18) zur
Erzeugung einer Punktlichtquelle gelenkt. Die Mitte einer zu prüfenden
Kugelfläche (19) liegt auf der Achse der Objektebene des Mikroskopobjektivs
(18). Der Laserstrahl wird von der zu prüfenden Kugelfläche (19)
reflektiert und geht durch das Mikroskopobjektiv (18) hindurch, um auf
der Bildebene an der Stelle, welche symmetrisch zu der Punktquelle (17)
ist, ein Bild entstehen zu lassen. Dieses Bild ist genau der Airysche
Punkt (20) und fällt mit dem Polarisationsloch (14) der Phasenpolarisationskodiereinrichtung
-(5) in der Polarisationsrandzonenabtastmeßeinrichtung
(11) zusammen. Die Kugelfläche kann durch die Polarisationsrandzonenabtastmeßeinrichtung
geprüft werden.
Die Prüfung kann durchgeführt werden, sofern das von dem Laser (1) ausgesandte
Licht auf einen achsennahen Bildpunkt (17) gelenkt wird und
in dem oben genannten optischen Weg der praktischen Vorrichtung zur
Messung von Kugelflächen eine Punktlichtquelle erzeugt. Die Prüfung
ist von einer Art der Lichtlenkung unabhängig. Der Einsatz einer Einmodenlichtleitfaser
(16) zur Lichtlenkung und die Verwendung ihres Endes
als Standardpunktquelle führen zu einer flexibleren Verbindung zwischen
dem Laser und dem Interferometer.
Bei der Prüfung müssen die Punktquelle (17) und der Bildpunkt (20) nahe
genug beieinanderliegen, zum Beispiel 2 mm bis 5 mm, so daß ihre konjugierten
Punkte auf der Objektphase des Mikroskopobjektivs sehr nahe
seiner optischen Achse liegen. Aus diesem Grund wird durch die Messung
keine zusätzliche Komaaberration verursacht.
Fig. 5 stellt einen Teil des optischen Weges zur Messung einer Planfläche
dar. In Fig. 4 wird anstelle der Linse (18) zur Prüfung der Ebene
(22) ein Kollimator (21) verwendet.
Dem Fachmann ist es bekannt, daß die hier offenbarten Ausführungsformen
in vielfältiger Weise geändert, modifiziert und verbessert werden können
ohne dabei vom Erfindungsgedanken und Umfang der Erfindung abzuweichen,
und dies gilt analog angewendet auch für die beiliegenden Ansprüche.
Claims (10)
1. Digitalinterferometer zum Polarisationsrandzonenabtasten zum
Prüfen der optischen Qualität optischer Bauteile, mit einer Laserquelle
(1), einer Videokamera (9) und einem Mikrocomputer (10), dadurch
gekennzeichnet, daß eine Polarisationsrandzonenabtasteinheit
eine Phasenpolarisationskodiereinrichtung (5) umfaßt, welche
die zu prüfende Wellenfront kodiert, mit einem Rotationsanalysator (7)
und einer Synchronisationssteuerung (8), welche durch den Mikrocomputer
zur Synchronisierung des Rotationsanalysators mit der Videokamera
gesteuert wird, um eine synchrone Polarisationszonenabtastung und
synchrone Messung zu erzielen.
2. Digitalinterferometer zum Polarisationsrandzonenabtasten nach
Anspruch 1, in welchem die Phasenpolarisationskodiereinrichtung einen
Polarisator (12) mit verstellbarer Polarisationsachse, einen Polarisationsfilm
(13) mit einem darauf befindlichen Polarisationsloch (14)
und eine Viertelwellenlängenplatte (15) umfaßt.
3. Phasenpolarisationskodiereinrichtung nach Anspruch 2, in welcher
der Durchmesser des Polarisationslochs (14) im Bereich von 3µm bis
20µm liegt, und der Polarisator (12) in der Nähe des Polarisationslochs
(14) ist, d. h. in einem Bereich von 1 mm bis 10 mm.
4. Phasenpolarisationskodiereinrichtung nach Anspruch 2, in welcher
die Viertelwellenlängenplatte vorzugsweise eine Fresnelplatte ist.
5. Digitalinterferometer zum Polarisationsrandzonenabtasten nach
Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, daß eine
Bilderzeugungslinse (6) zwischen der Phasenpolarisationskodiereinrichtung
(5) und dem Rotationsanalysator (7) befestigt wird.
6. Ein praktischer optischer Weg zur Prüfung von Linsen, welcher
in dem Interferometer gemäß Anspruch 1 verwendet wird, dadurch gekennzeichnet,
daß ein von der Laserquelle (1) ausgesandter
Laserstrahl durch eine Fokussierlinse (2) auf das Loch (3) fokussiert
wird, das auf der Objektphase einer zu prüfenden Linse (4) liegt und
als Standardpunktlichtquelle genommen wird, deren Bildpunkt auf das Polarisationsloch
(14) der Phasenpolarisationskodiereinrichtung (5) fällt,
wobei die Wellenfront von der zu prüfenden Linse (4) kodiert wird, daß
der Mikrocomputer (10) die Synchronisationssteuerung (8) zur Synchronisierung
des Rotationsanalysators (7) mit der Videokamera (9) steuert,
um so eine Polarisationsrandzonenabtastung zu erzielen, wobei auf diese
Weise erzeugte Interferogramme von dem Video (9) empfangen und zur Datenverarbeitung
zum Mikrocomputer (10) gesendet werden.
7. Ein praktischer Weg zur Prüfung von im Interferometer
verwendeter Kugelflächen nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet,
daß die Laserquelle (1) eine Punktlichtquelle auf
einem achsennahen Bildpunkt (17) eines Mikroskopobjektivs (18) erzeugt,
wobei die Mitte einer zu prüfenden Kugelfläche (19) auf der
Achse der Objektebene des Mikroskopobjektivs (18) liegt und wobei das
von der zu prüfenden Kugelfläche (19) reflektierte Licht, welches durch
das Mikroskopobjektiv (18) hindurchgeht, auf dem Bildpunkt (20) symmetrisch
mit der Punktquelle (17) fokussiert wird, der Bildpunkt mit dem
Polarisationsloch (14) der Phasenpolarisationskodiereinrichtung (5)
zusammenfällt, und somit die Prüfung der Kugelfläche (19) durch Verwendung
der Polarisationsrandzonenabtasteinheit (11) ausgeführt wird.
8. Ein praktischer Weg nach Anspruch 7, dadurch gekennzeichnet,
daß eine Einmodenlichtleitfaser (16) verwendet
wird, um den Laserstrahl zu dem achsennahen Punkt (17) des Mikroskopobjektivs
(18) zu lenken.
9. Ein praktischer optischer Weg nach Anspruch 7 oder 8, dadurch
gekennzeichnet, daß die Punktquelle (17) und der Bildpunkt
(20) nahe genug beieinander, d. h. in einem Bereich von 2 mm bis
5 mm, sein müssen.
10. Ein praktischer optischer Weg nach Anspruch 7 oder 8, dadurch
gekennzeichnet, daß eine Planfläche geprüft werden kann,
wenn anstelle der Linse (18) ein Kollimator (21) verwendet wird.
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Families Citing this family (13)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH07111510B2 (ja) * | 1988-08-22 | 1995-11-29 | 大日本スクリーン製造株式会社 | 画像走査記録装置 |
US5379105A (en) * | 1991-10-24 | 1995-01-03 | Asahi Kogaku Kogyo Kabushiki Kaisha | Roof surface measuring apparatus |
US6320665B1 (en) * | 1998-12-29 | 2001-11-20 | Bryan Kok Ann Ngoi | Acousto optic scanning laser vibrometer for determining the dynamic properties of an object |
US7106456B1 (en) * | 2002-01-09 | 2006-09-12 | Interphase Technologies, Inc. | Common-path point-diffraction phase-shifting interferometer |
US7006234B1 (en) * | 2002-01-09 | 2006-02-28 | Interphase Technologies, Inc. | Common-path point-diffraction phase-shifting interferometer incorporating a birefringent polymer membrane |
JP2004061515A (ja) * | 2002-07-29 | 2004-02-26 | Cark Zeiss Smt Ag | 光学系による偏光状態への影響を決定する方法及び装置と、分析装置 |
US7057737B2 (en) * | 2003-08-29 | 2006-06-06 | 4D Technology Corporation | Common optical-path testing of high-numerical-aperture wavefronts |
US6958817B1 (en) | 2004-08-13 | 2005-10-25 | Nanyang Technological University | Method of interferometry with modulated optical path-length difference and interferometer |
CN100570296C (zh) * | 2007-10-19 | 2009-12-16 | 中国科学院上海光学精密机械研究所 | 偏振移相双剪切干涉波面测量仪及其检测方法 |
CN108955579B (zh) * | 2018-08-06 | 2024-05-24 | 深圳精创视觉科技有限公司 | 一种高精度光学膜吸收轴测量装置 |
US10825163B1 (en) * | 2019-06-13 | 2020-11-03 | Viavi Solutions Inc. | Automatically executing a test to inspect an end face of an optical fiber when an image is in focus |
CN111562000B (zh) * | 2020-04-21 | 2021-06-22 | 中国科学院西安光学精密机械研究所 | 一种基于相干色散技术的消零干涉光谱仪 |
CN114322848B (zh) * | 2021-12-16 | 2023-06-27 | 中国石油大学(华东) | 一种球面波前曲率半径测量装置及测量方法 |
Family Cites Families (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4624569A (en) * | 1983-07-18 | 1986-11-25 | Lockheed Missiles & Space Company, Inc. | Real-time diffraction interferometer |
US4575247A (en) * | 1984-07-02 | 1986-03-11 | Rockwell International Corporation | Phase-measuring interferometer |
-
1985
- 1985-08-06 CN CN85106007A patent/CN85106007B/zh not_active Expired
-
1986
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Non-Patent Citations (2)
Title |
---|
13. International Conference of Optics (ICO-13) Conference Digest, Aug. 1984, S. 458-459 * |
GB-Buch: W.A.Steel, Interferometry, 2. Aufl., Cambridge 1983, S. 133-136 * |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
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US4762417A (en) | 1988-08-09 |
DE3625609A1 (de) | 1987-04-16 |
CN85106007B (zh) | 1988-03-02 |
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